JP4260182B2 - 磁気抵抗効果素子および薄膜磁気ヘッド - Google Patents
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Description
実験1では、図2に示す構成でMR素子を作製した。具体的な層構成および各層の材料等を表1に示す。
実験2では、表1に示したのと同じ膜構成において、ホイスラー合金層の材料および酸化物の材料を変更した10種類のサンプルを作製して、RAおよびMR比を測定した。酸化物の酸化条件は、各サンプルとも等しくなるように、酸化時間を120秒とした。表3に、各サンプルの、ホイスラー合金層の材料、酸化物の材料、RAおよびMR比を示す。
実験3では、図7に示す構成でMR素子4を作製した。具体的な層構成および各層の材料等を表4に示す。
実験4では、表6に示すようにホイスラー合金層43ca,45aとホイスラーベース層43cb,45bの材料をCo2MnGeにして、実験3と同様にホイスラーベース層43cb,45bのCo含有量と厚さを変化させた11種類のサンプル(サンプル4−1〜4−11)を用意した。なお、ホイスラーベース層43cb,45b中のMnとGeの組成比は、常に1対1である。
ら浮上するようになっている。なお、図9におけるx方向は、ハードディスクのトラック横断方向である。スライダ210の空気流出側の端面211には、再生部2および記録部3(図1参照)への信号入出力用の電極パッドが形成されている。この面は、図1では上端面に相当する。
2 再生部
3 記録部
4 MR素子
13 下部シールド層
15 上部シールド層
41 バッファー層
42 反強磁性層
43 ピンド層
43a アウター層
43b 非磁性中間層
43c インナー層
43ca ホイスラー合金層
43cb ホイスラーベース層
44 スペーサ層
45 フリー層
45a ホイスラー合金層
45b ホイスラーベース層
46 キャップ層
47 絶縁膜
48 ハードバイアス膜
49,49a,49b 酸化物
Claims (8)
- 磁化方向が固定されたピンド層と、磁化方向が外部磁界に応じて変化するフリー層と、前記ピンド層と前記フリー層との間に設けられた非磁性のスペーサ層とを有し、トンネル磁気抵抗効果を発揮しない、膜面に対して垂直にセンス電流が流される磁気抵抗効果素子であって、
前記ピンド層および前記フリー層の少なくとも一方は、前記スペーサ層側に設けられた、実質的に化学量論組成を有するホイスラー合金層を含み、
前記ホイスラー合金層の少なくとも一方と前記スペーサ層との間に、酸化物が非連続的に分散して設けられており、
非連続的に設けられた前記酸化物と前記ホイスラー合金層との間に、0.3nm以上かつ1.5nm以下の厚さを有するホイスラーベース層を有し、
前記ホイスラー合金層はCo 2 MnGeまたはCo 2 MnSiからなり、
前記ホイスラーベース層はCoMnGeまたはCoMnSiからなり、Coは70at%以上かつ100at%未満である、磁気抵抗効果素子。 - 面積抵抗値が0.10Ωμm2〜0.36Ωμm2の範囲内にある、請求項1に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記酸化物は、前記酸化物の下地となる層を構成する材料よりも、酸素との結合エネルギーが高い少なくとも1種の原材料の酸化物である、請求項1または2に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記フリー層に前記ホイスラー合金層が含まれ、前記スペーサ層はCuからなり、前記原材料の酸素との結合エネルギーは500kJ/mol以上である、請求項3に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記原材料は、Al、Si、Mg、Ti、V、Zr、Nb、Mo、Ru、Hf、Ta、およびWからなる群から選択された1種または2種以上の元素からなる、請求項4に記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記ピンド層は、非磁性中間層と、該非磁性中間層を挟んで設けられた2つの強磁性体層とを有する、請求項1から5のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子。
- 界面全体に対する、前記酸化物が設けられた領域の総面積の割合は50%未満である、請求項1から6のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子。
- 請求項1から7のいずれか1項に記載の磁気抵抗効果素子を有する薄膜磁気ヘッド。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006329644A JP4260182B2 (ja) | 2006-02-06 | 2006-12-06 | 磁気抵抗効果素子および薄膜磁気ヘッド |
US11/671,248 US7510787B2 (en) | 2006-02-06 | 2007-02-05 | Magneto-resistance effect element and thin-film magnetic head |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006028217 | 2006-02-06 | ||
JP2006329644A JP4260182B2 (ja) | 2006-02-06 | 2006-12-06 | 磁気抵抗効果素子および薄膜磁気ヘッド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007235096A JP2007235096A (ja) | 2007-09-13 |
JP4260182B2 true JP4260182B2 (ja) | 2009-04-30 |
Family
ID=38333811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006329644A Expired - Fee Related JP4260182B2 (ja) | 2006-02-06 | 2006-12-06 | 磁気抵抗効果素子および薄膜磁気ヘッド |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7510787B2 (ja) |
JP (1) | JP4260182B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008243920A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Toshiba Corp | 磁気抵抗効果再生素子、磁気ヘッド、および磁気再生装置 |
JP2009164182A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-07-23 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands Bv | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気記録再生装置 |
US8810973B2 (en) * | 2008-05-13 | 2014-08-19 | HGST Netherlands B.V. | Current perpendicular to plane magnetoresistive sensor employing half metal alloys for improved sensor performance |
JP2015179824A (ja) * | 2014-02-28 | 2015-10-08 | Tdk株式会社 | 磁性素子およびそれを備えた磁性高周波素子 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6937446B2 (en) * | 2000-10-20 | 2005-08-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element, magnetic head and magnetic recording and/or reproducing system |
JP3833512B2 (ja) | 2000-10-20 | 2006-10-11 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子 |
FR2830971B1 (fr) | 2001-10-12 | 2004-03-12 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif magnetoresistif a vanne de spin a performances ameliorees |
JP2003338644A (ja) | 2001-11-19 | 2003-11-28 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子及びその製造方法 |
JP4157707B2 (ja) * | 2002-01-16 | 2008-10-01 | 株式会社東芝 | 磁気メモリ |
JP3607678B2 (ja) | 2002-01-24 | 2005-01-05 | アルプス電気株式会社 | 磁気検出素子 |
JP2003318462A (ja) | 2002-04-22 | 2003-11-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気抵抗効果素子とこれを用いた磁気ヘッドおよび磁気メモリ |
JP2004031545A (ja) * | 2002-06-25 | 2004-01-29 | Alps Electric Co Ltd | 磁気検出素子及びその製造方法 |
US6977801B2 (en) * | 2003-02-24 | 2005-12-20 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Magnetoresistive device with exchange-coupled structure having half-metallic ferromagnetic Heusler alloy in the pinned layer |
JP4309363B2 (ja) | 2005-03-16 | 2009-08-05 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気再生ヘッド及び磁気情報再生装置 |
-
2006
- 2006-12-06 JP JP2006329644A patent/JP4260182B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-02-05 US US11/671,248 patent/US7510787B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7510787B2 (en) | 2009-03-31 |
JP2007235096A (ja) | 2007-09-13 |
US20070183098A1 (en) | 2007-08-09 |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080502 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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