JP4333274B2 - パターン形成装置及び方法 - Google Patents
パターン形成装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4333274B2 JP4333274B2 JP2003295615A JP2003295615A JP4333274B2 JP 4333274 B2 JP4333274 B2 JP 4333274B2 JP 2003295615 A JP2003295615 A JP 2003295615A JP 2003295615 A JP2003295615 A JP 2003295615A JP 4333274 B2 JP4333274 B2 JP 4333274B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stamp
- pattern
- ink pad
- substrate
- pattern forming
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
しかし、パターン形成材料として用いられているのは、アルカンチオールのような化合物そのものやDNAといった、従来のインキとは化学的、物理的に性質の全く異なる材料である。また、有機トランジスタのように複数の機能性有機材料を高精度で積層する、あるいはDNAチップのように数百から数十万種類の異なるDNAをパターン上に高精度で配列することが求められている。
一般的に、凸版による印刷は、図9に示すように、凸版Tを円筒状のドラムDに貼着して印刷する。
ここで、凸版は、必要な強度を保つため、パターンの凸部の高さに対応して一定の厚さが必要となる。
ΔL={2π・(d+R)−2π・R}・{(L/(2π・R)}
=d・L/R
上式において、Rは円筒の半径であり、dは凸版Tの面内における平均の厚さであり、Lは曲面方向に沿った長さである。
例えば、R=10cm,L=10cm,d=0.1cmとすると、ΔL=0.1cmとなり、版寸法において外周面及び内周面の幅はこのΔLだけ異なる。
さらに、重ね合わせた印刷を行うために、印刷するパターンの位置合わせを行う場合、位置合わせマークを合わせられたとしても、パターンの形状によって、上述したパターンの延びが面内で異なることと、版全体が歪んで固定されていることから、正確にパターンの重ね合わせを行うことができない。
まず、図4(a)に示すように、スタンプ40をインキパッド30上に固定されたパターン形成材料90上に押し付ける。このスタンプ40は、形成したいパターン形状の凸部40aを有しており、通常はこの凸部40aが複数配列されている。尚、形成するパターンによっては各凸部の形状が異なっていても良い。
ホワイトサイズ他、日経サイエンス 2001年12月号 30〜41ページ
しかし、マイクロコンタクトプリンティングにおいては、パターン幅、ピッチ等が通常の印刷では行われていないミクロンオーダ、ナノオーダの微細加工レベルのパターン形成を目的としている。このためスタンプは、幅だけでなく高さ、ピッチも数十ミクロンあるいは数ミクロン以下のサイズとなり、通常のゴムスタンプより一桁から二桁以上小さくなる。従って、版(スタンプ40)とインキパッド間の平行、及び版と基材間の平行度が従来の印刷機より高い精度で要求されている。
上記スタンプ40の作成方法は、非特許文献1に記載されているが、図10に示すように、例えば2液硬化性PDMSを、表面にパターンの凹凸の型が形成された母型130に流し込む。
例えば、シリコンウェハ表面に、フォトグラフィ処理によってフォトレジストのパターンを形成して、このフォトレジストをマスクとしてエッチングして母型130を作成し、凹凸の型が形成された母型103表面に、2液硬化性PDMSを流し込み(図10(a))、上記2液硬化性PDMSの硬化後に引き剥がす(図10(b))ことによりスタンプ40を作成する。
また、ガラス板やシリコンウェハにパターンを形成して、そのままスタンプとして用いることも不可能ではないが、パターンの剛性が高くなるため、被印刷物である基材の凹凸に追従できないため、実現は非常に困難であると考えられる。
また、例えば有機トランジスタのように複数の種類の膜を積層することが求められるような場合に、正確な位置合わせを行うことのできるパターン形成装置を得ることを第2の目的とする。
また、スタンプとインキパッド間及び/又はスタンプと基材間の位置合わせ機構を設けているため、基材の所定の位置に精度良くパターン形成することができる。
図1は本発明の実施の形態によるパターン形成装置を示す側面図である。
図1において、10は基材20を載置して固定するためのステージ、11はインキパッド30を載置して固定するためのステージである。ステージ10は球面座50上に載置され、ステージ11は球面座51上に載置されている。ステージ10及び球面座50は、移動装置60により図の上下方向に移動可能になされている。ステージ11及び球面座51は、移動装置61により図の上下方向に移動可能になされている。移動装置60,61は基台100上に取り付けられている。
図示のように、載置台54の半球状凹部53の底部には十字状の溝58が設けられると共に、この溝58と連通する穴59が設けられている。この穴59に真空ポンプ(図示せず)を接続して半球状体52を真空吸着することにより、この半球状体52をステージ10と共に半球状凹部53内で任意の傾いた姿勢で固定することができる。
また、球面座51にも、半球状体55をステージ11と共に半球状凹部56内で固定するための同様の構成を有する固定手段が設けられている。
