JP4089976B2 - 大電流用プローブ - Google Patents

大電流用プローブ Download PDF

Info

Publication number
JP4089976B2
JP4089976B2 JP2004350776A JP2004350776A JP4089976B2 JP 4089976 B2 JP4089976 B2 JP 4089976B2 JP 2004350776 A JP2004350776 A JP 2004350776A JP 2004350776 A JP2004350776 A JP 2004350776A JP 4089976 B2 JP4089976 B2 JP 4089976B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plunger
contact
contact member
wire
outer tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2004350776A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005331500A (ja
Inventor
ヨーン リー,チャエ
Original Assignee
リーノ アイエヌディー.インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from KR1020040034876A external-priority patent/KR100608232B1/ko
Priority claimed from KR20-2004-0022923U external-priority patent/KR200366552Y1/ko
Application filed by リーノ アイエヌディー.インコーポレイテッド filed Critical リーノ アイエヌディー.インコーポレイテッド
Publication of JP2005331500A publication Critical patent/JP2005331500A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4089976B2 publication Critical patent/JP4089976B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded

Description

本発明は大電流用プローブに係り、より詳しくは外管の内外に弾性的に出没可能に形成されたプランジャが、検査対象物から下向きに加圧力を受けて下方に移動するとき、回路基板に連結された下側の接触部材と接触するようにし、前記プランジャ又は接触部材の内部に形成された挿入孔に挿設された多数の接触線材により確かな接触をなすることにより、検査信頼性を向上させるばかりでなく、電流密度及び接触抵抗を最小にして劣化による破損などを防止する構造の大電流用プローブに関するものである。
大電流用プローブは、5A以上に相当する大容量の電流を通電させることで検査が行われるチップのテスト用として使用されるもので、微量の電流が通電される半導体チップ検査用プローブに比べ、電流の安定した流動経路の形成に重点を置いた構造に製作される。
一般に、半導体チップ検査用プローブは、検査の際、コイルスプリング及びコイルスプリングと外管の接触部の極小面積の経路を通して電流が集中的に流れる場合が頻繁に生じる。ところで、5A以下の電流が流れる場合は、前記のような極小経路を通して電流が流れてもプローブの寿命に影響を殆ど及ぼさないので、弾性力をより強く付与するなど、接触安定性のための構造変形が自由になされる。
これに対し、大電流用プローブは、5〜500Aに相当する大容量の電流が流れるので、全体サイズが前記半導体チップ検査用プローブより大きく、コイルスプリング及び極小接触部を介して1地点に集中的に流れる場合、前記コイルスプリング及び極小接触部が容易に劣化するので、素材が融けるか又は熱特性が変化するため、機械的作動が円滑にできなくなる。
