JP2020510951A - マルチコアオンダイメモリマイクロコントローラ - Google Patents
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Abstract
Description
添付図面に示される特定の実施形態を参照して、以下により詳しい説明を含める。これらの図面は本開示のある実施形態のみを示し、したがってその範囲を限定するものとして見なされるべきではないと理解した上で、以下の添付図面を使用して、付加的な特殊性及び詳細を伴って本開示を記述し説明する。
Claims (25)
- 装置であって、
集積回路デバイス内の不揮発性メモリセルのアレイと、
前記集積回路デバイス内のマイクロコントローラユニットと、
前記マイクロコントローラユニットの複数の処理ユニットであって、異なる処理ユニットは、前記不揮発性メモリセルのアレイに対して異なるカテゴリのタスクを並列に実行する、複数の処理ユニットと、を備える、装置。 - 前記集積回路デバイス内に1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットを更に備え、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットは、前記マイクロコントローラユニットよりも少ない処理ユニットを含み、より少ないカテゴリのタスクを実行する、請求項1に記載の装置。
- 前記マイクロコントローラユニットの前記複数の処理ユニットが、前記不揮発性メモリセルのアレイ上で複数のテスト動作を実行するように構成された組み込み自己テストユニットを含み、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットの前記より少ない処理ユニットが、組み込み自己テストユニットを有しない、請求項2に記載の装置。
- 前記マイクロコントローラユニットの前記複数の処理ユニットが、前記不揮発性メモリセルのアレイ上でプログラム動作及び読み出し動作を実行するように構成されており、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットの前記より少ない処理ユニットが、前記不揮発性メモリセルのアレイ上で読み出し動作を実行し、かつプログラム動作を実行しないよう、構成されている、請求項2に記載の装置。
- 前記マイクロコントローラユニットが、前記不揮発性メモリセルのアレイの各サブセット上で前記プログラム動作を実行するように構成されており、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットが、前記不揮発性メモリセルのアレイの異なるサブセット上で読み出し動作を実行するように構成されている、請求項4に記載の装置。
- 前記不揮発性メモリセルのアレイが、前記集積回路デバイスの第1のレベル内にあり、前記マイクロコントローラユニットが、前記集積回路デバイスの第2のレベル内にあり、前記第2のレベルは、前記第1のレベルと平行であり、かつ前記第1のレベルからオフセットされている、請求項1に記載の装置。
- 前記マイクロコントローラユニットのクロックレートは、前記マイクロコントローラが、前記不揮発性メモリセルのアレイ上でのデータ操作を、前記データ操作の待ち時間を増大させることなく単一の処理ユニットで直列に実行することができるクロックレートよりも低く設定され、前記マイクロコントローラユニットの前記複数の処理ユニットは、前記不揮発性メモリセルのアレイ上でのデータ操作を、前記データ操作の待ち時間を増大させることなく、前記設定されたクロックレートで並列に実行する、請求項1に記載の装置。
- 前記マイクロコントローラユニットの前記複数の処理ユニットが、前記異なるカテゴリのタスクに関連付けられた異なる命令セットをサポートする、請求項1に記載の装置。
- 前記複数の処理ユニットが、フロー制御処理ユニット、タイミング制御処理ユニット、電圧制御処理ユニット、及びデータラッチ制御処理ユニットのうちの1つ以上を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記異なるカテゴリのタスクが、フロー制御タスク、タイミング制御タスク、データラッチ制御タスク、電圧制御タスク、及び組み込み自己テストタスクのうちの1つ以上を含む、請求項1に記載の装置。
- 前記集積回路デバイスの揮発性メモリであって、前記複数の処理ユニットが、前記異なるカテゴリのタスクを実行するために前記揮発性メモリ内にデータを記憶する、揮発性メモリを更に備え、前記複数の処理ユニットの組み込み自己テストユニットが、前記不揮発性メモリセルのアレイから読み出されたテストデータを前記揮発性メモリの部分に記憶し、前記揮発性メモリの前記部分は、前記組み込み自己テストユニットのテストモードにないとき、前記複数の処理ユニットの他の処理ユニットによって別な方法で使用される、請求項1に記載の装置。
- システムであって、
不揮発性メモリメディアを含む集積回路デバイスと、
前記不揮発性メモリメディアのためのタスクを実行するための複数の処理ユニットを有するマイクロコントローラと、
前記マイクロコントローラよりも少ない処理ユニットを含む1つ以上の追加のマイクロコントローラと、を含む、システム。 - 前記複数の処理ユニットの異なる処理ユニットが、前記不揮発性メモリメディアに対して異なる種類のタスクを並列に実行し、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラが、前記マイクロコントローラよりも少ない種類のタスクを実行する、請求項12に記載のシステム。
- 前記不揮発性メモリメディアが、前記集積回路デバイスの第1のレベル内に配設され、前記マイクロコントローラ及び前記1つ以上の追加のマイクロコントローラが、前記集積回路デバイスの第2のレベル内に配設されており、前記第2のレベルは、前記第1のレベルと平行であり、かつ前記第1のレベルからオフセットされている、請求項12に記載のシステム。
- 前記マイクロコントローラの前記複数の処理ユニットが、前記不揮発性メモリメディア上で複数のテスト動作を実行するように構成された組み込み自己テストユニットを含み、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラの前記より少ない処理ユニットが、組み込み自己テストユニットを有しない、請求項12に記載のシステム。
- 前記マイクロコントローラの前記複数の処理ユニットが、前記不揮発性メモリメディア上でプログラム動作及び読み出し動作を実行するように構成されており、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラの前記より少ない処理ユニットが、前記不揮発性メモリメディア上で読み出し動作を実行し、かつプログラム動作を実行しないよう、構成されている、請求項12に記載のシステム。
- 前記マイクロコントローラユニットが、前記不揮発性メモリメディアの各ダイプレーン上で前記プログラム動作を実行するように構成されており、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットが、前記不揮発性メモリメディアの異なるダイプレーン上で読み出し動作を実行するように構成されている、請求項16に記載のシステム。
- 装置であって、
データを記憶する手段と、
前記データを記憶する手段のためのタスクをタスクのカテゴリでソートする手段と、
前記データを記憶する手段のための異なる処理ユニットを使用して、前記データを記憶する手段のための異なるカテゴリのタスクを並列に実行する手段と、を備える、装置。 - 前記データを記憶する手段のための異なるセットの処理ユニットを使用して、前記データを記憶する手段のためのより少ないカテゴリのタスクを実行する手段を更に備える、請求項18に記載の装置。
- 前記データを記憶する手段が、集積回路デバイスの第1のレベル内に配設され、前記異なるカテゴリのタスクを実行する手段及び前記異なる処理ユニットが、前記集積回路デバイスの第2のレベル内に配設されており、前記第2のレベルは、前記第1のレベルと平行であり、かつ前記第1のレベルからオフセットされている、請求項18に記載の装置。
- 方法であって、
メモリ動作の要求を受信することと、
前記メモリ動作を完了するための複数のタスクを判定することであって、前記複数のタスクの異なるタスクは、異なる命令セットに関連付けられている、ことと、
マイクロコントローラの異なる処理ユニットを使用して、前記複数のタスクの前記異なるタスクを並列に実行することであって、前記異なる処理ユニットは、前記異なる命令セットをサポートする、ことと、を含む、方法。 - 前記マイクロコントローラより少ない処理ユニットを有する追加のマイクロコントローラを使用して後続のメモリ動作を実行することと、より少ない命令セットをサポートすることと、を更に含む、請求項21に記載の方法。
- 装置であって、
集積回路デバイスのメモリアレイのためのマイクロコントローラであって、前記マイクロコントローラが、
第1の処理ユニットを使用して、メモリ動作のための複数のタスクを選択し、
第2の処理ユニットを使用して、前記メモリ動作のための前記複数のタスクのタイミングを制御し、
第3の処理ユニットを使用して、前記メモリ動作のための前記複数のタスクのための電圧を設定する、ように構成されている、マイクロコントローラを備える、装置。 - 前記集積回路デバイスのための1つ以上の追加のマイクロコントローラを更に備え、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラユニットは、前記マイクロコントローラよりも少ない処理ユニットを含む、請求項23に記載の装置。
- 前記マイクロコントローラが、プログラム動作、読み出し動作、及びテスト動作を実行するように構成されており、前記1つ以上の追加のマイクロコントローラが、読み出し動作を実行し、かつプログラム動作及びテスト動作を実行しないよう、構成されている、請求項24に記載の装置。
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