JP2000266792A - スペクトラムアナライザ - Google Patents

スペクトラムアナライザ

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JP2000266792A
JP2000266792A JP11072251A JP7225199A JP2000266792A JP 2000266792 A JP2000266792 A JP 2000266792A JP 11072251 A JP11072251 A JP 11072251A JP 7225199 A JP7225199 A JP 7225199A JP 2000266792 A JP2000266792 A JP 2000266792A
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histogram
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spectrum analyzer
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隆 篠塚
Haruhiko Hosoya
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KANKYO DENJI GIJUTSU KENKYUSHO
Anritsu Corp
Electromagnetic Compatibility Research Laboratories Co., Ltd.
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KANKYO DENJI GIJUTSU KENKYUSHO
Anritsu Corp
Electromagnetic Compatibility Research Laboratories Co., Ltd.
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Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、振幅確率分布(APD)を有効的に
表示する機能を有したスペクトラムアナライザを提供す
る。 【解決手段】本発明によるスペクトラムアナライザは、
被測定信号を所望の掃引情報に従って受信する信号受信
処理手段と、前記信号受信処理手段によって受信された
前記被測定信号を複数のしきい値に基づいて標本化する
ことにより、前記被測定信号の包絡線の標本値に対応す
る複数の出力コードを出力する標本化手段と、前記標本
化手段によって出力された前記複数の出力コードに対応
するヒストグラム群を測定するヒストグラム測定手段
と、前記ヒストグラム測定手段によって測定された前記
ヒストグラム群と前記所望の掃引情報とに基づいて前記
被測定信号の振幅確率分布(APD)を演算し、さらに
前記ヒストグラム群に対応する複数の階層を有する帯群
に分類するための演算手段と、前記演算手段によって演
算された前記複数の階層を有する帯群をそれぞれ異なる
状態で表示するべき領域として表示する表示手段とを具
備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスペクトラムアナラ
イザに係り、特に、電磁環境を統計的に評価するための
一つの尺度として、妨害波等の信号電界強度の振幅確率
分布(以下、APDと記す)、すなわち、妨害波等の信
号の包絡線のレベルが、予め、設定されたしきい値以上
になる時間率を有効的に表示する機能を有したスペクト
ラムアナライザに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、1GHzを越える周波数帯で運用
される携帯電話やパーソナルハンディホンステム(PH
S)等のデジタル通信やデジタル放送が急増している。
【0003】これらの無線業務を妨害電波から保護する
ために、国際無線障害特別委員会(CISPR)等で、
妨害波の測定法や許容値が審議されている。
【0004】現在、1GHz以下の周波数帯の妨害波許
容値は、主として妨害波の準尖頭値(QP値)で規定さ
れている。
【0005】それは妨害波のQP値がアナログ通信に対
する障害の程度に相関があるためである。
【0006】しかし、妨害波のQP値あるいは現在CI
SPR等で1GHz以上の周波数帯における許容値とし
て審議されているピーク値が、デジタル通信やデジタル
放送の障害程度に相関があるとは言い難い。
【0007】1GHz以上の周波数帯で、今後、ますま
す利用されようとしているデジタル通信/放送などを妨
害波から保護するためには、1GHz以上の周波数帯の
許容値をデジタルシステムの障害程度に相関のある指標
で決めることが望ましい。
【0008】一方、デジタル通信回線の通信品質はビッ
ト誤り率(BER)で表現される。そして、妨害波によ
って引き起こされるデジタル回線のBER劣化が、妨害
波強度の振幅確率分布(APD:Amplitude
ProbabilityDistribution)か
ら推定できることが報告されている。
【0009】従って、妨害波強度のAPDを正確にかつ
簡易に測定できれば、それがデジタル通信に対する障害
を評価する指標として最適であると考えられる。
【0010】電気信号のAPDを測定する装置の歴史は
古く、主に、空電の測定に利用されてきた。
【0011】そして、技術の進歩と共に、APD測定回
路は半導体化され、高速化されてきたが、従来のAPD
測定回路121は、振幅の分解能を決めるレべルの数と
同数のコンパレータとカウンタが必要であった。
【0012】従って、振幅の分解能を向上させるために
は、レベルの数に比例してコンパレータとカウンタを増
設しなければならないため、高分解能のAPD測定装置
は高価となり、EMI測定などに広範に利用される測定
器には向かなかった。
【0013】また、従来、電磁環境を統計的に評価する
ための妨害波電界強度測定装置としてスペクトラムアナ
ライザを利用するものが知られていた。
【0014】図44は、この種の電磁環境を統計的に評
価するための妨害波電界強度測定装置としてのスペクト
ラムアナライザの概略的な構成を示すブロック図であ
る。
【0015】すなわち、図44に示すように、このスペ
クトラムアナライザは、フロントエンド101、バンド
パスフィルタ(BPF)102、ログビデオアンプ(L
VA)103、ピーク検出回路104、ボトム検出回路
105、演算部106、表示装置107を備えて構成さ
れている。
【0016】そして、フロントエンド101は高周波受
信回路であって、中間周波信号(IF)を得るための局
部発振器やミキサ等を含む周波数変換部を備えている。
【0017】これにより、アンテナ(図示せず)により
受信された高周波妨害波等は、そのIF信号成分として
フロントエンド101から出力された後、BPF10
2、LVA103を介してピーク検出回路104及びボ
トム検出回路105に供給される。
【0018】ここで、ピーク検出回路104及びボトム
検出回路105は、それぞれLVA103からの出力に
基いてIF信号の包絡線成分のピーク値及びボトム値を
検出する。
【0019】すなわち、LVA103の出力信号をP
(t) とするとき、それのピーク値Pp(ti )ボトム値
b (ti )はそれぞれ、測定時間(ti ≦t<ti
T)において、
【0020】
【数1】
【0021】として、演算部106に供給される。
【0022】この演算部106では、上述のようにして
供給される妨害波等の包絡線成分におけるピーク値Pp
(ti ),ボトム値Pb (ti )及びフロントエンド1
01からのフロントエンド状態番号i又はトリガ信号に
基いて表示装置107にそれらを表示するための所定の
演算処理を行う。
【0023】図45は、上述したようなスペクトラムア
ナライザにおける表示装置107での表示例を示してい
る。
【0024】すなわち、図45に示すように、表示装置
107では、演算部106からの妨害波等の包絡線成分
におけるピーク値Pp (ti )とボトム値Pb (ti
とがフロントエンド状態番号iを0,1,2,…,Nw
−1(但し、Nw は周波数軸の分解能)と順番に変える
ことによって周波数軸上に沿って表示される。
【0025】この場合、周波数軸上のfc は測定範囲
(span)の中心周波数、f1 はスタート周波数、f
2 はストップ周波数である。
【0026】これにより、図45からは、測定時間(t
i ≦t<ti +T)において受信される高周波妨害波等
【0027】
【数2】
【0028】のピーク値Pp (ti )とボトム値P
b (ti )とを周波数軸上に分析された存在として読み
とることができる。
【0029】この場合、Pp (ti )>P>P
b (ti )のPの領域をハッチングで埋め込むようにし
て表示していることにより、ピーク値Pp (ti )とボ
トム値Pb (ti )との間にP(t)の存在しているこ
とが分かり易くなされている。
【0030】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たようなスペクトラムアナライザを利用した妨害波電界
強度測定装置では、電磁環境を統計的に評価するために
重要なファクターとなる測定時間(ti ≦t<ti
T)内でのLVA103の出力信号P(t) 分布に基づく
APDそのものが表示されていないので、APDについ
ては何ら分からないという問題があった。
【0031】なお、APDを等高線表示手法により表示
することも考えられるが、この手法では後で本発明によ
る領域識別表示手法との対比において詳しく説明するよ
うに、異なるしきい値の等高線に重なりが生じた場合に
いずれのしきい値の等高線に属している分布であるのか
が分かり辛いという問題がある。
【0032】そこで、本発明の目的とするところは、例
えば、それぞれ異なる色帯のような複数の階層を有する
帯群による領域識別表示手法を採用することにより、以
上のような従来技術による問題点を解決してAPDを有
効的に表示する機能を有したスペクトラムアナライザを
提供することである。
【0033】また、本発明の別の目的とするところは、
例えば、それぞれ異なる色帯のような複数の階層を有す
る帯群による領域識別表示手法を採用することにより、
以上のような従来技術による問題点を解決してAPDを
有効的に表示可能とするスペクトラムアナライザによる
APD表示方法を提供することである。
【0034】
【課題を解決するための手段】本発明によると、上記課
題を解決するために、被測定信号を所望の掃引情報に従
って受信する信号受信処理手段と、前記信号受信処理手
段によって受信された前記被測定信号を複数のしきい値
に基づいて標本化することにより、前記被測定信号の包
絡線の標本値に対応する複数の出力コードを出力する標
本化手段と、前記標本化手段によって出力された前記複
数の出力コードに対応するヒストグラム群を測定するヒ
ストグラム測定手段と、前記ヒストグラム測定手段によ
って測定された前記ヒストグラム群と前記所望の掃引情
報とに基づいて前記被測定信号の振幅確率分布(AP
D)を演算し、さらに前記ヒストグラム群に対応する複
数の階層を有する帯群に分類するための演算手段と、前
記演算手段によって演算された前記複数の階層を有する
帯群をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として表
示する表示手段と、を具備するAPD表示機能を有する
スペクトラムアナライザが提供される。
【0035】また、本発明によると、上記課題を解決す
るために、被測定信号を所望の掃引情報に従って受信す
るステップと、前記受信された前記被測定信号を複数の
しきい値に基づいて標本化することにより、前記被測定
信号の包絡線の標本値に対応する複数の出力コードを出
力するステップと、前記複数の出力コードに対応するヒ
ストグラム群を測定するステップと、前記ヒストグラム
群と前記所望の掃引情報とに基づいて、前記被測定信号
の振幅確率分布(APD)を演算し、さらに前記ヒスト
グラム群に対応する複数の階層を有する帯群に分類する
