JP4153882B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
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Description
Benoit Nadeau-Dostie著、「DESIGN FOR AT-SPEED TEST, DIAGNOSIS AND MEASUREMENT」、KLUWER ACADEMIC PUBLISHERS、2000年、Chapter 2、p.35-57
Alternative modeは、書き込み動作を制御する書き込み用クロック信号WCLKと、読み出し動作を制御する読み出し用クロック信号RCLKとが非同期である状態においてテストを行うモードである。前述の通り、Alternative modeにおいて書き込みと読み出しは交互に行われる。
Successive modeは、書き込み動作を制御する書き込み用クロック信号WCLKと、読み出し動作を制御する読み出し用クロック信号RCLKとが同期している状態においてテストを行うモードである。Successive modeにおいて書き込みと読み出しは、読み出しが書き込みに少し遅れるようにして平行に行われる。
Claims (4)
- データを記憶する半導体メモリ装置と、
第1動作モードと第2動作モードとの2つの動作モードで動作可能とされ、前記半導体メモリ装置へのデータの書き込みを制御する第1シーケンサ回路と、
前記第1動作モードと前記第2動作モードとの2つの動作モードで動作可能とされ、前記半導体メモリ装置からのデータの読み出しを制御する第2シーケンサ回路と、
前記第1シーケンサ回路及び前記第2シーケンサ回路を、前記第1動作モードと前記第2動作モードとのいずれかの動作モードで動作するよう制御するシーケンサ制御回路と
を具備し、前記第1動作モードにおいて、前記第1、第2シーケンサ回路は、互いに非同期の第1、第2クロック信号にそれぞれ応答して、前記半導体メモリ装置への前記データの書き込み及び前記半導体メモリ装置からの前記データの読み出しをそれぞれ行い、
前記第2動作モードにおいて、前記第1、第2シーケンサ回路は、互いに同期した第1、第2クロック信号にそれぞれ応答して、前記半導体メモリ装置への前記データの書き込み及び前記半導体メモリ装置からの前記データの読み出しをそれぞれ行い、
前記第1、第2シーケンサ回路は、前記第1動作モードにおいては前記データの書き込みと読み出しとを交互に行い、前記第2動作モードにおいては前記データの書き込みと読み出しとを並行して行い、
前記第2動作モードにおいて前記第2シーケンサ回路は、前記第1シーケンサ回路が書き込み動作を開始してから、少なくとも前記第1、第2クロック信号の2サイクル経過後に前記第2シーケンサ回路が読み出し動作を開始することを特徴とする半導体集積回路装置。 - 前記第1動作モードにおいて、前記第1シーケンサ回路は、前記半導体メモリ装置へのデータの書き込みが終了後、第1終了信号を前記第2シーケンサ回路に送出し、
前記第2シーケンサ回路は、前記第1終了信号に応答して、前記半導体メモリ装置からのデータの読み出しを開始し、該データの読み出しが終了後、第2終了信号を前記第1シーケンサ回路に送出し、
前記第1シーケンサ回路は、前記第2終了信号に応答して、前記半導体メモリ装置へのデータの書き込みを開始する
ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路装置。 - 前記第1、第2シーケンサ回路はそれぞれ、アドレス信号を発生するアドレス信号発生回路と、
データパターンを発生するデータパターン発生回路と、
データの書き込み終了を示す第1終了信号または読み出し終了を示す第2終了信号を発生する制御回路と
を含み、前記第1シーケンサ回路は、該第1シーケンサ回路の前記アドレス信号発生回路が発生した前記アドレス信号に対応する、前記半導体メモリ装置におけるメモリセルに、該第1シーケンサ回路の前記データパターン発生回路が発生した前記データパターンを書き込み、
前記第2シーケンサ回路は、該第2シーケンサ回路の前記アドレス信号発生回路が発生した前記アドレス信号に対応する、前記半導体メモリ装置から、データを読み出す
ことを特徴とする請求項2記載の半導体集積回路装置。 - 前記第2シーケンサ回路が前記半導体メモリ装置から読み出したデータと、前記第2シーケンサ回路が備える前記データパターン発生回路が発生するデータパターンとを比較する比較回路を更に備える
ことを特徴とする請求項3記載の半導体集積回路装置。
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