JP3849956B2 - プログラマブル集積回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、論理構成が変更自在であるプログラマブル論理素子と強誘電体メモリを備えたプログラマブル集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、携帯電話、PDA(パーソナル情報端末)等の電子回路にフィールドプログラマブルロジックアレイ(FPLA)又はプログラマブルロジックエレメント(RLE)と呼ばれるプログラマブル論理素子が使用されるようになってきた。このプログラマブル論理素子は、外部から与えるデータに応じて種々の論理回路を構成することができる。
【0003】
例えば複数の通信規格に対応する通信機器を構成する場合、論理回路構成がハードウェアで固定されるワイヤードロジックを用いる場合は、複数の規格に応じた複数の論理回路を用意しておき、使用する規格に応じて論理回路を切り替える必要がある。これに対して、プログラマブル論理素子を用いた回路では、規格に応じた論理構成用データを与えることにより、プログラマブル論理素子の内部論理を構成し直す。したがって、必要なチップサイズを小さくすることができる等のメリットが得られる。
【0004】
図10にプログラマブル論理素子(RLE)を用いて構成した従来のプログラマブル集積回路の一例を示す。図10において、101はプログラマブル論理素子、102は相互接続用配線、103はアクセス接続部、104は一般相互接続部、105はデータバス、106はEEPROM(電気的に消去可能なPROM)、107はRAM(ランダムアクセスメモリ)、108は入出力回路である。
【0005】
プログラマブル論理素子101は、インバータ、NANDゲート、NORゲート、EOR(排他的論理和)ゲート、フリップフロップ、ラッチ等を含み、あらゆる種類の論理回路を構成することができる。それぞれのプログラマブル論理素子によって実行される特定の機能は、EEPROM106からプログラマブル論理素子101へ与えられる論理構成用データによって決定される。
【0006】
プログラマブル論理素子101は、論理構成用データが与えられると、内部のANDゲート、ORゲート、NANDゲート、NORゲート、EORゲート等の相互接続を変更し、特定の機能を実行する。プログラマブル論理素子101の論理構成用データを記憶するEEPROM106は、複数のプログラマブル論理素子と共に1チップの集積回路に内蔵される。論理構成用データを記憶するEEPROM等のメモリを集積回路の外部に設けてもよいが、機器全体の回路構成の簡略化のためには、このメモリを集積回路に内蔵することが好ましい。
【0007】
各プログラマブル論理素子101の入出力ポートは、アクセス接続部103を介して一般相互接続部104に接続されている。アクセス接続部103はパストランジスタとラッチ回路を備え、バストランジスタのオン・オフをラッチ回路を介してプログラミングすることにより、一般相互接続部103との接続又は遮断が制御される。
【0008】
上記のように、従来のプログラマブル論理回路では論理構成用データをEEPROMに記憶しておき、電源をオンにしたときにEEPROMからロードした論理構成用データに基づいてプログラマブル論理素子の論理構成を行う。外部に紫外線消去型のEPROMを設けて、これにプログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶しておくこともできるが、この場合は論理構成を変える場合にEPROMを取り替える手間がかかる。これに対して、上述のようにEEPROMを用いる場合は、EEPROMを取り替える必要はなく、EEPROMの旧データを電気的に消去して新たな論理構成用データを記憶させればよい。しかも、上記のようにEEPROMがプログラマブル集積回路に内蔵されておれば、その周辺の回路が簡素化されるメリットも得られる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のEEPROMはプログラマブル論理素子の論理構成用データの保存用としてのみ用いられ、プログラマブル論理素子が動作中はRAM107が動作し、EEPROMは動作しない。つまり、プログラマブル集積回路のチップ面積に対してEEPROMの占める面積はかなり大きいが、プログラマブル論理素子が動作中はEEPROMが占める面積は有効に活用されていないことになる。
【0010】
そこで、本発明は上記のような従来の課題に鑑み、プログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶及びロードするための効率的なメモリ構成を備えたプログラマブル集積回路を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
本発明によるプログラマブル集積回路の第1の構成は、プログラマブル論理素子と強誘電体メモリを備え、非通電状態では強誘電体メモリにプログラマブル論理素子の論理構成用データが記憶され、通電状態では強誘電体メモリがランダムアクセスメモリとして使用されることを特徴とする。
【0012】
最近実用化され、現在も研究開発が続けられている強誘電体メモリは、EEPROMと同様に不揮発性メモリであるが、EEPROMと異なり高速の書き込み、読み出しが可能である。そこで、本発明によれば、強誘電体メモリを用いてプログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶する。そして、強誘電体メモリの記憶データをロードしてプログラマブル論理素子の論理構成を行った後は、強誘電体メモリをランダムアクセスメモリ(RAM)として使用する。
【0013】