ステップと、前記複数の階層を有する帯群をそれぞれ異
なる状態で表示するべき領域として表示するステップ
と、を具備するスペクトラムアナライザによるAPD表
示方法が提供される。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明によ
るスペクトラムアナライザの一実施形態について説明す
る。
【0037】図1は、本発明によるスペクトラムアナラ
イザが適用される一実施形態の概略的な構成を示すブロ
ック図である。
【0038】すなわち、図1に示すように、このスペク
トラムアナライザは、フロントエンド201、バンドパ
スフィルタ(BPF)202、ログビデオアンプ(LV
A)203、アナログ−デジタル変換器(ADC)20
4、標本化クロック発生器205、RAM207を含む
ヒストグラム測定回路206、演算部208、表示装置
209、制御部210、操作部211及び表示制御部2
12を備えて構成されている。
【0039】図2は、図1におけるフロントエンド20
1の詳細構成を示すブロック図である。
【0040】すなわち、図2に示すように、このフロン
トエンド201は、第1及び第2のBPF(1,2)2
01a,201d、第1及び第2の増幅部201b,2
01e、第1及び第2のミキサ201c,201f、第
1及び第2の局部発振器201h,201i及び局部発
振器制御回路201gを備えて構成されている。
【0041】そして、このフロントエンド201は、局
部発振器制御回路201gに図1の操作部211から制
御部210を介して供給される後述するような所定の掃
引指令に基いて高周波入力fRFを中間周波信号fIFに変
換して出力する。
【0042】この場合、第1及び第2の局部発振器20
1h,201iからの第1及び第2の局発信号をfL1
L2としたとき
【0043】
【数3】
【0044】の関係が満たされる。
【0045】なお、局部発振器制御回路201gから
は、演算部208に対して掃引指令に対応するフロント
エンド状態番号i又はトリガ信号が出力されるようにな
されている。
【0046】前述したように、フロントエンド201は
RFの受信周波数の信号をfIFの中間周波数の信号に変
換するダウンコンバータである。
【0047】ここで、fRF,fIFは整数とする。
【0048】従って、IFフィルタのインパルス応答及
びRF入力端子に入力する信号をそれぞれ
【0049】
【数4】
【0050】とすると、ログビデオアンプ(LVA)2
03の入力端の電圧は、
【0051】
【数5】
【0052】となる。
【0053】ここで、x*hB は、次の式で表されるよ
うな畳み込み積分を意味する。
【0054】
【数6】
【0055】を意味する。
【0056】そして、ログビデオアンプ(LVA)20
3は、
【0057】
【数7】
【0058】を出力する。
【0059】ここで、|y(t) |はログアンプ(LV
A)203の入力の包絡線である。
【0060】ξ(r) は、実数値rの函数であって、単調
増加函数とする。通常
【0061】
【数8】
【0062】である。
【0063】フロントエンド201は可変又は固定の局
部発振器201h,201iを含んでいて、fRFを掃引
する機能がある。
【0064】フロントエンド201からは、上述したよ
うに局部発振器201h,201iの状態を示すフロン
トエンド状態番号i又はトリガ信号を出力する。
【0065】ここで、この発明における明細書及び図面
で用いる記号一覧を説明しておく。 Re{x(t)}:RF入力信号、x(t) は複素数、tは時
刻、Reは実数部を意味する。
【0066】Re{y(t)}:BPF出力信号=ログビデ
オアンプ入力信号、y(t) は複素数、
【0067】
【数9】
【0068】P(t) :ログビデオアンプ出力信号(実
数)であって、前述したように、
【0069】
【数10】
【0070】で表される。
【0071】ここで、ξは単調増加函数である。
【0072】m(k) :ADC出力コードで、0,1,
2,…,M-1の値をもつ、kは標本番号
【0073】
【数11】
【0074】で表される。
【0075】ここで、tA は標本化開始時刻である。
【0076】h(m) :アドレスm番地のRAM207の
内容(データ)であって、次に示すような式
【0077】
【数12】
【0078】で表される。
【0079】WD :RAM(207)データのビット
幅 a:RF入力の実効値振幅 fRF:受信周波数
【0080】
【数13】
【0081】f1 :掃引開始周波数 f2 :終了周波数 i0 :周波数軸(時間軸) マーカー位置
【0082】
【数14】
【0083】dj :色帯の境界値 fIF :IFフィルタ(BPF)の公称中心周波数 fL1,fL2:第1,第2局部発振の周波数 Nw :X軸分解能 単位スパン当りの表示ドット数 Tw :掃引時間 Tp :停留時間(fRFが一定である時間) q:{0,1,2,…,Nw −1}を{0,1,2,
…,Nw −1}に1対1に写象する函数(置換)を意味
する。
【0084】ω={0,1,2,…,M−1} ADC
出力コードの集合
【0085】
【数15】
【0086】
【数16】
【0087】で表される。ここで、
【0088】
【数17】
【0089】
【数18】
【0090】ここで、APDとは,測定開始時刻ti
ら測定終了時刻ti +Tまでの測定時間T内において、
r(t)≧Rである時間率のことであり、APD(R)
と書くとき、Rは振幅閾値であり実効値電圧の次元をも
つ。
【0091】g(a) :函数尺表示のY軸の函数 例えば、10 log10(a2 /1mW),20 log10(a/1μ
V )… ηX (a) :aの単調減少函数,0≦ηX (a) ≦1 ηX -1(d) :ηX の逆函数 0<d<1
【0092】
【数19】
【0093】
【数20】
【0094】xを超えない最大の整数を意味し、例えば
【0095】
【数21】
【0096】となる。
【0097】Ts :標本化周期 t0 :掃引開始時刻 j:色帯jの色を示す番号 d:APD値 0≦d≦1 図3乃至図7は、フロントエンド201の異なる掃引形
態を示している。
【0098】そして、フロントエンド201がfRFを周
波数掃引するときには、時刻t0 にてfRF=f1 から開
始し、時刻t0 +Tw にてfRF=f2 で完了する。
【0099】ここで、f1 <f2 であり、f1 をスター
ト周波数、f2 をストップ周波数、Tw を掃引時間、t
0 を掃引開始時刻と呼ぶ。
【0100】フロントエンド201は受信周波数を周波
数掃引する手法として、図3乃至図7に示すように連続
掃引、一時停留順次掃引、一時停留ランダム掃引、ゼロ
スパン掃引のすべて、又は一部を選択することができる
と共に、これらを操作部211からの要求毎又は制御部
210により自動的に繰り返す。
【0101】(1)連続掃引:時刻tにおける受信周波
数fRF(t) は次のとおりである(図3参照)。
【0102】
【数22】
【0103】そして、t=t0 のときトリガ信号を発す
る。
【0104】(2)一時停留順次掃引:(図4参照)
【0105】
【数23】
【0106】そして、状態番号
【0107】
【数24】
【0108】を発する。
【0109】特定の受信周波数
【0110】
【数25】
【0111】に停留している時間Tp はTw /Nw 以下
である。
【0112】(3)ゼロスパン掃引:受信周波数は以下
の式に示すように一定であり、周波数掃引はしない(図
5参照)
【0113】
【数26】
【0114】状態番号iは局部発振器が安定(i=1)
しているか、過渡状態(i=0)にあるか(不安定)を
示す。
【0115】(4)一時停留ランダム掃引:qは{0,
1,2,…,Nw −1}をそれ自身に1対1写象する函
数(置換)とする。q-1をその逆写象とする。q-1(q
(i))=iである。
【0116】例えば、q(i) =(i+i0 )mod Nw
置換である。
【0117】
【数27】
【0118】そして、状態番号としては
【0119】
【数28】
【0120】を発する。
【0121】掃引をくり返すときはqを変えずに繰り返
す方法(図6参照)と、qを変えて繰り返す方法とし
て、例えば(i+i0 )mod Nw でi0 を繰り返し毎に
換える方法とがある(図7参照)。
【0122】次に、ADC204は、ログビデオアンプ
(LVA)203からの入力P(t)を整数値の標本とし
て次の式に示すm(k) に変換する。
【0123】
【数29】
【0124】ここで、kは標本番号、Ts は標本周期、
A は標本番号0のコードがADC204から出力され
た時刻、Δは量子化ステップである。
【0125】
【数30】
【0126】とする。
【0127】例えば、8ビットのADC204において
はM=28 である。
【0128】図8は、ADC204におけるしきい値と
出力コードとの関係を表している。すなわち、出力コー
ドがmのとき、cw(連続波)の実効値振幅aは
【0129】
【数31】
【0130】の範囲にある。
【0131】次に、ヒストグラム測定回路206による
i回目のヒストグラム測定は次のようにして行われる。
【0132】Ki 個の標本列
【0133】
【数32】
【0134】のヒストグラムは次式で定められる。
【0135】
【数33】
【0136】
【数34】
【0137】である。
【0138】
【数35】
【0139】いま、被測定信号として周波数fRF(H
z)、振幅aVRMS のcw(連続波)
【0140】
【数36】
【0141】をフロントエンド201に入力し、aを徐
々に増加させてゆくとき、ADC204の出力がmから
m+1に変化するしきい値をa(m) VRMS とする。
【0142】但し、fRFはフロントエンド201でRB
Wフィルタ203の中心周波数に変換される測定中心周
波数である。
【0143】しきい値a(m) ,a(m+1)の関係は
【0144】
【数37】
【0145】とする。
【0146】なお、この図9の場合、LVA203の入
力は
【0147】
【数38】
【0148】であり、LVA203の出力は前述したよ
うに
【0149】
【数39】
【0150】である。
【0151】ここで、ξ(a) は単調増加函数、例えば、
ξ(a) = ln aである。
【0152】また、ADC204からの出力コードm
(k) は前述したように
【0153】
【数40】
【0154】で表わされる。
【0155】このm(k) を表す式において、
【0156】
【数41】
【0157】とすれば、前述したように、
【0158】
【数42】
【0159】はXを超えない最大の整数を意味し、例え
ば、
【0160】
【数43】
【0161】である。
【0162】
【数44】
【0163】次に、ヒストグラム測定回路206の具体
例について説明する。
【0164】図10は、図1におけるヒストグラム測定
回路206の具体例を示すブロック図である。
【0165】図11の(a),(b),(c)は、図1
0によるヒストグラム測定回路206の動作を説明する
タイミングチャートである。
【0166】すなわち、図10に示すように、このヒス
トグラム測定回路206は、ヒストグラム測定状態(イ
ンクリメント:inc.)と、測定結果出力状態(ダン
プ:dump)とを切換るスイッチS1,S2と加算器
(ADD)206a、レジスタ206b、RAM20
7、インタフェース回路206cから構成される。
【0167】ここで、インクリメント(inc.)状態
におけるRAM207のアドレスはm(k) である。
【0168】RAM207はクロックの立ち上がりエッ
ジのときのアドレス入力A=m(k)で指定されたデータ
を0ポートに出力し、次のクロックの立ち上がりエッジ
まで保持しているものとする。
【0169】このとき、RAM207から出力されるデ
ータは、図11の(b)に示すようにh(m(k))であ
り、加算器206aはこのデータに1を加える。
【0170】その結果として、レジスタ206bにはh
(m(k))+1が入力される。
【0171】1/Ts Hzのクロックの立ち上がりエッ
ジで、このデータはレジスタ206bの出力に転送され
る。
【0172】従って、レジスタ206bからは、図11
の(c)に示すように、このエッジ直前ではh(m(k
−1))+1、直後ではh(m(k))+1が出力される。
【0173】これにより、RAM207には、このエッ
ジ直前のデータが書き込まれる。
【0174】このときRAM207の読み(R)、書き
(W)の状態制御は、図11の(a)に示すようにクロ
ックの1,0で行っている。
【0175】ダンプ(dump)状態:この状態では、
クロックは1の状態に固定する。
【0176】そして、スイッチS1,S2をdump側
にし、インタフェース回路206cよりアドレス
【0177】
【数45】
【0178】図12は、inc状態とdump状態のタ
イミング関係を示している。
【0179】今、時刻tが図12に示すように、
【0180】
【数46】
【0181】の範囲の間inc状態にあったとし、m
(ki ),m(ki +1),m(ki +2),…,m
(ki +Ki )の標本がヒストグラム測定回路206に
入力された後、dump状態でRAM207からデータ
を読み出した結果は、
【0182】
【数47】
【0183】このようにして、inc,dump,in
c,dumpを繰くり返して測定し、かつ各inc状態
の継続時間が2 W s 未満であれば
【0184】
【数48】
【0185】であるから
【0186】
【数49】
【0187】図12において、時間関係は
【0188】
【数50】
【0189】である。
【0190】ここで、TD はdump状態の時間、T
READは読み出し時間(略25nsec),TWRITE は書き込
み時間(略25nsec)、TADD は+1加算時間(略10
nsec)である。
【0191】例えば、M=256とすると、6.4μs
ec<TD である。
【0192】次に、演算部208による色帯表示の演算
動作について説明する。
【0193】
【数51】
【0194】なお、ここで、APDは測定時間内で、振
幅瞬時値が
【0195】
【数52】
【0196】を超えている時間率を表すものとする。
【0197】
【数53】
【0198】但し、
【0199】
【数54】
【0200】である。
【0201】図13は、予めADC204の出力を校正
する様子を示している。
【0202】すなわち、校正時には、fRFのゼロスパン
掃引下でフロントエンド201のRF入力端に
【0203】
【数55】
【0204】
【数56】
【0205】とする。
【0206】ここで、函数尺について説明すると、この
函数尺のたて軸は振幅であり、dBμV =20 log
10(a/1μV)又はdBm 又はdB又はV又はWのい
ずれかを一つ選択し、これが等間隔になるように目盛
る。
【0207】また、函数尺のよこ軸は時間率であり、0
<d<1又はこの%値で目盛る。
【0208】
【数57】
【0209】についてプロットし、プロット点間を補完
する。
【0210】図14は、PX がレーリー分布,g(x) =
20 log10(x) の場合の例であって、RF入力が熱雑音で
あるときは直線になる。
【0211】次に、以上のような函数尺による表示につ
いて説明する。
【0212】まず、
【0213】
【数58】
【0214】には様々なものがあり、操作部211と表
示装置209とにより、レーリー分布、正規分布、指数
分布、x2 分布等の中からメニュー形式として選択する
ことができる。
【0215】また、
【0216】
【数59】
【0217】は単調減少函数であり、逆函数ηX -1が存
在する。
【0218】この場合、0<ηX (X) ≦1である。
【0219】gは単調増加函数であり、
【0220】
【数60】
【0221】などから選択することができる。
【0222】例えば、レーリー分布の場合
【0223】
【数61】
【0224】となる。
【0225】ここで
【0226】
【数62】
【0227】のときは
【0228】
【数63】
【0229】となる。
【0230】但し、exp (x)=ex とする。
【0231】図15は、この関係をグラフ化して示す図
である。
【0232】すなわち、このグラフは図15に示すよう
に、フロントエンド201へのRF入力が熱雑音である
とき直線になるので、熱雑音かそれ以外の雑音かの識別
を行うことができる。
【0233】次に、函数尺の作り方の例について説明す
る。
【0234】
【数64】
【0235】ここで、PX (x) は確率変数xの確率密度
関数(PDF)である。
【0236】
【数65】
【0237】ここで、gは単調増加函数であって、逆函
数g-1(Y) が存在するとする。
【0238】いま、y0 =g(x0 )とすると、明らか
【数66】
【0239】となる。
【0240】よって、0<d<1のときは、x0 =ηX
-1(d) が存在する。
【0241】また、
【0242】
【数67】
【0243】である。
【0244】従って、
【0245】
【数68】
【0246】である。
【0247】例えば、レーリー分布の場合には
【0248】
【数69】
【0249】である。
【0250】ここで、
【0251】
【数70】
【0252】のときは
【数71】
【0253】である。
【0254】そして、dが 0.99, 0.9, 0.5, 0.1, 0.0
1, 0.001, 0.0001, 0.00001であるとき、ηY -1(d)=10
log10(-2lnd) は、それぞれ-17, -6.7, 1.4, 6.6, 9.6,
11.4, 12.7, 13.6 であり、4.05×{ηY -1(d)-1.4}
は、それぞれ-74.5, 32.8, 0,21.1, 33.2, 40.5, 45.8,
49.5である。
【0255】ところで、熱雑音の包絡線r(t) はレーリ
ー分布する。
【0256】従って、Prob (r(t)≧A)=dをこの
函数尺グラフにプロットすると、直線状にプロット点が
並ぶ。
【0257】すなわち、座標ηY -1(Prob (r≧
A))、20 log10Aに打点することがProd (r≧
A)=dのプロットである。
【0258】図16は、函数尺グラフの例を示してい
る。
【0259】すなわち、この函数尺グラフは、dB目盛
のたて軸(水平線)di =0.99,0.9 ,0.5 ,0.1 ,0.
