JP4310081B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体レーザ(LD)を用いて画像の書き込みを行う、レーザプリンタ、デジタル複写機、ファクシミリ等の画像形成装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体レーザ(LD)を用いて画像の書き込みを行う、レーザプリンタ、デジタル複写機、ファクシミリ等の画像形成装置に関連する従来技術として、特開2000−118040公報が存在する。
本公報に記載の技術は、LDアレイの各発光素子のAPC動作により、その各発光素子の発光に要する電流量をそれぞれ電流検出回路を用いて検出して比較し、最も電流量の少ない発光素子を、主走査方向の位置合わせのために発光を行なう発光素子として選択する。なお、LDアレイの複数の各発光素子の発光画素数をカウントし、その各発光素子毎の発光画素数を比較し、最も発光画素数の少ない発光素子を、主走査方向の位置合わせのために発光を行なう発光素子として選択してもよい。以上の方法で、LD総点灯時間に起因するLD劣化の各発光素子間の偏りをなくし、LDアレイの寿命を延ばすというものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
以上のように、LDを用いた画像形成装置において、LDの寿命を延ばすことが重要である。現状の画像形成装置では、毎ライン同期検知用に点灯させ、またできるだけ光量変動しないように毎ラインAPCサンプリング用にLD点灯させている。
本発明は、できるだけLDの点灯時間を減らし、LDの寿命を延ばすことが可能な画像形成装置を提供することを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、半導体レーザの一定光量を保持するサンプルホールド型APC機能を備えた画像形成装置において、APCサンプル時にホールド電圧を充電するコンデンサと、前記ホールド電圧が所定のリファレンス電圧になるまでの時間を測定する時間計測手段と、APCサンプルタイミングを決定するタイミング決定手段と、を備え、前記APCのホールド動作スタート後に、前記コンデンサにホールドした電圧が、予め設定された比較用であって且つその電圧まで下がってもAPCの結果が前記半導体レーザにより形成される画像に影響の出ないリファレンス電圧、に低下するまでのクロックを利用したカウント値Xを前記時間計測手段により計測し、前記半導体レーザのレーザビームにおける主走査方向の1ライン周期分の前記クロックを利用したカウント値Yと前記APCのサンプル周期であるライン周期の数Nとの積(Y×N)を求め、前記カウント値Xと前記積(Y×N)とを比較して、X<(Y×N)となるライン周期の数Nごとに前記APCサンプルを行うようにタイミング決定する書き込みユニット部を備えたことを特徴とする。
【0005】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1はデジタル複写機の概略ブロック構成図である。このデジタル複写機は、原稿画像を読み取るスキャナ部1、書き込みユニット部4、装置全体の制御を実行するCPU7、制御プログラムが一時的に使用するRAM8、制御プログラムが格納されているROM9、読み取った画像を記憶する画像メモリ10、ユーザが指示を与える操作部11等により構成されている。各装置間のデータのやりとりは内部システムバス12が行う。
スキャナ部1は、読み取った信号をA/D変換して黒オフセット補正、シェーディング補正、画素位置補正を行うVPU2、画像処理を行うIPU3を有する。書き込みユニット部4は、その制御を行うGAVD5、半導体レーザの制御を行うLD制御部6、ドラム上に静電潜像データの結像を行う半導体レーザ(LD)31を有する。
【0006】
図2は書き込みユニット部の概略図である。LD制御部6は、半導体レーザ駆動回路21、制御回路22、光検出器(PD)23を有する。
LD31より前方に出射されたレーザービームは、図示しないコリメータレンズによりコリメートされて回転多面鏡からなる偏向器32で偏向され、fθレンズ33により感光体ドラム34の帯電器で一様に帯電された表面に結像される。そしてその結像スポットが偏向器32の回転で感光体ドラム34の軸方向に反復して移動すると同時に感光体ドラム34が回転する。
光検出器35は情報書込領域外に設けられ、偏向器32で偏向されたレーザービームを検出してDETPを発生する。GAVD5は情報信号を半導体レーザ駆動回路21に印加するが、そのタイミングを光検出器35からのDETPにより制御する。
半導体レーザ駆動回路21はGAVD5からの情報信号により、LD31を駆動させて感光体ドラム34上に静電潜像を形成させ、この静電潜像は現像器で現像されて転写器で転写紙等に転写される。
また、LD31から後方に出射されるレーザビームは光検出器23に入射してその光強度が検出され、制御回路22が光検出器23の出力信号に応じて半導体レーザ駆動回路2を制御してLD31の出力光量を一定に制御する(APC制御)。具体的にはLD31の各発光素子の駆動電源をそれぞれ外部信号により各発光素子の出力光量が一定になるように調整して保持する。
図3はLD制御部のAPCホールドコンデンサの電圧検知部の概略図である。APCホールドコンデンサ41(CH)の電圧をバッファ42を介して、A/Dコンバータ43にてA/D変換し、GAVD5へ出力する。
