JP3808831B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを備えた半導体集積回路装置に関し、特に複数のフリップフロップを一括してリセットする技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを備えた半導体集積回路装置において、これらのフリップフロップを一括してリセットする場合には、例えば図7に示すように構成している。図7において、11−1,11−2,…,11−nはデータ入力端子Dとデータ出力端子Qが相互に縦続接続された複数のフリップフロップ、12−1,12−2,…はリセット信号RSを入力するためのオアゲートである。すなわち、初段のフリップフロップ11−1の前に、本来の転送信号(データ)DAとリセット信号RSとの論理和を取る回路(オアゲート12−1)を設けている。そして、半導体集積回路装置のパワーオンなどで各フリップフロップ11−1,11−2,…,11−nのリセットが必要なときには、上記オアゲート12−1にリセット信号RSを入力することにより、初段のフリップフロップ11−1のデータ入力端子Dにリセット信号RSを入力する。その後、各フリップフロップ11−1,11−2,…,11−nのクロック入力端子CKに通常のクロック信号CLKを入力し、初段のフリップフロップ11−1から後段のフリップフロップ11−2,11−3,…に上記リセット信号RSを順次転送させる。
【0003】
上記オアゲート11−1,11−2,…は、所定数のフリップフロップ毎に配置されており、これらのオアゲート11−1,11−2,…から同時にリセット信号RSを入力してリセット動作を開始することにより、全てのフリップフロップ11−1,11−2,…,11−nを短時間でリセットできる。
【0004】
しかしながら、上記のような構成では、本来の信号伝達経路にリセット信号RSとデータDAの論理和を取る回路(オアゲート11−1,11−2,…)が常時介在されることになる。このため、データDAを転送する際に、オアゲート11−1,11−2,…によるゲート遅延が生じてしまう。また、このオアゲート11−1,11−2,…に加えて、リセット信号RSを転送するための配線も必要となる。従って、動作速度やパターン占有面積の観点から見ると不利である。
【0005】
図8は、従来の他の半導体集積回路装置について説明するためのもので、リセット機能付きの従来のフリップフロップの例を示している。(a)図はシンボル図、(b)図は同期リセット型フリップフロップの具体的な構成例を示す回路図、(c)図は非同期リセット型フリップフロップの具体的な構成例を示す回路図、(d)図は(b)図及び(c)図に示したノアゲートの構成例を示す回路図、(e)図は(b)図及び(c)図に示したフリップフロップの動作を示すタイミングチャートである。
【0006】
(a)図に示すリセット機能付きのフリップフロップ13は、(b)図あるいは(c)図に示すように構成されている。(b)図に示す同期リセット型フリップフロップは、ノアゲート14、インバータ15,16及びクロックドインバータ17,18,19などで構成されている。
【0007】
(c)図に示す非同期リセット型フリップフロップは、クロックドインバータ20〜23とノアゲート24,25などで構成されている。
【0008】
上記2入力のノアゲート14,24または25はそれぞれ、(d)図に示すように、pチャネル型のMOSトランジスタTr1〜Tr3とnチャネル型のMOSトランジスタTr4〜Tr6によって構成されている。そして、2つの入力信号A,BのNOR信号がMOSトランジスタTr3,Tr4の接続点Oから出力される。
【0009】
上記(b)図に示した同期リセット型フリップフロップでは、リセット端子Rに入力されるリセット信号がハイ(High)レベルとなると、クロック入力端子CKに入力されるクロック信号の立ち上がりエッジ(時刻t2)に同期して、出力端子Qがロウ(low)レベルとなる。これに対し、上記(c)図に示した非同期リセット型フリップフロップでは、リセット端子Rに入力されるリセット信号がハイレベルとなると、この時点(時刻t1)でクロック信号には無関係に、出力端子Qがロウレベルとなる。
【0010】
このようなリセット機能付きのフリップフロップを、図7に示した回路におけるオアゲート12−1とフリップフロップ11−1及びオアゲート12−2とフリップフロップ11−(n−1)に代えて設ける、あるいは入力端子と出力端子を相互に縦続接続した複数のフリップフロップの複数段毎に設けてリセット信号を転送することにより、図7に示した回路と同様に全てのフリップフロップをリセットできる。
【0011】
図8に示した構成のフリップフロップを用いることにより、図7に示したオアゲートを付加する回路に比べてゲート遅延は小さくなる。しかし、リセット動作の開始時には、各論理ゲートの入力端子や出力端子の論理が不定であるため、各論理ゲートの入力端子や出力端子の電位が遷移する確率が高く、消費電力が多くなる。
