JP2004030820A - レーザビーム強度決定方法、これに用いる臨界値の生成方法、オーバーライト回数決定プログラム及び光記録媒体 - Google Patents
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Abstract
【課題】クロスイレーズによる影響が十分に考慮されたレーザビーム強度決定方法を提供する。
【解決手段】クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数ｘを特定し、さらに、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における信号振幅の変化とｘ回のクロスイレーズによる影響を受ける前後におけるジッタの変化との関係から、許容しうるジッタの変化量または変化率に対応した、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における信号振幅の変化量または変化率を臨界値として特定する。そして、ＯＰＣにおいて１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における信号振幅の変化量または変化率を測定し、得られた値と臨界値とを比較し、その結果に基づいてレーザビームの強度を決定する。これにより、レーザビーム強度としてクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができる。
【選択図】 図７
【解決手段】クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数ｘを特定し、さらに、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における信号振幅の変化とｘ回のクロスイレーズによる影響を受ける前後におけるジッタの変化との関係から、許容しうるジッタの変化量または変化率に対応した、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における信号振幅の変化量または変化率を臨界値として特定する。そして、ＯＰＣにおいて１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における信号振幅の変化量または変化率を測定し、得られた値と臨界値とを比較し、その結果に基づいてレーザビームの強度を決定する。これにより、レーザビーム強度としてクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができる。
【選択図】 図７
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザビーム強度決定方法に関し、特に、書き換え型光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法に関する。また、本発明は、レーザビームの強度決定を行うために用いる臨界値の生成方法及び臨界値を生成する前段階で用いるオーバーライト回数決定プログラムに関し、特に、書き換え型光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定を行うために用いる臨界値の生成方法及びその前段階で用いるオーバーライト回数決定プログラムに関する。さらに、本発明は光記録媒体に関し、特に、書き換え型の光記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、デジタルデータを記録するための記録媒体として、ＣＤやＤＶＤに代表される光記録媒体が広く利用されており、そのデータ記録方式としては、記録すべきデータをトラックに沿った記録マークの長さに変調するという方式が広く用いられている。例えば、ユーザによるデータの書き換えが可能な光記録媒体の一種であるＤＶＤ−ＲＷにおいては、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔは１クロック周期）に対応する長さの記録マークが用いられ、これによってデータの記録が行われる。
【０００３】
このような記録マークの形成においては、強度変調されたレーザービームが光記録媒体のトラックに沿って照射され、これによって光記録媒体内の相変化材料からなる記録層に所定の長さを持ったアモルファス領域が形成され、これが記録マークとして用いられる。記録層のうちアモルファス状態でない部分は結晶状態となっており、ブランク領域として用いられる。
【０００４】
記録層に記録マークを形成する場合、記録層に照射するレーザビームのパワーを十分に高いレベル（記録パワーＰｗ）に設定することによって記録層を融点を超える温度に加熱し、その後、レーザビームのパワーを十分に低いレベル（基底パワーＰｂ）に変化させることによって記録層を急冷する。これにより、相変化材料が結晶状態からアモルファス状態に変化し、記録マークが形成される。一方、既に形成された記録マークを消去する場合、記録層に照射するレーザビームのパワーを記録パワーＰｗ以下、基底パワーＰｂ以上のレベル（消去パワーＰｅ）に設定することによって記録層を結晶化温度以上に加熱し、徐冷する。これにより、相変化材料がアモルファス状態から結晶状態に変化し、記録マークが消去される。したがって、レーザビームのパワーを記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、基底パワーＰｂからなる複数のレベルに強度変調することによって、記録層の未記録領域に記録マークを形成するだけでなく、既に記録マークが形成されている領域にこれと異なる記録マークを直接上書き（ダイレクトオーバーライト）することが可能となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、書き換え型の光記録媒体、特に記録層が相変化材料からなる光記録媒体においては、隣のトラックに対して書き込みが行われた場合、当該トラックに既に書き込まれているデータのキャリアレベルの低下、いわゆるクロスイレーズが生じる場合がある。
【０００６】
近年、データの記録密度が高められ、且つ、非常に高いデータ転送レートを実現可能な次世代型の光記録媒体が提案されている。このような次世代型の光記録媒体においては、高データ転送レートを実現するため記録線速度が従来の光記録媒体に比べて非常に高く設定されるが、一般に、記録線速度が高くなるほど記録マークの形成に必要な記録パワーＰｗも高くなることから、次世代型の光記録媒体においては、従来の光記録媒体に比べてクロスイレーズが非常に生じやすい。また、クロスイレーズは、トラックピッチＴＰとビームスポット径Ｄとの比（ＴＰ／Ｄ）が小さいほど生じやすくなるが、次世代型の光記録媒体においては、従来の光記録媒体に比べてトラックピッチＴＰとビームスポット径Ｄとの比（ＴＰ／Ｄ）が小さい点も、クロスイレーズが生じやすくなる大きな理由となっている。
【０００７】
このため、次世代型の光記録媒体に対するデータの書き込みにおいては、クロスイレーズによる影響を十分に考慮して記録パワーＰｗを設定する必要がある。
【０００８】
したがって、本発明の目的は、クロスイレーズによる影響が十分に考慮されたレーザビーム強度決定方法を提供することである。
【０００９】
また、本発明の他の目的は、クロスイレーズによる影響を十分に考慮してレーザビームの強度決定を行うために用いる臨界値の生成方法及びかかる臨界値の生成の前段階で用いられるオーバーライト回数決定プログラムを提供することである。
【００１０】
また、本発明のさらに他の目的は、クロスイレーズによる影響を十分に考慮してレーザビームの強度決定を行うために用いる情報が格納された光記録媒体を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明のかかる目的は、書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法であって、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定するステップと、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化と前記特定された回数である第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化との関係から、前記第２の信号特性の所定の変化量または変化率に対応した、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化量または変化率を臨界値として特定するステップと、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化量または変化率を測定し、得られた値と前記臨界値とを比較するステップとを備えるレーザビーム強度決定方法によって達成される。
【００１２】
本発明によれば、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化を測定することによって、実際に第２の信号特性を測定することなく、第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化の程度を知ることができるので、レーザビームの強度として、クロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができる。したがって、本発明によれば、次世代型の光記録媒体のようにクロスイレーズが生じやすい光記録媒体に対してデータを記録する場合であっても、クロスイレーズの影響を十分に抑制することが可能となる。しかも、本発明によれば、実際に第２の信号特性を測定する必要がないので、レーザビーム強度決定に必要な試し書きの回数を減らすことができるとともに、測定する信号特性の種類を削減することが可能となる。さらに、本発明によれば、第２の回数としてクロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を用いているので、正確且つ短時間で臨界値を決定することが可能となる。
【００１３】
また、前記第１の回数が１回であることが好ましい。これによれば、少ない回数の試し書きによって、多くの回数の試し書きを行った場合の信号特性の変化をシミュレーションすることが可能となる。
【００１４】
さらに、前記第１の信号特性が信号振幅であり、前記第２の信号特性がジッタ若しくはエラーレートであることが好ましい。これによれば、実際にジッタやエラーレートを測定することなく、信号振幅を測定することによってジッタやエラーレートの変化をシミュレーションすることが可能となる。また、前記クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定するステップは、クロスイレーズの影響によりジッタ若しくはエラーレートが実質的に飽和する回数を特定するものであることが好ましい。
【００１５】
本発明の前記目的はまた、書き換え型光記録媒体の隣接する少なくとも２本のトラックにテスト信号を記録する第１のステップと、前記２本のトラックに記録されたテスト信号を再生する第２のステップと、少なくとも、一方のトラックより得られた再生信号の第１の信号特性に関する検出値と他方のトラックより得られた再生信号の前記第１の信号特性に関する検出値に基づき、これらの差に関する値を生成する第３のステップと、前記差に関する値と臨界値とを比較する第４のステップとを備え、前記臨界値が、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化と所定回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化との関係から、複数回のクロスイレーズによる影響を受ける前後において許容し得る前記第２の信号特性の変化量または変化率に基づいて定められたものであり、さらに、前記所定回数が、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数であることを特徴とするレーザビーム強度決定方法によって達成される。
【００１６】
本発明においても、少なくとも２本のトラックにテスト信号を記録し、記録されたテスト信号の第１の信号特性を測定するだけで、実際に第２の信号特性を測定することなく、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和した場合の第２の信号特性の変化の程度を知ることができる。したがって、レーザビームの強度として、クロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができる。
【００１７】
この場合、前記第１の信号特性が信号振幅であり、前記第２の信号特性がジッタ若しくはエラーレートであることが好ましい。
【００１８】