ステージ10の上方には位置合わせマーク観察装置80が配置され、ステージ11の上方には位置合わせマーク観察装置81が配置されている。
また、インキパッド30は、例えばガラス板等の表面にパターン形成材料を塗布したもの、あるいはスポンジ状の媒体にパターン形成材料を吸収させたものなどを用いることができる。
まず、スタンプ40をステージ10の上方に移動させた後、ステージ移動装置60によりステージ10を球面座50と共に上方に移動させる。図3(a)のようにステージ10と基材20とが平行でない場合、図3(b)のようにスタンプ40のパターン面とステージ10の基材20を乗せた面とが基材20を介して押付けられた状態となる。この押し付ける力によって球面座50の半球状体52が半球状凹部53内で回転することにより、スタンプ40の全ての凸部40aの先端面(パターン面)と基材20の面(被印刷面)とが平行になる。
このとき、前記真空ポンプによる固定手段を動作させて球面座50を吸着固定することにより、平行状態を保持することができる。
インキパッド30及びスタンプ40の互いに対応する位置にはそれぞれ位置合わせマークが設けられており、この位置合わせマークを位置合わせマーク観察装置80で観察しながら、インキパッド30とスタンプ40とを正確に位置合わせした状態で、スタンプ40にパターン形成材料を付着させることができる。
尚、位置合わせマーク観察装置80,81として、例えば光学顕微鏡、や半導体製造におけるステッパのレーザ光を用いた位置合わせの装置が用いられる。
また、スタンプ40とインキパッド30及び基材20との位置合わせを高い精度で行うことができるので、基材20の所定の位置に所望のパターンを正確に形成することができ、さらに再現性の良いパターン形成を行うことができる。
図5に示すように、支持機構120は、光透過性及び非可撓性を有する材質、例えばガラス板等により作成されたブラケット120bと、このブラケット120bを図示しない移動装置に取り付け、固定させるブラケット120aとから構成されている。
ここでブラケット120aは、取り付け加工、及び上記移動装置へ固定し易いように、材質として金属、例えばアルミ合金などを用い、ブラケット120bの外縁部に沿った、所定の幅の枠形に加工され、ブラケット120bを介して、画線部40bに、位置合わせのための光が透過されるよう形成されている。
そして、ブラケット120aとブラケット120bとは、図示しないボルト等によって互いに固定されている。
スタンプ部40cは材質が光透過性を有する弾性体、例えば、硬化されたシリコーンゴムで形成されており、裏打ち部40dは光透過性及び可撓性のある材質、例えばポリカーボネート板等により形成され、スタンプ部40と、画線部40bが形成されている反対の面を介して貼着されている。
ここで、ブラケット120bの上記所定の幅は、位置合わせマーク観察装置80(または81)から出射される光Rが、スタンプ40の画線部40bの全体または位置合わせに必要な部分を、透過する空間を与える値とする。
すなわち、幅と定義したが、画線部40bにおいて、位置合わせための光Rが透過する位置が固定されていれば、任意の大きさ及び形状の孔を形成して、この孔を前記光Rが通過し、画線部40bを透過するようにしてもよい。
以下に、真空吸着による固定に付いて簡単に説明する。
ブラケット120bには、上記スタンプ40を真空吸着により固定するための、溝120cが形成されている。
また、ブラケット120bは、透過する位置合わせ用の光Rの散乱の割合が、位置合わせ精度を満足し、かつスタンプ40を固定する吸着力が得られる面積及び数の孔が設けられた吸着面を有する構成としてもよい。
ガラス板表面に、すなわちスタンプ40の画線部40bの凹凸のパターンと逆の凹凸のパターンを作成するため、フォトリソグラフィの技術によりレジストパターンを形成して、このレジストパターンをマスクとして、エッチング処理を行い、画線部40bの凹凸のパターンに対して、逆の凹凸を有する凹凸のパターンを形成し、このガラス板を母型130する。
上記液状シリコーンゴムと樹脂板との間に、貼着の強度を増加させるため、光透過性を有する接着剤を介挿してもよい。
この状態を保持させたまま、室温において72時間放置し、上記液状シリコーンゴムを硬化させ、スタンプ部40cを形成する。
そして、母型130から、裏打ち部40dで固定された状態において、スタンプ部40cを引き剥がして、スタンプ40を完成させる(図6(b))。
また、母型130より引き剥がすとき、図6(b)に示すように、母型130またはスタンプ40のいずれかが可撓性の材質、すなわちある剛性が高くなく、印加された力に対して変形する必要がある。
母型130は画線部40bの凹凸パターンの原版であり、凹凸のパターンの寸法精度が要求されるため、裏打ち部40dを可撓性の材質で作成することとなる。
スタンプ40をブラケット120aに直接固定して、ステージ11上の基材20に対して印刷を行う構成も考えられるが、裏打ち部40dが可撓性を有するため、図7に示すようにスタンプ40全体が変形して十分な加圧ができす、インク(又は材料)の転写(転移)が不十分となる。
このため、スタンプ支持機構120のブラケット120bは、スタンプ40の変形を防止する目的で、非可撓性の材質により作成されている。
すなわち、スタンプ40に裏打ち部40dを設けることにより、スタンプ部40cを母型130から引き剥がすときに、スタンプ部40cに直接印加される力を低減させ、形成された画線部40bの凹凸パターンの変形を防止させることで、母型130の凹凸パターンに対する製造精度を向上させることができる。
