JP4205070B2 - 信号測定装置及び信号分析装置 - Google Patents

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Description

本発明は、信号をサンプリングしてデジタルデータに変換し、検波し、対数に変換して、その大きさを測定する信号測定装置及び、その信号の現れる確率や周波数分析を行う信号分析装置に関する。特に、信号に係るデジタルデータの対数変換をデジタル回路で行う技術、サンプリング間のデータの補間を行う技術及びそれらを用いた測定技術に係る。
従来、信号のレベル(パワー)を測定してdB(デシベル)単位で表示或いは出力しており、そのために、信号を検波器で検波した後に、その検波出力をログ変換(「対数増幅」とも言われる。)していた。そして、そのログ変換器のログ特性(ログ変換器の入力対出力特性)は、半導体素子で形成されることが多かった。しかし、そのログ特性の直線性、或いはオフセット値等がバラツキやすかったこと、さらに、周囲環境の影響を受けやすかったという問題があった(特許文献1、特許文献2を参照)。
そこで、特許文献1は、そのようなログ変換器を含む機器の校正を容易にする目的のため、ログ変換器を含む処理を、信号からサンプリングされて生成されたデジタルデータに対して、DSP(高速演算CPU)にログ変換処理の手順を含むプログラムを実行させている。
特許文献2のものは、サンプリンされ生成されたデジタルデータを、ログ特性にするための補正演算を行っている。
特開平9―257843号公報 特開平7−321582号公報 特開平10−170574号公報 特許第2920828号公報
上記の特許文献1については、直線性や安定度が改善されるが、高速演算用のCPUを用いているが、ソフトウェアによる方法であるがため、どうしてもプログラム実行に必要な処理時間がかかることが欠点であった。特に、逐次、変動する電波を測定するスペクトラムアナライザや、電子機器から発生される電磁波を測定して統計的処理を行う振幅確率測定(特許文献3を参照)等において、その処理時間がかかることが問題となっていた。
また、特許文献2について、ログ変換器そのものがなく、対象データを補正してログ特性の直線性を得ているので、その補正の対象データが、他の回路に依存することから、対数変換器を搭載した機器毎に、補正データを取得して、補正を行う必要があった。
また、上記、いずれの文献もA/D変換器により所定周期tsのクロックでサンプリングしてデジタルデータに変換しているため、そのクロック間のデータが抜けるという欠点があった。例えば、スペクトラムアナライザは、周波数掃引しながら受信選択した、その周波数の信号のレベルを縦軸、受信周波数(測定周波数)を横軸にして表示する。そのとき、スペクトラムアナライザは、クロック毎に受信周波数を対応して測定表示するが、そのクロック間に入った周波数及びその周波数に対応したレベルのデータが抜けてしまう。そうすると、そのクロック間にピーク値を有する電波があると、測定できないことになるおそれがあった。そうしたときは、従来、クロック単位の周波数スパンを狭く(表示したときは、拡大表示されることになる。)して測定して、電波を捕捉していた。
そこで、本発明の目的は、それらの欠点を無くすため、デジタル的にかつハード的構成、例えば、論理回路で、高速に良好なログ特性が得られる技術を提供することである。さらにサンプリング間隔に入るデジタルデータを補間で求める技術を提供することである。そして、それらの技術を用いた振幅確率測定又はスペクトラムアナライザ等の信号分析装置を提供することである。
本発明の目的を達成するため、本発明の発明者は、自らが参画した発明である特許文献4の発明に着眼し、これを、レベル測定におけるログ変換に適用できるように改良した。特許文献4は、レベル測定とは直接関係なく、電磁妨害波等の信号の時間幅を測定するものである。つまり、電磁妨害波を所定しきい値で2値化して、さらに時間幅を測定するため2進化カウンタでカウントして時系列的なビットデータに変換し、その後に、対数値を取得している。その対数値を取得する理由は、信号の狭い時間幅から広い時間幅までの広域な時間幅を、メモリをできるだけ少なくして、かつ高速に測定するためである。本発明では、この対数値を得るところを利用できるようにした。具体的手段は、次の通りである。
請求項1の発明は、入力信号を所定周期tsのクロックでWビットのデジタルデータに変換し、自乗検波して検波データとして出力するデータ変換部(100)と、
前記検波データを受けて、該検波データの仮数部を表す仮数データと指数部を表す指数データに、分離して出力する指数・仮数分離器(210)と、
前記仮数データでアクセスされて該仮数データに対応した対数値を出力する仮数値算出テーブル(220)と、
前記指数データを基に該指数データに対応した対数値を出力する指数値出力部(230)と、
該仮数データに対応した対数値及び該指数データに対応した対数値を合算し、前記検波データに応じた対数値を出力する合算器(240)とを備え、前記入力信号の振幅に対応した出力対数値を得る構成とした。
請求項2の発明は、請求項1に記載の発明において、前記指数値出力部は、前記指数データでアクセスされて前記指数データに対応した対数値を出力する指数値算出テーブル(230)を備えた。
請求項3の発明は、請求項1又は2に記載の発明において、前記指数・仮数分離器は、前記検波データを受けて、論理回路(211a、211b)によりその受信時の検波データの最高位ビットを判別し、その判別結果を出力する判定器(211)と、前記最高位ビットから所定数の下位ビットのデータを含む複数ビットのデータを選択し、選択された複数のビットデータを基に前記仮数部を表す仮数データとして出力する仮数選択器(212)と、前記最高位ビットを識別できる識別データに変換し、該識別データを前記指数部を表す指数データとして出力する指数決定器(213)と、を含む構成とした。
請求項4の発明は、請求項1、2又は3に記載の発明において、前記データ変換部と前記仮数・指数分離手段との間に、前記所定周期tsのクロックを受けて該所定周期tsの1/Nの間隔で前記データ変換部から出力される検波データを補間して補間値を前記仮数・指数分離手段へ送る補間部(500)を備えた。
