JPH06350428A - 光電スイッチ - Google Patents
光電スイッチInfo
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- JPH06350428A JPH06350428A JP5140279A JP14027993A JPH06350428A JP H06350428 A JPH06350428 A JP H06350428A JP 5140279 A JP5140279 A JP 5140279A JP 14027993 A JP14027993 A JP 14027993A JP H06350428 A JPH06350428 A JP H06350428A
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- pulse
- light
- photoelectric switch
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 同一機種の光電スイッチ同士の相互干渉によ
る誤動作を回路的に防止した同期式光電スイッチの提
供。 【構成】 パルス発振器（1）からの投光パルスＰで投
光素子（3）を発光させ、その光を受光素子（4）で受光
して得た受光パルスＱの投光パルスＰと同期するものを
カウントし検波して、物体有無の検出をする同期式光電
スイッチである。パルス発振器（1）に、受光パルスＱ
のパルス幅Ｗ1を測定し、その測定値に基づいて投光パ
ルスＰの周期を変調する投光周期変調手段（9）を組込
む。光電スイッチが他の同一機種の光電スイッチからの
光を受光すると、この受光時点から投光パルスＰの周期
Ｔが変調されて、受光パルスＱと位相ずれを起こし、投
光パルスＰと受光パルスＱが非同期となって、外来光に
よる受光パルスＱが検波されず無効処分されて、外来光
による誤動作が防止される。
る誤動作を回路的に防止した同期式光電スイッチの提
供。 【構成】 パルス発振器（1）からの投光パルスＰで投
光素子（3）を発光させ、その光を受光素子（4）で受光
して得た受光パルスＱの投光パルスＰと同期するものを
カウントし検波して、物体有無の検出をする同期式光電
スイッチである。パルス発振器（1）に、受光パルスＱ
のパルス幅Ｗ1を測定し、その測定値に基づいて投光パ
ルスＰの周期を変調する投光周期変調手段（9）を組込
む。光電スイッチが他の同一機種の光電スイッチからの
光を受光すると、この受光時点から投光パルスＰの周期
Ｔが変調されて、受光パルスＱと位相ずれを起こし、投
光パルスＰと受光パルスＱが非同期となって、外来光に
よる受光パルスＱが検波されず無効処分されて、外来光
による誤動作が防止される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、投光パルスと受光パ
ルスを同期させて受光パルスを検波する同期式光電スイ
ッチに関する。
ルスを同期させて受光パルスを検波する同期式光電スイ
ッチに関する。
【０００２】
【従来の技術】自動組立ラインを流れる物体に投光素子
からの光を当て、その反射光を受光素子で受光して物体
を検出する同期式の反射型光電スイッチの基本回路と、
その動作波形例を図４と図５に示し、これを説明する。
からの光を当て、その反射光を受光素子で受光して物体
を検出する同期式の反射型光電スイッチの基本回路と、
その動作波形例を図４と図５に示し、これを説明する。
【０００３】パルス発振器（1）から図５（ａ）に示さ
れる投光パルスＰが所定の周期Ｔで発振され、この投光
パルスＰのタイミングでドライバー回路（2）を介して
投光素子（3）が発光する。投光素子（3）の光の物体か
らの反射光が受光素子（4）に入射すると、受光素子
（4）の受光信号が増幅回路（5）で増幅され、波形成形
回路（6）でパルス波形に成形されて、図５（ｂ）に示
される受光パルスＱとなる。受光パルスＱが検波回路
