JP2010237146A - Ａｐｄ測定装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】測定対象の規格にあわせて、チャンネル数や分解能帯域幅ＲＢＷなどの測定条件を変更可能とすることで、様々な測定対象の測定を可能とし、かつ、あわせて測定機器の校正を可能とすることで、さらに高い測定確度で測定が可能な汎用的なＡＰＤ測定装置を提供する。
【解決手段】Ａ／Ｄ変換手段（１１０）と、周波数選択手段（１３０）と、ＡＰＤ部（３００）とでデータをサンプリングするクロック信号の周期を調整可能とすることで、測定時の分解能帯域幅やチャンネル数を柔軟に変更可能とする。あわせて、周波数選択手段（１３０）としてＦＦＴ型処理手段（１３１）と、フィルタバンク型処理手段（１３２）とを並列に備え、測定確度の高いフィルタバンク型処理手段（１３２）の出力をもとに、ＦＦＴ型処理手段（１３１）の出力を校正することで、より確度の測定を可能とする。
【選択図】図１
【解決手段】Ａ／Ｄ変換手段（１１０）と、周波数選択手段（１３０）と、ＡＰＤ部（３００）とでデータをサンプリングするクロック信号の周期を調整可能とすることで、測定時の分解能帯域幅やチャンネル数を柔軟に変更可能とする。あわせて、周波数選択手段（１３０）としてＦＦＴ型処理手段（１３１）と、フィルタバンク型処理手段（１３２）とを並列に備え、測定確度の高いフィルタバンク型処理手段（１３２）の出力をもとに、ＦＦＴ型処理手段（１３１）の出力を校正することで、より確度の測定を可能とする。
【選択図】図１
Description
本発明は、信号の周波数成分を分析し、各周波数成分の大きさが所定の閾値を超える確率（振幅確率分布、或いは、単に時間率といわれる。以下「ＡＰＤ（Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ Ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ）」と呼ぶ。）を測定するＡＰＤ測定装置に関する。
ＡＰＤ測定技術は従来からあり、信号振幅は、その信号を含む周波数帯域と密接に関係する。ここではこの信号を入力信号と呼ぶ。周波数成分とは周波数帯域成分を含むこととする。入力信号をＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）を用いて周波数帯域成分に分離し特定の周波数帯域成分を抽出する特許文献１に記載のＦＦＴ型のＡＰＤ測定装置と、あらかじめ特定の周波数帯域成分を入力信号から抽出できるように調整したフィルタを並列に並べることで、入力信号を周波数帯域成分に分離し特定の周波数帯域成分を抽出する特許文献２に記載のフィルタバンク型のＡＰＤ測定装置が知られている。
一方で、近年、ＯＦＤＭ方式（Ｏｒｔｈｏｇｏｎａｌ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｄｉｖｉｓｉｏｎ Ｍｕｌｔｉｐｌｅｘ Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ Ｍｏｄｅ）の登場により、周波数利用効率が増大し、多チャンネル化が進んでいる。非特許文献１には、地上デジタル放送の規格及び伝送方式であるＯＦＤＭ方式に関する説明が記載されている。ＯＦＤＭ方式では、伝送データを所定の帯域に数千本の低速データに分けて、デジタル変調を行っている。地上デジタル放送を例にすると、その所定の帯域が約５．６ＭＨｚであるため、伝送データを約１ｋＨｚの搬送波（キャリア）単位で分けて、計５、６００本に分けてデジタル変調していることになる。
このように、ＯＦＤＭ方式におけるＡＰＤ測定は、地上デジタル放送の規格を例にとっても、各信号成分のチャンネル間隔を約１ｋＨｚとして周波数分析して、数千単位のチャンネルに対し各周波数帯域成分のＡＰＤを測定することが望まれており、複数チャンネルに対して同時に測定を実施する特許文献２に記載のＡＰＤ測定装置も知られている。
東芝レビューＶＯＬ．５８ Ｎｏ．１２（２００３年）、ｐ２〜６
ところで、ＯＦＤＭ方式について地上デジタル放送を例に説明したが、ＯＦＤＭ方式は地上デジタル放送に限って利用されているものではなく、携帯電話や無線ＬＡＮ等のさまざまな規格のもと幅広く使用されている。測定対象の規格が異なるとチャンネル間隔やチャンネル数などの測定条件が異なってくるため、複数の様々な規格に対応するためには、チャンネル数や分解能帯域幅ＲＢＷ（Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ Ｂａｎｄ Ｗｉｄｔｈ）、又は、ＡＰＤ測定時間などの測定条件を柔軟に変更可能である必要がある。
ここで、既存のＡＰＤ測定装置の特徴について整理する。特許文献１に記載のＦＦＴ型のＡＰＤ測定装置は、ＦＦＴの演算により入力信号を各周波数帯域成分に分離するため、測定対象にあわせてチャンネル数を変更可能であるという利点を持つが、反面、チャンネル数の増大に伴い演算量も比例して増大し処理に時間がかかるという問題がある。これに対して、特許文献２に記載のフィルタバンク型のＡＰＤ測定装置を用いた場合、各周波数帯域成分に対応したフィルタが並列で周波数帯域成分の抽出を行うため、チャンネル数が増えても高速に処理できる。しかし、フィルタバンク型のＡＰＤ測定装置は、各フィルタでは特定の周波数帯域成分しか抽出することができないため、対応する周波数帯域成分すべてをカバーしようとすると、機器を構成するハードウェアが増大し複雑化、高コスト化するという問題があり、測定条件にあわせてチャンネルを柔軟に変更可能とすることは困難である。
また、ＦＦＴ型のＡＰＤ測定装置は測定確度に問題がある場合もあった。これは、本来フーリエ変換（ＦＴ）は−∞から∞までの時間で計算を実施する理論式であるが、実質的な高速計算手法のＦＦＴでは、入力信号に対し窓関数を適用し有限の範囲で演算を施すためである。そのため、ＦＦＴ型のＡＰＤ測定装置においても、測定確度を確保するために、測定対象の規格に限定し、その規格に合わせてチャンネル数、又は、分解能帯域幅ＲＢＷを固定したうえで、あらかじめチューニングを施しており、汎用的に測定条件を変更できるものではなかった。
ここで、本発明は上記の問題を解決するものであり、ＦＦＴ型の周波数選択手段とフィルタバンク型の周波数選択手段とを併用することで、複数チャンネル群の構成が実現できて、これらのチャンネル群に対して同時に測定し、かつ、チャンネル数の増大に伴う処理時間の増加を軽減するＡＰＤ測定装置を提供する。また、チャンネル数や分解能帯域幅ＲＢＷなどの測定条件を変更可能とすることで、様々な測定対象の測定を可能とするＡＰＤ測定装置を提供する。また、測定条件を変更した時に、あわせてＦＦＴ型の周波数選択手段が出力する振幅の校正を可能とすることで、様々な測定対象の測定を可能としながら、さらに、高い測定確度で測定が可能な汎用的なＡＰＤ測定装置を提供する。
上記目的を達成するために、本発明は、サンプリングクロックの周波数調整により分解能帯域幅ＲＢＷ、又は、チャンネル数を調整し、さらに、測定確度の正確なフィルタバンク型のＡＰＤ測定装置の出力を利用し、ＦＦＴ型のＡＰＤ測定装置の出力を校正する点に着目した。
具体的に、請求項１に記載の発明は、入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、前記デジタルデータから所定の測定周波数帯域成分を抽出する周波数選択手段（１３０）とを有する周波数分析部（１００）と、前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、各測定周波数帯域成分の前記振幅の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有し、ＡＰＤ測定を行うＡＰＤ測定装置であって、前記周波数選択手段（１３０）は、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから前記各測定周波数帯域成分を抽出するフィルタを構成するＦＦＴ型処理手段（１３１）と、前記デジタルデータから所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成するフィルタバンク型処理手段（１３２）とを並列に備え、前記ＦＦＴ型処理手段と、前記フィルタバンク型処理手段とを、測定周波数帯域成分に応じて切替えて、前記測定周波数帯域成分を抽出することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項２に記載の発明は、前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）により抽出した測定周波数帯域成分の振幅と、前記フィルタバンク型処理手段（１３２）により抽出した測定周波数帯域成分の振幅とを比較し、比較結果に基づき、ＦＦＴの演算時に発生する前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）の測定確度の誤差を校正する校正手段（９００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項３に記載の発明は、クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、測定周波数