例えば、他の実施形態として、図6に示すスタンプ支持機構120とスタンプ40を、図7に示すスタンプ支持機構141,スタンプ40'の構成としてもよい。
スタンプ40'において、裏打ち部40dにスタンプ部40cを貼着するまではすでに述べた実施形態と同様である。
例えば、支持体40eに厚さ3mmのガラス板を用いて、アクリル系接着剤により、ポリカーボネートの裏打ち部40dに打擲する。
スタンプ支持機構141は、ブラケット12aと同様の構造に形成され、加えて、上記スタンプ40'を真空吸着して、固定保持するための溝141aが形成されている。
上述した構成により、他の実施形態も、既に述べた実施形態と同様の効果を得ることができる。
従って、本発明によれば、スタンプのパターン面とインキパッドのパッド面(ステージ10の上面)との平行及び/又はスタンプのパターン面と基材の被印刷面(ステージ11の上面)との平行を容易に得ることができるため、スタンプの面内に均一にパターン形成材料を付着させることができ、あるいは基材の面内に均一に所望のパターンを精度良く形成することができる。
また、第2の実施形態については、実施例1に記載した図1の構成と異なる点のみを説明する。同様の構成については、同一の符号を用いる。
第2の実施形態においては、図1に示す球面座50,51の代わりに、球面座50,51と同様に、ステージ10及び11を各々可動自在(3次元的に)とするジンバル機構を用いた可動面座91,92を用いている点である。可動面座91に基材20が固定され、可動面座92にインキパッド30が固定されている。
このステージ10(支持機構)は、ジンバル機構からなる上記可動面座91に設けられて(載置されて)おり、移動装置60により、可動面座91とともに上下方向に移動可能になされている。また、ステージ11(支持機構)は、ジンバル機構からなる可動面座92に設けられて(載置されて)おり、移動装置61により可動面座92とともに上下方向に移動可能になされている。
また同様に、可動面座92は実施例1に記載した球面座51と同様に、スタンプ40のパターン面と、インキパッド30のパッド面とを平行の状態に制御することができる。
他の構成,動作及び製造方法は実施例に記載した実施形態と同様のため、説明を省略する。上記構成により、実施例1の第1及び第2の実施形態と同様の効果を得ることができる。
図12に示すように、図示しない制御部がスタンプ支持機構120に対する、ステージ移動装置60によるステージ10の上昇を、あらかじめ設定された位置で一旦停止させる。そして、上記制御部がスタンプ支持機構120と、ステージ10との間隔を側面からレーザ変位計等を利用することで測定し、少なくとも2カ所の間隔D1及びD2が同様となるように、すでに述べたジンバル機構において、第1の台94及び第2の台95をおのおのの軸周りに図示しないサーボモータ等により回転させる。
上述した非接触によって、可動面座91において、スタンプ40のパターン面と基材20の被印刷面とを平行にする制御(平行制御)、また可動面座92においても同様にスタンプ40のパターン面とインキパッド30のパッド面との平行制御とを行うため、一度接触させて行う行程が必要無くなり、印刷工程を簡略化することができる。
20…基材
30…インキパッド
40…スタンプ
40a…パターン形状の凸部
40b…画線部
40c…スタンプ部
40d…裏打ち部
40e…支持体
50、51…球面座
60、61…ステージ移動装置
70…ガイドレール
80、81…位置合わせマーク観察装置
90…パターン形成材料(インキ)
91…可動面座
93…固定軸
94…第1の台
95…第2の台
120、141…スタンプ支持機構
130…母型
120a、120b…ブラケット
120c、141a…溝
L1、L2、L3、L4…レーザ光源
R1、R2、R3、R4…受光部
Claims (12)
- スタンプ、インキパッド、スタンプの支持機構、インキパッドの支持機構、パターン形成される基材の支持機構、スタンプをインキパッドに接触させる機構及びスタンプを基材に接触させる機構、から構成されるパターン形成装置を用いるパターン形成装置において、
スタンプのパターン面と、基材の被印刷面及び/またはインキパッドのパッド面とを平行に支持するため、基材及び/またはインキパッドの支持機構が可動自在の調整部上に載置し、前記スタンプとインキパッドとの間隔を複数箇所にて測定し、この間隔が等しくなるように前記調整部を制御して両者を平行状態となし、及び/又は前記スタンプと基材との間隔を複数箇所にて測定し、この間隔が等しくなるように、前記調整部を制御して両者を平行状態となすことを特徴とするパターン形成装置。 - 前記調整部が球面座であることを特徴とする請求項1に記載のパターン形成装置。
- 前記調整部がジンバル機構により構成され、前記基材及び/またはインキパッドの支持機構をx軸及びy軸周りに回転自在に調整することを特徴とする請求項1に記載のパターン形成装置。
- 前記スタンプの支持機構は、前記スタンプを取り付けた構成において、該スタンプの画線部に平面的に重なる部分が、非可撓性及び光透過性を有する材質で作成されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のパターン形成装置。
- 前記スタンプが、
前記画線部を含む、光透過性を有する弾性体で作成されたスタンプ部と、
該スタンプ部を裏打ちする、光透過性及び可撓性を有する材質で作成された裏打ち部と
を有して構成されていることを特徴とする請求項4記載のパターン形成装置。 - 前記球面座を固定する固定手段を設けたことを特徴とする請求項1から請求項5のいずれかに記載のパターン形成装置。
