JP3943043B2

JP3943043B2 - Ｉｃ製品検査装置および検査方法

Info

Publication number: JP3943043B2
Application number: JP2003078478A
Authority: JP
Inventors: 哲也松山; 従子太田
Original assignee: Toppan Forms Co Ltd
Current assignee: Toppan Forms Co Ltd
Priority date: 2003-03-20
Filing date: 2003-03-20
Publication date: 2007-07-11
Anticipated expiration: 2023-03-20
Also published as: JP2004287800A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣ製品検査装置および検査方法に関し、特に単片形態のＲＦ−ＩＤメディアの通信検査に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、単片形態のＲＦ−ＩＤメディアとしてのＩＣカード（またはＩＣタグ）の製品検査を行うＩＣ製品検査装置が知られている。ＩＣカードは、ＩＣチップ（ＩＣモジュール）とアンテナとを備えた平板状のＲＦ−ＩＤメディアであり、ＩＣ製品の一種である。
【０００３】
この種のＩＣ製品検査装置では、通信が不可能な場合や通信距離が不足している場合に、当該ＩＣカードは不良品と判断される。ここで、アンテナまたはＩＣチップが不良であるとき、あるいはアンテナとＩＣチップとの接続が不良であるときに、ＩＣカードが通信不可になる。また、製造誤差等によりアンテナに所要の特性を確保することができないとき、ＩＣカードの通信距離が不足する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
一般に、ＩＣ製品検査装置におけるＩＣカードの処理時間は、検査すべきＩＣカードの検査部への搬送時間と、検査部におけるＩＣカードの検査時間とに依存する。この場合、ＩＣカードの検査部への搬送時間よりもＩＣカードの検査時間の方がかなり長いので、１つの検査部へＩＣカードを１枚ずつ供給して通信検査する従来の装置では、通信検査が終了するまでの待機時間が多くなり、ＩＣカードの処理の高速化を図ることが困難であった。
【０００５】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、たとえばＩＣカードのような単片形態のＲＦ−ＩＤメディアの検査を迅速に処理することのできるＩＣ製品検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明の第１形態では、複数のＩＣ製品を積み重ねた状態で保持するための第１スタッカー部と、
前記第１スタッカー部の両側に配置されてＩＣ製品の検査を行うための第１検査部および第２検査部と、
前記第１検査部および前記第２検査部で良品と判定されたＩＣ製品を積み重ねた状態で保持するための第２スタッカー部と、
前記第１スタッカー部に積み重ねられた前記複数のＩＣ製品からＩＣ製品を１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣ製品を前記第１検査部と前記第２検査部とに対して交互に１枚ずつ供給するための供給手段とを備えていることを特徴とするＩＣ製品検査装置を提供する。
【０００７】
第１形態の好ましい態様によれば、前記供給手段は、各ＩＣ製品よりもわずかに薄いプレート部材を有し、前記プレート部材は、前記第１スタッカー部に積み重ねられた前記複数のＩＣ製品の最下部に位置するＩＣ製品を前記第１検査部と前記第２検査部とに対して交互に供給するために、所定の高さ位置において往復移動するように構成されている。
【０００８】
本発明の第２形態では、複数のＩＣ製品を積み重ねる工程と、
積み重ねられた複数のＩＣ製品からＩＣ製品を１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣ製品を第１検査部と第２検査部とに対して交互に１枚ずつ供給する供給工程と、
前記第１検査部および前記第２検査部において供給されたＩＣ製品の検査を順次行う検査工程と、
前記第１検査部および前記第２検査部で良品と判定されたＩＣ製品を積み重ねる工程とを含むことを特徴とするＩＣ製品検査方法を提供する。
【０００９】
第２形態の好ましい態様によれば、前記供給工程では、積み重ねられた複数のＩＣ製品の最下部に位置するＩＣ製品を前記第１検査部と前記第２検査部とに対して交互に供給する。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の構成を概略的に示す図である。また、図２は、本実施形態の検査対象であるＩＣカードの構成を概略的に示す図である。本実施形態では、単片形態のＲＦ−ＩＤメディアとしてのＩＣカードの通信検査に対して本発明を適用している。
【００１１】
まず、図２（ａ）を参照すると、本実施形態の検査対象であるＩＣカード１０は、情報記憶部（メモリ）を有するＩＣモジュール（またはＩＣチップ）１２と、このＩＣモジュール１２に接続されて非接触方式の通信（すなわちデータの送受信）を行うためのアンテナ１３とを備えている。ＩＣモジュール１２およびアンテナ１３は、図２（ｂ）に示すように、基材シート１４の内部に組み込まれている。そして、基材シート１４の一方の側には表面シート１５が形成され、他方の側には裏面シート１６が形成されている。
【００１２】
次に、図１を参照すると、本実施形態の検査装置は、多数のＩＣカード１０を積み重ねた状態で保持するための第１スタッカー部１と、第１スタッカー部１の両側に配置された第１検査部２および第２検査部３と、第１検査部２および第２検査部３で良品と判定されたＩＣカード１０ａを積み重ねた状態で保持するための第２スタッカー部４と、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０の最下部に位置するＩＣカードの高さ位置において往復移動するように構成されたプレート部材５とを備えている。
【００１３】
ここで、プレート部材５は各ＩＣカード１０よりもわずかに薄い平板状の形態を有し、このプレート部材５が図中実線で示す第１位置と図中破線で示す第２位置との間で往復移動すると、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０の最下部に位置するＩＣカードが、いわゆる「だるま落とし」の態様にしたがって第１検査部２と第２検査部３とに対して交互に供給される。このように、プレート部材５は、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０からＩＣカードを１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣカード１０を第１検査部２と第２検査部３とに対して交互に１枚ずつ供給するための供給手段を構成している。なお、第１スタッカー部１の上部には、ＩＣカード１０を保持するガイド部材７を備えており、ガイド部材７の下端と第１スタッカー部１のカード載置面との間にはＩＣカード１枚分の厚さよりも大きく且つ２枚分の厚さよりも小さいギャップが設けられている。このガイド部材７により、プレート部材５が往復運動した際に、プレート部材５により押し出されるＩＣカードの上に位置するＩＣカードが摩擦抵抗の影響で一緒に押し出されることなく第１スタッカー部１の上に残ることになり、ＩＣカードを１枚ずつ供給することができる。