（7）に入力されて、投光パルスＰと同期するものだけ
がカウントされ、検波回路（7）の出力端子（8）に物体
有無検出等の制御信号が出力される。例えば検波回路
（7）は、投光パルスＰと同期して入力される受光パル
スＱが連続して複数発、例えば７発続くと、この７パル
スをカウントアップした時点で物体有りの制御信号を出
力し、６パルスカウントまでにカウントアップすると物
体有りの制御信号は出力しない。
れる投光パルスＰが所定の周期Ｔで発振され、この投光
パルスＰのタイミングでドライバー回路（2）を介して
投光素子（3）が発光する。投光素子（3）の光の物体か
らの反射光が受光素子（4）に入射すると、受光素子
（4）の受光信号が増幅回路（5）で増幅され、波形成形
回路（6）でパルス波形に成形されて、図５（ｂ）に示
される受光パルスＱとなる。受光パルスＱが検波回路
（7）に入力されて、投光パルスＰと同期するものだけ
がカウントされ、検波回路（7）の出力端子（8）に物体
有無検出等の制御信号が出力される。例えば検波回路
（7）は、投光パルスＰと同期して入力される受光パル
スＱが連続して複数発、例えば７発続くと、この７パル
スをカウントアップした時点で物体有りの制御信号を出
力し、６パルスカウントまでにカウントアップすると物
体有りの制御信号は出力しない。
【０００４】上記のような同期式光電スイッチは、投光
パルスの周期が同じ同一機種の複数を隣接させて配置し
ても、隣接する他の光電スイッチからの光を受光して誤
動作する確率は少ない。すなわち、隣接する一対のＡ光
電スイッチとＢ光電スイッチが同一機種であっても、両
者の投光パルスが発振されるタイミングに若干のズレが
あって、両者の投光パルスに位相差が生じる。したがっ
て、Ａ光電スイッチが隣接するＢ光電スイッチからの光
を受光して受光パルスを得ても、この受光パルスはＡ光
電スイッチ自身の投光パルスと同期しなくてカウントさ
れず、Ａ光電スイッチが隣接するＢ光電スイッチからの
光で誤動作する確率が少なくなる。
パルスの周期が同じ同一機種の複数を隣接させて配置し
ても、隣接する他の光電スイッチからの光を受光して誤
動作する確率は少ない。すなわち、隣接する一対のＡ光
電スイッチとＢ光電スイッチが同一機種であっても、両
者の投光パルスが発振されるタイミングに若干のズレが
あって、両者の投光パルスに位相差が生じる。したがっ
て、Ａ光電スイッチが隣接するＢ光電スイッチからの光
を受光して受光パルスを得ても、この受光パルスはＡ光
電スイッチ自身の投光パルスと同期しなくてカウントさ
れず、Ａ光電スイッチが隣接するＢ光電スイッチからの
光で誤動作する確率が少なくなる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、投光パルスの
周期が同じ同一機種の同期式光電スイッチの投光パルス
の周期が全く同一ということは稀で、製造条件の微妙な
違いなどで投光パルスの周期に微妙な差がある。そのた
め、同一機種の光電スイッチを隣接させて連続動作させ
ていると、ある時点で両者の投光パルスの発振されるタ
イミングが一致して、それ以後、両者の投光パルスが数
１０、数１００パルス以上と連続して重なることがあ
る。このように投光パルスが連続して重なる時間帯でＡ
光電スイッチが隣接するＢ光電スイッチからの光を受光
すると、Ａ光電スイッチがＢ光電スイッチからの光によ
る受光パルスを７パルス以上でカウントアップして、誤
動作することがあった。
周期が同じ同一機種の同期式光電スイッチの投光パルス
の周期が全く同一ということは稀で、製造条件の微妙な
違いなどで投光パルスの周期に微妙な差がある。そのた
め、同一機種の光電スイッチを隣接させて連続動作させ
ていると、ある時点で両者の投光パルスの発振されるタ
イミングが一致して、それ以後、両者の投光パルスが数
１０、数１００パルス以上と連続して重なることがあ
る。このように投光パルスが連続して重なる時間帯でＡ
光電スイッチが隣接するＢ光電スイッチからの光を受光