帯域成分の数である測定チャンネル数、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項４に記載の発明は、前記ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）により、前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）と前記フィルタバンク型処理手段（１３２）に対し、測定時の分解能帯域幅ＲＢＷ、又は、測定チャンネル数を個別に設定可能であることを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項５に記載の発明は、入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、少なくとも、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するＦＦＴ型周波数選択手段（１３１）を有する周波数分析部（１００）と、前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、各測定周波数帯域成分の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有するＡＰＤ測定装置であって、クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、測定周波数帯域成分の数である測定チャンネル数、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項６に記載の発明は、入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、少なくとも、入力信号から所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成し前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するフィルタバンク型周波数選択手段（１３２）のいずれかを有する周波数分析部（１００）と、前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、各測定周波数帯域成分の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有するＡＰＤ測定装置であって、クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
具体的に、請求項１に記載の発明は、入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、前記デジタルデータから所定の測定周波数帯域成分を抽出する周波数選択手段（１３０）とを有する周波数分析部（１００）と、前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、各測定周波数帯域成分の前記振幅の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有し、ＡＰＤ測定を行うＡＰＤ測定装置であって、前記周波数選択手段（１３０）は、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから前記各測定周波数帯域成分を抽出するフィルタを構成するＦＦＴ型処理手段（１３１）と、前記デジタルデータから所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成するフィルタバンク型処理手段（１３２）とを並列に備え、前記ＦＦＴ型処理手段と、前記フィルタバンク型処理手段とを、測定周波数帯域成分に応じて切替えて、前記測定周波数帯域成分を抽出することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項２に記載の発明は、前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）により抽出した測定周波数帯域成分の振幅と、前記フィルタバンク型処理手段（１３２）により抽出した測定周波数帯域成分の振幅とを比較し、比較結果に基づき、ＦＦＴの演算時に発生する前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）の測定確度の誤差を校正する校正手段（９００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項３に記載の発明は、クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、測定周波数帯域成分の数である測定チャンネル数、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項４に記載の発明は、前記ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）により、前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）と前記フィルタバンク型処理手段（１３２）に対し、測定時の分解能帯域幅ＲＢＷ、又は、測定チャンネル数を個別に設定可能であることを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項５に記載の発明は、入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、少なくとも、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するＦＦＴ型周波数選択手段（１３１）を有する周波数分析部（１００）と、前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、各測定周波数帯域成分の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有するＡＰＤ測定装置であって、クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、測定周波数帯域成分の数である測定チャンネル数、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
また、請求項６に記載の発明は、入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、少なくとも、入力信号から所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成し前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するフィルタバンク型周波数選択手段（１３２）のいずれかを有する周波数分析部（１００）と、前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、各測定周波数帯域成分の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有するＡＰＤ測定装置であって、クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置である。
本発明によれば、ＦＦＴ型処理手段とフィルタバンク型処理手段の双方の周波数選択手段を、それぞれが測定対象とする周波数帯域成分を分けて設定することにより、チャンネル数の増大に伴う処理時間の増加を軽減することが可能となる。
また、Ａ／Ｄ変換手段、周波数選択手段、又は、ＡＰＤ部へのクロック信号の周期を変更し、ＦＦＴ型処理手段とフィルタバンク型処理手段のいずれかもしくは双方の組み合わせにより、測定対象の規格に合わせて、測定条件、つまり、分解能帯域幅ＲＢＷやチャンネル数を柔軟に変更可能となる。これにより、本発明のＡＰＤ測定装置は、汎用の測定装置として様々な測定対象を測定可能となり、測定対象にあわせて測定装置を切替える必要がなくなるためコストダウンにつながる。また、測定条件を柔軟に変更できるため、測定条件を調整しつつ測定装置を並列に増設することで、測定時の負荷を分散し、容易に処理速度の向上を図ることも可能となる。
さらに、ＦＦＴ型処理手段とフィルタバンク型処理手段の双方の周波数選択手段を合わせて使用し、ＦＦＴ型処理手段の利得を、測定確度が正確なフィルタバンク型処理手段の利得により校正することで、測定条件を柔軟に変更し様々な規格に汎用的に対応しながら、さらに確度の高い測定が可能となる。
（第１実施形態）
本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら説明する。図１及び図２に基づいて、動作順に構成及び動作を、以下の契機に分けてそれぞれ説明する。
・ＡＰＤの測定
・測定条件の設定
・測定装置の校正
本発明に係る実施形態について、図面を参照しながら説明する。図１及び図２に基づいて、動作順に構成及び動作を、以下の契機に分けてそれぞれ説明する。
・ＡＰＤの測定
・測定条件の設定
・測定装置の校正
（ＡＰＤの測定）
まず、ＡＰＤの測定について、図２（ａ）．を用いて説明する。図２（ａ）．はＡＰＤの測定に関する一連の処理を表したフローチャートである。
