JP2008275401A - Apd測定装置及び信号測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】入力信号をA/D変換部100でデジタルデータに変換して、その出力を成分検出部200のフィルタバンクで複数の周波数成分に振り分けて、重付合成部500aにより、該各周波数成分の振幅を個々に所望の量で重み付けをして合成する。その出力を受けて重付APD400aが合成後の合成振幅の発生頻度に基づく確率を求める構成とした。
【選択図】図1
Description
N×帯域×(フィルタバンク構成規模+検波器DET構成規模+APD構成規模)
そのため、対応できる番組数を少なくし、必要の都度、オプションで設ける構成にしても、作業が大変である。
図1に基づいて、動作順に構成・動作を説明する。
図1において、A/D変換部100は、入力信号fIN(周波数帯域を±B/2)を受け、クロック発生器(不図示)からの周期のクロックでレベル幅ΔLの細かさ(この細かさに応じた閾値がある。)で標本化(サンプリング)し、デジタルデータに変換する。後に求められる振幅確率は、この標本化時のレベル幅ΔLの細かさ毎に求められる。
X=g(ηx -1(d))、Y=g(X)
ここで、PX=−dηx(x)/dx、ηx(x)=∫x ∞PX(X)dx、で表され、
ηx(x)は単調減少関数であり、逆関数ηx -1が存在する。
g(X)は、単調増加関数であり、逆関数g-1(Y)が存在する。
0<ηx(x)≦1
分布PXは、測定対象の信号における振幅の予測される確率変数xに対する確率密度関数(分布)であって、一般には、測定する信号が雑音であるとすると、レーリー分布、正規分布、指数分布、χ2分布等があり、いずれか選択可能にしておくと便利である。
g(X)は単調増加関数である。g(X)縦軸の目盛りの形態として、g(X)=20log10X、10log10X、X2、X1/2、InX等のいずれかを選択される。したがって、この函数もいずれか選択可能にしておくと便利である。
ηx(x0)=Prob(X≧x0)=∫x0 ∞PX(X)dx、
y0=g(x0)となり、
d=ηY(y0)=Prob(Y≧y0)=Prob(X≧x0)
=∫x0 ∞PX(X)dx=ηx(x0)
で表される。
さらに、 0<d<1のとき、x0=ηx -1(d)が存在する。
そして、y0=ηy -1(d)=g(x0)=g(ηx -1(d))で表される。
したがって、ηy -1=g(ηx -1)である。
P(X)=x×exp(−x2/2)、と示される。
また、g(X)としては、Y=g(X)=20log10X(いわゆるdB)を選択すると、
ηx(x)=exp(−x2/2) (x≧0)
ηx -1(d)=(−2In(d))1/2
X=g(ηx -1(d))=10log10(−2In(d))
Y=ηy -1(d)=10log10(−2In(d))
と表される。
このようにレーリー分布の場合は、log変数に対して確率分布関数が直線となるようにすケーリングしたもので、縦軸のP(%)(p=P/100)値を、loglog(1/(1−p))の位置にプロットすることによって得られる直線となる。
上記の重み付けの説明では、図4(B)(D)に示したように振幅の重み付けを「0」の値にする場合があるが、この場合は、その振幅を使用しないことを意味する。したがって、重み付けには、ある周波数成分(チャンネル)を選択する意味合いがある。そのために、フィルタバンクで構成されるバンドパスフィルタ220で選択することができる。図7は、そのShort Time Fourier Transfomeと言われる概念を示す一例である。図7では、入力されるI成分及びQ成分を時間領域で、出力を「0」にしたい所望周波数成分に合わせたタイミングで間引き回路221a、221bにより間引き、これをN段のレジスタ222、ガウス窓関数223、及びFFT224により、所定帯域幅で、所定の周波数ずつ中心周波数のずれた周波数成分に分析し、かつ所望の周波数成分を除いて出力することができる。このように重み付けの一部をバンドパスフィルタ側でできる。
この実施形態は、上記説明の図1のAPD測定装置1000を、例えば、スペクトラムアナライザのような信号測定装置に使用した形態である。その構成を図8に示す。図8の構成おいて、図1で説明したのと同一符号のブロックは、同一機能を示す。
400 個別APD部、 400a 重付APD、 400b 重付APD
500a 重付合成部、 500b 重付合成部、 600 表示制御部
600a 測定値表示制御部、 610 個別APD表示制御手段
620 重付APD表示制御手段、 630 函数尺生成手段
640 重付表示制御手段、 650 表示フォーマット手段
660 操作案内手段、 700 表示部、 800 記憶手段、 900 操作部
1000 APD測定装置、 1100 RF部、 1200 IF検波部
1300 ログ変換部、 1400 シーケンシャル制御部、 1500 測定値記憶部
Claims (5)
- 入力信号を標本化し、デジタルデータにして出力するデータ変換部(100)と、フィルタバンクを有し、該フィルタバンクでデータ変換部の出力を複数の周波数成分に振り分けて各周波数成分の振幅を検出する成分検出部(200)と、
予め入力されている各周波数成分に対応する重み付け量に沿って該各周波数成分の振幅を個々に重み付けをして合成する重付合成部(500a)と、前記重み付けされた各周波数成分の合成後の合成振幅の発生頻度に基づくそれぞれの確率を求める重付APD(400a)と、
を備えたことを特徴とするAPD測定装置。 - 前記成分検出部で検出された各周波数成分の振幅の発生頻度に基づいてそれぞれの確率を求める個別APD部(400)と、
表示部(700)と、
前記個別APD部から出力される各周波数成分の振幅の確率、前記各合成APDから出力される前記合成振幅の確率、及び前記各周波数成分に対応する前記重み付け量をそれぞれ前記表示部の異なった表示領域に、同時に表示させる表示制御部(600)と、を備えたことを特徴とする請求項1に記載のAPD測定装置。 - 前記個別APD部は、所定時間内で発生する各周波数成分の振幅の確率を求め、
前記表示制御部は、前記個別APD部からの出力を受けて、各周波数成分を横軸とし、縦軸とパラメータのそれぞれを前記所定時間、振幅又は確率のいずれかにした表示を行う個別APD表示制御部(610)と、前記各合成振幅について予め推定される確率分布に基づく函数尺を生成する函数尺生成手段(630)と、該各合成APDから出力される前記合成振幅の確率を表示する領域に、予め前記函数尺を表示するとともにその上に該合成振幅の確率を表示する合成APD表示制御部(620)、とを備えたことを特徴とする請求項2に記載のAPD測定装置。 - 前記重付合成部は複数、備えられており、さらに、
予め、前記重付合成部毎に異なる、前記各周波数成分に対応する前記重み付け量を記憶するとともに、該重付合成部毎に対応する前記函数尺を特定する情報を記憶する記憶手段(800)を有し、
前記函数尺生成手段は、該重付合成部毎に対応する前記函数尺を生成し、
前記合成APD表示制御部は、前記重付合成部毎に対応する函数尺及び確率の表示を、重付合成部毎に選択的に、或いは同時にかつ識別可能に表示することを特徴とする請求項3に記載のAPD測定装置。 - 入力RF信号を中間周波数帯域の信号に変換するRF部(1100)と、該RF部の出力をデジタルデータに変換するデータ変換部(100)と、該データ変換部の出力を基に、前記入力RF信号を測定する信号測定装置において、
フィルタバンクを有し、該フィルタバンクでデータ変換部の出力を複数の周波数成分に振り分けて各周波数成分の振幅を検出する成分検出部(200)と、成分検出部で検出された各周波数成分の振幅の発生頻度に基づいてそれぞれの確率を求める個別APD部(400)と、
予め入力されている各周波数成分に対応する重み付け量に沿って該各周波数成分の振幅を個々に重み付けをして合成する、1又は複数の重付合成部(500a、500b)と、該重付合成部に対応して設けられ、重み付けされた各周波数成分の合成後の合成振幅の発生頻度に基づくそれぞれの確率を求める重付APD(400a、400b)と、
表示部(700)と、
前記個別APD部から出力される各周波数成分の振幅の確率、前記各合成APDから出力される前記合成振幅の確率、及び前記各周波数成分に対応する前記重み付け量をそれぞれ前記表示部の異なった表示領域に、同時に表示させる表示制御部(600)と、を備えたことを特徴とする信号測定装置。
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