JP4339300B2 - パルス変調型光検出装置及び電子機器 - Google Patents
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Description
本発明の一実施形態について図1ないし図4に基づいて説明すると以下の通りである。図1は実施の形態1に係る光検出装置1の構成を示すブロック図であり、図2は光検出装置1に設けられた発光パルス生成回路3と信号処理回路14との詳細な構成を説明するためのブロック図であり、図3は光検出装置1に設けられた発振回路2の構成を示す回路図であり、図4は光検出装置1の動作を説明するためのタイミングチャートである。
[クロックパルス幅w1]×[k]≠[1変調周期t1]、
kは2以上の整数、
とし、クロックパルス幅w1から変調周期t1を読み取られないようにする。
Vmax={(R102+R103)×Vs}/(R101+R102+R103)、
となる。ここで、Vsは上記発振回路2内の定電圧である。
Vmin=(R102×Vs)/(R101+R102+R103)+Vsat(QN106)、
となる。ここで、Vsat(QN106)は、トランジスタQN106の飽和電圧を表し、その値は0.1V以下である。
fo=(I101+I102)/{2×C101×(Vmax−Vmin)}、
となる。なお、本実施の形態においては、上記トランジスタQN101とQN102とのエミッタ面積比は1:2に設定されている。
これに対して、発光パルス生成回路3の4段バイナリーカウンタ4に設けられたフリップフロップ5dからの分周パルス信号Q1D_からローレベルの信号が上記発振回路2内のトランジスタQN107のベースに供給されると、トランジスタQN107はオフし、トランジスタQN108がオンするので、定電流I102はトランジスタQN108へ流れる。これにより、トランジスタQN109及びQN110はオフする。これに伴って、互いにカレントミラー回路を構成するトランジスタQP104・QP105・QP106がオフする。一方、互いにカレントミラー回路を構成するトランジスタQP101・QP102・QP103には、常時、定電流I101が流れている。その結果、上記コンデンサC101の充放電は、定電流I101のみによって行われることになる。このとき上記発振回路2の発振周波数fo102は以下のようになる。
以上のように、上記コンデンサC101の充放電に係る定電流の大きさが(I101+I102)のときは、トランジスタQN104のコレクタから引き出された出力端子(fout)から出力される信号の発振周波数が速くなり、上記コンデンサC101の充放電に係る定電流の大きさが(I101)のときは、トランジスタQN104のコレクタから引き出された出力端子(fout)から出力される信号の発振周波数が遅くなる。
図5は実施の形態2に係る光検出装置100の構成を示すブロック図であり、図6は光検出装置100に設けられた発光パルス生成回路3と信号処理回路14との詳細な構成を説明するためのブロック図であり、図7は光検出装置100に設けられた発振回路110の構成を示す回路図であり、図8は光検出装置100に設けられた発振制御回路20の構成を説明するための回路図であり、図9は光検出装置100の動作を説明するためのタイミングチャートである。実施の形態1において前述した構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。
Vmax={(R202+R203)×Vs}/(R201+R202+R203)、
となる。ここで、Vsは上記発振回路110内の定電圧である。上記コンデンサC201は、後述するように、定電流I201・I202・I203・I204の組み合わせによって、コンパレータCOMP201の反転入力端子の電圧が上記Vmaxに達するまで充電される。上記反転入力端子の電圧が上記Vmaxを超えると、上記コンパレータCOMP201の出力端子からはローレベルの信号が出力される。これに伴って、トランジスタQN205はオフするので、トランジスタQN206はオンし、上記コンパレータCOMP201の非反転入力端子に供給される電圧の最小値Vminは、
Vmin=(R202×Vs)/(R201+R202+R203)+Vsat(QN206)、
となる。ここで、Vsat(QN206)は、トランジスタQN206の飽和電圧を表し、その値は0.1V以下である。また、上記コンパレータCOMP201の出力はローレベルであるので、トランジスタQN203はオフし、カレントミラー回路を構成するトランジスタQN201・QN202はそれぞれオンする。これに伴って、トランジスタQN202は、上記コンデンサC201に充電された電荷を、後述するように定電流I201・I202・I203・I204の組み合わせによって、コンパレータCOMP201の非反転入力端子の電圧がVminに達するまで引き抜くことになる。上記動作により、上記発振回路110の発振周波数foは、
fo=(I201+I202+I203+I204)/{2×C201×(Vmax−Vmin)}、
となる。なお、本実施の形態においては、上記トランジスタQN201・QN202のエミッタ面積比は1:2に設定されている。発振制御回路20からの発振周波数切替信号fc_1・fc_2・fc_3が例えばfc_1:ハイ、fc_2:ロー、fc_3:ローのとき、上記発振回路110はトランジスタQN207はオンし、トランジスタQN208がオフし、トランジスタQN211はオフし、トランジスタQN212がオンし、トランジスタQN215はオフし、トランジスタQN216がオンするので、定電流I202はトランジスタQN210へ、定電流I203はトランジスタQN212へ流れ、定電流I204はトランジスタQN216へ流れる。
ここで発振制御回路20には、図8に示すように、発光パルス生成回路3の4段バイナリーカウンタ4のフリップフロップ5dからの分周パルス信号Q5d_と、信号処理回路14の3段シフトレジスタ17のフリップフロップ18bからのシフトレジスタ出力信号Q18b・Q18b_が入力される。発振制御回路20は、NAND素子G1・G2とインバータG3・G4とから構成され、前記分周パルス信号Q5d_、シフトレジスタ出力信号Q18b・Q18b_の組合せにより表1に示すような発振周波数切替信号fc_1・fc_2・fc_3を発振回路110へ出力する。
fo202=(I201)/{2×C201×(Vmax−Vmin)}
fo203=(I201+I203+I204)/{2×C201×(Vmax−Vmin)}
fo204=(I201+I203)/{2×C201×(Vmax−Vmin)}
実施の形態2では、1変調周期t1中の発光パルスp1を2つとして説明したが、本発明はこれに限定されない。1変調周期t1を構成するクロックパルス信号S101のベースクロック回数が許す限り発光パルスp1は3個以上あっても問題なく、発光パルスp1の個数が多いほうが誤動作しにくくなる。但し、発光素子8を駆動する回数は発光パルスp1の個数と同数であり、1変調周期t1中の発光パルスp1の個数が多くなるほど消費電流が増大する。
2 発振回路
3 発光パルス生成回路
4 n段バイナリカウンタ
5a、5b、5c、5d フリップフロップ
6 タイミング回路
8 発光素子
9 パルス光
10 対象物体
11 受光素子
14 信号処理回路
s1 クロックパルス信号
s2 発光パルス信号
s3 受光パルス信号
p1 発光パルス
p3 受光パルス
w1、w2 パルス幅
t1 変調周期
t2 発光期間
t3 非発光期間
G5a、Q5b、Q5c、Q5d 分周パルス
Claims (3)
- クロックパルス信号に基づいて生成されて変調周期を有する発光パルスに応じてパルス変調したパルス光を投射し、対象物体の通過に応じた前記パルス光の受光の有無に基づいて前記対象物体の有無を検出するパルス変調型光検出装置であって、
前記変調周期は、前記発光パルスが生じる発光期間と、前記発光期間以外の非発光期間とを含み、
前記発光期間における前記クロックパルス信号のパルス幅を前記非発光期間におけるパルス幅よりも短くしており、
前記発光期間における前記クロックパルス信号のパルス幅のk倍が(kは2以上の整数)、前記変調周期と異なっていることを特徴とするパルス変調型光検出装置。 - クロックパルス信号に基づいて生成されて変調周期を有する発光パルスに応じてパルス変調したパルス光を投射し、対象物体の通過に応じた前記パルス光の受光の有無に基づいて前記対象物体の有無を検出するパルス変調型光検出装置であって、
前記変調周期は、前記発光パルスが生じる発光期間と、前記発光期間以外の非発光期間とを含み、
前記発光期間における前記クロックパルス信号のパルス幅を前記非発光期間におけるパルス幅よりも短くしており、
前記クロックパルス信号を生成する発振回路と、
前記発振回路によって生成された前記クロックパルス信号に基づいて前記発光パルスを生成する発光パルス生成回路とを備え、
前記発光パルス生成回路は、前記クロックパルス信号を分周した分周パルス信号を生成するn段バイナリカウンタ(nは2以上の整数)と、
前記n段バイナリカウンタによって生成された前記分周パルス信号に基づいて前記発光パルスを生成するタイミング回路とを含み、
前記発振回路は、前記n段バイナリカウンタによって生成された前記分周パルス信号に基づいて、前記クロックパルス信号のパルス幅を変更するものであり、
前記対象物体により反射された前記パルス光を受光して受光パルスを生成する受光素子と、
前記受光素子によって生成された前記受光パルスに基づく信号をカウントして前記対象物体の有無を検出する信号処理回路とをさらに備え、
前記発振回路は、前記信号処理回路によるカウント結果に応じて、前記クロックパルス信号のパルス幅を変更することを特徴とするパルス変調型光検出装置。 - 請求項1または2記載のパルス変調型光検出装置を備えたことを特徴とする電子機器。
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