JP5179615B2 - Apd測定器の検査装置及び検査方法 - Google Patents
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Description
前記APD測定器の動作状態を検査するべく、前記被測定信号の中心周波数に合わせた検査信号を発生する検査信号発生部41と、
前記検査信号の振幅レベルを前記APD測定器のダイナミックレンジの範囲内でランダムに可変制御する制御部42とを備え、
前記APD測定器は、前記振幅レベルの可変に伴う前記検査信号の振幅ピーク値のカウントに基づいて作成されるPDFヒストグラムと、前記検査信号によるAPDデータと基準APDデータとの差に基づいて算出される時間捕捉率とを、前記APD測定器の動作状態を示す検査結果として出力することを特徴とする。
前記制御部42は、前記APD測定器が測定対象とする前記被測定信号の中心周波数に合わせて前記検査信号の中心周波数を可変制御することを特徴とする。
前記制御部42は、PN系列のランダム数に対応した発生順序で前記検査信号を一巡させて振幅ピーク値だけのPDFヒストグラムを作成することを特徴とする。
前記制御部42は、前記PDFヒストグラムが一様分布を示し、且つ前記時間捕捉率が予め設定される許容値範囲内にあるときに、前記APD測定器1が振幅軸上及び時間軸上の両方で正常に動作していると判定する判定部42aを備えたことを特徴とする。
前記被測定信号の中心周波数に合わせた検査信号の振幅レベルを前記APD測定器のダイナミックレンジの範囲内でランダムに可変制御するステップと、
前記振幅レベルの可変に伴う前記検査信号の振幅ピーク値のカウントに基づくPDFヒストグラムを作成するステップと、
前記検査信号によるAPDデータと基準APDデータとの差に基づいて時間捕捉率を算出するステップとを含むことを特徴とする。
さらに、前記被測定信号の中心周波数に応じて前記検査信号の中心周波数を可変制御するステップを含むことを特徴とする。
APD測定器1の振幅軸上の検査は、APDレベルの検査であり、APD測定の要となるフィルタの帯域すべてを励振動させながら、レベル振幅軸方向に振幅をランダムに可変する。すなわち、制御部42の制御により、周波数発生部41bが発生する周波数信号(正弦波)の中心周波数を、フィルタバンク16から選択されたバンドパスフィルタの一つのチャネルの中心周波数に合わせて可変するとともに、基準パルス発生部41aが発生するガウスパルス波形(基準パルス)の振幅レベルをAPD測定器1のダイナミックレンジの範囲内でランダムに可変し、ガウスパルス波形を周波数信号でパルス変調した検査信号をAPD測定器1に入力する。これにより、より実際の場合に等しい応答が得られ、測定動作に近いモードで振幅軸方向の測定結果が得られ、検証できる。
フィルタバンク16の出力は、時間軸上のガウスパルス波形のAPD測定後において、その帯域に応じたガウス形状の時間信号のパルスとなる。図4はそのときのガウス出力波形である。そして、フィルタバンク16の周波数帯域の10倍以上のサンプリング時間で、例えば、図4中のサンプル点を収集計算したAPDカーブの形状は、上述したパルスの時間軸方向に対し、振幅軸上の検査で検査信号の振幅レベルが決まると、一意に決定できる。この性質を利用して、APDカーブの形状により、時間捕捉率の完全な検査が可能となる。
APD(L0)=∫p(L)dL(+∞≦L≦L0)の確率をもって、[1−{APDe(L0)ーAPDs(L0)}/APDs(L0)]*100%による計算値で時間捕捉率とする。
2 ハードウェア部
3 ソフトウェア処理部
4 インタフェース
5 切替部
10 アンテナ
11 RF受信部
12 D/C(ダウンコンバータ)
13 A/D変換部
14 帯域制限フィルタ
15 I/Q分離部
16 フィルタバンク
17 包絡線検波部
18 対数変換部
19 カウンタ部
20 データ転送部
30 CPU(制御部)
31 RAM(第1記憶部)
32 ROM(第2記憶部)
33 ハードディスク装置(第3記憶部)
34 入力装置
35 表示装置
40 検査装置
41 検査信号発生部
41a 基準パルス発生部
41b 周波数発生部
41c 変調部
42 制御部
42a 判定部
Claims (6)
- 被測定信号の周波数帯域成分を分析し、分析された各周波数帯域成分の振幅をそれぞれ検出し、検出された各周波数帯域成分の振幅について単位時間当たりの振幅確率を時間経過毎に求めるAPD測定器(1)の検査装置(40)であって、
前記APD測定器の動作状態を検査するべく、前記被測定信号の中心周波数に合わせた検査信号を発生する検査信号発生部(41)と、
前記検査信号の振幅レベルを前記APD測定器のダイナミックレンジの範囲内でランダムに可変制御する制御部(42)とを備え、
前記APD測定器は、前記振幅レベルの可変に伴う前記検査信号の振幅ピーク値のカウントに基づいて作成されるPDFヒストグラムと、前記検査信号によるAPDデータと基準APDデータとの差に基づいて算出される時間捕捉率とを、前記APD測定器の動作状態を示す検査結果として出力することを特徴とするAPD測定器の検査装置。 - 前記制御部(42)は、前記APD測定器が測定対象とする前記被測定信号の中心周波数に合わせて前記検査信号の中心周波数を可変制御することを特徴とする請求項1記載のAPD測定器の検査装置。
- 前記制御部(42)は、PN系列のランダム数に対応した発生順序で前記検査信号を一巡させて振幅ピーク値だけのPDFヒストグラムを作成することを特徴とする請求項1記載のAPD測定器の検査装置。
- 前記制御部(42)は、前記PDFヒストグラムが一様分布を示し、且つ前記時間捕捉率が予め設定される許容値範囲内にあるときに、前記APD測定器(1)が振幅軸上及び時間軸上の両方で正常に動作していると判定する判定部(42a)を備えたことを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載のAPD測定器の検査装置。
- 被測定信号の周波数帯域成分を分析し、分析された各周波数帯域成分の振幅をそれぞれ検出し、検出された各周波数帯域成分の振幅について単位時間当たりの振幅確率を時間経過毎に求めるAPD測定器(1)の検査方法であって、
前記被測定信号の中心周波数に合わせた検査信号の振幅レベルを前記APD測定器のダイナミックレンジの範囲内でランダムに可変制御するステップと、
前記振幅レベルの可変に伴う前記検査信号の振幅ピーク値のカウントに基づくPDFヒストグラムを作成するステップと、
前記検査信号によるAPDデータと基準APDデータとの差に基づいて時間捕捉率を算出するステップとを含むことを特徴とするAPD測定器の検査方法。 - さらに、前記被測定信号の中心周波数に応じて前記検査信号の中心周波数を可変制御するステップを含むことを特徴とする請求項5記載のAPD測定器の検査方法。
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