JP4256807B2 - スイッチング回路及び個別電圧計測装置 - Google Patents

スイッチング回路及び個別電圧計測装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4256807B2
JP4256807B2 JP2004082612A JP2004082612A JP4256807B2 JP 4256807 B2 JP4256807 B2 JP 4256807B2 JP 2004082612 A JP2004082612 A JP 2004082612A JP 2004082612 A JP2004082612 A JP 2004082612A JP 4256807 B2 JP4256807 B2 JP 4256807B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
unit cell
resistor
current
voltage
semiconductor switch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004082612A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005265776A (ja
Inventor
聡 石川
光一 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yazaki Corp
Original Assignee
Yazaki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yazaki Corp filed Critical Yazaki Corp
Priority to JP2004082612A priority Critical patent/JP4256807B2/ja
Priority to US11/085,196 priority patent/US7194362B2/en
Publication of JP2005265776A publication Critical patent/JP2005265776A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4256807B2 publication Critical patent/JP4256807B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2503Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques for measuring voltage only, e.g. digital volt meters (DVM's)
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/396Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)

Description

本発明は、スイッチング回路及び個別電圧計測装置に係わり、特に、直列に接続された単位セルの両端をコンデンサに順次接続するスイッチング回路及び当該スイッチング回路を備えた個別電圧計測装置に関するものである。
上述した従来のスイッチング回路として、例えば、図3に示すようなフライングキャパシタ回路が提案されている(例えば、特許文献1、2)。同図に示すように、フライングキャパシタ回路は、直列に接続された複数の単位セルV1〜Vnに対して1つのコンデンサCと、上記単位セルV1〜Vnの各両端を上記コンデンサCの両端に順次接続するための複数の切替スイッチS1〜Sn+1とを備えている。なお、図3において単位セルV1〜Vnはそれぞれ一つのバッテリから構成されている。
切替スイッチS1〜Sn+1は、n個の単位セルV1〜Vnに対して、(n+1)個設けられている。つまり、例えば、単位セルV1のマイナス側と、この単位セルV1のマイナス側に接続されている単位セルV2のプラス側とは、共通のリレースイッチS2を介してコンデンサCに接続されるようになっている。また、図4に示すように、各単位セルV1〜Vnの両側に2つずつ切替スイッチS1〜S2nを設けるフライングキャパシタ回路も提案されている(例えば特許文献3)。
このフライングキャパシタ回路は、例えば、電圧計側装置に用いられ、電圧計側装置は、単位セルV1〜Vnの両端が接続される毎に、コンデンサCの両端電圧を計測することにより、各単位セルV1〜Vnの両端電圧を検出することができる。
特開平11−248755号公報 特開2002−156392号公報 特開平11−248757号公報
ところで、従来、上述した切替スイッチとしては、リレースイッチを用いていた。しかしながら、リレースイッチは、例えばFETなどの半導体スイッチに比べて、コスト、大きさ、耐久性、応答速度などの面で劣っている。そこで、この切替スイッチとして、半導体スイッチを用いたいという要望が高まっている。
上述したフライングキャパシタ回路に用いられる半導体スイッチは、上位の単位セルに接続されるものほどソース電位が高くなる。このため、半導体スイッチのゲートには、上位の単位セルに接続されるものほど、高いゲート電圧を与える必要がある。従って、組電池を電源として、このゲート電圧を生成しようとする場合、上位の単位セルに接続された半導体スイッチほど、上位の単位セル−最下位単位セルV1間を電源として、ゲート電圧を生成することが考えられる。
図3について具体的に述べると、例えば、切替スイッチS1は単位セルV1を電源とし、切替スイッチS2は単位セルV2−単位セルV1間を電源とし、…、切替スイッチSnは単位セルVn−単位セルV1間を電源として、ゲート電圧を生成する必要がある。
このため、下位の単位セルほどゲート電圧生成のために消費される電流が多くなり、各単位セルの消費電力にばらつきが生じてしまうという問題があった。
そこで、本発明は、上記のような問題点に着目し、単位セルの消費電力のばらつきを抑えたスイッチング回路及び当該スイッチング回路を用いた個別電圧計測装置を提供することを課題とする。
上記課題を解決するためになされた請求項1記載の発明は、コンデンサと、バッテリからなる単位セルを複数個直列に接続して構成された組電池の各単位セルの両端電圧を前記コンデンサに順次接続するための複数の半導体スイッチと前記複数の半導体スイッチのオンオフを指示する制御信号を出力するロジック回路と、前記複数の半導体スイッチに対応して各々設けられ、前記制御信号をレベルシフトして対応する半導体スイッチのゲートに出力する複数のレベルシフト回路と、を備えたスイッチング回路において、前記複数のレベルシフト回路はそれぞれ、対応する前記半導体スイッチがプラス端子に接続されている単位セルよりも上位の第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を分圧して前記対応する半導体スイッチのゲートに供給する第1抵抗及び第2抵抗と、前記制御信号の出力に応じてオンして前記第1抵抗及び第2抵抗に対して前記第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を供給する第1シフト用半導体スイッチと、から構成される第1電流経路と、前記第1単位セル−前記第1単位セルに対して所定個下位の第2単位セル間に直列接続された前記第1抵抗及び第3抵抗と、前記第1抵抗及び第3抵抗との間に設けられ前記第2抵抗に電流が流れるとオンする第2シフト用半導体スイッチと、から構成される第2電流経路と、を備え、前記第1電流経路は、互いに等しい電流が流れるように設けられ、前記第2電流経路は、上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど当該第2半導体経路に流れる電流が大きくなるように設けられたことを特徴とするスイッチング回路に存する。
請求項記載の発明は、請求項1〜3何れか1項に記載のスイッチング回路と、前記コンデンサの両端電圧を計測する計測手段とをさらに備えたことを特徴とする個別電圧計側装置に存する。
請求項1及び記載の発明によれば、下位の単位セルほど第1電流経路による消費電流が多くなってしまう。しかしながら、第2電流経路を上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほどその第2電流経路に流れる電流が大きくなるように設けることにより、単位セルのレベルシフト回路による消費電流のばらつきを抑えることができる。
請求項2記載の発明は、前記各単位セルの両端電圧をコンデンサに順次接続した結果、前記第1及び第2電流経路による各単位セルの消費電力が等しくなるように前記第2電流経路を設けたことを特徴とする請求項1に記載のスイッチング回路に存する。
請求項2記載の発明によれば、第1及び第2電流経路による各単位セルの消費電力が等しくなるようにすることができる。
請求項3記載の発明は、コンデンサと、バッテリからなる単位セルを複数個直列に接続して構成された組電池の各単位セルの両端電圧を前記コンデンサに順次接続するための複数の半導体スイッチと、前記複数の半導体スイッチのオンオフを指示する制御信号を出力するロジック回路と、前記複数の半導体スイッチに対応して各々設けられ、前記制御信号をレベルシフトして対応する半導体スイッチのゲートに出力する複数のレベルシフト回路と、を備えたスイッチング回路において、前記複数のレベルシフト回路はそれぞれ、対応する前記半導体スイッチがプラス端子に接続されている単位セルよりも上位の第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を分圧して前記対応する半導体スイッチのゲートに供給する第1抵抗及び第2抵抗と、前記制御信号の出力に応じてオンして前記第1抵抗及び第2抵抗に対して前記第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を供給する第1シフト用半導体スイッチと、から構成される第1電流経路を備え、前記第1電流経路は、上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど当該第1半導体経路に流れる電流が大きくなるように設けられたことを特徴とするスイッチング回路に存する。
請求項3記載の発明によれば、第1電流経路を上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど当該第1半導体経路に流れる電流が大きくなるように設けることにより、単位セルのレベルシフト回路による消費電流のばらつきを抑えることができる。
以上説明したように、請求項1及び4記載の発明によれば、第2電流経路を上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほどその第2電流経路に流れる電流が大きくなるように設けることにより、単位セルのレベルシフト回路による消費電流のばらつきを抑えたスイッチング回路及び個別電圧計側装置を得ることができる。
請求項2記載の発明によれば、第1及び第2電流経路による各単位セルの消費電力が等しくなるようにすることができるので、単位セルの消費電力のばらつきをなくしたスイッチング回路を得ることができる。
請求項3記載の発明によれば、第1電流経路を上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど当該第1半導体経路に流れる電流が大きくなるように設けることにより、単位セルのレベルシフト回路による消費電流のばらつきを抑えたスイッチング回路を得ることができる。
また、電圧計測回路は、上記単位セルV1〜Vnの各両端を上記コンデンサCの両端に順次接続するための半導体スイッチS11〜S1(n+1)と、この半導体スイッチS11〜S1(n+1)と直列に接続された抵抗R11〜R1(n+1)とを備えている。半導体スイッチS11〜S1(n+1)は、n個の単位セルV1〜Vnに対して、(n+1)個、設けられている。上述した半導体スイッチS11〜S1(n+1)及びコンデンサCがスイッチング回路を構成している。また、コンデンサCの両端は、計測スイッチS21及びS22を介して、コンデンサCの充電電圧を計測する計測回路10に接続されている。
上述したスイッチング回路を組み込んだ電圧計測回路の動作について以下説明する。まず、図示しないロジック回路は、半導体スイッチS11及びS12をオンして、単位セルV1の両端をコンデンサCの両端に接続する。これにより、コンデンサCの充電電圧は、単位セルV1の両端電圧に応じた値となる。次に、ロジック回路は、半導体スイッチS11及びS12をオフにして、単位セルV1をコンデンサCから切り離すと共に、計測スイッチS21及びS22をオンして、計測回路10によりコンデンサCの充電電圧を計測させる。コンデンサCの充電電圧を計測することにより、計測回路10は、組電池との絶縁を図りつつ、単位セルV1の両端電圧を計測することができる。
さらにロジック回路は、半導体スイッチS12及びS13をオンして、単位セルV2の両端をコンデンサCの両端に接続する。以下、ロジック回路は、上述したように半導体スイッチS11〜S1(n+1)及び計測スイッチS21、S22のオンオフ制御する。そして、これにより単位セルV1〜Vn+1の両端を順次コンデンサCに接続させると共に、接続によって単位セルV1〜Vn+1の両端電圧に応じた値となったコンデンサCの充電電圧を計測回路10により計測させる。
次に、上述した半導体スイッチS12〜S1n及びこれら半導体スイッチS12〜S1n各々に、与えるゲート電圧を生成するレベルシフト回路の詳細な構成について、図2を参照して説明する。図2は、半導体スイッチS12〜S1nのうち、任意の半導体スイッチSm及びこの任意の半導体スイッチSmに対応したレベルシフト回路2mを示す回路図である。
同図に示すように、半導体スイッチSmは、ソース−ドレイン方向が互いに逆向きになるように、直列に接続された2つのNch.の電界効果トランジスタ(=FET)Q1及びQ2から構成されている。このため、各FETQ1及びQ2のソース−ドレイン間に発生する寄生ダイオードD1及びD2も、その順方向が互いに逆向きになる。
このようにFETQ1及びQ2のソース−ドレイン間に発生する寄生ダイオードD1及びD2の順方向が互いに逆向きになっているため、半導体スイッチのオフ時に寄生ダイオードを通じて電流が流れてしまうことを防止することができる。
また、上述したFETQ1及びQ2のゲートは、トランジスタTr2(=第2シフト用半導体スイッチ)のコレクタ及び抵抗Raの一端間に接続されている。上記抵抗Raの他端は、単位セルVm+1のプラス側に接続されている。上記トランジスタTr2のエミッタは、抵抗Rbを介して、単位セルVmのマイナス側に接続されている。
また、トランジスタTr2のベースは、抵抗Rcを介してトランジスタTr1(=第1シフト用半導体スイッチ)のコレクタに接続される。このトランジスタTr1のエミッタはグランドに接続されている。一方、ベースは抵抗Rdを介して図示しないロジック回路に接続されるとともに、抵抗Reを介してエミッタに接続されている。
これにより、5V系のロジック回路から5Vの制御信号がトランジスタTr1のベースに供給されると、抵抗Rd→抵抗Reの順に電流が流れる。このとき抵抗Reに発生する電圧により、トランジスタTr1のエミッタ−ベース間にバイアスが与えられるため、トランジスタTr1がオンする。
トランジスタTr2がオンすると、抵抗Ra→トランジスタTr2のコレクタ−ベース→抵抗Rc→トランジスタTr1のコレクタ−エミッタの順に電流I1mが流れる。このとき抵抗Rcに発生する電圧により、トランジスタTr2のエミッタ−ベース間にバイアスが与えられるため、トランジスタTr2がオンする。このトランジスタTr2のオンにより、抵抗Ra→トランジスタTr2のコレクタ−エミッタ→抵抗Rbの順に電流I2mが流れる。
上述したトランジスタTr1及びTr2のオンにより、FETQ1及びQ2には、単位セルVm-1−V1間電圧に、単位セルVm+1及びVmの両端電圧の合計値を、抵抗Ra及びRbで分圧した分圧電圧を加えた電圧が印加される。これにより、FETQ1及びQ2のゲートには、そのソースより高いバイアス電圧が印加され、FETQ1及びQ2をオンすることができる。
以上の構成から明らかなようにレベルシフト回路2mには、単位セルVm+1(=第1単位セル)−単位セルV1(=最下位単位セル)間を電源とし、抵抗Ra→トランジスタTr2のコレクタ−ベース間→抵抗Rc→トランジスタTr2のコレクタ−エミッタ間の順で電流I1mが流れる第1電流経路2m1と、単位セルVm+1−この単位セルVm+1より一つ下位の単位セルVm(=第2単位セル)を電源とし、抵抗Ra→トランジスタTr2のコレクタ−エミッタ間→抵抗Rbの順で電流I2mが流れる第2電流経路2m2とが設けられている。
上述した第1電流経路2m1は、上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど、上位の単位セルを電源とする。詳しく述べると、上述した半導体スイッチSmより上位の半導体スイッチSm+1に対応するレベルシフト回路2(m+1)の場合、その第1電流経路2(m+1)1は、単位セルVm+1より上位の単位セルVm+2−単位セルV1間を電源とする。
なお、最上位の単位セルVnのプラス側に接続された半導体スイッチSn+1は、Pch.FETを用い、この半導体スイッチSn+1に対応するレベルシフト回路2(n+1)としては、単位セルVn−単位セルV1間を電源とし、この電源電圧を分圧して、半導体スイッチSn+1のゲートに供給するようになっている。また、最下位の単位セルV1のマイナス側に接続された半導体スイッチS1は、Nch.FETを用い、レベルシフト回路21としては、単位セルV1のみを電源とし、この電源電圧を分圧して、半導体スイッチS1のゲートに供給するようになっている。
要するに、最上位及び最下位の単位セルVn+1及びV1に対応するレベルシフト回路2(n+1)及び21には、それぞれ電流I1(n+1)及びI11を流す第1電流経路は設けられているが、第2電流経路が設けられていないと考えることができる。
従って、半導体スイッチS1〜Sn+1に対応するレベルシフト回路21〜2n+1によって消費される各単位セルV1〜Vnの消費電流IC1〜ICnは以下のようになる。
C1=I11+…+I1(n+1)+I22
C2=I12+…+I1(n+1)+I22+I23

Cm=I1m+…+I1(n+1)+I2m+I2(m+1)

C(n-1)=I1(n−1)+…+I1(n+1)+I2(n−1)+I2n
Cn=I1n+I1(n+1)+I2n
今、レベルシフト21〜2(n+1)の各第1電流経路211〜2(n+1)1に流れる電流I11、I12、…I1n、I1(n+1)が全て等しい電流Iαであるとする(∵I11=I12=…=I1n=I1(n+1)=Iα)。
このとき、上記消費電流IC1〜ICは以下のようになる。
C1=(n+1)・Iα+I22
C2=n・Iα+I22+I23

Cm=(n−m+2)・Iα+I2m+I2(m+1)

C(n-1)=3・Iα+I2(n−1)+I2n
Cn=2・Iα+I2n
以上の式から明らかなように、下位の単位セルほど第1電流経路211〜2(n+1)1によって消費される電流が大きくなる。そこで、上位の単位セルほど第2電流経路212〜2(n+1)2による消費電流を増やして、第1電流経路211〜2(n+1)によって生じる各単位セルV1〜Vnでの消費電流のばらつきを相殺する。全ての単位セルV1〜Vnにおける消費電流IC1〜ICnを等しくするためには、第2電流経路211〜2(n+1)による消費電流I22〜I2nは以下のように設定する。
I22=Iβ(任意の定数)
I23=Iα(∵IC1=IC2より)

I2m=Iα+I2(m−2){∵i(m−2)=i(m−1)より}

I2n=Iα+I2(n−2)
以上のように、任意のレベルシフト回路2mにおいて、第1電流経路2m1では、単位セルVm+1−単位セルV1間を電源とし、第2電流経路2m2では、単位セルVm+1−単位セルVm間を電源としている。つまり、第2電流経路2m2では、単位セルVmより下位の単位セルを電源としない。このため、第1電流経路211〜2(n+1)1によって、下位の単位セルほど消費電流が大きくなってしまった分、第2電流経路222〜2n2によって、単位セルV1〜Vnの消費電流IC1〜ICnが全て等しくなるように相殺することができ、単位セルV1〜Vnの消費電力のばらつきをなくすことができる。
しかも、全ての第1電流経路211〜2(n+1)1に、等しい電流Iαが流れるようにしているため、第2電流経路222〜2n2にどの程度の電流を流せば、レベルシフト回路21〜2(n+1)による単位セルV1〜Vnの消費電流IC1〜ICnが全て等しくなるかが容易に把握できるようになるので、レベルシフト回路21〜2(n+1)の設計が容易となり、コストダウンを図ることができる。
また、制御信号が出力するとトランジスタTr1がオンして、第1電流経路2m1に電流が流れる。これにより、トランジスタTr2がオンして、第2電流経路2m2にも電流が流れる。従って、トランジスタTr1及びTr2を使った簡単な構成で、制御信号をレベルシフトすることができる。
なお、上述した実施形態では、各レベルシフト回路において、第1電流経路に流れる電流を全て等しくし、上位に行くほど第2電流経路による消費電流を大きくすることにより、全ての単位セルV1〜V2での消費電流IC1〜Icnが等しくなるようにしていた。しかしながら、例えば、上位に行くほど第1電流経路に流れる電流を増加させた場合でも、第2電流経路による消費電流を調整して、消費電流IC1〜ICnを等しくすることができる。
また、上述した実施形態では、第2電流経路を設けることにより、各消費電流IC1〜ICnを等しくしていた。しかしながら、第2電流経路を設けず、第1電流経路による消費電流を上位に行くほど大きくすることも考えられる。この場合、各消費電流IC1〜ICnを等しくすることはできないが、各レベルシフト回路において、第1電流経路に流れる電流を全て等しくした場合にくらべて、各消費電流IC1〜IC2のばらつきを低減することができる。
本発明のスイッチング回路を組み込んだ電圧計測装置の一実施の形態を示す図である。 図1に示す電圧計測装置を構成する半導体スイッチS12〜S1nのうち、任意の半導体スイッチSm及びこの任意の半導体スイッチSmに対応したレベルシフト回路2mを示す回路図である。 従来のフライングキャパシタ回路の一例を示す回路図である。 従来のフライングキャパシタ回路の一例を示す回路図である。
符号の説明
C コンデンサ
1〜Vn 単位セル
11〜S1(n+1) 半導体スイッチ
2m レベルシフト回路
2m1 第1電流経路
2m2 第2電流経路
m+1 第1単位セル
m 第2単位セル
Tr1 トランジスタ(第1シフト用半導体スイッチ)
Tr2 トランジスタ(第2シフト用半導体スイッチ)

Claims (4)

  1. コンデンサと、バッテリからなる単位セルを複数個直列に接続して構成された組電池の各単位セルの両端電圧を前記コンデンサに順次接続するための複数の半導体スイッチと前記複数の半導体スイッチのオンオフを指示する制御信号を出力するロジック回路と、前記複数の半導体スイッチに対応して各々設けられ、前記制御信号をレベルシフトして対応する半導体スイッチのゲートに出力する複数のレベルシフト回路と、を備えたスイッチング回路において、
    前記複数のレベルシフト回路はそれぞれ、対応する前記半導体スイッチがプラス端子に接続されている単位セルよりも上位の第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を分圧して前記対応する半導体スイッチのゲートに供給する第1抵抗及び第2抵抗と、前記制御信号の出力に応じてオンして前記第1抵抗及び第2抵抗に対して前記第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を供給する第1シフト用半導体スイッチと、から構成される第1電流経路と、
    前記第1単位セル−前記第1単位セルに対して所定個下位の第2単位セル間に直列接続された前記第1抵抗及び第3抵抗と、前記第1抵抗及び第3抵抗との間に設けられ前記第2抵抗に電流が流れるとオンする第2シフト用半導体スイッチと、から構成される第2電流経路と、を備え、
    前記第1電流経路は、互いに等しい電流が流れるように設けられ、
    前記第2電流経路は、上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど当該第2半導体経路に流れる電流が大きくなるように設けられた
    ことを特徴とするスイッチング回路。
  2. 前記各単位セルの両端電圧をコンデンサに順次接続した結果、前記第1及び第2電流経路による各単位セルの消費電力が等しくなるように前記第2電流経路を設けた
    ことを特徴とする請求項1に記載のスイッチング回路。
  3. コンデンサと、バッテリからなる単位セルを複数個直列に接続して構成された組電池の各単位セルの両端電圧を前記コンデンサに順次接続するための複数の半導体スイッチと、前記複数の半導体スイッチのオンオフを指示する制御信号を出力するロジック回路と、前記複数の半導体スイッチに対応して各々設けられ、前記制御信号をレベルシフトして対応する半導体スイッチのゲートに出力する複数のレベルシフト回路と、を備えたスイッチング回路において、
    前記複数のレベルシフト回路はそれぞれ、対応する前記半導体スイッチがプラス端子に接続されている単位セルよりも上位の第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を分圧して前記対応する半導体スイッチのゲートに供給する第1抵抗及び第2抵抗と、前記制御信号の出力に応じてオンして前記第1抵抗及び第2抵抗に対して前記第1単位セル−最下位単位セル間の電圧を供給する第1シフト用半導体スイッチと、から構成される第1電流経路を備え、
    前記第1電流経路は、上位の単位セルに接続された半導体スイッチに対応するものほど当該第1半導体経路に流れる電流が大きくなるように設けられた
    ことを特徴とするスイッチング回路。
  4. 請求項1〜3何れか1項に記載のスイッチング回路と、
    前記コンデンサの両端電圧を計測する計測手段とをさらに備えたことを特徴とする個別電圧計側装置。
JP2004082612A 2004-03-22 2004-03-22 スイッチング回路及び個別電圧計測装置 Expired - Fee Related JP4256807B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004082612A JP4256807B2 (ja) 2004-03-22 2004-03-22 スイッチング回路及び個別電圧計測装置
US11/085,196 US7194362B2 (en) 2004-03-22 2005-03-22 Switching circuit and individual voltmeter apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004082612A JP4256807B2 (ja) 2004-03-22 2004-03-22 スイッチング回路及び個別電圧計測装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005265776A JP2005265776A (ja) 2005-09-29
JP4256807B2 true JP4256807B2 (ja) 2009-04-22

Family

ID=34985591

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004082612A Expired - Fee Related JP4256807B2 (ja) 2004-03-22 2004-03-22 スイッチング回路及び個別電圧計測装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7194362B2 (ja)
JP (1) JP4256807B2 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7719283B2 (en) * 2004-06-04 2010-05-18 Yazaki Corporation Switching circuit and voltage measuring circuit
JP4800901B2 (ja) * 2005-12-12 2011-10-26 矢崎総業株式会社 電圧検出装置及び絶縁インタフェース
JP4537993B2 (ja) * 2006-12-19 2010-09-08 本田技研工業株式会社 電圧監視回路
US20080157718A1 (en) * 2006-12-19 2008-07-03 Honda Motor Co., Ltd. Voltage monitor circuit
WO2012144373A1 (ja) 2011-04-21 2012-10-26 ルネサスエレクトロニクス株式会社 スイッチ回路、選択回路、及び電圧測定装置
JP5290476B1 (ja) * 2011-09-14 2013-09-18 本田技研工業株式会社 電圧監視回路及び該電圧監視回路を搭載した車両
WO2014078892A1 (en) * 2012-11-21 2014-05-30 Indyk Daniel A device and a test assembly for testing the integrity of a low voltage electrical network
CN104467774A (zh) * 2013-07-24 2015-03-25 赵恩海 一种采用固体开关的开关网络电路
US10353013B2 (en) * 2015-02-27 2019-07-16 Fujitsu Ten Limited Voltage detection device, voltage detection method, abnormality determination device, abnormality determination method, and battery pack system
JP6474643B2 (ja) * 2015-02-27 2019-02-27 株式会社デンソーテン 異常判定装置、異常判定方法および組電池システム
DE102020204400A1 (de) 2020-04-03 2021-10-07 Volkswagen Aktiengesellschaft Umladevorrichtung, Verfahren zum Betrieb einer Umladevorrichtung und Fahrzeug

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3518318B2 (ja) 1998-03-06 2004-04-12 松下電器産業株式会社 積層電圧計測装置
JPH11248757A (ja) 1998-03-06 1999-09-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd フライング・キャパシタ回路
JP3672183B2 (ja) 2000-11-20 2005-07-13 株式会社デンソー 組電池の電圧検出装置
JP4371769B2 (ja) * 2003-10-27 2009-11-25 株式会社ルネサステクノロジ 半導体回路デバイス及びデータ処理システム

Also Published As

Publication number Publication date
US20050206386A1 (en) 2005-09-22
JP2005265776A (ja) 2005-09-29
US7194362B2 (en) 2007-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4256807B2 (ja) スイッチング回路及び個別電圧計測装置
JP6981962B2 (ja) レギュレータ回路
US8098058B2 (en) Circuit arrangement comprising a load transistor and a measuring transistor
CN101441235B (zh) 用于开路电流限制器的系统和方法
KR960014972A (ko) 기록 드라이버 회로
JP4983377B2 (ja) 蓄電素子の電圧検出器
US9046911B2 (en) Variable voltage generation circuit
US20090121750A1 (en) Constant Current Drive Device
US8129856B2 (en) Sensor arrangement and method of supplying power to sensors therein
JP5576250B2 (ja) 電圧測定装置
JP4351585B2 (ja) スイッチング回路及び電圧計測回路
US20120206161A1 (en) Circuit having an external test voltage
JP5823098B2 (ja) セルバランスシステム
ATE513294T1 (de) Wechselstrommessung für einen widerstandsspeicher
JP2000193694A (ja) 組み電池の電圧検出装置
US7719283B2 (en) Switching circuit and voltage measuring circuit
US10535990B2 (en) Power supply device, detection circuit and power supply method thereof
JP2019120505A (ja) 半導体装置及び測定方法
JP4792933B2 (ja) 電流制御回路およびled駆動用半導体集積回路
JP4177216B2 (ja) スイッチング回路及び電圧計測回路
JP2004297965A (ja) 電源制御用半導体集積回路
US6255902B1 (en) Switch amplifier circuit
JP4295896B2 (ja) Cmos集積回路及びこれを用いたタイミング信号発生装置
JP2015012252A (ja) 電流検出回路
JP2007184065A (ja) 磁気記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060721

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081031

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081111

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090120

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090130

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4256807

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140206

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees