JP4334452B2 - 基板処理方法および基板処理装置 - Google Patents
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Description
その基板処理方法においては、略水平に配置された基板の中心を含む基板上の部分的な領域に液膜が形成され、液膜が基板の中心の領域を取り囲む領域に移動するように基板がその基板に垂直な軸の周りで回転される。これにより、基板の中心近傍が清浄となる。
その後、液膜が基板の外縁部から外方へ順次排除されるように基板がその基板に垂直な軸の周りで回転される。これにより、液膜が基板の全面を移動するので、基板の全面が清浄となる。
この場合、基板上の液膜が、分散されることなく、基板の中心の領域を取り囲んだ状態で外方へ徐々に拡がりつつ基板の外縁部から排除されるので、基板上に細やかな液滴が残留しない。その結果、十分な清浄度で完全に基板全面を乾燥させることができる。
液膜を形成する工程においては、基板の全面に液膜が形成された後、基板の全面に形成された液膜の一部に接触部材が接触される。これにより、基板上に形成された液膜の一部が接触部材を伝って外部に流出し、液膜の一部が容易に除去される。それにより、基板の中心を含む基板上の部分的な領域に液膜を形成することができる。なお、接触部材は親水性の部材であることが好ましく、少なくとも基板の表面に比べて親水性が高いことが好ましい。
本実施の形態において、液膜形成期間c1の基板W上への部分的な液膜の形成は下記の構成により実現してもよい。
これにより、基板Wの面積に対する液膜の面積が約80%の割合となるように液膜が基板W上に残留する。このように、図7(e)の構成例によれば、液膜の一部を容易に除去することができる。
21 スピンチャック
36 チャック回転駆動機構
70 液膜処理用ノズル
80 CCDカメラ
97 親水性部材
100 基板処理装置
a 基板搬入期間
b 洗浄処理期間
c 液膜処理期間
d 基板乾燥期間
c1 液膜形成期間
c2 液膜除去期間
e 基板搬出期間
DIW リンス液
LD 液膜の非形成領域の直径
LW 基板の直径
R1〜R4 回転数
W 基板
WC 基板の回転中心
Claims (9)
- 基板に所定の処理を行う基板処理方法であって、
略水平に配置された基板の中心を含む基板上の部分的な領域に液膜を形成する工程と、
基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより液膜を基板の中心の領域を取り囲む領域に移動させる工程と、
基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより液膜を基板の外縁部から外方へ順次排除する工程とを備え、
前記液膜を形成する工程は、基板の全面に液膜を形成した後、基板の全面に形成された液膜の一部を吸引することにより前記基板の全面に形成された液膜の一部を除去する工程を含むことを特徴とする基板処理方法。 - 基板に所定の処理を行う基板処理方法であって、
略水平に配置された基板の中心を含む基板上の部分的な領域に液膜を形成する工程と、
基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより液膜を基板の中心の領域を取り囲む領域に移動させる工程と、
基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより液膜を基板の外縁部から外方へ順次排除する工程とを備え、
前記液膜を形成する工程は、基板の全面に液膜を形成した後、基板の全面に形成された液膜の一部に接触部材を接触させることにより前記基板の全面に形成された液膜の一部を除去する工程を含むことを特徴とする基板処理方法。 - 前記液膜を形成する工程は、撮像手段により液膜の形成される基板の上面を撮像し、基板上に形成される液膜の面積が基板の面積に対して所定の割合になるように、撮像手段により得られる画像に基づいて液膜の形成を停止することを含むことを特徴とする請求項1または2記載の基板処理方法。
- 基板が円形状である場合に、前記液膜を移動させる工程は、基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより液膜を基板の中心の領域を除く環状領域に移動させることを含み、前記環状領域の内径は基板の直径の1/4以下であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の基板処理方法。
- 前記液膜を移動させる工程における基板の回転数は、前記液膜を排除する工程における基板の回転数よりも小さいことを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の基板処理方法。
- 前記液膜を基板上で移動させる工程における基板の回転数は、20rpm以下であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の基板処理方法。
- 前記液膜を排除する工程における基板の回転数は、20rpmから100rpmまで連続的または段階的に増加されることを含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の基板処理方法。
- 基板は表面に低誘電率膜を有することを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載の基板処理方法。
- 基板に所定の処理を行う基板処理装置であって、
基板を略水平に保持する基板保持手段と、
前記基板保持手段により保持された基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させる回転駆動手段と、
基板上に液膜を形成する液膜形成手段と、
前記回転駆動手段および前記液膜形成手段を制御する制御手段とを備え、
前記液膜形成手段は、基板の全面に液膜が形成されるように基板上に液体を供給する液体供給手段と、この液体供給手段によって基板上に形成された液膜の一部を除去する液膜除去手段とを含み、
前記制御手段は、
前記基板保持手段により略水平に保持された基板の中心を含む基板上の部分的な領域に液膜を形成するように前記液膜形成手段を制御し、
基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより前記液膜を基板の中心の領域を取り囲む領域に移動させるように前記回転駆動手段を制御した後、
基板をその基板に垂直な軸の周りで回転させることにより前記液膜を基板の外縁部から外方へ順次排除させるように前記回転駆動手段を制御することを特徴とする基板処理装置。
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