JP4372901B2 - ケース開閉装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、半導体素子を作製する際に用いられる、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハ等の薄板状の製品を、搬送、保管するためのケースで、底部には、窒素等の清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースを、開閉する開閉装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体素子(チップ)の高密度化は激しく、0.35μm設計ルールの64MDRAMの量産もすでに始められ、0.25μm設計ルールの256MDRAMの時代へと移ろうとしている。
更に、最近では、コスト低減を目指したチップ縮小が著しく、64MDRAMを0.25設計ルールまで微細化して、あるいは、256MDRAMを0.18設計ルールまで微細化してチップ縮小化を行っている。
仮に、64MDRAMを0.2μm設計ルールとすると、約16MDRAMと同じチップ寸法となり、ビットコストは16Mの約1/4になる。
ウエハサイズの大サイズ化をせず、現装置でコスト低減が達成されることとなる。
0.18μm設計ルールは開発完了し、2000年には0.15μm設計ルールが開発完了予定とされている。
このような中、ウエハへ直接縮小投影するためのレチクルについても、ますます高精度、高品質のものが求められるようになってきた。
【0003】
このため、半導体素子を形成するためのレチクル、およびこれらを作製するためのマスク(以降、これらを総称してフォトマスク呼ぶ)や、これに用いられるマスクブランクス、ガラス基板については、その保管、搬送についても、品質的に悪影響がでない方法が求められるようになってきた。
一般に、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板は、所定のケース(ボックスとも言う)に収納された状態で保管、搬送されて、各工程で処理されるが、その際、その表面部に、振動、摩擦などによりゴミが付着したり、周囲雰囲気の影響による経時変化が起こることが知られている。
更に、レジストが塗布された状態のマスクブランクスを保管、搬送する場合、周囲雰囲気の空気中の酸素と有機物等により、その感度は経時変化を起こすことが知られている。
しかし、近年の半導体素子の高い集積化に伴い、これらの保管、搬送に起因する品質低下が無視できなくなってきた。
【0004】
このような中、半導体素子の製造は、一般に、内部雰囲気を清浄化したクリーンルーム内において行われるが、クリーンルーム内での工程間、装置間の搬送形態として、半導体ウエハへの塵埃の付着を防ぐために、半導体ウエハを収納したウエハカセットを可搬式の、蓋部と底部からなる密閉コンテナ(ケースないしボックスとも言う)に収納して行う方式も採られている。
そして、レジストが塗布された状態のウエハを保管、搬送する間に、周囲雰囲気の空気中の酸素と有機物等により、その感度は経時変化を起こすことが無いように、例えば、特公開平6−69313号公報に記載のように、この密閉コンテナに対し、パージユニットにて、蓋部と底部とを開けた状態で、窒素等の不活性ガスを導入する方法が採られている。
しかし、この方法の場合、蓋部と底部とを開けた状態で行うため、装置全体が大掛かりなものとなってしまう。
また、処理に手間がかかり過ぎると言う問題がある。
最近では、このような密閉コンテナの、フォトマスクや、これに用いられるマスクブランクス、ガラス基板の保管、搬送への適用も次第に進められてきているが、できるだけ、簡単に、窒素等の清浄な不活性なガスを導入できる方法が求められている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
このように、近年の半導体素子の高集積化に伴い、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハ等の薄板状の製品を、搬送、保管するためのケース(ボックスないしコンテナとも言う)に、比較的簡単に、窒素等の清浄な不活性なガスを導入できる、ケース開閉装置が求められていた。
本発明は、これに対応するもので、具体的には、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハ等の薄板状の製品を、搬送、保管するためのケースで、且つ、底部には、窒素等の清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースに対し、簡単に、窒素等の清浄な不活性なガスを導入できる、ケース開閉装置を提供しようとするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明のケース開閉装置は、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハのいずれかの薄板状の製品を、搬送、保管するためのケースで、底部に、清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースを、開閉する開閉装置であって、ケースをその上に載置し、ケースの蓋部と底部との開閉のロック、あるいはロックの解除を行う、ロック部を有するステージ部と、前記ステージ部に一体的に、ケースの底部の吸気口部から清浄な不活性なガスを供給するガス供給口部、ケースの底部の排気口部から排気を行うガス排気口部を配設した、清浄な不活性なガスを供給するガス供給部とを備えており、前記ケースの製品固定部は、製品を、製品の端部で保持する保持治具を支持する支持部を有し、該支持部自体は、底部から浮いた構造で、ケースの底部に固定されており、該支持部には、多数の貫通孔を所定のピッチで二次元的に配列してあり、且つ、吸気口部から、通気路を通り、清浄な不活性なガスが、製品の蓋部側へ入り込み、支持部の下側から、前記支持部の前記多数の貫通孔を通った前記清浄な不活性なガスが排気口部に導かれ、排気されるようになっていることを特徴とするものである。
そして、上記のケース開閉装置であって、ガス供給部は、ガス供給口部に清浄な不活性なガスを供給するためのガス供給源と、ガス排気口部からの排気ガスの酸素濃度を感知するための、酸素濃度センサと、酸素濃度センサからの情報に基づき、ガス供給源からガス供給口部への清浄な不活性なガスの流れを制御する制御部とを備えていることを特徴とするものです。
そしてまた、上記いずれかのケース開閉装置であって、ケースの蓋部、底部、およびステージ部のロック部には、標準機械的インターフエースSMIF(Standard Mechanical Interface)機構が組み込まれていることを特徴とするものである。
また、上記いずれかのケース開閉装置であって、ステージ部は、所定の位置で、ケースの蓋部と底部との開閉のロック、あるいはロックの解除を行い、且つ、ケース内に清浄な不活性なガスを充填するもので、且つ、ステージ部は、前記所定の位置から、ガイドに沿い、上およびまたは下に移動するものであることを特徴とするものである。
【0007】
尚、ここでは、不活性なガスとは、経時変化を起こしづらいガスのことで、窒素ガスや不活性ガス(Ne、Xe等)を言うが、一般には安価な、清浄な窒素ガスが用いられる。
また、ここで言う製品とは、最終製品および中間製品を含むもので、レジストを塗布した状態のマスクブランクスも含む。
また、標準機械的インターフエースSMIF機構とは、標準機械的インターフエースSMIFシステムに適合した、底部、蓋部のロック、取外し機構を備えていることを意味する。
【0008】
【作用】
本発明のケース開閉装置は、このような構成にすることにより、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハ等の薄板状の製品を、搬送、保管するためのケースで、且つ、底部には、窒素等の清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースに対し、簡単に、窒素等の清浄な不活性なガスを導入できる、ケース開閉装置の提供を可能としている。
これにより、近年の半導体素子の高集積化に対応できる品質を確保でき、量産にも対応できるものとしている。
具体的には、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハのいずれかの薄板状の製品を、搬送、保管するためのケースで、底部に、清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースを、開閉する開閉装置であって、ケースをその上に載置し、ケースの蓋部と底部との開閉のロック、あるいはロックの解除を行う、ロック部を有するステージ部と、前記ステージ部に一体的に、ケースの底部の吸気口部から清浄な不活性なガスを供給するガス供給口部、ケースの底部の排気口部から排気を行うガス排気口部を配設した、清浄な不活性なガスを供給するガス供給部とを備えており、前記ケースの製品固定部は、製品を、製品の端部で保持する保持治具を支持する支持部を有し、該支持部自体は、底部から浮いた構造で、ケースの底部に固定されており、該支持部には、多数の貫通孔を所定のピッチで二次元的に配列してあり、且つ、吸気口部から、通気路を通り、清浄な不活性なガスが、製品の蓋部側へ入り込み、支持部の下側から、前記支持部の前記多数の貫通孔を通った前記清浄な不活性なガスが排気口部に導かれ、排気されるようになっていることにより、これを達成している。
即ち、ステージ部に一体的に、ガス供給口部、ガス排気口部を配設した、ガス供給部とを備えていることにより、ステージ部上に、底部には、窒素等の清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースを 載置した状態で、且つ、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、窒素等の清浄な不活性なガスを、ケース内へ充填することを可能としている。
特に、レジストが塗布された状態のマスクブランクスを保管、搬送する場合には有効で、レジストの感度の経時変化を抑えることを可能としている。
【0009】
また、ガス供給部は、ガス供給口部に窒素等の清浄な不活性なガスを供給するためのガス供給源と、ガス充填部のガス排気口部から排気ガスの酸素濃度を感知するための、酸素濃度センサと、酸素濃度センサからの情報に基づき、ガス供給源からガス供給口部への窒素等の清浄な不活性なガスの流れを制御する制御部とを備えていることにより、ケース内のガスを所定のO2 濃度以下、H2 O濃度以下に制御することを可能としている。
尚、ケース内雰囲気として、O2 濃度が100ppm以下、H2 O濃度が100ppm以下であることが好ましい。
【0010】
また、ケースの蓋部、底部、およびステージ部のロック部には、標準機械的インターフエースSMIF(Standard Mechanical Interface)機構が組み込まれていることにより、処理全体の自動化をし易いものとしている。
【0011】
また、ステージ部は、所定の位置で、ケースの蓋部と底部との開閉のロック、あるいはロックの解除を行い、且つ、ケース内に清浄な窒素等の不活性なガスを充填するもので、
且つ、ステージ部は、前記所定の位置から、ガイドに沿い、上およびまたは下に移動するものであることにより、更に、処理全体の自動化をし易いものとしている。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明のケース開閉装置の実施の形態例を、図に基づいて説明する。
図1は、本発明のケース開閉装置の実施の形態の1例の概略斜視図で、図2は、ステージ部にケース載置した状態の一部断面と、概略構成を示した概略構成図で、図3はケースの一部断面図である。
尚、図1においては、酸素濃度制御部を省略して示してある。
図1、図2、図3中、100はケース開閉装置、110はステージ部、115は台座、120はロック部、130はガス供給部、131はガス供給口部、132はガス排気口部、133は配管、135は酸素濃度センサ、137はガス供給源、138は酸素濃度制制御部、139は配線、150は固定部、155はスライド軸、200はケース(ボックスないしコンテナとも言う)、220は蓋部、230は底部、231は吸気口部、232は排気口部、240は(製品固定用)支持部、241は通気路(貫通孔)、245は貫通孔、247は保持治具、250はレジスト塗布済のマスクブランクス、261は通気路、271は窒素ガス(不活性なガス)、272は排気ガスである。
【0013】
本例は、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、レジスト塗布済のマスクブランクスを、搬送、保管するためのケースで、底部には、清浄な窒素を供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースを、開閉する開閉装置である。
図2に示すように、ケース200をその上に載置し、ケースの蓋部220と底部230との開閉のロック、あるいはロックの解除を行う、ロック部120を有するステージ部110と、ケースの底部の吸気口部231から清浄な窒素を供給するガス供給口部131、ケースの底部の排気口部から排気を行うガス排気口部132を、ステージ部110に一体的に、配設した、清浄な窒素を供給するガス供給部130とを備えている。
本例では、ステージ部110は固定部に支持され、スライド軸に沿い上下に移動でき、図1に示す台座115位置にて、ロック動作、清浄な窒素のケース内への充填動作を行うものである。
【0014】
ガス供給部130は、図2に示すように、ガス供給口部に清浄な窒素を供給するためのガス供給源137と、ガス排気口部132からの排気ガスの酸素濃度を感知するための、酸素濃度センサ135と、酸素濃度センサ135からの情報に基づき、ガス供給源137からガス供給口部131への清浄な窒素の流れを制御する、酸素濃度制御部138とを備えている。
尚、酸素濃度制御部138(図2)は、ステージ部110、ロック部120ガス供給部130とは、離れた位置に置き、遠隔操作にて制御することも可能である。
【0015】
本例のケース開閉装置100には、清浄な窒素ガスをケースに充填するための、ガス供給口部131、ガス排気口部132とを備えており、図2に示すように、それらが、それぞれ、ケース200の底部230の吸気口部231、排気口部232と嵌合するようになっている。
そして、ケース200をステージ部110上に載置した後、密閉した状態で、ガス供給口部131、ガス排気口部132を、それぞれ、ケース200の底部230の吸気口部231、排気口部232に嵌合した後、ガス排気口部132から排気しながら、ガス供給口部131から清浄な窒素を供給する。
ケース200の吸気口部231は、所定の圧で、閉じている弁が開くようになっており、また、排気口部232は、所定の負圧で、閉じている弁が開くようになっている。
尚、吸気口部231、排気口部232には、それぞれ、所定のフィルターが配設されている。
【0016】
ガス供給口部131への清浄な窒素の供給は、酸素濃度制御部138に制御され、ガス供給源137からなされる。
酸素濃度制御部138は、ガス排気口部132からの排気ガスの酸素濃度を酸素濃度センサ135で検知し、この情報に基づいて、ガス供給源137からガス供給口部131への窒素の供給、およびガス排気口部132からの排気を制御する。
具体的には、供給する窒素のガス圧、流量、排気のための減圧、各処理時間等を制御する。
このようにして、ケース200内への清浄な窒素の充填は行われるが、ケース内の窒素雰囲気として、O2 濃度が100ppm以下、H2 O濃度が100ppm以下であることが好ましく、これらの濃度以下の清浄な窒素ガスをガス供給源137から供給する。
尚、一般に、レジスト塗布済のマスクブランクスを空気中に保管した場合には、空気中の、酸素、有機物等により、レジスト感度の経時変化が起こるとされており、水分等により、汚れの発生も起こるとされているが、確実に所定の、O2 濃度以下、H2 O濃度以下に制御されていることが、管理上、要求される。
本例のケース開閉装置では、上記のように、ケース200内に清浄な窒素を充填することにより、確実にO2 濃度、H2 O濃度を所定の値以下に制御することができる。
これにより、レジスト感度の経時変化等を抑えることができる。
【0017】
本例の装置では、蓋部220、底部230に、標準機械的インターフエースSMIF機構が組み込まれた、図2に示すようなケース200を、開閉するためのロック部120を、図1に示すように、ステージ部110に設けている。
ロック部は、モータにより制御されるカムで、ケースの底部230のこれと嵌合する嵌合部(図示していない)と嵌合した状態で、前記嵌合部を回転し、ロック動作を行なうもので、これにより、ケース200の開閉がなされる。
即ち、本例の装置のロック部にも標準機械的インターフエースSMIF機構が組み込まれている。
【0018】
次に、本例のケース開閉装置の使用動作の1例を挙げておく。
まず、ケースの底部230と、これに固定され、且つ、レジスト塗布済のマスクブランクスをその端部で保持している製品固定部(図3に示す支持部240他)を、図1の点線にて記載の位置の、ステージ部110の所定の位置にA1側から載置し、上側に移動し、台座115とステージ部110が嵌合する位置まで移動する。
この状態で、既に、ガス供給口部131、ガス排気口部132は、それぞれ、底部230の吸気口部231、排気口部232と嵌合している。
次いで、この状態で、図示していないが、蓋部220を所定の保管場所から運び、図1の上側側から、ケースの底部230に合わせた後、ロック部120を動作させ、ケース200を密封した状態で、蓋部220と底部230とがはずれないようにロックする。
次いで、ガス排気口部132から排気しながら、ガス供給口部131から清浄な窒素をケース内へ充填する。
底部230の吸気口部231、排気口部232には、それぞれ、所定の正圧、負圧が掛けられる。
清浄な窒素が充填された後、密封されたケースは、A2側へと移動され、所望の箇所に搬送され、次の処理が行われるまで、そこで保管される。
このようにして、本例のケースの開閉装置は使用されるが、これは1例で、使用方法はこれに限定されない。
【0019】
ここで、本例の装置に適用する、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、レジスト塗布済のマスクブランクスを、搬送、保管するためのケースで、且つ、底部には、清浄な窒素を供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースについて、図3に基づいて、簡単に説明しておく。
製品固定部は、レジスト塗布済のマスクブランクス250をその端部で保持する保持治具247を支持する支持部240を有するもので、支持部240自体は、ケースの底部230に固定されている。
保持治具247は、複数個設けられ、マスクブランクス250を、その端部で、保持する。
図示していないが、蓋部220と底部230を合わせ密封した際には、蓋部220からの外力を、保持治具間の間隔が狭まる方向の力へ変え、マスクブランクス250を確実に保持できるようになっている。
図3に示すケースの場合、吸気口部231から導入される清浄な窒素がケース内で拡散し易いように、支持部240は、底部220から浮いた構造で、支持部240には、多数の貫通孔245を所定のピッチで二次元的に配列してあり、且つ、吸気口部231から、通気路261、通気路(貫通孔)241を通り、清浄な窒素が、マスクブランクス250の蓋部220側へ入り込み、支持部240の下側から、各貫通孔245を通ったガスが排気口部232に導かれ、排気されるようになっている。
図3に示すケースは1例で、これに限定はされない。
尚、蓋部220と底部230との開閉を制御するロック機構については、標準機械的インターフエースSMIF機構を適用したもので、図3では省略して示してある。また、説明も省略する。
【0020】
【発明の効果】
本発明は、上記のように、蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハ等の薄板状の製品を、搬送、保管するためのケース(ボックスないしコンテナとも言う)で、且つ、底部には、窒素等の清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースに対し、簡単に、窒素等の清浄な不活性なガスを導入できる、ケース開閉装置の提供を可能とした。
特に、標準機械的インターフエースSMIF機構を備えた蓋部、底部からなるケース(ボックスあるいはコンテナとも言う)にも簡単に適用でき、各処理の自動化がし易い。
これにより、製品の大型化、高品質化、量産化に対応できるものとした。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のケース開閉装置の実施の形態の1例の概略斜視図
【図2】ステージ部にケース載置した状態の一部断面と、概略構成を示した概略構成を示した図
【図3】ケースの一部断面図
【符号の説明】
100 ケース開閉装置
110 ステージ部
115 台座
120 ロック部
130 ガス供給部
131 ガス供給口部
132 ガス排気口部
133 配管
135 酸素濃度センサ
137 ガス供給源
138 酸素濃度制御部
139 配線
150 固定部
155 スライド軸
200 ケース(ボックスないしコンテナとも言う)
220 蓋部
230 底部
231 吸気口部
232 排気口部
240 (製品固定用)支持部
241 通気路(貫通孔)
245 貫通孔
247 保持治具
250 (レジスト塗布済の)マスクブランクス
261 通気路
271 窒素ガス(不活性なガス)
272 排気ガス

Claims (4)

  1. 蓋部と底部とを合わせ、密閉した状態で、フォトマスク、マスクブランクス、ガラス基板、ウエハのいずれかの薄板状の製品を、搬送、保管するためのケースで、底部に、清浄な不活性なガスを供給するための吸気口部、排気を行うための排気口部を備えたケースを、開閉する開閉装置であって、ケースをその上に載置し、ケースの蓋部と底部との開閉のロック、あるいはロックの解除を行う、ロック部を有するステージ部と、前記ステージ部に一体的に、ケースの底部の吸気口部から清浄な不活性なガスを供給するガス供給口部、ケースの底部の排気口部から排気を行うガス排気口部を配設した、清浄な不活性なガスを供給するガス供給部とを備えており、前記ケースの製品固定部は、製品を、製品の端部で保持する保持治具を支持する支持部を有し、該支持部自体は、底部から浮いた構造で、ケースの底部に固定されており、該支持部には、多数の貫通孔を所定のピッチで二次元的に配列してあり、且つ、吸気口部から、通気路を通り、清浄な不活性なガスが、製品の蓋部側へ入り込み、支持部の下側から、前記支持部の前記多数の貫通孔を通った前記清浄な不活性なガスが排気口部に導かれ、排気されるようになっていることを特徴とするケース開閉装置。
  2. 請求項1に記載のケース開閉装置であって、ガス供給部は、ガス供給口部に清浄な不活性なガスを供給するためのガス供給源と、ガス排気口部からの排気ガスの酸素濃度を感知するための、酸素濃度センサと、酸素濃度センサからの情報に基づき、ガス供給源からガス供給口部への清浄な不活性なガスの流れを制御する制御部とを備えていることを特徴とするケース開閉装置。
  3. 請求項1ないし2のいずれかに記載のケース開閉装置であって、ケースの蓋部、底部、およびステージ部のロック部には、標準機械的インターフエースSMIF(Standard Mechanical Interface)機構が組み込まれていることを特徴とするケース開閉装置。
  4. 請求項1ないし3のいずれかに記載のケース開閉装置であって、ステージ部は、所定の位置で、ケースの蓋部と底部との開閉のロック、あるいはロックの解除を行い、且つ、ケース内に清浄な不活性なガスを充填するもので、且つ、ステージ部は、前記所定の位置から、ガイドに沿い、上およびまたは下に移動するものであることを特徴とするケース開閉装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4489411B2 (ja) 2003-01-23 2010-06-23 新光電気工業株式会社 電子部品実装構造の製造方法
JP2011187539A (ja) * 2010-03-05 2011-09-22 Sinfonia Technology Co Ltd ガス注入装置、ガス排出装置、ガス注入方法及びガス排出方法
CN103426792A (zh) * 2012-05-24 2013-12-04 上海宏力半导体制造有限公司 一种密封的n2清洗装置
JP5776947B2 (ja) * 2013-06-12 2015-09-09 株式会社ダイフク 保管棚用の不活性ガス注入装置
JP6855774B2 (ja) * 2016-12-13 2021-04-07 Tdk株式会社 ウエハ搬送容器内雰囲気計測装置、ウエハ搬送容器、ウエハ搬送容器内清浄化装置及びウエハ搬送容器内清浄化方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0748004A (ja) * 1993-08-04 1995-02-21 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板保持容器およびこの容器を用いる基板処理装置
JP3617681B2 (ja) * 1995-01-24 2005-02-09 アシスト シンコー株式会社 可搬式密閉コンテナのガス供給システム
JP3796782B2 (ja) * 1995-11-13 2006-07-12 アシスト シンコー株式会社 機械的インターフェイス装置
US5879458A (en) * 1996-09-13 1999-03-09 Semifab Incorporated Molecular contamination control system

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