- 前記スタンプと基材との位置合わせ機構を有することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれかに記載のパターン形成装置。
- 前記スタンプとインキパッドとの位置合わせ機構を有することを特徴とする請求項1から請求項7のいずれかに記載のパターン形成装置。
- スタンプ、インキパッド、スタンプの支持機構、インキパッドの支持機構、パターン形成される基材の支持機構、スタンプをインキパッドに接触させる機構及びスタンプを基材に接触させる機構、から構成されるパターン形成装置を用いるパターン形成方法において、
スタンプのパターン面と、基材の被印刷面及び/またはインキパッドのパッド面とを平行に支持するため、基材及び/またはインキパッドの支持機構が可動自在の調整部上に載置し、前記スタンプとインキパッドとの間隔を複数箇所にて測定し、この間隔が等しくなるように前記調整部を制御して両者を平行状態となし、及び/又は前記スタンプと基材との間隔を複数箇所にて測定し、この間隔が等しくなるように、前記調整部を制御して両者を平行状態となすことを特徴とするパターン形成方法。 - 前記調整部が球面座で構成されていることを特徴とする請求項9に記載のパターン形成方法。
- 前記調整部がジンバル機構により構成され、前記基材及び/またはインキパッドの支持機構をx軸及びy軸周りに回転自在に調整することを特徴とする請求項9に記載のパターン形成方法。
- 複数のスタンプを用いて、異なるパターンを重ね合わせて、所定のパターンを形成する場合、上記基材に形成されたパターンと、重ね合わすスタンプのパターンとの位置合わせを、光透過性を有する前記スタンプの位置合わせマークと基材上の位置合わせマークとにより、光学的に印刷の位置合わせを行うことを特徴とする請求項9から請求項11のいずれかに記載のパターン形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003295615A JP4333274B2 (ja) | 2002-08-29 | 2003-08-19 | パターン形成装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002251849 | 2002-08-29 | ||
JP2003146306 | 2003-05-23 | ||
JP2003295615A JP4333274B2 (ja) | 2002-08-29 | 2003-08-19 | パターン形成装置及び方法 |
Related Child Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005363561A Division JP2006188054A (ja) | 2002-08-29 | 2005-12-16 | パターン形成装置 |
JP2009009093A Division JP4640512B2 (ja) | 2002-08-29 | 2009-01-19 | パターン形成装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005007848A JP2005007848A (ja) | 2005-01-13 |
JP4333274B2 true JP4333274B2 (ja) | 2009-09-16 |
Family
ID=34108495
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003295615A Expired - Fee Related JP4333274B2 (ja) | 2002-08-29 | 2003-08-19 | パターン形成装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4333274B2 (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4625247B2 (ja) * | 2003-10-24 | 2011-02-02 | 株式会社ナノテック | マイクロコンタクトプリント方法及び装置 |
US7140861B2 (en) * | 2004-04-27 | 2006-11-28 | Molecular Imprints, Inc. | Compliant hard template for UV imprinting |
JP4713102B2 (ja) * | 2004-07-29 | 2011-06-29 | Scivax株式会社 | 傾き調整機能付きプレス装置、傾き調整機能付きパターン形成装置、型の傾き調整方法 |
JP4596981B2 (ja) * | 2005-05-24 | 2010-12-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | インプリント装置、及び微細構造転写方法 |
JP2007067390A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-03-15 | Sony Corp | 半導体装置の製造方法および半導体装置の製造装置 |
JP2007090188A (ja) * | 2005-09-28 | 2007-04-12 | Hitachi Metals Ltd | 印刷材料塗布方法および印刷材料塗布装置 |
JP4856941B2 (ja) * | 2005-12-09 | 2012-01-18 | 東芝機械株式会社 | ジンバル機構を備えた転写装置及び同装置を用いる転写方法 |
