JP4349104B2 - ブレーズド・ホログラフィック・グレーティング、その製造方法、及びレプリカグレーティング - Google Patents
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Description
a)基板上に設けたホトレジスト層にホログラフィック露光法により正弦波又は正弦半波状のレジストパターンを形成するレジストパターン作製工程と、
b)正弦波又は正弦半波状のレジストパターンが形成された基板に対し、選択比が高いエッチングガスを使用して所望のブレーズ角とほぼ同等の角度となる斜め方向からイオンビームを照射することで、前記レジストパターンの高さが当初高さの所定割合程度に減少するまでエッチングを行う第1のイオンビームエッチング工程と、
c)前記エッチングガスよりも選択比の小さなエッチングガスを使用して格子溝パターンの頂部の頂角をほぼ二等分する方向からイオンビームを照射することで、残っているレジストパターンが少なくとも完全に消失するまでエッチングを行う第2のイオンビームエッチング工程と、
を順次実行することにより、鋸歯状の格子溝パターンを基板に直接的に刻線することを特徴としている。
図1(a)において、光学ガラスから成る基板10はオリジナルグレーティングを作製するためのブランクであり、ここでは一例としてBK7ガラスを利用する。基板10は光学研磨が可能であってホトレジストを塗布することが可能であるものであればその種類を問わないが、一般に光学ガラスは熱膨張率が低く、グレーティングの基板素材として好適である。BK7以外に、例えばBSC2、パイレックス(PYREX:コーニング社の登録商標)ガラス、ソーダガラス、石英ガラス、ゼロデュア(SCHOTT社製、ZERODUR:カールツアイス社の登録商標)、クリストロン(HOYA株式会社の登録商標)等の低熱膨張結晶ガラスが有用である。
ホトレジスト層20が基板10表面に形成されたワークWを、図3に示すような構成のホログラフィック露光装置にセットし、ホトレジスト層20に二光束干渉による900本/mmの密度の干渉縞の潜像を露光する。ここで、ホログラフィック露光装置の構成を図3により簡単に説明すると、He−Cdレーザ等のレーザ光源30(λ=441.6nm)から出射されたレーザ光を反射鏡31で反射してビームスプリッタ32により二分割する。両光束はそれぞれ平面鏡33a、33b、スペイシャルフィルタ34a、34b、軸外放物面鏡35a、35b、平面鏡36a、36bを経由してワークWのホトレジスト層20に対しそれぞれ異なる二方向から照射される。この両レーザ光が干渉して干渉縞が形成される。そして、露光されたワークWのホトレジスト層20を専用現像液で現像し、次いで純水リンスを行うことで、回折格子パターンが形成されたレジストパターン21を作製する。このとき、二光束干渉の干渉縞の強度分布は正弦波状となるため、作製されたレジストパターン21も断面が正弦波状又は正弦半波状となる(図1(b))。作製されるレジストパターン21の溝深さ(正弦波状の振幅)は上記露光時間と現像時間とを制御することで決めることができるが、ここでは溝深さを200nmとしている。
レジストパターン21の格子溝の配列方向に対し垂直(つまり図1の紙面内)で且つ高さ方向にはグレーティングのブレーズ角(格子溝の傾き角)となる斜め方向から、レジストパターン21及び基板10に対して反応性イオンビームエッチングを行う。ここでは、ブレーズ角を10°とするものとし、基板10の法線方向からみて10°斜め上方(基板10に鉛直な方向からθ1=80°傾斜した方向)からイオンビームを照射する。また、エッチングガスとしては選択比(=基板に対するエッチング速度/ホトレジスト層に対するエッチング速度)が相対的に高いCF4を用いる。
引き続いて、今度は、レジストパターン21の格子溝の配列方向に対し垂直で且つ回折格子の頂角θ2をほぼ二等分した方向からレジストパターン21及び基板10に対して反応性イオンビームエッチングを行う(図1(e))。本実施形態の場合には、ブレーズ角が10°、頂角θ2は約110°であるため、基板10の法線方向から65°(鉛直方向からθ3=25°)の方向からイオンビームを照射する。また、エッチングガスとしては、先の第1のイオンビームエッチング工程時よりも選択比が小さくなるように、CF4とO2とを混合比O2/(CF4+O2)=60%で混合したガスを使用し、ガス圧は1.5×10-4Torrとする。選択比はCF4とO2との混合比を変えることによって制御することができる。
上記エッチングの終了後、格子溝が刻線された基板10を洗浄し、真空蒸着法により格子表面にアルミニウム(Al)層11を形成する(図1(g))。ここでは本グレーティングの使用波長範囲が紫外から可視領域の範囲で高い反射率を得ることができるアルミニウムを使用したが、使用波長範囲に応じて適切な材料を用いることができる。具体的には、例えば金(Au)、白金(Pt)、或いはX線多層膜などを利用することができ、使用波長帯域によっては反射層をコーティングすることなく使用することも可能である。以上のような各工程により、オリジナルグレーティング1が完成する。
上記オリジナルグレーティング1に対し、真空蒸着法により格子溝の表面に離型剤層12とアルミニウム層13とを順次、形成する(図2(h))。離型剤としては例えばシリコングリース等による薄い油膜(厚さは約1nm)とすることができ、アルミニウム層13の厚さは約0.2μmとするとよい。次に、ガラス等から成るネガ基板14の表面にエポキシ樹脂等の接着剤15を塗布し、この接着剤15を介してオリジナルグレーティング1とネガ基板14とを貼り合わせる(図2(i))。そして、接着剤15が完全に硬化したならば、離型剤層12を境にネガ基板14をオリジナルグレーティング1から引き剥がす。残った離型剤はフレオン等の溶剤を用いて洗い流す。これによって、オリジナルグレーティング1の格子溝の反転形状が接着剤15に転写され、その表面がアルミニウム層13により被覆された格子溝を有するネガグレーティング2が出来上がる(図2(j))。
さらに、今度はネガグレーティング2を母型としてレプリカグレーティング3を作製する。その手順は上述したネガグレーティング2の作製時と同じであり、ネガグレーティング2の格子溝表面に離型剤層16とアルミニウム層17とを形成し(図2(k))、接着剤19を挟んでレプリカ基板18を貼り付ける(図2(l))。そして、接着剤19が硬化したならば離型剤層16を境にネガグレーティング2からレプリカ基板18を引き剥がす。それによって、ネガグレーティング2の回折格子溝が接着剤19に反転転写され、その表面をアルミニウム層17が被覆し、図2(m)に示すようなレプリカグレーティング3が出来上がる。したがって、理想的には、このレプリカグレーティング3の回折格子溝の形状はオリジナルグレーティング1のそれと同一になる。
2…ネガグレーティング
3…レプリカグレーティング
10…基板
11、13…アルミニウム層
12…離型剤層
14…ネガ基板
15…接着剤
20…ホトレジスト層
21…レジストパターン
Claims (3)
- a)基板上に設けたホトレジスト層にホログラフィック露光法により正弦波又は正弦半波状のレジストパターンを形成するレジストパターン作製工程と、
b)正弦波又は正弦半波状のレジストパターンが形成された基板に対し、選択比が高いエッチングガスを使用して所望のブレーズ角とほぼ同等の角度となる斜め方向からイオンビームを照射することで、前記レジストパターンの高さが当初高さの所定割合程度に減少するまでエッチングを行う第1のイオンビームエッチング工程と、
c)前記エッチングガスよりも選択比の小さなエッチングガスを使用して格子溝パターンの頂部の頂角を二等分する方向からイオンビームを照射することで、残っているレジストパターンが少なくとも完全に消失するまでエッチングを行う第2のイオンビームエッチング工程と、
を順次実行することにより、鋸歯状の格子溝パターンを基板に直接的に刻線することを特徴とするブレーズド・ホログラフィック・グレーティングの製造方法。 - 第1のイオンビームエッチングをレジストパターンの高さが当初高さの1/3程度に減少した時点で終了して第2のイオンビームエッチングに移行することを特徴とする請求項1に記載のブレーズド・ホログラフィック・グレーティングの製造方法。
- 第1のイオンビームエッチングにおけるエッチングガスとしてフッ素系ガスを使用し、第2のイオンビームエッチングにおけるエッチングガスとして前記フッ素系ガスに酸素を混合した混合ガスを使用することを特徴とする請求項1に記載のブレーズド・ホログラフィック・グレーティングの製造方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPWO2015052748A1 (ja) * | 2013-10-07 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | ブレーズド回折格子およびブレーズド回折格子の製造方法 |
JP2017211670A (ja) * | 2017-08-23 | 2017-11-30 | 株式会社島津製作所 | ブレーズド回折格子およびブレーズド回折格子の製造方法 |
Families Citing this family (30)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008081555A1 (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-10 | Shimadzu Corporation | ブレーズ型回折格子の製造方法 |
JP2010085625A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Dainippon Printing Co Ltd | 3次元パターン形成体の製造方法 |
CN101799569B (zh) * | 2010-03-17 | 2011-10-26 | 苏州大学 | 一种制作凸面双闪耀光栅的方法 |
WO2012143426A1 (en) * | 2011-04-20 | 2012-10-26 | Rolic Ag | Asymmetric optically effective surface relief microstructures and method of making them |
WO2012157697A1 (ja) * | 2011-05-19 | 2012-11-22 | 株式会社日立製作所 | 回折格子製造方法、分光光度計、および半導体装置の製造方法 |
JP5840294B2 (ja) | 2011-08-05 | 2016-01-06 | ウォステック・インコーポレイテッドWostec, Inc | ナノ構造層を有する発光ダイオードならびに製造方法および使用方法 |
JP5841797B2 (ja) | 2011-10-07 | 2016-01-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 回折格子の製造方法 |
CN102360093A (zh) * | 2011-10-19 | 2012-02-22 | 苏州大学 | 一种全息闪耀光栅制作方法 |
WO2013109157A1 (en) | 2012-01-18 | 2013-07-25 | Wostec, Inc. | Arrangements with pyramidal features having at least one nanostructured surface and methods of making and using |
CN103376484A (zh) * | 2012-04-12 | 2013-10-30 | 福州高意光学有限公司 | 一种采用Lift-Off原理制作光栅的方法 |
CN103091753B (zh) * | 2013-01-11 | 2015-02-18 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 调整闪耀光栅离子束刻蚀装置中栅线与束流垂直度的方法 |
JP6036854B2 (ja) * | 2013-01-31 | 2016-11-30 | 株式会社島津製作所 | レーザパルス圧縮用回折格子を用いたレーザ装置 |
US9500789B2 (en) * | 2013-03-13 | 2016-11-22 | Wostec, Inc. | Polarizer based on a nanowire grid |
CN103744137B (zh) * | 2014-01-20 | 2015-11-18 | 清华大学深圳研究生院 | 闪耀凹面光栅制作装置及制作方法 |
US20170194167A1 (en) * | 2014-06-26 | 2017-07-06 | Wostec, Inc. | Wavelike hard nanomask on a topographic feature and methods of making and using |
US10008384B2 (en) * | 2015-06-25 | 2018-06-26 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Techniques to engineer nanoscale patterned features using ions |
US10451889B2 (en) * | 2015-10-22 | 2019-10-22 | Avago Technologies International Sales Pte. Limited | Optical communications module having an optics system that improves link performance, and methods |
CN105334560B (zh) * | 2015-11-06 | 2017-12-22 | 中国科学技术大学 | 一种旋转刻蚀角度来刻蚀光栅槽型的方法 |
JP6994025B2 (ja) | 2016-09-21 | 2022-01-14 | モレキュラー インプリンツ, インコーポレイテッド | 構造のマイクロリソグラフィ加工 |
JP2017033019A (ja) * | 2016-10-28 | 2017-02-09 | 株式会社島津製作所 | レーザ装置におけるチャープパルス増幅方法 |
WO2018093284A1 (en) | 2016-11-18 | 2018-05-24 | Wostec, Inc. | Optical memory devices using a silicon wire grid polarizer and methods of making and using |
WO2018156042A1 (en) | 2017-02-27 | 2018-08-30 | Wostec, Inc. | Nanowire grid polarizer on a curved surface and methods of making and using |
US10712481B1 (en) * | 2017-08-04 | 2020-07-14 | Facebook Technologies, Llc | Fabricating of diffraction grating by ion beam etching |
US10598832B2 (en) | 2018-01-09 | 2020-03-24 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | System and method for forming diffracted optical element having varied gratings |
US10795173B2 (en) | 2018-07-13 | 2020-10-06 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | System and method for optimally forming gratings of diffracted optical elements |
CN108782552A (zh) * | 2018-08-09 | 2018-11-13 | 中昊(大连)化工研究设计院有限公司 | 二氧化氯缓释片的生产新方法 |
US11119405B2 (en) | 2018-10-12 | 2021-09-14 | Applied Materials, Inc. | Techniques for forming angled structures |
CN109491101B (zh) * | 2019-01-09 | 2020-10-16 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种大口径薄膜衍射透镜微结构刻蚀传递方法及工装 |
US11796922B2 (en) * | 2019-09-30 | 2023-10-24 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Method of manufacturing semiconductor devices |
CN114185122B (zh) * | 2022-01-21 | 2024-04-19 | 北京至格科技有限公司 | 一种闪耀光栅的制备方法 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5275341A (en) * | 1975-12-19 | 1977-06-24 | Rikagaku Kenkyusho | Method of producing echelette grating |
JPS5540846A (en) | 1978-09-14 | 1980-03-22 | Daishowa Eng Kk | Dry crepe apparatus for making thin paper by assemblage of steel plate dryer and casted iron dryer |
JPS6025761B2 (ja) * | 1980-12-29 | 1985-06-20 | 株式会社島津製作所 | ホログラフイック・グレ−ティングの製造方法 |
JPS6127505A (ja) * | 1984-07-18 | 1986-02-07 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | プレ−ズ光学素子の製造方法 |
JPS62231901A (ja) * | 1986-04-01 | 1987-10-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ブレ−ズド回折格子の製造方法 |
JPH0291940A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
JPH0830764B2 (ja) * | 1991-04-25 | 1996-03-27 | 株式会社島津製作所 | 回折格子の製造方法 |
JPH0567591A (ja) * | 1991-09-06 | 1993-03-19 | Sumitomo Metal Ind Ltd | SiO▲2▼に対するSiN膜の選択的エツチング方法 |
JP3223548B2 (ja) * | 1991-11-29 | 2001-10-29 | 日本ビクター株式会社 | 情報ガラス原盤の製造方法 |
JPH08108475A (ja) * | 1994-10-06 | 1996-04-30 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子の製造方法 |
JPH08160211A (ja) * | 1994-12-09 | 1996-06-21 | Olympus Optical Co Ltd | 金型の製造方法およびそれを用いた光学素子の製造方法 |
JP2001235611A (ja) * | 2000-02-25 | 2001-08-31 | Shimadzu Corp | ホログラフィック・グレーティング |
JP2002189112A (ja) * | 2000-12-22 | 2002-07-05 | Canon Inc | 回折光学素子の製造方法、回折光学素子の製造方法によって製造したことを特徴とする回折光学素子製造用金型、回折光学素子、および該回折光学素子を有する光学系、光学機器、露光装置、デバイス製造方法、デバイス |
-
2003
- 2003-11-27 JP JP2003397762A patent/JP4349104B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-11-19 US US10/993,029 patent/US7455957B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2015052748A1 (ja) * | 2013-10-07 | 2017-03-09 | 株式会社島津製作所 | ブレーズド回折格子およびブレーズド回折格子の製造方法 |
US10338285B2 (en) | 2013-10-07 | 2019-07-02 | Shimadzu Corporation | Blazed diffraction grating and method for producing blazed diffraction grating |
JP2017211670A (ja) * | 2017-08-23 | 2017-11-30 | 株式会社島津製作所 | ブレーズド回折格子およびブレーズド回折格子の製造方法 |
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US7455957B2 (en) | 2008-11-25 |
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