請求項5の発明は、請求項4の発明において、前記補間部は、前記所定周期tsの間隔で出力される検波データで補間対象範囲の中心(mts)となる検波データを指定し、その補間対象範囲に周期ts/Nの抽出信号(mts±ppは0〜N/2の間の整数)を発生させ、補間対象範囲の中心の検波データ{ρ(mts)}及びそれに最近隣の検波データ{ρ((m−1)ts)、ρ((m+1)ts)}に、前記抽出信号の前記補間対象の中心から離間する幅(±p)に対応した重みづけをし、その重みづけした値をもとに、各抽出信号毎に前記補間値を生成する構成とした。
請求項6の発明は、請求項1〜5のいずれかに記載の発明において、前記データ変換部は、前記入力信号を前記所定周期tsのクロックでWビットのデジタルデータに変換するA/D変換部(110)と、
前記A/D変換部の出力を2つに分岐し、位相が90°異なる所定周波数で混合演算を行って、前記入力信号の周波数と前記所定周波数の差分の周波数で位相が直交する2つの直交成分を出力する直交検波手段(121)と、2つの直交成分をそれぞれ帯域制限するRBW部(122)と、RBW部から出力される2つの直交成分をそれぞれを自乗する自乗検手段(123)と、自乗検波手段の出力する2つの直交成分を加算する加算手段と、とを備えた。
請求項7の発明は、請求項1〜6のいずれかに記載の発明において、前記合算器から出力される出力対数値をアドレス値(k)として受けるメモリ(310)と、
前記メモリから前記アドレス値におけるデータ{Gn-1(k):nは、前回までのアクセス回数}を受けて、今回受けた回数を表す情報を含むデータ{G(k)}に変換して、前記メモリの同一アドレス値に記憶させるデータ変換器(320)と、前記メモリの最新のデータG(k)を受けて、各アドレスが前記出力対数値でアクセスを受けた回数{n(k)}に変換する頻度抽出部(330)と、を備え、前記頻度抽出部の出力を基に振幅確率を求める振幅確率演算部(340)と、備えた。
請求項8の発明は、入力RF信号を所望の周波数帯域を掃引しながら選択受信し、中間周波数信号に変換して出力するRF部(700)と、前記中間周波数信号を受けて、帯域制限して検波する中間周波数処理部(110、120)と、検波信号を対数変換するログ変換部(200)とを備え、表示部(600)に前記ログ変換部の出力を表示させる表示制御部(400)とを備えた、信号分析装置において、
前記中間周波数処理部は、
前記中間周波数信号を所定周期tsのクロックでWビットのデジタルデータに変換するA/D変換部(110)と、
前記A/D変換部の出力を2つに分岐し、位相が90°異なる前記中間周波数で混合演算を行って、前記入力信号の周波数と前記所定周波数の差分の周波数で位相が直交する2つの直交成分を出力する直交検波手段(121)と、2つの直交成分をそれぞれ帯域制限するRBW部(122)と、RBW部から出力される2つの直交成分をそれぞれを自乗する自乗検波手段(123)と、自乗検波手段の出力を加算して検波データとして出力する加算手段(124)とを備え
前記ログ変換部は、
前記検波データを受けて、該検波データの仮数部を表す仮数データと指数部を表す指数データに分離して出力する指数・仮数分離器(210)と、
前記仮数データでアクセスされて該仮数データに対応した対数値を出力する仮数値算出テーブル(220)と、
前記指数データを基に該指数データに対応した対数値を出力する指数値出力部(230)と、
該仮数データに対応した対数値及び該指数データに対応した対数値を合算し、前記検波データに応じた対数値を出力する合算器(240)とを備えた。
請求項9の発明は、請求項7に記載の発明において、前記指数値出力部は、前記指数データでアクセスされて該指数データに対応した対数値を出力する指数値算出テーブル(230)を備えた。
請求項10の発明は、請求項8又は9に記載の発明において、前記合算手段から出力される出力対数値をアドレス値(k)として受けるメモリ(310)と、
前記メモリから前記アドレス値におけるデータ{Gn-1(k):nは、前回までのアクセス回数}を受けて、今回受けた回数を表す情報を含むデータ{G(k)}に変換して、前記メモリの同一アドレス値に記憶させるデータ変換器(320)と、前記メモリの最新のデータG(k)を受けて、前記RF部が選択受信した周波数に対応して、各アドレスが前記出力対数値でアクセスを受けた回数{n(k)}に変換する頻度抽出部(330)と、を備え、前記頻度抽出部の出力を基に振幅確率を求める振幅確率演算部(340)と、備え、
前記表示制御部は、表示手段に対して、前記ログ変換部の出力又は振幅確率演算部の出力を選択して、横軸を前記選択受信時の周波数とする座標上に表示させる構成とした。
請求項11の発明は、請求項10に記載の発明において、前記中間周波数処理部と前記ログ変換部との間に、前記所定周期tsのクロックを受けて該所定周期tsの1/Nの間隔で前記データ変換部から出力される検波データを補間して補間値を前記仮数・指数分離手段へ送る補間部(500)を備え、
前記表示制御部は、前記ログ変換部の出力又は振幅確率演算部の出力を選択して、前記選択受信時の周波数を前記所定周期ts間隔に対応した周波数、又は周期ts/N間隔に対応した周波数のいずれかで表示する構成とした。
請求項12の発明は、請求項11に記載の発明において、前記表示制御部は、前記ログ変換部の出力又は振幅確率演算部の出力を選択して、前記周波数軸を前記所定周期ts間隔に対応した周波数で表示させ、かつその一部を周期ts/N間隔に対応した周波数で拡大表示させる構成とした。
請求項13の発明は、請求項11又は12のいずれかに記載の発明において、前記補間部は、所定周期tsの間隔で出力される検波データで補間対象範囲の中心(mts)となる検波データを指定し、その補間対象範囲に周期ts/Nの抽出信号(mts±ppは0〜N/2の間の整数)を発生させ、補間対象範囲の中心の検波データ{ρ(mts)}及びそれに最近隣の検波データ{ρ((m−1)ts)、ρ((m+1)ts)}に、前記抽出信号の前記補間対象の中心から離間する幅(±p)に対応した重みづけをし、その重みづけした値をもとに、各抽出信号毎に前記補間値を生成する構成とした。
本発明によれば、入力信号の振幅を、例えば論理回路等のハード的構成により、高速に良好なログ特性で測定できる。さらに、サンプリング間隔に入るデジタルデータを補間して求めることができるので、サンプリング間隔により、測定漏れを減少化できる。
本発明に係る測定装置及び分析装置の実施形態について、図面を参照しながら説明する。図1は、測定装置に係る実施形態1の全体の機能構成を示す図である。図14は、図1におけるログ変換部200の他の例を示す図である。図2は、図1におけるログ変換部200の構成を説明するための図である。図3は、図2における判定器の構成を説明するための図である。図4は、図3の論理回路の構成原理を説明するための図である。図5は、データの補間に係る実施形態2の構成を説明するための図である。図6は、データの補間を説明するための図である。図7は、補間部500の詳細構成例を示す図である。図8は、実施形態1の応用例を説明するための図である。図9は、APD300(振幅確率測定部)の構成を説明するための図である。図10は、本発明の信号分析装置に係る実施形態3の構成を説明するための図である。図11は、図10の実施形態3による表示例を説明するための図である。図12は、APD300の出力例を示す図である。図13は、判定器211の判定結果の例を示す図である。
[実施形態1]
図1に基づいて、入力側から出力側に動作順に構成・動作を説明する。
図1において、データ変換部100は、A/D変換部110及びIF検波部120で構成される。A/D変換部110は、入力信号fIN(周波数帯域を±B/2)を受け、クロック発生器111からの周期ts(周波数fs、例えば100MHz)のクロックでサンプリングし、例えばW=Lビットのデジタルデータに変換する。
IF検波部120は、直交検波手段121,RBW部122,自乗検波手段123及び加算器124で構成され、デジタル的に処理される。直交検波手段121では、デジタル化された入力信号fINを基に位相が直交した低周波信号を得る。周波数生成手段121dは、周波数信号であって、上記入力信号とほぼ同じ周波数の周波数信号fIFを生成し、これを受けた移相器121は、位相が直交する2つの周波数信号fIFにして、それぞれをミキサ手段121a、121bへ送る。ミキサ手段121a、121bからは、2つの直交信号、I∝sin2πfbと、Q∝cos2πfb、ただし、周波数fb=fIN−fIF(帯域B/2)が出力される。そして、RBW部122のローパスフィルタ122a及び122bでそれぞれ分解能に必要な帯域(RBW)で必要な信号だけが出力されてくる。なお、ローパスフィルタ122a及び122bはクロック周期tsで動作するデジタルフィルタで構成され、そのクロックの周期tsを可変することにより、分解能帯域幅が可変される。その帯域を自乗手段123a及び123bは、それぞれ、ローパスフィルタ122a及び122bを自乗して出力する。加算器124は、それを加算することにより(ρ(t)=I+Q)、結果として入力信号fINのレベル(パワー)値をデジタルデータ(2Lビット)としてログ変換部200へ出力する。
ログ変換部200には、仮数・指数分離器210、仮数値算出テーブル220、指数値算出テーブル230及び合算器240は、デジタル回路及びメモリ等でハード構成される。以下、先ず簡単に構成動作を説明する。詳細は後記する。
加算器124から入力されるデジタルデータは、2Lビットのデータで、例えば、ρ≒M2、E=2L−1で近似的に表される。仮数・指数分離器210は、論理回路で仮数部Mを表すデータmと指数部2を表すデータdとに分離する。仮数値算出テーブル220は、メモリでなり、予め仮数部Mを表すデータmに対応して仮数部Mに対する対数値を記憶して(ルックアップテーブル)、仮数・指数分離器2からデータmの値に応じたアドレスをアクセスされることにより、データmに対応した対数値10/Δ×logM(1/Δは係数)を出力する。同様に、指数値算出テーブル230は、メモリでなり、予め指数部2を表すデータdに対応して指数部2に対する対数値を記憶して(ルックアップテーブル)、仮数・指数分離器210からデータdの値に対応したアドレスをアクセスされることにより、データdに対応した対数値E/Δ×log2(対数値は、いずれも常用対数)を出力する。つまり、合算器240から、対数値10/Δ×logρが出力される。
指数値算出テーブル230の代わりに、図14に示すように、マルチプレクサ230aが、仮数・指数分離器210から指数部2を表すデータdとして値「E」(指数値)を受けて、定数値記憶手段230bから読み出した定数値log2/Δとを掛け算して、E/Δ×log2を出力するようにしても良い。指数値算出テーブル230と、マルチプレクサ230a及び定数値記憶手段230bは、それぞれ、請求項に記載の指数値出力部を構成する。
対数値10/Δ×logρは、表示制御部400により表示部600にdB単位で表示される。
APD300は、対数値10/Δ×logρから振幅確率(分布)を測定する測定部であって、一例として、図9にその概略構成を示す。図9では、入力データ10/Δ×logρを簡単にDと表し、この値がメモリ310のアドレスkに相当するとして、データDと表す。メモリ310がデータDでアクセスされると、データ変換器320はアドレスkに記憶されていたデータGn-1(k)(Gn-1(k)は、前回までにアドレスkがn−1回のアクセスを受けていたことを示すデータ)を受け、今回アクセスを受けたことを表すデータG(k)に変換して、アドレスkに再記憶させる(更新記憶させる)。そして、所定期間毎に頻度抽出部330は、メモリ330からデータG(k)を読み出し、アドレスがアクセスされた回数n(k)を抽出する。n(k)は、アドレスkがレベルの大きさ(ログ変換の出力であるからdB単位で表される)であるから、その大きさ(振幅)の入力信号の所定時間における発生回数を表す。振幅確率演算部340は、この発生回数を所定時間毎に観測して時間率として算出している。
また、APD300は、図1の合算器240の出力からではなく、仮数・指数分離器210の出力を受けて(図1の点線)、振幅確率(分布)を求めるようにしてもよい。APD300の動作そのものは、上記と同じである。ただし、仮数・指数分離器210の出力を受ける方が合算器240の出力を受けて処理する方が、扱うデータのビット数が少なくできることからして、規模的に簡素に構成できる。
なお、APD(振幅確率測定部)については、詳細は、本発明者が参画している別発明特開平8−340643に記載されており、その技術がそのまま利用できる。上記データGは、いわば特開平8−340643に記載の多項式に相当する。
表示制御部400は、所定のフォーマットで、APD300から出力されるデータを表示部600へ表示させる。その例を図12に示す。図12は、縦軸が入力信号である妨害波の大きさ(デシベル)を示し、横軸は時間率(%)を示し、その座標上で、ある周波数成分(fIN)の電磁波の確率分布を示している。ただし、APD300が仮数・指数分離器210の出力を受けて振幅確率(分布)を求める場合は、縦軸はリニア表示となる。
[実施形態1の応用例]
図8(a)に実施形態1の応用例としての構成示す。これは、図1におけるIF検波部120、ログ変換200及びAPD300の直列接続を複数(k個)を、パラレルに接続し、各IF検波部120の周波数生成部12dの周波数を少しずつずらしたものである。各IF検波部120のRBW部112の分解能帯域幅を同じBRBWとすれば、周波数生成部12dの周波数を、例えば、fIF1、IF2=fIF1+2BRBW、IF3=fIF2+2BRBW、・・・・のように2BRBWずつ異なった周波数にすれば、入力周波数範囲fIF1〜fIFkにわたって、振幅確率を測定できる。この結果の、表示例を図8(b)に示す。図8(b)は、縦軸は信号レベル(dBm)、横軸が周波数で、APDの時間率を10%以下、10〜50%、50〜90%、90%以上の4つのエリアに分けて表示したものである。いわば、図12において、パラメータ毎に、時間率を区分けして表示したものに相当する。なお、図8(a)におけるAPD300の前の、ログ変換部200の出力を表示させれば、入力周波数範囲fIF1〜fIFkにわたるスペクトラムを表示することができる。また、図8(a)では並列に配列された複数のIF検波部120によって、周波数分析されているが、これをファーストフーリエ変換によって実現することもできる。
なお、図1において、図示していないが、表示制御部400の前にメモリを置いて、ログ変換部200の出力又はAPD300の出力を記憶させた後、読み出して各種の加工して表示させることもできる。また、このようなメモリをログ変換部200の前に入っていても良い。
[ログ変換部200の詳細説明]
ログ変換部200の仮数・指数分離器210は、入力データρを仮数部Mと指数部2に分離し、それぞれを表すデータm、データdを生成するためのものである。そのためにこの例では、入力データを浮動小数点形式に変換することを行っている。
一般には、2Lビットの2進数データzは、次の形式(固定小数点)で表される。
z=(Q・2)+(Q・2)+・・・・・・+(Q2L−1・22L−1
=Σ(Q・2
i=0〜2L−1までのいずれかの値(ビットの桁位置を表す)
=0又は1 (各桁の値を表すビットデータ)
これを実際に入力された信号についての2進数データzの指数部2を表すデータdは、0〜2L−1(2Lビット)の範囲にある整数であって、
≦z<2d+1
を満たす値であり、データzの中でビットデータQが「1」で最高位の桁値である。
2進数データzをこのデータdで表現すると、次のようになる。
z=2+Σ(Q・2)、Σはi=0〜2d−1までの総和。
=2(1+Σ(Qd−i・2−i))、Σはi=0〜∞までの総和。
ここで、2進数データzを浮動小数点形式で表すときの有効桁を4ビット、つまり、際上位の桁の「1」に続く桁の3ビットまでとしたとき、次の式で表される。
=2[1+m/2
ここで、m=(Qd−1・2)+(Qd−2・2)+(Qd−3・2
つまり、浮動小数点変換は、データρを、仮数部Mを表すrビットのデータm、指数部2を表すgビットのデータdからなる浮動小数点形式に変換されたときのデータρは、次の式で表される。
ρ=z=(1+m/2)2
これをもともとの入力信号のデータρ=M2 と対比すると、次のように表される。
M:1+m/2
E:d
つまりは、データmとデータdから、仮数部Mと指数部2を決定できる。
上記式で、仮数部Mを表すデータmのビット数rは、多ければ多いほど、正確であるが、許容誤差範囲に入ればよいので、後記するように8ビットもあれば十分である(ここでは、3ビットで動作説明する)。指数部dは、指数Eが2L=32ビットとすれば,これを2進数で表すとすれば5ビット(=g)で足りる。これは、言い換えればデータdが2L個の値のうちどの値かを識別できる2進数の値に変換している。
以上のことから、仮数・指数分離器210では、まず上記のデータ仮数部を表すデータm、指数部を表すデータdに分離して出力する。そのため、図2に示すように、判定器211では最高位のビット(桁)を判別し、仮数選択器212は、その判別結果を選択信号として、データρから最高位の下位桁に続く3ビットのデータmを選択して出力し、指数決定器213は、判別された最高位の桁値を5ビットのデータdを生成する。
判定器211の構成を図3に示す。図3は、データρに応じてビットデータが「1」になった桁があれば、それ以下の桁のビットデータを「1」にすることにより、結果として最高位の桁数を判別するものである。図3の原理を先に図4を用いて説明する。
図4(a)は、OR論理素子により構成された2ビット判定回路であり、その論理値表を図4(b)に示す。なお、図3において、例えば(c≧2)は、その論理が真値の場合は「1」になることを示し、偽の場合は「0」になることを示すものとする。図4(b)の論理値から分かるように論理結果(c≧2)が「1」のときは、下位ビット制御ゲートにより、必ずその下位の論理結果(c≧2)は「1」になるように構成されている。図4(c)の4ビット判定回路は、図2(a)の2ビット判定回路を新たな下位ビット制御ゲートで梯子形に接続することにより、拡張したものである。つまり、Hビットの判定回路とHビットの判定回路をH個のOR論理素子で拡張して2Hビットの判定回路にできる。
図3における論理回路は、図4(a)や(b)の構成と同じようにして拡張することにより、2つの同じLビットの判定回路211a及び211bを構成し、さらに判定回路211bの判定結果のそれぞれをさらにL個のOR論理素子の一方に接続し、L個のOR論理素子の他方は、共通に接続されて論理回路211aの最下位の判定結果が入力される構成とされている。結果として2Lビットのデータρの桁を判定する判定回路を構成している。その判定結果の論理値表を図13に示す。図13は、簡単のため8ビットデータについての例である。判定結果の「1」の列の左端の「1」が最高位の桁位置を示す。下線の3桁は、仮数部分を構成するビットであり、仮数選択器212で選択されるビット(位置)である(但し、そのビットにおけるビットデータはρから選択される)。
指数決定器213は、判定器211から出力される最高位の桁位置を示す論理値から、それを5ビットのデータに変換するためのものである。例えば、最高位が(c≧2)=1の結果であれば、この指数「3」を「00011」の5ビットデータに変換して、指数部を表すデータdとして出力する。この変換の仕方の例としては、特許文献4の2分木マルチプレクサがそのまま使用できるので、説明を省略する。
仮数選択部212は、図13に示す論理値において、最高位に続く3ビットのビットデータを入力のデータρから選択して、この3ビットを仮数部を表すデータmとして出力する。この選択の仕方の例も、特許文献4の2分木マルチプレクサがそのまま使用できるので、説明を省略する。
[ログ変換部200の簡素化]
上記ログ変換部200では、浮動小数点形式に変換し、指数部と仮数部とを別々にして、2つのルックアップテーブル(仮数値算出テーブル220、指数値算出テーブル230)に入力させて、対数値に変換しているが、これは、ログ変換の構成の簡素化に貢献している。例えば、IF検波部120における直交成分I、QをL=16ビット符号付き整数(―215以上、 215−1以下の整数)で表すとき、ρ=I+Qは231以下の正整数になるから、32ビット正整数(0以上232−1以下の整数で表される。このとき、対数値の分解能を16ビットとすると、231語のメモリが必要になる。
これを上記のように、例えば、指数部を5ビットと仮数部8ビットからなる13ビットの浮動小数点形式に変換することにより、
ρ≒M2、M:{0,1/…255}、E:{0,1/・・31}
とすると、
10/Δ×Logρ=(10/Δ・LogM)+(3.010299/Δ・E)
で表され、左辺の第1項と第2項のそれぞれの値をルックアップテーブルから別々に読み出して加算する構成とすることにより、1語が16ビットから構成される256+32=285語のメモリで達成できる効果がある。これはLSI化するときに非常に有利である。なお、このときの誤差を考察すると、誤差は、次のように示され、ほとんど問題はない。
10Log(1+1/2)=0.017dB
誤差を少なくしたい場合は、仮数のビット数を多くすると良い。
[実施形態2]
実施形態2は、実施形態1のIF検波部120とログ変換部200との間に、図5に示すように補間部500を設けた例である。
補間部500の必要性を先ず説明する。図6(a)は、時間領域の測定データを示し、縦軸が振幅の大きさ(リニア)、横軸が時間を示す。図6(a)の波形は、三角状波形でAM変調を受けた高周波の入力信号を受けて、IF検波部120で検波して得られた波形(ρ(t)=I+Q)で、AM変調波の包絡線である。この図の波形をログ変換すると、図6(b)のような波形が得られる(この場合は、縦軸がログである。)。したがって、図6(a)のA点のように振幅が非常に小さくなると、図6(b)のA点のように急激に小さい極値を示す。しかし、実際はデジタル化すると、A/D変換部110によるクロックtsおきのサンプリング点(図の黒点の個所)の間に入って、測定されない可能性がある(なお、図6(a)(b)(c)の横軸におけるサンプリング間隔tsの表示は、理解できるように粗く、示してある。)。
また、図6(c)のように、実施形態1をスペクトラムアナライザに適用(詳しくは後記)した場合の測定例で、横軸が周波数、縦軸がレベル(dB表示)で示してある。この場合も、ある電波のピーク点がサンプリング間隔ts間に入ってしまうと、その点の周波数を測定できないことがある。
補間部500は、上記のようにサンプリング間隔ts間にあるデータをその近傍のサンプリング点のデータを基に補間して得ようとするものである。例えば、図6(b)に示すように、サンプリング間隔tsを0.1ts間隔で、サンプリング点mtsを中心にその近傍−0.5ts〜+0.4ts間を補正するというものである。これを、各サンプリング点について行えば、全体として、0.1ts間隔のデータを取得することができる(ts/10間隔で説明したが、一般的に,ts/2N、Nは整数で補間が行える。)。
補間部500の詳細回路例を図7に示す。レジスタ510においては、レジスタ1、レジスタ2、レジスタ3で、補間しようとする補間範囲の中心となるデータρ[(m)ts]の最近傍のデータρ[(m+1)]及びデータρ[(m−1)]を一時的に記憶しておく。一方、補間位置信号発生器520が、ts/osr(補間間隔、例えば、osr=10として、0.1ts。)毎に、補間タイミングh=0,1,2,3、・・・・9を発生し、係数算出テーブルは、p=―1/2+h/osrとして、1/2・p(p+1)、及びp、1/2・p(p−1)の係数値を出力する。そして、マルチプレクサ541、542、及び543、並びに加算器544、545、及び546からなる合算部540によって、次のデータρ[(m+p)ts]を出力する。
ρ[(m+p)ts]≒1/2・p(p+1)・ρ[(m+1)ts]
+(1−p)・[(m)ts]
+1/2・p(p―1)・ρ[(m-1)ts]
なお、上式でosr=10としたときは、補間間隔は0.1tsで、補間タイミングh=5で、p=0となり、ρ[(m+p)ts]=ρ[(m)ts]となる。つまり、図6(b)のmtsの点を中心とした補間点(理解しやすように拡大した目盛点を参照)―0.5ts〜+0.4tsのデータρを取得できる。
なお、補間部500の使い方として、上記のような使い方以外に、例えば、従来ts間隔で測定していたところを、10ts間隔で測定し(A/D変換部110のクロックを10tsとする。)、ts間隔で補間データを得ることもできる。この場合は、デジタルフィルタで構成されるRBW122の処理負担を軽減させることができる。もちろん、補間しようとするデータが10ts間隔で連続していることが条件である。
[実施形態3]
実施形態3は、上記説明のログ変換部200、補間部500、及びAPD300を信号分析装置、例えば、スペクトラムアナライザに使用した形態である。その構成を図10に示す。図10のブロックにおいて、図1及び図5で説明したのと同一符号のブロックは、同一機能を示す。また、実施形態3には、実施形態1,2の内容がほとんど適用可能である。
図10で、RF部900は、入力RF周波数fRFを所定範囲にわたって掃引しながら中間周波数信号fINに変換することによって選択受信する受信部である。掃引部は、シーケンシャル制御部800からの指示により、fst(スタート周波数)からfsp(ストップ周波数)の周波数範囲を示す情報を受けて、掃引時間tspanでローカルOSCの発振周波数を(fst+fIN)から(fsp+fIN)まで掃引させる。ミキサ部は、入力RF周波数fRF=fst〜fsp(この間を「周波数スパン」という。)を受けてローカルOSCの発振周波数とミキシングし、中間周波数信号fINをA/D変換部110へ出力する。A/D変換部110は、1掃引あたりクロックts間隔でL=tspan/ts個のデジタルデータを出力する。周期tsあたりの周波数間隔は(fst−fsp)/L(Hz)となる。
シーケンシャル制御部800は、パネルの操作部(不図示)から、測定対象とする所望の周波数スパン範囲(周波数スパン)、その周波数スパンを掃引するための所望の掃引時間tspanを受けて、クロック周期ts等を決定し、各部の動作タイミングを制御する。
A/D変換部110の出力は、IF検波部120で、分解能帯域幅で帯域制限され、自乗されて出力される。補間部500は、IF検波部120から出力される自乗検波の波形を、例えば、0.1ts間隔(osr=10)で補間近似したデータを出力する(ts間隔のデータは、当然ながら得られる。)。周波数間隔で言えば、(fst−fsp)/10L(Hz)の細かさのデータを得ことができる。
補間部500の出力は、ログ変換部200で振幅(レベル)がログ変換され、そのログ変換された振幅が(fst−fsp)/10L(Hz)の周波数間隔で記憶部700に記憶される。表示制御部400は、記憶部700からデータを読み出して表示部600に、例えば、図11に示すように表示させる。横軸の周波数情報(又は、対応した時間情報ts、0.1ts)は、シーケンシャル制御部800から受け取る。
図11の下段のスペクトラム波形は、横軸が周波数スパン(fst−fsp)のスペクトラムをdBm単位の縦軸に表示したもので、横軸は、包絡線で結ばれているが、例え512ポイントのデータであり、ポイントの周波数間隔は(fst−fsp)/L(Hz)、時間間隔ではtsである。図11の下段の点線枠は、表示制御手段400がパネルの操作手段(不図示)により指示されたデルタマーカ(幅及び位置が可変とされたマーカ)を生成し、表示したものである。図11の上段のスペクトラム表示は、パネルから指示されたデルタマーカの幅に相当する周波数範囲f−fにある(fst−fsp)/10L(Hz)間隔のデータを記憶部700から読み出して、同じ横軸512ポイントに拡大表示させたものである。
従来のスペクトラムアナライザでは、周波数スパンfst−fspで掃引測定し、その後、周波数スパンf−fで掃引測定することによって、図11の表示が可能であるが、実施形態3では、補間部500によって、周波数スパンfst−fspの一度の掃引測定で表示が可能である。
また、APD300は、周波数スパンfst−fspでの掃引測定を時間率に必要な回数分行うことにより、(fst−fsp)/L(Hz)間隔、又は(fst−fsp)/10L(Hz)間隔の周波数をパラメータとした振幅確率を演算して出力する。表示制御部400は、APD300の演算結果を受けて、図12に示すような表示、又は図8(b)に示すような表示を行わせる。ただし、図8(b)の場合の横軸は、fIN1、IN2、・・・・・の代わりに、例えば、周波数fstをスタートとして、(fst−fsp)/L(Hz)間隔となる。つまり、入力RF信号や妨害波の周波数成分と振幅確率(時間率)の分布を測定、表示することができる。
なお、図10,図11は、スペクトラムアナライザに限らず、回路網に信号を送り、回路網からの信号を受けてその回路網を分析するネットワークアナライザ等においても、同様に利用できる。また、本発明は、例えば、回転や、振動、その他、電気信号に変換し、その大きさを測定するもの、対数値に変換するものであれば、適用できる。
本発明の信号測定装置に係る実施形態1の全体の機能構成を示す図である。 図1におけるログ変換部200の構成を説明するための図である。 図2における判定器211の構成を説明するための図である。 図3の判定器211を構成する論理回路の構成を説明するための図である。 データの補間に係る実施形態2の構成を説明するための図である。 データの補間を説明するための図である。 補間部500の構成を示す図である。 実施形態1の応用例を説明するための図である。 振幅確率演算部(APD)300の構成を説明するための図である。 本発明の信号分析装置に係る実施形態3の構成を説明するための図である。 図10の実施形態3による表示例を説明するための図である。 APD300(振幅確率測定部)の出力(表示)例を示す図である。 図2の判定器211の論理値例を示す図である。 図1のログ変換部200の他の実施例の構成を示す図である。
符号の説明
100 データ変換部
110 A/D変換部
120 IF検波部
200 ログ変換部
210 仮数・指数分離器
220 仮数値算出テーブル
230 指数値算出テーブル(指数値出力部)
240 合算器
300 APD(振幅確率測定部)
400 表示制御部
500 補間部
600 表示部
700 記憶部
800 シーケンシャル制御部

Claims (13)

  1. 入力信号を所定周期tsのクロックでWビットのデジタルデータに変換し、自乗検波して検波データとして出力するデータ変換部(100)と、
    前記検波データを受けて、該検波データの仮数部を表す仮数データと指数部を表す指数データに、分離して出力する指数・仮数分離器(210)と、
    前記仮数データでアクセスされて該仮数データに対応した対数値を出力する仮数値算出テーブル(220)と、
    前記指数データを基に該指数データに対応した対数値を出力する指数値出力部(230)と、
    該仮数データに対応した対数値及び該指数データに対応した対数値を合算し、前記検波データに応じた対数値を出力する合算器(240)とを備え、前記入力信号の振幅に対応した出力対数値を得ることを特徴とする信号測定装置。
  2. 前記指数値出力部は、前記指数データでアクセスされて前記指数データに対応した対数値を出力する指数値算出テーブル(230)を備えた請求項1に記載の信号測定装置。
  3. 前記指数・仮数分離器は、前記検波データを受けて、論理回路(211a、211b)によりその検波データの最高位ビットを判別し、その判別結果を出力する判定器(211)と、前記最高位ビットから所定数の下位ビットのデータを含む複数ビットのデータを選択し、選択された複数のビットデータを基に前記仮数部を表す仮数データとして出力する仮数選択器(212)と、前記最高位ビットを識別できる識別データに変換し、該識別データを前記指数部を表す指数データとして出力する指数決定器(213)と、を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の信号測定装置。
  4. 前記データ変換部と前記仮数・指数分離手段との間に、前記所定周期tsのクロックを受けて該所定周期tsの1/Nの間隔で前記データ変換部から出力される検波データを補間して補間値を前記仮数・指数分離手段へ送る補間部(500)を備えた請求項1、2又は3に記載の信号測定装置。
  5. 前記補間部は、前記所定周期tsの間隔で出力される検波データで補間対象範囲の中心(mts)となる検波データを指定し、その補間対象範囲に周期ts/Nの抽出信号(mts±ppは0〜N/2の間の整数)を発生させ、補間対象範囲の中心の検波データ{ρ(mts)}及びそれに最近隣の検波データ{ρ((m−1)ts)、ρ((m+1)ts)}に、前記抽出信号の前記補間対象の中心から離間する幅(±p)に対応した重みづけをし、その重みづけした値をもとに、各抽出信号毎に前記補間値を生成することを特徴とする請求項4に記載の信号測定装置。
  6. 前記データ変換部は、前記入力信号を前記所定周期tsのクロックでWビットのデジタルデータに変換するA/D変換部(110)と、
    前記A/D変換部の出力を2つに分岐し、位相が90°異なる所定周波数で混合演算を行って、前記入力信号の周波数と前記所定周波数の差分の周波数で位相が直交する2つの直交成分を出力する直交検波手段(121)と、2つの直交成分をそれぞれ帯域制限するRBW部(122)と、RBW部から出力される2つの直交成分をそれぞれを自乗する自乗検波手段(123)と、自乗検波手段の出力する2つの直交成分を加算する加算手段と、を備えた請求項1〜5のいずれか1つの請求項に記載の信号測定装置。
  7. 前記合算器から出力される出力対数値をアドレス値(k)として受けるメモリ(310)と、
    前記メモリから前記アドレス値におけるデータ{Gn-1(k):nは、前回までのアクセス回数}を受けて、今回受けた回数を表す情報を含むデータ{G(k)}に変換して、前記メモリの同一アドレス値に記憶させるデータ変換器(320)と、前記メモリの最新のデータG(k)を受けて、各アドレスが前記出力対数値でアクセスを受けた回数{n(k)}に変換する頻度抽出部(330)と、を備え、前記頻度抽出部の出力を基に振幅確率を求める振幅確率演算部(340)と、を備えた請求項1〜6のいずれか1つの請求項に記載の信号測定装置。
  8. 入力RF信号を所望の周波数帯域を掃引しながら選択受信し、中間周波数信号に変換して出力するRF部(700)と、前記中間周波数信号を受けて、帯域制限して検波する中間周波数処理部(110、120)と、検波信号を対数変換するログ変換部(200)とを備え、表示部(600)に前記ログ変換部の出力を表示させる表示制御部(400)とを備えた、信号分析装置において、
    前記中間周波数処理部は、
    前記中間周波数信号を所定周期tsのクロックでWビットのデジタルデータに変換するA/D変換部(110)と、
    前記A/D変換部の出力を2つに分岐し、位相が90°異なる前記中間周波数で混合演算を行って、前記入力信号の周波数と前記所定周波数の差分の周波数で位相が直交する2つの直交成分を出力する直交検波手段(121)と、2つの直交成分をそれぞれ帯域制限するRBW部(122)と、RBW部から出力される2つの直交成分をそれぞれを自乗する自乗検波手段(123)と、自乗検波手段から出力される前記2つの直交成分を加算して検波データとして出力する加算手段(124)とを備え
    前記ログ変換部は、
    前記検波データを受けて、該検波データの仮数部を表す仮数データと指数部を表す指数データに分離して出力する指数・仮数分離器(210)と、
    前記仮数データでアクセスされて該仮数データに対応した対数値を出力する仮数値算出テーブル(220)と、
    前記指数データを基に該指数データに対応した対数値を出力する指数値出力部(230)と、
    該仮数データに対応した対数値及び該指数データに対応した対数値を合算し、前記検波データに応じた対数値を出力する合算器(240)とを備えた信号分析装置。
  9. 前記指数値出力部は、前記指数データでアクセスされて前記指数データに対応した対数値を出力する指数値算出テーブル(230)を備えた請求項8に記載の信号分析装置。
  10. 前記合算手段から出力される出力対数値をアドレス値(k)として受けるメモリ(310)と、
    前記メモリから前記アドレス値におけるデータ{Gn-1(k):nは、前回までのアクセス回数}を受けて、今回受けた回数を表す情報を含むデータ{G(k)}に変換して、前記メモリの同一アドレス値に記憶させるデータ変換器(320)と、前記メモリの最新のデータG(k)を受けて、前記RF部が選択受信した周波数に対応して、各アドレスが前記出力対数値でアクセスを受けた回数{n(k)}に変換する頻度抽出部(330)と、前記頻度抽出部の出力を基に振幅確率を求める振幅確率演算部(340)と、を備え、
    前記表示制御部は、表示手段に対して、前記ログ変換部の出力又は振幅確率演算部の出力を選択して、横軸を前記選択受信時の周波数とする座標上に表示させることを特徴とする請求項8又9に記載の信号分析装置。
  11. 前記中間周波数処理部と前記ログ変換部との間に、前記所定周期tsのクロックを受けて該所定周期tsの1/Nの間隔で前記データ変換部から出力される検波データを補間して補間値を前記仮数・指数分離手段へ送る補間部(500)を備え、
    前記表示制御部は、前記ログ変換部の出力又は振幅確率演算部の出力を選択して、前記選択受信時の周波数を前記所定周期ts間隔に対応した周波数、又は周期ts/N間隔に対応した周波数のいずれかで表示することを特徴とする請求項10に記載の信号分析装置。
  12. 前記表示制御部は、前記ログ変換部の出力又は振幅確率演算部の出力を選択して、前記周波数軸を前記所定周期ts間隔に対応した周波数で表示させ、かつその一部を周期ts/N間隔に対応した周波数で拡大表示させることを特徴とする請求項11に記載の信号分析装置。
  13. 前記補間部は、前記所定周期tsの間隔で出力される検波データで補間対象範囲の中心(mts)となる検波データを指定し、その補間対象範囲に周期ts/Nの抽出信号(mts±ppは0〜N/2の間の整数)を発生させ、補間対象範囲の中心の検波データ{ρ(mts)}及びそれに最近隣の検波データ{ρ((m−1)ts)、ρ((m+1)ts)}に、前記抽出信号の前記補間対象の中心から離間する幅(±p)に対応した重みづけをし、その重みづけした値をもとに、各抽出信号毎に前記補間値を生成することを特徴とする請求項11又は12に記載の信号分析装置。
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7227346B1 (en) * 2005-08-23 2007-06-05 Timing Solutions Corporation Two channel digital phase detector
JP2008232807A (ja) * 2007-03-20 2008-10-02 Anritsu Corp 信号分析装置
JP4812685B2 (ja) * 2007-04-27 2011-11-09 アンリツ株式会社 Apd測定装置及び信号測定装置
JP2009074922A (ja) * 2007-09-20 2009-04-09 Anritsu Corp 信号分析装置及びそれを用いたapd測定装置
JP2009133683A (ja) * 2007-11-29 2009-06-18 Anritsu Corp Apd測定装置
JP5011340B2 (ja) * 2009-03-31 2012-08-29 アンリツ株式会社 Apd測定装置
US8816673B1 (en) * 2011-05-24 2014-08-26 Anritsu Company Frequency extension module for microwave and millimeter wave spectrum analyzers
EP3163775B1 (en) * 2015-10-27 2020-06-03 Stichting IMEC Nederland Method and device for calculating average received power
RU2622232C1 (ru) * 2016-08-30 2017-06-13 Федеральное государственное унитарное предприятие "18 Центральный научно-исследовательский институт" Министерства обороны Российской Федерации Двухканальное устройство измерения амплитудно-временных и частотных параметров сигналов

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4737728A (en) * 1986-02-28 1988-04-12 Hitachi, Ltd. Digitally processed demodulator for quadrature modulated signals
US5257355A (en) * 1986-10-01 1993-10-26 Just Systems Corporation Method and apparatus for generating non-linearly interpolated data in a data stream
US4771232A (en) * 1988-01-04 1988-09-13 Paradyne Corporation Non-interruptive spectrum analyzer for digital modems
JP2613256B2 (ja) * 1988-05-25 1997-05-21 株式会社日立製作所 ディジタル復調装置
US5379241A (en) * 1993-12-23 1995-01-03 Genesis Microchip, Inc. Method and apparatus for quadratic interpolation
JPH07321582A (ja) 1994-05-27 1995-12-08 Advantest Corp 対数増幅回路
JP3294759B2 (ja) 1996-03-27 2002-06-24 アンリツ株式会社 スペクトラムアナライザ
US6112067A (en) * 1996-03-27 2000-08-29 Anritsu Corporation Radio communication analyzer suited for measurement of plurality of types of digital communication systems
JPH10164260A (ja) 1996-11-29 1998-06-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 変復調装置
JP3156152B2 (ja) 1996-12-05 2001-04-16 アンリツ株式会社 振幅確率分布測定装置
US5949695A (en) * 1997-01-10 1999-09-07 Harris Corporation Interpolator using a plurality of polynomial equations and associated methods
JP3338370B2 (ja) * 1998-05-14 2002-10-28 株式会社アドバンテスト 周波数分析方法及びこの方法を用いた掃引型スペクトラム・アナライザ
JP2920828B1 (ja) 1998-05-28 1999-07-19 アンリツ株式会社 時間幅分布測定装置
US6509728B1 (en) * 1998-05-28 2003-01-21 Anritsu Corporation Spectrum analyzer having function of displaying amplitude probability distribution effectively
KR20020021787A (ko) * 1999-04-22 2002-03-22 추후제출 표본 신호의 보간 중간값을 결정하기 위한 방법 및 장치
US6891904B1 (en) * 1999-11-12 2005-05-10 Anritsu Corporation Modulation signal analysis apparatus
US6950841B2 (en) * 2001-07-16 2005-09-27 Qualcomm Incorporated Logarithmic lookup tables

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