これにより、プログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶するためのメモリが、プログラマブル論理素子の動作中も有効に活用されることになる。この結果、従来は論理構成用データを記憶するためのEEPROMと別に備える必要があったRAMが、本発明のプログラマブル集積回路では不要になる。したがって、プログラマブル集積回路のチップサイズの低減に貢献することができる。
【0014】
上記のような本発明のプログラマブル集積回路は、実際の動作において、非通電状態から通電状態に変化した直後に強誘電体メモリの記憶データに基づいてプログラマブル論理素子の論理構成が実行され、かつ、通電状態から非通電状態に変化する直前にプログラマブル論理素子の論理構成用データが強誘電体メモリに再記憶されることが好ましい。
【0015】
具体的な用途の一例として、通信機器に使用され、プログラマブル論理素子の論理を構成する前に、通信により各種通信環境に応じて与えられた最適アルゴリズムを実現するためのプログラマブル論理素子の論理構成用データを強誘電体メモリに記憶しておき、非通電状態から通電状態に変化した直後に、強誘電体メモリの記憶データに基づいてプログラマブル論理素子の論理を選択・構成し、その後、強誘電体メモリをRAMとして使用し、かつ、通電状態から非通電状態に変化する直前に、プログラマブル論理素子の論理構成用データを強誘電体メモリに再記憶させることが好ましい。
【0016】
更に好ましくは、通信機器において各種通信環境に応じて与えられた最適の画像・音声圧縮アルゴリズムを実現するためにこのようなプログラマブル集積回路を用いることができる。そして、プログラマブル集積回路が無線通信インターフェースを備えていることも好ましい。例えば、基地局から無線で送信された通信環境情報にしたがって、強誘電体メモリの記憶データ、すなわち論理構成用データを書き換えることができる。
【0017】
上記構成の一変形例として、順番に実行すべき複数の処理のそれぞれに対応する複数の論理構成用データが強誘電体メモリに記憶され、通電状態でそれぞれの処理に対応する論理構成用データに基づいてプログラマブル論理素子の論理を順次再構成しながら複数の処理を実行し、現在実行中の処理に対応する論理構成データが記憶されていた強誘電体メモリの領域をRAMとして使用し、その処理が終了するに伴って、RAMとして使用していた強誘電体メモリの領域に論理構成データを再記憶させ、つぎに実行すべき処理に移行することも好ましい。
【0018】
つまり、強誘電体メモリを複数の領域(メモリブロック)に分割し、複数の処理に対応する複数種類の論理構成用データを各メモリブロックに分けて記憶しておく。1又は複数のメモリブロックからロードした論理構成用データに基づいてプログラマブル論理素子の論理を構成すれば、その後、そのメモリブロックはRAMとして使用することができる。次の処理に移行するときは、論理構成用データを元のメモリブロックに書き戻した後、次の処理に対応する論理構成用データを別のメモリブロックからロードする。そのメモリブロックの記憶データに基づいてプログラマブル論理素子の論理を構成した後は、そのメモリブロックを新たなRAMとして使用する。このようにして、処理が順番に進むにつれて、RAMとして使用されるメモリブロックも順番に移動することになる。
【0019】
また、別の変形例として、プログラマブル論理素子及び強誘電体メモリセルを含む複数の機能ブロックが配列されている構成が好ましい。つまり、プログラマブル論理素子の各ブロックごとに強誘電体セルが内蔵され、各ブロックがプログラマブル論理素子により構成された回路としてもRAMとしても動作する。更に、複数の機能ブロックがマトリックス状に配列され、マトリックスを構成する列ごとに複数の機能ブロックの強誘電体メモリセルに共通のセンスアンプを備えていることが好ましい。この構成において、複数の機能ブロックの一部をRAMとして使用する場合、センスアンプに近い機能ブロックから優先的にランダムアクセスメモリとして使用することが好ましい。
【0020】
また、マトリックスを構成する列ごとに複数の機能ブロックの強誘電体メモリセルを接続するビットラインを各機能ブロックのプログラマブル論理素子間の相互接続用配線として兼用している構成も好ましい。各機能ブロックは論理回路又はRAMの動作を選択的に行うので、各ブロック間の接続ラインを上記のように兼用することにより、構造が簡素化される。
【0021】
上記のように、センスアンプに近い機能ブロックから優先的にRAMとして使用することに関連して、ビットラインを用いてプログラマブル論理素子間の相互接続を行う場合、センスアンプから遠い機能ブロックから順番にビットラインを相互接続用配線に用いることが好ましい。
【0022】
複数の機能ブロックを配列したプログラマブル集積回路の具体構成として、機能ブロックのメモリセルが、1つの強誘電体キャパシタと第1及び第2のアクセストランジスタを備え、強誘電体キャパシタの一端はセルプレートに接続され、他端は各アクセストランジスタの一端に接続され、各アクセストランジスタの他端及びゲートは第1又は第2のビットライン及び第1又は第2のワードラインに接続され、第1及び第2のビットラインにはセンスアンプと共に演算回路が接続される。そして、セルプレートを低(L)レベルから高(H)レベルに変化させた後、Lレベルに戻す1回の駆動で強誘電体キャパシタからの読み出し、演算、及び書き込みの一連の処理を実行する。
【0023】
更に具体的には、セルプレートをLレベルからHレベルに変化させ、第1のアクセストランジスタをオンにして、強誘電体キャパシタの記憶電位を第1のビットラインに読み出し、センスアンプで増幅、検出した論理レベルを演算回路に与えた後、セルプレートをHレベルに維持した状態で第1のアクセストランジスタをオフにして演算を行い、演算回路の出力が第2のビットラインに出力された後、第2のビットラインに接続された第2のアクセストランジスタをオンにし、セルプレート線をLレベルに戻すことによって、演算回路の出力が強誘電体キャパシタへ書き込まれる。
