JP3918350B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置に係り、特に複数の単体素子を階層構造に実装した半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年におけるLSIの高密度化の要求により、複数個のLSIチップを積層して一体化し、かつ相互に電気接続を行った三次元LSIモジュールが提案されている。従来、この種の三次元LSIモジュールとしては図4に示す構造のものであった。図4の構成はプリント配線板40にLSIの第1チップ41aが搭載され、さらにその上に第2、第3のチップ41b、41cが搭載される。そして41a、41b、41cそれぞれの電極取り出しパッド42a、42b、42cとプリント配線板40上の電極パッド42dとが相互に金属ワイヤ43あるいはフィルムキャリア上に形成したリードにより電気的に接続される。しかしながらこれらのモジュールの構成ではモジュール化するする各LSI間をワイヤあるいはリードで接続しているため、LSIチップのサイズに加えワイヤあるいはリードのための実装領域が必要となり、実装密度を高め、かつモジュールの小型化を図る上では有利ではないという問題がある。この問題を解消するために、ワイヤあるいはリードを不要にしたワイヤレス、リードレス構造が提案されている(特開平5−63137、特開平8−264712)。図5は上記3次元LSIモジュールの一例である。図5においてLSIチップ51a、51bは積層されてプリント配線板50に搭載されており、各チップはそれぞれに設けられたチップ間の相互接続用電極が直接的に接続されている。57は内部回路であり、58は絶縁膜である。その構成はチップ間の相互接続用電極パッド52aと52a′および52bと52b′の上下に貫通導電層55および56が形成されている。モジュールを構成する各LSIチップ51a、51bおよびプリント配線板50間はそれぞれバンプ間の相互接続用電極パッド52a′と52b間および52b′と外部端子が接続する配線54の間に設けられた半田バンプ53a、53bにより接続されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
図5の構造であれば前述のワイヤまたはリードのための実装領域が不必要であるため必要最小限の3次元構造のLSIモジュールが実現可能になる。しかし、上記した従来技術にはモジュールを構成する各LSIチップの表面と裏面の両方に互いに電気的に導通した導電材料の形成と上部のチップ裏面と下部のチップ表面とを接続する電極およびバンプを別々に作製する必要があった。またバンプに使用する金属によっては圧着する必要がるため少なくとも2つのチップ同士ずつ積層して接続しなければならないという課題があった。
【0004】
そこで、本発明の目的とするところは、上記の課題を解決し、より多数の積層化を効率よく行い集積度の高い半導体装置の提供を目的とするところである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記のような課題を解決するためのもので、以下の手段からなる。
【0006】
本発明の半導体装置の製造方法は、チップ引き回し電極を表面に有する複数の半導体チップが高さ方向に所定の間隔をもって積層され、前記半導体チップの表面から裏面に前記半導体チップを貫通するスルーホールを通じて接続してなる導電性材料と、前記導電性材料により前記半導体チップ相互間の接続が行われる構造を有する半導体装置の製造方法において、前記半導体チップの表面、裏面および前記スルーホールに金属膜を形成するとともに裏面電極部を設け、前記半導体チップの表面および裏面にレジストを設け、前記スルーホールと前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部に設けられた前記レジストを除去し、前記スルーホールと前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部を露出させ、前記スルーホールに前記導電性材料を形成するとともに、前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部にランドを形成し、前記ランド形成時に前記スルーホールと前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部以外の領域に残した前記レジストと、該レジストの下の前記金属膜を除去し、前記半導体チップを少なくとも2層以上重ねた後、一方の前記半導体チップ表面の前記導電性材料と他方の前記半導体チップ裏面の前記導電性材料を加熱により溶融することで接着し前記半導体チップを接続する工程を備えてなり、前記半導体チップを貫通する前記スルーホールの内壁面における表面側及び裏面側の端部は、それぞれ前記半導体チップの中央部に向かってテーパ形状をなすことを特徴とする。
半導体装置の製造方法によれば、スルーホールに形成した導電性材料がそのまま半導体チップ上下の接続用の電極として使用できる。さらに、例えば素子よりも厚く形成することで確実に表面および裏面の導電性材料がその上下の半導体チップの導電性材料による電極と接触することが可能である。また、加熱のみで半導体チップ間を接続できるため特別な器具を必要としない。
さらに前記ランドを形成する前記導電性材料に半田あるいは低融点金属を用い電解または無電解メッキ法により形成することを特徴とする。すなわちメッキ法を用いることでスルーホール中の導電性材料の埋め込みと接続用の電極が同時に形成できる。
さらに前記ランドがすでに形成された前記半導体チップを複数個それぞれ電極取り出しパッド部分を位置決めした状態で積層し、かつこれらを同時に加熱により溶融することで接着し接続することを特徴とする。すなわち複数個の半導体チップを同時に接続することが可能であり、製造工程短縮が可能である。
【0007】
本発明者らは、上記構造の半導体装置の製造方法を発明し、より多数の積層化を効率よく行い集積度の高い半導体装置の提供に成功した。
【0008】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に実施の形態について図面に基づき参考例、及び実施例を挙げて説明する。
【0009】
(参考例)
図2は本発明の参考例を説明するための導電性材料のランドの作製工程である。まず同図(a)に示すように20は第1チップであり厚さ500μmを用いている。21は内部回路、22はチップ引回し電極である。チップの引回し電極パッド部はAlを使用し、厚さ1μm、幅100μm、長さ100μmとした。設計するチップによりチップ厚さ、電極部大きさは自由に変更できる。さらに同図(b)に示すようにレーザー照射によりチップ引回し電極部にスルーホール23を形成する。異方性エッチングでスルーホールを形成してもよい。少なくともチップ引回し電極22よりも小さい径のスルーホールを開口する。さらに同図(c)に示すように開口されたスルーホールの側壁には気相法によりSiO2またはSiON膜等の絶縁膜24を2000Å程度成長させる。さらに同図(d)に示すように感光性ドライフィルム25をチップの表面と裏面に5μmの厚さにつけ露光および現像を行い、チップ引回し電極部26と裏面の電極部27を露出させる。その後、センシタイジングおよびアクチベーション法によりPd核をチップ引回し電極26、スルーホール内28および裏面の電極部27に形成させる。その後ドライフィルム剥離する。さらに同図(e)に示すように無電解Pdメッキ液(塩化パラジウム2g/L、水酸化アンモニウム160g/L、塩化アンモニウム26g/L、ホスフィン酸ナトリウム10g/L、溶液温度50℃)に第1チップ20を浸漬し厚さ1μmのPd29をメッキする。さらに同図(f)に示すようにチップ20を200℃で溶融した半田(Pd:Sn=38:62%)中に浸漬し、スルーホール28内に半田を充填することで半田ランド29aは形成された。以上の方法により導電材料からなるランドの形成が可能であった。
【0010】
さらに図1は本発明の参考例を説明するための3次元モジュールの作製過程である。まず同図(a)に示すようには第1チップ10、内部回路11、チップ引回しAL電極12、導電性材料を埋め込むためのスルーホール13、絶縁膜14からなる。第1チップ10、内部回路11、バンプ相互間接続用電極12、スルーホールの形成、絶縁膜の形成は図2の(a)、(b)および(c)のプロセスを経て作製した。次に図1(b)に示すようにスルーホール13内およびチップ間接続のための導電性材料15を同時に形成しランドを形成する。導電性材料のランド形成は図2の(d)、(e)および(f)のプロセスを経て作製した。次に図1(c)に示すように導電材料のランドを形成した第1チップ16、同様のプロセスによりランドを形成した第2チップ17、第3チップ18および電極部にあらかじめ導電性材料をメッキで形成したプリント配線板19を電極部分を位置決めしランド部分を接触させた状態積層する。次に同図(d)に示すように位置決めした第1チップ16、第2チップ17、第3チップ18およびプリント配線板19導電性材料を200℃で一括加熱により溶融し接続した。実施例1では積層するチップを3層としているが、作製する形態によりそれ以上の複数のチップの積層も同時に可能である。以上の方法により三次元モジュールの形成が可能であった。
【0011】
(実施例)
図3は本発明の実施例を説明するための導電性材料のランドの作製工程である。まず同図(a)に示すように30は第1チップであり厚さ500μmを用いている。31は内部回路、32はチップ引回し電極でありAlを使用し、厚さ1μm、幅100μm、長さ100μmのものを使用している。設計するチップによりチップ厚さ、電極部大きさは自由に変更できる。さらに同図(b)に示すようにレーザー照射によりチップ引回し電極部にスルーホール33を形成する。異方性エッチングでスルーホールを形成してもよい。少なくともチップ引回し電極32よりも小さい径のスルーホールを開口する。さらに同図(c)に示すように開口されたスルーホールの側壁には気相法によりSiO2またはSiON膜等の絶縁膜34を2000Å程度成長させる。さらに同図(d)に示すように気相法によりチップ表面およびスルーホール内にAu35を2000Å程度成長させメッキ用の電極を形成する。裏面側のスルーホール内部および裏面の電極部分へAu膜が十分つかないようであれば、チップ裏側からさらに気相法にてAuを析出させる。さらに同図(e)に示すように感光性レジスト36を厚さ2μm塗布しプレベークした後、露光および現像を行いチップ引回し電極32、スルーホール33内および裏面の電極部37を露出する。さらに半田を電気メッキ(すず(Sn2+)40g/L、鉛(Pb)15g/L、遊離ほうふっ酸100g/L、ホルマリン(37%)10g/L、分散剤40g/L:温度20℃、陰極電流密度3A/dm2、陽極Sn70−Pb30)によりチップ引回し電極32、スルーホール33内および裏面の電極部37に形成させる。さらに同図(f)に示すように感光性レジストを剥離しAu電極をエッチングすることで半田ランド38は形成された。以上の方法により請求項1および請求項2に示したランドの形成が可能であった。
【0012】
さらに参考例と同様に図1(c)に示すように導電材料のランドを形成した第1チップ16、同様のプロセスによりランドを形成した第2チップ17、第3チップ18および電極部にあらかじめ導電性材料をメッキで形成したプリント配線板19を電極部分を位置決めしランド部分を接触させた状態で積層する。次に同図(d)に示すように位置決めした第1チップ16、第2チップ17、第3チップ18およびプリント配線板19導電性材料を200℃で一括加熱により溶融し接続した。実施例においても積層するチップを3層としているが、作製する形態によりそれ以上の複数のチップの積層も同時に可能である。以上の方法により請求項1および請求項3に示した三次元モジュールの形成が可能であった。
【0013】
【発明の効果】
以上のように、本発明により3次元モジュールを構成する各半導体チップの表面と裏面の両方に互いに電気的に導通した導電材料の形成と表面と裏面とを接続する電極を同時に作製することが可能になった。また複数の半導体チップを同時に接続することが可能になった。これにより多数の半導体チップの積層化を効率よく行い集積度の高い半導体装置の提供が可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の製造方法を説明するための図
【図2】本発明のランド製造方法を説明するための図
【図3】本発明のランド製造方法を説明するための図
【図4】従来のLSIモジュール製造装置構成を説明するための図
【図5】従来のLSIモジュール製造装置構成を説明するための図
【符号の説明】
10第1チップ
11内部回路
12チップ引回し電極
13スルーホール
14絶縁膜
15導電性材料
16第1チップ
17第2チップ
18第3チップ
19プリント配線板
20第1チップ
21内部回路
22チップ引回し電極
23スルーホール
24絶縁膜
25感光性ドライフィルム
26チップ引回し電極
27裏面電極
28スルーホール
29パラジウム
29a半田ランド
30第1チップ
31内部回路
32チップ引回し電極
33スルーホール
34絶縁膜
35金
36感光性レジスト
37裏面電極
38半田ランド
40プリント配線板
41a第1チップ
41b第2チップ
41c第3チップ
42a電極取り出しパッド
42b電極取り出しパッド
42c電極取り出しパッド
42d電極取り出しパッド
43金属ワイヤ
50プリント配線板
51aLSIチップ
51bLSIチップ
52aチップ間相互接続用電極
52a′チップ間相互接続用電極
52bチップ間相互接続用電極
52b′チップ間相互接続用電極
53a半田バンプ
53b半田バンプ
54外部端子接続用配線
55貫通導電層
56貫通導電層
57内部回路
58絶縁膜
Claims (3)
- チップ引き回し電極を表面に有する複数の半導体チップが高さ方向に所定の間隔をもって積層され、前記半導体チップの表面から裏面に前記半導体チップを貫通するスルーホールを通じて接続してなる導電性材料と、前記導電性材料により前記半導体チップ相互間の接続が行われる構造を有する半導体装置の製造方法において、
前記半導体チップの表面、裏面および前記スルーホールに金属膜を形成するとともに裏面電極部を設け、前記半導体チップの表面および裏面にレジストを設け、前記スルーホールと前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部に設けられた前記レジストを除去し、前記スルーホールと前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部を露出させ、前記スルーホールに前記導電性材料を形成するとともに、前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部にランドを形成し、
前記ランド形成時に前記スルーホールと前記チップ引き回し電極及び前記裏面電極部以外の領域に残した前記レジストと、該レジストの下の前記金属膜を除去し、
前記半導体チップを少なくとも2層以上重ねた後、一方の前記半導体チップ表面の前記導電性材料と他方の前記半導体チップ裏面の前記導電性材料を加熱により溶融することで接着し前記半導体チップを接続する工程を備えてなり、
前記半導体チップを貫通する前記スルーホールの内壁面における表面側及び裏面側の端部は、それぞれ前記半導体チップの中央部に向かってテーパ形状をなすことを特徴とする半導体装置の製造方法。 - 前記ランドを形成する前記導電性材料に半田あるいは低融点金属を用い電解または無電解メッキ法により形成することを特徴とする請求項1記載の半導体装置の製造方法。
- 前記ランドがすでに形成された前記半導体チップを複数個それぞれ電極取り出しパッド部分を位置決めした状態で積層し、かつこれらを同時に加熱により溶融することで接着し接続することを特徴とする請求項1または請求項2記載の半導体装置の製造方法。
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