【００１４】
第１検査部２は、第１スタッカー部１から供給されたＩＣカード１０を支持するための支持部２ａと、支持部２ａにより所定の位置に支持されたＩＣカード１０の通信動作を検査するためのリーダー・ライター２ｂとを備えている。同様に、第２検査部３も、第１スタッカー部１から供給されたＩＣカード１０を支持するための支持部３ａと、支持部３ａにより所定の位置に支持されたＩＣカード１０の通信動作を検査するためのリーダー・ライター３ｂとを備えている。
【００１５】
リーダー・ライター２ｂおよび３ｂは、ＲＦ−ＩＤメディアであるＩＣカード１０に対して情報の読取りおよび情報の書込みを行う機能を有する。また、支持部２ａおよび３ａは、所定の高さ位置において往復移動するように構成され、第１検査部２および第２検査部３で良品と判定されたＩＣカード１０ａを、第１検査部２と第２検査部３との間に配置された第２スタッカー部４に供給する。一方、第１検査部２および第２検査部３で通信不可や通信距離不足により不良品と判定されたＩＣカード１０ｂは、第１検査部２および第２検査部３の外側に配置された回収ボックス６に供給される。
【００１６】
本実施形態では、プレート部材５の往復移動により、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０の最下部に位置するＩＣカードを１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣカード１０を第１検査部２と第２検査部３とに対して交互に供給する。次いで、第１検査部２および第２検査部３は、リーダー・ライター２ｂおよび３ｂを用いて、第１スタッカー部１から供給されるＩＣカード１０の通信検査を行う。
【００１７】
そして、第１検査部２および第２検査部３は、リーダー・ライター２ｂおよび３ｂを用いた検査の結果、良品と判定したＩＣカード１０ａを第２スタッカー部４へ順次供給し、不良品と判定したＩＣカード１０ｂを回収ボックス６へ供給する。こうして、第２スタッカー部４には、良品と判定されたＩＣカード１０ａだけが、第１スタッカー部１における積み重ね順序（シーケンス）に対応するように積み重ねられる。
【００１８】
以上のように、本実施形態では、往復移動するプレート部材５の作用により、多数のＩＣカード１０を積み重ねた状態で保持する第１スタッカー部１から、その両側に配置された２つの検査部（２，３）へＩＣカード１０を１枚ずつ交互に供給し、２つの検査部（２，３）において通信検査を行っている。そして、２つの検査部（２，３）において良品と判定したＩＣカード１０ａだけを、２つの検査部（２，３）の間に配置された第２スタッカー部４へ順次供給している。その結果、２つの検査部（２，３）における通信検査が終了するまでの待機時間を短縮し、ＩＣカードの処理の高速化を図ることができる。
【００１９】
また、本実施形態では、いわゆるボトムフィード方式にしたがって、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０の最下部に位置するＩＣカードを１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣカード１０を第１検査部２と第２検査部３とに対して交互に供給している。その結果、第２スタッカー部４に積み重ねられる良品ＩＣカード１０ａの順序が、第１スタッカー部１における検査対象ＩＣカード１０の積み重ね順序と一致する。また、装置の稼動中においても、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０の上に、検査すべき新たなＩＣカードを必要に応じて積み重ねることができる。
【００２０】
なお、上述の実施形態では、ボトムフィード方式にしたがって多数のＩＣカード１０の最下部に位置するＩＣカードを１枚ずつ取り出している。しかしながら、これに限定されることなく、第１スタッカー部１に積み重ねられた多数のＩＣカード１０の最上部に位置するＩＣカードを１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣカード１０を第１検査部２と第２検査部３とに対して交互に供給することもできる。ただし、このトップフィード方式を採用すると、第２スタッカー部４に積み重ねられる良品ＩＣカード１０ａの順序が、第１スタッカー部１における検査対象ＩＣカード１０の積み重ね順序と逆になる。また、装置の稼動中に、検査すべき新たなＩＣカードを第１スタッカー部１に供給することができなくなる。
【００２１】
また、上述の実施形態では、ＩＣカードの検査に対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、たとえばＩＣタグのような他の単片形態を有するＲＦ−ＩＤメディアの検査に対して本発明を適用することもできる。なお、上述の実施形態においては、第１検査部２および第２検査部３にて通信動作を検査することとして記載しているが、これに限定されることなく、良品と判断されたものに対して、所定のデータを書き込む処理や、所定のデータを表面に印字する処理なども考えられる。また、上述の実施形態においては、プレート部材５によりＩＣカードの振り分けを行っているが、これに限定されることなく、吸着盤を利用したバキュームによる取り出しや、ベルト搬送（フリクション方式）による取り出しも考えられる。
【００２２】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、往復移動するプレート部材の作用により、複数のＩＣ製品を積み重ねた状態で保持する第１スタッカー部から、その両側に配置された２つの検査部へＩＣ製品を１枚ずつ交互に供給し、２つの検査部において良品と判定したＩＣ製品を第２スタッカー部４へ順次供給する。その結果、本発明では、２つの検査部における通信検査が終了するまでの待機時間を短縮し、ＩＣ製品の処理の高速化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の構成を概略的に示す図である。
【図２】本実施形態の検査対象であるＩＣカードの構成を概略的に示す図である。
【符号の説明】
１第１スタッカー部
２第１検査部
３第２検査部
４第２スタッカー部
５プレート部材（供給手段）
６回収ボック
７ガイド部材
１０ＩＣカード

Claims

複数のＩＣ製品を積み重ねた状態で保持するための第１スタッカー部と、
前記第１スタッカー部の両側に配置されてＩＣ製品の検査を行うための第１検査部および第２検査部と、
前記第１検査部および前記第２検査部で良品と判定されたＩＣ製品を積み重ねた状態で保持するための第２スタッカー部と、
前記第１スタッカー部に積み重ねられた前記複数のＩＣ製品からＩＣ製品を１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣ製品を前記第１検査部と前記第２検査部とに対して交互に１枚ずつ供給するための供給手段とを備えていることを特徴とするＩＣ製品検査装置。
前記供給手段は、各ＩＣ製品よりもわずかに薄いプレート部材を有し、
前記プレート部材は、前記第１スタッカー部に積み重ねられた前記複数のＩＣ製品の最下部に位置するＩＣ製品を前記第１検査部と前記第２検査部とに対して交互に供給するために、所定の高さ位置において往復移動するように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のＩＣ製品検査装置。
複数のＩＣ製品を積み重ねる工程と、
積み重ねられた複数のＩＣ製品からＩＣ製品を１枚ずつ取り出し、取り出したＩＣ製品を第１検査部と第２検査部とに対して交互に１枚ずつ供給する供給工程と、
前記第１検査部および前記第２検査部において供給されたＩＣ製品の検査を順次行う検査工程と、
前記第１検査部および前記第２検査部で良品と判定されたＩＣ製品を積み重ねる工程とを含むことを特徴とするＩＣ製品検査方法。
前記供給工程では、積み重ねられた複数のＩＣ製品の最下部に位置するＩＣ製品を前記第１検査部と前記第２検査部とに対して交互に供給することを特徴とする請求項３に記載のＩＣ製品検査方法。