JP3807269B2 - 光ディスク装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に記録可能な光ディスクにデータを記録する際のパワー最適化に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＯＰＣ(Optical Power Control）により光ディスクにデータを記録する際の記録パワーを最適化する技術が知られている。ＯＰＣでは、光ディスクの所定エリアＰＣＡに種々のパワーでテストデータをテスト記録し、各記録パワーのテストデータを再生してジッタ最小あるいはエラーレート最小となる記録パワー、あるいはジッタやエラーレートがあるしきい値以下となる記録パワーを選択して最適パワーを決定している。
【０００３】
なお、このようにテスト記録で最適記録パワーを決定するのではなく、ＤＶＤ−ＲＡＭなどにおいては光ディスクのコントロールデータゾーンに予め最適記録パワーを記録しておき、まずコントロールデータゾーンに記録されている最適記録パワーデータを読み出して当該記録パワーで記録する方法も知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ディスクのコントロールデータゾーンにあらかじめ記録されている最適記録パワーデータを用いる方法では、光ディスクと光ディスクドライブ（光ディスク装置）の組み合わせが変化した場合に必ずしも最適記録パワーでデータを記録できるとは限らない問題がある。すなわち、光ディスク装置の光ピックアップその他の光学特性は種々であり、ある基準の光ディスク装置を用いて得られた最適記録パワーが他の光ディスク装置でもそのまま適用できるとは限らない。また、光ディスクの経時劣化により記録特性が変化し、最適記録パワーが変動した場合には十分対応できない問題がある。
【０００５】
一方、ＯＰＣにより最適記録パワーを決定する方法では、このような問題を解消することができるが、決定したその記録パワーで記録マージンが十分とれるか否かを知ることができず、安定した記録ができないおそれがある。もちろん、ＯＰＣで最適記録パワーを決定する際、本来の最適記録パワーよりも高めに記録パワーを設定することで、記録マージンを確保することも考えられるが、徒に記録パワーを高くすると記録可能回数が低下し耐久性に問題が生じる。
【０００６】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、記録マージンを十分に確保しつつ最適記録パワーを決定することができ、これにより耐久性を含む記録品質を向上させることが可能な光ディスク装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて記録する手段と、前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得られた再生信号品質に基づき最適記録パワーを決定する手段とを有することを特徴とする。
【０００８】
ここで、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間の再生信号品質の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適である。
【０００９】
前記記録条件の劣化は、前記光ディスクの光ピックアップに対する傾き（チルト）とすることができる。
【００１０】
前記記録条件の劣化は光ピックアップのフォーカスオフセット値変化とすることができる。
【００１１】
また、前記再生信号品質としてはジッタ量を用いることができ、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適である。具体的には、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを決定することができる。
【００１２】
また、前記再生信号品質としてエラーレートを用いることができ、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレートの変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適である。具体的には、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレートの変化量と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを決定することができる。
【００１３】
また、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて記録する手段と、前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得られた再生信号品質の劣化が相対的に少ない記録パワーを最適記録パワーとして決定する手段とを有することを特徴とする。
【００１４】
このように、本発明においては、記録パワーを種々変化させてテストデータを記録する際、従来のように通常の状態、すなわち最良と考えられる条件でテスト記録するのではなく、あえて記録条件を劣化させてテストデータを記録する。このとき、記録マージンが小さい記録パワーでは記録条件劣化に伴い再生信号品質も劣化するが、逆に記録マージンに余裕のある記録パワーでは再生信号品質の劣化は小さい。したがって、記録条件を意図的に劣化させて記録したテストデータの再生信号品質を評価することで、当該記録パワーのマージンを評価することができ、これにより記録マージンに優れた記録パワーを決定することができる。
【００１５】
なお、記録条件を意図的に劣化させるには、例えば光ディスクの光ピックアップに対する傾き（チルト）や光ピックアップのフォーカスオフセットを最良条件から変化させればよい。
【００１６】
図１には、チルトを０（傾きなし）から変化させた場合のテストデータの再生信号品質（ジッタ）の変化が示されている。すなわち、チルトを０から変化させてテストデータを記録し、記録後にチルトを０に戻してテストデータを再生したときのジッタの変化が示されている。図において、横軸はチルト角であり、縦軸は再生信号のジッタ量である。図において、記録パワーとしてＡ、Ｂ、Ｃ（Ａ＜Ｂ＜Ｃ）の場合が示されている。Ａ、Ｂ、Ｃの差は一定値ｋで等間隔である。すなわち、Ｂ−Ａ＝Ｃ−Ｂ＝ｋである。記録パワーＡの場合には、チルト角が＋あるいは−方向に増大して記録条件が劣化するに従って再生信号のジッタ量が増大し、再生信号品質が低下する。一方、記録パワーＡよりも大きな記録パワーＢの場合には、チルト角が増大するとジッタ量も増大するが、記録パワーＡほどにはジッタ量は増大せず、再生信号品質の劣化は小さい。さらに、記録パワーＣの場合には、チルト角が＋あるいは−方向に増大しても、ジッタ量はほとんど変化せず、再生信号品質の劣化は非常に少ない。このように、記録パワーＡでは記録マージンが少なく、記録パワーＢやＣでは記録マージンが大きく、記録マージンの観点からこれらの記録パワーが適していることがわかる。そして、あるチルト角に着目すると、記録パワーＡ、Ｂ、Ｃはパワー間隔が等間隔であるものの、記録パワーＡ，Ｂ間のジッタ変化量は大きく、記録パワーＢ、Ｃでは変化量は小さくジッタ量はほとんど同じである。すなわち、記録パワーをＣほど増大させずにＢのレベルに抑えたとしても、記録マージンを十分確保できることがわかる。
【００１７】
一方、図２にはチルト角と再生信号品質のエラーレートの関係が示されている。
【００１８】
すなわち、チルトを０から変化させてテストデータを記録し、記録後にチルトを０に戻してテストデータを再生したときのエラーレートの変化が示されている。図において、横軸は図１と同様チルト角であり、縦軸は再生信号品質のエラーレートである。図１の場合と同様、記録パワーＡ、Ｂ、Ｃの場合について示されている。記録パワーＡの場合には、チルト角が＋あるいは−に増大するとエラーレートも急激に増大し、再生信号品質も劣化する。一方、記録パワーＢあるいはＣの場合には、チルト角が＋あるいは−方向に増大してもエラーレートは記録パワーＡほどには変化しておらず、再生信号品質の劣化は小さい。エラーレートの点からも、記録パワーＢ、Ｃが記録マージンの点から優れており、かつ、変化量の大小から記録パワーＢにより記録パワーＣと同程度の記録マージンを確保できることがわかる。
【００１９】
さらに、図３および図４には、チルトではなく、光ピックアップのフォーカスオフセットを変化させて記録条件を劣化させた場合の再生信号品質（ジッタ及びエラーレート）が示されている。すなわち、フォーカスオフセットを変化させてテストデータを記録し、記録後にフォーカスオフセットを元に戻して再生したときのジッタ及びエラーレート変化が示されている。両図において、横軸は光ピックアップのフォーカスオフセットであり、通常状態は、最良オフセットＦｓｗに設定された状態である。記録パワーＡの場合には、フォーカスオフセットが最良点から＋あるいは−方向に変化するとジッタ量及びエラーレートも急激に増大するが、記録パワーＢ、Ｃではジッタ量及びエラーレートの変化はそれほど大きくはない。フォーカスオフセットを変化させた場合にも、記録パワーＢ、Ｃが記録マージンに優れ、さらに記録パワーＢでも記録パワーＣとほぼ同程度のマージンが得られることがわかる。
【００２０】
このように、チルト角をゼロ状態から変化させ、あるいはフォーカスオフセットを最良点から変化させることで記録条件を意図的に劣化させ、劣化した記録条件下においてテストデータを記録し、そのときの再生信号品質を評価することで、記録マージンの大小を評価することができ、徒に記録パワーを増大させることなく記録マージンを確保した最適記録パワーを決定できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００２２】
＜第１実施形態＞
図５には、本実施形態にかかる光ディスク装置の要部構成ブロック図が示されている。光ディスク１０は、スピンドルモータ１２によりＣＡＶあるいはＣＬＶ制御される。
【００２３】
光ピックアップ部１４は光ディスク１０に対向して設けられ、レーザダイオード（ＬＤ）から記録パワーのレーザ光を射出して光ディスク１０にデータを記録する。データの記録は、光ディスク１０の記録膜の一部を溶融昇華してピットを形成してもよく、結晶状態を加熱急冷してアモルファス状態に遷移させることで行ってもよい。
【００２４】
データ記録時には、記録データがエンコーダ１８に供給され、エンコーダ１８にてエンコードされたデータがＬＤ駆動部１６に供給される。ＬＤ駆動部１６は、エンコードされたデータに基づき駆動信号を作成し、光ピックアップ部１４のＬＤに供給する。また、ＬＤ駆動部１６には、制御部２４からの制御信号が供給され、この制御信号により駆動電流値、すなわち記録パワーが決定される。
【００２５】
一方、データ再生時には、光ピックアップ部１４のＬＤは再生パワー（再生パワー＜記録パワー）のレーザ光を照射し、その反射光を受光して電気信号に変換し再生ＲＦ信号を得る。再生ＲＦ信号はＲＦ信号処理部２０に供給される。
【００２６】
ＲＦ信号処理部２０は、増幅アンプやイコライザ、二値化部、ＰＬＬ部などを有し、再生ＲＦ信号を二値化し、さらに同期クロックを生成してデコーダ２２に供給する。デコーダ２２は、供給されたこれらの信号に基づきデータをデコードし、再生データとして出力する。
【００２７】
また、ＲＦ信号処理部２０からの再生ＲＦ信号は、信号品質評価用に制御部２４にも供給される。なお、データ再生時には、この他にトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を生成してフォーカスサーボあるいはトラッキングサーボを制御する回路、光ディスク１０に形成されたウォブル信号を再生してアドレス復調あるいは回転数制御に用いる回路もあるが、これらについては従来技術と同様であるのでその説明は省略する。
【００２８】
制御部２４は、ＬＤ駆動部１６を駆動してＯＰＣを実行させるとともに、各テスト記録データの信号品質を評価し、最適記録パワーを決定する。この際、従来においては、単に記録パワーを複数段、例えば１５段階に変化させて光ディスク１０にテストデータを記録し、当該テストデータの再生ＲＦ信号からジッタ量やエラーレートを算出してこれらが最も小さい記録パワーを最適記録パワーとして決定していたが、本実施形態においてはスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１２に制御信号を供給し、テスト記録時の記録条件を劣化させてテストデータを記録する。記録条件の劣化は、光ディスク１０を光ピックアップ１２に対してチルトさせることで実現することができ、これはスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１４のいずれかを駆動すればよい。
【００２９】
図６には、制御部２４による光ディスク１０のチルトの様子が示されている。チルトの方向としては、光ディスク１０の半径方向（ｒ方向）にチルトさせる場合と、円周方向（θ方向あるいはトラック方向）にチルトさせる場合がある。半径方向にチルトさせる場合、図中の軸ａを中心として光ディスク１０を微小角だけ回転させればよく、円周方向にチルトさせる場合には軸ｂを中心として微小角だけ回転させればよい。回転方向に応じてチルト角の＋あるいは−を任意に決定することができる。図７及び図８には、半径方向にチルトさせた場合の様子が示されている。図７は、光ディスク１０を光ピックアップ１４から遠ざける方向にチルトさせた場合であり、本実施形態においてはこの方向のチルト角を＋方向とする。また、図８には光ディスク１０を光ピックアップ１４に対して近づける方向にチルトさせた場合であり、本実施形態においてはこの方向を−方向とする。
【００３０】
図９には、光ディスク１０を半径方向にチルトさせてＯＰＣを行う場合の制御部２４における処理フローチャートが示されている。まず、制御部２４は、ＯＰＣ制御モードに移行する（Ｓ１０１）。そして、テストデータを記録する際に、制御部２４はスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１４を駆動し、一定量のチルト角とする（チルトを一定量ずらす：Ｓ１０２）。このチルト設定が記録条件の劣化に対応する。
【００３１】
次に、制御部２４は記録パワーを複数段、例えば１５段階に順次変化させてテストデータを記録する（Ｓ１０３）。
【００３２】
複数段の記録パワーでテストデータを記録した後、制御部２４は再びスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１４を駆動し、チルト量を通常状態、すなわちチルト量＝０の状態（傾きなし）に戻す（Ｓ１０４）。そして、この標準状態において各記録パワーで記録したテストデータを再生してその再生ＲＦ信号を入力し、再生ＲＦ信号のジッタ量を測定する（Ｓ１０５）。ジッタ量は、例えば３Ｔ信号のジッタ量を測定することができる。もちろん、他の周波数のジッタ量を測定してもよい。これにより、記録パワー数と同数のジッタ量が得られることになる。
【００３３】
各記録パワーにおけるジッタ量を測定した後、制御部２４は隣接する記録パワー間のジッタ変化量、すなわちジッタ差を演算する（Ｓ１０６）。例えば、（記録パワー、ジッタ量）が
（１０ｍｗ、２０％）
（１１ｍｗ、１５％）
（１２ｍｗ、１２％）
（１３ｍｗ、１１％）
（１４ｍｗ、１０％）
（１５ｍｗ、９％）
の場合、
１０ｍｗと１１ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１１ｍｗ）＝５％
