JP4360961B2 - 基板搬送ロボットおよび基板処理装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体基板、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等(以下、単に「基板」と称する)を片持ち支持しながら搬送する基板搬送ロボットおよびそのロボットを組み込んだ基板処理装置に関する。
上記の基板を搬送する搬送ロボットには種々の方式のものが用いられているが、片持ちのハンドに基板を載置保持して搬送する方式のロボットが多く使用されている。このような方式の搬送ロボットにおいて、基板のなかでも特に大型のガラス基板を搬送する場合には、ハンド自体が大型化するためその自重によって撓みが生じ、そのハンドがガラス基板を載置するときにはさらに大きな曲げモーメント負荷によって大きく撓むこととなる。
このような搬送ロボットにおけるハンドの撓みを矯正するために、ハンド自体を弾性係数の大きな材料(例えばCFRP)にて構成するとともに、ハンドをその撓み方向と逆方向に傾けるチルト機構をハンド根元に装備することが行われている(例えば、特許文献1参照)。また、ハンドに歪みゲージを添設し、その歪みゲージからの信号に基づいて変位量を補正するようにハンドの駆動部を制御する技術が特許文献2に開示されている。さらに、特許文献3には、ハンドをチルト機構によって傾けるとともに、ハンドの先端を常に一定の高さ位置に維持するようにロボット本体を上下動させることが開示されている。
図8は、従来の搬送ロボットにおけるハンドの撓みを示す概念図である。図8(a)に示す如く、大型ガラス基板用の搬送ロボットによって片持ちされるハンドHAはその自重および基板重量によって大きく撓む。この撓みを補正するために、図8(b)に示すように、ハンドHA全体をチルト機構によって撓み方向と逆方向に根元から傾け、ハンドHAの根元と先端とが水平となるようにしていた。
特開平7−99225号公報 特開平8−150580号公報 特開2003−136442号公報
基板のサイズが比較的小さい場合には、ハンドHAもそれほど大きくないため、ハンドHAの根元からチルト機構によって傾けることにより、ハンドHA全体をほぼ水平状態にすることが可能であった。ところが、近年、液晶ガラス基板の大型化が急速に進展しており、第7世代(1800mm×2200mm)の大型ガラス基板が実用化されようとしている。これ程の大型ガラス基板を搬送する搬送ロボットのハンドは当然に相当大きなサイズを有するものとなり、弾性係数の大きな素材にて構成したとしても図8に示す如くサイズ相応の撓みが発生する。
そして、片持ちされる大型のハンドHAをチルト機構によって根元から傾けてその根元と先端とが水平となるようにしても、図8(b)に示すようにハンドHA全体はアーチ型に反った状態となる。このようなアーチ型に撓んだハンドHAを基板処理装置の処理室PCにアクセスさせるためには、処理室PCの開口OPを高さ方向に大きくしなければならない。すると、処理室PC自体も必要以上に高さ方向に大型化することとなる。近年の基板処理装置は、フットプリントをなるべく小さくしてクリーンルーム内の装置設置面積を最小化するべく、処理室を縦方向に配置することが多くなっており、個々の処理室PCの高さが必要以上に高くなることは問題である。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、ハンド全体をほぼ水平状態に維持することができる基板搬送ロボットおよび基板処理装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項1の発明は、基板を片持ち支持しながら搬送する基板搬送ロボットにおいて、基板を載置するハンドと、前記ハンドを片持ち支持する支持手段と、前記支持手段によって片持ち支持される前記ハンドの基端部から先端部に沿って設置され、前記ハンドの撓みを補正する複数の撓み補正機構と、を備え、前記複数の撓み補正機構のうち最も前記先端部側に設置された撓み補正機構については前記ハンドにおける当該撓み補正機構の設置位置から前記先端部までを補正担当範囲として規定するとともに、当該撓み補正機構以外の各撓み補正機構については前記ハンドにおけるその撓み補正機構の設置位置から先端部側に隣接する撓み補正機構の設置位置までを補正担当範囲として規定し、前記複数の撓み補正機構のそれぞれに、その補正担当範囲の両端部が略水平となるように当該補正担当範囲を前記ハンドの撓み方向と逆方向に回動させている
また、請求項の発明は、請求項の発明に係る基板搬送ロボットにおいて、前記ハンドに、その基端部から先端部に沿って分割された複数の分割体を連結軸を介して回動自在に順次に連結して備え、前記複数の撓み補正機構のそれぞれを前記連結軸の設置位置に設けている。
また、請求項の発明は、請求項または請求項の発明に係る基板搬送ロボットにおいて、基板を下面から支持する複数の支持ピンのそれぞれを前記複数の撓み補正機構の設置位置に設けている。
また、請求項の発明は、請求項1から請求項のいずれかの発明に係る基板搬送ロボットにおいて、前記複数の撓み補正機構のそれぞれに圧電素子を含ませている。
また、請求項の発明は、基板に所定の処理を行う基板処理装置において、前記所定の処理を行う処理部と、請求項1から請求項のいずれかの発明に係る基板搬送ロボットと、を備える。
請求項1の発明によれば、複数の撓み補正機構のそれぞれが、その補正担当範囲の両端部が略水平となるように当該補正担当範囲をハンドの撓み方向と逆方向に回動させているため、各補正担当範囲の高低差を低減してハンド全体をほぼ水平状態に維持することができる。
また、請求項の発明によれば、複数の撓み補正機構のそれぞれをハンドの分割体の連結軸の設置位置に設けているため、各撓み補正機構は分割体をスムースに回動させて補正担当範囲の補正を容易に行うことができる。
また、請求項の発明によれば、複数の支持ピンのそれぞれを複数の撓み補正機構の設置位置に設けているため、複数の支持ピンを同一水平面内に配列することができ、基板を安定して水平姿勢にて支持することができる。
また、請求項の発明によれば、複数の撓み補正機構のそれぞれが圧電素子を含むため、迅速かつ正確な撓み補正を行うことができる。
また、請求項の発明によれば、所定の処理を行う処理部と、請求項1から請求項5のいずれかの発明に係る基板搬送ロボットと、を備えるため、基板処理装置においてハンド全体をほぼ水平状態に維持することができ、その結果、処理部の開口高さを必要最小限とすることができ、処理部の高さ増大を抑制することができる。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明にかかる基板処理装置の構成を示す図である。この基板処理装置は、複数の処理ユニットを接続して一貫した処理を可能にしたコータ/デベロッパ装置であって、露光機50、タイトラー60、およびエッジ露光機70と接続し、フォトリソグラフィー工程においてレジスト塗布前洗浄からレジスト塗布・露光・現像までを連続して行えるようにするものである。なお、本実施形態の基板処理装置による処理対象となる基板は液晶ガラス基板である。
基板処理装置は、主として、インデクサー部2、洗浄ユニット10、脱水ベークユニット20a,20b、レジスト塗布ユニット30、プリベークユニット40a,40b、現像ユニット80およびポストベークユニット90a,90b、空冷ユニット99の各処理部と、搬送ロボット4a〜4eとを備えている。図1の紙面下側に示すインデクサー部2から露光機50までの行きラインには、洗浄ユニット10、ポストベークユニット90b、脱水ベークユニット20a、レジスト塗布ユニット30、プリベークユニット40a等が配置される。一方、図1の紙面上側に示す露光機50からの帰りラインには、プリベークユニット40b、現像ユニット80、脱水ベークユニット20b、ポストベークユニット90a、空冷ユニット99等が配置される。
また、搬送ロボット4eの近傍には、露光機50に対して基板を受け渡す際の受け渡し場所あるいは一時的な待避場所となるバッファ部8a〜8cが設けられている。この基板処理装置はユニカセット方式であり、インデクサー部2に載置されたカセット3から液晶ガラス基板を取り出して各処理部へ送り出し、各処理工程を終えた基板を同じカセット3に収納する。カセット3からの取り出しおよびカセット3への収納は、基板を保持して旋回可能なアームを備えカセット3の列に沿って移動可能なインデクサーロボット2aによって行う。
洗浄ユニット10は、連続枚葉式の処理部であって、搬入部12、洗浄部13、液滴除去部14および搬出部15からなる。また、搬入部12の上部には、UVオゾン洗浄室11が設けられている。すなわち、洗浄ユニット10の上にUVオゾン洗浄室11が重ねられている。UVオゾン洗浄室11から搬入部12まではインデクサーロボット2aにより基板を搬送する。搬入部12から搬出部15までは、コンベアによって基板を搬送しつつ、洗浄や液滴除去等の処理を行う。洗浄部13では、純水あるいは薬液を用いたブラシ,超音波,高圧スプレー等による洗浄が行われる。なお、コンベアはクリーンルーム内に対応した発塵性の少ないローラコンベアを採用している。
