JP4300168B2 - 集束イオンビーム装置、及びそれに用いる絞り - Google Patents
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Description
(2)使用中に液体金属の被覆性が低下、露出部が生じることにより、ベース材料のスパ ッタが起き、所望の安定性が得られない。
(3)絞り上の液体金属表面に酸化膜が生じ、イオン照射によるスパッタ消耗に応じて液 体金属が移動するのに必要な流動性が低下する。
(4)一定時間使用すると液体金属がスパッタにより消耗しベース材料が露出、ベース材 料によるスパッタ汚染を生じてしまう。
(5)液体金属を塗布した絞りからスパッタされた液体金属が上部の電極等に付着,凝縮 して液滴となることにより絶縁破壊,放電等、光学系の安定動作に悪影響を生じる。
(ガイド12)を設けることで達成される。
2000h以上使用可能である。これは市販されているガリウム液体金属イオン源の寿命とほぼ同じである。
を機械加工により形成、内面をエッチング、高温加熱後、これにガリウムを搭載した。本光学系の通常動作時の絞り上でのビーム径は約0.5mm であり、照射範囲はガリウム液面上に限定される。図8は装置搭載前の状態で、スパッタされたガリウムが上流側のアライナ等に付着して絶縁不良を起こさないように遮蔽板を設置した。この構成により2000時間以上の絞り寿命が達成できた。
16…可変絞り板上の液体金属溜め、17…可変絞り孔、18…絞り板固定用の孔、19…絞りベースモリブデン板。
Claims (26)
- 液体金属イオン源を使用する集束イオンビーム装置において、
イオンビーム径を制限する絞りが、
前記イオンビームが通過する絞り孔を表面最下点に持つ凹部を備えた容器に、前記液体金属イオン源に用いられる液体金属を載せたものであり、
前記イオンビームが透過する絞り孔を表面最下点に持つ凹部を備えた容器の前記液体金属が接する部分に最大粗さ1〜10μmの凹凸を設けたことを特徴とする集束イオンビー
ム装置。 - 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、
前記絞り孔の、前記液体金属イオン源とは反対の側に、絞り孔径が前記液体金属イオン源とは反対の側にいくほど大きくなるようなテーパを備えたことを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項1,2のいずれかに記載の集束イオンビーム装置において、
前記凹部が、前記液体金属イオン源から放出されたイオンビームの前記絞り上におけるイオンビームの最大照射範囲より狭いことを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項1〜3のいずれかに記載の集束イオンビーム装置において、
前記絞りの、前記液体金属イオン源と同じ側に、
前記イオンビームが通過する孔を備え、かつ該絞りの凹部を蔽うカバーを備えたことを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項1〜3のいずれかに記載の集束イオンビーム装置において、
前記絞りの上面に覆いを設け、該覆いの裏面に付着した液体金属を前記絞りの液体金属溜め部に誘導するガイドを前記覆いの裏面に設けること特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項1〜5のいずれかに記載の集束イオンビーム装置であって、
前記絞りが、液体金属イオン源直下の電流制限絞りであることを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項6記載の集束イオンビーム装置であって、前記絞り上に載せる液体金属の体積が5立方ミリメートル以上,17立方ミリメートル以下であることを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項1〜7のいずれかに記載の集束イオンビーム装置であって、
前記液体金属がガリウムであることを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項1〜8のいずれかに記載の集束イオンビーム装置であって、
前記絞りのベース材料が、タングステンであることを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 液体金属イオン源を使用する集束イオンビーム装置のイオンビーム径を制限する絞りであって、
該絞りが前記イオンビームが通過する絞り孔を表面最下点に持つ凹部を備えた容器に、前記液体金属イオン源に用いられる液体金属を載せたものであり、
前記イオンビームが透過する絞り孔を表面最下点に持つ凹部を備えた容器の前記液体金属が接する部分に最大粗さ1〜10μmの凹凸を設けたことを特徴とする絞り。 - 請求項10記載の絞りにおいて、
前記絞り孔の、前記液体金属イオン源とは反対の側に、絞り孔径が前記液体金属イオン源とは反対の側にいくほど大きくなるようなテーパを備えたことを特徴とする絞り。 - 請求項10,11のいずれかに記載の絞りにおいて、
前記凹部が、前記液体金属イオン源から放出されたイオンビームの前記絞り上におけるイオンビームの最大照射範囲より狭いことを特徴とする絞り。 - 請求項10〜12のいずれかに記載の絞りにおいて、
当該絞りの、前記液体金属イオン源と同じ側に、
前記イオンビームが通過する孔を備え、かつ該絞りの凹部を蔽うカバーを備えたことを特徴とする絞り。 - 請求項10〜12のいずれかに記載の絞りにおいて、
前記絞りの上面に覆いを設け、該覆いの裏面に付着した液体金属を前記絞りの液体金属溜め部に誘導するガイドを前記覆いの裏面に設けることを特徴とする絞り。 - 請求項10〜14のいずれかに記載の絞りであって、
当該絞りが、液体金属イオン源直下の電流制限絞りであることを特徴とする絞り。 - 請求項15記載の絞りであって、
当該絞り上に載せる液体金属の体積が5立方ミリメートル以上,17立方ミリメートル以下であることを特徴とする絞り。 - 請求項10〜16のいずれかに記載の絞りであって、
前記液体金属がガリウムであることを特徴とする絞り。 - 請求項10〜17のいずれかに記載の絞りであって、
前記絞りのベース材料が、タングステンであることを特徴とする絞り。 - 液体金属イオン源を使用する集束イオンビーム装置において、
前記液体金属イオン源に用いられる液体金属を保持する凹部の最下点に、イオンビーム径を制限する絞りの絞り孔が位置し、前記液体金属が前記絞り孔付近に集中し、前記絞り孔のエッジ部まで露出部の無い被膜を形成し、
前記イオンビームが通過する絞り孔付近に集中する前記液体金属が絞りと接する部分に最大粗さ1〜10μmの凹凸を設け、
前記絞りが、液体金属イオン源直下の電流制限絞りである集束イオンビーム装置。 - 請求項19記載の集束イオンビーム装置であって、
前記絞り孔の、前記液体金属イオン源とは反対の側に、絞り孔径が前記液体金属イオン源とは反対の側にいくほど大きくなるようなテーパを備えたことを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項19,20のいずれかに記載の集束イオンビーム装置であって、
当該絞り上に載せる液体金属の体積が5立方ミリメートル以上,17立方ミリメートル以下であることを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項19〜21のいずれかに記載の集束イオンビーム装置であって、
前記液体金属がガリウムであり、
前記絞りのベース材料が、タングステンであることを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 集束イオンビーム装置に装着できる液体金属イオン源において、
前記液体金属イオン源に用いられる液体金属を保持する凹部の最下点に、イオンビーム径を制限する絞りの絞り孔が位置し、前記液体金属が前記絞り孔付近に集中し、前記絞り孔のエッジ部まで露出部の無い被膜を形成し、
前記イオンビームが通過する絞り孔付近に集中する前記液体金属が絞りと接する部分に最大粗さ1〜10μmの凹凸を設け、
前記絞りが、液体金属イオン源直下の電流制限絞りである液体金属イオン源。 - 請求項23記載の液体金属イオン源であって、
前記絞り孔の、前記液体金属イオン源とは反対の側に、絞り孔径が前記液体金属イオン源とは反対の側にいくほど大きくなるようなテーパを備えたことを特徴とする液体金属イオン源。 - 請求項23,24のいずれかに記載の液体金属イオン源であって、
当該絞り上に載せる液体金属の体積が5立方ミリメートル以上,17立方ミリメートル以下であることを特徴とする液体金属イオン源。 - 請求項23〜25のいずれかに記載の液体金属イオン源であって、
前記液体金属がガリウムであり、
前記絞りのベース材料が、タングステンであることを特徴とする液体金属イオン源。
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