JP4034304B2 - 半導体構造上に形成された放出器を有するx線発生装置 - Google Patents

半導体構造上に形成された放出器を有するx線発生装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4034304B2
JP4034304B2 JP2004350730A JP2004350730A JP4034304B2 JP 4034304 B2 JP4034304 B2 JP 4034304B2 JP 2004350730 A JP2004350730 A JP 2004350730A JP 2004350730 A JP2004350730 A JP 2004350730A JP 4034304 B2 JP4034304 B2 JP 4034304B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrons
emitter
semiconductor structure
ray generator
rays
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004350730A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005166674A (ja
Inventor
ダニエル・アール・マーシャル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hewlett Packard Development Co LP
Original Assignee
Hewlett Packard Development Co LP
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Development Co LP filed Critical Hewlett Packard Development Co LP
Publication of JP2005166674A publication Critical patent/JP2005166674A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4034304B2 publication Critical patent/JP4034304B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/025X-ray tubes with structurally associated circuit elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/064Details of the emitter, e.g. material or structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/04Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
    • H01J35/06Cathodes
    • H01J35/065Field emission, photo emission or secondary emission cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J35/00X-ray tubes
    • H01J35/02Details
    • H01J35/14Arrangements for concentrating, focusing, or directing the cathode ray
    • H01J35/153Spot position control

Landscapes

  • X-Ray Techniques (AREA)