すると、Ａ光電スイッチがＢ光電スイッチからの光によ
る受光パルスを７パルス以上でカウントアップして、誤
動作することがあった。
【０００６】なお、投光パルスの周期の異なる複数機種
の同期式光電スイッチを隣接して配置すると、上記のよ
うな相互干渉による誤動作は無くなる。しかし、自動組
立ラインに複数機種の光電スイッチを、その機種を確認
して配置するのは非常に面倒であり、また、複数機種の
光電スイッチの保守管理が煩雑となる。そのため、自動
組立ラインに複数機種の光電スイッチを配置することは
あまり行われていないのが現状である。
の同期式光電スイッチを隣接して配置すると、上記のよ
うな相互干渉による誤動作は無くなる。しかし、自動組
立ラインに複数機種の光電スイッチを、その機種を確認
して配置するのは非常に面倒であり、また、複数機種の
光電スイッチの保守管理が煩雑となる。そのため、自動
組立ラインに複数機種の光電スイッチを配置することは
あまり行われていないのが現状である。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明は、パルス発振
器からの投光パルスのタイミングで投光素子を発光さ
せ、この投光素子の光を受光素子で受光させて得られる
受光パルスを、投光パルスと同期をとって検波するよう
にした同期式光電スイッチであって、パルス発振器が、
１発の投光パルスのタイミングで得られる１受光パルス
のパルス幅を測定し、その測定値に基づいて次に発振さ
れる１投光パルスの周期を変える投光周期変調手段を有
することを特徴とする。
器からの投光パルスのタイミングで投光素子を発光さ
せ、この投光素子の光を受光素子で受光させて得られる
受光パルスを、投光パルスと同期をとって検波するよう
にした同期式光電スイッチであって、パルス発振器が、
１発の投光パルスのタイミングで得られる１受光パルス
のパルス幅を測定し、その測定値に基づいて次に発振さ
れる１投光パルスの周期を変える投光周期変調手段を有
することを特徴とする。
【０００８】
【作用】同一機種の一対の光電スイッチが本発明品で、
一方がＡ光電スイッチ、他方がＢ光電スイッチとする
と、製造条件の若干の相違などから両者光電スイッチの
投光パルスの周期や受光パルスのパルス幅には微妙な差
がある。また、Ａ光電スイッチが自身の投光素子からの
光を受光して得た受光パルスのパルス幅と、Ａ光電スイ
ッチがＢ光電スイッチからの光（外来光）を受光して得
た受光パルスのパルス幅は、両光電スイッチの投受光経
路の相違から自ずと違ったものになる。つまり、Ａ光電
スイッチが自身の投光素子からの光を受光して得た受光
パルスのパルス幅で決まる投光パルスの周期と、Ａ光電
スイッチがＢ光電スイッチからの外来光を受光して得た
受光パルスのパルス幅で決まる投光パルスの周期が違っ
たものになる。
一方がＡ光電スイッチ、他方がＢ光電スイッチとする
と、製造条件の若干の相違などから両者光電スイッチの
投光パルスの周期や受光パルスのパルス幅には微妙な差
がある。また、Ａ光電スイッチが自身の投光素子からの
光を受光して得た受光パルスのパルス幅と、Ａ光電スイ
ッチがＢ光電スイッチからの光（外来光）を受光して得
た受光パルスのパルス幅は、両光電スイッチの投受光経
路の相違から自ずと違ったものになる。つまり、Ａ光電
スイッチが自身の投光素子からの光を受光して得た受光
パルスのパルス幅で決まる投光パルスの周期と、Ａ光電
スイッチがＢ光電スイッチからの外来光を受光して得た
受光パルスのパルス幅で決まる投光パルスの周期が違っ
たものになる。
【０００９】そのため、仮にＡ光電スイッチとＢ光電ス
イッチが同一のタイミングで投光パルスを発振し、Ａ光
電スイッチが自身の光を受光しないタイミングでＢ光電
スイッチの光を受光すると、この受光の時点からＡ光電
スイッチとＢ光電スイッチの投光パルスの周期が徐々に
大きく相違して、Ａ光電スイッチにおいては、自身の投
光パルスとＢ光電スイッチからの光による受光パルスの
位相がずれて同期しなくなり、これによりＢ光電スイッ
チからの外来光による受光パルスが無効処理されて、両
光電スイッチの相互干渉による誤動作が防止される。
イッチが同一のタイミングで投光パルスを発振し、Ａ光
電スイッチが自身の光を受光しないタイミングでＢ光電
スイッチの光を受光すると、この受光の時点からＡ光電
スイッチとＢ光電スイッチの投光パルスの周期が徐々に
大きく相違して、Ａ光電スイッチにおいては、自身の投
光パルスとＢ光電スイッチからの光による受光パルスの
位相がずれて同期しなくなり、これによりＢ光電スイッ
チからの外来光による受光パルスが無効処理されて、両
光電スイッチの相互干渉による誤動作が防止される。
【００１０】
【実施例】一実施例について、図１乃至図３を参照して
説明する。なお、図４と図５を含む全図を通じ同一、又
は、相当部分には同一符号が付してある。
説明する。なお、図４と図５を含む全図を通じ同一、又
は、相当部分には同一符号が付してある。
【００１１】図１（ａ）は反射型の同期式光電スイッチ
が示され、これの図４の光電スイッチとの相違点は、パ
ルス発振器（1）に投光周期変調手段（9）を組込んだこ
とである。図１（ａ）の光電スイッチにおいては、パル
ス発振器（1）から発振される図１（ｂ）の投光パルス
Ｐのタイミングで投光素子（3）が発光し、その光が外
部の物体に反射した反射光を受光素子（4）が受光して
図１（ｃ）の受光パルスＱが得られ、この受光パルスＱ
の投光パルスＰと同期するものが検波回路（7）でカウ
ントされる。
が示され、これの図４の光電スイッチとの相違点は、パ
ルス発振器（1）に投光周期変調手段（9）を組込んだこ
とである。図１（ａ）の光電スイッチにおいては、パル
ス発振器（1）から発振される図１（ｂ）の投光パルス
Ｐのタイミングで投光素子（3）が発光し、その光が外
部の物体に反射した反射光を受光素子（4）が受光して
図１（ｃ）の受光パルスＱが得られ、この受光パルスＱ
の投光パルスＰと同期するものが検波回路（7）でカウ
ントされる。
【００１２】投光周期変調手段（9）は、検波回路（7）
に入力される受光パルスＱのパルス幅を測定し、その測
定値に基づいてパルス発振器（1）から発振される投光
パルスＰの周期を変調する。受光素子（4）が受光しな
いときのパルス発振器（1）の投光パルスＰの周期は一
定で、これを定格周期Ｔとし、ある１発の受光パルスＱ
1のパルス幅をＷ1とすると、投光周期変調手段（9）
は、パルス幅Ｗ1の１受光パルスＱ1に対応する１投光パ
ルスＰ1から次の１投光パルスＰ2までの周期を定格周期
ＴにＷ1×Ｋを加算した［Ｔ＋Ｗ1×Ｋ］に変調する。た
だし、Ｋは定数であり、変調された周期は、最大で定格
周期Ｔの約１０％増となる。
に入力される受光パルスＱのパルス幅を測定し、その測
定値に基づいてパルス発振器（1）から発振される投光
パルスＰの周期を変調する。受光素子（4）が受光しな
いときのパルス発振器（1）の投光パルスＰの周期は一
定で、これを定格周期Ｔとし、ある１発の受光パルスＱ
1のパルス幅をＷ1とすると、投光周期変調手段（9）
は、パルス幅Ｗ1の１受光パルスＱ1に対応する１投光パ
ルスＰ1から次の１投光パルスＰ2までの周期を定格周期
ＴにＷ1×Ｋを加算した［Ｔ＋Ｗ1×Ｋ］に変調する。た
だし、Ｋは定数であり、変調された周期は、最大で定格
周期Ｔの約１０％増となる。
【００１３】図１（ｂ）に示すように、パルス幅Ｗ1の
１発目の受光パルスＱ1から連続して２発目の投光パル
スＰ2が発振され、２発目の投光パルスＰ2のタイミング
でパルス幅Ｗ2の受光パルスＱ2が得られたとする。この
場合、２発目の投光パルスＰ2から３発目の投光パルス
Ｐ3の周期が［Ｔ＋Ｗ2×Ｋ］に変調される。そして、３
発目の投光パルスＰ3のタイミングで受光パルスが得ら
れない場合は、３発目の投光パルスＰ3から４発目の投
光パルスＰ4の周期は、元の定格周期Ｔに戻る。
１発目の受光パルスＱ1から連続して２発目の投光パル
スＰ2が発振され、２発目の投光パルスＰ2のタイミング
でパルス幅Ｗ2の受光パルスＱ2が得られたとする。この
場合、２発目の投光パルスＰ2から３発目の投光パルス
Ｐ3の周期が［Ｔ＋Ｗ2×Ｋ］に変調される。そして、３
発目の投光パルスＰ3のタイミングで受光パルスが得ら
れない場合は、３発目の投光パルスＰ3から４発目の投
光パルスＰ4の周期は、元の定格周期Ｔに戻る。
【００１４】以上の光電スイッチの同一機種の複数を隣
接させて使用した場合を、図２と図３を参照して説明す
る。図２は同一機種の一対の光電スイッチＡと光電スイ
ッチＢが示され、両光電スイッチＡ、Ｂは隣接して配置
され、それぞれ独立して前方を通過する物体（10）の有
無を検出する。例えば光電スイッチＡは、自らの投光パ
ルスのタイミングで得られる受光パルスが７発連続して
カウントされると、物体有りの制御信号を出力し、光電
スイッチＢも同様である。
接させて使用した場合を、図２と図３を参照して説明す
る。図２は同一機種の一対の光電スイッチＡと光電スイ
ッチＢが示され、両光電スイッチＡ、Ｂは隣接して配置
され、それぞれ独立して前方を通過する物体（10）の有
無を検出する。例えば光電スイッチＡは、自らの投光パ
ルスのタイミングで得られる受光パルスが７発連続して
カウントされると、物体有りの制御信号を出力し、光電
スイッチＢも同様である。
【００１５】図２の実線矢印で示すように光電スイッチ
Ａから投光された光（11）が物体（10）を反射せず、光
電スイッチＡが物体無しのスイッチ動作をしているとき
に、図２の破線矢印に示すように光電スイッチＢの光
（12）が物体（10）を反射して光電スイッチＡで受光さ
れた場合、両光電スイッチＡ、Ｂの投光パルスと受光パ
ルスは図３（ａ）〜（ｄ）に示すようになる。図３
（ａ）は光電スイッチＡの投光パルスＰａが示され、こ
れは光電スイッチＢからの光（12）を受光するまで定格
周期Ｔで発振される。図３（ｃ）は光電スイッチＢの投
光パルスＰｂが示される。ここで光電スイッチＢが自身
の光（13）の物体（10）からの反射光を受光するまでの
投光パルスＰｂの定格周期が、光電スイッチＡの定格周
期Ｔと同一であり、両光電スイッチＡ、Ｂの投光パルス
Ｐａ、Ｐｂが同一パルス幅で同期して発振されたものと
する。
Ａから投光された光（11）が物体（10）を反射せず、光
電スイッチＡが物体無しのスイッチ動作をしているとき
に、図２の破線矢印に示すように光電スイッチＢの光
（12）が物体（10）を反射して光電スイッチＡで受光さ
れた場合、両光電スイッチＡ、Ｂの投光パルスと受光パ
ルスは図３（ａ）〜（ｄ）に示すようになる。図３
（ａ）は光電スイッチＡの投光パルスＰａが示され、こ
れは光電スイッチＢからの光（12）を受光するまで定格
周期Ｔで発振される。図３（ｃ）は光電スイッチＢの投
光パルスＰｂが示される。ここで光電スイッチＢが自身
の光（13）の物体（10）からの反射光を受光するまでの
投光パルスＰｂの定格周期が、光電スイッチＡの定格周
期Ｔと同一であり、両光電スイッチＡ、Ｂの投光パルス
Ｐａ、Ｐｂが同一パルス幅で同期して発振されたものと
する。
【００１６】光電スイッチＢが自身の光（13）の物体
（10）からの反射光を受光したときの始めの受光パルス
Ｑｂ1のパルス幅Ｗｂで、光電スイッチＢの次の投光パ
ルスＰｂ2までの周期Ｔｂが変調される。この周期Ｔｂ
は、［Ｔ＋Ｗｂ×Ｋ］である。光電スイッチＢの受光パ
ルスＱｂは、変調された周期Ｔｂの投光パルスＰｂ、…
に同期してして発振され、この連続パルスが７カウント
アップされると光電スイッチＢは物体在りの制御信号を
出力する。
（10）からの反射光を受光したときの始めの受光パルス
Ｑｂ1のパルス幅Ｗｂで、光電スイッチＢの次の投光パ
ルスＰｂ2までの周期Ｔｂが変調される。この周期Ｔｂ
は、［Ｔ＋Ｗｂ×Ｋ］である。光電スイッチＢの受光パ
ルスＱｂは、変調された周期Ｔｂの投光パルスＰｂ、…
に同期してして発振され、この連続パルスが７カウント
アップされると光電スイッチＢは物体在りの制御信号を
