JP3891904B2 - Ｉｃ製品検査方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣ製品検査装置および方法に関し、特に所定方向に沿って順次搬送されるＩＣ製品の検査に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、たとえば細長く延びたフィルムに等間隔で一列に形成された多数のＩＣインレットの製品検査を順次行うＩＣ製品検査装置が知られている。ＩＣインレットは、ＩＣモジュールとアンテナとから構成される平板状のＲＦ−ＩＤメディアであり、ＩＣ製品の一種である。
【０００３】
図４は、従来のＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。図４を参照すると、検査対象であるＩＣインレット４１ａ、４１ｂおよび４１ｃの形成されたフィルム４２が所定方向に沿って搬送されるのに対して、検査手段であるリーダー・ライター４３は所定位置に固定されている。したがって、図４（ａ）に示すように、ＩＣインレット４１ｂの検査に際して、リーダー・ライター４２の下方位置にＩＣインレット４１ｂが達した時点でフィルム４２の搬送は一旦停止する。
【０００４】
その後、所定時間が経過してＩＣインレット４１ｂの検査が終了した後に、フィルム４２の搬送が再開される。次いで、図４（ｂ）に示すように、ＩＣインレット４１ｂに後続するＩＣインレット４１ｃの検査に際して、リーダー・ライター４２の下方位置にＩＣインレット４１ｃが達した時点でフィルム４２の搬送は一旦停止する。このように、従来のＩＣ製品検査装置では、検査対象である多数のＩＣインレット４１が形成されたフィルム４２を所定方向に沿って間欠搬送する必要がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上述のように、従来のＩＣ製品検査装置では、フィルムを所定方向に沿って間欠搬送する必要、さらに詳細には停止動作、加速動作、等速動作、減速動作、停止動作を繰り返す必要がある。その結果、複雑な間欠搬送に起因してフィルムが損傷を受け易く、ＩＣ製品の検査を迅速に且つ安定的に行うことが困難であった。
【０００６】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、たとえば検査すべきＩＣ製品が形成されたフィルムが搬送に起因して損傷を受けることなく、ひいてはＩＣ製品が損傷を受けることなく、ＩＣ製品の検査を迅速に且つ安定的に行うことのできるＩＣ製品検査装置および方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明では、所定方向に沿って等速度で搬送される連続シートの形態を有する基材に間隔を隔てて設けられた複数のＩＣ製品の製品検査を行うＩＣ製品検査方法であって、
前記ＩＣ製品に対して情報の読取りおよび情報の書込みを行うためのリーダー・ライターを、その初期位置から前記基材の搬送と同期的に前記所定方向に移動させて各ＩＣ製品の動作を検査し、
各ＩＣ製品の検査終了の後に、前記リーダー・ライターを前記初期位置まで戻すことを特徴とするＩＣ製品検査方法を提供する。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の構成を概略的に示す図である。また、図２は、細長く延びたフィルムに検査対象である多数のＩＣインレットが等間隔で一列に形成されている様子を示す図である。さらに、図３は、本実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。
【００１１】
まず、図２を参照すると、検査対象である多数のＩＣ製品としてのＩＣインレット１１が、細長く延びたフィルム１２に、その長手方向に沿って等間隔を隔てて形成されている。なお、各ＩＣインレット１１は、ＩＣモジュール１１ａとアンテナ１１ｂとから構成された平板状のＲＦ−ＩＤメディアである。図１を参照すると、本実施形態では、多数のＩＣインレット１１が形成されたフィルム１２が矢印に沿って等速度で搬送される。その結果、多数のＩＣインレット１１が等速度で順次搬送されることになる。
【００１２】
本実施形態のＩＣ製品検査装置１は、ＲＦ−ＩＤメディアであるＩＣインレット１１に対して情報の読取りおよび情報の書込みを行うためのリーダー・ライター２と、リーダー・ライター２の出力に基づいてＩＣインレット１１の動作を検査するためのコントローラ３とを備えている。そして、コントローラ３は、リーダー・ライター２の初期位置から検査対象である当該ＩＣインレット１１と同期させてリーダー・ライター２を移動させ、当該ＩＣインレット１１の検査終了の後にリーダー・ライター２を検査終了位置から初期位置まで戻す。以下、図３を参照して、本実施形態のＩＣ製品検査装置１の動作を具体的に説明する。
【００１３】
図３（ａ）および図３（ｂ）を参照すると、初期位置にあるリーダー・ライター２の下方位置に検査対象であるＩＣインレット１１ｂが達すると、リーダー・ライター２は当該ＩＣインレット１１ｂと同期的に移動する。そして、リーダー・ライター２は、当該ＩＣインレット１１ｂと同期的に移動しながら、当該ＩＣインレット１１ｂに対する情報の読取りおよび情報の書込みを行うことにより、当該ＩＣインレット１１の動作の検査、すなわち製品検査を行う。
【００１４】
次いで、図３（ｂ）および図３（ｃ）を参照すると、当該ＩＣインレット１１の製品検査が終了した後、リーダー・ライター２は検査終了位置から初期位置まで戻る。初期位置まで戻ったリーダー・ライター２は、ＩＣインレット１１ｂに後続するＩＣインレット１１ｃが下方位置に達するまで待機する。そして、初期位置にあるリーダー・ライター２の下方位置に次の検査対象であるＩＣインレット１１ｃが達すると、リーダー・ライター２は当該ＩＣインレット１１ｃと同期的に移動する。
【００１５】
こうして、リーダー・ライター２は、その初期位置と検査終了位置との間の往復移動を繰り返すことにより、等速度で搬送される多数のＩＣインレット１１が順次製品検査されることになる。以上のように、本実施形態のＩＣ製品検査装置１では、検査すべき多数のＩＣインレット１１の形成されたフィルム１２が等速度で搬送されるので、フィルムが間欠搬送される従来技術とは異なり、搬送に起因してフィルム１２が損傷を受けることなく、ひいてはＩＣインレット１１が損傷を受けることなく、多数のＩＣインレット１１の検査を迅速に且つ安定的に行うことができる。
【００１６】
なお、上述の実施形態では、細長く延びたフィルム１２に等間隔で形成された多数のＩＣインレットに対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、連続用紙の形態を有する台紙（剥離紙）に間隔を隔てて剥離容易に貼付された多数のＩＣインレットに対して本発明を適用することもできる。また、搬送ベルトに間隔を隔てて配置された多数のＩＣインレット単体に対して本発明を適用することもできる。この場合も、ＩＣ製品を間欠搬送しながら製品検査を行う従来技術よりも、ＩＣ製品を等速度搬送しながら製品検査を行う本発明の方が、製品検査を迅速に且つ安定的に行うことができる。
【００１７】
また、上述の実施形態では、ＩＣインレットの製品検査に対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、他の適当なＩＣ製品（ＲＦ−ＩＤメディア）に対して本発明を適用することもできる。さらに、上述の実施形態では、リーダー・ライター２を１個備えた例を説明しているが、必要に応じて、リーダー・ライター２を搬送方向に沿って間隔を隔てて複数設けることもできる。
【００１８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、検査すべき多数のＩＣ製品の形成されたフィルムが等速度で搬送されるので、搬送に起因してフィルムが損傷を受けることなく、ひいてはＩＣ製品が損傷を受けることなく、多数のＩＣ製品の検査を迅速に且つ安定的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の構成を概略的に示す図である。
【図２】細長く延びたフィルムに検査対象である多数のＩＣインレットが等間隔で一列に形成されている様子を示す図である。
【図３】本実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。
【図４】従来のＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。
【符号の説明】
１ ＩＣ製品検査装置
２ リーダー・ライター
３ コントローラ
１１ ＩＣインレット
１１ａ ＩＣモジュール
１１ｂ アンテナ
１２ フィルム
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣ製品検査装置および方法に関し、特に所定方向に沿って順次搬送されるＩＣ製品の検査に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、たとえば細長く延びたフィルムに等間隔で一列に形成された多数のＩＣインレットの製品検査を順次行うＩＣ製品検査装置が知られている。ＩＣインレットは、ＩＣモジュールとアンテナとから構成される平板状のＲＦ−ＩＤメディアであり、ＩＣ製品の一種である。
【０００３】
図４は、従来のＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。図４を参照すると、検査対象であるＩＣインレット４１ａ、４１ｂおよび４１ｃの形成されたフィルム４２が所定方向に沿って搬送されるのに対して、検査手段であるリーダー・ライター４３は所定位置に固定されている。したがって、図４（ａ）に示すように、ＩＣインレット４１ｂの検査に際して、リーダー・ライター４２の下方位置にＩＣインレット４１ｂが達した時点でフィルム４２の搬送は一旦停止する。
【０００４】
その後、所定時間が経過してＩＣインレット４１ｂの検査が終了した後に、フィルム４２の搬送が再開される。次いで、図４（ｂ）に示すように、ＩＣインレット４１ｂに後続するＩＣインレット４１ｃの検査に際して、リーダー・ライター４２の下方位置にＩＣインレット４１ｃが達した時点でフィルム４２の搬送は一旦停止する。このように、従来のＩＣ製品検査装置では、検査対象である多数のＩＣインレット４１が形成されたフィルム４２を所定方向に沿って間欠搬送する必要がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上述のように、従来のＩＣ製品検査装置では、フィルムを所定方向に沿って間欠搬送する必要、さらに詳細には停止動作、加速動作、等速動作、減速動作、停止動作を繰り返す必要がある。その結果、複雑な間欠搬送に起因してフィルムが損傷を受け易く、ＩＣ製品の検査を迅速に且つ安定的に行うことが困難であった。
【０００６】
本発明は、前述の課題に鑑みてなされたものであり、たとえば検査すべきＩＣ製品が形成されたフィルムが搬送に起因して損傷を受けることなく、ひいてはＩＣ製品が損傷を受けることなく、ＩＣ製品の検査を迅速に且つ安定的に行うことのできるＩＣ製品検査装置および方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明では、所定方向に沿って等速度で搬送される連続シートの形態を有する基材に間隔を隔てて設けられた複数のＩＣ製品の製品検査を行うＩＣ製品検査方法であって、
前記ＩＣ製品に対して情報の読取りおよび情報の書込みを行うためのリーダー・ライターを、その初期位置から前記基材の搬送と同期的に前記所定方向に移動させて各ＩＣ製品の動作を検査し、
各ＩＣ製品の検査終了の後に、前記リーダー・ライターを前記初期位置まで戻すことを特徴とするＩＣ製品検査方法を提供する。
【００１０】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態を、添付図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の構成を概略的に示す図である。また、図２は、細長く延びたフィルムに検査対象である多数のＩＣインレットが等間隔で一列に形成されている様子を示す図である。さらに、図３は、本実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。
【００１１】
まず、図２を参照すると、検査対象である多数のＩＣ製品としてのＩＣインレット１１が、細長く延びたフィルム１２に、その長手方向に沿って等間隔を隔てて形成されている。なお、各ＩＣインレット１１は、ＩＣモジュール１１ａとアンテナ１１ｂとから構成された平板状のＲＦ−ＩＤメディアである。図１を参照すると、本実施形態では、多数のＩＣインレット１１が形成されたフィルム１２が矢印に沿って等速度で搬送される。その結果、多数のＩＣインレット１１が等速度で順次搬送されることになる。
【００１２】
本実施形態のＩＣ製品検査装置１は、ＲＦ−ＩＤメディアであるＩＣインレット１１に対して情報の読取りおよび情報の書込みを行うためのリーダー・ライター２と、リーダー・ライター２の出力に基づいてＩＣインレット１１の動作を検査するためのコントローラ３とを備えている。そして、コントローラ３は、リーダー・ライター２の初期位置から検査対象である当該ＩＣインレット１１と同期させてリーダー・ライター２を移動させ、当該ＩＣインレット１１の検査終了の後にリーダー・ライター２を検査終了位置から初期位置まで戻す。以下、図３を参照して、本実施形態のＩＣ製品検査装置１の動作を具体的に説明する。
【００１３】
図３（ａ）および図３（ｂ）を参照すると、初期位置にあるリーダー・ライター２の下方位置に検査対象であるＩＣインレット１１ｂが達すると、リーダー・ライター２は当該ＩＣインレット１１ｂと同期的に移動する。そして、リーダー・ライター２は、当該ＩＣインレット１１ｂと同期的に移動しながら、当該ＩＣインレット１１ｂに対する情報の読取りおよび情報の書込みを行うことにより、当該ＩＣインレット１１の動作の検査、すなわち製品検査を行う。
【００１４】
次いで、図３（ｂ）および図３（ｃ）を参照すると、当該ＩＣインレット１１の製品検査が終了した後、リーダー・ライター２は検査終了位置から初期位置まで戻る。初期位置まで戻ったリーダー・ライター２は、ＩＣインレット１１ｂに後続するＩＣインレット１１ｃが下方位置に達するまで待機する。そして、初期位置にあるリーダー・ライター２の下方位置に次の検査対象であるＩＣインレット１１ｃが達すると、リーダー・ライター２は当該ＩＣインレット１１ｃと同期的に移動する。
【００１５】
こうして、リーダー・ライター２は、その初期位置と検査終了位置との間の往復移動を繰り返すことにより、等速度で搬送される多数のＩＣインレット１１が順次製品検査されることになる。以上のように、本実施形態のＩＣ製品検査装置１では、検査すべき多数のＩＣインレット１１の形成されたフィルム１２が等速度で搬送されるので、フィルムが間欠搬送される従来技術とは異なり、搬送に起因してフィルム１２が損傷を受けることなく、ひいてはＩＣインレット１１が損傷を受けることなく、多数のＩＣインレット１１の検査を迅速に且つ安定的に行うことができる。
【００１６】
なお、上述の実施形態では、細長く延びたフィルム１２に等間隔で形成された多数のＩＣインレットに対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、連続用紙の形態を有する台紙（剥離紙）に間隔を隔てて剥離容易に貼付された多数のＩＣインレットに対して本発明を適用することもできる。また、搬送ベルトに間隔を隔てて配置された多数のＩＣインレット単体に対して本発明を適用することもできる。この場合も、ＩＣ製品を間欠搬送しながら製品検査を行う従来技術よりも、ＩＣ製品を等速度搬送しながら製品検査を行う本発明の方が、製品検査を迅速に且つ安定的に行うことができる。
【００１７】
また、上述の実施形態では、ＩＣインレットの製品検査に対して本発明を適用しているが、これに限定されることなく、他の適当なＩＣ製品（ＲＦ−ＩＤメディア）に対して本発明を適用することもできる。さらに、上述の実施形態では、リーダー・ライター２を１個備えた例を説明しているが、必要に応じて、リーダー・ライター２を搬送方向に沿って間隔を隔てて複数設けることもできる。
【００１８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明では、検査すべき多数のＩＣ製品の形成されたフィルムが等速度で搬送されるので、搬送に起因してフィルムが損傷を受けることなく、ひいてはＩＣ製品が損傷を受けることなく、多数のＩＣ製品の検査を迅速に且つ安定的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の構成を概略的に示す図である。
【図２】細長く延びたフィルムに検査対象である多数のＩＣインレットが等間隔で一列に形成されている様子を示す図である。
【図３】本実施形態にかかるＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。
【図４】従来のＩＣ製品検査装置の動作を説明する図である。
【符号の説明】
１ ＩＣ製品検査装置
２ リーダー・ライター
３ コントローラ
１１ ＩＣインレット
１１ａ ＩＣモジュール
１１ｂ アンテナ
１２ フィルム
Claims (1)
- 所定方向に沿って等速度で搬送される連続シートの形態を有する基材に間隔を隔てて設けられた複数のＩＣ製品の製品検査を行うＩＣ製品検査方法であって、
前記ＩＣ製品に対して情報の読取りおよび情報の書込みを行うためのリーダー・ライターを、その初期位置から前記基材の搬送と同期的に前記所定方向に移動させて各ＩＣ製品の動作を検査し、
各ＩＣ製品の検査終了の後に、前記リーダー・ライターを前記初期位置まで戻すことを特徴とするＩＣ製品検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002247923A JP3891904B2 (ja) | 2002-08-28 | 2002-08-28 | Ｉｃ製品検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002247923A JP3891904B2 (ja) | 2002-08-28 | 2002-08-28 | Ｉｃ製品検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004085400A JP2004085400A (ja) | 2004-03-18 |
| JP3891904B2 true JP3891904B2 (ja) | 2007-03-14 |
Family
ID=32055427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002247923A Expired - Fee Related JP3891904B2 (ja) | 2002-08-28 | 2002-08-28 | Ｉｃ製品検査方法 |
Country Status (1)
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| DE202019104199U1 (de) * | 2019-07-31 | 2020-11-05 | Feldbaum + Vogt GmbH | Vorrichtung zum Personalisieren von RFID Chips |
| JP7360952B2 (ja) * | 2020-01-06 | 2023-10-13 | 東芝テック株式会社 | 無線タグ読取装置、販売データ処理装置、およびプログラム |
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2002
- 2002-08-28 JP JP2002247923A patent/JP3891904B2/ja not_active Expired - Fee Related
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