Description

本発明は、半導体構造上に形成された放出器を有するX線発生装置に関する。
X線は、医療診断および治療、隠れた欠陥を見つけるための部品検査、高度の慎重さを要する区域(たとえば空港)における手荷物および他の物品の選別検査、及び非常に小さな粒子の研究などの多数の様々な用途に使用されている。
X線源は一般に、熱陰極から電子が放出されるX線管を含む。放出された電子は、大きな電位差によって加速され、それにより電子は陽極に衝突する。電子は、陽極において原子内部の、より緊密に結合された電子を、それらの原子から追い出すだけの十分なエネルギーでもって陽極に衝撃を与える。これらの励起された原子が、それらの基底状態に戻る際に、それらの原子は、X線として知られている短い波長の電磁放射線を放出する。
X線管を含む従来のX線源は、サイズが比較的大きくなる傾向があり、それによって係るX線源を用いることができる態様に制約が加えられる可能性がある。
比較的高いエネルギーのX線を発生させるためのX線源として、時折、線形加速器のような粒子加速器が使用される。しかしながら、そのような粒子加速器は比較的費用のかかる傾向があり、そのため広く使用されていない。
本発明の一態様によれば、X線発生装置が提供される。そのX線発生装置は、半導体構造と、前記半導体構造上に形成され、電子を放出するための放出器と、電子により衝撃を与えることに応じてX線を発生させるための要素とを備える。
本発明の一態様によれば、X線を発生させる方法が提供される。その方法は、電子を放出するように、半導体構造上の放出器を活性化し、及びターゲット上へと電子を導いて、前記ターゲットがX線を発生するようにすることを含む。
本発明によるX線発生装置は、半導体技術を利用するので、本発明のX線発生装置は、従来のX線源(たとえばX線管を用いるX線源)よりもはるかに小さくすることが可能になる。X線発生装置のサイズを小さくすることにより、人体内、機械または他の構造の狭い空間内などの小さな空間内でX線発生装置を用いることが可能になる。また、X線発生装置のサイズを小さくすることにより、その装置が軽量になり、持ち運びも可能になる。
さらに、半導体技術を利用することにより、本発明のX線発生装置は、比較的高い費用対効果で製造されることが可能になる。また、半導体ベースの技術を用いることにより、消費電力が比較的少ない高速の回路がもたらされ、本発明のX線発生装置は、従来のX線源よりも迅速に活性化する。また、サイクロトロン技術に基づいた加速器部分を用いることにより、従来のX線管に用いられる高い電圧を利用する必要がなくなる。電圧が小さくなる結果として、消費電力が少なくなり、かつ安全性が高まる。消費電力を少なくすることにより、いくつかの具現化形態によるX線発生装置は電池によっても動作することができる。
図1は、支持基板101と、支持基板101上に実装された、一実施形態による電子ビーム発生器102とを有するX線発生装置100の一部を示す。電子ビーム発生器102は、電子の出力ビーム112を発生させる。出力ビーム112内の電子はターゲット108に衝撃を与える。電子の衝撃に応じて、ターゲット108は、電子ビーム発生器102のハウジング110の窓111を通って放射されるX線114を発生させる。ハウジング110の内部チャンバ120は真空状態を含む。ハウジング110内にあるX線発生装置100の構成要素を図示するために、ハウジング110の部分は、図1の図面において切り取られていることに留意されたい。
ターゲット108は、電子が衝突するのに応じてX線を発生させる、タングステン、モリブデン又は任意の他の材料のような多数の異なる材料から形成され得る。X線は、真空中で高速の電子でもってターゲットに衝撃を与えることにより、又は原子がより低いエネルギー状態に遷移することにより生成される、短い波長、通常10nm(100オングストローム)未満の波長を有する電磁放射線を含む。
磁気素子104が電子ビーム発生器102に隣接して配置される。図示された実施形態では、磁気素子104は磁石支持構造106によって適所に保持される。図1の向きでは、磁気素子104は電子ビーム発生器102の上側に配置される。しかしながら、他の実施形態では、磁気素子104は、電子ビーム発生器102の下側、電子ビーム発生器102のいずれかの側面、又は電子ビーム発生器102に対する任意の他の場所のような、電子ビーム発生器102に対する種々の場所に配置され得る。磁気素子104は、電気エネルギーの入力に応じて磁界を発生させる電磁石とすることができる。代案として、磁気素子104は永久磁石とすることができる。
電子ビーム発生器102は、2つの概ね平行な半導体構造を含み、1つの具現化形態では、2つの半導体ダイ122及び124を含む。半導体ダイ122及び124は互いから間隔をおいて配置される。半導体ダイ122と124との間の間隔は、支柱126を用いることにより維持される。他の具現化形態では、他のタイプの支持機構を用いて、半導体ダイ122及び124の相対的な位置を維持することができる。電子ビーム発生器102は、一実施形態によれば2つの半導体ダイを含むが、他の実施形態は、1つの半導体ダイ、又は3つ以上の半導体ダイを用いることができる。
図2においてより詳細に示されるように、半導体ダイ122及び124は、ダイ122及び124のそれぞれの表面204及び206が互いに対して平行になるように構成される。半導体ベースの電界放出器220が、半導体ダイ124の表面206上に形成される。半導体ベースの電界放出器220は冷陰極(電界放出陰極とも呼ばれる)を含む。電界放出器220は、グリッド又は抽出器208と、第1のレンズ要素210と、第2のレンズ要素212とを含む、関連する電極を有する。他の実施形態では、1つのレンズ要素のみを、又は3つ以上のレンズ要素を用いることができる。
グリッド又は抽出器208は、電子がポテンシャル障壁を突き抜けて、半導体ダイ124の一部である半導体材料から放出されるように電界を生成することにより、電子を抽出する。第1のレンズ要素210は、集束素子として、及び放出される電子ビームの受光角を制限するための開口絞りとしての役割を果たす。第2のレンズ要素212は、グリッド又は抽出器208によって抽出される電子ビームをコリメートする(平行にする)のに役立つ。電子をコリメートすることは、放出される電子を、平行な経路で移動させることを意味している。したがって、本明細書において用いられる際に、「電子のビーム」又は「電子ビーム」は、電子が移動する1つ又は複数の経路を含む。
半導体ベースの電界放出器220に関連付けられる電極は、放出される電子ビームを適度に加速して、電子に初速を与えるために使用される。電子が電界放出器220から放出された直後の段階では、電子は比較的低いエネルギーを有する。電子偏向機構が1つ又は複数の偏向器電極214(214A、214B及び214Cが示される)を含み、電子が半導体ダイ122及び124のそれぞれの表面204及び206に対して概ね平行な面内を移動するように導かれるように、低エネルギーの電子ビームの経路を偏向させる。一実施形態では、電極214A、214B及び214Cは、電子の静電偏向を実行するために電界を生成する静電電極である。代替の実施形態では、その偏向機構は、電子ビームの経路を偏向させるための磁界を発生させる磁性素子を含む。電子は偏向機構によって偏向して、概ね218として示される経路に沿って進む。経路218は一般的に、放出される電子の元の方向に対して、0°以外の角度(たとえば90°)にある。
経路218に沿って進む電子は、加速器部分230の方に向けられる。加速器部分230は、1組の上側電極232及び234(半導体ダイ122上に形成される)と、1組の下側電極236及び238(下側半導体ダイ124上に形成される)とを含む。それぞれの電極232、234、236及び238は、概ねD字形の電極である。交流(AC)信号が電極232、234、236及び238に印加される。一具現化形態では、AC信号は、正極と負極とが交互している概ね方形波の信号である。代案として、AC信号は正弦波信号とすることができる。
それぞれの1組の電極内では、電極の一方に印加されるAC信号は、その組の他方の電極に対して位相がずれる(一例では180°だけ位相がずれる)。したがって、たとえば、所与の時点において、1組の上側電極内の電極232において印加されるAC信号が正である場合には、電極234において印加されるAC信号は負である(逆もまた同じである)。同様に、1組の下側電極では、電極236において印加されるAC信号が正である場合には、電極238において印加されるAC信号は負である(逆もまた同じである)。この結果、電極232と234との間に電界が発生し、電極236と238との間に電界が発生する。
さらに、それぞれの半導体ダイ122及び124の表面204及び206に対して概ね垂直な方向に、磁界240も加えられる。磁界240は磁気素子104(図1)によって加えられる。図示された実施形態では、加速器部分230はサイクロトロンである。他の実施形態では、他のタイプの加速器を用いることができる。
サイクロトロンでは、帯電した粒子(この場合には、経路218に沿って進む各電子)が、磁界240の存在に起因して、概ね曲線を描く経路(242として示される)で進む。磁界240内に入れられ、所定の周波数のAC励起によって駆動されるD字形電極232、234、236及び238により、電子は一連のインパルスを受けて、それにより電子は、電極232、234、236及び238によって生成される電界のサイクル毎にエネルギーを獲得する。その結果として、電子は高いエネルギーの流れになり、概ね244として示される経路に沿って、磁界240の端部から出射する。経路244に沿って出射する電子は、図1に示される電子ビーム112を形成する。
電界放出器220内のグリッド又は抽出器210に与えられる電界は、個々の半導体ダイ122及び124上に形成される電子回路246及び248の一方または双方によって提供される。また、電子回路246及び248は、個々のD字形電極232、234、236及び238にAC信号も供給する。
サイクロトロン(一実施形態では加速器部分230を構成する)の動作周波数は、少なくとも部分的には、各電子の所望の、又は目標の運動エネルギーに基づく。サイクロトロンの動作周波数は、電子の運動エネルギー(KE、KeV単位、即ち数千電子ボルトで表される)と、電子の電荷(q)と、電子の静止質量(m)と、かけられる磁界(B)と、光速(c)とを含む、種々の入力パラメータに基づいて、サイクロトロンの式から導出される。入力パラメータに基づいて、動作周波数(f)は以下のように計算される。即ち、
f=(q×B)/[γ×(2×π×m×10)]
ただし、
γ=[(KE×1.6×10−16)/m×c]+1
である。
動作周波数(f)は、加速器部分230に印加されるAC信号の周波数を決定する。
正統的には、この周波数(f)は、q×B/(2×π×m)の一定の値を有するであろう(非相対論的なサイクロトロン周波数)。しかしながら、電子の速度が増大して、光速の1%程度を超えると、見掛けの質量(m×c)も増加する。この結果、励起する電界の周波数、又は上述の磁界の強度のいずれかが、それに応じて調整され、電子が、励起する電界と同相で電極対(図2の232、234、236、238)間のギャップに到達するようにしなければならない。一定の磁界240(図2)が存在する場合、電極232、234、236、238によって印加される電界は、電子のバーストを生成するように周期的に変更され得る。
しかしながら、磁界240が、以下の関係にしたがって半径方向で変更される場合には、印加される電界が一定の周波数を維持するときに、電子は励起する電界と同相のままであろう。即ち、
B(r)=B/γ=B/√(1−(f×2×π×r/c))
ただし、Bは磁界であり、rは図2の点241からの半径であり、Bは非相対論的なサイクロトロン周波数である。磁界Bの大きさは、点241から、半導体構造122の表面に対して平行な面にわたって変化する。この場合、電子は、バーストではなく、連続して放出されるであろう。
そのような磁界B(r)によって形成される等磁位線は、図2に示される構造のサイズが比較的小さいことによって、その構造によって十分に効率的になされ得る。たとえば、半導体製造工程を用いて半導体ダイ122及び124の一方または双方の上に形成される磁界誘導コイルが、電極232、234、236、238の近くに配置され得る。そのようなコイルを用いて、外部からの一様な磁界を偏らせることができるか、又は磁界をそっくりそのまま生成することができる。
上述したように、X線発生装置100の内部チャンバ120(図1)は真空状態を含む。電界放出器220によって放出され、偏向機構によって偏向される電子は、経路218、242及び244に沿って、その真空内を進む。真空は、X線発生装置100の製造時にもたらされ、ゲッタ(図示せず)を用いることにより、X線発生装置100の寿命にわたって維持される。ゲッタは、X線発生装置100のチャンバ120(図1)内の汚染物ガスを除去するように設計される。電子ビームは汚染物ガスを除去するのを支援する傾向があるので、放出される電子ビームもゲッタデバイスの一部とすることができる。
図3は、半導体ベースの電界放出器220(図2)をさらに詳細に示す。電界放出器先端部222が、半導体ダイ124に形成された陰極224から、鋭く尖った先端まで隆起する。電界放出器先端部222は、シリコンなどの半導体材料から形成される。代案として、電界放出器先端部222は金属から形成されてもよい。陰極224は導電性であり、シリコン、ポリシリコン、金属、又は任意の他の導電性材料から形成され得る。電界放出器先端部222の先端の上方および周りにアパーチャ228を有する陽極226によって、電界放出器先端部222の近くに、局所的な電界が印加される。その電界は、陰極224と陽極226との間に生成される。電界を印加することによって、電子は、より低い位置エネルギー障壁を量子力学的に突き抜けることにより、電界放出器先端部222の鋭く尖った先端から放出される。電界放出器222、陰極224及び陽極226はまとまって、グリッド又は抽出器208を形成する。
X線発生装置100は半導体技術を利用するので、X線発生装置100は、従来のX線源(たとえばX線管を用いるX線源)よりもはるかに小さくすることができる。X線発生装置100のサイズを小さくすることにより、人体内、機械または他の構造の狭い空間内などの小さな空間内でX線発生装置100を用いることができるようになる。また、X線発生装置100のサイズを小さくすることは、その装置が軽量になり、持ち運びできるようになることも意味する。
さらに、半導体技術を利用することにより、X線発生装置100は、比較的高い費用対効果で製造され得る。また、半導体ベースの技術を用いることにより、消費電力が比較的少ない高速の回路がもたらされる。X線発生装置100は、従来のX線源よりも迅速に活性化する。また、サイクロトロン技術に基づいた加速器部分を用いることにより、従来のX線管に用いられる高い電圧を利用する必要がなくなる。電圧が小さくなる結果として、消費電力が少なくなり、かつ安全性が高まる。消費電力を少なくすることにより、いくつかの具現化形態によるX線発生装置100は電池によっても動作することができる。
上記の説明では、本発明の理解を提供するために、多くの細部が述べられている。しかしながら、本発明がこれらの細部を用いることなく実施され得ることは、当業者には理解されよう。本発明はいくつかの実施形態に関連して開示されてきたが、それらの実施形態からの多くの修正形態および変形形態を当業者は理解するであろう。添付の特許請求の範囲は、本発明の真の思想および範囲内に入るような、そのような修正形態および変形形態を網羅することが意図されている。
一実施形態による、2つの平行な半導体ダイを有する電子ビーム発生器を含むX線発生装置の一部を示す図である。 一実施形態による、放出された電子がターゲットに衝突して、ターゲットからX線が生成されるようにする、図1の電子ビーム発生器において生成される、放出された電子の経路を示す図である。 一実施形態による、図1の電子ビーム発生器内の半導体ダイのうちの1つの上に形成された、半導体ベースの冷陰極電界放出器を示す図である。
符号の説明
100 X線発生装置
108 ターゲット
122、124 半導体ダイ
220 電界放出器

Claims (20)

  1. X線発生装置であって、
    第1と第2の半導体構造であって、前記第1の半導体構造が前記第2の半導体構造から間隔をおいて配置されている、第1と第2の半導体構造と、
    前記第1の半導体構造上に形成され、前記第1と第2の半導体構造との間の空間の経路に沿って進む電子を放出するための放出器と、及び
    電子により衝撃を与えることに応じてX線を発生させ、前記放出器から反対側の、前記半導体構造の端部から放出された電子を受け取るように配置された要素とを備える、X線発生装置。
  2. 電子の経路を偏向させるための偏向機構をさらに含み、前記偏向機構が前記第1と第2の半導体構造上に形成された電極を含む、請求項1に記載のX線発生装置。
  3. 前記偏向機構が、電子を第1の経路から第2の経路に偏向させるように適合され、前記第1の経路が前記第2の経路に対して0°以外の角度をなす、請求項2に記載のX線発生装置。
  4. 前記偏向機構が、電界または磁界を発生させて、電子を偏向させるように適合されている、請求項3に記載のX線発生装置。
  5. 前記放出器が電界放出器からなる、請求項1に記載のX線発生装置。
  6. 前記放出器が、前記放出器の先の尖った先端部から放出される電子を集束するためのレンズ要素を含む、請求項1に記載のX線発生装置。
  7. 前記放出器が、前記放出器の先の尖った先端部から放出される電子をコリメートするためのレンズ要素を含む、請求項1に記載のX線発生装置。
  8. 前記半導体構造上に形成される電極を有する加速器をさらに含み、前記加速器が電子を加速する、請求項1に記載のX線発生装置。
  9. 磁界をかけて、電子が曲線を描く経路で進むようにするための磁気素子をさらに含む、請求項8に記載のX線発生装置。
  10. 前記加速器が前記磁界内に入れられるように配置される、請求項9に記載のX線発生装置。
  11. 前記電極に交流(AC)信号を印加するための回路をさらに含む、請求項9に記載のX線発生装置。
  12. 前記加速器がサイクロトロンからなる、請求項11に記載のX線発生装置。
  13. 前記第1と第2の半導体構造のそれぞれの上に形成された加速器電極む、請求項8に記載のX線発生装置。
  14. X線を発生させる方法であって、
    電子を放出するように、第1の半導体構造上の放出器を活性化し
    前記第1の半導体構造と第2の半導体構造との間の空間に延びる経路に沿って、ターゲット上へと電子を導いて、前記ターゲットがX線を発生するようにすることを含
    前記第1と第2の半導体構造が電子の進む経路の両側に配置され、前記ターゲットが、前記放出器から反対側の、前記半導体構造の端部から放出された電子を受け取るように配置されている、X線を発生させる方法。
  15. 前記放出器を活性化することは、前記放出器の先の尖った先端部から電子を放出するように電界を発生させることを含む、請求項14に記載のX線を発生させる方法。
  16. レンズ要素を用いて、放出された電子をコリメートすることをさらに含む、請求項15に記載のX線を発生させる方法。
  17. 前記電子を導くことが、前記第1と第2の半導体構造上に電極を有する偏向器を用いて電子を偏向させることを含む、請求項14に記載のX線を発生させる方法。
  18. 前記第2の経路で進む電子を加速して、電子が前記ターゲット上に衝突する前に、電子のエネルギーを高めることをさらに含む、請求項17に記載のX線を発生させる方法。
  19. 前記電子を加速することが、前記第1と第2の半導体構造のそれぞれの上に形成された電極を有する加速器でもって電子を加速することを含む、請求項18に記載のX線を発生させる方法。
  20. 磁界をかけることをさらに含み、前記加速器が前記磁界内に入れられる、請求項19に記載のX線を発生させる方法。
JP2004350730A 2003-12-04 2004-12-03 半導体構造上に形成された放出器を有するx線発生装置 Expired - Fee Related JP4034304B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/727,768 US6937698B2 (en) 2003-12-04 2003-12-04 X-ray generating apparatus having an emitter formed on a semiconductor structure

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005166674A JP2005166674A (ja) 2005-06-23
JP4034304B2 true JP4034304B2 (ja) 2008-01-16

Family

ID=34633550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004350730A Expired - Fee Related JP4034304B2 (ja) 2003-12-04 2004-12-03 半導体構造上に形成された放出器を有するx線発生装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6937698B2 (ja)
JP (1) JP4034304B2 (ja)
DE (1) DE102004037835A1 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100189223A1 (en) * 2006-02-16 2010-07-29 Steller Micro Devices Digitally addressed flat panel x-ray sources
DE102015200739B3 (de) * 2015-01-19 2016-03-24 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Kreisbeschleuniger zur beschleunigung von ladungsträgern und verfahren zur herstellung eines kreisbeschleunigers

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6201257B1 (en) * 1996-10-10 2001-03-13 Advanced Scientific Concepts, Inc. Semiconductor X-ray photocathodes devices
US6333968B1 (en) * 2000-05-05 2001-12-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Transmission cathode for X-ray production
US6607415B2 (en) * 2001-06-12 2003-08-19 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method for fabricating tiny field emitter tips
US6577058B2 (en) * 2001-10-12 2003-06-10 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Injection cold emitter with negative electron affinity based on wide-gap semiconductor structure with controlling base
US6558968B1 (en) * 2001-10-31 2003-05-06 Hewlett-Packard Development Company Method of making an emitter with variable density photoresist layer
US6617597B2 (en) * 2001-11-30 2003-09-09 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Circuits and methods for electron-beam control

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004037835A1 (de) 2005-07-07
US6937698B2 (en) 2005-08-30
JP2005166674A (ja) 2005-06-23
US20050123095A1 (en) 2005-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6893697B2 (ja) イオン化ツールを有するx線源
US7639785B2 (en) Compact scanned electron-beam x-ray source
US8148922B2 (en) High-current DC proton accelerator
WO2004073364A1 (ja) 荷電粒子加速器
US20140326874A1 (en) Printed circuit board multipole units used for ion transportation
JP4034304B2 (ja) 半導体構造上に形成された放出器を有するx線発生装置
US20070252089A1 (en) Charged particle acceleration apparatus and method
JPS62502023A (ja) エネルギ−変換システム
JP2014524111A (ja) 窓なしイオン化装置
JP2713692B2 (ja) イオン打込み装置
JP3101044B2 (ja) 発光素子
JP3159786B2 (ja) イオン加速装置
JP2019003899A (ja) イオン生成装置及びイオン生成方法
JPH0665200B2 (ja) 高速原子線源装置
JP3341497B2 (ja) 高周波型荷電粒子加速器
JPH06252096A (ja) 半導体加工装置
JPH06267493A (ja) チャージアップ防止装置及び方法
JP3151269B2 (ja) 発光素子
JPH0475622B2 (ja)
JP2022071076A (ja) 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法
JP2022071081A (ja) 電子ビーム・イオン発生装置および電子ビーム・イオン発生方法
RU2187915C1 (ru) Сильноточный микротрон
JP3100006B2 (ja) 放射光発生装置
JPH09120791A (ja) 基板帯電防止用の電子シャワー装置
Zaitsev et al. Thermionic electron guns for high-power transit-type sources of microwave radiation

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20051215

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051220

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20060317

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20060323

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060619

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070925

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20071024

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101102

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees