CN2589986Y - 测试用的探针装置 - Google Patents

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吕金湶
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Abstract

一种测试用的探针装置,其设有配合组装于测试装置的定位套筒,此定位套筒于其接近上开口的外周设有配合测试装置用的扣紧突缘;一含有测试针端的针轴配合一弹性元件直接组装于定位套筒设定直径内孔中,并使其局部长度由定位套筒上开口外露;弹性元件一端组合于针轴末端,另端则压靠于定位套筒内底面,定位套筒至少于其外周面设有一用以使该弹性元件成弹性受压状态及限制针轴轴向位移的加工凹部。拆换探针时,无需将其金属外筒一并丢弃,且一定位套筒可适用于各种不同型式的针轴,由于仅将针轴设于定位套筒,能使针轴更为细小化。

Description

测试用的探针装置
技术领域
本实用新型有关一种测试用的探针装置,特在精简其针轴结构下,可对于含有各种不同型式的测试针端的针轴进行拆换组卸动作的创新结构。
背景技术
一电子设备的电路板或主机板制成后,为确保成品动作功能,对其重要接触点(contactpoint),如接脚或焊接点加以测试,乃为必要的步骤。无论是否采用自动化程序进行测试步骤,其主要工具均为探针装置。而为配合不同产品在不同位置的测试点,探针装置的针轴亦因而有各种不同型式的相对测试针端。于现有探针装置中,其通常将一针轴活动组装在一轴套,并使其测试针端可外露压靠向测试点。
如图1所示为传统探针装置,此探针装置为可拆换式。该探针装置10含有一插接于一轴套12中的针轴11,该针轴11设有一用以与待测试接点压接的针端110,此针端110依上述可为各种不同型式。轴套12基本上为一中空体,设有一开口端13及另一相对底实面14。在轴套12管内的针轴11端面与管内底端之间则设有一通常为线圈弹簧的弹性元件15。上述针轴11可于轴身接近末端的适宜位置预设一凹阶部16,而轴套12则在弹性元件15及针轴11置入轴套12管内后,由外部以工具铆合一定位凹部17,将针轴11及轴套12结合成一体,并使弹性元件15处于受压状态,其反弹张力将使针轴11成为如图所示的常态外伸长度,凹阶部16则可限制其最大外伸行程。此一状态下针轴11可因压靠受力而内退压缩弹性元件15,或因未受力而弹回原位。
由于此类探针装置的针轴直径均极细小精密,使用一段时间后因耗损而需拆换的情况不在少数。此所以一般会加设含有与轴套12外径相配内孔19的定位套管18,使整个探针装置10能以适度紧配方式插接于该定位套管18,此一结构方式虽然具有方便拆换整个探针装置10的好处,但也相对衍生出诸多弊端。
1、首先,已耗损而由定位套管18中向外抽出拆换的整个探针装置10,包括一体式针轴11及轴套12,均需一并抛弃,造成相当浪费而不经济。
2、再者,为配合不同产品在不同位置的测试点,探针装置10的针轴11亦有各种不同型式的相对测试针端110。每一种不同针轴均需与各别相配轴套固接成一体,不仅制作成本高,一旦进行耗损拆换,同样需全部抛弃,殊不理想。
3、同时依上述的习用可拆换式探针装置中,由于必需具备轴套12及定位套管18,使其总体直径加粗,当需使用到较细小(如1.2mm)的针轴时,即造成针轴制造上的困难。
发明内容
本实用新型的主要目的是提供一种测试用的探针装置,其设有一可配合组装于测试装置的定位套筒,此定位套筒于其接近上开口的外周设有测试装置用的扣紧突缘;一含有测试针端的针轴则可配合一弹性元件直接组装于该定位套筒设定直径内孔中,并使其局部长度由定位套筒上开口外露;该弹性元件一端组合于针轴末端,另端则压靠于定位套筒内底面;该定位套筒至少于其外周面设有一用以使该弹性元件成弹性受压状态的第一加工凹部,以及一用以导限针轴轴向位移的第二加工凹部。达到无需将其金属外筒一并丢弃的目的。
本实用新型的另一目的是提供一种测试用的探针装置,达到一定位套筒可适用于各种不同型式的针轴的目的。
本实用新型的再一目的是提供一种测试用的探针装置,由于仅将针轴设于定位套筒,达到能使针轴更为细小化的目的。
本实用新型的目的是这样实现的:一种测试用的探针装置,它设有配合组装于测试装置的定位套筒,该定位套筒于接近上开口的外周设有配合测试装置的扣紧突缘;含有测试针端的针轴配合弹性元件直接组装于该定位套筒的设定直径内孔中,其局部长度由该定位套筒的上开口外露;该弹性元件一端组合于针轴末端,另端压靠于该定位套筒内底面,其特征是:该定位套筒至少于其外周面设有使该弹性元件成弹性受压状态及限制针轴轴向位移的加工凹部。
该弹性元件设有一朝向针轴末端的接合圈部,该接合圈部依序向下设有配合第一加工凹部定位的承靠圈部、与定位套筒设定直径内孔相配的引导圈部、延伸圈部及压靠于定位套筒内底面底圈部所共同构成。该弹性元件为金属线结构的单体式。该针轴末端设有一略小于其主轴杆直径的缩小杆部,该缩小杆部末端设有供组合于弹性元件接合圈部含有凹颈部的弧勾端部。该加工凹部的压入深度为配合该弹性元件相关位置圈径及该针轴主轴杆。该弹性元件延伸圈部直径设为小于该引导圈部及底圈部。
下面结合较佳实施例配合附图详细说明。
附图说明
图1是传统探针装置局部剖视示意图。
图2是本实用新型的立体示意图。
图3是图2的主要元件分解示意图。
图4是图3的针轴与弹性元件的进一步分解示意图。
图5是图2的纵向剖视示意图。
具体实施方式
参阅图2-图5所示,本实用新型设有一可配合组装于测试装置(图未示)的定位套筒20,此定位套筒20于其接近上开口的外周设有测试装置用的扣紧突缘21。一针轴30则可配合一单体式弹性元件90直接组装于该定位套筒20。
上述定位套筒20预设一含有设定直径的内孔22(如图5所示),一上开口23及一底实面24,供形成一内底面25。针轴30亦含有测试针端330,测试针端330可为各种不同型式。
本实用新型于针轴30的主轴杆直径D设为与定位套筒2 0的内孔大致相当,其含有一段略缩小杆身段31,以及在末端设置一含有凹颈部32的弧勾端部330。配合此一针轴30结构,弹性元件90设有一朝向凹颈部32及弧勾端部33的接合圈部91,并由此接合圈部91依序向下设有一承靠圈部92、一引导圈部93、一延伸圈部94及一底圈部95。整个弹性元件90最好能以金属线结构的单体式,且其位于前端的接合圈部91能先与针轴30末端的凹颈部32及弧勾端部33组合,然后将其置入定位套筒20,准备进行后续的加工程序。
如图2和图5所示,依上述已组合弹性元件90的针轴30置入定位套筒20后,使针轴30的局部长度由定位套筒20上开口23外露,然后在朝向弹性元件90承靠圈部92位置处压入一加工凹部26,于本实施例中,是由外周四个相对位置压入。使弹性元件90在管内呈略受压状态,以配含缩小杆身段31限制针轴30的轴向动作行程。
以实际加工为例,假设针轴30主轴杆直径D为1.38mm,则定位套筒20内径约可设为1.42mm,弹性元件90的引导圈部93则可设为1.40mm。在此一加工尺寸下,加工凹部26的压入深度可适当的加以选择。如加工凹部26可压入0.015mm,而形成一1.39mm的内径宽度B(参阅图5所示),使设为1.40mm的弹性元件90引导圈部93常态下被定位而不致弹出。
上述弹性元件90的引导圈部93及一底圈部95最好设为较多圈数供作为较长距的稳定导引及抵压于内底面25,而其中间延伸圈部94则可设为略小径,以形成较理想的压张弹力。
本实用新型依上述结构在必需拆换针轴30时,则可直接由外部持握针轴30主轴杆施力外拉,上述引导圈部93在受到往外拉力状态下将被拉伸,使其原设定圈径(如前述的1.40mm)缩小,整条弹性元件90因而被抽出卸下,即可进行更新。
反之,已更新的针轴及弹性元件90回压入时,其引导圈部93在通过加工凹部26时亦将内缩,并于通过加工凹部26后回弹定位于套筒20内部。
本实用新型的结构在拆换针轴时,无需将其金属外筒一并丢弃,且同一定位套筒可适用于各种不同型式的针轴,其确属相当经济而实用。同时,由于仅将针轴设于定位套筒,其亦能使针轴更为细小化。
以上实施例仅用为方便举例说明,并非加以限制本实用新型的范畴,熟悉此一行业技艺人士所可作的各种简易变形与修饰,均应包含于本实用新型的保护范围之中。

Claims (6)

1、一种测试用的探针装置,它设有配合组装于测试装置的定位套筒,该定位套筒于接近上开口的外周设有配合测试装置的扣紧突缘;含有测试针端的针轴配合弹性元件直接组装于该定位套筒的设定直径内孔中,其局部长度由该定位套筒的上开口外露;该弹性元件一端组合于针轴末端,另端压靠于该定位套筒内底面,其特征是:该定位套筒至少于其外周面设有使该弹性元件成弹性受压状态及限制针轴轴向位移的加工凹部。
2、根据权利要求1所述的测试用的探针装置,其特征是:该弹性元件设有一朝向针轴末端的接合圈部,该接合圈部依序向下设有配合第一加工凹部定位的承靠圈部、与定位套筒设定直径内孔相配的引导圈部、延伸圈部及压靠于定位套筒内底面底圈部所共同构成。
3、根据权利要求1所述的测试用的探针装置,其特征是:该弹性元件为金属线结构的单体式。
4、根据权利要求1所述的测试用的探针装置,其特征是:该针轴末端设有一略小于其主轴杆直径的缩小杆部,该缩小杆部末端设有供组合于弹性元件接合圈部含有凹颈部的弧勾端部。
5、根据权利要求1所述的测试用的探针装置,其特征是:该加工凹部的压入深度为配合该弹性元件相关位置圈径及该针轴主轴杆。
6、根据权利要求2所述的测试用的探针装置,其特征是:该弹性元件延伸圈部直径设为小于该引导圈部及底圈部。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN100343678C (zh) * 2004-05-17 2007-10-17 李诺工业有限公司 高电流探针
CN102183682A (zh) * 2011-03-03 2011-09-14 深圳市精实机电科技有限公司 微型测试探针
CN106706974A (zh) * 2016-12-23 2017-05-24 深圳市瑞能实业股份有限公司 一种低阻抗接触导电测试电极

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