【0012】
なお、この発明に関係する先行技術として、フリップフロップの構成素子数を変えずにリセット制御を容易に行えるようにしたリセット機能付シフトレジスタが提案されている(特許文献1参照)。この先行技術では、基本制御信号を4系統として各フリップフロップに入力し、初期化制御信号の切り換えにより、入力信号をフリップフロップの最終端まで一斉に伝達している。
【0013】
【特許文献1】
特開2000−187993
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように従来の半導体集積回路装置は、縦続接続された多数のフリップフロップを一括してリセットできるように構成すると、データ転送速度の低下を招き、パターン占有面積も増大する、という問題があった。
【0015】
また、ゲート遅延を小さくしてリセット動作の高速化を図ろうとすると、消費電力が増大する、という問題があった。
【0016】
この発明は上記のような事情に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、動作速度の高速化が図れ、パターン占有面積も縮小できる半導体集積回路装置を提供することにある。
【0017】
また、この発明の別の目的は、リセット動作を高速化しても、消費電力の増大を抑制できる半導体集積回路装置を提供することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】
この発明の一態様に係る半導体集積回路装置は、各々のデータ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続され、クロック入力端子に供給された信号に応答して動作するパルス駆動型の複数のフリップフロップを備え、前記複数のフリップフロップはそれぞれ、入力端子が前記データ入力端子に接続され、前記クロック入力端子に供給される、ハイレベルの期間がロウレベルの期間よりも短いパルス状の第1のクロック信号に応答して動作する第1のクロックドインバータと、前記第1のクロックドインバータの出力端子に接続され、前記クロック入力端子に供給される前記第1のクロック信号に応答して動作する第1のラッチ回路と、入力端子が前記第1のクロックドインバータの出力端子に接続され、出力端子が前記データ出力端子に接続された第1のインバータとを含み、前記複数のフリップフロップのリセット時に、前記第1のクロック信号をハイレベルに固定し、前記複数のフリップフロップのデータ入力端子とデータ出力端子を導通させ、初段のフリップフロップにおける前記データ入力端子にリセット信号を入力して転送することにより、前記複数のフリップフロップをリセットする。
【0021】
上記のような構成によれば、縦続接続された複数のフリップフロップのクロック入力端子に、各々のフリップフロップのデータ入力端子とデータ出力端子を導通させる信号を入力して、初段のフリップフロップのデータ入力端子から順次次段のフリップフロップのデータ出力端子にリセット信号を転送するので、動作速度の高速化が図れる。また、クロック信号のレベルを固定して動作させるので、クロック信号に同期させてリセット信号を転送するよりも消費電力を削減できる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[第1の実施の形態]
図1は、この発明の第1の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを抽出して示している。各々のフリップフロップ31−1,31−2,…,31−nは、スキャンテスト機能付きであり、データ入力端子D、データ出力端子Q、スキャンテスト用データ入力端子SI、スキャンテスト用データ出力端子SO及びクロック入力端子CKを備えている。
【0023】
初段のフリップフロップ31−1のデータ入力端子Dには、本来の転送信号であるデータDAが入力され、データ出力端子Qから出力された信号が次段のフリップフロップの31−2のデータ入力端子Dに供給される。以下、同様にm段目(m=2,3,…,n−1)のフリップフロップ31−mのデータ出力端子Qから出力された信号が順次次段(m+1段目)のフリップフロップ31−(m+1)のデータ入力端子Dに供給される。
【0024】