脱水ベークユニット20a,20bは、静止式の処理室、コンベア室(搬送室)および通過室が多段に積み上げられたユニットである。脱水ベークユニット20aは、下から、冷却室、搬入用コンベア室、搬出用コンベア室、冷却室、密着強化室の順で多段に室が重ねられたユニットである。脱水ベークユニット20bは、搬送ロボット4bを挟んで脱水ベークユニット20aと反対側の帰りラインに配置されており、下から、冷却室、通過室、バッファ室、2つの加熱室の順で多段に室が重ねられたユニットである。バッファ室内には、複数の基板を保管することができるように、複数の載置部が設けられている。搬入用コンベア室、搬出用コンベア室および通過室には、それぞれコンベアが配備されている。脱水ベークユニット20aの搬入用コンベア室の高さレベルは、洗浄ユニット10の搬出部15の高さレベルと同じである。
レジスト塗布ユニット30は、枚葉式の処理部であって、搬入部31、スピンコータ部32、レベリング処理部33、エッジリンス部34および搬出部35からなる。搬入部31の高さレベルは、脱水ベークユニット20aの搬出用コンベア室の高さレベルと同じである。搬入部31から搬出部35までは、基板を隣接する処理部へ順送りしてゆくスライダー5a〜5dによって基板を搬送する。
プリベークユニット40a,40bは、静止式の処理室および搬送室が多段に積み上げられたものである。図2にプリベークユニット40a,40bの構成を示す。プリベークユニット40aは、下から、冷却室(CP)43a、空室、搬入用コンベア室(IN C/V)41、冷却室(CP)43b、加熱室(HP)42aの順で多段に室が重ねられたユニットである。プリベークユニット40bは、搬送ロボット4cを挟んでプリベークユニット40aと反対側の帰りラインに配置されており、下から、冷却室(CP)43c、通過室(THROUGH C/V)44、空室、2つの加熱室(HP)42b,42cの順で多段に室が重ねられたユニットである。搬入用コンベア室41および通過室44には、それぞれコンベアが配備されている。プリベークユニット40aの搬入用コンベア室41の高さレベルは、レジスト塗布ユニット30の搬出部35の高さレベルと同じである。
現像ユニット80は、連続枚葉式の処理部であって、搬入部81、現像部82、水洗部83、乾燥部84および搬出部85からなる。搬入部81から搬出部85までは、コンベアによって基板を水平方向に搬送する。搬入部81の高さレベルは、プリベークユニット40bの通過室44の高さレベルと同じである。
ポストベークユニット90a,90bは、静止式の処理室、搬送室および通過室が多段に積み上げられたユニットである。ポストベークユニット90aは、下から、冷却室、搬入用コンベア室、搬出用コンベア室、2つの加熱室の順で多段に室が重ねられたユニットである。ポストベークユニット90bは、搬送ロボット4aを挟んでポストベークユニット90aと反対側の行きラインに配置されており、下から、冷却室、通過室、バッファ室、空室、加熱室の順で多段に室が重ねられたユニットである。バッファ室内には、複数の基板を保管することができるように、複数の載置部が設けられている。搬入用コンベア室、搬出用コンベア室および通過室には、それぞれコンベアが配備されている。ポストベークユニット90aの搬入用コンベア室の高さレベルは、脱水ベークユニット20bの通過室、現像ユニット80の搬出部85およびプリベークユニット40bの通過室44の高さレベルと同じである。また、ポストベークユニット90aの搬出用コンベア室の高さレベルは、空冷ユニット99の高さレベルと同じである。
搬送ロボット4a〜4eは、基板Wを片持ち支持しながら搬送するロボットであり、旋回することはできるが水平方向に移動するような機構は有していない、いわゆるクラスタタイプのロボットである。図3は、搬送ロボット4cの平面図である。搬送ロボット4cは、旋回と昇降が可能な胴部51と、胴部51から延びて屈伸動作を行うセグメント部52と、セグメント部52の先端に装着され基板Wを載置して保持するハンド53とを有している。胴部51が図3の矢印AR31に示すように旋回することによってハンド53がプリベークユニット40aまたはプリベークユニット40bに正対する。また、胴部51が昇降することによってハンド53が図2の矢印AR21に示すように多段に積層された各室の高さ位置に昇降する。さらに、セグメント部52が屈伸動作を行うことによってハンド53が図3の矢印AR32に示すように水平方向に進退移動を行う。このような各動作によって、搬送ロボット4cは、プリベークユニット40a,40bに多段に積層された各室に対して旋回と昇降の動作をして正対し、ハンド53の進退移動および胴部51の上下動により基板Wの取り替えまたは受渡しの動作をして基板Wを移動させる。なお、搬送ロボット4cは、2つのハンド53を上下に所定の間隔を隔てて備え、それぞれを共通の胴部51に設けられた別個のセグメント部52によって相互に独立に進退移動させる、いわゆるダブルアームタイプの構成を採用している(図2参照)。また、他の搬送ロボット4a,4b,4d,4eについても搬送ロボット4cと同様の構成を備えており、同様の動作を行う。
スライダー5a〜5dは、矩形運動により基板Wの位置を一方向に対して所定距離だけスライドさせるものであり、レジスト塗布ユニット30の各部間に設けられている。例えば、搬入部31とスピンコータ部32との間に配置されるスライダー5aは、両腕を広げて搬入部31から基板Wをすくい上げ、スピンコータ部32に水平移動して基板Wを下ろす。これをスライダー5a〜5dが繰り返すことによって、搬入部31から搬出部35まで基板Wが順次搬送される。
次に、搬送ロボット4a〜4eのハンド構成についてさらに詳細に説明する。図4は、搬送ロボット4cの要部側面図である。なお、同図においては、搬送ロボット4cがセグメント部52を伸長させている状態、つまりプリベークユニット40a,40bのいずれかの室にアクセスしている状態を示している。また、以下は搬送ロボット4cを例示して説明するが、他の搬送ロボット4a,4b,4d,4eについても同様の構成を備えている。
ハンド53は、セグメント部52の先端にハンド支持部54を介して取り付けられている。すなわち、セグメント部52の先端に直接装着されているのはハンド支持部54であり、そのハンド支持部54によってハンド53が片持ち支持されている。
図5は、ハンド支持部54およびハンド53の部分拡大図である。本実施形態において、ハンド53はその基端部から先端部に沿って5つのハンド分割体53a〜53eに分割されている。なお、図3に示すように、ハンド53は4本のフィンガーを備えており、各フィンガーごとに5つのハンド分割体53a〜53eに分割されている。但し、ハンド53の基端部に位置するハンド分割体53aについては4本のフィンガーに共通の部材として設けられている。すなわち、ハンド53の基端部を構成するハンド分割体53aは櫛歯状部材であり、そのハンド分割体53aの4本の櫛歯のそれぞれに4つの長尺状のハンド分割体53b〜53eが連設されている。
ハンド分割体53aの基端部は、支持軸54aによってハンド支持部54に回動自在に軸着されている。また、ハンド支持部54にはボールネジ54cを回転駆動するモータ54bが内蔵されている。そして、このボールネジ54cは、傾斜面を有するスライド部材55に連結されたナット55aと螺合している。従って、モータ54bがボールネジ54cを正逆回転させることにより、スライド部材55が矢印AR51に示すように水平方向に沿ってスライド移動する。一方、ハンド分割体53aの下部には傾斜面を有するカムプレート56が固設されている。このカムプレート56の傾斜面とスライド部材55の傾斜面とは摺動自在に当接している。このような構成により、モータ54bがボールネジ54cを正逆回転させてスライド部材55を水平方向にスライド移動させることにより、スライド部材55の傾斜面に沿ってカムプレート56が摺動して昇降する。その結果、図5の矢印AR52にて示すように、ハンド分割体53aが支持軸54aを中心にして鉛直面内にて回動する。
本実施形態においては、支持軸54aによってハンド支持部54にハンド分割体53aを回動自在に軸着するとともに、カムプレート56と当接するスライド部材55をスライド移動させることによってハンド53全体の傾きを修正するチルト機構61を実現している。つまり、ハンド53の最も基端部側にはカム機構を備えてハンド53全体の傾きを補正するチルト機構61が設けられている。なお、このチルト機構61は、ハンド分割体53aの撓み補正機構としても機能するのであるが、これについてはさらに後述する。
ハンド分割体53aの4本の櫛歯のそれぞれの先端にはハンド分割体53b〜53eが連結軸57を介して順次に回動自在に連結されている。すなわち、ハンド分割体53aの先端部にはハンド分割体53bの基端部が回動自在に連結され、ハンド分割体53bの先端部にはハンド分割体53cの基端部が回動自在に連結され、以下同様に、ハンド分割体53cの先端部にはハンド分割体53dの基端部が回動自在に連結され、ハンド分割体53dの先端部にはハンド分割体53eの基端部が回動自在に連結される。そして、それぞれの連結部では連結軸57を介して二つのハンド分割体が蝶着されてヒンジ構造に構成されている。
図6は、2つのハンド分割体の連結部を下面から視た図である。同図は、ハンド分割体53aとハンド分割体53bとの連結部を示しているが、他のハンド分割体の連結部についても同様である。図6に示すように、ハンド分割体53aおよびハンド分割体53bの互いの凹凸を嵌合させてその嵌合部分を1本の連結軸57によって横貫し、当該連結軸57に2つのハンド分割体53a,53bを回動自在に軸着している。これにより、2つのハンド分割体53a,53bは互いに開閉自在に蝶着されることとなる。
このような蝶着構造を有する2つのハンド分割体53a,53bのそれぞれの下面にはその幅方向のほぼ中央部に挟持部材58a,58bが相対向するように立設されている。2つの挟持部材58a,58bの間には圧電素子59が挟持されている。圧電素子59は、電圧を印加することによって機械的ひずみを生ずる素子であり、例えばPZT(チタン酸鉛とジルコン酸鉛とを混合したセラミックス)等を用いることができる。圧電素子59には、図示を省略する電気配線を介して所定の電圧を印加することができる。
電圧が印加された圧電素子59は、その印加電圧に応じて図5の矢印AR53にて示すように高い応答速度にて伸長する。圧電素子59が伸長すると2つの挟持部材58a,58bの間隔が押し拡げられ、蝶着構造にて接続された2つのハンド分割体53a,53bが矢印AR54にて示すように下を凸とするように回動する。
また、2つのハンド分割体53a,53bのそれぞれの下面にはその幅方向に沿って圧電素子59の両側にストッパ65a,65bが相対向するように設置されている(図6)。2つのハンド分割体53a,53bが上を凸とするように回動するときには、ストッパ65a,65bが互いに当接することによってハンド分割体53a,53bの回動を規制し、両ハンド分割体53a,53bが一定角度以上に上を凸として回動することを防止している。
また、ハンド分割体53a,53bの上面のうち圧電素子59の設置位置の直上に基板Wを下面から支持する支持ピン66が立設されている。ここの例では、ハンド分割体53aの先端凸部の上面に支持ピン66が立設されている。
このような圧電素子59を有する撓み補正機構62は、ハンド分割体53a,53b間だけでなく、ハンド分割体53b,53c間、ハンド分割体53c,53d間およびハンド分割体53d,53e間のそれぞれの連結部(連結軸57の設置位置)に配置されている。すなわち、ハンド支持部54によって片持ち支持されるハンド53の基端部から先端部に沿って撓み補正機構として機能するチルト機構61および4つの撓み補正機構62が設置されることとなる(なお、正確には、チルト機構61は1つであるが、撓み補正機構62は4本のフィンガーのそれぞれに4つずつ設けられている)。そして、各撓み補正機構62はハンド分割体53a〜53eの連結部のそれぞれに設けられることとなる。したがって、ハンド分割体53a,53b間、ハンド分割体53b,53c間、ハンド分割体53c,53d間およびハンド分割体53d,53e間のそれぞれを下を凸とするように回動させることができる。また、ハンド分割体53a,53b間、ハンド分割体53b,53c間、ハンド分割体53c,53d間およびハンド分割体53d,53e間のそれぞれの下面には回動規制部材たるストッパ65a,65bが設置され、上面には支持ピン66が立設されている(図4)。
以上のような構成を有するハンド53においても、ハンド支持部54によって片持ち支持される方式であるため撓みが生じる。この撓みの内容をより細分化すると、ハンド53全体の傾きと、ハンド53自身の自重およびハンド53が基板Wを載置したときの基板Wの重みに起因した撓みとに分解される。このうち、ハンド53全体の傾きについてはハンド53の基端部に設けられたチルト機構61によって補正される。
一方、ハンド53の自重および被搬送基板Wの重量に起因した撓みについては以下のように補正している。まず、ハンド53が基板Wを保持していないときにも自重によってハンド53に撓みが生じるのであるが、補正機構として機能するチルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれがハンド53の撓み方向と逆方向に、つまり各ハンド分割体間の下が凸となるようにハンド分割体53a〜53eを回動させている。具体的には、チルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれに補正担当範囲が設定されており、チルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれは、その補正担当範囲の両端部が水平となるように当該補正担当範囲をハンド53の撓み方向と逆方向に回動させる。
ここで、ハンド53の最も先端部側に設置された撓み補正機構62(ハンド分割体53dとハンド分割体53eとの間の撓み補正機構62)については、ハンド53における当該撓み補正機構62の設置位置からハンド53の先端部までが補正担当範囲として設定される。つまり、ハンド分割体53eが当該最先端部側の撓み補正機構62の補正担当範囲として設定される。一方、上記最先端部側の撓み補正機構62以外の撓み補正機構62およびチルト機構61のそれぞれについてはハンド53におけるその撓み補正機構62またはチルト機構61の設置位置から先端部側に隣接する撓み補正機構62の設置位置までが補正担当範囲として設定される。つまり、チルト機構61についてはハンド分割体53aが補正担当範囲として設定され、ハンド分割体53a,53b間の撓み補正機構62についてはハンド分割体53bが、ハンド分割体53b,53c間の撓み補正機構62についてはハンド分割体53cが、ハンド分割体53c,53d間の撓み補正機構62についてはハンド分割体53dが、それぞれ補正担当範囲として設定される。そして、チルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれは、その補正担当範囲(各ハンド分割体)の両端部が水平となるように当該補正担当範囲をハンド53の撓み方向と逆方向に回動させることによって、図7に示すように、ハンド53の撓みを補正してハンド53をほぼ水平な状態に維持することができる。なお、かかる補正を行ってハンド53全体をほぼ水平な状態に維持したとしてもハンド分割体53a〜53eの個々においては若干の撓みが生じ、図7では理解容易のためそれら個々の撓みを誇張して記載している。
ところで、ハンド53の自重および材質は一定であるため、その撓み量もほぼ一定となる。従って、各ハンド分割体の両端部が水平となるような回動量を予め実験やシミュレーション等によって求めておき、その回動量を実現することができるスライド部材55の移動量および圧電素子59への印加電圧を基板不支持状態の設定値として搬送ロボット4cの制御部のメモリに記憶させておき、ハンド53が基板Wを載置していないときにはその設定値に従って該制御部がチルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれを制御することにより、ハンド53の撓みを補正してハンド53をほぼ水平な状態に維持することができる。なお、基板不支持状態の設定値を実際に搬送ロボット4cを稼働させる前のティーチングによって修正できることは勿論である。
次に、上述のようにしてほぼ水平な状態に維持されたハンド53が基板Wを載置保持したときには、基板Wの重量によってハンド53に新たな曲げモーメントが作用し、ハンド53がさらに撓もうとする。このときにもチルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれが、その補正担当範囲(各ハンド分割体)の両端部が水平となるように当該補正担当範囲をハンド53の撓み方向と逆方向にさらに回動させることによってハンド53の撓みを補正してハンド53をほぼ水平な状態に維持することができる。
基板Wの重量はそのサイズが同じである限りほぼ一定であるため、基板Wを載置することによってハンド53に作用する新たな曲げモーメント量もほぼ一定となる。よって、ハンド53が基板Wを載置保持したときにも各ハンド分割体の両端部が水平となるような回動量を予め実験やシミュレーション等によって求めておき、その回動量を実現することができるスライド部材55の移動量および圧電素子59への印加電圧を基板載置状態の設定値として搬送ロボット4cの制御部のメモリに記憶させておき、ハンド53が基板Wを載置した時点でその基板載置状態の設定値に切り替えて該制御部がチルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれを制御することにより、ハンド53が基板Wを載置保持したときにもその撓みを補正してハンド53をほぼ水平な状態に維持することができる。なお、基板載置状態の設定値を実際に搬送ロボット4cを稼働させる前のティーチングによって修正できることは勿論である。
以上のように、本実施形態においては、ハンド53をその基端部から先端部に沿って複数のハンド分割体53a〜53eに分割するとともに、それぞれのハンド分割体を連結軸57を介して回動自在に順次に連結している。また、ハンド53の基端部にチルト機構61を設けるとともに、ハンド分割体53a〜53eの連結部のそれぞれに撓み補正機構62を配置している。そして、チルト機構61および4つの撓み補正機構62のそれぞれがその補正担当範囲(各ハンド分割体53a〜53e)の両端部が水平となるように当該補正担当範囲をハンド53の撓み方向と逆方向に回動させることによって、ハンド53の撓みを補正してハンド53全体をほぼ水平な状態に維持している。換言すれば、ハンド53の基端部に設けられたチルト機構61だけでなく、複数の撓み補正機構62によってハンド53の撓み補正を細分化して行っているのである。このため、図7に示した如く、各ハンド分割体53a〜53eのそれぞれは若干アーチ型に撓むものの、その高低差は従来のように基端部のチルト機構のみによって撓み補正を行った場合に生じるハンド全体の高低差(図8(b)参照)に比較して著しく小さくすることができ、ハンド53全体としてはほぼ水平な状態を維持することができる。その結果、アクセス対象となる処理ユニットの処理室の開口を必要最小限にすることができ、処理室自体の高さが必要以上に大きくなるのを抑制することができ、ひいては処理室の縦方向への配置数を多くして基板処理装置全体のフットプリントを小さくすることができる。
また、本実施形態では、支持ピン66を撓み補正機構62のそれぞれの設置位置に設けている。各撓み補正機構62の設置位置はその基端部側に隣接する撓み補正機構62の補正担当範囲の先端部に相当するため、すべての撓み補正機構62は同一水平面内に位置することとなる。従って、支持ピン66は同一水平面内に配列されることとなり、基板Wを安定して確実に水平姿勢にて載置保持することができる。
また、各撓み補正機構62を応答速度が速く変位量が正確な圧電素子59にて構成しているため、ハンド53が基板Wを保持したときにも迅速かつ正確にハンド53をほぼ水平な状態に維持することができる。
また、ストッパ65a,65bによって各ハンド分割体が下を凸とするように回動するのを防止しているため、圧電素子59に大きな応力が作用して破損するのを防止することができる。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記の例に限定されるものではない。例えば、上記実施形態においては、ハンド53を基端部から先端部に沿って5つのハンド分割体53a〜53eに分割するとともに、それぞれの分割位置に撓み補正機構62を設けるようにしていたが、ハンド53の分割数は搬送対象となる基板Wのサイズに応じて任意のものとすることができる。ハンド53の分割数を多くするほど、各ハンド分割体の撓み量を少なくしてハンド53全体をより水平な状態に維持できることとなるが、撓み補正機構自体の重量が増加するとともに構成が複雑となるため、処理室の開口を必要最小限にすることができる程度の分割数とすることが好ましい。
また、ハンド53のフィンガー数(分岐数)も搬送対象となる基板Wのサイズに応じて任意のものとすることができる。
また、上記実施形態においては、ハンド53を基端部から先端部に沿って複数のハンド分割体53a〜53eに分割していたが、ハンド53を一体の部材としてその下面に基端部から先端部に沿って複数の圧電素子59を埋設するようにしても良い。その埋設位置は上記実施形態における撓み補正機構62の設置位置と同じとして良い。このようにしても、各圧電素子59がそれよりも先端側に隣接する圧電素子59までの補正担当範囲の両端部が水平となるように伸長することによってハンド53をほぼ水平な状態に維持することができる。
また、ハンド53は片持ち支持されているため、通常ハンド53が基板Wを載置した瞬間に自由振動が生じる。このときに、圧電素子59に印加する電圧を当該自由振動を打ち消すことができるような固有の波形とすることにより、ハンド53の振動を減衰させて安定した基板Wの搬送を行うことができる。
また、撓み補正機構62としては圧電素子59に限定されるものではなく、例えば磁歪素子等の他の電気機械変換素子を用いるものであっても良い。採用する素子としては、圧電素子の如く、応答速度が速く変位量を正確に制御することができるものが好ましい。
また、チルト機構61としては上記実施形態の如きカム機構を利用したものに限定されず、公知の種々の回動機構を採用することができる。
また、上記実施形態においては、ハンド53に基板Wを載置していない段階から圧電素子59に電圧を印加するようにしていたが、基板Wを載置していないときには圧電素子59自体の寸法を調節してハンド53をほぼ水平な状態に維持し、基板Wを載置してより大きな曲げモーメントがハンド53に作用したときにのみ圧電素子59に電圧を印加するようにしても良い。
また、本発明に係る搬送ロボットを組み込む装置は上記実施形態の基板処理装置に限定されるものではなく、基板Wに所定の処理を行う処理ユニットを備えた任意の装置に本発明に係る搬送ロボットを組み込むことができる。
さらに、本発明に係る搬送ロボットによって搬送対象となる基板Wは液晶ガラス基板に限定されるものではなく、半導体ウェハであっても良い。
本発明にかかる基板処理装置の構成を示す図である。 図1の基板処理装置のプリベークユニットの構成を示す図である。 図1の基板処理装置の搬送ロボットの平面図である。 図1の基板処理装置の搬送ロボットの要部側面図である。 ハンド支持部およびハンドの部分拡大図である。 2つのハンド分割体の連結部を下面から視た図である。 ハンドの撓み補正を細分化した状態を示す図である。 従来の搬送ロボットにおけるハンドの撓みを示す概念図である。
符号の説明
2 インデクサー部
10 洗浄ユニット
20a,20b 脱水ベークユニット
30 レジスト塗布ユニット
40a,40b プリベークユニット
53 ハンド
53a,53b,53c,53d,53e ハンド分割体
54 ハンド支持部
55 スライド部材
56 カムプレート
57 連結軸
59 圧電素子
61 チルト機構
62 撓み補正機構
66 支持ピン
80 現像ユニット
90a,90b ポストベークユニット
99 空冷ユニット
4a,4b,4c,4d,4e 搬送ロボット
W 基板

Claims (5)

  1. 基板を片持ち支持しながら搬送する基板搬送ロボットであって、
    基板を載置するハンドと、
    前記ハンドを片持ち支持する支持手段と、
    前記支持手段によって片持ち支持される前記ハンドの基端部から先端部に沿って設置され、前記ハンドの撓みを補正する複数の撓み補正機構と、
    を備え
    前記複数の撓み補正機構のうち最も前記先端部側に設置された撓み補正機構については前記ハンドにおける当該撓み補正機構の設置位置から前記先端部までが補正担当範囲として規定されるとともに、当該撓み補正機構以外の各撓み補正機構については前記ハンドにおけるその撓み補正機構の設置位置から先端部側に隣接する撓み補正機構の設置位置までが補正担当範囲として規定され、
    前記複数の撓み補正機構のそれぞれは、その補正担当範囲の両端部が略水平となるように当該補正担当範囲を前記ハンドの撓み方向と逆方向に回動させることを特徴とする基板搬送ロボット。
  2. 請求項1記載の基板搬送ロボットにおいて、
    前記ハンドは、その基端部から先端部に沿って分割された複数の分割体を連結軸を介して回動自在に順次に連結して備え、
    前記複数の撓み補正機構のそれぞれを前記連結軸の設置位置に設けることを特徴とする基板搬送ロボット。
  3. 請求項1または請求項2記載の基板搬送ロボットにおいて、
    基板を下面から支持する複数の支持ピンのそれぞれを前記複数の撓み補正機構の設置位置に設けることを特徴とする基板搬送ロボット。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の基板搬送ロボットにおいて、
    前記複数の撓み補正機構のそれぞれは圧電素子を含むことを特徴とする基板搬送ロボット。
  5. 基板に所定の処理を行う基板処理装置であって、
    前記所定の処理を行う処理部と、
    請求項1から請求項4のいずれかに記載の基板搬送ロボットと、
    を備えることを特徴とする基板処理装置
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