【0024】
本発明によるプログラマブル集積回路の第2の構成は、1つのメモリセルに複数ビットを記憶する強誘電体メモリとプログラマブル論理素子とを備え、複数ビットのうちの一部を用いてプログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶し、残りのビットを用いて強誘電体メモリがRAMとして動作することを特徴とする。この構成によれば、上記の第1の構成と同様に、プログラマブル集積回路に別途RAMを内蔵する必要がなく、チップサイズの低減に貢献することができる。しかも、強誘電体メモリがRAMとして動作しているときも、プログラマブル論理素子の論理構成用データは強誘電体メモリに記憶されているので、電源オフ時等に論理構成用データを強誘電体メモリに書き戻す必要はない。
【0025】
例えば、1つのメモリセルに2ビットに相当する4つの状態を記憶する強誘電体メモリとプログラマブル論理素子とを備え、4つの状態のうちの2つの状態を用いてプログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶し、残りの2つの状態を用いて強誘電体メモリがランダムアクセスメモリとして動作する。
【0026】
さらに具体的には、1つのメモリセルに2ビットを記憶する強誘電体メモリとプログラマブル論理素子とを備え、プログラマブル論理素子の論理構成用データの記憶に割り当てられた1ビットを強誘電体メモリから読み出し、又は書き込むときは、強誘電体メモリがRAMとして動作するときより高い電圧で強誘電体メモリを駆動する。
【0027】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
(実施形態1)
本発明の第1の実施形態に係るプログラマブル集積回路の構成を図1に示す。図1において、101はプログラマブル論理素子、102は相互接続用配線、103はアクセス接続部、104は一般相互接続部、105はデータバス、108は入出力回路、109は強誘電体メモリ(以下、FERAMと略記する)である。図10の従来構成におけるEEPROM106とRAM107が図1の本実施形態の構成ではFERAM109に置き換えられている。他の構成については同じである。
【0028】
図1の構成において強誘電体メモリ(FERAM)109は、図2に示すような順序で動作する。まず、プログラマブル集積回路に電源が供給されると、イニシャル処理として、プログラマブル論理素子(RLE)101の論理構成用データがFERAM109からロードされ、そのデータに基づいて各RLE101の論理構成、アクセス接続部103の接続、一般相互接続部104の接続が実行される(S11,S12)。この後、FERAM109は通常のRAMエリアとして解放される(S13)。プログラマブル集積回路は、FERAM109をRAMエリアとして用いながら通常動作を実行する(S14)。
【0029】
つぎに、電源オフ時の処理として、プログラマブル論理素子101にロードされていた論理構成用データがFERAM109に再記憶される(S15)。この後、プログラマブル集積回路への電源供給が停止される(S16)。
【0030】
上記のような電源オン時のイニシャル処理及び電源オフ時の処理を行うことによって、不揮発性メモリであるFERAM109に一度記憶された論理構成用データは消失することなく、しかも、プログラマブル集積回路の定常動作中はFERAM109が通常のRAMエリアとして有効活用される。特に、FERAMは低電圧・低消費電力で動作することができるため、携帯用機器に使用される集積回路として最適である。また、高速動作が可能であることから、画像処理用メモリとして使用することもできる。
【0031】
なお、プログラマブル論理素子101の論理構成用データは、あらかじめFERAM109に記憶させておいても良いし、機器の使用時に適宜外部からロードした論理構成用データをFERAM109に記憶させても良い。例えば、通信機器に使用されるプログラマブル集積回路の場合、通信手段を介して与えられる情報にしたがって、FERAM109の記憶データを更新することができる。
【0032】
本実施形態によるプログラマブル集積回路の具体的な用途として、携帯通信端末における画像又は音声の圧縮用LSIがある。本実施形態によれば、複数の通信環境に自動的に対応する携帯通信端末用の小さなチップサイズのLSIを提供することができる。例えば、通信環境によって通信レートが異なる場合、データ転送スピードが速いものにも遅いものにも対応する必要がある。リアルタイムで画像・音声データの通信を行う場合、データ転送スピードが遅い通信環境では、圧縮率の高い画像・音声圧縮アルゴリズムを用いる必要がある。また、データ転送スピードの速い通信環境では、圧縮率の低い画像・音声圧縮アルゴリズムを使用したほうが歪の少ない高品質の画像・音声を伝達できる。
【0033】
複数種類の画像・音声圧縮アルゴリズムを用意しておき、通信環境に応じて選択して利用するために、ワイアードロジックでLSIを構成すると、チップ面積が増大する。本発明のプログラマブル集積回路は、プログラマブル論理素子を用いて通信環境に応じた最適の画像・音声圧縮アルゴリズムを実現することができる。そして、そのアルゴリズムを構成するためのデータが不揮発性メモリであるFERAMに記憶され、そのデータを通信環境に応じて更新することができる。通信環境が変わらない限り、FERAMの記憶データを更新する必要はなく、電源をオフにしてもその記憶データは保持される。
【0034】
更に、前述のように、FERAMは低電圧・低消費電力で、かつ、高速の動作が可能であるので、プログラマブル集積回路の通常動作時には画像処理用を含む通常のRAMエリアとして機能させることができる。その結果、別途RAMを内蔵させる必要がないので、プログラマブル集積回路のチップサイズを低減することができる。また、RAMエリアの一部を用いて、他の不揮発性データを保存しておくことも可能である。
【0035】
(実施形態2)
つぎに、本発明の第2の実施形態に係るプログラマブル集積回路について説明する。例えば、プログラマブル集積回路に実行させたい一連の処理が、順番に実行することができる複数の処理から構成されている場合に本実施形態のプログラマブル集積回路が適用される。このような場合に、すべての処理に対応する論理構成を集積回路に備えさせようとすれば、集積回路のチップサイズが大きくなる。そこで、本実施形態のプログラマブル集積回路は、プログラマブル論理素子を内蔵し、順番に実行する処理に応じてプログラマブル論理素子の論理構成を順番に再構成しながら、複数の処理を順番に実行する。
【0036】
一例として、一連の処理が3つの処理から構成されている場合を図3(a)及び(b)に基づいて説明する。プログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶するFERAMは図3(a)に示すように、3つの領域に分けられ、3つの処理に対応する論理構成用データが記憶されている。図3(b)のフローチャートに示すように、電源が供給された直後のイニシャル処理で、まず、FERAMの領域1に記憶された論理構成用データがロードされ(S21)、このデータに基づいてプログラマブル論理素子(RLE)の論理構成が実行される(S22)。この後、FERAMの領域1はRAMエリアとして解放され(S23)、処理1が実行される(S24)。
【0037】
処理1の実行が完了すると、論理構成用データがFERAMの領域1に再記憶され(S25)、つぎに領域2の論理構成用データがロードされる(S26)。そして、ロードされたデータに基づいてRLEの論理構成が実行される(S27)。この後、FERAMの領域2はRAMエリアとして解放され(S28)、処理2が実行される(S29)。
【0038】
処理2の実行が完了すると、論理構成用データがFERAMの領域2に再記憶され(S30)、領域3の論理構成用データがロードされる(S31)。そして、ロードされたデータに基づいてRLEの論理構成が実行される(S32)。この後、FERAMの領域3はRAMエリアとして解放され(S33)、処理3が実行される(S34)。すべての処理が完了して電源をオフにする際は、RLEにロードされている論理構成用データがFERAMの領域3に再記憶された後(S35)、電源がオフになる(S36)。
【0039】
このように、FERAMの複数の領域に記憶された複数の論理構成用データを順番にロードしてRLEを再構成しながら複数の処理を順番に実行することにより、小さなチップ面積のプログラマブル集積回路で大規模な処理を行うことができる。また、FERAMの複数の領域のうち、RLEが現在実行中の処理に対応する論理構成用データを記憶していた領域を通常のRAM(ランダムアクセスメモリ)として使用することができるので、別途RAMを内蔵する必要がない。
【0040】
(実施形態3)
つぎに、本発明の第3の実施形態に係るプログラマブル集積回路について説明する。図4に示すように、プログラマブル論理素子(RLE)及び強誘電体メモリセルを含む機能ブロック(RLB)が複数個マトリックス状に配列されている。図4において、1つの機能ブロック1は、1つのRLE2と6組の強誘電体メモリセルを内蔵している。各強誘電体メモリセルは、強誘電体キャパシタ3とアクセストランジスタ4からなる。
【0041】
このような機能ブロック1は、プログラムによって論理構成素子としても強誘電体メモリすなわち不揮発性RAMとしても動作する。したがって、プログラマブル集積回路が内蔵する複数の機能ブロックのうちの一部をプログラマブル論理素子として動作させ、他の機能ブロックを不揮発性RAMとして使用することができる。しかも、プログラマブル論理素子として動作する機能ブロックと不揮発性RAMとして使用する機能ブロックとの比率を任意に変えることができるので、実行する処理に応じて最適の比率にプログラムすることにより、プログラマブル集積回路を効率良く動作させることができる。
【0042】
また、図4に示されているように、マトリックス状に配列された複数の機能ブロックのうち、列ごとの複数の機能ブロック1の強誘電体メモリセル3、4に共通のセンスアンプ10が設けられている。各センスアンプ10はイネーブル制御信号(SAE)11によって各別に能動化される。このように、各機能ブロックごとにセンスアンプを備えるのではなく、複数の機能ブロックに共通のセンスアンプを1つ設けることにより、集積回路全体に必要なセンスアンプの数を低減し、集積回路のチップサイズを低減することができる。
【0043】
上記のような構成において、強誘電体メモリセルから読み出された電圧はセンスアンプで増幅されて論理レベル0又は1が検出される。この際、センスアンプから遠い機能ブロックほど、その機能ブロックからセンスアンプまでの配線の抵抗と寄生容量が大きいため、強誘電体メモリセルからセンスアンプに信号が届くまでの時間が長くなると共に、消費電力が大きくなる。そこで、不揮発性RAMとして動作させたい機能ブロックをセンスアンプに近い機能ブロックから優先的に割り当てることが好ましい。これによって、集積回路の高速動作と低消費電力が可能になる。
【0044】
また、1つの機能ブロック1が含むRLE1及びメモリセル3,4の数は、図4の構成に限らない。例えば、1つの機能ブロック1内に8×8=64個の強誘電体キャパシタと8個のRLEを含むように構成すれば、画像圧縮に用いられるDCT(離散コサイン変換)等の処理に適したプログラマブル集積回路を提供することができる。
【0045】
つぎに、図4の構成を更に詳しく説明する。図4において、5はアクセス接続部、6は接続情報格納用又は論理構成用のラッチ回路、7はビットライン(BL)、8はワード線(WL)、9はセルプレート線である。10及び11は既に説明したセンスアンプ及びそのイネーブル制御信号(SAE)であり、12は入出力回路、13はラッチ回路用ワード線(LWL)である。14は機能ブロック(RLB)間接続部であり、第1トランジスタ15、第2トランジスタ16、及び第3トランジスタ17で構成されている。
【0046】
上記のような構成により、各機能ブロック1のメモリセル3,4に接続されたビットライン7を各機能ブロック1のプログラマブル論理素子間の相互接続用配線として兼用することができる。集積回路の電源をオンにした後、図5のタイミングチャートに示すように各信号を変化させ、論理構成用データをラッチ回路6にロードすることによって各RLEの論理構成を行う。その後、接続情報データをロードしてビットライン(BL)7を相互接続用配線として利用する。
【0047】
例えば、ビットラインBL0を機能ブロック間の接続に使用する場合、まず、RLB間接続部14の第2トランジスタ16のゲートをHレベルにして第2トランジスタ16をオンにし、接続情報を強誘電体キャパシタ3から読み出して、ラッチ回路6にロードする。その手順について、図6(a)の回路図を参照しながら説明を加える。
【0048】
図6(a)において、ワード線(WL)24をHレベルにして、アクセストランジスタ21をオンにした後、セルプレート(CP)をHレベルにすることにより、強誘電体キャパシタ22の電荷をビットライン(BL)25上に読み出す。この読み出された電荷は、ビットライン25の寄生容量に充電されて電圧に変換される。この電圧はセンスアンプ26で増幅され、リファレンス電圧と比較されて論理レベル0又は1が検出される。
【0049】
続いて、図4のラッチ回路用ワード線(LWL)13をオンにすることにより、検出された論理レベルが論理構成用のラッチ回路6に保持される。この後、LWLはオフにされる。アクセス接続部5の接続データについても、同様の手順でロードすることができる。このように、強誘電体メモリセルのビットラインを機能ブロック間(プログラマブル論理素子間)の相互接続用配線として兼用することにより、チップ面積を小さくすることができる。
【0050】
上記のように、メモリセルのビットラインを機能ブロック間の相互接続用配線として兼用する場合、ビットライン上に出力されるデータの衝突を避けるために、つぎに説明するような順序で接続を実行する。図4において、RLE1の出力をビットラインBL0に接続する場合、信号の衝突を避けるために機能ブロック間接続部14の第2トランジスタ16と第3トランジスタ17をオフにしておく。そしてセンスアンプに近いほうの隣接機能ブロックとビットラインBL0との接続データをロードする。最後に、 機能ブロック間接続部14の第3トランジスタ17をオンにすることによって接続が完了する。
【0051】
このように、センスアンプから遠い機能ブロックから順番に相互接続用配線(ビットライン)に接続していくことにより、ビットラインを相互接続用配線として問題なく使用することが可能になり、集積回路全体として必要な配線の数を低減することができる。この接続方法は、前述のように一部の機能ブロックをランダムアクセスメモリとして使用する場合に、センスアンプに近い側の機能ブロックから優先的にRAMに割り当てる方法と整合する。
【0052】
(実施形態4)
つぎに、本発明の第4の実施形態に係るプログラマブル集積回路について説明する。第3の実施形態の説明において、強誘電体メモリセルの読み出し回路の構成を図6(a)に示した。これに対して、第4の実施形態に係る読み出し回路とその周辺の回路構成を示す図6(b)では、ビットラインが1本から2本に増え、ワードラインも1本から2本に増えている。そして、ビットラインBL0,BL1のセンスアンプ36と反対側には加算器又は乗算器を含む演算回路38が接続されている。
【0053】
強誘電体メモリセルは1個の強誘電体キャパシタ30と2個のアクセストランジスタ28,29からなる。強誘電体キャパシタ30の一端はセルプレート(CP)31に接続され、他端は各アクセストランジスタ28,29の一端に接続され、各アクセストランジスタ28,29の他端はそれぞれのビットラインBL0又はBL1に接続されている。各アクセストランジスタ28,29のゲートはそれぞれのワードラインWL0又はWL1に接続されている。
【0054】
図6(b)の構成によれば、強誘電体キャパシタ30の記憶情報を読み出し、読み出された情報を用いて演算処理を実行し、演算結果を強誘電体キャパシタ30に書き戻す一連の処理を1サイクルで行うことができる。つまり、セルプレート(CP)31をLレベルからHレベルに変化させた後、Lレベルに戻す1サイクルの間に上記の処理を完了することができる。この処理の手順を、図7に示すタイミングチャートに基づいて説明する。
【0055】
まず、セルプレートCP及び第1ワードラインWL0がLレベルで第1アクセストランジスタがオフの状態から、第1ワードラインWL0をHレベルに変化させて第1アクセストランジスタ28をオンにすると共にセルプレートCPをHレベルにする。この結果、強誘電体キャパシタ30の記憶情報が第1ビットライン34に読み出される。SAE信号37をHレベルにすることによってセンスアンプ36を能動化し、第1ビットライン34上の信号をセンスアンプ36で増幅、検出した論理レベルを演算回路38に与える。
【0056】
この後、第1ワードラインWL0がLレベルに戻されて第1アクセストランジスタ28がオフになり、やがて演算回路38の演算結果が第2ビットラインBL1に出力される。つぎに、第2ワードラインWL1をHレベルに変化させて第2アクセストランジスタ29をオンにした後、セルプレートCPをLレベルに戻すことによって、第2ビットラインBL1上にある演算結果が強誘電体キャパシタ30に書き込まれる。
【0057】
上記のような手順を採用することにより、強誘電体キャパシタ30の記憶情報を読み出し、読み出された情報を用いて演算処理を実行し、演算結果を強誘電体キャパシタ30に書き戻す一連の処理を1サイクルで行うことができる。つまり上記の処理を完了するまでに、セルプレートCPをLレベルからHレベルに変化させ、Lレベルに戻す駆動を1サイクル行うだけでよい。
【0058】
一方、図6(a)に示した通常のメモリセル読み取り回路及び同様の書き込み回路を用いる場合は、読み出しに1サイクル、書き込みに1サイクル、計2サイクルのレベル変化を伴うセルプレート駆動を行う必要がある。一般にセルプレートCPには多数の強誘電体キャパシタが接続されているため、セルプレートCPのレベルを変化させる駆動には大きな電力が消費されると共に、レベルが安定するまでの時間も必要となる。本実施形態によれば、読み出し、演算、書き込みを1サイクルのレベル変化で完了することができるので、消費電力を低減すると共に高速処理を実現することができる。したがって、本実施形態は、加算、乗算等の演算処理が多く必要な画像処理用のプログラマブル集積回路に特に有効である。
【0059】
(実施形態5)
つぎに、本発明の第5の実施形態に係るプログラマブル集積回路について説明する。本実施形態では、プログラマブル集積回路に内蔵する強誘電体メモリとして、1つのメモリセルに複数ビットを記憶することができるメモリを使用し、複数ビットのうちの一部を用いてプログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶し、残りのビットを用いてRAMとして動作させる。例えば、1つのメモリセルに2ビットの情報を記憶する場合、2ビットのうち1ビットをプログラマブル論理素子の論理構成用データの保存用に割り当て、他の1ビットをRAMを構成する1ビットとして割り当てる。
【0060】
1つのメモリセルに2ビットデータを記憶させるには、1つのメモリセルに4つの値を識別可能に記憶させなければならない。例えば、強誘電体メモリにおいて、4つのエネルギー状態を記憶させ、最も低いエネルギー状態から順に状態0、状態1、状態2、そして状態3とする。この場合、状態0を状態1に書き換えるのには小さいエネルギーをメモリセルに与えればよいが、状態0を状態3に書き換えるには非常に大きなエネルギーが必要となる。
そこで、例えば通常動作時は、状態0及び1を用いて、又は、状態2及び3を用いて、論理レベル0及び1に対応させる。この場合、論理レベル0と1との間の書き換えは小さいエネルギーで行うことができる。これによって低消費電力及び高速動作を実現することができる。一方、プログラマブル論理素子の論理構成用データの保存には、状態0又は1を用いて論理レベル0に対応させ、状態2又は3を用いて論理レベル1に対応させる。この場合、論理レベル0と1との間の書き換えには大きいエネルギーが必要である。しかし、論理構成用データの読み書きの頻度は非常に少ないので、集積回路の動作全体の消費電力に与える影響は小さい。更に、4ビット、8ビットといった多ビットのデータを1つのメモリセルに記憶させる場合も、同様の考え方により、RAMを構成するビットを小さなエネルギーで読み書きできるようにしておけばい。
【0061】
上記のような1つのメモリセルに複数ビットのデータを記憶する強誘電体メモリの構成について、図8(a)及び(b)を用いて更に説明する。図8(a)及び(b)は共に1つのメモリセルに2ビットのデータ(状態0、1、2、3)を記憶する場合のヒステリシス特性を示している。まず、図8(a)において、40は状態0の残留分極電荷、41は状態1の残留分極電荷、42は状態2の残留分極電荷、43は状態3の残留分極電荷をそれぞれ示している。44は強誘電体キャパシタの飽和ヒステリシスループである。
【0062】
このように4種類の状態が記憶されている場合、ヒステリシスループが飽和する電圧よりも十分高い電圧で読み出しを行い、放電された電荷の量を比較することにより、安定した読み出しが可能である。しかし、ヒステリシスループが飽和する電圧より低い電源電圧で回路を動作させたい場合は、この方法では正常な読み出しが行われない可能性が高い。なぜなら、強誘電体キャパシタの分極子は、その物理的状態によって、同じ電界をかけても反転しやすいものと反転しにくいものがあり、強誘電体キャパシタの放電曲線が過去の書き込みの履歴に影響されるからである。
【0063】
もう少し詳しく説明すると、低電圧を印加した場合は反転しやすい分極子だけが反転し、反転しにくい分極子は反転しない。高電圧を印加した場合は反転しやすい分極子も反転しにくい分極子も反転する。例えば、図9において、状態cを読み出す場合に、状態cに至る履歴が違えば読み出し時の電荷放出ルートが異なることになる。つまり、状態aから状態bを経て状態cに移行した場合、読み出し時には、状態cから状態bを経て状態dに至る経路で電荷が放出される。状態eから状態fを経て状態cに移行した場合、読み出し時には、状態cから状態dに直接至る経路で電荷が放出される。前者の場合は、反転しやすい分極子のみが反転されてcという状態になっているので、残りは反転しにくい分極子のみであり、ある一定電圧以上をかけなければ、電荷は放出されない。これに対して後者の場合は、やはり反転しやすい分極子から反転してcの状態になっているのであるが、読み出す時には直前に反転された反転しやすい分極子をもう一度反転することになり、小さな電圧をかけてもある程度の電荷は出てくる。このように、直前にどのようなヒステリシス経路を経てその状態が書き込まれたかによって、次の読み出し時における電荷放出がたどるヒステリシス経路が変化する。これによって、特に1メモリセルに記憶させる状態が多くなると正確な読み出しができなくなる。
【0064】
そこで、低電圧動作での正確な読み出しを可能にするために、図8(b)に示すような複数ビットの割当方式が好ましい。図8(b)において、45は状態0の残留分極電荷、46は状態1の残留分極電荷、47は状態2の残留分極電荷、48は状態3の残留分極電荷をそれぞれ示している。49は強誘電体キャパシタの飽和ヒステリシスループである。50はL側ヒステリシスループであり、51はH側ヒステリシスループである。
【0065】
本実施形態では、強誘電体メモリを通常のRAMとして使用する場合は低電圧で読み出し・書き込みを行い、2ビット(4状態)のうちの1ビット(2状態)だけを使用する。低電圧の場合は状態0及び状態1はL側ヒステリシスループ上にあり、状態2及び状態3はH側ヒステリシスループ上にある。したがって、強誘電体メモリがRAMとして動作するときは、状態0又は状態2が論理レベル0として読み出され、状態1又は状態3が論理レベル1として読み出される。
【0066】
2ビットのうちの他の1ビットは論理構成用データの保存用に割り当てられ、論理構成用データをプログラマブル論理素子にロードする際、つまり電源オンの直後に高い電圧で強誘電体メモリの読み出しを行う。このときは、状態0又は状態1が論理レベル0として読み出され、状態2又は状態3が論理レベル1として読み出される。また、新しい論理構成用データが外部から与えられ、これによって強誘電体メモリの記憶データを更新する場合も高い電圧で書き込みを行う必要がある。このようなビット割当方法を採ることにより、通常動作時には低電圧動作を実現することができる。
【0067】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、強誘電体メモリをプログラマブル論理素子と共に集積回路に内蔵し、強誘電体メモリをプログラマブル論理素子の論理構成用データの記憶に用いるだけでなく、RAMとしても用いることができるので、チップサイズの利用効率が高く、高速で低消費電力のプログラマブル集積回路を提供することができる。このような集積回路は、高速演算の必要な画像処理用集積回路又は低消費電力が必須の携帯機器用集積回路に特に適している。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態に係るプログラマブル集積回路の構成を示すブロック図
【図2】図1のプログラマブル集積回路の動作を示すフローチャート
【図3】本発明の第2の実施形態に係るプログラマブル集積回路に関し、(a)は強誘電体メモリのメモリマップ、(b)は動作を示すフローチャート
【図4】本発明の第3の実施形態に係るプログラマブル集積回路の構成を示す回路図
【図5】図4のプログラマブル集積回路の動作を示すタイミングチャート
【図6】(a)図4のプログラマブル集積回路におけるメモリセル読み出し回路を示す回路図(b)本発明の第4の実施形態に係るプログラマブル集積回路におけるメモリセルとその周辺の回路図
【図7】図6(b)のメモリセル及びその周辺回路の動作を示すタイミングチャート
【図8】本発明の第5の実施形態に係るプログラマブル集積回路に使用される強誘電体キャパシタのヒステリシス特性を示すグラフ
【図9】強誘電体キャパシタの別のヒステリシス特性を示すグラフ
【図10】プログラマブル論理素子を用いて構成した従来のプログラマブル集積回路の一例を示すブロック図
【符号の説明】
1 機能ブロック
2 プログラマブル論理素子
3 強誘電体キャパシタ
4 アクセストランジスタ
5 アクセス接続部
6 ラッチ回路
7 ビットライン
8 ワードライン
9 セルプレート
10 センスアンプ
12 入出力回路
13 ラッチ回路用ワード線
14 機能ブロック間接続部
21 アクセストランジスタ
22 強誘電体キャパシタ
23 セルプレート
24 ワードライン
25 ビットライン
26 センスアンプ
28 第1アクセストランジスタ
29 第2アクセストランジスタ
30 強誘電体キャパシタ
31 セルプレート
32 第1ワードライン
33 第2ワードライン
34 第1ビットライン
35 第2ビットライン
36 センスアンプ
38 演算回路
44,49 強誘電体キャパシタの飽和ヒステリシスループ
101 プログラマブル論理素子
102 相互接続用配線
103 アクセス接続部
104 一般相互接続部
105 データバス
107 入出力回路
109 強誘電体メモリ

Claims (17)

  1. プログラマブル論理素子と強誘電体メモリを備え、非通電状態では前記強誘電体メモリに前記プログラマブル論理素子の論理構成用データが記憶され、通電状態では前記強誘電体メモリがランダムアクセスメモリとして使用されることを特徴とするプログラマブル集積回路。
  2. 非通電状態から通電状態に変化した直後に、前記強誘電体メモリの記憶データに基づいてプログラマブル論理素子の論理構成が実行され、かつ、通電状態から非通電状態に変化する直前に、前記プログラマブル論理素子の論理構成用データが前記強誘電体メモリに再記憶される請求項1記載のプログラマブル集積回路。
  3. 通信機器に使用されるプログラマブル集積回路であって、プログラマブル論理素子と強誘電体メモリを備え、前記プログラマブル論理素子の論理を構成する前に、各種通信環境に応じて与えられた最適アルゴリズムを実現するための前記プログラマブル論理素子の論理構成用データを前記強誘電体メモリに記憶しておき、非通電状態から通電状態に変化した直後に、前記強誘電体メモリの記憶データに基づいて前記プログラマブル論理素子の論理を構成し、その後、前記強誘電体メモリをランダムアクセスメモリとして使用し、かつ、通電状態から非通電状態に変化する直前に、前記プログラマブル論理素子の論理構成用データを前記強誘電体メモリに再記憶させることを特徴とするプログラマブル集積回路。
  4. 無線通信インターフェース回路を更に備えている請求項3記載のプログラマブル集積回路。
  5. 通信機器に使用されるプログラマブル集積回路であって、プログラマブル論理素子と強誘電体メモリを備え、前記プログラマブル論理素子の論理を構成する前に、各種通信環境に応じて与えられた最適の画像・音声圧縮アルゴリズムを実現するための前記プログラマブル論理素子の論理構成用データを前記強誘電体メモリに記憶しておき、非通電状態から通電状態に変化した直後に、前記強誘電体メモリの記憶データに基づいて前記プログラマブル論理素子を構成し、その後、前記強誘電体メモリをランダムアクセスメモリとして使用し、かつ、通電状態から非通電状態に変化する直前に、前記プログラマブル論理素子の論理構成用データを前記強誘電体メモリに再記憶させることを特徴とするプログラマブル集積回路。
  6. 無線通信インターフェース回路を更に備えている請求項5記載のプログラマブル集積回路。
  7. 順番に実行すべき複数の処理のそれぞれに対応する複数の論理構成用データが前記強誘電体メモリに記憶され、通電状態でそれぞれの処理に対応する論理構成用データに基づいて前記プログラマブル論理素子の論理を順次再構成しながら複数の処理を実行し、現在実行中の処理に対応する論理構成データが記憶されていた強誘電体メモリの領域をランダムアクセスメモリとして使用し、その処理が終了するに伴って、ランダムアクセスメモリとして使用していた強誘電体メモリの領域に前記論理構成データを再記憶させ、つぎに実行すべき処理に移行する請求項1記載のプログラマブル集積回路。
  8. プログラマブル論理素子及び強誘電体メモリセルを含む複数の機能ブロックが配列された請求項1記載のプログラマブル集積回路。
  9. 前記複数の機能ブロックがマトリックス状に配列され、前記マトリックスを構成する列ごとに複数の機能ブロックの強誘電体メモリセルに共通のセンスアンプを備えている請求項8記載のプログラマブル集積回路。
  10. 前記複数の機能ブロックの一部をランダムアクセスメモリとして使用する場合、前記センスアンプに近い機能ブロックから優先的にランダムアクセスメモリとして使用する請求項9記載のプログラマブル集積回路。
  11. 前記マトリックスを構成する列ごとに複数の機能ブロックの強誘電体メモリセルを接続するビットラインを各機能ブロックのプログラマブル論理素子間の相互接続用配線として兼用している請求項9記載のプログラマブル集積回路。
  12. 前記ビットラインを用いて前記プログラマブル論理素子間の相互接続を行う場合、前記センスアンプから遠い機能ブロックから順番に前記ビットラインを前記相互接続用配線に用いる請求項11記載のプログラマブル集積回路。
  13. 前記機能ブロックの強誘電体メモリセルが、1つの強誘電体キャパシタと第1及び第2のアクセストランジスタを備え、前記強誘電体キャパシタの一端はセルプレートに接続され、他端は各アクセストランジスタの一端に接続され、各アクセストランジスタの他端及びゲートは第1又は第2のビットライン及び第1又は第2のワードラインに接続され、前記第1及び第2のビットラインにはセンスアンプと共に演算回路が接続され、前記セルプレートを低レベルから高レベルに変化させた後、低レベルに戻す1回の駆動で強誘電体キャパシタからの読み出し、演算、及び書き込みの一連の処理を実行する請求項9記載のプログラマブル集積回路。
  14. 前記セルプレートを低レベルから高レベルに変化させ、第1のアクセストランジスタをオンにして、前記強誘電体キャパシタの記憶情報を第1のビットラインに読み出し、センスアンプで増幅、検出した論理レベルを前記演算回路に与えた後、前記セルプレートを高レベルに維持した状態で前記第1のアクセストランジスタをオフにして演算を行い、前記演算回路の出力が第2のビットラインに出力された後、前記第2のビットラインに接続された第2のアクセストランジスタをオンにし、前記セルプレート線を低レベルに戻すことによって、前記演算回路の出力が前記強誘電体キャパシタへ書き込まれる請求項13記載のプログラマブル集積回路。
  15. 1つのメモリセルに複数ビットを記憶する強誘電体メモリとプログラマブル論理素子とを備え、前記複数ビットのうちの一部を用いて前記プログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶し、残りのビットを用いて前記強誘電体メモリがランダムアクセスメモリとして動作することを特徴とするプログラマブル集積回路。
  16. 1つのメモリセルに2ビットに相当する4つの状態を記憶する強誘電体メモリとプログラマブル論理素子とを備え、前記4つの状態のうちの2つの状態を用いて前記プログラマブル論理素子の論理構成用データを記憶し、残りの2つの状態を用いて前記強誘電体メモリがランダムアクセスメモリとして動作することを特徴とする請求項15記載のプログラマブル集積回路。
  17. 1つのメモリセルに2ビットを記憶する強誘電体メモリとプログラマブル論理素子とを備え、前記プログラマブル論理素子の論理構成用データの記憶に割り当てられた1ビットを前記強誘電体メモリから読み出し、又は書き込むときは、強誘電体メモリがランダムアクセスメモリとして動作するときより高い電圧で前記強誘電体メモリが駆動される請求項16のプログラマブル集積回路。
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