01,0.001 ,0.0001,0.00001 としたときのηY -1(d
i )の垂直線からなるよこ軸からできている。
【0260】d0 =0.5 を基準にし、mm単位でよこ軸
を表すと、40.5 log10(−2 lnd)−5.7 mmが水平座標
となる。
【0261】すなわち、図16は、熱雑音包絡線AのA
PDについて、20 log10A(たて軸)、ηY -1(d) =10
log10(−2 lnd)(よこ軸)としたときの函数尺グラフ
の例を示している。
【0262】次に、累積演算による表示について説明す
る。
【0263】各掃引で取得されたAPDは累積させた
後、表示することができる。
【0264】
【数72】
【0265】但し、Nw <(Tw /Ts )/K , K
i <Kとする。
【0266】また、前述したランダム掃引においては
【0267】
【数73】
【0268】である。
【0269】また、前述したゼロスパン掃引で、ji+1
>ji を指定し
【0270】
【数74】
【0271】を表示する。
【0272】このとき、横軸はTs kj i 又はTs
j i+1 又は前2者の平均値とする。
【0273】
【数75】
【0274】なお、f(i) はゼロスパン掃引以外のとき
には、iに対する受信周波数fRFとする。
【0275】ゼロスパン掃引のときは測定開始点からの
経過時間であって
【0276】
【数76】
【0277】又は
【0278】
【数77】
【0279】又は
【0280】
【数78】
【0281】である。
【0282】
【数79】
【0283】と読み換えても可とする。
【0284】図17は、累積演算による色帯表示画面の
一例を示している。
【0285】但し、図17において下側に示すiの番号
は実際の画面では表示されない。
【0286】次に、色帯の生成方法について説明する。
【0287】J+2を色帯数とすると共に、d0 =1,
J =0とする。
【0288】色帯の境界値0<dJ-1 <dJ-2 <…<d
2 <d1 <1は、予め指定しておくものとするが、この
指定は任意である。
【0289】(1)色帯J+1の生成 ピーク境界値は次のようにして定める。
【0290】
【数80】
【0291】且つ
【0292】
【数81】
【0293】(2)色帯0の生成
【0294】
【数82】
【0295】且つ
【0296】
【数83】
【0297】なお、色帯0と色帯J+1とは同一色で塗
りつぶしてもよい。
【0298】(3)色帯1,2,…Jの生成 この場合
【0299】
【数84】
【0300】図18は、J=5の場合の色帯生成の例で
ある。
【0301】
【数85】
【0302】この例では、色帯2は発生しない。
【0303】なお、図18では、説明の都合上、各色帯
領域0,1,3,4,5,6をよこ軸上に沿って塗りつ
ぶす形態で示しているが、実際に、表示装置209の画
面上ではY軸となる。
【0304】図19乃至図22は、J=4の場合で6色
表示を行うときの色帯生成の例を示している。
【0305】これらの各図で(0),(1)…(5)が
それぞれ異なる色で塗りつぶされる領域である。
【0306】なお、等高線で表示した場合を色帯表示と
併せて示している図22で、たて軸の目盛(a1),
(a2)…(a19)は、実際の画面では表示されず、
実際の画面ではdBmで目盛られたY軸目盛表示(−7
0dBm〜0dBm)となる。また、図22で、たて軸
の目盛(a1),(a2)…(a19)は等間隔である
必要はない。
【0307】ところで、等高線表示では、図23に示す
ように、異なるしきい値の等高線が重なることがあるの
で、等高線を分離することができない。
【0308】仮に、等高線を色分けしても、重なった部
分については色をつけないと共に、線自体に色付けする
ので遠方からの識別が困難である。
【0309】すなわち、等高線表示では、人間による事
象の直感的な把握ができないと共に、画素数が少ないと
き表示が劣化するという問題がある。
【0310】これに対し、本発明による色帯表示では、
図24に示すように、色帯表示なので重なりがおきない
ことにより、遠方からでも容易に識別することができる
と共に、画素数が少ないときでも表示することができる
という利点がある。
【0311】また、等高線表示では、図25に示すよう
に、不必要なスポットS1,S2が発生してしまうとい
う問題がある。
【0312】これに対し、本発明による色帯表示では、
図26に示すように、そのような不必要なスポットが発
生することがない。
【0313】次に、上述した色帯表示と函数尺表示とを
同一画面の左右に表示する例について説明する。
【0314】この場合、たて軸は振幅に関する目盛g
(a) であり、よこ軸はf(i)及びg(ηX -1(d))であ
る。
【0315】一例として操作部211の図示しないノブ
又はキーによって
【0316】
【数86】
【0317】図27は、色帯、函数尺同時表示の一例を
示している。
【0318】この場合、i0 <jを指定し、
【0319】
【数87】
【0320】とするか、又はi0 を指定し、
【0321】
【数88】
【0322】
【数89】
【0323】図28は、函数尺グラフ部分を示してい
る。
【0324】この函数尺グラフは
【0325】
【数90】
【0326】また、函数尺η(x) はxの単調減少函数と
する。
【0327】次に、色帯函数尺同時表示の他の例につい
て説明する。
【0328】図29は、この他の例による色帯函数尺同
時表示の形態として函数尺部分を色帯表示部分の平面と
直交する平面に表わした場合を示している。
【0329】前述したと同様にしてノブ又はキーによっ
て、0<d<1を指定する。
【0330】
【数91】
【0331】図30及び図31は以上のような本発明に
よる全体の動作を説明するためのフローチャートであ
る。
【0332】すなわち、図30及び図31に示すよう
に、ステップST1で、演算部208はフロントエンド
状態番号iを受領し、ヒストグラム測定回路206のR
AM207から
【0333】
【数92】
【0334】を読み出す。
【0335】次に、ステップST2では、
【0336】
【数93】
【0337】に基づいてヒストグラム計算を行う。
【0338】次に、ステップST3では、
【0339】
【数94】
【0340】に基づいてAPD計算を行う。
【0341】次に、ステップST4では、
【0342】
【数95】
【0343】に基づいて累積計算を行う。
【0344】次に、ステップST5では、
【0345】
【数96】
【0346】に基づいて函数尺計算を行う。
【0347】次に、ステップST6では、
【数97】
【0348】に基づいて色帯jで塗りつぶす領域を定め
る。jは全ての色帯にわたる。
【0349】ここで、
【0350】
【数98】
【0351】はjの色で塗りつぶすべき矩形領域であ
る。
【0352】次に、ステップST8では、
【0353】
【数99】
【0354】なる
【0355】
【数100】
【0356】をさがす。
【0357】次に、ステップST9では、
【0358】
【数101】
【0359】そして、所定の処理回数が終了するまでス
テップST1に戻って上述した一連の処理を繰り返す。
【0360】なお、以上の処理において、i0 ,d,
j,dj の範囲はユーザが定めるものとする。
【0361】
【数102】
【0362】は校正時に定めるものとし、その単位はV
RMS である。
【0363】g,ηX は、ユーザがメニューから選択す
るものとする。
【0364】
【数103】
【0365】
【発明の効果】従って、以上説明したように、本発明に
よれば、例えば、それぞれ異なる色帯のような複数の階
層を有する帯群による領域識別表示手法を採用すること
により、従来技術による問題点を解決してAPDを有効
的に表示する機能を有したスペクトラムアナライザを提
供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明によるスペクトラムアナライザ
が適用される一実施形態の概略的な構成を示すブロック
図である。
【図2】図2は、図1におけるフロントエンド201の
詳細構成を示すブロック図である。
【図3】図3は、図1のフロントエンド201における
掃引状態として連続掃引形態を示す図である。
【図4】図4は、図1のフロントエンド201における
掃引状態として一時停留順次掃引形態を示す図である。
【図5】図5は、図1のフロントエンド201における
掃引状態としてゼロスパン掃引形態を示す図である。
【図6】図6は、図1のフロントエンド201における
掃引状態として一時停留ランダム掃引形態(q:固定)
を示す図である。
【図7】図7は、図1のフロントエンド201における
掃引状態として一時停留ランダム掃引形態(q:可変)
を示す図である。
【図8】図8は、図1におけるADC204のしきい値
と出力コードとの関係を表す図である。
【図9】図9は、ADC204におけるしきい値の決定
方法について説明するための図である。
【図10】図10は、図1におけるヒストグラム測定回
路206の具体例を示すブロック図である。
【図11】図11の(a),(b),(c)は、図10
によるヒストグラム測定回路206の動作を説明するタ
イミングチャートである。
【図12】図12は、図1におけるRAM207のin
c状態とdump状態のタイミング関係を示す図であ
る。
【図13】図13は、予め、図1におけるADC204
の出力を校正する様子を示す図である。
【図14】図14は、pX がレーリー分布,g(x) =20
log10(x) の場合であって、RF入力が熱雑音であると
きは直線になる例を示す図である。
【図15】図15は、RF入力が熱雑音であるとき直線
になるので、熱雑音かそれ以外の雑音かの識別を行うこ
とができる関係をグラフ化して示す図である。
【図16】図16は、函数尺グラフの例を示す図であ
る。
【図17】図17は、累積演算による色帯表示画面の一
例を示す図である。
【図18】図18は、J=5の場合における色帯生成の
例を示す図である。
【図19】図19は、J=4の場合において6色表示を
行うときの色帯生成の例を示す図である。
【図20】図20は、J=4の場合において6色表示を
行うときの色帯生成の例を示す図である。
【図21】図21は、J=4の場合において6色表示を
行うときの色帯生成の例を示す図である。
【図22】図22は、J=4の場合において6色表示を
行うときの色帯生成の例を示す図である。
【図23】図23は、従来技術による等高線表示では、
異なるしきい値の等高線が重なることがあるので、等高
線の分離ができないことを示す図である。
【図24】図24は、本発明による色帯表示では、色帯
表示なので重なりがおきないことにより、遠方から識別
できると共に、画素数が少ないときでも表示できること
を示す図である。
【図25】図25は、従来技術による等高線表示では、
不必要なスポットS1,S2が発生してしまうことを示
す図である。
【図26】図26は、本発明による色帯表示では、等高
線表示のような不必要なスポットが発生することがない
ことを示す図である。
【図27】図27は、色帯、函数尺同時表示の一例を示
す図である。
【図28】図28は、函数尺グラフ部分を示す図であ
る。
【図29】図29は、他の例による色帯函数尺同時表示
の形態として函数尺部分を色帯表示部分の平面と直交す
る平面に表わした場合を示す図である。
【図30】図30は、本発明による全体の動作を説明す
るための第1のフローチャートである。
【図31】図30は、本発明による全体の動作を説明す
るための第2のフローチャートである。
【図32】図32は、従来における電磁環境を統計的に
評価するための妨害波電界強度測定装置として適用され
るスペクトラムアナライザの概略的な構成を示すブロッ
ク図である。
【図33】図33は、従来のスペクトラムアナライザに
おける表示装置107での表示例を示す図である。
【符号の説明】
201…フロントエンド、 202…バンドパスフィルタ(BPF)、 203…ログビデオアンプ(LVA)、 204…アナログ−デジタル変換器(ADC)、 205…標本化クロック発生器、 206…ヒストグラム測定回路、 207…RAM、 208…演算部、 209…表示装置、 210…制御部、 211…操作部、 212…表示制御部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 篠塚 隆 宮城県仙台市青葉区南吉成6丁目6番地の 3 株式会社環境電磁技術研究所内 (72)発明者 細谷 晴彦 東京都港区南麻布五丁目10番27号 アンリ ツ株式会社内

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定信号を所望の掃引情報に従って受
    信する信号受信処理手段と、 前記信号受信処理手段によって受信された前記被測定信
    号を複数のしきい値に基づいて標本化することにより、
    前記被測定信号の包絡線の標本値に対応する複数の出力
    コードを出力する標本化手段と、 前記標本化手段によって出力された前記複数の出力コー
    ドに対応するヒストグラム群を測定するヒストグラム測
    定手段と、 前記ヒストグラム測定手段によって測定された前記ヒス
    トグラム群と前記所望の掃引情報とに基づいて前記被測
    定信号の振幅確率分布(APD)を演算し、さらに前記
    ヒストグラム群に対応する複数の階層を有する帯群に分
    類する演算手段と、 前記演算手段によって演算された前記複数の階層を有す
    る帯群をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として
    表示する表示手段とを、 具備するAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
    ザ。
  2. 【請求項2】 前記演算手段は、前記振幅確率分布を累
    積して平均する手段を含むことを特徴とする請求項1に
    記載のAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
    ザ。
  3. 【請求項3】 前記演算手段は、前記振幅確率分布につ
    いて函数尺計算すると共に、その函数尺座標を計算する
    手段を含み、 前記表示手段は、前記複数の階層を有する帯群をそれぞ
    れ異なる状態で表示するべき領域として表示すると共
    に、前記複数の階層を有する帯群についての函数尺を表
    示する手段を含むことを特徴とする請求項1または2に
    記載のAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
    ザ。
  4. 【請求項4】 前記演算手段は、前記振幅確率分布の所
    望の値についての等高線を強調するために計算する手段
    を含み、 前記表示手段は、前記複数の階層を有する帯群をそれぞ
    れ異なる状態で表示するべき領域として表示すると共
    に、前記振幅確率分布における所望の値についての等高
    線を強調表示する手段を含むことを特徴とする請求項1
    に記載のAPD表示機能を有するスペクトラムアナライ
    ザ。
  5. 【請求項5】 前記表示手段は、前記複数の階層を有す
    る帯群をそれぞれ異なる色帯で表示する手段を含むこと
    を特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載のAPD
    表示機能を有するスペクトラムアナライザ。
  6. 【請求項6】 前記ヒストグラム測定手段は、前記標本
    化手段によって出力された前記複数の出力コードをアド
    レスとするメモリと、ヒストグラム測定状態、測定結果
    出力状態を切換るスイッチと、前記ヒストグラム測定状
    態で前記メモリの出力を+1加算する加算器と、前記加
    算器の出力を前記メモリに戻すレジスタと、前記測定結
    果出力状態で前記メモリの出力をヒストグラム測定結果
    として出力するインタフェース回路から構成されること
    を特徴とする請求項11乃至5のいずれかに記載のAP
    D表示機能を有するスペクトラムアナライザ。
  7. 【請求項7】 被測定信号を所望の掃引情報に従って受
    信するステップと、前記受信された前記被測定信号を複
    数のしきい値に基づいて標本化することにより、前記被
    測定信号の包絡線の標本値に対応する複数の出力コード
    を出力するステップと、 前記複数の出力コードに対応するヒストグラム群を測定
    するステップと、 前記ヒストグラム群と前記所望の掃引情報とに基づいて
    前記被測定信号の振幅確率分布(APD)を演算し、さ
    らに前記ヒストグラム群に対応する複数の階層を有する
    帯群に分類するステップと、 前記複数の階層を有する帯群をそれぞれ異なる状態で表
    示するべき領域として表示するステップと、 具備するスペクトラムアナライザによるAPD表示方
    法。
  8. 【請求項8】 前記標本化における前記複数のしきい値
    を予め校正するステップをさらに具備することを特徴と
    する請求項7に記載のスペクトラムアナライザによるA
    PD表示方法。
  9. 【請求項9】 前記振幅確率分布を累積して平均するス
    テップをさらに具備することを特徴とする請求項7また
    は8に記載のスペクトラムアナライザによるAPD表示
    方法。
  10. 【請求項10】 前記振幅確率分布について函数尺計算
    すると共に、その函数尺座標を計算するステップをさら
    に具備し、 前記表示するステップは、前記複数の階層を有する帯群
    をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として表示す
    ると共に、前記複数の階層を有する帯群についての函数
    尺を表示することを特徴とする請求項7乃至9のいずれ
    かに記載のスペクトラムアナライザによるAPD表示方
    法。
  11. 【請求項11】 前記振幅確率分布の所望の値について
    の等高線を強調するために計算するステップをさらに具
    備し、 前記表示するステップは、前記複数の階層を有する帯群
    をそれぞれ異なる状態で表示するべき領域として表示す
    ると共に、前記振幅確率分布の所望の値についての等高
    線を強調表示する手段を含むことを特徴とする請求項7
    乃至10のいずれかに記載のスペクトラムアナライザに
    よるAPD表示方法。
  12. 【請求項12】 前記表示するステップは、前記複数の
    階層を有する帯群をそれぞれ異なる色帯で表示すること
    を特徴とする請求項7乃至11のいずれかに記載のスペ
    クトラムアナライザによるAPD表示方法。
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