【0007】
図4は請求項1の発明における、CH電圧値に基づくAPCタイミング決定動作フロー図である。ステップS1にて、スタート。S2でAPCサンプリングON、S3にてAPCをホールド及びカウンタをスタート。なおカウンタは、GAVD内蔵の書込CLKなどのCLKを利用する。
S4にて、A/D変換されたCH電圧値が、あらかじめ設定されている画像に影響されない適当なREF電圧が等しいか判断し、等しいならステップS5へ、等しくないなら再度S4へ。S5にて、カウンタをストップさせ、カウンタ値XをRAM8へ保存。S6にてN=0とする。
S7にて、N=N+1を設定。S8にて{カウンタ値X}<{ライン周期分のカウンタ値Y}*Nかどうか判断し、NoならS7へステップバック。YesならS9にてN値を保存。S10にてリターン。なお、APCサンプリング周期をライン周期N回に1回行なう。この制御もGAVD5にて行う。
【0008】
図5は請求項1の発明のAPCタイミング例として、APCサンプリング回数を2ラインに1回としたタイミング図である。同期信号は、光が光検出器35に入射したときLowを出力する。DATA信号はhighで点灯する。
毎ライン同期検知用にBD点灯させている。前述の図4のフローにより決定した回数から、APCは2ラインに1回点灯する。APC信号はhigtでサンプリングし、DATA信号のAPC用点灯に同期している。
図6は請求項2の発明における、CH比較用REF電圧設定フロー図である。なお、設定は、操作部11などを用いてSPモードなどにて行う。ステップS11にて、CH比較用REF電圧設定フローを開始し、次ステップS12にてユーザに設定された値をRAM8に保存する。S13にてリターンとなる。
図7は請求項3の発明における、動作フロー図である。ステップS21にてプリンタフロースタート。S22にてAPCサンプリング設定値Xを1に設定。S23にてプリント終了可否判断を行い、終了していれば次ステップS24へ、終了していなければS23へ。S24にてサンプリング設定値XをN(RAM8に保存している値)に設定し、S25で終了。
【0009】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1の画像形成装置においては、APCホールドコンデンサの電圧が、あるリファレンス電圧になるまでの時間を測定し、機械毎に最適なAPCサンプルホールドタイミングを決定し、APC用点灯回数を減らすことができるため、LDの寿命を延ばすことができる。
請求項2の画像形成装置においては、ホールドコンデンサの電圧値にリミッタ機能を設けているため、ホールド時間測定中に光量が上昇し、LDを破壊することを防ぐことができる。
請求項3の画像形成装置にいては、プリント動作中は、毎ラインAPCを行ない、プリント動作外の時、請求項1及び2で得られたAPCタイミングでAPCを行なうため、LDの寿命を延ばしつつ、かつ画像領域内の光量変動をより抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】デジタル複写機の概略ブロック構成図である。
【図2】書き込みユニット部の概略図である。
【図3】LD制御部のAPCホールドコンデンサの電圧検知部の概略図である。
【図4】請求項1の発明における、CH電圧値に基づくAPCタイミング決定動作フロー図である。
【図5】請求項1の発明のAPCタイミング例として、APCサンプリング回数を2ラインに1回としたタイミング図である。
【図6】請求項2の発明における、CH比較用REF電圧設定フロー図である。
【図7】請求項3の発明における、動作フロー図である。
【符号の説明】
1 スキャナ部、4 書き込みユニツト部、5 GAVD、6 LD制御部、41 APCホールドコンデンサ
Claims (3)
- 半導体レーザの一定光量を保持するサンプルホールド型APC機能を備えた画像形成装置において、
APCサンプル時にホールド電圧を充電するコンデンサと、前記ホールド電圧が所定のリファレンス電圧になるまでの時間を測定する時間計測手段と、APCサンプルタイミングを決定するタイミング決定手段と、を備え、
前記APCのホールド動作スタート後に、前記コンデンサにホールドした電圧が、予め設定された比較用であって且つその電圧まで下がってもAPCの結果が前記半導体レーザにより形成される画像に影響の出ないリファレンス電圧、に低下するまでのクロックを利用したカウント値Xを前記時間計測手段により計測し、
前記半導体レーザのレーザビームにおける主走査方向の1ライン周期分の前記クロックを利用したカウント値Yと前記APCのサンプル周期であるライン周期の数Nとの積(Y×N)を求め、
前記カウント値Xと前記積(Y×N)とを比較して、X<(Y×N)となるライン周期の数Nごとに前記APCサンプルを行うようにタイミング決定する書き込みユニット部を備えた
ことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項1記載の画像形成装置において、
前記リファレンス電圧を任意に設定可能にしたことを特徴とする画像形成装置。 - 請求項1または2記載の画像形成装置において、
プリント動作中はライン毎にAPCサンプルを行い、プリント動作期間外のみ、APCサンプルを前記所定のライン数ごとに行うようにしたことを特徴とする画像形成装置。
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