１１ｍｗと１２ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）＝３％
１２ｍｗと１３ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１２ｍｗ）−Ｊ（１３ｍｗ）＝１％
１３ｍｗと１４ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１３ｍｗ）−Ｊ（１４ｍｗ）＝１％
１４ｍｗと１５ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１４ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝１％
となる。以上のようにして隣接する記録パワー間のジッタ変化量（ジッタ差）を演算した後、予め定められ制御部２４のメモリに記憶された目標値Ｊ０以上となるジッタ差を抽出し、さらにＪ０以上となるジッタ差の中で最も小さいジッタ差を抽出する（Ｓ１０７）。例えば、目標値Ｊ０が２％であった場合、目標値以上となるジッタ差は、上記の５個のうち、
Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１１ｍｗ）＝５％、
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）＝３％
の２個であり、この中で最も小さいジッタ差は
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）＝３％
である。条件を満たすジッタ差を抽出した後、制御部２４はこのジッタ差に基づき最適記録パワーを決定する（Ｓ１０８）。具体的には、抽出されたジッタ差に関係する記録パワーは１１ｍｗ、１２ｍｗであり、これらのうち記録パワーの高い方の１２ｍｗを記録マージンに優れた最適記録パワーに決定する。
【００３４】
図１０には、以上述べた処理が模式的に示されている。図において、横軸はジッタ差番号を示しており、Δ１＝Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１１ｍｗ）、Δ２＝Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）、・・・であり、縦軸はジッタ変化量（ジッタ差）である。各記録パワー差におけるジッタ差のうち、目標値Ｊ０以上となるジッタ差はΔ１、Δ２に対応するジッタ差であり、このうち最も小さい、すなわち目標値により近いジッタ差であるΔ２が抽出されて、このΔ２に関係する記録パワーから最適記録パワーが決定される。図１０から明らかなように、Δ１やΔ２はジッタ差が大きく、したがって記録パワーの変動に対して再生信号品質が大きく劣化したことを示している。一方、Δ３、Δ４、Δ５は記録パワーが変動してもジッタ差が大きく変動しておらず、再生信号品質の劣化が小さい。このことは、Δ３、Δ４、Δ５に関する記録パワーでは十分な記録マージンが得られ、Δ２は記録マージンが十分でない記録パワーと十分な記録パワーとの境界に位置していることを示している。そこで、Δ２のうち記録パワーの高い方を選択することで、記録マージンに優れた記録パワーのうちで最も記録パワーの小さいパワーを最適記録パワーに決定することができる。
【００３５】
もちろん、上記の実施形態において目標値の設定によっては目標値以下となるジッタ差のうち最も目標値に近いものから最適記録パワーを決定することも可能である。図１０の例で言えば、Δ３に関わる記録パワー１３ｍｗ、１４ｍｗのうち小さい方の１３ｍｗを最適記録パワーとするなどである。
【００３６】
なお、目標値は予め光ディスクのコントロールデータゾーンに記録しておき、これを読み出して制御部２４のメモリに記憶させればよい。もちろん、ドライブ（光ディスク装置）生産工程において、予めメモリに記憶させておくこともできる。
【００３７】
＜第２実施形態＞
第１実施形態では、隣接する記録パワー間のジッタ変化量に基づいて記録マージンの大きい、すなわち記録条件が劣化しても安定して記録できる最適記録パワーを決定したが、他の方法によりジッタ変化量を評価することもできる。
【００３８】
本実施形態では、隣接する記録パワー間のジッタ変化量ではなく、ある基準のジッタ量からの変化量を用いて記録マージンの大小を評価する。
【００３９】
図１１には、本実施形態における制御部２４の処理フローチャートが示されている。図９におけるＳ１０１〜Ｓ１０５までの処理（これを処理Ａとする）は同一であり、次に、得られたジッタ量のうち最も良い（つまりジッタが最小）記録パワーを選択する（Ｓ２０６）。第１実施形態の例に則すれば、記録パワーＰｗが１５ｍｗのときにジッタＪは９％と最小となるので記録パワーＰｗ＝１５ｍｗが選択される。もちろん、記録パワーではなく最小ジッタを選択してもよい。そして、最も良いジッタと他のジッタとの差を算出する（Ｓ２０７）。具体的には、Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝１１％
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝６％
Ｊ（１２ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝３％
Ｊ（１３ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝２％
Ｊ（１４ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝１％
Ｊ（１５ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝０％
となる。基準のジッタ量からの変化量を算出した後、予め制御部２４のメモリに記憶された目標値Ｊ０（最も良いジッタ（基準ジッタ量）からの変化量の目標値）が得られる記録パワーを直線近似などで算出する（Ｓ２０８）。上記の場合、Ｊ０＝４％とすると、この目標値に近い値は
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝６％
Ｊ（１２ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝３％
であり、これらを直線近似して４％が得られる記録パワーとして１１．６６ｍｗが得られる。そこで、直線近似して得られたこの１１．６６ｍｗを記録マージンの得られる最適記録パワーに決定する（Ｓ２０９）。
【００４０】
本実施形態によっても、徒に記録パワーを増大させることなく、記録マージンが十分得られる最適記録パワーを決定することができる。
【００４１】
なお、このような直線近似は、第１実施形態にも同様に適用できることは言うまでもない。
【００４２】
＜第３実施形態＞
上述した第１、第２実施形態では再生信号品質としてジッタ量を用いているが、図２にも示したように、再生信号のエラーレートを用いて記録マージンの大小評価を行うことも可能である。なお、エラーレートは、デコーダ２２でデコードしたデータを図示しないエラー訂正回路で訂正する際の訂正ビット数から算出することができる。
【００４３】
図１２には、本実施形態における制御部２４の処理フローチャートが示されている。図９と異なる点は、ジッタ量の代わりにエラーレートを用いている点である。具体的には、Ｓ３０１〜Ｓ３０４は図９のＳ１０１〜Ｓ１０４と同一であり、Ｓ３０５で再生信号のエラーレートを算出し、Ｓ３０６で隣接する記録パワー間のエラーレート変化量（エラーレート差）を算出する。そして、Ｓ３０７で目標エラーレート差以上で最小のエラーレート差が得られる２つの記録パワーを抽出し、Ｓ３０８で２つの記録パワーのうち大きい記録パワーを最適記録パワーに決定する。
【００４４】
＜第４実施形態＞
第３実施形態において、第２実施形態と同様に基準エラーレートとの差を算出することで記録マージンの大小評価を行うこともできる。参考までに、図１３にはこの場合における制御部２４の処理フローチャートを示す。まず、図１２における処理Ａと同一の処理を実行し、最小となるエラーレートを選択する（Ｓ４０６）。その後、最小エラーレートとその他のエラーレートとの差、すなわちエラーレート変化量を算出し（Ｓ４０７）、エラーレート差目標値が得られる記録パワーを直線近似で算出して（Ｓ４０８）、最適記録パワーに決定する（Ｓ４０９）。
【００４５】
＜第５実施形態＞
第１〜第４実施形態では、ＯＰＣでの記録条件を劣化させるために光ディスク１０を光ピックアップ１４に対してチルトさせたが、光ピックアップ１４のフォーカス（ＦＳ）オフセットを最良点から変化させることによっても意図的に記録条件を劣化させることができる。
【００４６】
図１４には、この場合における制御部２４の処理フローチャートが示されている。図９と異なる点は、制御部２４が光ピックアップ１４に対して制御信号を供給してＦＳオフセット値を最良点Ｆｓｗから所定量ずらし（Ｓ５０２）、この状態でテストデータを記録する点である。
【００４７】
本実施形態によっても、ＯＰＣにおいて記録マージンを十分確保できる最適記録パワーを決定することができる。
【００４８】
なお、ＦＳオフセットをずらし、第２実施形態〜第４実施形態に示された方法と同様の方法で最適記録パワーを決定することもできることは言うまでもない。
【００４９】
以上、最適記録パワーの決定について説明したが、光ディスク１０が書き換え可能な光ディスク１０である場合、光ピックアップ１４から消去パワーのレーザ光（再生パワー＜消去パワー＜記録パワー）を照射することでデータを消去することが可能であり、この場合の消去パワーの最適化も図ることができる。
【００５０】
例えば、上述した第１〜第５実施形態の方法で最適記録パワーを決定した後、この最適記録パワーＰｗｏに所定の係数ε（ε＜１）を乗じることで最適消去パワーを決定することができる。
【００５１】
もちろん、第１〜第５実施形態に示された方法で最適消去パワーを決定することも可能である。例えば、図９において光ディスク１０をチルトさせ、消去パワーを種々変化させてテストデータをオーバライトし、オーバライトしたデータのジッタ量を測定する。消去パワーのマージンが十分ではない場合には、オーバライト時に前回のデータが消え残るためジッタ量が急激に増大する。そこで、ジッタ変化量から消去パワーのマージンを評価し、マージンの大きい最適消去パワーを決定することができる。
【００５２】
なお、本発明の方法により最適消去パワーを決定し、この最適消去パワーに係数を乗じて最適記録パワーを求める技術も可能であるが、このようにして最適記録パワーを求める技術は本発明と均等である。最適記録パワーは最適消去パワーに依存し、最適消去パワーは本発明により決定される以上、最適記録パワーは実質的に本発明により決定されていると言うことができるからである。
【００５３】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、種々の変更が可能である。例えば、光ディスク１０のランド及びグルーブのいずれにもデータを記録する場合、ランドとグルーブそれぞれについて目標値を決定し、上述した実施形態と同様の処理によりランド記録とグルーブ記録それぞれにおいて最適記録パワー（及び最適消去パワー）を決定することができる。
【００５４】
また、本実施形態では記録条件の劣化として、チルトとＦＳオフセットを例示したが、記録条件を劣化させる任意の条件が本発明に含まれる。このようなものとして、例えば回転速度がある。ＯＰＣ時に回転速度を本来の回転速度よりも増大させてテスト記録することで、記録マージンを評価することができる。
【００５５】
また、本実施形態では、チルトあるいはＦＳオフセットのいずれかを変化させて記録条件を劣化させたが、チルト及びＦＳオフセットのいずれも変化させて記録条件を劣化させることも可能である。
【００５６】
また、記録条件の劣化としてチルトとＦＳオフセットを用い、再生信号品質としてジッタとエラーレートを用い、全ての組み合わせを実行して最適記録パワー候補を選択し、これらの中から最もパワーの小さいもの（あるいは大きいもの）を最適記録パワーに決定することも可能である。全ての組み合わせのうち、上述した実施形態に示されていない組み合わせを採用できることも明らかである。例えば、光ディスク１０を円周方向にチルトさせるとともに、再生信号品質としてジッタ及びエラーレートを採用して最適記録パワーを決定する等である。チルトあるいはＦＳオフセットを複数段に変化させて同様の処理を行っても良い。
【００５７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、徒に記録パワーを増大させて耐久性を劣化させることなく、記録マージンを確保した最適記録パワーでデータを記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 記録パワーをパラメータとしたチルトとジッタ量の関係を示すグラフ図である。
【図２】 記録パワーをパラメータとしたチルトとエラーレートの関係を示すグラフ図である。
【図３】 記録パワーをパラメータとしたＦＳオフセットとジッタの関係を示すグラフ図である。
【図４】 記録パワーをパラメータとしたＦＳオフセットとエラーレートの関係を示すグラフ図である。
【図５】 実施形態に係る光ディスク装置の要部構成ブロック図である。
【図６】 光ディスクのチルト説明図である。
【図７】 半径方向のチルト説明図である。
【図８】 半径方向のチルト説明図である。
【図９】 第１実施形態の処理フローチャートである。
【図１０】 第１実施形態の処理説明図であり、隣接記録パワー間のジッタ変化量を示すグラフ図である。
【図１１】 第２実施形態の処理フローチャートである。
【図１２】 第３実施形態の処理フローチャートである。
【図１３】 第４実施形態の処理フローチャートである。
【図１４】 第５実施形態の処理フローチャートである。
【符号の説明】
１０ 光ディスク、１２ スピンドルモータ、１４ 光ピックアップ、１６ ＬＤ駆動部、１８ エンコーダ、２０ ＲＦ信号処理部、２２ デコーダ、２４制御部。
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に記録可能な光ディスクにデータを記録する際のパワー最適化に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＯＰＣ(Optical Power Control）により光ディスクにデータを記録する際の記録パワーを最適化する技術が知られている。ＯＰＣでは、光ディスクの所定エリアＰＣＡに種々のパワーでテストデータをテスト記録し、各記録パワーのテストデータを再生してジッタ最小あるいはエラーレート最小となる記録パワー、あるいはジッタやエラーレートがあるしきい値以下となる記録パワーを選択して最適パワーを決定している。
【０００３】
なお、このようにテスト記録で最適記録パワーを決定するのではなく、ＤＶＤ−ＲＡＭなどにおいては光ディスクのコントロールデータゾーンに予め最適記録パワーを記録しておき、まずコントロールデータゾーンに記録されている最適記録パワーデータを読み出して当該記録パワーで記録する方法も知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ディスクのコントロールデータゾーンにあらかじめ記録されている最適記録パワーデータを用いる方法では、光ディスクと光ディスクドライブ（光ディスク装置）の組み合わせが変化した場合に必ずしも最適記録パワーでデータを記録できるとは限らない問題がある。すなわち、光ディスク装置の光ピックアップその他の光学特性は種々であり、ある基準の光ディスク装置を用いて得られた最適記録パワーが他の光ディスク装置でもそのまま適用できるとは限らない。また、光ディスクの経時劣化により記録特性が変化し、最適記録パワーが変動した場合には十分対応できない問題がある。
【０００５】
一方、ＯＰＣにより最適記録パワーを決定する方法では、このような問題を解消することができるが、決定したその記録パワーで記録マージンが十分とれるか否かを知ることができず、安定した記録ができないおそれがある。もちろん、ＯＰＣで最適記録パワーを決定する際、本来の最適記録パワーよりも高めに記録パワーを設定することで、記録マージンを確保することも考えられるが、徒に記録パワーを高くすると記録可能回数が低下し耐久性に問題が生じる。
【０００６】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、記録マージンを十分に確保しつつ最適記録パワーを決定することができ、これにより耐久性を含む記録品質を向上させることが可能な光ディスク装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて記録する手段と、前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得られた再生信号品質に基づき最適記録パワーを決定する手段とを有することを特徴とする。
【０００８】
ここで、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間の再生信号品質の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適である。
【０００９】
前記記録条件の劣化は、前記光ディスクの光ピックアップに対する傾き（チルト）とすることができる。
【００１０】
前記記録条件の劣化は光ピックアップのフォーカスオフセット値変化とすることができる。
【００１１】
また、前記再生信号品質としてはジッタ量を用いることができ、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適である。具体的には、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを決定することができる。
【００１２】
また、前記再生信号品質としてエラーレートを用いることができ、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレートの変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適である。具体的には、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレートの変化量と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを決定することができる。
【００１３】
また、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて記録する手段と、前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得られた再生信号品質の劣化が相対的に少ない記録パワーを最適記録パワーとして決定する手段とを有することを特徴とする。
【００１４】
このように、本発明においては、記録パワーを種々変化させてテストデータを記録する際、従来のように通常の状態、すなわち最良と考えられる条件でテスト記録するのではなく、あえて記録条件を劣化させてテストデータを記録する。このとき、記録マージンが小さい記録パワーでは記録条件劣化に伴い再生信号品質も劣化するが、逆に記録マージンに余裕のある記録パワーでは再生信号品質の劣化は小さい。したがって、記録条件を意図的に劣化させて記録したテストデータの再生信号品質を評価することで、当該記録パワーのマージンを評価することができ、これにより記録マージンに優れた記録パワーを決定することができる。
【００１５】
なお、記録条件を意図的に劣化させるには、例えば光ディスクの光ピックアップに対する傾き（チルト）や光ピックアップのフォーカスオフセットを最良条件から変化させればよい。
【００１６】
図１には、チルトを０（傾きなし）から変化させた場合のテストデータの再生信号品質（ジッタ）の変化が示されている。すなわち、チルトを０から変化させてテストデータを記録し、記録後にチルトを０に戻してテストデータを再生したときのジッタの変化が示されている。図において、横軸はチルト角であり、縦軸は再生信号のジッタ量である。図において、記録パワーとしてＡ、Ｂ、Ｃ（Ａ＜Ｂ＜Ｃ）の場合が示されている。Ａ、Ｂ、Ｃの差は一定値ｋで等間隔である。すなわち、Ｂ−Ａ＝Ｃ−Ｂ＝ｋである。記録パワーＡの場合には、チルト角が＋あるいは−方向に増大して記録条件が劣化するに従って再生信号のジッタ量が増大し、再生信号品質が低下する。一方、記録パワーＡよりも大きな記録パワーＢの場合には、チルト角が増大するとジッタ量も増大するが、記録パワーＡほどにはジッタ量は増大せず、再生信号品質の劣化は小さい。さらに、記録パワーＣの場合には、チルト角が＋あるいは−方向に増大しても、ジッタ量はほとんど変化せず、再生信号品質の劣化は非常に少ない。このように、記録パワーＡでは記録マージンが少なく、記録パワーＢやＣでは記録マージンが大きく、記録マージンの観点からこれらの記録パワーが適していることがわかる。そして、あるチルト角に着目すると、記録パワーＡ、Ｂ、Ｃはパワー間隔が等間隔であるものの、記録パワーＡ，Ｂ間のジッタ変化量は大きく、記録パワーＢ、Ｃでは変化量は小さくジッタ量はほとんど同じである。すなわち、記録パワーをＣほど増大させずにＢのレベルに抑えたとしても、記録マージンを十分確保できることがわかる。
【００１７】
一方、図２にはチルト角と再生信号品質のエラーレートの関係が示されている。
【００１８】
すなわち、チルトを０から変化させてテストデータを記録し、記録後にチルトを０に戻してテストデータを再生したときのエラーレートの変化が示されている。図において、横軸は図１と同様チルト角であり、縦軸は再生信号品質のエラーレートである。図１の場合と同様、記録パワーＡ、Ｂ、Ｃの場合について示されている。記録パワーＡの場合には、チルト角が＋あるいは−に増大するとエラーレートも急激に増大し、再生信号品質も劣化する。一方、記録パワーＢあるいはＣの場合には、チルト角が＋あるいは−方向に増大してもエラーレートは記録パワーＡほどには変化しておらず、再生信号品質の劣化は小さい。エラーレートの点からも、記録パワーＢ、Ｃが記録マージンの点から優れており、かつ、変化量の大小から記録パワーＢにより記録パワーＣと同程度の記録マージンを確保できることがわかる。
【００１９】
さらに、図３および図４には、チルトではなく、光ピックアップのフォーカスオフセットを変化させて記録条件を劣化させた場合の再生信号品質（ジッタ及びエラーレート）が示されている。すなわち、フォーカスオフセットを変化させてテストデータを記録し、記録後にフォーカスオフセットを元に戻して再生したときのジッタ及びエラーレート変化が示されている。両図において、横軸は光ピックアップのフォーカスオフセットであり、通常状態は、最良オフセットＦｓｗに設定された状態である。記録パワーＡの場合には、フォーカスオフセットが最良点から＋あるいは−方向に変化するとジッタ量及びエラーレートも急激に増大するが、記録パワーＢ、Ｃではジッタ量及びエラーレートの変化はそれほど大きくはない。フォーカスオフセットを変化させた場合にも、記録パワーＢ、Ｃが記録マージンに優れ、さらに記録パワーＢでも記録パワーＣとほぼ同程度のマージンが得られることがわかる。
【００２０】
このように、チルト角をゼロ状態から変化させ、あるいはフォーカスオフセットを最良点から変化させることで記録条件を意図的に劣化させ、劣化した記録条件下においてテストデータを記録し、そのときの再生信号品質を評価することで、記録マージンの大小を評価することができ、徒に記録パワーを増大させることなく記録マージンを確保した最適記録パワーを決定できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００２２】
＜第１実施形態＞
図５には、本実施形態にかかる光ディスク装置の要部構成ブロック図が示されている。光ディスク１０は、スピンドルモータ１２によりＣＡＶあるいはＣＬＶ制御される。
【００２３】
光ピックアップ部１４は光ディスク１０に対向して設けられ、レーザダイオード（ＬＤ）から記録パワーのレーザ光を射出して光ディスク１０にデータを記録する。データの記録は、光ディスク１０の記録膜の一部を溶融昇華してピットを形成してもよく、結晶状態を加熱急冷してアモルファス状態に遷移させることで行ってもよい。
【００２４】
データ記録時には、記録データがエンコーダ１８に供給され、エンコーダ１８にてエンコードされたデータがＬＤ駆動部１６に供給される。ＬＤ駆動部１６は、エンコードされたデータに基づき駆動信号を作成し、光ピックアップ部１４のＬＤに供給する。また、ＬＤ駆動部１６には、制御部２４からの制御信号が供給され、この制御信号により駆動電流値、すなわち記録パワーが決定される。
【００２５】
一方、データ再生時には、光ピックアップ部１４のＬＤは再生パワー（再生パワー＜記録パワー）のレーザ光を照射し、その反射光を受光して電気信号に変換し再生ＲＦ信号を得る。再生ＲＦ信号はＲＦ信号処理部２０に供給される。
【００２６】
ＲＦ信号処理部２０は、増幅アンプやイコライザ、二値化部、ＰＬＬ部などを有し、再生ＲＦ信号を二値化し、さらに同期クロックを生成してデコーダ２２に供給する。デコーダ２２は、供給されたこれらの信号に基づきデータをデコードし、再生データとして出力する。
【００２７】
また、ＲＦ信号処理部２０からの再生ＲＦ信号は、信号品質評価用に制御部２４にも供給される。なお、データ再生時には、この他にトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を生成してフォーカスサーボあるいはトラッキングサーボを制御する回路、光ディスク１０に形成されたウォブル信号を再生してアドレス復調あるいは回転数制御に用いる回路もあるが、これらについては従来技術と同様であるのでその説明は省略する。
【００２８】
制御部２４は、ＬＤ駆動部１６を駆動してＯＰＣを実行させるとともに、各テスト記録データの信号品質を評価し、最適記録パワーを決定する。この際、従来においては、単に記録パワーを複数段、例えば１５段階に変化させて光ディスク１０にテストデータを記録し、当該テストデータの再生ＲＦ信号からジッタ量やエラーレートを算出してこれらが最も小さい記録パワーを最適記録パワーとして決定していたが、本実施形態においてはスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１２に制御信号を供給し、テスト記録時の記録条件を劣化させてテストデータを記録する。記録条件の劣化は、光ディスク１０を光ピックアップ１２に対してチルトさせることで実現することができ、これはスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１４のいずれかを駆動すればよい。
【００２９】
図６には、制御部２４による光ディスク１０のチルトの様子が示されている。チルトの方向としては、光ディスク１０の半径方向（ｒ方向）にチルトさせる場合と、円周方向（θ方向あるいはトラック方向）にチルトさせる場合がある。半径方向にチルトさせる場合、図中の軸ａを中心として光ディスク１０を微小角だけ回転させればよく、円周方向にチルトさせる場合には軸ｂを中心として微小角だけ回転させればよい。回転方向に応じてチルト角の＋あるいは−を任意に決定することができる。図７及び図８には、半径方向にチルトさせた場合の様子が示されている。図７は、光ディスク１０を光ピックアップ１４から遠ざける方向にチルトさせた場合であり、本実施形態においてはこの方向のチルト角を＋方向とする。また、図８には光ディスク１０を光ピックアップ１４に対して近づける方向にチルトさせた場合であり、本実施形態においてはこの方向を−方向とする。
【００３０】
図９には、光ディスク１０を半径方向にチルトさせてＯＰＣを行う場合の制御部２４における処理フローチャートが示されている。まず、制御部２４は、ＯＰＣ制御モードに移行する（Ｓ１０１）。そして、テストデータを記録する際に、制御部２４はスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１４を駆動し、一定量のチルト角とする（チルトを一定量ずらす：Ｓ１０２）。このチルト設定が記録条件の劣化に対応する。
【００３１】
次に、制御部２４は記録パワーを複数段、例えば１５段階に順次変化させてテストデータを記録する（Ｓ１０３）。
【００３２】
複数段の記録パワーでテストデータを記録した後、制御部２４は再びスピンドルモータ１２あるいは光ピックアップ１４を駆動し、チルト量を通常状態、すなわちチルト量＝０の状態（傾きなし）に戻す（Ｓ１０４）。そして、この標準状態において各記録パワーで記録したテストデータを再生してその再生ＲＦ信号を入力し、再生ＲＦ信号のジッタ量を測定する（Ｓ１０５）。ジッタ量は、例えば３Ｔ信号のジッタ量を測定することができる。もちろん、他の周波数のジッタ量を測定してもよい。これにより、記録パワー数と同数のジッタ量が得られることになる。
【００３３】
各記録パワーにおけるジッタ量を測定した後、制御部２４は隣接する記録パワー間のジッタ変化量、すなわちジッタ差を演算する（Ｓ１０６）。例えば、（記録パワー、ジッタ量）が
（１０ｍｗ、２０％）
（１１ｍｗ、１５％）
（１２ｍｗ、１２％）
（１３ｍｗ、１１％）
（１４ｍｗ、１０％）
（１５ｍｗ、９％）
の場合、
１０ｍｗと１１ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１１ｍｗ）＝５％
１１ｍｗと１２ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）＝３％
１２ｍｗと１３ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１２ｍｗ）−Ｊ（１３ｍｗ）＝１％
１３ｍｗと１４ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１３ｍｗ）−Ｊ（１４ｍｗ）＝１％
１４ｍｗと１５ｍｗのジッタ差は、
Ｊ（１４ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝１％
となる。以上のようにして隣接する記録パワー間のジッタ変化量（ジッタ差）を演算した後、予め定められ制御部２４のメモリに記憶された目標値Ｊ０以上となるジッタ差を抽出し、さらにＪ０以上となるジッタ差の中で最も小さいジッタ差を抽出する（Ｓ１０７）。例えば、目標値Ｊ０が２％であった場合、目標値以上となるジッタ差は、上記の５個のうち、
Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１１ｍｗ）＝５％、
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）＝３％
の２個であり、この中で最も小さいジッタ差は
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）＝３％
である。条件を満たすジッタ差を抽出した後、制御部２４はこのジッタ差に基づき最適記録パワーを決定する（Ｓ１０８）。具体的には、抽出されたジッタ差に関係する記録パワーは１１ｍｗ、１２ｍｗであり、これらのうち記録パワーの高い方の１２ｍｗを記録マージンに優れた最適記録パワーに決定する。
【００３４】
図１０には、以上述べた処理が模式的に示されている。図において、横軸はジッタ差番号を示しており、Δ１＝Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１１ｍｗ）、Δ２＝Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１２ｍｗ）、・・・であり、縦軸はジッタ変化量（ジッタ差）である。各記録パワー差におけるジッタ差のうち、目標値Ｊ０以上となるジッタ差はΔ１、Δ２に対応するジッタ差であり、このうち最も小さい、すなわち目標値により近いジッタ差であるΔ２が抽出されて、このΔ２に関係する記録パワーから最適記録パワーが決定される。図１０から明らかなように、Δ１やΔ２はジッタ差が大きく、したがって記録パワーの変動に対して再生信号品質が大きく劣化したことを示している。一方、Δ３、Δ４、Δ５は記録パワーが変動してもジッタ差が大きく変動しておらず、再生信号品質の劣化が小さい。このことは、Δ３、Δ４、Δ５に関する記録パワーでは十分な記録マージンが得られ、Δ２は記録マージンが十分でない記録パワーと十分な記録パワーとの境界に位置していることを示している。そこで、Δ２のうち記録パワーの高い方を選択することで、記録マージンに優れた記録パワーのうちで最も記録パワーの小さいパワーを最適記録パワーに決定することができる。
【００３５】
もちろん、上記の実施形態において目標値の設定によっては目標値以下となるジッタ差のうち最も目標値に近いものから最適記録パワーを決定することも可能である。図１０の例で言えば、Δ３に関わる記録パワー１３ｍｗ、１４ｍｗのうち小さい方の１３ｍｗを最適記録パワーとするなどである。
【００３６】
なお、目標値は予め光ディスクのコントロールデータゾーンに記録しておき、これを読み出して制御部２４のメモリに記憶させればよい。もちろん、ドライブ（光ディスク装置）生産工程において、予めメモリに記憶させておくこともできる。
【００３７】
＜第２実施形態＞
第１実施形態では、隣接する記録パワー間のジッタ変化量に基づいて記録マージンの大きい、すなわち記録条件が劣化しても安定して記録できる最適記録パワーを決定したが、他の方法によりジッタ変化量を評価することもできる。
【００３８】
本実施形態では、隣接する記録パワー間のジッタ変化量ではなく、ある基準のジッタ量からの変化量を用いて記録マージンの大小を評価する。
【００３９】
図１１には、本実施形態における制御部２４の処理フローチャートが示されている。図９におけるＳ１０１〜Ｓ１０５までの処理（これを処理Ａとする）は同一であり、次に、得られたジッタ量のうち最も良い（つまりジッタが最小）記録パワーを選択する（Ｓ２０６）。第１実施形態の例に則すれば、記録パワーＰｗが１５ｍｗのときにジッタＪは９％と最小となるので記録パワーＰｗ＝１５ｍｗが選択される。もちろん、記録パワーではなく最小ジッタを選択してもよい。そして、最も良いジッタと他のジッタとの差を算出する（Ｓ２０７）。具体的には、Ｊ（１０ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝１１％
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝６％
Ｊ（１２ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝３％
Ｊ（１３ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝２％
Ｊ（１４ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝１％
Ｊ（１５ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝０％
となる。基準のジッタ量からの変化量を算出した後、予め制御部２４のメモリに記憶された目標値Ｊ０（最も良いジッタ（基準ジッタ量）からの変化量の目標値）が得られる記録パワーを直線近似などで算出する（Ｓ２０８）。上記の場合、Ｊ０＝４％とすると、この目標値に近い値は
Ｊ（１１ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝６％
Ｊ（１２ｍｗ）−Ｊ（１５ｍｗ）＝３％
であり、これらを直線近似して４％が得られる記録パワーとして１１．６６ｍｗが得られる。そこで、直線近似して得られたこの１１．６６ｍｗを記録マージンの得られる最適記録パワーに決定する（Ｓ２０９）。
【００４０】
本実施形態によっても、徒に記録パワーを増大させることなく、記録マージンが十分得られる最適記録パワーを決定することができる。
【００４１】
なお、このような直線近似は、第１実施形態にも同様に適用できることは言うまでもない。
【００４２】
＜第３実施形態＞
上述した第１、第２実施形態では再生信号品質としてジッタ量を用いているが、図２にも示したように、再生信号のエラーレートを用いて記録マージンの大小評価を行うことも可能である。なお、エラーレートは、デコーダ２２でデコードしたデータを図示しないエラー訂正回路で訂正する際の訂正ビット数から算出することができる。
【００４３】
図１２には、本実施形態における制御部２４の処理フローチャートが示されている。図９と異なる点は、ジッタ量の代わりにエラーレートを用いている点である。具体的には、Ｓ３０１〜Ｓ３０４は図９のＳ１０１〜Ｓ１０４と同一であり、Ｓ３０５で再生信号のエラーレートを算出し、Ｓ３０６で隣接する記録パワー間のエラーレート変化量（エラーレート差）を算出する。そして、Ｓ３０７で目標エラーレート差以上で最小のエラーレート差が得られる２つの記録パワーを抽出し、Ｓ３０８で２つの記録パワーのうち大きい記録パワーを最適記録パワーに決定する。
【００４４】
＜第４実施形態＞
第３実施形態において、第２実施形態と同様に基準エラーレートとの差を算出することで記録マージンの大小評価を行うこともできる。参考までに、図１３にはこの場合における制御部２４の処理フローチャートを示す。まず、図１２における処理Ａと同一の処理を実行し、最小となるエラーレートを選択する（Ｓ４０６）。その後、最小エラーレートとその他のエラーレートとの差、すなわちエラーレート変化量を算出し（Ｓ４０７）、エラーレート差目標値が得られる記録パワーを直線近似で算出して（Ｓ４０８）、最適記録パワーに決定する（Ｓ４０９）。
【００４５】
＜第５実施形態＞
第１〜第４実施形態では、ＯＰＣでの記録条件を劣化させるために光ディスク１０を光ピックアップ１４に対してチルトさせたが、光ピックアップ１４のフォーカス（ＦＳ）オフセットを最良点から変化させることによっても意図的に記録条件を劣化させることができる。
【００４６】
図１４には、この場合における制御部２４の処理フローチャートが示されている。図９と異なる点は、制御部２４が光ピックアップ１４に対して制御信号を供給してＦＳオフセット値を最良点Ｆｓｗから所定量ずらし（Ｓ５０２）、この状態でテストデータを記録する点である。
【００４７】
本実施形態によっても、ＯＰＣにおいて記録マージンを十分確保できる最適記録パワーを決定することができる。
【００４８】
なお、ＦＳオフセットをずらし、第２実施形態〜第４実施形態に示された方法と同様の方法で最適記録パワーを決定することもできることは言うまでもない。
【００４９】
以上、最適記録パワーの決定について説明したが、光ディスク１０が書き換え可能な光ディスク１０である場合、光ピックアップ１４から消去パワーのレーザ光（再生パワー＜消去パワー＜記録パワー）を照射することでデータを消去することが可能であり、この場合の消去パワーの最適化も図ることができる。
【００５０】
例えば、上述した第１〜第５実施形態の方法で最適記録パワーを決定した後、この最適記録パワーＰｗｏに所定の係数ε（ε＜１）を乗じることで最適消去パワーを決定することができる。
【００５１】
もちろん、第１〜第５実施形態に示された方法で最適消去パワーを決定することも可能である。例えば、図９において光ディスク１０をチルトさせ、消去パワーを種々変化させてテストデータをオーバライトし、オーバライトしたデータのジッタ量を測定する。消去パワーのマージンが十分ではない場合には、オーバライト時に前回のデータが消え残るためジッタ量が急激に増大する。そこで、ジッタ変化量から消去パワーのマージンを評価し、マージンの大きい最適消去パワーを決定することができる。
【００５２】
なお、本発明の方法により最適消去パワーを決定し、この最適消去パワーに係数を乗じて最適記録パワーを求める技術も可能であるが、このようにして最適記録パワーを求める技術は本発明と均等である。最適記録パワーは最適消去パワーに依存し、最適消去パワーは本発明により決定される以上、最適記録パワーは実質的に本発明により決定されていると言うことができるからである。
【００５３】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、種々の変更が可能である。例えば、光ディスク１０のランド及びグルーブのいずれにもデータを記録する場合、ランドとグルーブそれぞれについて目標値を決定し、上述した実施形態と同様の処理によりランド記録とグルーブ記録それぞれにおいて最適記録パワー（及び最適消去パワー）を決定することができる。
【００５４】
また、本実施形態では記録条件の劣化として、チルトとＦＳオフセットを例示したが、記録条件を劣化させる任意の条件が本発明に含まれる。このようなものとして、例えば回転速度がある。ＯＰＣ時に回転速度を本来の回転速度よりも増大させてテスト記録することで、記録マージンを評価することができる。
【００５５】
また、本実施形態では、チルトあるいはＦＳオフセットのいずれかを変化させて記録条件を劣化させたが、チルト及びＦＳオフセットのいずれも変化させて記録条件を劣化させることも可能である。
【００５６】
また、記録条件の劣化としてチルトとＦＳオフセットを用い、再生信号品質としてジッタとエラーレートを用い、全ての組み合わせを実行して最適記録パワー候補を選択し、これらの中から最もパワーの小さいもの（あるいは大きいもの）を最適記録パワーに決定することも可能である。全ての組み合わせのうち、上述した実施形態に示されていない組み合わせを採用できることも明らかである。例えば、光ディスク１０を円周方向にチルトさせるとともに、再生信号品質としてジッタ及びエラーレートを採用して最適記録パワーを決定する等である。チルトあるいはＦＳオフセットを複数段に変化させて同様の処理を行っても良い。
【００５７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、徒に記録パワーを増大させて耐久性を劣化させることなく、記録マージンを確保した最適記録パワーでデータを記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 記録パワーをパラメータとしたチルトとジッタ量の関係を示すグラフ図である。
【図２】 記録パワーをパラメータとしたチルトとエラーレートの関係を示すグラフ図である。
【図３】 記録パワーをパラメータとしたＦＳオフセットとジッタの関係を示すグラフ図である。
【図４】 記録パワーをパラメータとしたＦＳオフセットとエラーレートの関係を示すグラフ図である。
【図５】 実施形態に係る光ディスク装置の要部構成ブロック図である。
【図６】 光ディスクのチルト説明図である。
【図７】 半径方向のチルト説明図である。
【図８】 半径方向のチルト説明図である。
【図９】 第１実施形態の処理フローチャートである。
【図１０】 第１実施形態の処理説明図であり、隣接記録パワー間のジッタ変化量を示すグラフ図である。
【図１１】 第２実施形態の処理フローチャートである。
【図１２】 第３実施形態の処理フローチャートである。
【図１３】 第４実施形態の処理フローチャートである。
【図１４】 第５実施形態の処理フローチャートである。
【符号の説明】
１０ 光ディスク、１２ スピンドルモータ、１４ 光ピックアップ、１６ ＬＤ駆動部、１８ エンコーダ、２０ ＲＦ信号処理部、２２ デコーダ、２４制御部。
Claims (9)
- 光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、
前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて記録する手段と、
前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得られた再生信号品質に基づき最適記録パワーを決定する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項１記載の装置において、
前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間の再生信号品質の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項１、２のいずれかに記載の装置において、
前記記録条件の劣化は、前記光ディスクの光ピックアップに対する傾きであることを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項１、２のいずれかに記載の装置において、
前記記録条件の劣化は光ピックアップのフォーカスオフセット値変化であることを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項２記載の装置において、
前記再生信号品質はジッタ量であり、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項２記載の装置において、
前記再生信号品質はエラーレートであり、前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレートの変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項５記載の装置において、
前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項６記載の装置において、
前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレートの変化量と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装置。 - 光ディスクの所定領域に記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装置であって、
前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて記録する手段と、
前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得られた再生信号品質の劣化が相対的に少ない記録パワーを最適記録パワーとして決定する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
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