JP4089976B2 - 大電流用プローブ - Google Patents
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- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
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Description
11 係止突起
20 プランジャ
21 探針突起
22 外管挿入部
24 線材接触部
30 接触部材
32 外管結合部
40 挿入孔
41 拘束膨出部
50 接触線材
60 線材固定管
70 弾性スプリング
Claims (8)
- 上下端が開放された円筒状の外管と、
前記外管の上部に弾性的に出没可能に設けられ、検査対象物の接触端子と接触するプランジャと、
前記外管の下部と嵌合され、回路基板の接触端子に電気的に連結される接触部材と、
前記プランジャと前記接触部材間を電気的に連結するための部材からなる、大電流用プローブであって、
前記プランジャの下部には、前記接触部材の上部が挿入される挿入孔が形成され、
前記接触部材は、前記プランジャとの間に弾性スプリングを介して前記外管の下部に固着され、上部には、前記プランジャの挿入孔に挿入される線材接触部が設けられ、
前記接触線材は、挿入孔内面上にプランジャ軸方向に沿って並ぶ多数の所定長線材からなり、前記線材の各線は一方の端部が前記プランジャの挿入孔に挿入され、他方の端部が前記プランジャの下端から突出して前記プランジャの外面側に折り曲げられ、前記折り曲げられた他方の端部は前記プランジャの外周面に嵌合される線材固定管により前記プランジャの外周面に密着、固定されることを特徴とする大電流用プローブ。 - 上下端が開放された円筒状の外管と、
前記外管の上部に弾性的に出没可能に設けられ、検査対象物の接触端子と接触するプランジャと、
前記外管の下部と嵌合され、回路基板の接触端子に電気的に連結される接触部材と、
前記プランジャと前記接触部材間を電気的に連結するための部材からなる、大電流用プローブであって、
前記プランジャの下部には線材接触部が設けられ、
前記接触部材は、前記プランジャとの間に弾性スプリングを介して前記外管の下部に固着され、上部には、前記プランジャの線材接触部が挿入される挿入孔が設けられ、
前記接触線材は、一方の端部が前記接触部材の挿入孔に挿入され、他方の端部が前記接触部材の上端から突出して前記接触部材の外面側に折り曲げられ、前記折り曲げられた他方の端部は前記接触部材の外周面に嵌合される線材固定管により前記接触部材の外周面に密着、固定されることを特徴とする大電流用プローブ。 - 前記プランジャは、上端に多数の探針突起が形成され、前記外管の内部に挿入される部分が円筒状に形成されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
- 前記プランジャの前記外管内での上向き移動を制限するため、前記外管には内側に突出する係止突起が設けられ、前記プランジャの一部は縮径され、この縮径部に前記係止突起が収容されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
- 前記挿入孔は、内側端部に半球状の拘束膨出部が形成され、前記拘束膨出部の外周と前記挿入孔の内周面間に形成される溝に前記接触線材の一方の端部が拘束されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
- 前記プランジャの下端部が縮径されており、前記線材固定管は、前記プランジャの外周面に同一面上に連続する外周面を有し、前記プランジャの内側端部の縮径部に嵌合されることを特徴とする請求項1に記載の大電流用プローブ。
- 前記接触部材の上端部が縮径されており、前記線材固定管は、前記接触部材の外周面に同一面上に連続する外周面を有し、前記接触部材の内側端部の縮径部に嵌合されることを特徴とする請求項2に記載の大電流用プローブ。
- 前記線材固定管は、前記接触線材の折曲部に対応する端部の内経が縮径されることを特徴とする請求項1又は2のいずれか1項に記載の大電流用プローブ。
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---|---|---|---|---|
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Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7545159B2 (en) * | 2006-06-01 | 2009-06-09 | Rika Denshi America, Inc. | Electrical test probes with a contact element, methods of making and using the same |
TWI482973B (zh) * | 2009-04-03 | 2015-05-01 | Nhk Spring Co Ltd | 彈簧用線材、接觸探針及探針單元 |
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US8710856B2 (en) * | 2010-01-15 | 2014-04-29 | LTX Credence Corporation | Terminal for flat test probe |
EP3308865B1 (en) | 2010-10-04 | 2020-12-16 | Stamford Devices Limited | An aerosol generator |
JP6011103B2 (ja) * | 2012-07-23 | 2016-10-19 | 山一電機株式会社 | コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット |
JP6337633B2 (ja) * | 2014-06-16 | 2018-06-06 | オムロン株式会社 | プローブピン |
CN106574937B (zh) * | 2014-08-08 | 2020-06-23 | 日本发条株式会社 | 连接端子 |
CN105044406B (zh) * | 2015-08-28 | 2018-04-10 | 东莞市天元通金属科技有限公司 | 电流探针 |
US11119119B2 (en) * | 2016-12-09 | 2021-09-14 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) | Electrical test probe and testing system using the same |
JP2018107011A (ja) * | 2016-12-27 | 2018-07-05 | 株式会社エンプラス | 電気接触子及び電気部品用ソケット |
JP6980410B2 (ja) * | 2017-05-23 | 2021-12-15 | 株式会社日本マイクロニクス | プローブ |
CN113866489B (zh) * | 2021-09-27 | 2023-06-02 | 广东电网有限责任公司 | 一种伸缩式感应验电器 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4050762A (en) * | 1976-11-10 | 1977-09-27 | Everett/Charles, Inc. | Telescoping spring probe having separate wiper contact member |
US4321532A (en) * | 1978-03-16 | 1982-03-23 | Luna L Jack | Repairable spring probe assembly |
US4597622A (en) * | 1985-03-25 | 1986-07-01 | Qa Technology Company | Electrical connector for electrical circuit test probe and connector |
JPH0532775Y2 (ja) * | 1987-04-17 | 1993-08-20 | ||
US5032787A (en) * | 1989-11-03 | 1991-07-16 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Electrical test probe having rotational control of the probe shaft |
US4983909A (en) * | 1989-11-28 | 1991-01-08 | Everett/Charles Contact Products, Inc. | Repetitive-switching |
JP2548046B2 (ja) * | 1991-02-02 | 1996-10-30 | 有限会社清田製作所 | コンタクトプローブ |
JPH0719005Y2 (ja) * | 1991-10-09 | 1995-05-01 | サンコール株式会社 | スプリングプロ―ブ |
JPH0590372U (ja) * | 1991-10-09 | 1993-12-10 | サンコール株式会社 | スプリングプロ―ブ |
US5175493A (en) * | 1991-10-11 | 1992-12-29 | Interconnect Devices, Inc. | Shielded electrical contact spring probe assembly |
US5233290A (en) * | 1991-11-05 | 1993-08-03 | Everett Charles Technologies, Inc. | Switch probe |
JPH05203672A (ja) * | 1992-01-24 | 1993-08-10 | Sony Corp | 電子部品の測定方法及びその装置 |
JP2804427B2 (ja) * | 1993-07-08 | 1998-09-24 | ソニー・テクトロニクス株式会社 | 電流供給コンタクト・プローブ |
US6208155B1 (en) * | 1998-01-27 | 2001-03-27 | Cerprobe Corporation | Probe tip and method for making electrical contact with a solder ball contact of an integrated circuit device |
JP2917254B1 (ja) * | 1998-06-12 | 1999-07-12 | 春日電機株式会社 | 電荷検出プローブ |
JP2003526874A (ja) * | 1998-11-25 | 2003-09-09 | リカ エレクトロニクス インターナショナル インコーポレイテッド | 電気接触装置 |
JP2001091577A (ja) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Toshiba Corp | 半導体テストソケット |
JP3070294U (ja) * | 1999-12-27 | 2000-07-28 | リーノ工業株式会社 | 検査用探針装置 |
JP3768183B2 (ja) * | 2002-10-28 | 2006-04-19 | 山一電機株式会社 | 狭ピッチicパッケージ用icソケット |
CN2589986Y (zh) * | 2002-12-24 | 2003-12-03 | 中台探针实业有限公司 | 测试用的探针装置 |
-
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20170020314A (ko) * | 2014-04-21 | 2017-02-22 | 주식회사 오킨스전자 | 프로브 핀 및 ic 소켓 |
KR101894965B1 (ko) | 2014-04-21 | 2018-09-05 | 주식회사 오킨스전자 | 프로브 핀 및 ic 소켓 |
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