また、初段のフリップフロップ12−1のスキャンテスト用データ入力端子SIには、スキャン信号入力回路32からリセット信号RSが入力される。このスキャン信号入力回路32は、コントロール信号CSによって制御され、スキャンテスト用のデータとリセット信号RSを選択的に出力できるように構成されている。換言すれば、フリップフロップをゼロリセットする場合には、スキャンテスト用のデータとして“0”を出力することになる。スキャンテスト用データ出力端子SOから出力された信号は、次段のフリップフロップの31−2のスキャンテスト用データ入力端子SIに供給され、以下同様にm段目(m=2,3,…,n−1)のフリップフロップ31−mのスキャンテスト用データ出力端子SOから出力された信号が順次次段(m+1段目)のフリップフロップ31−(m+1)のスキャンテスト用データ入力端子SIに供給されるようになっている。
【0025】
更に、上記各フリップフロップ31−1,31−2,…,31−nのクロック入力端子CKにはそれぞれ、クロック信号CLKが供給されており、このクロック信号CLKに同期してデータDA、スキャンテスト用のデータ及びリセット信号RSが上記各フリップフロップ31−1,31−2,…,31−n中を順次転送される。
【0026】
上記のような構成によれば、本来の転送信号(データ)DAの伝達経路とは別に設けられているスキャンテスト用の伝達経路を経由してリセット信号RSを転送するので、データDAを転送するための通常動作時の信号遅延(オアゲートによるゲート遅延)をほぼなくすことができ、動作速度の高速化が図れる。また、オアゲートを設ける必要はなく、リセット信号を転送するための配線も不要であるので、パターン占有面積も縮小できる。
【0027】
なお、本第1の実施の形態では、スキャン信号入力回路32からリセット信号RSを供給する場合を例に取って説明したが、図2に示すように、スキャン信号入力回路32とは別に、リセット信号RSを入力する専用の回路(リセット信号入力回路33)を設けても良い。
【0028】
スキャン信号入力回路32を用いてリセット信号RSを供給すれば、リセット信号発生回路33を設ける場合に比べて回路や配線数を削減できるので、パターン占有面積を削減できる。しかし、スキャン信号入力回路32を用いると、各フリップフロップ31−1,31−2,…,31−nをリセットする前に、スキャン信号のコントロール回路を予めリセットしておき、リセット信号RSを転送する回路が正しく動作するようにしておく必要があるため、リセットの操作が煩雑になる。よって、スキャン信号入力回路32をリセット信号入力回路として兼用するか、リセット信号発生回路33を設けるかは必要に応じて選択すればよい。
【0029】
また、本実施の形態では、スキャンテスト機能付きのフリップフロップを例に取って、スキャンテスト用の入力端子からリセット信号を入力する場合を例に取って説明したが、データ入出力端子以外の外部入出力端子を備えていれば、同様にして他のフリップフロップにも適用可能である。
【0030】
更に、上述した説明では、全てのフリップフロップ31−1,31−2,…,31−nがスキャンテスト用のデータ入力端子SIとデータ出力端子SOを備える場合を例に取って説明したが、n個のフリップフロップの中の一部でも良いのは勿論である。
【0031】
[第2の実施の形態]
図3は、この発明の第2の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、(a)図はパルス駆動型でスキャンテスト機能付きのフリップフロップの具体的な構成例を示している。(b)図は(a)図で示した回路で用いられるクロック信号を生成するための波形整形回路を示しており、(c)図は従来のクロック信号と本実施の形態で用いられるクロック信号とを比較して示すタイミングチャートである。
【0032】
半導体集積回路装置中には、図3に示したようなフリップフロップのデータ出力端子Qとデータ入力端子D、及びスキャンテスト用データ入力端子SIとスキャンテスト用データ出力端子SOとが上記図1に示したように相互に縦続接続されている。各フリップフロップ34は、クロックドインバータ35,36,37とインバータ38,39,40とを含んで構成されている。上記クロックドインバータ35は、入力端子がデータ入力端子Dに接続され、クロック信号/φ1,φ1に応答して動作する。上記クロックドインバータ36は、入力端子がスキャンテスト用のスキャンデータ入力端子SIに接続され、出力端子が上記クロックドインバータ35の出力端子に接続され、クロック信号/φ2,φ2に応答して動作する。上記クロックドインバータ35,36の出力端子には、インバータ38とクロックドインバータ37とで構成されたラッチ回路41が設けられている。上記インバータ38の入力端子は、上記クロックドインバータ35,36の出力端子に接続される。上記クロックドインバータ37は、クロック信号φ3,/φ3に応答して動作し、その入力端子は上記インバータ38の出力端子に接続され、出力端子は上記インバータ38の入力端子に接続されている。上記クロック信号φ3,/φ3は、上記クロック信号φ1,/φ1とクロック信号φ2,/φ2との論理和に等しい信号である。上記インバータ39の入力端子は、上記クロックドインバータ35,36の出力端子に接続され、出力端子がデータ出力端子Qに接続される。また、上記インバータ40の入力端子は、上記クロックドインバータ35,36の出力端子に接続され、出力端子がスキャンデータ用の出力端子SOに接続される。
【0033】
上記クロック信号φ1〜φ3,/φ1〜/φ3は、(b)図に示すような波形整形回路によって生成される。この波形整形回路は、アンドゲート42と遅延回路として働くインバータ43とで構成されている。波形整形回路に入力されたクロック信号CLKは、上記インバータ43による遅延時間に対応する期間ハイレベルとなるクロック信号φに波形整形される。
【0034】
本実施の形態におけるパルス駆動型のフリップフロップでは、ハイレベルとロウレベルの期間を異ならせたクロック信号φ1〜φ3,/φ1〜/φ3を用いることにより制御を行うようにしている。(c)図に示すように、従来のクロック信号はデューティーが等しい、すなわちハイレベルとロウレベルの期間がほぼ等しくなっている。これに対し、本実施の形態では、(b)図に示した波形整形回路を用いてハイレベルの期間をロウレベルの期間よりも短くしている。
【0035】
次に、上記のような構成において動作を説明する。ここでは、クロック信号φ1〜φ3,/φ1〜/φ3がハイレベルの時に信号を転送し、ロウレベルの時は以前の信号を保持するものとする。このフリップフロップにおいても、上述した第1の実施の形態と同様に、本来の転送信号(データ)DAの伝達経路とは別に、スキャンテスト用の伝達経路が設けられている。スキャンテスト時にはスキャンテスト用の入力端子SIからテスト信号を入力し、クロック信号φ1〜φ3,/φ1〜/φ3を入力してフリップフロップ中を転送し、スキャンテスト用の出力端子SOからテスト信号を出力する。このテスト信号は、次段のフリップフロップのスキャンテスト用の入力端子SIに供給される。
【0036】
一方、リセット時には、スキャンテスト用の入力端子SIからリセット信号RSを入力し(フリップフロップをゼロリセットする場合には、スキャンテスト用のデータとして“0”を入力)、クロック信号φ1〜φ3,/φ1〜/φ3に同期させて、本来の信号の伝達経路とは別の経路で後段のフリップフロップに順次リセット信号を転送させる。
【0037】
このような構成によれば、本来の転送信号(データ)DAの伝達経路とは別に設けられているスキャンテスト用の伝達経路を経由してリセット信号RSを転送するので、通常動作時の信号遅延(オアゲートによるゲート遅延)をほぼなくすことができ、動作速度の高速化が図れる。また、オアゲートを設ける必要はなく、リセット信号を転送するための配線も不要であるので、パターン占有面積も縮小できる。更に、ハイレベルの期間が短いクロック信号φ1〜φ3,/φ1〜/φ3を用いてパルス駆動するので、消費電力も削減できる。
【0038】
[第3の実施の形態]
図4は、この発明の第3の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを抽出して示している。
【0039】
各々のフリップフロップ31−1,31−2,…,31−nは、パルス駆動型であり、データ入力端子D、データ出力端子Q及びクロック入力端子CKを備えている。
【0040】
初段のフリップフロップ31−1のデータ入力端子Dには、本来の転送信号であるデータDAが入力され、データ出力端子Qから出力された信号が次段のフリップフロップの31−2のデータ入力端子Dに供給される。同様に、m段目(m=2,3,…,n−1)のフリップフロップ31−mのデータ出力端子から出力された信号が順次次段(m+1段目)のフリップフロップ31−(m+1)のデータ入力端子Dに供給されるようになっている。
【0041】
また、上記各フリップフロップ31−1,31−2,…,31−nのクロック入力端子CKにはそれぞれ、クロック信号レベル固定回路50から出力されるクロック信号CLK’が供給されている。このクロック信号レベル固定回路50は、アンドゲート44とインバータ45で構成された波形整形回路46とオアゲート47とで構成されている。クロック信号レベル固定回路50は、リセット時にクロック信号CLK’をハイレベルに固定するために、リセット信号RSと波形整形回路46から出力されるパルス状のクロック信号との論理和を取り、各フリップフロップ31−1,31−2,…,31−nのクロック入力端子CKに供給する。上記オアゲート47は、通常動作時のデータDAの伝達経路には関与しないため、通常動作時の信号伝達に影響を与えることはない。
【0042】
パルス駆動型のフリップフロップでは、クロック信号をハイレベルに固定することで、入力されたデータDAをそのまま後段に伝えることができる。フリップフロップから次段のフリップフロップまでの信号伝達遅延時間は、1クロックサイクルよりも短い。このため、通常のようにクロック信号を入力して、リセット信号を順次後段に転送するよりも、高速にリセット信号を転送することができる。すなわち、リセットを1クロックサイクル以内で高速に行うことができる。
【0043】
なお、上記第3の実施の形態では、クロック信号レベル固定回路50を全てのフリップフロップに共通に設けたが、必要に応じて各フリップフロップ毎に設けても良く、複数個のフリップフロップ毎に設けることもできる。
【0044】
また、スキャン機能を持たないフリップフロップを例に取って説明したが、上述した第1及び第2の実施の形態と同様に、スキャン機能付きのフリップフロップであっても同様に適用できるのは言うまでもない。
【0045】
[第4の実施の形態]
図5は、この発明の第4の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを抽出して示している。この例では、フリップフロップ31−2のデータ入力端子Dとデータ出力端子Q間に帰還回路51が接続されており、フリップフロップ31−2のデータ出力端子Qから出力された信号が上記帰還回路51を介してデータ入力端子Dへフィードバックされるようになっている。
【0046】
このような構成では、上述した第3の実施の形態を適用して、フリップフロップを強制開(クロック信号CLK’がハイレベルに固定され、データ入力端子Dとデータ出力端子Qが導通している状態)にすると発振する恐れがある。
【0047】
そこで、このような場合には、複数のフリップフロップ31−1,31−2,…,31−nのうち、少なくとも1つを閉じておくこと(データ入力端子Dとデータ出力端子Qを導通させない状態)が必要となる。よって、図5の例では、帰還回路51に接続されたフリップフロップ31−2を、スキャン信号入力回路32からリセット信号RSを入力可能なスキャンテスト機能付きにしている。
【0048】
上記のような構成によれば、発振を防止しつつ、リセット信号の迅速な転送が可能となる。
【0049】
なお、各フリップフロップを単純にゼロリセットするのではなく、縦続接続されたフリップフロップの中の特定のフリップフロップを所定の値にリセット(1リセット)したい場合には、当該フリップフロップの前段及び後段のフリップフロップを閉じた状態で所定の値にリセットすればよい。すなわち、所定の値にリセットしたいフリップフロップ、及びこのフリップフロップの前段と後段にスキャンテスト機能付きのフリップフロップを設け、これらのフリップフロップに対してスキャン信号入力回路32からリセットのパターンに応じた信号(例えば“0”、“1”、“0”)を入力してリセットすればよい。
【0050】
また、帰還回路が設けられていたり、特定のフリップフロップを所定の値にリセットする場合以外でも、第1,第2の実施の形態で説明したスキャン信号入力回路32からリセット信号RSを入力する技術と、第3の実施の形態で説明したクロック信号をハイレベルに固定する技術の両方を組み合わせて用いることができる。この場合には、リセット信号RSが直接入力されるフリップフロップについては、強制開としても良いし、しなくても良い。強制開とした場合には、リセット信号により開閉するゲートの位置を本来のクロック信号によって動作するゲートの後ろではなくて前とすることも可能である。
【0051】
[第5の実施の形態]
図6は、この発明の第5の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、初段のパルス駆動型のフリップフロップの具体的な構成例を示している。初段のフリップフロップ52は、クロックドインバータ53,54,55とインバータ56,57とを含んで構成されている。クロックドインバータ53の入力端子にはデータDAが入力される。このクロックドインバータ53のクロック入力端子には、動作モードを示す信号MD,/MDが供給され、通常作時には入力されたデータDAを反転して出力し、リセットモードには当該クロックドインバータ53の出力端子をハイインピーダンス状態に設定する。
【0052】
また、クロックドインバータ54の入力端子にはリセット信号RSが入力される。このクロックドインバータ54のクロック入力端子には、動作モードを示す信号/MD,MDが供給され、通常作時には当該クロックドインバータ54の出力端子をハイインピーダンス状態に設定し、リセットモードには入力されたリセット信号RSを反転して出力するようになっている。
【0053】
上記クロックドインバータ53,54の出力端子には、インバータ56とクロックドインバータ55とで構成されたラッチ回路58が接続されている。また、上記クロックドインバータ53,54の出力端子には、インバータ57の入力端子が接続されている。
【0054】
半導体集積回路装置中には、図6に示したような構成の初段のフリップフロップと、クロックドインバータ54を除去した構成の2段目以降のフリップフロップのデータ出力端子Qとデータ入力端子Dとが上記図1に示したように相互に縦続接続されている。
【0055】
本実施態様では、クロックドインバータ54からリセット信号RSを入力することにより、本来の転送信号(データ)DAの伝達経路とは別の伝達経路を経由してリセット信号RSを転送できるので、通常動作時の信号伝達に影響を与えることはない。よって、通常動作時の信号遅延(オアゲートによるゲート遅延)をほぼなくすことができ、動作速度の高速化が図れる。また、クロックドインバータを付加するだけであるので、パターン占有面積の増大も最小限に抑制できる。
【0056】
なお、上記第5の実施の形態では、初段のフリップフロップのみにリセット信号入力用のクロックドインバータを設け、リセット信号を入力するようにしたが、必要に応じて各フリップフロップ毎に設けても良く、複数個のフリップフロップ毎に設けることもできる。多数のリセット信号入力用のクロックドインバータを設ければ、リセット時間を短縮できる。
【0057】
上記各実施の形態ではスキャンテスト機能付きのフリップフロップやパルス駆動型のフリップフロップを例に取って説明したが、マスタースレーブ型などの他の構成のフリップフロップにも適用可能である。
【0058】
以上第1乃至第5の実施の形態を用いてこの発明の説明を行ったが、この発明は上記各実施の形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、上記各実施の形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件の適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば各実施の形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題の少なくとも1つが解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果の少なくとも1つが得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【0059】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、動作速度の高速化が図れ、パターン占有面積も縮小できる半導体集積回路装置が得られる。
【0060】
また、リセット動作を高速化しても、消費電力の増大を抑制できる半導体集積回路装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の第1の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを抽出して示すブロック図。
【図2】 図1に示した回路の変形例について説明するためのブロック図。
【図3】 この発明の第2の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、(a)図はパルス駆動型でスキャンテスト機能付きのフリップフロップの具体的な構成例を示す回路図、(b)図は(a)図に示した回路で用いられるクロック信号を生成するための波形整形回路を示す回路図、(c)図は従来のクロック信号と本実施の形態で用いられるクロック信号とを比較して示すタイミングチャート。
【図4】 この発明の第3の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを抽出して示すブロック図。
【図5】 この発明の第4の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、データ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続された複数のフリップフロップを抽出して示すブロック図。
【図6】 この発明の第5の実施の形態に係る半導体集積回路装置について説明するためのもので、初段のパルス駆動型のフリップフロップの具体的な構成例を示す回路図。
【図7】 データ入力端子とデータ出力端子が縦続接続された複数のフリップフロップを備えた従来の半導体集積回路装置において、複数のフリップフロップを一括してリセットする場合の構成例を示す回路図。
【図8】 従来の他の半導体集積回路装置について説明するためのもので、リセット機能付きの従来のフリップフロップの例を示しており、(a)図はシンボル図、(b)図は同期リセット型フリップフロップの具体的な構成例を示す回路図、(c)図は非同期リセット型フリップフロップの具体的な構成例を示す回路図、(d)図は(b)図及び(c)図に示したノアゲートの構成例を示す回路図、(e)図は(b)図及び(c)図に示したフリップフロップの動作を示すタイミングチャート。
【符号の説明】
31−1〜31−n,34,52…フリップフロップ、32…スキャン信号入力回路、33…リセット信号入力回路、35,36,37,53,54,55…クロックドインバータ、38,39,40,56,57…インバータ、41,58…ラッチ回路、50…クロック信号レベル固定回路、51…帰還回路、D…データ入力端子、Q…データ出力端子、SI…スキャンテスト用データ入力端子(外部入力端子)、SO…スキャンテスト用データ出力端子(外部出力端子)、CK…クロック入力端子、RS…リセット信号、CLK,CLK’,φ,φ1〜φ3,/φ1〜/φ3…クロック信号。
Claims (8)
- 各々のデータ入力端子とデータ出力端子が相互に縦続接続され、クロック入力端子に供給された信号に応答して動作するパルス駆動型の複数のフリップフロップを備え、
前記複数のフリップフロップはそれぞれ、
入力端子が前記データ入力端子に接続され、前記クロック入力端子に供給される、ハイレベルの期間がロウレベルの期間よりも短いパルス状の第1のクロック信号に応答して動作する第1のクロックドインバータと、
前記第1のクロックドインバータの出力端子に接続され、前記クロック入力端子に供給される前記第1のクロック信号に応答して動作する第1のラッチ回路と、
入力端子が前記第1のクロックドインバータの出力端子に接続され、出力端子が前記データ出力端子に接続された第1のインバータとを含み、
前記複数のフリップフロップのリセット時に、前記第1のクロック信号をハイレベルに固定し、前記複数のフリップフロップのデータ入力端子とデータ出力端子を導通させ、初段のフリップフロップにおける前記データ入力端子にリセット信号を入力して転送することにより、前記複数のフリップフロップをリセットすることを特徴とする半導体集積回路装置。 - デューティーが等しいクロック信号のハイレベルの期間をロウレベルの期間よりも短く設定する波形整形回路と、前記波形整形回路の出力信号とリセット信号との論理和を取り、前記複数のフリップフロップのクロック入力端子に供給する論理回路とを有し、前記複数のフリップフロップのクロック入力端子に、各々のフリップフロップのデータ入力端子とデータ出力端子を導通させるハイレベルに固定された信号を入力するクロック信号レベル固定回路を更に具備することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路装置。
- 前記複数のフリップフロップの少なくとも1つは、各々が外部入力端子と外部出力端子を有することを特徴とする請求項1または2に記載の半導体集積回路装置。
- 前記複数のフリップフロップの少なくとも1つは、入力端子がスキャンテスト用のスキャンデータ入力端子に接続され、出力端子が前記第1のクロックドインバータの出力端子に接続され、パルス状の第2のクロック信号に応答して動作する第2のクロックドインバータと、入力端子が前記第2,第3のクロックドインバータの出力端子に接続され、出力端子がスキャンテスト用のスキャンデータ出力端子に接続された第2のインバータとを更に備えることを特徴とする請求項2に記載の半導体集積回路装置。
- 前記ラッチ回路は、入力端子が前記第1,第2のクロックドインバータの出力端子に接続された第3のインバータと、入力端子が前記第3のインバータの出力端子に接続され、出力端子が前記第1,第2のクロックドインバータの出力端子に接続され、前記第1,第2のクロック信号に同期した第3のクロック信号に応答して動作する第3のクロックドインバータとを備え、前記第3のクロック信号は、前記第1のクロック信号と前記第2のクロック信号との論理和に等しい信号であることを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路装置。
- 前記縦続接続された複数のフリップフロップの少なくとも1つにフィードバックループを有する回路が接続されている場合に、前記フィードバックループを有する回路が接続されたフリップフロップは、外部入力端子と外部出力端子とを有し、前記外部入力端子からリセット信号が入力されることを特徴とする請求項1乃至5いずれか1つの項に記載の半導体集積回路装置。
- 前記縦続接続された複数のフリップフロップの中の“0”にリセットされるフリップフロップに、“1”にリセットされるフリップフロップが介在されている場合に、前記“1”にリセットされるフリップフロップは、外部入力端子と外部出力端子を有し、前記外部入力端子からリセット信号が入力されて“1”に初期設定されることを特徴とする請求項1乃至5いずれか1つの項に記載の半導体集積回路装置。
- 前記外部入力端子は、スキャンテスト用のデータ入力端子であり、前記外部出力端子は、スキャンテスト用のデータ出力端子であることを特徴とする請求項6または7に記載の半導体集積回路装置。
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