このような大電流用プローブにおいても、半導体チップ検査用と同様に、プランジャを弾性的に遊動させるため、コイルスプリングを収容して結合させる構造が必ず必要となる。したがって、従来は、コイルスプリング及び構成要素間の組立による接触面積の不確実性により電流経路が不安定になって部品の破損が頻繁に発生し、一部の部品の破損時には、残りの部品の再使用もできなくなり、プローブ全体を取り替えなければならない問題点があった。
したがって、本発明は前記のような問題点を解決するためになされたもので、接触安定性を有するとともに、コイルスプリングを経由しない確かな電流の流れ経路と気密な組立構造により電流の流れが安定的になり、検査の信頼性を向上させ得る構造の大電流用プローブを提供することにその目的がある。
また、本発明のほかの目的は、電流密度及び接触抵抗を最小化して、劣化による破損を防止することにより、プローブ自体の寿命を延長させ得る構造の大電流用プローブを提供することにある。
また、本発明のさらなるほかの目的は、組立及び解体を容易にして、破損部品の交替が可能な大電流用プローブを提供することにある。
前記のような目的を達成するため、本発明は、上下端が開放された円筒状の外管と、前記外管の上部に弾性的に出没可能に設けられ、検査対象物の接触端子と接触するプランジャと、前記外管の下部と嵌合され、回路基板の接触端子に電気的に連結される接触部材と、前記プランジャと前記接触部材間を電気的に連結するため、前記プランジャと前記接触部材の嵌合部に介在され、一方の端部が前記嵌合部から外側に突出して折り曲げられた多数の接触線材とを含んでなる大電流用プローブを提供する。
前記プランジャの下部には、前記接触部材の上部が挿入される挿入孔が形成され、前記接触部材は、前記プランジャとの間に弾性スプリングを介して前記外管の下部に固着され、上部には、前記プランジャの挿入孔に挿入される線材接触部が設けられ、前記接触線材は、一方の端部が前記プランジャの挿入孔に挿入され、他方の端部が前記プランジャの下端から突出して前記プランジャの外面側に折り曲げられ、前記折り曲げられた他方の端部は前記プランジャの外周面に嵌合される線材固定管により前記プランジャの外周面に密着、固定されることができる。
また、前記プランジャの下部には線材接触部が設けられ、前記接触部材は、前記プランジャとの間に弾性スプリングを介して前記外管の下部に固着され、上部には、前記プランジャの線材接触部が挿入される挿入孔が設けられ、前記接触線材は、一方の端部が前記接触部材の挿入孔に挿入され、他方の端部が前記接触部材の上端から突出して前記接触部材の外面側に折り曲げられ、前記折り曲げられた他方の端部は前記接触部材の外周面に嵌合される線材固定管により前記接触部材の外周面に密着、固定されることもできる。
前記プランジャは、上端に多数の探針突起が形成され、前記外管の内部に挿入される部分が円筒状に形成されることが好ましい。
前記プランジャの前記外管内での上向き移動を制限するため、前記外管には内側に突出する係止突起が設けられ、前記プランジャの一部は縮径され、この縮径部に前記係止突起が収容されることが好ましい。
前記挿入孔は、内側端部に半球状の拘束膨出部が形成され、前記拘束膨出部の外周と前記挿入孔の内周面の間に形成される溝に、前記接触線材の一方の端部が拘束されることが好ましい。
前記接触線材が前記挿入孔の中心側に曲がっていることが好ましい。
前記プランジャの下端部が縮径されており、前記線材固定管は、前記プランジャの外周面に同一面上に連続する外周面を有し、前記プランジャの内側端部の縮径部に嵌合されることができる。
また、前記接触部材の上端部が縮径されており、前記線材固定管は、前記接触部材の外周面に同一面上に連続する外周面を有し、前記接触部材の内側端部の縮径部に嵌合されることもできる。
前記線材固定管は、前記接触線材の折曲部に対応する端部の内経が縮径されることが好ましい。
前記接触線材は、前記挿入孔の内側端に一方の端部が拘束され、前記線材固定管により他方の端部が固定されることにより、その中間部が前記挿入孔の中心側に曲がることが好ましい。
このように構成される本発明は、接触安定性を有するとともに、コイルスプリングを経由しない確かな電流の流れ経路と気密な組立構造により電流の流れが安定的になり、検査の信頼性を向上される効果がある。
また、電流密度及び接触抵抗が最小化して、劣化による破損を防止することにより、プローブ自体の寿命を延長させることができる効果がある。
また、組立及び解体を容易にして、破損部品の交替が可能となる効果がある。
以下、本発明を添付図面に基づいて詳細に説明する。
図1は本発明の第1実施例による大電流用プローブを示す縦断面図、図2は本発明の第2実施例による大電流用プローブを示す縦断面図、図3は本発明の第3実施例による大電流用プローブを示す縦断面図、図4は図3の分解縦断面図、図5は本発明の第4実施例による大電流用プローブを示す縦断面図である。
本発明による大電流用プローブは、検査の際、上側の検査対象物から下向き加圧力を受けて外管10の内外に弾性的に出没するプランジャ20と、前記外管10の下部に固定され、回路基板に下端部が電気的に連結される接触部材30とを備えた大電流用プローブにおいて、接触線材50と、線材固定管60とを含んでなる構造を有する。
まず、図1及び図2に示す第1及び第2実施例について説明する。第1及び第2実施例において、前記プランジャ20は上下に開放された円筒状の前記外管10の内側に上部が上方に突出するように取り付けられ、前記外管10から突出して検査対象物と接触し、検査対象物により加圧される上端部には、検査対象物との接触信頼性を高めるため、多数の探針突起が形成され、前記外管10の内側に位置する外管挿入部22は前記外管10から外部へ離脱しないように、前記外管10の形状に対応する外周形状を有し、前記外管挿入部22の下部には、前記外管10の下部に固定された前記接触部材30の上部が挿入するように、前記接触部材の上部の位置及び形状に対応する挿入孔40が下端部から上方に形成される。
前記接触線材50は、前記プランジャ本体の挿入孔40に挿設され、前記プランジャ本体が加圧されて下方に移動するとき、前記挿入孔40の内側に挿入される前記接触部材30と直接接触して電流の主な流れ経路を形成する。
前記接触線材50の形状は、図1及び図2に示すような、前記挿入孔40の内側に中央部が突出するように折曲された形状に限定されるものではなく、前記接触線材50の上端部に行くほど前記挿入孔40の内側に内向する形状となるなど、素材、プローブのサイズ、前記接触部材30の上部形状によって多様な実施例を有することが好ましい。
そして、前記第1及び第2実施例のような形状を有する場合、前記接触線材50の上端を前記挿入孔40の上端から所定の距離だけ離隔させると、前記接触部材30との接触部位が加圧されて平らになり、前記接触部材30との接触面積が拡張して前記接触部材30に対する摩擦を最小化することができ、前記接触線材50の上端を前記挿入孔40の上端に限定させると、前記接触部材30との接触部位が加圧されて弾性変形され、拡張するとともに確かな接触が得られる。
前記接触線材50は、前記挿入孔40の下端から突出した一方の端部が外側に折曲され、前記接触線材50の折曲端部は前記プランジャ20の外側に位置し、前記プランジャ20の下端部の外周上に嵌合される線材固定管60により、前記プランジャ20の外周上に密着して固定される。
本発明による大電流用プローブにおいて、検査対象物から伝達された電流は前記プランジャ本体を介して下側に流れ、前記接触線材50を介して回路基板に連結された前記接触部材30に伝達され、前記接触線材50の本数が多いほど前記接触部材30との接触面積が拡張して接触安定性が向上され、コイルスプリング400だけでなく前記接触線材50と接触部材30の接触面積に相当する確かな電流の流れ経路により電流が安定的に流れるので、検査の信頼性が向上される。
前記接触線材50と接触部材30の接触面積に相当する電流の流れ経路が形成されることにより、電流密度及び接触抵抗が格段に低下して、劣化による破損が防止され、組立及び解体が容易になるので、損傷した各構成要素の個別交替が可能となる。
前記第1実施例において、前記外管10の上端部は内側に緩やかに曲がった形状を取り、前記プランジャ20は、前記外管10の上端部の形状に対応するよう、前記外管10の内側に位置する外管挿入部22の外周面形状を円筒状に形成し、前記外管10から突出する突出部を、前記外管10の開放孔の直径に対応する外径を有するように形成する。
前記第2実施例において、前記外管10は、上部で内側に突出した環状の係止突条11が形成され、前記プランジャ20は、前記外管10の係止突条11にかかって上下移動が制限されるように、上下移動距離に相当する一部の外径が縮小した構造を有する。
前記第1及び第2実施例において、前記線材固定管60は、前記接触線材50の外側端部を収容するとともに、前記外管10に挿入されたとき、前記プランジャ本体の外管挿入部22の外面に繋がる滑らかな外周面を形成するため、下端部の外周面に固定管嵌合縮径部及び線材収容縮径部が形成される。前記線材固定管60は前記外管挿入部22と同一外径を有するように形成され、前記接触線材50の下端を前記プランジャ本体の下端に加圧して固定させる係止段を含むことにより、前記接触線材50の前記外管10との組立性、密着性及び堅固性を向上させる。
前記接触部材30は、前記プランジャ20との間に弾性スプリング70を介在して前記外管10の下部に固着され、前記プランジャ20の挿入孔40に挿入されるとき、前記接触線材50との接触が円滑になる形状のピンに形成される。
つぎに、図3、図4及び図5に示す本発明の第3及び第4実施例について説明する。
本発明の第3及び第4実施例による大電流用プローブは、円筒状の外管10、プランジャ20、接触部材30、接触線材50、及び線材固定管60からなり、円筒状の外管10の一方の端部から外側に突出するプランジャ20が前記外管20の内外側に弾性的に移動するタイプのもので、前記プランジャ20が設けられていない前記外管10の端部には、前記外管10の端部を閉塞させるように前記外管10の内部に挿着された接触部材30と、前記外管10の内部に挿着された前記接触部材30の端部にかかり、前記接触部材30の内外側に折り曲げられて嵌合される接触線材50と、前記接触線材50の中央部を折り曲げて前記接触部材30に堅く固定させる線材固定管60とを含む。
前記接触部材30は、挿入孔40が形成された内側部と外側結合部32とからなる。前記内側部は前記外管20の内周面から離隔して内部に挿入され、前記外側結合部32は前記挿入孔40の下端を閉鎖するとともに前記挿入孔40の下端から延長して前記外管10の内周面に堅く挿着される。
前記接触線材50は内側挿入部と外側係合部からなり、前記内側挿入部は、前記接触部材30の挿入孔40内に前記挿入孔40の全長と同一又はそれ以上の長さで挿入され、前記外側係合部は前記内側挿入部の上端から前記挿入孔40の外側下向きに折り曲げられて前記接触部材30の内側部にかかる形状に形成され、前記接触部材30の内側部の上端部及び外側面に位置することになる。
前記線材固定管60は前記円筒状の接触部材30の内側部にかかって折り曲げられた多数の接触線材50を前記内側部の上端部及び外周面上に固定させる構成要素で、前記接触線材50の外側係合部を前記接触部材30の上端及び外周上に密着させ、前記接触部材30の内側部の外周に嵌合されて、前記接触部材30及び接触線材50に堅く結合される。
第3実施例において、前記接触部材30の内側部は、前記接触線材50及び線材固定管60と堅く結合するため、前記接触線材50の内側係合部及び線材固定管60の厚さ及び内経を考慮して、下方に行くほど外径が拡張する多段の係止段を有する。
前記接触線材50の内側挿入部の下端が接触して下向き移動の限界部をなす前記接触部材30の外側結合部32の上端部、すなわち挿入孔40の下端部は、その中心部が上方に球面状に突出した半球状の係止突起32aを形成するので、接触線材50の下端部が前記挿入孔40の拘束膨出部32aの外周溝部に拘束される。したがって、前記接触線材50が下方加圧力、又は捻り力により曲がるとき、前記接触線材50の拘束されていない中間部が前記挿入孔40の中心側に曲がることになる。
また、第3実施例において、前記接触部材30の外側結合部32の下端部は、前記外管10の外周面に相当する外径まで拡径される。この明細書では、前記拡径された前記外側結合部32の下端部を外管仕上げ部と呼ぶ。前記外管仕上げ部は、前記接触部材30が下から前記外管10に挿入されるとき、前記外管10の下端にかかって、前記外管10の下端部を閉塞させるとともに滑らかに仕上げる機能をする。
前記線材固定管60は前記接触線材50の上端折曲部を前記接触部材30の内側部の上端に密着させるように、上端部の内経が縮径される。さらに、前記線材固定管60の上端部は、その上に設けられるコイルスプリングが安定に支持されるようにする支持部の役割をする。
前記接触線材50は、前記外側係合部が直線形の前記内側挿入部の上端で外側下方に鋭角に折り曲げられ、前記線材固定管60により前記外側係合部が前記接触部材30の内側部の外周上に圧着され、前記鋭角に折り曲げられた上端が前記接触部材30の内側部の上端に圧着されるので、前記内側挿入部が前記挿入孔40の中心側に曲がることになる。
この実施例において、前記外管仕上げ部の拘束膨出部41により前記内側挿入部の下端部が限定され、前記接触線材50の上端が前記接触部材30の内側部の上端に圧着されるので、接触線材50の内側挿入部には余計な長さの部分が形成されるので、前記内側挿入部を持ち上げる力により、接触線材50の内側挿入部の中間部が中心側に曲がることになる。このような接触線材50の曲がりにより、前記プランジャの線材接触部24が前記挿入孔40の内部に移動するとき、前記接触線材50とより確実に接触するので、前記プランジャ20の上端から流れて入った電流が、プローブの下端に設けられた前記接触部材30に流れるようにする役割をする。
第3実施例とは異なり、前記外管結合部32に拘束膨出部41が形成されていない場合においても、前記接触線材50は前記挿入孔40の中心側に曲がって前記プランジャ20に確実に密着可能であり、前記接触線材の外側係合部が鋭角に折り曲げられなくて前記挿入孔40の上部形状に対応する形状に折り曲げられる場合であっても、前記内側挿入部の長さが前記挿入孔40の長さより長いと、接触線材50の曲がりが生じ、前記接触部材30の内側部の外周形状も前記接触線材50及び線材固定管60の形状によって多様に形成できるので、本発明は前記の実施例に限定されなく多様に変形実施可能なものである。
前記外管10には上部係止突条と下部係止突条が設けられる。前記上部係止突条は、前記プランジャ20の上向き移動を制限するように内側突出し、前記下部係止突条は、前記接触部材30を前記外管10の内周面に固定するように内側に突出する。
前記外管10の内部には、上から、前記上部係止突条にかかって上向き移動が制限されるプランジャ20と、前記プランジャ20に弾性力を付与するコイルスプリング70と、前記コイルスプリング70の下端に対する支持面を提供するとともに前記接触線材50を前記接触部材30に固定させる線材固定管60と、前記線材固定管60の内側及び下側で前記下部係止突条により前記外管10に固定される接触部材30とが順に設けられる。
前記プランジャ20は、探針部、外管挿入部22、及び線材接触部24からなる。前記探針部は、上側のチップ端子と接触する上端に多数の探針突起21が形成され、前記外管挿入部22は、前記探針部の下端に連結され、前記外管10の内部で下方に伸びている連続部と、前記外管10の上部係止突条の下側部にかかるよう、前記連続部上に拡径された係止段部とを含み、前記線材接触部24は前記外管挿入部22の下端に連結されるもので、検査の際、前記挿入孔40の内部に移動することにより、前記接触線材50と電気的に連結される。
図5に示す第4実施例は、前記外管10の下端部を内側に折り曲げ、前記接触部材の外管結合部32の下端を前記外管10の下端部内側に配置させた構造のもので、前記外管結合部32で前記外管10の下端を仕上げる構造の前記実施例とは異なり、前記外管10により接触部材30の下端をより堅固に固定させることができる。
本発明による大電流用プローブは、前記プランジャ20が前記コイルスプリングにより安定的にかつ弾性的に遊動可能なので、接触安定性を有する。また、前記プランジャ20の上端から前記接触線材50を介して下端の接触部材30まで電流経路が形成されるので、コイルスプリングのような小さい断面経路を経ない確かな電流の流れ経路が得られる。
また、前記接触部材30、接触線材50、及び線材固定管60の組立体を前記外管10に対して容易に組立及び解体することができるので、疲労が集中し劣化しやすい前記プランジャ20、コイルスプリング70、接触線材50などの交換が容易になる。したがって、プローブの一部構成要素が破損した場合にも、破損されていない構成要素は再び組み立てて使用することが可能なので、部品の無駄な廃棄を減らすことができる。
本発明の第1実施例による大電流用プローブの縦断面図である。 本発明の第2実施例による大電流用プローブの縦断面図である。 本発明の第3実施例による大電流用プローブの縦断面図である。 図3の分解縦断面図である。 本発明の第4実施例による大電流用プローブの縦断面図である。
符号の説明
10 外管
11 係止突起
20 プランジャ
21 探針突起
22 外管挿入部
24 線材接触部
30 接触部材
32 外管結合部
40 挿入孔
41 拘束膨出部
50 接触線材
60 線材固定管
70 弾性スプリング

Claims (8)

  1. 上下端が開放された円筒状の外管と、
    前記外管の上部に弾性的に出没可能に設けられ、検査対象物の接触端子と接触するプランジャと、
    前記外管の下部と嵌合され、回路基板の接触端子に電気的に連結される接触部材と、
    前記プランジャと前記接触部材間を電気的に連結するための部材からなる、大電流用プローブであって、
    前記プランジャの下部には、前記接触部材の上部が挿入される挿入孔が形成され、
    前記接触部材は、前記プランジャとの間に弾性スプリングを介して前記外管の下部に固着され、上部には、前記プランジャの挿入孔に挿入される線材接触部が設けられ、
    前記接触線材は、挿入孔内面上にプランジャ軸方向に沿って並ぶ多数の所定長線材からなり、前記線材の各線は一方の端部が前記プランジャの挿入孔に挿入され、他方の端部が前記プランジャの下端から突出して前記プランジャの外面側に折り曲げられ、前記折り曲げられた他方の端部は前記プランジャの外周面に嵌合される線材固定管により前記プランジャの外周面に密着、固定されることを特徴とする大電流用プローブ。
  2. 上下端が開放された円筒状の外管と、
    前記外管の上部に弾性的に出没可能に設けられ、検査対象物の接触端子と接触するプランジャと、
    前記外管の下部と嵌合され、回路基板の接触端子に電気的に連結される接触部材と、
    前記プランジャと前記接触部材間を電気的に連結するための部材からなる、大電流用プローブであって、
    前記プランジャの下部には線材接触部が設けられ、
    前記接触部材は、前記プランジャとの間に弾性スプリングを介して前記外管の下部に固着され、上部には、前記プランジャの線材接触部が挿入される挿入孔が設けられ、
    前記接触線材は、一方の端部が前記接触部材の挿入孔に挿入され、他方の端部が前記接触部材の上端から突出して前記接触部材の外面側に折り曲げられ、前記折り曲げられた他方の端部は前記接触部材の外周面に嵌合される線材固定管により前記接触部材の外周面に密着、固定されることを特徴とする大電流用プローブ。
  3. 前記プランジャは、上端に多数の探針突起が形成され、前記外管の内部に挿入される部分が円筒状に形成されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
  4. 前記プランジャの前記外管内での上向き移動を制限するため、前記外管には内側に突出する係止突起が設けられ、前記プランジャの一部は縮径され、この縮径部に前記係止突起が収容されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
  5. 前記挿入孔は、内側端部に半球状の拘束膨出部が形成され、前記拘束膨出部の外周と前記挿入孔の内周面間に形成される溝に前記接触線材の一方の端部が拘束されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
  6. 前記プランジャの下端部が縮径されており、前記線材固定管は、前記プランジャの外周面に同一面上に連続する外周面を有し、前記プランジャの内側端部の縮径部に嵌合されることを特徴とする請求項に記載の大電流用プローブ。
  7. 前記接触部材の上端部が縮径されており、前記線材固定管は、前記接触部材の外周面に同一面上に連続する外周面を有し、前記接触部材の内側端部の縮径部に嵌合されることを特徴とする請求項に記載の大電流用プローブ。
  8. 前記線材固定管は、前記接触線材の折曲部に対応する端部の内経が縮径されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
JP2004350776A 2004-05-17 2004-12-03 大電流用プローブ Active JP4089976B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040034876A KR100608232B1 (ko) 2004-05-17 2004-05-17 대전류용 프로브
KR20-2004-0022923U KR200366552Y1 (ko) 2004-08-11 2004-08-11 대전류용 프로브

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005331500A JP2005331500A (ja) 2005-12-02
JP4089976B2 true JP4089976B2 (ja) 2008-05-28

Family

ID=35308827

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004350776A Active JP4089976B2 (ja) 2004-05-17 2004-12-03 大電流用プローブ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7253647B2 (ja)
JP (1) JP4089976B2 (ja)
CN (1) CN100343678C (ja)
TW (1) TWI264540B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170020314A (ko) * 2014-04-21 2017-02-22 주식회사 오킨스전자 프로브 핀 및 ic 소켓

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7545159B2 (en) * 2006-06-01 2009-06-09 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same
TWI482973B (zh) * 2009-04-03 2015-05-01 Nhk Spring Co Ltd 彈簧用線材、接觸探針及探針單元
GB2493862B (en) 2009-06-03 2013-11-06 Glt Technovations Llc Material for use with a capacitive touch screen
US8710856B2 (en) * 2010-01-15 2014-04-29 LTX Credence Corporation Terminal for flat test probe
EP3308865B1 (en) 2010-10-04 2020-12-16 Stamford Devices Limited An aerosol generator
JP6011103B2 (ja) * 2012-07-23 2016-10-19 山一電機株式会社 コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
JP6337633B2 (ja) * 2014-06-16 2018-06-06 オムロン株式会社 プローブピン
CN106574937B (zh) * 2014-08-08 2020-06-23 日本发条株式会社 连接端子
CN105044406B (zh) * 2015-08-28 2018-04-10 东莞市天元通金属科技有限公司 电流探针
US11119119B2 (en) * 2016-12-09 2021-09-14 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Electrical test probe and testing system using the same
JP2018107011A (ja) * 2016-12-27 2018-07-05 株式会社エンプラス 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP6980410B2 (ja) * 2017-05-23 2021-12-15 株式会社日本マイクロニクス プローブ
CN113866489B (zh) * 2021-09-27 2023-06-02 广东电网有限责任公司 一种伸缩式感应验电器

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4050762A (en) * 1976-11-10 1977-09-27 Everett/Charles, Inc. Telescoping spring probe having separate wiper contact member
US4321532A (en) * 1978-03-16 1982-03-23 Luna L Jack Repairable spring probe assembly
US4597622A (en) * 1985-03-25 1986-07-01 Qa Technology Company Electrical connector for electrical circuit test probe and connector
JPH0532775Y2 (ja) * 1987-04-17 1993-08-20
US5032787A (en) * 1989-11-03 1991-07-16 Everett/Charles Contact Products, Inc. Electrical test probe having rotational control of the probe shaft
US4983909A (en) * 1989-11-28 1991-01-08 Everett/Charles Contact Products, Inc. Repetitive-switching
JP2548046B2 (ja) * 1991-02-02 1996-10-30 有限会社清田製作所 コンタクトプローブ
JPH0719005Y2 (ja) * 1991-10-09 1995-05-01 サンコール株式会社 スプリングプロ―ブ
JPH0590372U (ja) * 1991-10-09 1993-12-10 サンコール株式会社 スプリングプロ―ブ
US5175493A (en) * 1991-10-11 1992-12-29 Interconnect Devices, Inc. Shielded electrical contact spring probe assembly
US5233290A (en) * 1991-11-05 1993-08-03 Everett Charles Technologies, Inc. Switch probe
JPH05203672A (ja) * 1992-01-24 1993-08-10 Sony Corp 電子部品の測定方法及びその装置
JP2804427B2 (ja) * 1993-07-08 1998-09-24 ソニー・テクトロニクス株式会社 電流供給コンタクト・プローブ
US6208155B1 (en) * 1998-01-27 2001-03-27 Cerprobe Corporation Probe tip and method for making electrical contact with a solder ball contact of an integrated circuit device
JP2917254B1 (ja) * 1998-06-12 1999-07-12 春日電機株式会社 電荷検出プローブ
JP2003526874A (ja) * 1998-11-25 2003-09-09 リカ エレクトロニクス インターナショナル インコーポレイテッド 電気接触装置
JP2001091577A (ja) * 1999-09-22 2001-04-06 Toshiba Corp 半導体テストソケット
JP3070294U (ja) * 1999-12-27 2000-07-28 リーノ工業株式会社 検査用探針装置
JP3768183B2 (ja) * 2002-10-28 2006-04-19 山一電機株式会社 狭ピッチicパッケージ用icソケット
CN2589986Y (zh) * 2002-12-24 2003-12-03 中台探针实业有限公司 测试用的探针装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170020314A (ko) * 2014-04-21 2017-02-22 주식회사 오킨스전자 프로브 핀 및 ic 소켓
KR101894965B1 (ko) 2014-04-21 2018-09-05 주식회사 오킨스전자 프로브 핀 및 ic 소켓

Also Published As

Publication number Publication date
TWI264540B (en) 2006-10-21
US7253647B2 (en) 2007-08-07
CN100343678C (zh) 2007-10-17
US20050253605A1 (en) 2005-11-17
TW200538740A (en) 2005-12-01
JP2005331500A (ja) 2005-12-02
CN1702463A (zh) 2005-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4089976B2 (ja) 大電流用プローブ
KR101951705B1 (ko) 포고 핀 및 포고 핀의 배열을 구현하는 검사용 소켓
US20100007365A1 (en) Socket for double ended probe, double ended probe, and probe unit
KR101194520B1 (ko) 프로브 핀 및 그것을 구비하는 ic 소켓
KR101869335B1 (ko) 프로브 핀 및 그 제조방법
JP2006208329A (ja) 垂直型コイルスプリングプローブ
KR20110065047A (ko) 테스트 소켓, 그 테스트 소켓의 제작방법 및 포고핀
KR20080056978A (ko) 반도체 테스트 장치용 포고핀
EP0069151A4 (en) VALVE ASSEMBLY WITH INTEGRATED PLASTIC SPRING.
KR100869720B1 (ko) 프린트 배선판의 검사 지그
JP4838522B2 (ja) 電気接触子及び電気部品用ソケット
US20100102912A1 (en) Inductor
KR101266122B1 (ko) 검사용 탐침장치 및 그 검사용 탐침장치의 제조방법
KR101813006B1 (ko) 반도체 테스트용 콘택터
KR100608232B1 (ko) 대전류용 프로브
US20200393495A1 (en) Replaceable double-type probe pin
JP4834039B2 (ja) プローブユニット
JP2006153723A (ja) 垂直型コイルスプリングプローブとこれを用いたプローブユニット
US20110111643A1 (en) Audio Connector
JP5567523B2 (ja) 接続ピン
KR102622471B1 (ko) 초 고전류용 포고핀
KR200366552Y1 (ko) 대전류용 프로브
KR200359220Y1 (ko) 대전류용 프로브
KR100555713B1 (ko) 포고핀 및 이를 이용한 테스트장치
JP2019117058A (ja) プローブピン及びソケット

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050922

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070611

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070626

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20070925

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20070928

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20071025

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20071030

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080129

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080222

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4089976

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110307

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130307

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140307

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250