出力する。
【００１７】光電スイッチＢの始めの１受光パルスＱｂ
1を発生させる１投光パルスＰｂ1のタイミングで光電ス
イッチＢの光（12）が物体（10）を反射して別の光電ス
イッチＡに入ると、光電スイッチＡは図３（ｂ）に示す
１受光パルスＱａ1を発生し、この１受光パルスＱａ1の
パルス幅Ｗａで光電スイッチＡの次の投光パルスＰａ2
までの周期Ｔａが変調される。この周期Ｔａは、［Ｔ＋
Ｗａ×Ｋ］である。光電スイッチＢからの光で得られる
光電スイッチＡの始めの受光パルスＱａ1から次の受光
パルスＱａ2までの周期は、光電スイッチＢの１投光パ
ルスＰｂ1から次の投光パルスＰｂ2までの周期Ｔｂに相
当する。
1を発生させる１投光パルスＰｂ1のタイミングで光電ス
イッチＢの光（12）が物体（10）を反射して別の光電ス
イッチＡに入ると、光電スイッチＡは図３（ｂ）に示す
１受光パルスＱａ1を発生し、この１受光パルスＱａ1の
パルス幅Ｗａで光電スイッチＡの次の投光パルスＰａ2
までの周期Ｔａが変調される。この周期Ｔａは、［Ｔ＋
Ｗａ×Ｋ］である。光電スイッチＢからの光で得られる
光電スイッチＡの始めの受光パルスＱａ1から次の受光
パルスＱａ2までの周期は、光電スイッチＢの１投光パ
ルスＰｂ1から次の投光パルスＰｂ2までの周期Ｔｂに相
当する。
【００１８】ここで、光電スイッチＡの１受光パルスＱ
ａ1のパルス幅Ｗａと、光電スイッチＢの１受光パルス
Ｑｂ1のパルス幅Ｗｂが同一となる確率はほぼゼロであ
る。すなわち、光電スイッチＢの自身の光による受光パ
ルスＱｂのパルス幅Ｗｂはほぼ一定であるが、光電スイ
ッチＡの他の光電スイッチＢからの光（12）による受光
パルスＱａのパルス幅Ｗａは、通常において光電スイッ
チＢのパルス幅Ｗｂより小さくなる。その理由は、光電
スイッチＡに光電スイッチＢから入る光（12）の入射方
向や光量が光電スイッチＡの自身による光（11）の正規
の入射方向と光量と相違するからであり、また、両光電
スイッチＡ、Ｂの受光回路の特性に若干のバラツキがあ
るからである。
ａ1のパルス幅Ｗａと、光電スイッチＢの１受光パルス
Ｑｂ1のパルス幅Ｗｂが同一となる確率はほぼゼロであ
る。すなわち、光電スイッチＢの自身の光による受光パ
ルスＱｂのパルス幅Ｗｂはほぼ一定であるが、光電スイ
ッチＡの他の光電スイッチＢからの光（12）による受光
パルスＱａのパルス幅Ｗａは、通常において光電スイッ
チＢのパルス幅Ｗｂより小さくなる。その理由は、光電
スイッチＡに光電スイッチＢから入る光（12）の入射方
向や光量が光電スイッチＡの自身による光（11）の正規
の入射方向と光量と相違するからであり、また、両光電
スイッチＡ、Ｂの受光回路の特性に若干のバラツキがあ
るからである。
【００１９】その結果、光電スイッチＡの受光パルスＱ
ａの周期Ｔｂと、この受光パルスＱａのパルス幅Ｗａで
変調された投光パルスＰａの周期Ｔａが相違し、始めの
１発目の受光パルスＱａ1とこれに対応する１発目の投
光パルスＰａ1が周期していても、２発目の受光パルス
Ｑａ2とこれに対応する投光パルスＰａ2の位相が周期Ｔ
ａと周期Ｔｂの時間差だけずれる。この位相差が徐々に
大きくなって、数発目例えば図３（ｂ）に示すように３
発目の受光パルスＱａ3とこれに対応する投光パルスＰ
ａ3の位相が完全にずれて、両パルスが非同期となる。
したがって、光電スイッチＡは投光パルスＰａと同期す
る１発目の受光パルスＱａ1と２発目の受光パルスＱａ2
をカウントするが、３発目からの受光パルスＱａ3は投
光パルスＰａ3と同期しないのでカウントしない。つま
り、光電スイッチＡに他の光電スイッチＢからの光（1
2）が誤って入射した場合、光電スイッチＡは２パルス
のカウントでカウントアップするが、７カウントアップ
することは無く、物体有りの誤った制御信号を出力しな
い。
ａの周期Ｔｂと、この受光パルスＱａのパルス幅Ｗａで
変調された投光パルスＰａの周期Ｔａが相違し、始めの
１発目の受光パルスＱａ1とこれに対応する１発目の投
光パルスＰａ1が周期していても、２発目の受光パルス
Ｑａ2とこれに対応する投光パルスＰａ2の位相が周期Ｔ
ａと周期Ｔｂの時間差だけずれる。この位相差が徐々に
大きくなって、数発目例えば図３（ｂ）に示すように３
発目の受光パルスＱａ3とこれに対応する投光パルスＰ
ａ3の位相が完全にずれて、両パルスが非同期となる。
したがって、光電スイッチＡは投光パルスＰａと同期す
る１発目の受光パルスＱａ1と２発目の受光パルスＱａ2
をカウントするが、３発目からの受光パルスＱａ3は投
光パルスＰａ3と同期しないのでカウントしない。つま
り、光電スイッチＡに他の光電スイッチＢからの光（1
2）が誤って入射した場合、光電スイッチＡは２パルス
のカウントでカウントアップするが、７カウントアップ
することは無く、物体有りの誤った制御信号を出力しな
い。
【００２０】なお、本発明は、反射型光電スイッチに限
らず、透過型光電スイッチ（同期型に限る）においても
適用できる。
らず、透過型光電スイッチ（同期型に限る）においても
適用できる。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、１つの光電スイッチが
他の同一機種の光電スイッチからの光を誤って受光して
受光パルスを得た場合、受光パルスのパルス幅で投光パ
ルスの周期が変調され、受光パルスと投光パルスの位相
がずれて両パルスが非同期となるので、他の光電スイッ
チからの光や他の外来光の受光で誤動作することが無く
なり、高信頼度の同期式光電スイッチが提供できる。
他の同一機種の光電スイッチからの光を誤って受光して
受光パルスを得た場合、受光パルスのパルス幅で投光パ
ルスの周期が変調され、受光パルスと投光パルスの位相
がずれて両パルスが非同期となるので、他の光電スイッ
チからの光や他の外来光の受光で誤動作することが無く
なり、高信頼度の同期式光電スイッチが提供できる。
【００２２】また、同一機種の光電スイッチ相互間の干
渉による誤動作が無くなるので、自動組立ラインに多数
の同一機種の光電スイッチの配置が容易に可能となり、
多数の光電スイッチの保守管理が容易となる。
渉による誤動作が無くなるので、自動組立ラインに多数
の同一機種の光電スイッチの配置が容易に可能となり、
多数の光電スイッチの保守管理が容易となる。
【図１】（ａ）は本発明の一実施例を示すブロック図、
（ｂ）は図１（ａ）の光電スイッチの投光パルス波形
図、（ｃ）は図１（ａ）の光電スイッチの受光パルス波
形図である。
（ｂ）は図１（ａ）の光電スイッチの投光パルス波形
図、（ｃ）は図１（ａ）の光電スイッチの受光パルス波
形図である。
【図２】図１（ａ）の光電スイッチの一対の使用時の平
面図である。
面図である。
【図３】図２の一対の光電スイッチの投光パルスと受光
パルスの波形図である。
パルスの波形図である。
【図４】従来の同期式光電スイッチのブロック図であ
る。
る。
【図５】図４の光電スイッチの投光パルスと受光パルス
の波形図である。
の波形図である。
1 パルス発振器 2 投光素子 3 受光素子 4 投光周期変調手段 Ｐ 投光パルス Ｑ 受光パルス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 槙野 節夫 大阪府大阪市北区曽根崎２丁目１番12号 北陽電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 パルス発振器からの投光パルスのタイミ
ングで投光素子を発光させ、この投光素子の光を受光素
子で受光させて得られる受光パルスを、前記投光パルス
と同期をとって検波するようにした同期式光電スイッチ
において、 前記パルス発振器は、１発の投光パルスのタイミングで
得られる１受光パルスのパルス幅を測定し、その測定値
に基づいて次に発振される１投光パルスの周期を変調す
る投光周期変調手段を有することを特徴とする光電スイ
ッチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14027993A JP3354210B2 (ja) | 1993-06-11 | 1993-06-11 | 光電スイッチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14027993A JP3354210B2 (ja) | 1993-06-11 | 1993-06-11 | 光電スイッチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06350428A true JPH06350428A (ja) | 1994-12-22 |
| JP3354210B2 JP3354210B2 (ja) | 2002-12-09 |
Family
ID=15265087
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14027993A Expired - Fee Related JP3354210B2 (ja) | 1993-06-11 | 1993-06-11 | 光電スイッチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3354210B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5304519A (en) * | 1992-10-28 | 1994-04-19 | Praxair S.T. Technology, Inc. | Powder feed composition for forming a refraction oxide coating, process used and article so produced |
| EP1306693A1 (en) * | 2001-10-29 | 2003-05-02 | Sunx Limited | Multiple-axis photoelectric sensor with interfering light detection means |
-
1993
- 1993-06-11 JP JP14027993A patent/JP3354210B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5304519A (en) * | 1992-10-28 | 1994-04-19 | Praxair S.T. Technology, Inc. | Powder feed composition for forming a refraction oxide coating, process used and article so produced |
| US5418015A (en) * | 1992-10-28 | 1995-05-23 | Praxair S.T. Technology, Inc. | Process for forming a refractory oxide coating |
| EP1306693A1 (en) * | 2001-10-29 | 2003-05-02 | Sunx Limited | Multiple-axis photoelectric sensor with interfering light detection means |
| US6858832B2 (en) | 2001-10-29 | 2005-02-22 | Sunx Limited | Photoelectric sensor having time changing means |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3354210B2 (ja) | 2002-12-09 |
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