JP4113436B2 - ゲートドライブ装置 - Google Patents

ゲートドライブ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4113436B2
JP4113436B2 JP2003015817A JP2003015817A JP4113436B2 JP 4113436 B2 JP4113436 B2 JP 4113436B2 JP 2003015817 A JP2003015817 A JP 2003015817A JP 2003015817 A JP2003015817 A JP 2003015817A JP 4113436 B2 JP4113436 B2 JP 4113436B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
switching element
gate
drive device
turned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2003015817A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004229057A5 (ja
JP2004229057A (ja
Inventor
敬昭 白澤
剛 高山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2003015817A priority Critical patent/JP4113436B2/ja
Priority to US10/457,348 priority patent/US6819149B2/en
Priority to DE10344572A priority patent/DE10344572B4/de
Publication of JP2004229057A publication Critical patent/JP2004229057A/ja
Publication of JP2004229057A5 publication Critical patent/JP2004229057A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4113436B2 publication Critical patent/JP4113436B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/16Modifications for eliminating interference voltages or currents
    • H03K17/161Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches
    • H03K17/162Modifications for eliminating interference voltages or currents in field-effect transistor switches without feedback from the output circuit to the control circuit

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、MOSトランジスタを駆動するゲートドライブ装置に関するものであり、特に、電力用パワーMOSトランジスタのゲートドライブ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
今日、交流モータの駆動回路としてインバータ回路が使用されている。このインバータ回路にはパワーMOSトランジスタ(電力用MOSトランジスタ)が使用される。
【0003】
パワーMOSトランジスタを備えるインバータ回路において当該MOSトランジスタにモータのような誘導性負荷が接続されている場合、そのパワーMOSトランジスタがターンオフすると主電極間(コレクタ−エミッタ間)にターンオフサージ電圧が現れる。場合によっては、そのターンオフサージ電圧によりパワーMOSトランジスタの破壊に至ってしまう。そこで、上記ターンオフサージ電圧を低減することが可能な、パワーMOSトランジスタのドライブ回路が提案されている(例えば、特許文献1)。
【0004】
特許文献1のドライブ回路においては、パワーMOSトランジスタのゲート端子に接続したオフ用スイッチング回路とソース端子との間にダイオードが挿入される。それにより、当該パワーMOSトランジスタのターンオフ時、オフ用スイッチング回路を介してゲート電荷を引き抜く際にもゲート−ソース間の電圧は所定の値(ダイオードの順方向電圧)に保たれる。つまり、ダイオードの順方向電圧によってゲート・ソース間に一定レベルの電荷が残るので、パワーMOSトランジスタの容量成分が充電されることに起因するターンオフサージ電圧のレベルを低く抑えることができる。
【0005】
【特許文献1】
特開2001−24492号公報(第3−5頁、第1−6図)
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、サージ電圧はパワーMOSトランジスタのオフ期間中においても発生する場合がある。例えば2つのパワーMOSトランジスタを直列接続したインバータにおいて、一方のパワーMOSトランジスタがオフ状態に切り替わり(ターンオフ)、続いて他方のパワーMOSトランジスタがオン状態に切り替わる(ターンオン)場合、そのタイミングでオフ状態である一方のパワーMOSトランジスタ内部の寄生ダイオードにリカバリー現象が生じ、当該一方のパワーMOSトランジスタのコレクタ−エミッタ間にリカバリーサージ電圧(以下サージ電圧)が発生する。
【0007】
このサージ電圧は、特許文献1のドライブ回路によっても低減を図ることが可能であるが、オフ用スイッチング回路とソース端子との間にダイオードが挿入されると、パワーMOSトランジスタのゲート電荷の引き抜き性が悪くなるために、ターンオフ時のスイッチング損失が大きくなるという欠点を伴う。
【0008】
本発明は以上のような課題を解決するためになされたものであり、例えばインバータ回路のようにMOSトランジスタを直列接続した回路において、MOSトランジスタのターンオフ時のスイッチング損失の増加を抑えつつ、オフ期間中に発生するサージ電圧を低減することができるゲートドライブ装置を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1の局面によれば、互いに直列接続された第1および第2のMOSトランジスタを駆動するゲートドライブ装置は、前記第1および第2のMOSトランジスタのうち一方のMOSトランジスタをオフ状態に切り替えた後に所定のタイミングで他方のMOSトランジスタをオン状態に切り替える場合、前記所定のタイミングに同期した所定の期間、一時的に前記一方のMOSトランジスタをオン状態にし、前記所定の期間は1μS以下であり、当該所定の期間において前記一方のMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧が閾値電圧を上回るのは0.1V以下である
【0010】
また、第2の局面によれば、MOSトランジスタを駆動するドライブ回路を有するゲートドライブ装置において、前記ドライブ回路は、前記MOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する第1の電圧源と、前記第1の端子に接続され、前記MOSトランジスタがオンする閾値電圧よりも小さい所定の電圧を供給する第2の電圧源と、前記第1の電圧源と第1の端子との間に接続された第1のスイッチング素子と、前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、前記第2のスイッチング素子に並列に接続され、互いに直列接続した第3のスイッチング素子および抵抗と、前記第1、第2および第3のスイッチング素子並びに第2の電圧源を制御する制御回路とを備え、前記制御回路は、前記第1のスイッチング素子をオフに、前記第2のスイッチング素子をオンにした後の所定のタイミングで、所定の期間の間、一時的に前記第1および第2のスイッチング素子をオフに、前記第3のスイッチング素子をオンにすると共に前記第2の電圧源によって前記所定の電圧を前記第1の端子に印加する。
【0011】
また、第3の局面によれば、MOSトランジスタを駆動するドライブ回路を有するゲートドライブ装置において、前記ドライブ回路は、前記MOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する電圧源と、前記電圧源と第1の端子との間に接続され、互いに直列接続した第1のスイッチング素子および第1の抵抗と、前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、前記第2のスイッチング素子に並列に接続され、互いに直列接続した第3のスイッチング素子および第2の抵抗と、前記第1、第2および第3のスイッチング素子を制御する制御回路とを備え、前記制御回路は、前記第1のスイッチング素子をオフに、前記第2のスイッチング素子をオンにした後の所定のタイミングで、所定の期間の間、一時的に前記第1および第3のスイッチング素子をオンに、前記第2のスイッチング素子をオフにし、前記第1および第2の抵抗の抵抗値は、前記所定の期間の間に、前記MOSトランジスタがオンする閾値電圧よりも小さい所定の電圧が前記第1の端子に供給されるよう設定されている
【0012】
【発明の実施の形態】
<実施の形態1>
図1は、本発明の実施の形態1に係るパワーMOSトランジスタのゲートドライブ装置の構成を示す図であり、パワーMOSトランジスタとしてMOSFETを使用した3相6素子インバータにおける1相分の回路図を示している。第1のパワーMOSFET1と第2のパワーMOSFET2とは互いに直列接続され、主電源3をスイッチングするインバータ回路を構成している。第1のパワーMOSFETには、例えばモータ等の負荷4が並列接続される。ゲートドライブ装置100は、第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20とから構成されている。第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2は、それぞれ第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20により駆動される。
【0013】
第1のドライブ回路10は、駆動の対象である第1のパワーMOSFET1のゲートに接続されるゲート接続端子11、ソースに接続されるソース接続端子12および、第1のパワーMOSFET1をオンさせる際にゲートに印加する駆動電圧を供給するための駆動電圧源15を有している。
【0014】
そして、駆動電圧源15とゲート接続端子11との間には第1のスイッチング素子であるオン用トランジスタ13が接続され、ゲート接続端子11とソース接続端子12との間には第2のスイッチング素子であるオフ用トランジスタ14が接続されている。第1の制御回路16は、オン用トランジスタ13およびオフ用トランジスタ14のオン/オフ切り替えを制御することで、ゲート接続端子11に印加する電圧を、駆動電圧源15からのが供給する駆動電圧あるいはソース接続端子12の電圧(即ち、第1のパワーMOSFET1のソース電圧)に切り替える。
【0015】
第1の制御回路16が、オン用トランジスタ13をオン状態に、オフ用トランジスタ14をオフ状態にすると、ゲート接続端子11には駆動電圧源15からの駆動電圧が印加され、第1のパワーMOSFET1はオン状態(導通状態)になる。逆に、オン用トランジスタ13をオフ状態、オフ用トランジスタ14をオン状態にすると、ゲート接続端子11にはソース接続端子12の電圧が印加され、第1のパワーMOSFET1はオフ状態(非導通状態)となる。即ち、第1の制御回路16が、オン用トランジスタ13とオフ用トランジスタ14とを交互にオン状態にすることで、第1のパワーMOSFET1は駆動される。
【0016】
一方、図1からも分かるように、第2のドライブ回路20は、上記した第1のドライブ回路10とほぼ同様の構成を有している。即ち、第2のドライブ回路20は、駆動の対象である第2のパワーMOSFET2のゲートに接続されるゲート接続端子21、ソースに接続されるソース接続端子22および、第2のパワーMOSFET2をオンさせる際にゲートに印加する駆動電圧を供給するための駆動電圧源25を有している。
【0017】
そして、駆動電圧源25とゲート接続端子21との間には第1のスイッチング素子であるオン用トランジスタ23が接続され、ゲート接続端子21とソース接続端子22との間には第2のスイッチング素子であるオフ用トランジスタ24が接続されている。第2の制御回路26は、オン用トランジスタ23およびオフ用トランジスタ24のオン/オフ切り替えを制御することで、ゲート接続端子21に印加する電圧を、駆動電圧源25が供給する駆動電圧あるいはソース接続端子22の電圧(即ち、第2のパワーMOSFET2のソース電圧)に切り替える。即ち、第2の制御回路26が、オン用トランジスタ23とオフ用トランジスタ24とを交互にオン状態にすることで、第2のパワーMOSFET2は駆動される。
【0018】
図2は、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明するための図である。以下、同図に基づいて、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明する。
【0019】
まず、図2に示すように、第1のドライブ回路10において、第1の制御回路16の制御に基づき第1のドライブ回路10のオン用トランジスタ13がオフに、オフ用トランジスタ14がオンになると、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は0Vになり、当該第1のパワーMOSFET1はオフ状態となる。その後、第2のドライブ回路20において、第2の制御回路26が所定のタイミングでオン用トランジスタ23をオンに、オフ用トランジスタ24をオフにして、第2のパワーMOSFET2をオン状態にする。
【0020】
このとき、それと同じタイミングで、第1のドライブ回路10の第1の制御回路16は、一時的にオン用トランジスタ13をオンに、オフ用トランジスタ14をオフにすることで、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧を閾値電圧Vth以上にする。即ち、第1のパワーMOSFET1は、第2のパワーMOSFET2がターンオンのタイミングに同期して、当該タイミングを含む短い期間だけオン状態となる。それにより、第2のパワーMOSFET2のターンオンに伴い発生する還流電流は、第1のパワーMOSFET1の寄生ダイオード部ではなくトランジスタ部に流れ込むため、当該第1のパワーMOSFET1のソース・ドレイン間に発生するサージ電圧は低減する。
【0021】
また、上記した特許文献1と異なりオン用トランジスタ13と第1のパワーMOSFET1のソース(ソース接続端子12)との間にダイオードが挿入されていないので、第1のパワーMOSFET1のゲート電荷の引き抜き性の悪化は伴わない。即ち図2に示すように、オン用トランジスタ13がオフに、オフ用トランジスタ14がオンに切り替わると、第1のパワーMOSFET1ゲート・ソース間電圧は速やかに0Vに下がる。従って、当該第1のパワーMOSFET1のターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止される。また、第1のパワーMOSFET1における損失の増大をさらに抑制するために、上記短い期間の長さは数十nS〜1μS程度、そのときVGSが閾値Vthを上回るのは0.1V程度にすることが望ましい。
【0022】
次いで、第2のドライブ回路20のオン用トランジスタ23がオフに、オフ用トランジスタ24がオンに切り替わり、第2のパワーMOSFET2はオフ状態となる。その後、所定のタイミングで、第1の制御回路16がオン用トランジスタ13をオンに、オフ用トランジスタ14をオフにして、第1のパワーMOSFET1をオン状態にする。
【0023】
今度はそれと同じタイミングで、第2の制御回路26が、一時的にオン用トランジスタ23をオンに、オフ用トランジスタ24をオフにすることで、第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間電圧を閾値電圧Vth以上にする。即ち、第2のパワーMOSFET2は、第1のパワーMOSFET1がターンオンするタイミングに同期して、当該タイミングを含む短い期間だけオン状態となる。それにより、第1のパワーMOSFET2のターンオンに伴い発生する還流電流は、第2のパワーMOSFET1の寄生ダイオード部ではなくトランジスタ部に流れ込むため、当該第2のパワーMOSFET1のソース・ドレイン間に発生するサージ電圧は低減する。
【0024】
また、オン用トランジスタ23と第2のパワーMOSFET2のソース(ソース接続端子22)との間にはダイオードが挿入されていないので、第2のパワーMOSFET2のゲート電荷の引き抜き性の悪化は伴わない。従って、当該第2のパワーMOSFET2のターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止される。このときも、第2のパワーMOSFET2における損失の増大をさらに抑制するため、上記短い期間の長さは数十nS〜1μS程度、そのときVGSが閾値Vthを上回るのは0.1V程度にすることが望ましい。
【0025】
以上のように、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100は、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のうち一方のMOSFETをオフ状態に切り替えた後に、所定のタイミングで他方のMOSFETをオン状態に切り替える場合、当該タイミングに同期して、当該タイミングを含む所定の短い期間だけ、一時的に一方のMOSFETをオン状態にするように動作する。それにより、他方のMOSFETのターンオンに伴い一方のパワーMOSFETに発生するサージ電圧は低減される。また、オフ用トランジスタ14とソース接続端子12との間、並びに、オフ用トランジスタ24とソース接続端子22との間にダイオードを挿入していないので、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止される。
【0026】
なお、以上の説明においては、第1の制御回路16がオン用トランジスタ13とオフ用トランジスタ14とをそれぞれ別々の制御信号によって制御する構成を示したが、それら2つのトランジスタを同一の制御信号で制御するようにする構成してもよい。同様に、第2の制御回路26がオン用トランジスタ23とオフ用トランジスタ24の2つを同一の制御信号によって制御する構成としてもよい。例えば、図3のように、オン用トランジスタ13およびオン用トランジスタ23をnpn型トランジスタ、オフ用トランジスタ14およびオフ用トランジスタ24をpnp型トランジスタで構成すればそのような構成が可能である。この場合、第1の制御回路16および第2の制御回路26は、それぞれ単一の制御信号でいわゆるプッシュプル方式により、2つのトランジスタを制御して図2に示した動作を行うことが可能である。つまり、本実施の形態に係るゲートドライブ装置における制御信号の経路を少なくできるのでゲートドライブ装置の回路構成の簡素化に寄与できる。
【0027】
<実施の形態2>
図4は、実施の形態2に係るゲートドライブ装置の構成を示す図である。同図において、図1と同様の機能を有する要素には同一符号を付してあるので、それらの要素についての詳細な説明は書略する。
【0028】
本実施の形態においては、第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20は、それぞれの駆動の対象であるMOSトランジスタをオン状態に切り替えるタイミングを示す情報信号を互いに送受信する。即ち、第1のドライブ回路10の第1の制御回路16は、第1のパワーMOSFET1をオン状態に切り替えるタイミングに関する情報信号を第2のドライブ回路20の第2の制御回路26に送信すると共に、第2の制御回路26から受信した情報信号に基づき、第2のパワーMOSFET2がオン状態に切り替わるタイミングをモニタする。一方、第2のドライブ回路20の第2の制御回路26は、第2のパワーMOSFET2をオン状態に切り替えるタイミングに関する情報信号を第1の制御回路16に送信すると共に、第1の制御回路16から受信した情報信号に基づき、第1のパワーMOSFET1がオン状態に切り替わるタイミングをモニタする。
【0029】
また、本実施の形態に係るドライブ回路100の動作は、基本的に図2に示したものと同じである。但し、第1の制御回路16は、第2の制御回路26から受信した情報信号に基づいてオン用トランジスタ13およびオフ用トランジスタ14を制御し、第2のパワーMOSFET2がターンオンするタイミングに合わせて、一時的に(数十nS〜1μS程度)第1のパワーMOSFET1をオン状態にする。また、第2の制御回路26は、第1の制御回路16から受信した情報信号に基づいてオン用トランジスタ23およびオフ用トランジスタ24を制御し、第1のパワーMOSFET1がターンオンするタイミングに合わせて、一時的に(数十nS〜1μS程度)第2のパワーMOSFET2をオン状態にする。
【0030】
このように、第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20が各々受信した情報信号に基づいて、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2をターンオンさせる期間を決定することで、実施の形態1での効果に加えて、より的確且つリアルタイムなドライブ制御が可能である。よって、本発明に係るゲートドライブ装置100の動作信頼性が向上される。
【0031】
本実施の形態においても、例えば図5のように、オン用トランジスタ13,23をnpn型トランジスタ、オフ用トランジスタ14,24をpnp型トランジスタで構成し、第1の制御回路16および第2の制御回路26が、それぞれ2つのトランジスタを同一の制御信号で制御するようにしてもよい。そのように構成しても、図2に示した動作を行うことが可能であることは明らかである。つまり、本実施の形態に係るゲートドライブ装置における制御信号の経路を少なくできるのでゲートドライブ装置の回路構成の簡素化に寄与できる。
【0032】
<実施の形態3>
図6は、実施の形態3に係るパワーMOSトランジスタのゲートドライブ装置の構成を示す図である。同図において図1と同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。
【0033】
本実施の形態において、第1のパワーMOSFET1を駆動する第1のドライブ回路10は、ゲート接続端子11とソース接続端子12との間に、オフ用トランジスタ14と、それに並列に接続された第3のスイッチング素子であるMOSFET17および抵抗18を有する。MOSFET17と抵抗18とは互いに直列に接続される。また、第1の電圧源としての駆動電圧源15とゲート接続端子11との間には、オン用トランジスタ13が接続される。本実施の形態においては、第1の制御回路16は、オン用トランジスタ13、オフ用トランジスタ14並びにMOSFET17のオン/オフ切り替えの制御を行う。さらに第1の制御回路16は、第2の電圧源としての機能も有しており、所定の電圧G1の出力のオン/オフ切り替えの制御を行う。第1の制御回路16における上記電圧G1の出力端子はゲート接続端子11に接続される。
【0034】
一方、図6からも分かるように、第2のパワーMOSFET2を駆動する第2のドライブ回路20は、上記第1のドライブ回路10とほぼ同様の構成を有している。即ち、第2のドライブ回路20は、ゲート接続端子21とソース接続端子22との間に、オフ用トランジスタ24と、当該オフ用トランジスタ24に対して並列に接続された第3のスイッチング素子であるMOSFET27および抵抗28を有する。MOSFET27と抵抗28とは互いに直列に接続される。また、第1の電圧源としての駆動電圧源25とゲート接続端子21との間には、オン用トランジスタ23が接続される。第2の制御回路26は、オン用トランジスタ23およびオフ用トランジスタ24並びにMOSFET27のオン/オフの切り替えを制御すると共に、第2の電圧源として所定の電圧G1の出力のオン/オフ切り替えの制御を行う。第2の制御回路26における上記電圧G1の出力端子はゲート接続端子21に接続される。
【0035】
図7は、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明するための図である。以下、同図に基づいて、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明する。なお、ここでは説明の簡単のために、第1のドライブ回路10の動作に注目して説明を行うが、第2のドライブ回路20も同様の動作を行う。
【0036】
まず、図7に示すように、第1のドライブ回路10において、第1の制御回路16の制御に基づきオン用トランジスタ13がオフに、オフ用トランジスタ14がオンになると、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は0Vになり、当該第1のパワーMOSFET1はオフ状態となる。このとき、オン用トランジスタ13と第1のパワーMOSFET1のソース(ソース接続端子12)との間にはダイオードが挿入されていないので、第1のパワーMOSFET1ゲート・ソース間電圧は速やかに0Vに下がる。従って、当該第1のパワーMOSFET1のターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止されている。
【0037】
その後、第1の制御回路16は、第2のパワーMOSFET2がターンオンする前に、オン用トランジスタ13はオフのままで、オフ用トランジスタ14をオフに、MOSFET17をオンに切り替え、さらに所定の電圧G1を出力する。その結果、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は、電圧G1になる。この電圧G1の値は、第1のパワーMOSFET1がターンオンする閾値電圧Vthを僅かに下回る程度の大きさになるように設定されている。
【0038】
その後、所定のタイミングで第2のドライブ回路20が、第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間に駆動電圧を印加してオン状態にする。このとき、第2のパワーMOSFET2のターンオンに伴うインバータ回路における電流変動(di/dt)の影響により、図7に示すように第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間に電圧変動が生じ、一時的に第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧が閾値Vthを越え、その間第1のパワーMOSFET1がオン状態となる。つまり結果的に、第1のドライブ回路10は、第2のパワーMOSFET2がターンオンするタイミングと同時に、一時的に第1のパワーMOSFET1をオン状態にすることとなる。それにより、第2のパワーMOSFET2のターンオンに伴い発生する還流電流は、第1のパワーMOSFET1の寄生ダイオード部ではなくトランジスタ部に流れ込むため、当該第1のパワーMOSFET1のソース・ドレイン間に発生するサージ電圧は低減する。
【0039】
なお、第2のドライブ回路20は、第1のパワーMOSFET1がターンオンするタイミングで、一時的に第2のパワーMOSFET2をオン状態にするように動作する。上記したように、その動作は上に説明した第1のドライブ回路10の動作と同様であるので、ここでの説明は省略する。
【0040】
以上のように、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100は、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のうち一方のMOSFETをオフ状態に切り替えた後に、所定のタイミングで他方のMOSFETをオン状態に切り替える場合、当該タイミングに同期する短い期間だけ、一時的に当該一方のMOSFETをオン状態にするように動作する。それにより、当該他方のMOSFETのターンオンに伴い当該一方のパワーMOSFETに加わるサージ電圧は低減する。また、上記一方のMOSFETは、他方のMOSFETのターンオンに伴う電流変動の影響を利用して一時的にオン状態となるので、例えば実施の形態2のように他方のMOSFETがターンオンするタイミングをモニタするまでもなく、的確且つリアルタイムなドライブ制御が可能である。
【0041】
また、オフ用トランジスタ14とソース接続端子12との間、並びに、オフ用トランジスタ24とソース接続端子22との間にダイオードを挿入していないので、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止される。
【0042】
<実施の形態4>
実施の形態3では、例えば第2のパワーMOSFET2のターンオンに同期して、第1のパワーMOSFET1がオン状態となるのはごく短い期間である。しかし、図7からも分かるように、そのとき第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間には、その短い期間よりもかなり長い期間、電圧G1が印加される。また、電圧G1の値は、当該閾値電圧Vthよりも僅かに小さい程度の電圧に設定される。そのように設定することにより、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間電圧はインバータ回路における電流変動の影響で閾値電圧Vthを超え、図7のような動作を行うことができる。しかし、ゲート・ソース間に電圧G1が印加されている間は、ノイズの影響によってもゲート・ソース間電圧が閾値電圧Vthを超え易い状態でもあり、即ち、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2が誤動作が起こり易い状態である。
【0043】
図8は、実施の形態4に係るゲートドライブ装置100の動作を説明するための図である。以下、同図に基づいて、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明する。なお、ここでは説明の簡単のために、第1のドライブ回路10の動作に注目して説明を行うが、第2のドライブ回路20も同様の動作を行う。また、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の構成は、図6と同様であるのでここでの説明は省略する。
【0044】
まず、図8に示すように、第1のドライブ回路10において、第1の制御回路16の制御に基づきオン用トランジスタ13がオフに、オフ用トランジスタ14がオンになると、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は速やかに0Vになり、当該第1のパワーMOSFET1はオフ状態となる。その後、第2のドライブ回路20は、所定のタイミングで第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間に駆動電圧を印加してオン状態にする。
【0045】
このとき、それと同じタイミングで、第1のドライブ回路10の第1の制御回路16は、一時的に、MOSFET17をオンに、オフ用トランジスタ14をオフにする(オン用トランジスタ13はオフのままである)と共に、所定の電圧G1を出力する。その結果、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間には、電圧G1が印加される。この電圧G1の値は、第1のパワーMOSFET1がターンオンする閾値電圧Vthを僅かに下回る程度の大きさになるように設定されている。但し、このとき第2のパワーMOSFET2のターンオンに伴うインバータ回路における電流変動(di/dt)の影響により、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧が変動し、図8に示すように電圧G1よりもさらに大きくなり、一時的に閾値Vthを越え、その間第1のパワーMOSFET1が一時的にオン状態になる。
【0046】
つまり結果的に、第1のドライブ回路10は、第2のパワーMOSFET2がターンオンするタイミングと同時に、一時的に第1のパワーMOSFET1をオン状態にする。よって、実施の形態3と同様に、当該第1のパワーMOSFET1のソース・ドレイン間に発生するサージ電圧は低減する。
【0047】
なお、第2のドライブ回路20は、第1のパワーMOSFET1がターンオンするタイミングで、一時的に第2のパワーMOSFET2をオン状態にするように動作する。上記したように、その動作は第1のドライブ回路10の動作と同様であるので、ここでの説明は省略する。
【0048】
以上のように、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100は、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のうち一方のMOSFETをオフ状態に切り替えた後に、所定のタイミングで他方のMOSFETをオン状態に切り替える場合、当該タイミングに同期する短い期間だけ、所定の電圧G1を一方のMOSFETのゲート・ソース間に印加することにより、一時的に当該一方のMOSFETをオン状態にする。
【0049】
つまり、一方のMOSFETのゲート・ソース間に所定の電圧G1が印加される期間(即ち、ノイズにより誤動作しやすい期間)は、最小限に抑えられており、実施の形態3と比べゲートドライブ装置100のノイズ耐性は向上する。さらに、ゲートドライブ装置100の動作に伴う消費電力も抑えることができる。また、実施の形態3と同様に、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2に加わるサージ電圧の低減の効果も得られることは言うまでもない。
【0050】
さらに、本実施の形態においては、図9の如く第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20が、それぞれの駆動の対象であるMOSトランジスタをオン状態に切り替えるタイミングを示す情報信号を互いに送受信するように構成することも有効である。そして上記した実施の形態2と同じように、第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20が各々受信した情報信号に基づいて、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2をターンオンさせる期間を決定することで、より的確且つリアルタイムなドライブ制御が可能である。それにより、ゲートドライブ装置100の動作信頼性は向上される。
【0051】
<実施の形態5>
図10は、本発明の実施の形態5に係るパワーMOSトランジスタのゲートドライブ装置の構成を示す図である。同図において図1と同様の機能を有する要素には同一符号を付してある。
【0052】
本実施の形態において、第1のパワーMOSFET1を駆動する第1のドライブ回路10は、ゲート接続端子11とソース接続端子12との間に、オフ用トランジスタ14と、それに並列に接続された第3のスイッチング素子であるMOSFET17および抵抗18を有する。MOSFET17と抵抗18とは互いに直列に接続される。駆動電圧源15とゲート接続端子11との間には、オン用トランジスタ13と、それに直列接続した抵抗19が接続されている。また、本実施の形態においては、第1の制御回路16は、オン用トランジスタ13、オフ用トランジスタ14並びにMOSFET17のオン/オフの切り替えを制御する。
【0053】
一方、図10からも分かるように、第1のパワーMOSFET1を駆動する第2のドライブ回路20は、上記第1のドライブ回路10とほぼ同様の構成を有している。即ち、第2のドライブ回路20は、ゲート接続端子21とソース接続端子22との間に、オフ用トランジスタ24と、それに並列に接続された第3のスイッチング素子であるMOSFET27および抵抗28を有する。MOSFET27と抵抗28とは互いに直列に接続される。駆動電圧源25とゲート接続端子21との間には、オン用トランジスタ23と、それに直列接続した抵抗29が接続されている。また、第2の制御回路26は、オン用トランジスタ23およびオフ用トランジスタ24に加え、MOSFET27のオン/オフの切り替えを制御する。
【0054】
図11は、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明するための図である。以下、同図に基づいて、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明する。なお、ここでは説明の簡単のために、第1のドライブ回路10の動作に注目して説明を行うが、第2のドライブ回路20も同様の動作を行う。
【0055】
まず、図11に示すように、第1のドライブ回路10において、第1の制御回路16の制御に基づきオン用トランジスタ13がオフに、オフ用トランジスタ14がオンになると、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は0Vになり、当該第1のパワーMOSFET1はオフ状態となる。このとき、オン用トランジスタ13と第1のパワーMOSFET1のソース(ソース接続端子12)との間にはダイオードが挿入されていないので、第1のパワーMOSFET1ゲート・ソース間電圧は速やかに0Vに下がる。従って、当該第1のパワーMOSFET1のターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止される。
【0056】
その後、第1の制御回路16は、第2のパワーMOSFET2がターンオンする前に、オン用トランジスタ13およびMOSFET17をオンに、オフ用トランジスタ14をオフに切り替える。その結果、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は、ソース接続端子12を基準として駆動電圧源15が供給する駆動電圧を抵抗18と抵抗19とで分圧した電圧G2になる。抵抗18および抵抗19の抵抗値は、この電圧G2が、第1のパワーMOSFET1がターンオンする閾値電圧Vthを僅かに下回る程度の大きさになるように設定されている。
【0057】
その後、所定のタイミングで第2のドライブ回路20が、第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間に駆動電圧を印加してオン状態にする。このとき、このターンオンに伴うインバータ回路における電流変動(di/dt)の影響により、図11に示すように第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間に電圧変動が生じ、一時的に閾値Vthを越え、その間第1のパワーMOSFET1がオン状態となる。
【0058】
つまり結果的に、第1のドライブ回路10は、第2のパワーMOSFET2がターンオンするタイミングと同時に、一時的に第1のパワーMOSFET1をオン状態にすることとなる。それにより、第2のパワーMOSFET2のターンオンに伴い発生する還流電流は、第1のパワーMOSFET1の寄生ダイオード部ではなくトランジスタ部に流れ込むため、当該第1のパワーMOSFET1のソース・ドレイン間に発生するサージ電圧は低減する。
【0059】
なお、第2のドライブ回路20は、第1のパワーMOSFET1がターンオンするタイミングで、一時的に第2のパワーMOSFET2をオン状態にするように動作する。上記したように、その動作は第1のドライブ回路10の動作と同様であるので、ここでの説明は省略する。
【0060】
以上のように、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100は、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のうち一方のMOSFETをオフ状態に切り替えた後に、所定のタイミングで他方のMOSFETをオン状態に切り替える場合、当該タイミングに同期する短い期間だけ、一時的に当該一方のMOSFETをオン状態にするように動作する。それにより、当該他方のMOSFETのターンオンに伴い当該一方のパワーMOSFETに加わるサージ電圧は低減する。また、上記一方のMOSFETは、他方のMOSFETのターンオンに伴う電流変動の影響を利用して一時的にオン状態となるので、例えば実施の形態2のように他方のMOSFETがターンオンするタイミングをモニタするまでもなく、的確且つリアルタイムなドライブ制御が可能である。
【0061】
また、上述した実施の形態4では、第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20にはそれぞれ第1および第2の電圧源が必要であったが、本実施の形態ではそれぞれ1つの電圧源(駆動電圧源15および26)を有していればよい。よって、ドライブ装置の回路構成の簡素化に寄与できる。
【0062】
さらに、例えば図12のように、オン用トランジスタ13およびオン用トランジスタ23をnpn型トランジスタ、オフ用トランジスタ14およびオフ用トランジスタ24をpnp型トランジスタで構成し、第1の制御回路16および第2の制御回路26が、それぞれ2つのトランジスタを同一の制御信号で制御するようにしてもよい。そのような構成でも、図11に示した動作を行うことが可能である。つまり、制御信号の経路を少なくできるのでゲートドライブ装置の回路構成さらに簡素化可能である。
【0063】
<実施の形態6>
実施の形態5では、電圧G2の値は、当該閾値電圧Vthよりも僅かに小さい程度の電圧に設定される。そのように設定することにより、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間電圧はインバータ回路における電流変動の影響で閾値電圧Vthを超え、図11のような動作を行うことができる。しかし、ゲート・ソース間に電圧G2が印加されている間は、ノイズの影響により第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2が誤動作しやすい状態である。
【0064】
図13は、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明するための図である。以下、同図に基づいて、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の動作を説明する。なお、ここでは説明の簡単のために、第1のドライブ回路10の動作に注目して説明を行うが、第2のドライブ回路20も同様の動作を行う。また、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100の構成は、図10と同様であるのでここでの説明は省略する。
【0065】
まず、図13に示すように、第1のドライブ回路10において、第1の制御回路16の制御に基づきオン用トランジスタ13がオフに、オフ用トランジスタ14がオンになると、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧(VGS)は速やかに0Vになり、当該第1のパワーMOSFET1はオフ状態となる。その後、所定のタイミングで第2のドライブ回路20が、第2のパワーMOSFET2のゲート・ソース間に駆動電圧を印加してオン状態にする。
【0066】
このとき、それと同じタイミングで、第1のドライブ回路10の第1の制御回路16は、一時的にオン用トランジスタ13およびMOSFET17をオンに、オフ用トランジスタ14をオフにする。その結果、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間には、ソース接続端子12を基準として駆動電圧源15が供給する駆動電圧を抵抗18と抵抗19とで分圧した電圧G2が印加される。ここでも電圧G2は、当該閾値電圧Vthよりも僅かに小さい程度の電圧に設定されている。但し、このとき第2のパワーMOSFET2のターンオンに伴うインバータ回路における電流変動(di/dt)の影響により、第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧は、図13に示すように電圧G2よりもさらに大きくなり、一時的に第1のパワーMOSFET1のゲート・ソース間電圧が閾値Vthを越え、その間第1のパワーMOSFET1はオン状態となる。
【0067】
つまり結果的に、第1のドライブ回路10は、第2のパワーMOSFET2がターンオンするタイミングと同時に、一時的に第1のパワーMOSFET1をオン状態にする。よって、実施の形態5と同様に、当該第1のパワーMOSFET1のソース・ドレイン間に発生するサージ電圧は低減する。
【0068】
なお、第2のドライブ回路20は、第1のパワーMOSFET1がターンオンするタイミングで、一時的に第2のパワーMOSFET2をオン状態にするように動作する。上記したように、その動作は第1のドライブ回路10の動作と同様であるので、ここでの説明は省略する。
【0069】
以上のように、本実施の形態に係るゲートドライブ装置100は、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2のうち一方のMOSFETをオフ状態に切り替えた後に、所定のタイミングで他方のMOSFETをオン状態に切り替える場合、当該タイミングに同期する短い期間だけ、所定の電圧G2を一方のMOSFETのゲート・ソース間に印加することにより、一時的に当該一方のMOSFETをオン状態にする。
【0070】
つまり、一方のMOSFETのゲート・ソース間に所定の電圧G2が印加される期間(即ち、ノイズにより誤動作しやすい期間)は、最小限に抑えられており、実施の形態5と比べゲートドライブ装置100のノイズ耐性は向上する。さらに、ゲートドライブ装置100の動作に伴う消費電力も抑えることができる。また、実施の形態5と同様に、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2に加わるサージ電圧の低減の効果も得られることは言うまでもない。
【0071】
さらに、本実施の形態においては、図14の如く第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20が、それぞれの駆動の対象であるMOSトランジスタをオン状態に切り替えるタイミングを示す情報信号を互いに送受信するように構成することも有効である。そして上記した実施の形態2と同じように、第1のドライブ回路10および第2のドライブ回路20が各々受信した情報信号に基づいて、第1のパワーMOSFET1および第2のパワーMOSFET2をターンオンさせる期間を決定することで、より的確且つリアルタイムなドライブ制御が可能である。それにより、ゲートドライブ装置100の動作信頼性は向上される。
【0072】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係るゲートドライブ装置によれば、第1および第2のMOSトランジスタのうち一方のMOSトランジスタをオフ状態に切り替えた後に所定のタイミングで他方のMOSトランジスタをオン状態に切り替える場合、当該所定のタイミングに同期した所定の期間、一時的に前記一方のMOSトランジスタをオン状態にするので、他方のMOSトランジスタのターンオンに伴い一方のMOSトランジスタに発生するサージ電圧は低減される。また、第1および第2のMOSトランジスタのゲート・ソース間にダイオードを挿入しないので、それらのターンオフ時のスイッチング損失の増大は防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施の形態1に係るゲートドライブ装置の構成を示す図である。
【図2】 実施の形態1に係るゲートドライブ装置の動作を説明するための図である。
【図3】 実施の形態1に係るゲートドライブ装置の変形例を示す図である。
【図4】 実施の形態2に係るゲートドライブ装置の構成を示す図である。
【図5】 実施の形態2に係るゲートドライブ装置の変形例を示す図である。
【図6】 実施の形態3に係るゲートドライブ装置の構成を示す図である。
【図7】 実施の形態3に係るゲートドライブ装置の動作を説明するための図である。
【図8】 実施の形態4に係るゲートドライブ装置の動作を説明するための図である。
【図9】 実施の形態4に係るゲートドライブ装置変形例を示す図である。
【図10】 実施の形態5に係るゲートドライブ装置の構成を示す図である。
【図11】 実施の形態5に係るゲートドライブ装置の動作を説明するための図である。
【図12】 実施の形態6に係るゲートドライブ装置の動作を説明するための図である。
【図13】 実施の形態6に係るゲートドライブ装置の動作を説明するための図である。
【図14】 実施の形態6に係るゲートドライブ装置の変形例を示す図である。
【符号の説明】
1 第1のパワーMOSFET、2 第2のパワーMOSFET、3 主電源、4 負荷、10 第1のドライブ回路、11 ゲート接続端子、12 ソース接続端子、13 オン用トランジスタ、14 オフ用トランジスタ、15 駆動電圧源、16 第1の制御回路、17 MOSFET、18 抵抗、19 抵抗、20 第2のドライブ回路、21 ゲート接続端子、22 ソース接続端子、23 オン用トランジスタ、24 オフ用トランジスタ、25 駆動電圧源、26 第2の制御回路、27 MOSFET、28 抵抗、29 抵抗、100 ゲートドライブ装置100。

Claims (10)

  1. 互いに直列接続された第1および第2のMOSトランジスタを駆動するゲートドライブ装置であって、
    前記第1および第2のMOSトランジスタのうち一方のMOSトランジスタをオフ状態に切り替えた後に所定のタイミングで他方のMOSトランジスタをオン状態に切り替える場合、前記所定のタイミングに同期した所定の期間、一時的に前記一方のMOSトランジスタをオン状態にし、
    前記所定の期間は1μS以下であり、当該所定の期間において前記一方のMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧が閾値電圧を上回るのは0.1V以下である
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  2. 請求項1に記載のゲートドライブ装置であって、
    前記ゲートドライブ装置は、前記第1および第2のMOSトランジスタの各々を駆動する第1および第2のドライブ回路を含み、
    前記第1および第2のドライブ回路のそれぞれは、
    駆動の対象であるMOSトランジスタをオン状態に切り替えるタイミングに関する情報信号を互いに送受信可能であり、受信した前記情報信号に基づいて前記所定の期間を決定する
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載のゲートドライブ装置であって、
    前記ゲートドライブ装置は、前記第1および第2のMOSトランジスタの各々を駆動する第1および第2のドライブ回路を含み、
    前記第1および第2のドライブ回路のそれぞれは、
    駆動の対象であるMOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、
    前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する電圧源と、
    前記電圧源と第1の端子との間に接続された第1のスイッチング素子と、
    前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、
    前記第1および第2のスイッチング素子を制御する制御回路とを備え、
    前記第1および第2のドライブ回路のうち前記一方のMOSトランジスタを駆動する側の前記制御回路は、
    前記所定の期間の間、前記第1のスイッチング素子をオンに、前記第2のスイッチング素子をオフにする
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  4. 請求項1または請求項2に記載のゲートドライブ装置であって、
    前記ゲートドライブ装置は、前記第1および第2のMOSトランジスタの各々を駆動する第1および第2のドライブ回路を含み、
    前記第1および第2のドライブ回路のそれぞれは、
    駆動の対象であるMOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、
    前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する第1の電圧源と、
    前記第1の端子に接続され、前記MOSトランジスタがオンする閾値電圧よりも小さい所定の電圧を供給する第2の電圧源と、
    前記第1の電圧源と第1の端子との間に接続された第1のスイッチング素子と、
    前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、
    前記第2のスイッチング素子に並列に接続され、互いに直列接続した第3のスイッチング素子および抵抗と、
    前記第1、第2および第3のスイッチング素子並びに第2の電圧源を制御する制御回路とを備え、
    前記第1および第2のドライブ回路のうち前記一方のMOSトランジスタを駆動する側の前記制御回路は、
    前記所定の期間の間、前記第1および第2のスイッチング素子をオフに、前記第3のスイッチング素子をオンにすると共に前記第2の電圧源によって前記所定の電圧を前記第1の端子に印加する
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  5. 請求項1または請求項2に記載のゲートドライブ装置であって、
    前記ゲートドライブ装置は、前記第1および第2のMOSトランジスタの各々を駆動する第1および第2のドライブ回路を含み、
    前記第1および第2のドライブ回路のそれぞれは、
    駆動の対象であるMOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、
    前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する電圧源と、
    前記電圧源と第1の端子との間に接続され、互いに直列接続した第1のスイッチング素子および第1の抵抗と、
    前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、
    前記第2のスイッチング素子に並列に接続され、互いに直列接続した第3のスイッチング素子および第2の抵抗と、
    前記第1、第2および第3のスイッチング素子を制御する制御回路とを備え、前記第1および第2のドライブ回路のうち前記一方のMOSトランジスタを駆動する側の前記制御回路は、
    前記所定の期間の間、前記第1および第3のスイッチング素子をオンに、前記第2のスイッチング素子をオフにする
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  6. 請求項3または請求項5に記載のゲートドライブ装置であって、
    前記制御回路は、
    制御の対象である前記第1および第2のスイッチング素子を、同一の制御信号により制御する
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  7. MOSトランジスタを駆動するドライブ回路を有するゲートドライブ装置であって、
    前記ドライブ回路は、
    前記MOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、
    前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する第1の電圧源と、
    前記第1の端子に接続され、前記MOSトランジスタがオンする閾値電圧よりも小さい所定の電圧を供給する第2の電圧源と、
    前記第1の電圧源と第1の端子との間に接続された第1のスイッチング素子と、
    前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、
    前記第2のスイッチング素子に並列に接続され、互いに直列接続した第3のスイッチング素子および抵抗と、
    前記第1、第2および第3のスイッチング素子並びに第2の電圧源を制御する制御回路とを備え、
    前記制御回路は、
    前記第1のスイッチング素子をオフに、前記第2のスイッチング素子をオンにした後の所定のタイミングで、所定の期間の間、一時的に前記第1および第2のスイッチング素子をオフに、前記第3のスイッチング素子をオンにすると共に前記第2の電圧源によって前記所定の電圧を前記第1の端子に印加する
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  8. MOSトランジスタを駆動するドライブ回路を有するゲートドライブ装置であって、
    前記ドライブ回路は、
    前記MOSトランジスタのゲートおよびソースにそれぞれ接続可能な第1および第2の端子と、
    前記MOSトランジスタの駆動電圧を供給する電圧源と、
    前記電圧源と第1の端子との間に接続され、互いに直列接続した第1のスイッチング素子および第1の抵抗と、
    前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された第2のスイッチング素子と、
    前記第2のスイッチング素子に並列に接続され、互いに直列接続した第3のスイッチング素子および第2の抵抗と、
    前記第1、第2および第3のスイッチング素子を制御する制御回路とを備え、
    前記制御回路は、
    前記第1のスイッチング素子をオフに、前記第2のスイッチング素子をオンにした後の所定のタイミングで、所定の期間の間、一時的に前記第1および第3のスイッチング素子をオンに、前記第2のスイッチング素子をオフにし、
    前記第1および第2の抵抗の抵抗値は、前記所定の期間の間に、前記MOSトランジスタがオンする閾値電圧よりも小さい所定の電圧が前記第1の端子に供給されるよう設定されている
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  9. 請求項8に記載のゲートドライブ装置であって、
    前記制御回路は、
    前記第1および第2のスイッチング素子を、同一の制御信号により制御する
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
  10. 請求項7から請求項9のいずれかに記載のゲートドライブ装置であって、
    前記制御回路は、
    前記MOSトランジスタをオン状態に切り替えるタイミングに関する情報信号を送受信可能であり、受信した前記情報信号に基づいて前記所定の期間を決定する
    ことを特徴とするゲートドライブ装置。
JP2003015817A 2003-01-24 2003-01-24 ゲートドライブ装置 Expired - Lifetime JP4113436B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003015817A JP4113436B2 (ja) 2003-01-24 2003-01-24 ゲートドライブ装置
US10/457,348 US6819149B2 (en) 2003-01-24 2003-06-10 Gate drive device for reducing a surge voltage and switching loss
DE10344572A DE10344572B4 (de) 2003-01-24 2003-09-25 Gateansteuerungseinrichtung zur Reduktion einer Stoßspannung und einem Schaltverlust

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003015817A JP4113436B2 (ja) 2003-01-24 2003-01-24 ゲートドライブ装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2004229057A JP2004229057A (ja) 2004-08-12
JP2004229057A5 JP2004229057A5 (ja) 2005-11-04
JP4113436B2 true JP4113436B2 (ja) 2008-07-09

Family

ID=32709251

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003015817A Expired - Lifetime JP4113436B2 (ja) 2003-01-24 2003-01-24 ゲートドライブ装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6819149B2 (ja)
JP (1) JP4113436B2 (ja)
DE (1) DE10344572B4 (ja)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4506276B2 (ja) * 2004-05-17 2010-07-21 富士電機システムズ株式会社 自己消弧形半導体素子の駆動回路
JP2006296119A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Nichicon Corp 半導体スイッチング素子の駆動回路
US7382168B2 (en) * 2005-08-30 2008-06-03 Agere Systems Inc. Buffer circuit with multiple voltage range
WO2007138509A2 (en) 2006-05-29 2007-12-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Switching circuit arrangement
US7417480B2 (en) * 2006-07-14 2008-08-26 International Business Machines Corporation Duty cycle correction circuit whose operation is largely independent of operating voltage and process
US7913199B2 (en) * 2006-07-14 2011-03-22 International Business Machines Corporation Structure for a duty cycle correction circuit
CN101442302B (zh) * 2007-11-20 2010-11-03 盛群半导体股份有限公司 栅极驱动电路及其驱动方法
US8108813B2 (en) * 2007-11-20 2012-01-31 International Business Machines Corporation Structure for a circuit obtaining desired phase locked loop duty cycle without pre-scaler
US20090128206A1 (en) * 2007-11-20 2009-05-21 Boerstler David W Apparatus and Method for Obtaining Desired Phase Locked Loop Duty Cycle without Pre-Scaler
US8381143B2 (en) * 2008-05-29 2013-02-19 International Business Machines Corporation Structure for a duty cycle correction circuit
KR20100056244A (ko) * 2008-11-19 2010-05-27 페어차일드코리아반도체 주식회사 스위치 구동 회로 및 스위치 구동 방법
US8695707B2 (en) * 2009-06-16 2014-04-15 Schlumberger Technology Corporation Asphaltene removal composition and methods
JP2011188271A (ja) * 2010-03-09 2011-09-22 Mitsubishi Electric Corp ゲート駆動回路
WO2011125945A1 (ja) * 2010-04-01 2011-10-13 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP5510339B2 (ja) * 2011-01-06 2014-06-04 株式会社デンソー 負荷駆動回路
JP5582123B2 (ja) 2011-10-05 2014-09-03 三菱電機株式会社 半導体装置
EP2775595B1 (en) * 2011-11-02 2019-10-02 Mitsubishi Electric Corporation Drive device for a power conversion device, and drive method for a power conversion device
JP5970194B2 (ja) * 2012-02-03 2016-08-17 株式会社 日立パワーデバイス 半導体スイッチング素子の駆動回路並びにそれを用いた電力変換回路
CN103117737A (zh) * 2013-02-02 2013-05-22 上海双电电气有限公司 一种用于igbt驱动器的信号隔离电路
JP6425380B2 (ja) * 2013-12-26 2018-11-21 ローム株式会社 パワー回路およびパワーモジュール
CN105141113B (zh) * 2015-08-13 2017-11-03 电子科技大学 一种用于igbt驱动芯片的驱动电路
WO2017057682A1 (ja) * 2015-09-30 2017-04-06 アイシン・エィ・ダブリュ株式会社 駆動装置
DE112016005269T5 (de) * 2015-11-17 2018-08-16 Autonetworks Technologies, Ltd. Umschaltschaltung und Stromversorgungssystem
JP6617571B2 (ja) * 2016-01-14 2019-12-11 富士電機株式会社 半導体スイッチング素子のゲート駆動回路
US9721742B1 (en) 2016-06-25 2017-08-01 Active-Semi, Inc. Power integrated circuit with autonomous limit checking of ADC channel measurements
US10090675B1 (en) 2016-06-25 2018-10-02 Active-Semi, Inc. Fast settlement of supplement converter for power loss protection system
US10985644B1 (en) 2016-06-25 2021-04-20 Active-Semi, Inc. Optimized gate driver for low voltage power loss protection system
US10826480B1 (en) * 2016-07-01 2020-11-03 Active-Semi, Inc. Gate driver to decrease EMI with shorter dead-time
JP7157046B2 (ja) * 2017-04-05 2022-10-19 ローム株式会社 パワーモジュール
US10193544B2 (en) 2017-04-21 2019-01-29 Ford Global Technologies, Llc Minimizing ringing in wide band gap semiconductor devices
DE102017219551A1 (de) * 2017-11-03 2019-05-09 Continental Teves Ag & Co. Ohg Verpolschutzanordnung, Verfahren zum Betrieb der Verpolschutzanordnung und korrespondierende Verwendung
CN113054828B (zh) * 2019-12-26 2022-08-16 圣邦微电子(北京)股份有限公司 一种功率开关管的驱动电路以及电源系统
DE102021213295A1 (de) * 2021-11-25 2023-05-25 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Ansteuerung eines ersten und eines zweiten Schaltelementes einer Halbbrücke in einem Stromwandler und Stromwandler mit einer Halbbrücke
US20230408571A1 (en) * 2022-06-16 2023-12-21 Teradyne, Inc. Method for reduction of sic mosfet gate voltage glitches

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4375074A (en) * 1980-08-08 1983-02-22 Reliance Electric Company Dual-mode transistor turn-off
US5905370A (en) * 1997-05-06 1999-05-18 Fairchild Semiconductor Corporation Programmable step down DC-DC converter controller
US6281718B1 (en) * 1998-09-16 2001-08-28 Cirrus Logic, Inc. Noise management using a switched converter
DE19855900B4 (de) * 1998-12-03 2004-04-08 Siemens Ag Verfahren zur Verringerung von Verlusten beim Kommutierungsvorgang
JP4151163B2 (ja) 1999-07-08 2008-09-17 株式会社豊田自動織機 Mosトランジスタのドライブ回路
US6362683B1 (en) * 1999-07-29 2002-03-26 Tripath Technology, Inc. Break-before-make distortion compensation for a digital amplifier
US6486816B2 (en) * 2001-04-03 2002-11-26 Texas Instruments Incorporated CDAC operation at low supply voltages
US6653878B2 (en) * 2001-09-24 2003-11-25 Microchip Technology Inc. Low-power output controlled circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US20040145407A1 (en) 2004-07-29
US6819149B2 (en) 2004-11-16
DE10344572A1 (de) 2004-08-12
DE10344572B4 (de) 2010-02-25
JP2004229057A (ja) 2004-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4113436B2 (ja) ゲートドライブ装置
KR101863014B1 (ko) 자기 소호형 반도체 소자의 단락 보호 회로
JP4595670B2 (ja) 電圧駆動型スイッチング素子の駆動装置
JP4903214B2 (ja) 半導体スイッチをガルバニック絶縁で制御する方法および回路装置
US7705638B2 (en) Switching control circuit with reduced dead time
JP4650688B2 (ja) 絶縁ゲート型トランジスタ駆動回路装置
US20100194451A1 (en) Method of controlling an igbt and a gate driver
JP2004519188A (ja) 切替え型fet回路
JP4779549B2 (ja) 電圧駆動型半導体素子のゲート駆動回路。
JP3052792B2 (ja) インバータ装置
JP4161737B2 (ja) 半導体装置の駆動方法および装置
JP4705683B2 (ja) マイクロプロセッサからの出力信号を用いた電子構成素子の駆動のための回路装置及びその方法
JP2002208849A (ja) 誘導性負荷駆動回路
JP2020127267A (ja) 過電流保護回路及びスイッチング回路
US6917227B1 (en) Efficient gate driver for power device
JP5447575B2 (ja) 駆動装置
JP2006324794A (ja) 電圧駆動型半導体素子の駆動装置
CN112039505A (zh) 用于运行电路的方法、电路以及机动车
JP2009542179A (ja) 電力消費装置を制御するための回路配置および方法
JP5145142B2 (ja) ハーフブリッジ回路
JP2003133926A (ja) 突入電流抑止回路
JP3977332B2 (ja) スプリアス情報のセンスを防止するアクティブインピーダンスを有するパワー制御集積回路
JP4658770B2 (ja) 半導体装置
JP7226099B2 (ja) ゲート駆動回路
US20040017168A1 (en) Motor driving device for supplying driving current to a three-phase motor through output transistors

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050809

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050809

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070726

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071113

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080110

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080110

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080408

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080411

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4113436

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110418

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120418

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120418

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130418

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130418

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140418

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term