まず、ＡＰＤの測定について、図２（ａ）．を用いて説明する。図２（ａ）．はＡＰＤの測定に関する一連の処理を表したフローチャートである。
（ステップＳ１）
本実施形態に係るＡＰＤ測定装置は、動作モードとしてＡＰＤの測定を行う測定モードと、機器の校正を行う校正モードがあり、制御部７００が測定装置の状態と動作モードの管理及び切替えを行う。ＡＰＤの測定を行う場合は、制御部７００は動作モードを測定モードに変更する。
本実施形態に係るＡＰＤ測定装置は、動作モードとしてＡＰＤの測定を行う測定モードと、機器の校正を行う校正モードがあり、制御部７００が測定装置の状態と動作モードの管理及び切替えを行う。ＡＰＤの測定を行う場合は、制御部７００は動作モードを測定モードに変更する。
制御部７００は動作モードを測定モードに変更した後、被測定対象信号を入力信号として、周波数分析部１００に入力する。周波数分析部１００は、被測定信号である入力信号を受けデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換手段１１０と、デジタルデータに変換された入力信号をベースバンド信号に変換する周波数変換手段１２０と、測定点とするための予め指定されたそれぞれ異なる複数の周波数帯域について、前記それぞれ異なる複数の周波数帯域に相当する信号を、前記Ａ／Ｄ変換手段１１０及び前記周波数変換手段１２０によりデジタルデータに変換された入力信号から選択する周波数選択手段１３０とを有し、入力信号を分析し、測定条件にあわせて周波数帯域成分を抽出する。
（ステップＳ２）
周波数分析部１００の内部の構成について詳しく説明する。周波数分析部１００に入力された被測定対象信号は、入力信号としてＡ／Ｄ変換手段１１０に入力される。Ａ／Ｄ変換手段１１０は、入力信号を受け、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からのクロック信号に従い、周波数ｆａｄで標本化（サンプリング）し、入力信号をデジタルデータに変換する。ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００の詳細については後述する。
周波数分析部１００の内部の構成について詳しく説明する。周波数分析部１００に入力された被測定対象信号は、入力信号としてＡ／Ｄ変換手段１１０に入力される。Ａ／Ｄ変換手段１１０は、入力信号を受け、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からのクロック信号に従い、周波数ｆａｄで標本化（サンプリング）し、入力信号をデジタルデータに変換する。ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００の詳細については後述する。
（ステップＳ３）
Ａ／Ｄ変換手段１１０でデジタルデータに変換された入力信号は、周波数変換手段１２０に入力される。周波数変換手段１２０は、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からの周波数ｆｄｄｃのクロック信号に従い、Ａ／Ｄ変換手段１１０によりデジタルデータに変換された入力信号を、中間周波数（ＩＦ）帯域信号からベースバンド信号に変換し、あわせて、周波数選択手段１３０で処理される帯域に応じた低めのサンプリングレートでＩ，Ｑ信号に変換される。周波数変換手段１２０により、サンプリングレートが低く変換されることで、消費電力を低くおさえることが可能となる。
Ａ／Ｄ変換手段１１０でデジタルデータに変換された入力信号は、周波数変換手段１２０に入力される。周波数変換手段１２０は、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からの周波数ｆｄｄｃのクロック信号に従い、Ａ／Ｄ変換手段１１０によりデジタルデータに変換された入力信号を、中間周波数（ＩＦ）帯域信号からベースバンド信号に変換し、あわせて、周波数選択手段１３０で処理される帯域に応じた低めのサンプリングレートでＩ，Ｑ信号に変換される。周波数変換手段１２０により、サンプリングレートが低く変換されることで、消費電力を低くおさえることが可能となる。
（ステップＳ４）
次に、周波数選択手段１３０は、周波数変換手段１２０でベースバンド信号に変換されたＩ，Ｑのデジタルデータから、測定対象の周波数帯域成分を抽出する。周波数選択手段１３０は、ＦＦＴを用いて特定の周波数の信号を抽出するＦＦＴ型処理手段１３１と、あらかじめ設定された特定の周波数の信号を抽出するフィルタを並列に並べたフィルタバンク型処理手段１３２とを有し、これらの処理手段のいずれか、もしくは、双方を使用し、デジタルデータに変換された入力信号から、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００により指定された周波数帯域成分を選択し抽出する。ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、フィルタバンク型処理手段１３２により抽出された周波数帯域成分は、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からの指示に従い、セレクタ１３３により、測定対象の周波数帯域成分として、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２とのいずれか、あるいは、双方の出力が切替えて出力される。
次に、周波数選択手段１３０は、周波数変換手段１２０でベースバンド信号に変換されたＩ，Ｑのデジタルデータから、測定対象の周波数帯域成分を抽出する。周波数選択手段１３０は、ＦＦＴを用いて特定の周波数の信号を抽出するＦＦＴ型処理手段１３１と、あらかじめ設定された特定の周波数の信号を抽出するフィルタを並列に並べたフィルタバンク型処理手段１３２とを有し、これらの処理手段のいずれか、もしくは、双方を使用し、デジタルデータに変換された入力信号から、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００により指定された周波数帯域成分を選択し抽出する。ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、フィルタバンク型処理手段１３２により抽出された周波数帯域成分は、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からの指示に従い、セレクタ１３３により、測定対象の周波数帯域成分として、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２とのいずれか、あるいは、双方の出力が切替えて出力される。
ここで、周波数選択手段１３０の内部の構成についてさらに詳しく説明する。ＦＦＴ型処理手段１３１は、周波数変換手段１２０の出力を受け、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からのクロック信号（周波数ｆｆｆｔ）をもとにＦＦＴの演算処理を行い、デジタルデータに変換された入力信号から、ＦＦＴ型処理手段１３１における分解能帯域幅ＲＢＷfft、で各周波数帯域成分を抽出する。これは、クロック信号の周波数ｆｆｆｔが、ＦＦＴ型処理手段１３１における分解能帯域幅ＲＢＷfft、、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分の数ｎfft、及び、各周波数帯域成分に対しＡＰＤの測定に必要なデータ数をもとに設定されているため可能となる。クロック信号の周波数ｆｆｆｔの詳細は後述する。
フィルタバンク型処理手段１３２は、周波数変換手段１２０の出力を受け、該フィルタバンク内の各フィルタに周波数変換手段１２０の出力を入力し、デジタルデータに変換された入力信号から、フィルタバンク内の各フィルタに対応した所定の周波数帯域成分を抽出する。
セレクタ１３３は、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、フィルタバンク型処理手段１３２により抽出された周波数帯域成分を受け、測定条件の設定時に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００が設定した測定条件に従い、ＡＰＤの算出に必要な各周波数帯域成分をＦＦＴ型処理手段１３１、又は、フィルタバンク型処理手段１３２のいずれか、あるいは、双方から選択し出力する。
ここで、セレクタ１３３による切替え例について、図３に示した例をもとに説明する。図３は測定対象の周波数帯域成分と、各周波数帯域成分の抽出方法の割当てに関する例を説明するための補助図である。例えば、図３（ａ）．のようにｆ１からｆｊまでの周波数帯域成分をフィルタバンク型処理手段、ｆｊ＋１からｆｎまでの周波数帯域成分をＦＦＴ型処理手段で取得する設定とした場合、セレクタ１３３は、ｆ１からｆｊまでの周波数帯域成分として、フィルタバンク型処理手段１３２により抽出した周波数帯域成分を出力し、ｆｊ＋１からｆｎまでの周波数帯域成分はＦＦＴ型処理手段１３１により抽出した周波数帯域成分を出力する。このように周波数領域を分けて、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２とを切替えることにより、最適なチャンネル構成が可能なため、少ないチャンネル構成ではフィルタバンク型を使用することによりＦＦＴの演算処理数を軽減することも可能となる。
また、図３（ｂ）．のように、ｆｂ１、ｆｂ２、・・・ｆｂｎの周波数帯域成分をフィルタバンク型処理手段で抽出し、操作者からの要求によっては、ｆｂ１＋１からｆｂ２−１、ｆｂ２＋１からｆｂ３−１のように、フィルタバンク型で取得する周波数帯域成分の間の周波数帯域成分を、ＦＦＴ型処理手段で取得するように設定することも、上述したＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００からの、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数変換手段１２０、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、フィルタバンク型処理手段１３２へのクロック信号の周波数を調整することで達成できる。
（ステップＳ５）
周波数選択手段１３０が抽出した周波数帯域成分は、周波数帯域成分ごとにレベル検出部２００に入力される。レベル検出部２００はｎ個の検波器Ｄｅｔ１〜ｎ（以降は、「Ｄｅｔ１〜ｎ」と呼ぶ）を備えており、周波数選択手段１３０により抽出されたＩ，Ｑ信号の各周波数帯域成分をＤｅｔ１〜ｎで自乗検波し、各周波数帯域成分の振幅例えば電力値をＬＯＧ変換手段（図示しない）により対数変換したうえで出力する。
周波数選択手段１３０が抽出した周波数帯域成分は、周波数帯域成分ごとにレベル検出部２００に入力される。レベル検出部２００はｎ個の検波器Ｄｅｔ１〜ｎ（以降は、「Ｄｅｔ１〜ｎ」と呼ぶ）を備えており、周波数選択手段１３０により抽出されたＩ，Ｑ信号の各周波数帯域成分をＤｅｔ１〜ｎで自乗検波し、各周波数帯域成分の振幅例えば電力値をＬＯＧ変換手段（図示しない）により対数変換したうえで出力する。
ＡＰＤ部３００は、レベル検出部２００が出力した（対数変換された）振幅値から振幅確率分布を測定する測定部であって、個別ＡＰＤ１〜ｎ（以降は、「ＡＰＤ１〜ｎ」と呼ぶ）と、範囲分類手段３１０とを有している。
個別ＡＰＤ１〜ｎは、Ａ／Ｄ変換手段１１０で標本化し、量子化の精度より小さい単位で、所定時間に入力された振幅値の発生回数を計測するとともに、この発生回数を所定時間ごとに観測し出現頻度として算出し、振幅確率分布を測定する。なお、ＡＰＤの測定、つまり振幅確率分布の測定について、詳細は特許文献２に記載されており、その技術がそのまま利用できる。
範囲分類手段３１０は、ＡＰＤ１〜ｎで測定した振幅確率分布のデータを所定の範囲ごとに分類する。ここで分類された範囲ごとに情報が割り付けられ、測定結果の表示時に色分けされて表示される。図４は、２５．６１０ＭＨｚの周波数帯域成分を３ｋＨｚの分解能帯域幅で測定し、振幅確率分布ＡＰＤを、０＜ＡＰＤ≦１％と、１＜ＡＰＤ≦１０％と、１０＜ＡＰＤ≦５０％と、５０％＜ＡＰＤの４つに分類し、縦軸に振幅を、横軸には周波数を割当て、分類した測定結果をカラーバーの形式で表示した表示例である。
（ステップＳ６）
ＡＰＤ部３００により、測定された振幅確率分布は記憶部４００に記憶される。表示制御部５００は、操作部６２０からの操作者の操作により指定されたフォーマットに従い、記憶部４００に記憶されたデータを表示部６１０へ表示させる。
ＡＰＤ部３００により、測定された振幅確率分布は記憶部４００に記憶される。表示制御部５００は、操作部６２０からの操作者の操作により指定されたフォーマットに従い、記憶部４００に記憶されたデータを表示部６１０へ表示させる。
なお、前記周波数選択手段１３０は、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２の双方を備え、セレクタ１３３により切替える構成について説明しているが、それら双方の代わりに、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するＦＦＴ型周波数選択手段１３１か、もしくは、入力信号から所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成し前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するフィルタバンク型周波数選択手段１３２の一方を備える構成とすることも可能である。
ただし、前記周波数選択手段１３０として、フィルタバンク型周波数選択手段１３２だけを用いる場合は、測定対象の周波数帯域成分がフィルタバンク内に搭載されたフィルタに限られるため、測定チャンネル数の変更が搭載されたフィルタ群で対応可能な範囲に制限される。
また、前記周波数選択手段１３０として、ＦＦＴ型周波数選択手段１３１だけか、もしくは、フィルタバンク型周波数選択手段１３２だけを用いる場合、後述する測定装置の校正は行えない。
（測定条件の設定）
次に、測定条件の設定について、図２（ｂ）．を参照しながら説明する。図２（ｂ）．は測定条件の設定に関する一連の処理を表したフローチャートである。測定条件の設定を変更する場合には、装置の動作に必用な内部パラメータを決定するためにＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、操作部６２０からの操作者の入力情報（以降は、「入力情報」と呼ぶ）をもとに、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。
次に、測定条件の設定について、図２（ｂ）．を参照しながら説明する。図２（ｂ）．は測定条件の設定に関する一連の処理を表したフローチャートである。測定条件の設定を変更する場合には、装置の動作に必用な内部パラメータを決定するためにＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、操作部６２０からの操作者の入力情報（以降は、「入力情報」と呼ぶ）をもとに、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。
（ステップＳ１１）
ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、制御部７００からの測定条件の設定の指示を受け、入力情報をもとに、測定条件としてチャンネル数ｎ、分解能帯域幅ＲＢＷ、及び、ＡＰＤの測定時間Ｔを決定し、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。このとき、設定した測定条件を基に、各測定周波数帯域成分を、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２とのいずれかに割当てる。
ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、制御部７００からの測定条件の設定の指示を受け、入力情報をもとに、測定条件としてチャンネル数ｎ、分解能帯域幅ＲＢＷ、及び、ＡＰＤの測定時間Ｔを決定し、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。このとき、設定した測定条件を基に、各測定周波数帯域成分を、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２とのいずれかに割当てる。
さらに、ＦＦＴ型処理手段１３１に割当てられた周波数帯域成分の測定に必要なＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分の数ｎfft（以降は、「チャンネル数ｎfft」と呼ぶ）を算出する。このとき、ＦＦＴ型処理手段１３１のチャンネル数ｎfftには、ＦＦＴ型処理手段１３１に割当てられた周波数帯域成分の数以上の値が設定される。また、ＦＦＴ型処理手段１３１に割当てられた周波数帯域成分間の間隔Δｆｆｆｔから分解能帯域幅ＲＢＷfft（ＲＢＷfft＝Δｆｆｆｔ）を算出する。
（ステップＳ１２）
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、装置の動作に必要な内部パラメータとして、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数変換手段１２０、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、ＡＰＤ部３００のそれぞれでデータを取得するためのクロック信号の周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃ、ｆｆｆｔ、ｆａｐｄを算出する。ここで、ｆａｄはＡ／Ｄ変換手段１１０で入力信号からデジタルデータをサンプリングするためのクロック信号の周波数、ｆｄｄｃは周波数変換手段１２０でサンプリングデータのレートを変換するためのクロック信号の周波数、ｆｆｆｔはＦＦＴ型処理手段１３１でデジタルデータに変換された入力信号から所定の周波数帯域成分を抽出するためのクロック信号の周波数、ｆａｐｄはＡＰＤ部３００で振幅確率分布の計算に使用するデータを取得するためのクロック信号の周波数である。
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、装置の動作に必要な内部パラメータとして、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数変換手段１２０、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、ＡＰＤ部３００のそれぞれでデータを取得するためのクロック信号の周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃ、ｆｆｆｔ、ｆａｐｄを算出する。ここで、ｆａｄはＡ／Ｄ変換手段１１０で入力信号からデジタルデータをサンプリングするためのクロック信号の周波数、ｆｄｄｃは周波数変換手段１２０でサンプリングデータのレートを変換するためのクロック信号の周波数、ｆｆｆｔはＦＦＴ型処理手段１３１でデジタルデータに変換された入力信号から所定の周波数帯域成分を抽出するためのクロック信号の周波数、ｆａｐｄはＡＰＤ部３００で振幅確率分布の計算に使用するデータを取得するためのクロック信号の周波数である。
（クロック信号の周波数の設定）
ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、まず、ＡＰＤ部３００へのクロック信号の周波数ｆａｐｄを、ＦＦＴ型処理手段１３１に設定された分解能帯域幅ＲＢＷfftと、被測定信号が分解能帯域幅ＲＢＷfft中を通過する間にサンプリングするデータ数は乗数ｍapdを用いて算出し設定する。このとき、乗数ｍapdは１０以上に設定する必要がある。これは、乗数ｍapdを十分に確保しないと、信号のピークを含めた特徴点が十分に検出できなくなるためである。ｆａｐｄの算出式を以下に示す。ＡＰＤ部３００の詳細は後述する。
ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、まず、ＡＰＤ部３００へのクロック信号の周波数ｆａｐｄを、ＦＦＴ型処理手段１３１に設定された分解能帯域幅ＲＢＷfftと、被測定信号が分解能帯域幅ＲＢＷfft中を通過する間にサンプリングするデータ数は乗数ｍapdを用いて算出し設定する。このとき、乗数ｍapdは１０以上に設定する必要がある。これは、乗数ｍapdを十分に確保しないと、信号のピークを含めた特徴点が十分に検出できなくなるためである。ｆａｐｄの算出式を以下に示す。ＡＰＤ部３００の詳細は後述する。
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、ＦＦＴ型処理手段１３１へのクロック信号の周波数ｆｆｆｔを、ｆａｐｄとＦＦＴ型処理手段に割り当てられたチャンネル数ｎfftとから算出し設定する。ＦＦＴ型処理手段１３１は、このクロック信号によりＦＦＴ演算を用いて、デジタルデータに変換された入力信号から周波数帯域成分を抽出する。このとき、周波数帯域成分を正しく標本化するために、抽出される周波数帯域成分ごとにｆａｐｄの２倍以上の周波数でサンプリングする必要がある。ｆｆｆｔの算出式を以下に示す。ＦＦＴ型処理手段１３１の詳細は後述する。
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、周波数変換手段１２０へのクロック信号の周波数ｆｄｄｃを、ｆｆｆｔをもとに算出し設定する。周波数変換手段１２０は、このクロック信号をもとにデジタルデータに変換された入力信号のサンプリングレートを変換する。ＦＦＴ型処理手段１３１で正しくデータを取得するために、ｆｄｄｃにはｆｆｆｔ以上の周波数（ｆｄｄｃ≧ｆｆｆｔ）を設定する必要がある。特に、ＦＦＴ型処理手段１３１のＦＦＴの演算を段数Ｋに分けて演算する場合は、Ｋ＊ｆｆｆｔの周波数でのサンプリングが必要となり、このサンプリングをｆｄｄｃで処理する。周波数変換手段１２０の詳細は後述する。
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、Ａ／Ｄ変換手段１１０へのクロック信号の周波数ｆａｄを、ｆｄｄｃをもとに算出し設定する。Ａ／Ｄ変換手段１１０は、このクロック信号をもとに入力信号を標本化しデジタルデータに変換する。周波数変換手段１２０で正しくデータを変換するために、ｆａｄにはｆｄｄｃ以上の周波数（ｆａｄ≧ｆｄｄｃ）を設定する必要がある。Ａ／Ｄ変換手段１１０の詳細については後述する。
以上をまとめると、クロック信号の周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃ、ｆｆｆｔ、ｆａｐｄの関係を表す計算式は以下の通りである。
なお、ここで算出した周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃ、ｆｆｆｔ、ｆａｐｄをもとに、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００が、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数変換手段１２０、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、ＡＰＤ部３００の各部に対応するクロック信号を送ることで、クロック信号を受けた各部において、測定条件に従い、必要なデータが取得される。
（測定装置の校正）
次に測定装置の校正について、図２（ｃ）．及び図５を用いて説明する。図２（ｃ）．は測定装置の校正時の一連の動作を説明するフローチャートである。また、図５（ａ）.はフィルタバンク型処理手段１３２について、周波数と振幅の関係に関する特性を表したグラフであり、図５（ｂ）.はＦＦＴ型処理手段１３１について、周波数と振幅の関係に関する特性を表したグラフである。
次に測定装置の校正について、図２（ｃ）．及び図５を用いて説明する。図２（ｃ）．は測定装置の校正時の一連の動作を説明するフローチャートである。また、図５（ａ）.はフィルタバンク型処理手段１３２について、周波数と振幅の関係に関する特性を表したグラフであり、図５（ｂ）.はＦＦＴ型処理手段１３１について、周波数と振幅の関係に関する特性を表したグラフである。
ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、フィルタバンク型処理手段１３２は、例えば、図５（ａ）．に示したフィルタバンク型処理手段１３２の特性のように、周波数帯域成分に限らず、所定の振幅を持つ入力信号から一定の振幅（例えば、図５（ａ）．におけるＡｆｂ（ｆｂ０））の信号を出力するように、ゲインが調整されていることにより、確度の高い振幅を得ることができる。しかし、図５（ｂ）．のように、ＦＦＴ型処理手段１３１を用いた場合、周波数帯域成分によって出力される信号のレベル（フィルタのゲイン）が変化する。この信号のレベルの変化は、ＦＦＴ演算時の誤差により発生する。フーリエ変換（ＦＴ）は−∞から∞までの時間で計算を実施する理論式であるが、実質的な高速計算手法のＦＦＴでは、入力信号に対し窓関数を適用し有限の範囲で演算を実施するため、これにより誤差が生じる。この、周波数分析部１００内部の周波数選択手段１３０、特に、ＦＦＴ型処理手段１３１のゲイン（振幅）に発生する誤差を、測定確度の高いフィルタバンク型処理手段１３２のゲイン（振幅）との比較をもとに校正する。よって、測定装置の校正は、主に、ＦＦＴの演算条件が変更されるとき、つまり、測定条件を変更したときにあわせて実施する。
（ステップＳ２１）
測定装置の校正を行う場合は、制御部７００は動作モードを校正モードに変更し、ＦＦＴ型処理手段１３１の校正を開始する。校正は校正手段９００により行われる。
測定装置の校正を行う場合は、制御部７００は動作モードを校正モードに変更し、ＦＦＴ型処理手段１３１の校正を開始する。校正は校正手段９００により行われる。
（ステップＳ２２）
校正手段９００は、まず、校正の基準となるフィルタバンク型処理手段１３２のゲインを求める。フィルタバンク型処理手段１３２における周波数ｆｂ０のフィルタを用いてゲインを求めるものとした場合、測定装置への入力信号として、周波数ｆｂ０の周波数帯域成分（以降は、「周波数帯域成分ｆｂ０」と呼ぶ）に所定の振幅Ａｉｎ（ｆｂ０）を有する校正用の信号をＡ／Ｄ変換手段１１０に入力し、フィルタバンク型処理手段１３２の周波数帯域成分ｆｂ０の振幅Ａｆｂ（ｆｂ０）を測定したうえで、Ａｉｎ（ｆｂ０）及びＡｆｂ（ｆｂ０）から、フィルタバンク型処理手段１３２のゲインＧａｉnｆｂ（ｆｂ０）を算出する。Ｇａｉnｆｂ（ｆｂ０）の計算式を以下に示す。
校正手段９００は、まず、校正の基準となるフィルタバンク型処理手段１３２のゲインを求める。フィルタバンク型処理手段１３２における周波数ｆｂ０のフィルタを用いてゲインを求めるものとした場合、測定装置への入力信号として、周波数ｆｂ０の周波数帯域成分（以降は、「周波数帯域成分ｆｂ０」と呼ぶ）に所定の振幅Ａｉｎ（ｆｂ０）を有する校正用の信号をＡ／Ｄ変換手段１１０に入力し、フィルタバンク型処理手段１３２の周波数帯域成分ｆｂ０の振幅Ａｆｂ（ｆｂ０）を測定したうえで、Ａｉｎ（ｆｂ０）及びＡｆｂ（ｆｂ０）から、フィルタバンク型処理手段１３２のゲインＧａｉnｆｂ（ｆｂ０）を算出する。Ｇａｉnｆｂ（ｆｂ０）の計算式を以下に示す。
次に、ＦＦＴ型処理手段１３１の校正処理を行う。ＦＦＴ型処理手段１３１の校正処理は周波数帯域成分ごとに実施する。以下、周波数ｆｉの周波数帯域成分（以降は、「周波数帯域成分ｆｉ」と呼ぶ）を例に説明する。
（ステップＳ２３）
校正手段９００は、測定装置への入力信号として、周波数帯域成分ｆｉに所定の振幅Ａｉｎ（ｆｉ）を有する校正用の信号を測定装置に入力し、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分ｆｉの振幅Ａｆｆｔ（ｆｉ）を測定したうえで、Ａｉｎ（ｆｉ）及びＡｆｆｔ（ｆｉ）から、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分ｆｉにおけるゲインＧａｉnｆｆｔ（ｆｉ）を算出する。Ｇａｉnｆｆｔ（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
校正手段９００は、測定装置への入力信号として、周波数帯域成分ｆｉに所定の振幅Ａｉｎ（ｆｉ）を有する校正用の信号を測定装置に入力し、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分ｆｉの振幅Ａｆｆｔ（ｆｉ）を測定したうえで、Ａｉｎ（ｆｉ）及びＡｆｆｔ（ｆｉ）から、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分ｆｉにおけるゲインＧａｉnｆｆｔ（ｆｉ）を算出する。Ｇａｉnｆｆｔ（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
（ステップＳ２４）
次に、校正手段９００は、Ｇａｉnｆｆｔ（ｆｉ）とＧａｉnｆｂ（ｆｂ０）とを比較し、周波数帯域成分ｆｉのゲイン係数α（ｆｉ）を算出する。ゲイン係数α（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
次に、校正手段９００は、Ｇａｉnｆｆｔ（ｆｉ）とＧａｉnｆｂ（ｆｂ０）とを比較し、周波数帯域成分ｆｉのゲイン係数α（ｆｉ）を算出する。ゲイン係数α（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
（ステップＳ２５）
校正手段９００は、算出したゲイン係数α（ｆｉ）を基に、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分ｆｉにおけるゲインＧａｉnｆｆｔ（ｆｉ）を校正する。つまり、ＦＦＴ型処理手段１３１に対して演算処理したＧａｉnｆｆｔ（ｆｉ）をα（ｆｉ）＊Ｇａｉnｆｆｔ（ｆｉ）として出力させる。校正後の周波数帯域成分ｆｉのゲインＧａｉn（ｆｉ）は以下の計算式により算出する。なお、ゲイン係数α（ｆｉ）の計算式として（Ａ）又は（Ｂ）のいずれを使用するかは、ＦＦＴ演算の処理構成により切替える。
校正手段９００は、算出したゲイン係数α（ｆｉ）を基に、ＦＦＴ型処理手段１３１の周波数帯域成分ｆｉにおけるゲインＧａｉnｆｆｔ（ｆｉ）を校正する。つまり、ＦＦＴ型処理手段１３１に対して演算処理したＧａｉnｆｆｔ（ｆｉ）をα（ｆｉ）＊Ｇａｉnｆｆｔ（ｆｉ）として出力させる。校正後の周波数帯域成分ｆｉのゲインＧａｉn（ｆｉ）は以下の計算式により算出する。なお、ゲイン係数α（ｆｉ）の計算式として（Ａ）又は（Ｂ）のいずれを使用するかは、ＦＦＴ演算の処理構成により切替える。
なお、入力信号Ａｉｎ（ｆｂ０）及びＡｉｎ（ｆｉ）の振幅を一定（Ａｉｎ（ｆｂ０）＝Ａｉｎ（ｆｉ））に保ち校正を行った場合、ゲイン係数α（ｆｉ）は、振幅Ａｆｆｔ（ｆｉ）及びＡｆｂ（ｆｉ）を用いて、以下の計算式により算出することも可能である。
（ステップＳ２６）
校正手段９００は、周波数帯域成分ｆｉに関する校正処理が完了したら、次の周波数帯域成分に対して校正を実施する（ステップＳ２６、Ｎｏ）。全ての周波数帯域成分に対して校正が完了したら（ステップＳ２６、Ｙｅｓ）、校正の処理を終了する。この後、前述したＡＰＤ測定を行ったときには、ＦＦＴ型処理手段１３１は校正されたゲインＧａｉn（ｆｉ）をもとに出力を行う。
校正手段９００は、周波数帯域成分ｆｉに関する校正処理が完了したら、次の周波数帯域成分に対して校正を実施する（ステップＳ２６、Ｎｏ）。全ての周波数帯域成分に対して校正が完了したら（ステップＳ２６、Ｙｅｓ）、校正の処理を終了する。この後、前述したＡＰＤ測定を行ったときには、ＦＦＴ型処理手段１３１は校正されたゲインＧａｉn（ｆｉ）をもとに出力を行う。
なお、これらのＡＰＤ測定装置の一連の動作は、制御部７００により制御される。制御部７００は、ＡＰＤの測定時に、周波数分析部１００に入力信号の分析を指示するとともに、レベル検出部２００、及び、ＡＰＤ部３００にＡＰＤの測定を指示する。また、測定装置の校正時には、周波数分析部１００に、校正手段９００への、前記ＦＦＴ型処理手段１３１の出力データ、及び、前記フィルタバンク型処理手段１３２の出力データの転送を指示するとともに、校正手段９００に測定装置の校正を指示する。
以上のように、周波数選択手段１３０としてＦＦＴ型処理手段１３１とフィルタバンク型処理手段１３２の双方を備え、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数選択手段１３０、又は、ＡＰＤ部３００へのクロック信号の周期を変更することにより、ユーザの所望の条件にて、測定条件、つまり、分解能帯域幅ＲＢＷやチャンネル数を柔軟に変更可能となる。
また、測定確度が正確なフィルタバンク型処理手段のゲイン（振幅）を用いて、ＦＦＴ型処理手段のゲイン（振幅）を校正することで、ＦＦＴ型処理手段で取得する周波数帯域成分においても確度の高い測定が可能となる。
上記に記載した本実施形態に係るＡＰＤ測定装置の特徴を組み合わせることにより、例えば、測定条件の変更時に合わせて測定装置の校正を行うことで、測定条件を柔軟に変更し様々な規格に汎用的に対応しながら、さらに、フィルタバンク型処理手段により測定した場合と同等に、確度の高い測定が可能となる。
（変形例１）
次に、上述した実施例に係るＡＰＤ測定装置の変形例１について、図２（ａ）．及び図３（ｃ）．を参照して説明する。図３（ｃ）．は変形例１における各周波数帯域成分の抽出方法の割当てと、測定条件の設定を説明するための補助図である。
次に、上述した実施例に係るＡＰＤ測定装置の変形例１について、図２（ａ）．及び図３（ｃ）．を参照して説明する。図３（ｃ）．は変形例１における各周波数帯域成分の抽出方法の割当てと、測定条件の設定を説明するための補助図である。
変形例１に係るＡＰＤ測定装置は、チャンネル数（測定周波数帯域成分の数）や、分解能帯域幅などの測定条件として、ＦＦＴ型処理手段１３１とフィルタバンク型処理手段１３２に対して個々に別々の条件を設定することで、チャンネル間隔を不均等に設定可能としたものである。
図３（ｃ）．の例では、周波数ｆ１からｆｊまでの周波数帯域成分をフィルタバンク型処理手段に、周波数ｆｊ＋１からｆｎまでの周波数帯域成分をＦＦＴ型処理手段に割当てたうえで、フィルタバンク型処理手段におけるチャンネル間隔Δｆｆｂと、ＦＦＴ型処理手段における周波数帯域成分間の間隔Δｆｆｆｔとが、Δｆｆｂ＞Δｆｆｆｔの関係となるように測定条件を設定している。以降、変形例１に係るＡＰＤ測定装置の動作については、図３（ｃ）．に記載された例をもとに説明する。
変形例１に係るＡＰＤ測定装置の、測定条件の設定に関する一連の動作について、図２（ａ）．のフローチャートを用いて説明する。なお、変形例１に係るＡＰＤ測定装置の、ＡＰＤの測定や測定装置の校正に関する一連の動作については、上述した第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じであるため、説明を省略する。
（測定条件の設定）
測定条件や装置の動作に必用な内部パラメータを決定するためにＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、操作部６２０からの操作者の入力情報（以降は、「入力情報」と呼ぶ）をもとに、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。
測定条件や装置の動作に必用な内部パラメータを決定するためにＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、操作部６２０からの操作者の入力情報（以降は、「入力情報」と呼ぶ）をもとに、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。
（ステップＳ１）
ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、制御部７００からの測定条件の設定の指示を受け、入力情報をもとに、測定条件として、フィルタバンク型処理手段１３２のチャンネル数ｎfｂ、及び、分解能帯域幅ＲＢＷfｂと、ＦＦＴ型処理手段のチャンネル数ｎfft、及び、分解能帯域幅ＲＢＷfftと、ＡＰＤの測定時間Ｔを決定し、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。
ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、制御部７００からの測定条件の設定の指示を受け、入力情報をもとに、測定条件として、フィルタバンク型処理手段１３２のチャンネル数ｎfｂ、及び、分解能帯域幅ＲＢＷfｂと、ＦＦＴ型処理手段のチャンネル数ｎfft、及び、分解能帯域幅ＲＢＷfftと、ＡＰＤの測定時間Ｔを決定し、周波数分析部１００、及び、ＡＰＤ部３００に測定条件を設定する。
また、設定した測定条件を基に、各測定周波数帯域成分を、ＦＦＴ型処理手段１３１と、フィルタバンク型処理手段１３２とのいずれかに割当てる。図３（ｃ）．に示した例では、周波数ｆ１からｆｊまでの周波数帯域成分をフィルタバンク型処理手段１３２に割当て、周波数ｆｊ＋１からｆｎまでの周波数帯域成分がＦＦＴ型処理手段１３１に割当てている。
（ステップＳ２）
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、装置の動作に必要な内部パラメータとして、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数変換手段１２０、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、ＡＰＤ部３００のそれぞれでデータを取得するためのクロック信号の周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃ、ｆｆｆｔ、ｆａｐｄを算出する。この点は第１実施形態と同様であるが、これに加え、変形例１に係るＡＰＤ測定装置では、フィルタバンク型処理手段１３２でデータを取得するためのクロック信号の周波数ｆｆｂを算出する。ｆｆｆｔ、ｆａｐｄの算出方法は第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じため説明は省略する。
次に、ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段８００は、装置の動作に必要な内部パラメータとして、Ａ／Ｄ変換手段１１０、周波数変換手段１２０、ＦＦＴ型処理手段１３１、及び、ＡＰＤ部３００のそれぞれでデータを取得するためのクロック信号の周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃ、ｆｆｆｔ、ｆａｐｄを算出する。この点は第１実施形態と同様であるが、これに加え、変形例１に係るＡＰＤ測定装置では、フィルタバンク型処理手段１３２でデータを取得するためのクロック信号の周波数ｆｆｂを算出する。ｆｆｆｔ、ｆａｐｄの算出方法は第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じため説明は省略する。
ｆｆｂはＦＦＴ型処理手段１３１の場合と同様の考え方に従い、フィルタバンク型処理手段１３２の分解能帯域幅ＲＢＷｆｂと分解能帯域幅ＲＢＷｆｂ中にサンプリングするデータ数ｍapdから、フィルタバンク型処理手段１３２で処理した場合のＡＰＤ部３００へのクロック信号の周波数ｆａｐｄｆｂを算出し、算出したｆａｐｄｆｂとフィルタバンク型処理手段１３２のチャンネル数ｎfｂとから算出する。ｆｆｂの計算式を以下に示す。
なお、Ａ／Ｄ変換手段１１０、及び、周波数変換手段１２０へのクロック信号の周波数ｆａｄ、ｆｄｄｃは、ｆｆｆｔ及びｆｂのいずれよりも高い周波数でサンプリングする必要がある。ｆａｄ、ｆｄｄｃの計算式を以下に示す。
以上、変形例１に係るＡＰＤ測定装置では、ＦＦＴ型処理手段１３１とフィルタバンク型処理手段１３２とで、異なる範囲の周波数帯域成分を分けて処理し、かつ、それぞれに異なる分解能帯域幅を設定することで、周波数帯域ごとに測定するチャンネル間隔を変更できるようになる。これにより、例えばチャンネル間隔の異なる周波数帯ごとに測定条件を分けて測定することで、不要な周波数帯域成分の測定を実施する必要がなくなり、より効率の良い測定が可能となる。
（変形例２）
次に、上述した実施例に係るＡＰＤ測定装置の変形例２について、図６及び図７を参照して説明する。図６は本発明の第１実施形態の変形例２であるＡＰＤ測定装置の全体の機能構成を示す機能ブロック図である。図７は変形例２の動作を表すフローチャートである。図１及び図２に基づいて、動作順に構成及び動作を、以下の契機に分けてそれぞれ説明する。
・測定条件の設定
・補正係数の設定
・ＡＰＤの測定
なお、測定条件の設定の動作については、上述した第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じため、説明を省略する。
次に、上述した実施例に係るＡＰＤ測定装置の変形例２について、図６及び図７を参照して説明する。図６は本発明の第１実施形態の変形例２であるＡＰＤ測定装置の全体の機能構成を示す機能ブロック図である。図７は変形例２の動作を表すフローチャートである。図１及び図２に基づいて、動作順に構成及び動作を、以下の契機に分けてそれぞれ説明する。
・測定条件の設定
・補正係数の設定
・ＡＰＤの測定
なお、測定条件の設定の動作については、上述した第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じため、説明を省略する。
変形例２に係るＡＰＤ測定装置は、校正手段９００に替わり補正手段９００Ａを備え、Ｄｅｔ１〜ｎで検波した振幅を受け、フィルタバンク型処理手段１３２に割当てられた周波数帯域成分の振幅をもとに、Ｄｅｔ１〜ｎで検波した振幅、特に、ＦＦＴ型処理手段１３１に割当てられた周波数帯域成分の振幅を補正することにより、測定装置を校正し測定確度の向上を図ったものである。
（補整係数の設定）
まず、補正係数の設定については図６及び図７（ａ）．に基づいて説明する。図７（ａ）．は変形例２に係るＡＰＤ測定装置における、補正係数の設定に関する一連の動作を示したフローチャートである。
まず、補正係数の設定については図６及び図７（ａ）．に基づいて説明する。図７（ａ）．は変形例２に係るＡＰＤ測定装置における、補正係数の設定に関する一連の動作を示したフローチャートである。
（ステップＳ３１）
まず、測定装置の動作モードを校正モードに変更する。校正モードでは、検波器（Ｄｅｔ１〜ｎ）で検波される各振幅を補正する補正係数を算出し、算出した補整係数を対応する検波器に設定する。補整係数の算出及び検波器の校正は補正手段９００Ａにより行われる。
まず、測定装置の動作モードを校正モードに変更する。校正モードでは、検波器（Ｄｅｔ１〜ｎ）で検波される各振幅を補正する補正係数を算出し、算出した補整係数を対応する検波器に設定する。補整係数の算出及び検波器の校正は補正手段９００Ａにより行われる。
（ステップＳ３２）
補正手段９００Ａは、まず、補正の基準となるフィルタバンク型処理手段１３２の振幅を求める。フィルタバンク型処理手段１３２における周波数ｆｂ０のフィルタを用いて振幅を求めるものとした場合、測定装置への入力信号として、周波数帯域成分ｆｂ０に所定の振幅Ａｉｎ（ｆｂ０）を有する校正用の信号を測定装置に入力し、フィルタバンク型処理手段１３２の周波数帯域成分ｆｂ０の振幅Ａｆｂ（ｆｂ０）を、周波数帯域成分ｆｂ０に対応する検波器Ｄｅｔｆｂ０から取得する。
補正手段９００Ａは、まず、補正の基準となるフィルタバンク型処理手段１３２の振幅を求める。フィルタバンク型処理手段１３２における周波数ｆｂ０のフィルタを用いて振幅を求めるものとした場合、測定装置への入力信号として、周波数帯域成分ｆｂ０に所定の振幅Ａｉｎ（ｆｂ０）を有する校正用の信号を測定装置に入力し、フィルタバンク型処理手段１３２の周波数帯域成分ｆｂ０の振幅Ａｆｂ（ｆｂ０）を、周波数帯域成分ｆｂ０に対応する検波器Ｄｅｔｆｂ０から取得する。
このとき補正手段９００Ａは、周波数帯域成分ｆｂ０をフィルタバンク型処理手段１３２へ割当てるように、セレクタ１３３に制御部７００を介して通知する。セレクタ１３３は補正手段９００Ａからの通知を受け、周波数帯域成分ｆｂ０に対応する検波器Ｄｅｔｆｂ０にフィルタバンク型処理手段１３２の出力を入力するため、補正手段９００Ａは、検波器Ｄｅｔｆｂ０から、フィルタバンク型処理手段１３２の出力を得ることが可能となる。
次に、Ｄｅｔ１〜ｎに補正係数を設定する。Ｄｅｔ１〜ｎへの補正係数の設定は周波数帯域成分ごとに実施する。以下、周波数ｆｉの周波数帯域成分（以降は、「周波数帯域成分ｆｉ」と呼ぶ）を例に説明する。
（ステップＳ３３）
補正手段９００Ａは、まず、測定装置への入力信号として、周波数帯域成分ｆｉに所定の振幅Ａｉｎ（ｆｉ）を有する校正用の信号を測定装置に入力し、周波数帯域成分ｆｉの振幅Ａｏｕｔ（ｆｉ）を、周波数帯域成分ｆｉに対応する検波器Ｄｅｔｆｉから取得する。
補正手段９００Ａは、まず、測定装置への入力信号として、周波数帯域成分ｆｉに所定の振幅Ａｉｎ（ｆｉ）を有する校正用の信号を測定装置に入力し、周波数帯域成分ｆｉの振幅Ａｏｕｔ（ｆｉ）を、周波数帯域成分ｆｉに対応する検波器Ｄｅｔｆｉから取得する。
（ステップＳ３４）
次に、補正手段９００Ａは、Ａｏｕｔ（ｆｉ）とＡｆｂ（ｆｂ０）とを比較し、周波数帯域成分ｆｉの補正係数β（ｆｉ）算出する。補正係数β（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
次に、補正手段９００Ａは、Ａｏｕｔ（ｆｉ）とＡｆｂ（ｆｂ０）とを比較し、周波数帯域成分ｆｉの補正係数β（ｆｉ）算出する。補正係数β（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
算出した補整係数β（ｆｉ）は検波器Ｄｅｔｆｉに設定する。検波器Ｄｅｔｆｉは、ＡＰＤの測定時に補整係数β（ｆｉ）を用いて、被測定信号の周波数帯域成分ｆｉの振幅Ａ（ｆｉ）を補正する。なお、補整係数β（ｆｉ）の計算式として（Ａ）又は（Ｂ）のいずれを使用するかは、レベル検出部２００の構成により切替える。各周波数帯域成分に対する補正係数β（ｆｉ）は、検波器Ｄｅｔｆｉの記憶手段（図示しない）に記憶する。
（ステップＳ３５）
補正手段９００Ａは、周波数帯域成分ｆｉに関する補正係数の設定が完了したら、次の周波数帯域成分に対して補正係数の設定を実施する（ステップＳ３５、Ｎｏ）。全ての周波数帯域成分に対して補正係数の算出及び設定が完了したら（ステップＳ３５、Ｙｅｓ）、補正係数の設定の処理を終了する。
補正手段９００Ａは、周波数帯域成分ｆｉに関する補正係数の設定が完了したら、次の周波数帯域成分に対して補正係数の設定を実施する（ステップＳ３５、Ｎｏ）。全ての周波数帯域成分に対して補正係数の算出及び設定が完了したら（ステップＳ３５、Ｙｅｓ）、補正係数の設定の処理を終了する。
（ＡＰＤの測定）
次にＡＰＤの測定について、図７（ｂ）．を用いて説明する。図７（ｂ）．は変形例２に係るＡＰＤ測定装置における、ＡＰＤの測定の一連の動作を説明するフローチャートである。なお、ステップＳ１からステップＳ４までの動作と、ステップＳ６の動作については第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じであるため説明は省略し、ステップＳ５Ａの動作の特徴部分についてのみ説明する。
次にＡＰＤの測定について、図７（ｂ）．を用いて説明する。図７（ｂ）．は変形例２に係るＡＰＤ測定装置における、ＡＰＤの測定の一連の動作を説明するフローチャートである。なお、ステップＳ１からステップＳ４までの動作と、ステップＳ６の動作については第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じであるため説明は省略し、ステップＳ５Ａの動作の特徴部分についてのみ説明する。
（ステップＳ５Ａ）
レベル検出部２００は、デジタルデータに変換された入力信号から周波数選択手段１３０が抽出した各周波数帯域成分を、各周波数帯域成分に対応する検波器Ｄｅｔ1〜ｎで受け、補正係数により補正し、ＬＯＧ変換手段（図示しない）により対数変換したうえでＡＰＤ部３００に出力する。
レベル検出部２００は、デジタルデータに変換された入力信号から周波数選択手段１３０が抽出した各周波数帯域成分を、各周波数帯域成分に対応する検波器Ｄｅｔ1〜ｎで受け、補正係数により補正し、ＬＯＧ変換手段（図示しない）により対数変換したうえでＡＰＤ部３００に出力する。
周波数帯域成分ｆｉを例に、補正の動作についてさらに詳しく説明する。周波数選択手段１３０により抽出された周波数帯域成分ｆｉは、レベル検出部２００内の検波器Ｄｅｔｆｉに入力される。Ｄｅｔｆｉは周波数帯域成分ｆｉの振幅Ａ（ｆｉ）を取得するとともに、事前の校正により記憶手段に記憶された補正係数β（ｆｉ）により振幅Ａ（ｆｉ）を補正し、周波数帯域成分ｆｉに対応したＡＰＤｆｉに入力する。周波数帯域成分ｆｉの補正後の振幅Ａ’（ｆｉ）の計算式を以下に示す。
ＡＰＤ部３００は、レベル検出部２００が出力した（対数変換された）振幅値から振幅確率分布を測定する。ＡＰＤ部３００の動作については、第１実施形態に係るＡＰＤ測定装置と同じであるため、説明は省略する。
以上のように、補正手段９００Ａにより、フィルタバンク型処理手段１３２により抽出した周波数帯域成分の振幅をもとに、レベル検出部２００の各検波器Ｄｅｔ１〜ｎから出力される振幅値を補正することで、より確度の高い測定が可能となる。
１、１Ａ ＡＰＤ測定装置 １００ 周波数分析部 １１０ Ａ／Ｄ変換手段
１２０ 周波数変換手段 １３０ 周波数選択手段 １３１ ＦＦＴ型処理手段
１３２ フィルタバンク型処理手段 １３３ セレクタ
２００ レベル検出部 ３００ ＡＰＤ部 ３１０ 範囲分類手段
４００ 記憶部 ５００ 表示制御部 ６１０ 表示部 ６２０ 操作部
７００ 制御部 ８００ ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段
９００ 校正手段 ９００Ａ 補正手段
１２０ 周波数変換手段 １３０ 周波数選択手段 １３１ ＦＦＴ型処理手段
１３２ フィルタバンク型処理手段 １３３ セレクタ
２００ レベル検出部 ３００ ＡＰＤ部 ３１０ 範囲分類手段
４００ 記憶部 ５００ 表示制御部 ６１０ 表示部 ６２０ 操作部
７００ 制御部 ８００ ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段
９００ 校正手段 ９００Ａ 補正手段
Claims (6)
- 入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、前記デジタルデータから所定の測定周波数帯域成分を抽出する周波数選択手段（１３０）とを有する周波数分析部（１００）と、
前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、
各測定周波数帯域成分の前記振幅の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有し、ＡＰＤ測定を行うＡＰＤ測定装置であって、
前記周波数選択手段（１３０）は、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから前記各測定周波数帯域成分を抽出するフィルタを構成するＦＦＴ型処理手段（１３１）と、前記デジタルデータから所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成するフィルタバンク型処理手段（１３２）とを並列に備え、前記ＦＦＴ型処理手段と、前記フィルタバンク型処理手段とを、測定周波数帯域成分に応じて切替えて、前記測定周波数帯域成分を抽出することを特徴とするＡＰＤ測定装置。 - 前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）により抽出した測定周波数帯域成分の振幅と、前記フィルタバンク型処理手段（１３２）により抽出した測定周波数帯域成分の振幅とを比較し、比較結果に基づき、ＦＦＴの演算時に発生する前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）が出力する振幅を校正する校正手段（９００）を有することを特徴とする請求項１に記載のＡＰＤ測定装置。
- クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、測定周波数帯域成分の数である測定チャンネル数、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とする請求項１に記載のＡＰＤ測定装置。
- 前記ＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）により、前記ＦＦＴ型処理手段（１３１）と前記フィルタバンク型処理手段（１３２）に対し、測定時の分解能帯域幅ＲＢＷ、又は、測定チャンネル数を個別に設定可能であることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載のＡＰＤ測定装置。
- 入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、少なくとも、ＦＦＴ処理を用いて前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するＦＦＴ型周波数選択手段（１３１）を有する周波数分析部（１００）と、
前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、
各測定周波数帯域成分の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有するＡＰＤ測定装置であって、
クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、測定周波数帯域成分の数である測定チャンネル数、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置。 - 入力信号を標本化し、デジタルデータに変換して出力するＡ／Ｄ変換手段（１１０）と、少なくとも、入力信号から所定の周波数帯域成分を抽出するフィルタを複数並べ構成し前記デジタルデータから測定周波数帯域成分を抽出するフィルタバンク型周波数選択手段（１３２）のいずれかを有する周波数分析部（１００）と、
前記周波数分析部（１００）により取得した各測定周波数帯域成分の振幅を検出するレベル検出部（２００）と、
各測定周波数帯域成分の振幅確率分布を時間経過ごとに求めるＡＰＤ部（３００）とを有するＡＰＤ測定装置であって、
クロック信号を生成するクロック発生部（８１０）を有し、前記クロック発生部（８１０）で生成するクロック信号の周期を変更し、前記Ａ／Ｄ変換手段（１１０）、前記周波数選択手段（１３０）、及び、前記ＡＰＤ部（３００）のそれぞれに送ることにより、測定時の分解能帯域幅、又は、振幅確率分布を測定する時間を変更できるＲＢＷ／測定チャンネル制御手段（８００）を有することを特徴とするＡＰＤ測定装置。
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