JP4803589B2 (ja) * | 2006-04-12 | 2011-10-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | インプリント装置 |
JP4857050B2 (ja) * | 2006-08-23 | 2012-01-18 | 東芝機械株式会社 | ジンバル機構を備えた転写装置 |
JP2009028947A (ja) * | 2007-07-25 | 2009-02-12 | Seiko Epson Corp | マイクロコンタクトプリント用版および電子装置の製造方法 |
JP5428449B2 (ja) * | 2009-03-30 | 2014-02-26 | 大日本印刷株式会社 | マイクロコンタクトプリンティング用スタンプ作製用マスター版の製造方法、およびマイクロコンタクトプリンティング用スタンプ作製用マスター版 |
JP5930699B2 (ja) * | 2011-12-20 | 2016-06-08 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、インプリント方法およびデバイスの製造方法 |
TWI568066B (zh) | 2013-11-04 | 2017-01-21 | Lg化學股份有限公司 | 形成二次電池的黏合層之方法 |
-
2003
- 2003-08-19 JP JP2003295615A patent/JP4333274B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005007848A (ja) | 2005-01-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006188054A (ja) | パターン形成装置 | |
JP4333274B2 (ja) | パターン形成装置及び方法 | |
US9440254B2 (en) | Method and apparatus for applying a sheet to a substrate | |
US7802978B2 (en) | Imprinting of partial fields at the edge of the wafer | |
TWI326797B (en) | Formation of discontinuous films during an imprint lithography process | |
JP5597031B2 (ja) | リソグラフィ装置及び物品の製造方法 | |
JP3958344B2 (ja) | インプリント装置、インプリント方法及びチップの製造方法 | |
JP4659726B2 (ja) | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 | |
JP2010080630A (ja) | 押印装置および物品の製造方法 | |
JP2001205909A (ja) | 基板の表面にパターンを印刷するスタンプ装置 | |
US20050172848A1 (en) | Device and method for transferring a pattern to a substrate | |
JP2013507770A (ja) | 大面積線形アレイのナノインプリンティング | |
KR101545004B1 (ko) | 유연한 시트와 기판을 접촉시키기 위한 방법 및 시스템 | |
JP4640512B2 (ja) | パターン形成装置及び方法 | |
US20060145400A1 (en) | Method and apparatus for direct referencing of top surface of workpiece during imprint lithography | |
US7740992B2 (en) | Exposure apparatus, exposure method, and exposure mask | |
JP2013110162A (ja) | インプリント装置及び物品の製造方法 | |
JP5328495B2 (ja) | インプリント装置及び物品の製造方法 | |
JP2007320113A (ja) | パターン形成装置及び方法 | |
KR20080097807A (ko) | 탄성중합체 스탬프를 이용한 미세접촉 인쇄장치 | |
JP5069777B2 (ja) | インプリントリソグラフィ装置 | |
JP7419516B2 (ja) | マイクロパターンおよび/またはナノパターンをエンボス加工する装置および方法 | |
JP2013105755A (ja) | アライメント方法及び凹凸パターン形成方法 | |
KR20060067676A (ko) | 기판 상에 식각영역을 만들기 위한 장치 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081118 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090119 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090602 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090615 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140703 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |