JP2000266792A - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JP2000266792A JP2000266792A JP11072251A JP7225199A JP2000266792A JP 2000266792 A JP2000266792 A JP 2000266792A JP 11072251 A JP11072251 A JP 11072251A JP 7225199 A JP7225199 A JP 7225199A JP 2000266792 A JP2000266792 A JP 2000266792A
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Abstract
表示する機能を有したスペクトラムアナライザを提供す
る。 【解決手段】本発明によるスペクトラムアナライザは、
被測定信号を所望の掃引情報に従って受信する信号受信
処理手段と、前記信号受信処理手段によって受信された
前記被測定信号を複数のしきい値に基づいて標本化する
ことにより、前記被測定信号の包絡線の標本値に対応す
る複数の出力コードを出力する標本化手段と、前記標本
化手段によって出力された前記複数の出力コードに対応
するヒストグラム群を測定するヒストグラム測定手段
と、前記ヒストグラム測定手段によって測定された前記
ヒストグラム群と前記所望の掃引情報とに基づいて前記
被測定信号の振幅確率分布(APD)を演算し、さらに
前記ヒストグラム群に対応する複数の階層を有する帯群
に分類するための演算手段と、前記演算手段によって演
算された前記複数の階層を有する帯群をそれぞれ異なる
状態で表示するべき領域として表示する表示手段とを具
備する。
Description
イザに係り、特に、電磁環境を統計的に評価するための
一つの尺度として、妨害波等の信号電界強度の振幅確率
分布(以下、APDと記す)、すなわち、妨害波等の信
号の包絡線のレベルが、予め、設定されたしきい値以上
になる時間率を有効的に表示する機能を有したスペクト
ラムアナライザに関する。
される携帯電話やパーソナルハンディホンステム(PH
S)等のデジタル通信やデジタル放送が急増している。
ために、国際無線障害特別委員会(CISPR)等で、
妨害波の測定法や許容値が審議されている。
容値は、主として妨害波の準尖頭値(QP値)で規定さ
れている。
する障害の程度に相関があるためである。
SPR等で1GHz以上の周波数帯における許容値とし
て審議されているピーク値が、デジタル通信やデジタル
放送の障害程度に相関があるとは言い難い。
す利用されようとしているデジタル通信/放送などを妨
害波から保護するためには、1GHz以上の周波数帯の
許容値をデジタルシステムの障害程度に相関のある指標
で決めることが望ましい。
ト誤り率(BER)で表現される。そして、妨害波によ
って引き起こされるデジタル回線のBER劣化が、妨害
波強度の振幅確率分布(APD:Amplitude
ProbabilityDistribution)か
ら推定できることが報告されている。
簡易に測定できれば、それがデジタル通信に対する障害
を評価する指標として最適であると考えられる。
古く、主に、空電の測定に利用されてきた。
路は半導体化され、高速化されてきたが、従来のAPD
測定回路121は、振幅の分解能を決めるレべルの数と
同数のコンパレータとカウンタが必要であった。
は、レベルの数に比例してコンパレータとカウンタを増
設しなければならないため、高分解能のAPD測定装置
は高価となり、EMI測定などに広範に利用される測定
器には向かなかった。
ための妨害波電界強度測定装置としてスペクトラムアナ
ライザを利用するものが知られていた。
価するための妨害波電界強度測定装置としてのスペクト
ラムアナライザの概略的な構成を示すブロック図であ
る。
クトラムアナライザは、フロントエンド101、バンド
パスフィルタ(BPF)102、ログビデオアンプ(L
VA)103、ピーク検出回路104、ボトム検出回路
105、演算部106、表示装置107を備えて構成さ
れている。
信回路であって、中間周波信号(IF)を得るための局
部発振器やミキサ等を含む周波数変換部を備えている。
受信された高周波妨害波等は、そのIF信号成分として
フロントエンド101から出力された後、BPF10
2、LVA103を介してピーク検出回路104及びボ
トム検出回路105に供給される。
検出回路105は、それぞれLVA103からの出力に
基いてIF信号の包絡線成分のピーク値及びボトム値を
検出する。
(t) とするとき、それのピーク値Pp(ti )ボトム値
Pb (ti )はそれぞれ、測定時間(ti ≦t<ti +
T)において、
供給される妨害波等の包絡線成分におけるピーク値Pp
(ti ),ボトム値Pb (ti )及びフロントエンド1
01からのフロントエンド状態番号i又はトリガ信号に
基いて表示装置107にそれらを表示するための所定の
演算処理を行う。
ナライザにおける表示装置107での表示例を示してい
る。
107では、演算部106からの妨害波等の包絡線成分
におけるピーク値Pp (ti )とボトム値Pb (ti )
とがフロントエンド状態番号iを0,1,2,…,Nw
−1(但し、Nw は周波数軸の分解能)と順番に変える
ことによって周波数軸上に沿って表示される。
(span)の中心周波数、f1 はスタート周波数、f
2 はストップ周波数である。
i ≦t<ti +T)において受信される高周波妨害波等
b (ti )とを周波数軸上に分析された存在として読み
とることができる。
b (ti )のPの領域をハッチングで埋め込むようにし
て表示していることにより、ピーク値Pp (ti )とボ
トム値Pb (ti )との間にP(t)の存在しているこ
とが分かり易くなされている。
たようなスペクトラムアナライザを利用した妨害波電界
強度測定装置では、電磁環境を統計的に評価するために
重要なファクターとなる測定時間(ti ≦t<ti +
T)内でのLVA103の出力信号P(t) 分布に基づく
APDそのものが表示されていないので、APDについ
ては何ら分からないという問題があった。
することも考えられるが、この手法では後で本発明によ
る領域識別表示手法との対比において詳しく説明するよ
うに、異なるしきい値の等高線に重なりが生じた場合に
いずれのしきい値の等高線に属している分布であるのか
が分かり辛いという問題がある。
えば、それぞれ異なる色帯のような複数の階層を有する
帯群による領域識別表示手法を採用することにより、以
上のような従来技術による問題点を解決してAPDを有
効的に表示する機能を有したスペクトラムアナライザを
提供することである。
例えば、それぞれ異なる色帯のような複数の階層を有す
る帯群による領域識別表示手法を採用することにより、
以上のような従来技術による問題点を解決してAPDを
有効的に表示可能とするスペクトラムアナライザによる
APD表示方法を提供することである。
題を解決するために、被測定信号を所望の掃引情報に従
って受信する信号受信処理手段と、前記信号受信処理手
段によって受信された前記被測定信号を複数のしきい値
に基づいて標本化することにより、前記被測定信号の包
絡線の標本値に対応する複数の出力コードを出力する標
本化手段と、前記標本化手段によって出力された前記複
数の出力コードに対応するヒストグラム群を測定するヒ
ストグラム測定手段と、前記ヒストグラム測定手段によ
って測定された前記ヒストグラム群と前記所望の掃引情
報とに基づいて前記被測定信号の振幅確率分布(AP
D)を演算し、さらに前記ヒストグラム群に対応する複
数の階層を有する帯群に分類するための演算手段と、前
記演算手段によって演算された前記複数の階層を有する
帯群をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として表
示する表示手段と、を具備するAPD表示機能を有する
スペクトラムアナライザが提供される。
るために、被測定信号を所望の掃引情報に従って受信す
るステップと、前記受信された前記被測定信号を複数の
しきい値に基づいて標本化することにより、前記被測定
信号の包絡線の標本値に対応する複数の出力コードを出
力するステップと、前記複数の出力コードに対応するヒ
ストグラム群を測定するステップと、前記ヒストグラム
群と前記所望の掃引情報とに基づいて、前記被測定信号
の振幅確率分布(APD)を演算し、さらに前記ヒスト
グラム群に対応する複数の階層を有する帯群に分類する
ステップと、前記複数の階層を有する帯群をそれぞれ異
なる状態で表示するべき領域として表示するステップ
と、を具備するスペクトラムアナライザによるAPD表
示方法が提供される。
るスペクトラムアナライザの一実施形態について説明す
る。
イザが適用される一実施形態の概略的な構成を示すブロ
ック図である。
トラムアナライザは、フロントエンド201、バンドパ
スフィルタ(BPF)202、ログビデオアンプ(LV
A)203、アナログ−デジタル変換器(ADC)20
4、標本化クロック発生器205、RAM207を含む
ヒストグラム測定回路206、演算部208、表示装置
209、制御部210、操作部211及び表示制御部2
12を備えて構成されている。
1の詳細構成を示すブロック図である。
トエンド201は、第1及び第2のBPF(1,2)2
01a,201d、第1及び第2の増幅部201b,2
01e、第1及び第2のミキサ201c,201f、第
1及び第2の局部発振器201h,201i及び局部発
振器制御回路201gを備えて構成されている。
部発振器制御回路201gに図1の操作部211から制
御部210を介して供給される後述するような所定の掃
引指令に基いて高周波入力fRFを中間周波信号fIFに変
換して出力する。
1h,201iからの第1及び第2の局発信号をfL1,
fL2としたとき
は、演算部208に対して掃引指令に対応するフロント
エンド状態番号i又はトリガ信号が出力されるようにな
されている。
fRFの受信周波数の信号をfIFの中間周波数の信号に変
換するダウンコンバータである。
びRF入力端子に入力する信号をそれぞれ
03の入力端の電圧は、
うな畳み込み積分を意味する。
3は、
A)203の入力の包絡線である。
増加函数とする。通常
部発振器201h,201iを含んでいて、fRFを掃引
する機能がある。
うに局部発振器201h,201iの状態を示すフロン
トエンド状態番号i又はトリガ信号を出力する。
で用いる記号一覧を説明しておく。 Re{x(t)}:RF入力信号、x(t) は複素数、tは時
刻、Reは実数部を意味する。
オアンプ入力信号、y(t) は複素数、
数)であって、前述したように、
2,…,M-1の値をもつ、kは標本番号
内容(データ)であって、次に示すような式
幅 a:RF入力の実効値振幅 fRF:受信周波数
…,Nw −1}に1対1に写象する函数(置換)を意味
する。
出力コードの集合
ら測定終了時刻ti +Tまでの測定時間T内において、
r(t)≧Rである時間率のことであり、APD(R)
と書くとき、Rは振幅閾値であり実効値電圧の次元をも
つ。
V )… ηX (a) :aの単調減少函数,0≦ηX (a) ≦1 ηX -1(d) :ηX の逆函数 0<d<1
態を示している。
波数掃引するときには、時刻t0 にてfRF=f1 から開
始し、時刻t0 +Tw にてfRF=f2 で完了する。
ト周波数、f2 をストップ周波数、Tw を掃引時間、t
0 を掃引開始時刻と呼ぶ。
数掃引する手法として、図3乃至図7に示すように連続
掃引、一時停留順次掃引、一時停留ランダム掃引、ゼロ
スパン掃引のすべて、又は一部を選択することができる
と共に、これらを操作部211からの要求毎又は制御部
210により自動的に繰り返す。
数fRF(t) は次のとおりである(図3参照)。
る。
である。
の式に示すように一定であり、周波数掃引はしない(図
5参照)
しているか、過渡状態(i=0)にあるか(不安定)を
示す。
1,2,…,Nw −1}をそれ自身に1対1写象する函
数(置換)とする。q-1をその逆写象とする。q-1(q
(i))=iである。
置換である。
す方法(図6参照)と、qを変えて繰り返す方法とし
て、例えば(i+i0 )mod Nw でi0 を繰り返し毎に
換える方法とがある(図7参照)。
(LVA)203からの入力P(t)を整数値の標本とし
て次の式に示すm(k) に変換する。
tA は標本番号0のコードがADC204から出力され
た時刻、Δは量子化ステップである。
はM=28 である。
出力コードとの関係を表している。すなわち、出力コー
ドがmのとき、cw(連続波)の実効値振幅aは
i回目のヒストグラム測定は次のようにして行われる。
z)、振幅aVRMS のcw(連続波)
々に増加させてゆくとき、ADC204の出力がmから
m+1に変化するしきい値をa(m) VRMS とする。
Wフィルタ203の中心周波数に変換される測定中心周
波数である。
力は
うに
ξ(a) = ln aである。
(k) は前述したように
ば、
例について説明する。
回路206の具体例を示すブロック図である。
0によるヒストグラム測定回路206の動作を説明する
タイミングチャートである。
トグラム測定回路206は、ヒストグラム測定状態(イ
ンクリメント:inc.)と、測定結果出力状態(ダン
プ:dump)とを切換るスイッチS1,S2と加算器
(ADD)206a、レジスタ206b、RAM20
7、インタフェース回路206cから構成される。
におけるRAM207のアドレスはm(k) である。
ジのときのアドレス入力A=m(k)で指定されたデータ
を0ポートに出力し、次のクロックの立ち上がりエッジ
まで保持しているものとする。
ータは、図11の(b)に示すようにh(m(k))であ
り、加算器206aはこのデータに1を加える。
(m(k))+1が入力される。
ジで、このデータはレジスタ206bの出力に転送され
る。
の(c)に示すように、このエッジ直前ではh(m(k
−1))+1、直後ではh(m(k))+1が出力される。
ジ直前のデータが書き込まれる。
(W)の状態制御は、図11の(a)に示すようにクロ
ックの1,0で行っている。
クロックは1の状態に固定する。
にし、インタフェース回路206cよりアドレス
イミング関係を示している。
(ki ),m(ki +1),m(ki +2),…,m
(ki +Ki )の標本がヒストグラム測定回路206に
入力された後、dump状態でRAM207からデータ
を読み出した結果は、
c,dumpを繰くり返して測定し、かつ各inc状態
の継続時間が2 W D Ts 未満であれば
READは読み出し時間(略25nsec),TWRITE は書き込
み時間(略25nsec)、TADD は+1加算時間(略10
nsec)である。
ec<TD である。
動作について説明する。
幅瞬時値が
する様子を示している。
掃引下でフロントエンド201のRF入力端に
函数尺のたて軸は振幅であり、dBμV =20 log
10(a/1μV)又はdBm 又はdB又はV又はWのい
ずれかを一つ選択し、これが等間隔になるように目盛
る。
<d<1又はこの%値で目盛る。
する。
20 log10(x) の場合の例であって、RF入力が熱雑音で
あるときは直線になる。
いて説明する。
示装置209とにより、レーリー分布、正規分布、指数
分布、x2 分布等の中からメニュー形式として選択する
ことができる。
在する。
である。
に、フロントエンド201へのRF入力が熱雑音である
とき直線になるので、熱雑音かそれ以外の雑音かの識別
を行うことができる。
る。
関数(PDF)である。
数g-1(Y) が存在するとする。
に
-1(d) が存在する。
1, 0.001, 0.0001, 0.00001であるとき、ηY -1(d)=10
log10(-2lnd) は、それぞれ-17, -6.7, 1.4, 6.6, 9.6,
11.4, 12.7, 13.6 であり、4.05×{ηY -1(d)-1.4}
は、それぞれ-74.5, 32.8, 0,21.1, 33.2, 40.5, 45.8,
49.5である。
ー分布する。
函数尺グラフにプロットすると、直線状にプロット点が
並ぶ。
A))、20 log10Aに打点することがProd (r≧
A)=dのプロットである。
る。
のたて軸(水平線)di =0.99,0.9 ,0.5 ,0.1 ,0.
01,0.001 ,0.0001,0.00001 としたときのηY -1(d
i )の垂直線からなるよこ軸からできている。
を表すと、40.5 log10(−2 lnd)−5.7 mmが水平座標
となる。
PDについて、20 log10A(たて軸)、ηY -1(d) =10
log10(−2 lnd)(よこ軸)としたときの函数尺グラフ
の例を示している。
る。
後、表示することができる。
i <Kとする。
>ji を指定し
j i+1 又は前2者の平均値とする。
には、iに対する受信周波数fRFとする。
経過時間であって
一例を示している。
は実際の画面では表示されない。
dJ =0とする。
2 <d1 <1は、予め指定しておくものとするが、この
指定は任意である。
りつぶしてもよい。
ある。
領域0,1,3,4,5,6をよこ軸上に沿って塗りつ
ぶす形態で示しているが、実際に、表示装置209の画
面上ではY軸となる。
表示を行うときの色帯生成の例を示している。
それぞれ異なる色で塗りつぶされる領域である。
併せて示している図22で、たて軸の目盛(a1),
(a2)…(a19)は、実際の画面では表示されず、
実際の画面ではdBmで目盛られたY軸目盛表示(−7
0dBm〜0dBm)となる。また、図22で、たて軸
の目盛(a1),(a2)…(a19)は等間隔である
必要はない。
ように、異なるしきい値の等高線が重なることがあるの
で、等高線を分離することができない。
分については色をつけないと共に、線自体に色付けする
ので遠方からの識別が困難である。
象の直感的な把握ができないと共に、画素数が少ないと
き表示が劣化するという問題がある。
図24に示すように、色帯表示なので重なりがおきない
ことにより、遠方からでも容易に識別することができる
と共に、画素数が少ないときでも表示することができる
という利点がある。
に、不必要なスポットS1,S2が発生してしまうとい
う問題がある。
図26に示すように、そのような不必要なスポットが発
生することがない。
同一画面の左右に表示する例について説明する。
(a) であり、よこ軸はf(i)及びg(ηX -1(d))であ
る。
又はキーによって
示している。
る。
する。
て説明する。
時表示の形態として函数尺部分を色帯表示部分の平面と
直交する平面に表わした場合を示している。
て、0<d<1を指定する。
よる全体の動作を説明するためのフローチャートであ
る。
に、ステップST1で、演算部208はフロントエンド
状態番号iを受領し、ヒストグラム測定回路206のR
AM207から
る。jは全ての色帯にわたる。
る。
テップST1に戻って上述した一連の処理を繰り返す。
j,dj の範囲はユーザが定めるものとする。
RMS である。
るものとする。
よれば、例えば、それぞれ異なる色帯のような複数の階
層を有する帯群による領域識別表示手法を採用すること
により、従来技術による問題点を解決してAPDを有効
的に表示する機能を有したスペクトラムアナライザを提
供することができる。
が適用される一実施形態の概略的な構成を示すブロック
図である。
詳細構成を示すブロック図である。
掃引状態として連続掃引形態を示す図である。
掃引状態として一時停留順次掃引形態を示す図である。
掃引状態としてゼロスパン掃引形態を示す図である。
掃引状態として一時停留ランダム掃引形態(q:固定)
を示す図である。
掃引状態として一時停留ランダム掃引形態(q:可変)
を示す図である。
と出力コードとの関係を表す図である。
方法について説明するための図である。
路206の具体例を示すブロック図である。
によるヒストグラム測定回路206の動作を説明するタ
イミングチャートである。
c状態とdump状態のタイミング関係を示す図であ
る。
の出力を校正する様子を示す図である。
log10(x) の場合であって、RF入力が熱雑音であると
きは直線になる例を示す図である。
になるので、熱雑音かそれ以外の雑音かの識別を行うこ
とができる関係をグラフ化して示す図である。
る。
例を示す図である。
例を示す図である。
行うときの色帯生成の例を示す図である。
行うときの色帯生成の例を示す図である。
行うときの色帯生成の例を示す図である。
行うときの色帯生成の例を示す図である。
異なるしきい値の等高線が重なることがあるので、等高
線の分離ができないことを示す図である。
表示なので重なりがおきないことにより、遠方から識別
できると共に、画素数が少ないときでも表示できること
を示す図である。
不必要なスポットS1,S2が発生してしまうことを示
す図である。
線表示のような不必要なスポットが発生することがない
ことを示す図である。
す図である。
る。
の形態として函数尺部分を色帯表示部分の平面と直交す
る平面に表わした場合を示す図である。
るための第1のフローチャートである。
るための第2のフローチャートである。
評価するための妨害波電界強度測定装置として適用され
るスペクトラムアナライザの概略的な構成を示すブロッ
ク図である。
おける表示装置107での表示例を示す図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 被測定信号を所望の掃引情報に従って受
信する信号受信処理手段と、 前記信号受信処理手段によって受信された前記被測定信
号を複数のしきい値に基づいて標本化することにより、
前記被測定信号の包絡線の標本値に対応する複数の出力
コードを出力する標本化手段と、 前記標本化手段によって出力された前記複数の出力コー
ドに対応するヒストグラム群を測定するヒストグラム測
定手段と、 前記ヒストグラム測定手段によって測定された前記ヒス
トグラム群と前記所望の掃引情報とに基づいて前記被測
定信号の振幅確率分布(APD)を演算し、さらに前記
ヒストグラム群に対応する複数の階層を有する帯群に分
類する演算手段と、 前記演算手段によって演算された前記複数の階層を有す
る帯群をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として
表示する表示手段とを、 具備するAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
ザ。 - 【請求項2】 前記演算手段は、前記振幅確率分布を累
積して平均する手段を含むことを特徴とする請求項1に
記載のAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
ザ。 - 【請求項3】 前記演算手段は、前記振幅確率分布につ
いて函数尺計算すると共に、その函数尺座標を計算する
手段を含み、 前記表示手段は、前記複数の階層を有する帯群をそれぞ
れ異なる状態で表示するべき領域として表示すると共
に、前記複数の階層を有する帯群についての函数尺を表
示する手段を含むことを特徴とする請求項1または2に
記載のAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
ザ。 - 【請求項4】 前記演算手段は、前記振幅確率分布の所
望の値についての等高線を強調するために計算する手段
を含み、 前記表示手段は、前記複数の階層を有する帯群をそれぞ
れ異なる状態で表示するべき領域として表示すると共
に、前記振幅確率分布における所望の値についての等高
線を強調表示する手段を含むことを特徴とする請求項1
に記載のAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
ザ。 - 【請求項5】 前記表示手段は、前記複数の階層を有す
る帯群をそれぞれ異なる色帯で表示する手段を含むこと
を特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のAPD
表示機能を有するスペクトラムアナライザ。 - 【請求項6】 前記ヒストグラム測定手段は、前記標本
化手段によって出力された前記複数の出力コードをアド
レスとするメモリと、ヒストグラム測定状態、測定結果
出力状態を切換るスイッチと、前記ヒストグラム測定状
態で前記メモリの出力を+1加算する加算器と、前記加
算器の出力を前記メモリに戻すレジスタと、前記測定結
果出力状態で前記メモリの出力をヒストグラム測定結果
として出力するインタフェース回路から構成されること
を特徴とする請求項11乃至5のいずれかに記載のAP
D表示機能を有するスペクトラムアナライザ。 - 【請求項7】 被測定信号を所望の掃引情報に従って受
信するステップと、前記受信された前記被測定信号を複
数のしきい値に基づいて標本化することにより、前記被
測定信号の包絡線の標本値に対応する複数の出力コード
を出力するステップと、 前記複数の出力コードに対応するヒストグラム群を測定
するステップと、 前記ヒストグラム群と前記所望の掃引情報とに基づいて
前記被測定信号の振幅確率分布(APD)を演算し、さ
らに前記ヒストグラム群に対応する複数の階層を有する
帯群に分類するステップと、 前記複数の階層を有する帯群をそれぞれ異なる状態で表
示するべき領域として表示するステップと、 具備するスペクトラムアナライザによるAPD表示方
法。 - 【請求項8】 前記標本化における前記複数のしきい値
を予め校正するステップをさらに具備することを特徴と
する請求項7に記載のスペクトラムアナライザによるA
PD表示方法。 - 【請求項9】 前記振幅確率分布を累積して平均するス
テップをさらに具備することを特徴とする請求項7また
は8に記載のスペクトラムアナライザによるAPD表示
方法。 - 【請求項10】 前記振幅確率分布について函数尺計算
すると共に、その函数尺座標を計算するステップをさら
に具備し、 前記表示するステップは、前記複数の階層を有する帯群
をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として表示す
ると共に、前記複数の階層を有する帯群についての函数
尺を表示することを特徴とする請求項7乃至9のいずれ
かに記載のスペクトラムアナライザによるAPD表示方
法。 - 【請求項11】 前記振幅確率分布の所望の値について
の等高線を強調するために計算するステップをさらに具
備し、 前記表示するステップは、前記複数の階層を有する帯群
をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として表示す
ると共に、前記振幅確率分布の所望の値についての等高
線を強調表示する手段を含むことを特徴とする請求項7
乃至10のいずれかに記載のスペクトラムアナライザに
よるAPD表示方法。 - 【請求項12】 前記表示するステップは、前記複数の
階層を有する帯群をそれぞれ異なる色帯で表示すること
を特徴とする請求項7乃至11のいずれかに記載のスペ
クトラムアナライザによるAPD表示方法。
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- 1999-03-17 JP JP07225199A patent/JP3374154B2/ja not_active Expired - Fee Related
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