本発明の前記目的はまた、書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法であって、クロスイレーズによる影響を受けた回数と所定の信号特性との関係を特定する第１のステップと、前記関係をもとに、クロスイレーズによる前記所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を特定する第２のステップと、前記飽和する回数を示す情報を光記録媒体に記録する第３のステップとを備えるレーザビーム強度決定方法によって達成される。
【００１９】
本発明によれば、クロスイレーズによる影響が飽和する回数が光記録媒体に記録されるので、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）において、レーザビームの強度としてクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を簡単に得ることが可能となる。
【００２０】
本発明の前記目的はまた、書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定に用いられる臨界値の生成方法であって、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定する第１のステップと、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化を測定する第２のステップと、前記特定された回数である第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化を測定する第３のステップと、前記第２及び第３のステップによる測定の結果に基づき、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化と前記第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第２の信号特性の変化との関係を特定する第４のステップと、前記第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後において許容し得る前記第２の信号特性の変化量または変化率に対応する、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化量または変化率を前記臨界値として特定する第５のステップとを備える臨界値の生成方法によって達成される。
【００２１】
本発明の前記目的はまた、コンピュータ制御により、クロスイレーズによる影響を受けた回数と所定の信号特性との関係を特定する第１のステップと、前記関係をもとに、クロスイレーズによる前記所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を特定する第２のステップと、前記飽和する回数を示す情報を光記録媒体に記録する第３のステップとを実行させるためのオーバーライト回数決定プログラムによって達成される。
【００２２】
本発明の前記目的はまた、書き換え型の光記録媒体であって、クロスイレーズによる所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を示す情報が格納されていることを特徴とする光記録媒体によって達成される。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施態様について詳細に説明する。
【００２４】
図１は、本実施態様にかかるレーザビーム強度決定方法を示すフローチャートである。以下に詳述するとおり、本実施態様にかかるレーザビーム強度決定方法は、実際にユーザデータの記録を行う前に、情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないし、光記録媒体の製造過程において、メーカ側において実行しても構わないが、レーザビームの強度として実際の記録環境に即した値を得るためには、実際にユーザデータの記録を行う情報記録装置側において実行することが好ましい。尚、情報記録装置において最適なレーザビームの強度を決定する方法は、一般にＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれている。
【００２５】
本実施態様の方法によるレーザビーム強度決定においては、まず、対象となる光記録媒体のパワーキャリブレーションエリアに対し、記録パワーＰｗを所定の強度に設定して、連続する３トラックにテスト信号の記録を行う（ステップＳ１）。ここで、パワーキャリブレーションエリアとは、レーザビームの強度決定を行うための上記テスト信号等を記録する領域をいい、ユーザデータを格納すべき領域とは別に光記録媒体の例えば内周部分に割り当てられている。
【００２６】
また、記録パワーＰｗの強度としては、使用する情報記録装置が任意に決定しても良いし、光記録媒体内に格納された情報に基づいて決定しても良い。さらに、テスト信号の内容は特に限定されず、単一信号であっても混合信号であっても構わない。但し、テスト信号の記録に用いるパルス列パターン（記録ストラテジ）としては、実際にユーザデータを記録する場合に使用するパルス列パターンと同じパルス列パターンを用いる必要があり、記録線速度についても、実際にユーザデータを記録する場合の記録線速度と同じ記録線速度に設定する必要がある。
【００２７】
以下、ステップＳ１においてテスト信号が記録された３本のトラックを、図２に示すように、記録が行われた順に第１トラック、第２トラック、第３トラックと呼ぶ。この場合、第１トラックについては、第２トラックに対するデータの記録によってクロスイレーズが生じている可能性があり、また、第２トラックについては、第３トラックに対するデータの記録によってクロスイレーズが生じている可能性がある。一方、第３トラックについては、最後に記録されたトラックであることから、クロスイレーズが生じている可能性はない。
【００２８】
次に、第２トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ２）、得られる再生信号に基づいてレーザビームの強度決定に必要な信号特性を測定する（ステップＳ３）。ここで、レーザビームの強度決定に必要な信号特性としては、アシンメトリやβ値等を挙げることができる。尚、ステップＳ２においては、第２トラックに記録されたテスト信号を再生していることから、得られる信号特性は、両側からのクロストークの影響が考慮されたものとなる。
【００２９】
次に、ステップＳ３において測定された所定の信号特性が基準値を満たしているか否かを判断する（ステップＳ４）。この場合、ステップＳ３において測定された信号特性が複数（例えば、アシンメトリとβ値）である場合には、基準値はこれら複数の信号特性ごとに設定され、その全てが基準値を満たしているか否かが判断される。
【００３０】
その結果、基準値を満たしていないと判断された場合には、ステップＳ１において設定した記録パワーＰｗのレベルが不適切であることが原因と考えられるので、これを変更して再度連続する３トラック（第１、第２及び第３トラック）にテスト信号の記録を行う（ステップＳ５）。この場合、テスト信号の記録を行う３本のトラックとしては、未記録のトラックを用いることが好ましい。
【００３１】
一方、ステップＳ４において基準値を満たしていると判断された場合には、第２トラック及び第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ６）、得られる再生信号の振幅を測定する（ステップＳ７）。ここで、再生信号の振幅とは、記録マークが形成された領域における反射率とブランク領域における反射率との差を意味し、テスト信号が混合信号である場合には最長マークの振幅を測定することが好ましい。尚、ステップＳ３において第２トラックに記録されたテスト信号の振幅が既に測定されている場合には、ステップＳ６においては、第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行う必要はない。この場合、上述の通り、第２トラックに記録されたテスト信号はクロスイレーズの影響を受けている可能性がある一方、第３トラックに記録されたテスト信号はクロスイレーズの影響を受けていないことから、通常は、第２トラックより得られる再生信号の振幅（Ｄ２）は第３トラックより得られる再生信号の振幅（Ｄ３）よりも小さくなるはずである。
【００３２】
次に、第２トラックより得られた再生信号の振幅（Ｄ２）と第３トラックより得られた再生信号の振幅（Ｄ３）に基づいて、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）を算出する（ステップＳ８）。この場合、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）としては、振幅（Ｄ２）と振幅（Ｄ３）との差を振幅（Ｄ３）で規格化した値、すなわち、
（Ｄ３−Ｄ２）／Ｄ３
とすることが好ましい。
【００３３】
次に、ステップＳ８において算出された第１の信号振幅減少率（Ｒ１）が臨界値以下であるか否かを判断する（ステップＳ９）。ステップＳ９で用いる臨界値は、後述する方法により決定される。
【００３４】
その結果、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）が臨界値を越えている場合には、クロスイレーズの影響が大きいことが分かるので、記録パワーＰｗを低くして再度連続する３トラック（第１、第２及び第３トラック）にテスト信号の記録を行う（ステップＳ１０）。この場合も、テスト信号の記録を行う３本のトラックとしては、未記録のトラックを用いることが好ましい。一方、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）が臨界値以下である場合には、クロスイレーズの影響が十分に小さいことが分かるので、当該記録パワーＰｗを最適パワーとして決定する（ステップＳ１１）。
【００３５】
以上のような方法を用いることにより、記録パワーＰｗをクロスイレーズによる影響が十分に考慮されたレベルに設定することが可能となる。尚、図１に示すレーザビーム強度決定方法は、「レーザビーム強度決定プログラム」をコンピュータが実行することによって実施可能である。
【００３６】
次に、ステップＳ９で用いる臨界値の決定方法について説明する。
【００３７】
図３は、ステップＳ９で用いる臨界値の決定方法を示すフローチャートである。以下に詳述するとおり、かかる臨界値の決定については、可能であれば実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、光記録媒体の製造過程においてメーカ側が実行することが好ましい。
【００３８】
臨界値の決定においては、まず、変数ｉを０にリセットし（ステップＳ２１）、次に、対象となる光記録媒体のパワーキャリブレーションエリアに対し、記録パワーＰｗを予め定められた最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）に設定して（ステップＳ２２）、連続する３トラックにテスト信号の記録を行う（ステップＳ２３）。テスト信号の内容は特に限定されず、単一信号であっても混合信号であっても構わないが、テスト信号の記録に用いるパルス列パターン（記録ストラテジ）としては、実際にユーザデータを記録する場合に使用するパルス列パターンと同じパルス列パターンを用いる必要があり、記録線速度についても、実際にユーザデータを記録する場合の記録線速度と同じ記録線速度に設定する必要がある。また、図２に示したとおり、ステップＳ２３においてテスト信号が記録された３本のトラックを、記録した順に第１トラック、第２トラック、第３トラックと呼ぶ。
【００３９】
次に、第２トラック及び第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ２４）、得られる再生信号に基づいてジッタ及び信号振幅を測定する（ステップＳ２５）。この場合、第３トラックに記録されたテスト信号のジッタ及び信号振幅は、クロスイレーズによる影響を受けていない場合の値（Ｓｉｎｇｌｅ）であり、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタ及び信号振幅は、クロスイレーズの影響を片側から１回受けた状態における値（Ｃｒｏｓｓ１）である。したがって、Ｃｒｏｓｓ１の値はＳｉｎｇｌｅの値よりも悪化していることが一般的である。尚、ステップＳ２４におけるジッタの測定は、第２トラックについてのみ行えば足り、第３トラックについてはこれを行わなくても構わない。
【００４０】
次に、変数ｉをインクリメントした後（ステップＳ２６）、上記第１トラック及び第３トラックに対してダイレクトオーバーライトを行う（ステップＳ２７）。記録条件としては、ステップＳ２３における記録条件と同様の条件に設定する必要がある。これにより、第２トラックに記録されたテスト信号は、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ１回及び２回受けた状態となる。
【００４１】
次に、変数ｉが所定値ｘに一致しているか否かを判断し（ステップＳ２８）、その結果、変数ｉが所定値ｘに一致していなければ（１〜ｘ−１であれば）、ステップＳ２６に戻って変数ｉのインクリメントを行った後（ステップＳ２６）、再び第１トラック及び第３トラックに対するダイレクトオーバーライトを行う（ステップＳ２７）。ステップＳ２８で用いる所定値ｘとは、クロスイレーズの影響が実質的に飽和する回数であり、後述する方法により決定される。
【００４２】
一方、ステップＳ２８において変数ｉが所定値ｘに一致していれば、第２トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ２９）、得られる再生信号に基づいてジッタ及び信号振幅を測定する（ステップＳ３０）。ステップＳ２８において変数ｉが所定値ｘに一致していると言うことは、ステップＳ２６〜ステップＳ２８からなるループをｘ回繰り返したことを意味するため、この場合、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタ及び信号振幅は、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれｘ回及びｘ＋１回受けた状態における値（Ｃｒｏｓｓ（ｘ＋１））となっている。したがって、Ｃｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値は上記Ｃｒｏｓｓ１の値よりもさらに悪化していることが一般的である。
【００４３】
以上より、現在設定されている記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値を得ることができる。
【００４４】
そして、現在設定されている記録パワーＰｗに予め定められたパワー（α）を付加して新たに設定された記録パワーＰｗとし（ステップＳ３１）、その結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えたか否かを判断する（ステップＳ３２）。
【００４５】
その結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えていない場合には、ステップＳ２１に戻って、再びステップＳ２１〜ステップＳ３２からなるループを実行する。これにより、新たに設定された記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値を得ることができる。
【００４６】
一方、ステップＳ３２において、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えている場合には、ステップＳ２１〜ステップＳ３２からなるループを終了する。これにより、各記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値が全て得られたことになる。
【００４７】
次に、このようにして得られた各記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値を用いて、図４に示すテーブルＴを作成する（ステップＳ３３）。図４に示すように、テーブルＴには、各記録パワーＰｗごとの第１の信号振幅減少率（Ｒ１）、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）及びジッタ劣化度（Ｒ３）が示されている。
【００４８】
ここで、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とは、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差を信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値で規格化した値、すなわち、
（信号振幅Ｓｉｎｇｌｅ−信号振幅Ｃｒｏｓｓ１）／信号振幅Ｓｉｎｇｌｅ
で示される値であり、これが各記録パワーＰｗごとに算出される。このうち、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値は上述した振幅Ｄ３に対応し、信号振幅Ｃｒｏｓｓ１の値は上述した振幅Ｄ２に対応している。また、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とは、信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値で規格化した値、すなわち、
（信号振幅Ｃｒｏｓｓ１−信号振幅Ｃｒｏｓｓ（ｘ＋１））／信号振幅Ｃｒｏｓｓ１
で示される値であり、これが各記録パワーＰｗごとに算出される。さらに、ジッタ劣化度（Ｒ３）とは、ジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差、すなわち、
ジッタＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）−ジッタＣｒｏｓｓ１
で示される値であり、これが各記録パワーＰｗごとに算出される。
【００４９】
このようにしてテーブルＴが作成されると、次に、テーブルＴを参照することによって、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とジッタ劣化度（Ｒ３）との関係式（第１の関係式）を導く（ステップＳ３４）。具体的には、テーブルＴに含まれる第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とこれに対応するジッタ劣化度（Ｒ３）との関係を仮想的なグラフ上にプロットし、これに基づいて近似式を作成すればよい。図５は、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とこれに対応するジッタ劣化度（Ｒ３）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。図５に示すように、かかるグラフにおいては、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とジッタ劣化度（Ｒ３）との関係は、概ね１次関数で表すことができる。
【００５０】
次に、テーブルＴを参照することによって、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）と第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係式（第２の関係式）を導く（ステップＳ３５）。具体的には、テーブルＴに含まれる第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係を仮想的なグラフ上にプロットし、これに基づいて近似式を作成すればよい。図６は、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。図６に示すように、かかるグラフにおいては、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）と第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係は、概ね２次関数で表すことができる。
【００５１】
そして、ステップＳ３４において作成した第１の関係式を用いて、実使用状態において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）からこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）を算出し、さらに、ステップＳ３５において作成した第２の関係式を用いて、上記算出された第２の信号振幅減少率（Ｒ２）からこれに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）を算出し、これを臨界値として決定する（ステップＳ３６）。例えば、実使用状態において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）が「ａ」である場合、図５に示すように、これに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）は「ｂ」となり、さらに、図６に示すように、これに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）は「ｃ」となるので、最終的に臨界値として「ｃ」を得ることができる。
【００５２】
以上により、ステップＳ９で用いる臨界値として、実使用状態において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）に対応した第１の信号振幅減少率（Ｒ１）を得ることが可能となる。ここで、ジッタ劣化度（Ｒ３）とは、上述の通り、ジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差で示される値、すなわち、クロスイレーズの影響を片側から１回受けた状態におけるジッタと、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ９回及び１０回受けた状態におけるジッタとの差であることから、得られる臨界値は、多数回のクロスイレーズによるジッタの劣化が許容量を越える場合に得られるであろう第１の信号振幅減少率（Ｒ１）に一致する。
【００５３】
したがって、上述した方法により得られた臨界値を上記ステップＳ９において用いれば、図１に示すレーザビームの強度決定において、実際に多数回のオーバーライトを行ったりジッタを測定したりすることなく、多数回のクロスイレーズによるジッタの劣化を考慮した最適記録パワーＰｗの決定を行うことが可能となる。尚、図３に示す臨界値の決定方法は、「臨界値決定プログラム」をコンピュータが実行することによって実施可能である。
【００５４】
次に、ステップＳ２８で用いる所定値ｘの決定方法について説明する。
【００５５】
図７は、ステップＳ２８で用いる所定値ｘの決定方法を示すフローチャートである。以下に詳述するとおり、かかる所定値ｘの決定については、可能であれば実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、上記臨界値の決定方法と同様、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、光記録媒体の製造過程においてメーカ側が実行することが好ましい。
【００５６】
所定値ｘの決定においては、まず、変数ｊを０にリセットし（ステップＳ４１）、次に、対象となる光記録媒体のパワーキャリブレーションエリアに対し、記録パワーＰｗを予め定められた最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）に設定して（ステップＳ４２）、連続する３トラックにテスト信号の記録を行う（ステップＳ４３）。ステップＳ４２において用いる最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）としては、ステップＳ２２において用いる最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）と同じであっても異なっていても構わないが、所定値ｘの決定に際しては、臨界値の決定ほど広範囲に亘る測定を行う必要はないので、ステップＳ２２において用いる最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）よりも高いレベルに設定することが好ましい。
【００５７】
また、ステップＳ４３において記録するテスト信号の内容は特に限定されず、単一信号であっても混合信号であっても構わないが、テスト信号の記録に用いるパルス列パターン（記録ストラテジ）としては、実際にユーザデータを記録する場合に使用するパルス列パターンと同じパルス列パターンを用いる必要があり、記録線速度についても、実際にユーザデータを記録する場合の記録線速度と同じ記録線速度に設定する必要がある。また、図２に示したとおり、ステップＳ４３においてテスト信号が記録された３本のトラックを、記録した順に第１トラック、第２トラック、第３トラックと呼ぶ。
【００５８】
次に、第２トラック及び第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ４４）、得られる再生信号に基づいてジッタを測定する（ステップＳ４５）。この場合、第３トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズによる影響を受けていない場合の値（ジッタＳｉｎｇｌｅ）であり、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズの影響を片側から１回受けた状態における値（ジッタＣｒｏｓｓ１）である。このため、上述の通り、Ｃｒｏｓｓ１の値（ジッタＣｒｏｓｓ１）はＳｉｎｇｌｅの値（ジッタＳｉｎｇｌｅ）よりも悪化していることが一般的である。
【００５９】
次に、変数ｊをインクリメントした後（ステップＳ４６）、上記第１トラック及び第３トラックに対してダイレクトオーバーライトを行う（ステップＳ４７）。記録条件としては、ステップＳ４３における記録条件と同様の条件に設定する必要がある。これにより、第２トラックに記録されたテスト信号は、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ１回及び２回受けた状態となる。
【００６０】
次に、第２トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ４８）、得られる再生信号に基づいてジッタを測定する（ステップＳ４９）。この場合、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ１回及び２回受けた状態における値（ジッタＣｒｏｓｓ２）である。このため、クロスイレーズの影響が既に飽和していない限り、Ｃｒｏｓｓ２の値（ジッタＣｒｏｓｓ２）はＣｒｏｓｓ１の値（ジッタＣｒｏｓｓ１）よりも悪化しているはずである。
【００６１】
次に、変数ｊが所定値ｙに一致しているか否かを判断し（ステップＳ５０）、その結果、変数ｊが所定値ｙに一致していなければ（１〜ｙ−１であれば）、ステップＳ４６に戻って変数ｊのインクリメントを行った後（ステップＳ４６）、再び第１トラック及び第３トラックに対するダイレクトオーバーライト（ステップＳ４７）、第２トラックに記録されたテスト信号の再生（ステップＳ４８）及びジッタの測定（ステップＳ４９）を行う。ここで、ステップＳ５０で用いる所定値ｙとは、記録パワーＰｗが最適強度またはこれに近い強度である場合に、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を十分に越える回数に設定され、通常、最適な記録パワーを用いた場合にはクロスイレーズによる影響が１０回以内に飽和することを考慮すれば、所定値ｙの具体的な回数としては１０回〜２０回程度に設定することが好ましい。
【００６２】
一方、ステップＳ５０において変数ｊが所定値ｙに一致していれば、現在設定されている記録パワーＰｗに予め定められたパワー（α）を付加して新たに設定された記録パワーＰｗとし（ステップＳ５１）、その結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えたか否かを判断する（ステップＳ５２）。ステップＳ５１において付加されるパワー（α）としては、ステップＳ３１において付加されるパワー（α）と同じであっても異なっていても構わないが、所定値ｘの決定に際しては、臨界値の決定ほど厳密な測定を行う必要はないので、ステップＳ３１において付加されるパワー（α）よりも大きな値に設定することが好ましい。また、ステップＳ５２において用いる最高パワーＰｗ（ｍａｘ）としては、ステップＳ３２において用いる最高パワーＰｗ（ｍａｘ）と同じであっても異なっていても構わないが、上述の通り、所定値ｘの決定に際しては臨界値の決定ほど広範囲に亘る測定を行う必要はないので、ステップＳ３２において用いる最高パワーＰｗ（ｍａｘ）よりも低いレベルに設定することが好ましい。
【００６３】
尚、ステップＳ５０において変数ｊが所定値ｙに一致していると言うことは、ステップＳ４６〜ステップＳ５０からなるループをｙ回繰り返したことを意味するため、この場合、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれｙ回及びｙ＋１回受けた状態における値（Ｃｒｏｓｓ（ｙ＋１））となっている。上述の通り、所定値ｙは記録パワーＰｗが最適強度またはこれに近い強度である場合に、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を十分に越える回数に設定されていることから、ステップＳ５０において変数ｊが所定値ｙに一致した場合、記録パワーＰｗが最適強度またはこれに近い強度である限り、クロスイレーズによる影響は十分に飽和しているはずである。これにより、現在の記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を得ることができる。
【００６４】
そして、ステップＳ５２における判断の結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えていない場合には、ステップＳ４１に戻って、再びステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行する。これにより、新たに設定された記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を得ることができる。
【００６５】
一方、ステップＳ５２において、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えている場合には、ステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを終了する。これにより、各記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値が全て得られたことになる。
【００６６】
次に、このようにして得られた各記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を解析し、その結果に基づいて所定値ｘを決定する（ステップＳ５３）。具体的には、次のようにジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を解析し、所定値ｘを決定する。
【００６７】
図８は、クロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を記録パワーＰｗごとに示すグラフの一例である。ここで、ジッタ劣化度（Ｒ３）とは、ジッタのＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１〜Ｃｒｏｓｓ（ｙ＋１）のそれぞれの値との差、すなわち、
ジッタＣｒｏｓｓ１−ジッタＳｉｎｇｌｅ から、
ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）−ジッタＳｉｎｇｌｅ
で示される各値を指す。
【００６８】
図８に示すように、各記録パワーともクロスイレーズ回数が増えるにしたがって、ジッタ劣化度（Ｒ４）も増大するが、記録パワーが所定の範囲内である場合（図８ではＰｗ１〜Ｐｗ３）には、所定の回数を越えるとジッタ劣化度（Ｒ４）はそれ以上増大しなくなる。すなわち、クロスイレーズの影響は実質的に飽和する。したがって、かかる所定の回数を「所定値ｘ」として決定すればよい。
【００６９】
一方、記録パワーが上記所定の範囲外である場合（図８ではＰｗ４）には、上記所定の回数を超えてもジッタ劣化度（Ｒ４）の増大は続き、場合によっては最大数（ｙ＋１回）に達してもクロスイレーズの影響が飽和しない。また、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値自体も、記録パワーが上記所定の範囲内である場合と比べて非常に大きい。このような傾向を示すのは、記録パワーＰｗが最適値から大きく外れていることが原因である。したがって、最大数（ｙ＋１回）に達してもクロスイレーズの影響が飽和しない場合、または、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値が非常に大きい場合には、所定値ｘの決定に際してこれを考慮する必要はない。尚、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値が非常に大きい場合とは、特に限定されるものではないが、数回のクロスイレーズによるジッタの劣化度（Ｒ４）が４％を越えるような場合が該当する。
【００７０】
以上により、ステップＳ２８で用いる所定値ｘとして、クロスイレーズの影響が実質的に飽和する回数を得ることが可能となる。
【００７１】
したがって、上述した方法により得られた所定値ｘを上記ステップＳ２８において用いれば、図３に示す臨界値の決定におけるステップＳ２６〜ステップＳ２８からなるループを、ちょうどクロスイレーズの影響が実質的に飽和するまで繰り返せばステップＳ２９に進めるので、クロスイレーズの影響が飽和した後も上記ループを無駄に多数回繰り返したり、逆に、クロスイレーズの影響が飽和する前にステップＳ２９に進んだりすることがなくなる。尚、図７に示す所定値ｘの決定方法は、「オーバーライト回数決定プログラム」をコンピュータが実行することによって実施可能である。
【００７２】
次に、レーザビームの強度決定方法（図１参照）、臨界値の決定方法（図３参照）及び所定値ｘの決定方法（図７参照）を実際に実行するタイミングについて説明する。
【００７３】
まず、図７に示す所定値ｘの決定方法については、図３に示す臨界値の決定方法を実行する前であれば、光記録媒体の製造段階において実行してもよく、実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、上述の通り、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、光記録媒体の製造段階において、メーカ側が実行することが好ましい。
【００７４】
また、図３に示す臨界値の決定方法については、図１に示すレーザビームの強度決定方法を実行する前であれば、光記録媒体の製造段階において実行してもよく、実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、上述の通り、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、図７に示す所定値ｘの決定と同様、光記録媒体の製造段階において、メーカ側が実行することが好ましい。一方、図１に示すレーザビームの強度決定方法については、臨界値の決定を行った後、実際にユーザデータの記録を行う前であれば、情報記録装置側において実行しても構わないし、光記録媒体の製造過程において、メーカ側において実行しても構わないが、レーザビームの強度として実際の記録環境に即した値を得るためには、実際にユーザデータの記録を行う情報記録装置側において実行することが好ましい。
【００７５】
ここで、所定値ｘの決定（図７）と臨界値の決定（図３）とを異なるタイミングに行う場合、例えば、所定値ｘの決定を光記録媒体の製造段階において行い、臨界値の決定を情報記録装置において行う場合には、決定された所定値ｘを当該光記録媒体に格納しておくことが好ましい。このように、所定値ｘを光記録媒体に格納しておけば、実際にユーザデータの記録を行う前に、光記録媒体に記録された所定値ｘを参照することにより情報記録装置側において図３に示す臨界値の決定を実行することが可能となる。この場合、図３に示す臨界値の決定を上述した「臨界値決定プログラム」に基づいて行うためには、これが情報記録装置に格納されている必要がある。しかしながら、「臨界値決定プログラム」を当該光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置に臨界値決定プログラムが格納されていない場合であっても、光記録媒体からこれを読み出すことにより実行することが可能となる。
【００７６】
さらに、臨界値の決定とレーザビームの強度決定とを異なるタイミングに行う場合、例えば、臨界値の決定を光記録媒体の製造段階において行い、レーザビームの強度決定を情報記録装置において行う場合には、決定された臨界値を当該光記録媒体に格納しておくことが好ましい。このように、臨界値を光記録媒体に格納しておけば、実際にユーザデータの記録を行う前に、光記録媒体に記録された臨界値を参照することにより情報記録装置側において図１に示すレーザビームの強度決定を容易に実行することが可能となる。この場合、図１に示すレーザビームの強度決定を上述した「レーザビーム強度決定プログラム」に基づいて行うためには、これが情報記録装置に格納されている必要がある。しかしながら、「レーザビーム強度決定プログラム」を当該光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置にレーザビーム強度決定プログラムが格納されていない場合であっても、光記録媒体からこれを読み出すことにより実行することが可能となる。
【００７７】
また、決定された臨界値とともに、または決定された臨界値に代えて、ステップＳ３４において作成された第１の関係式及びステップＳ３５において作成された第２の関係式を当該光記録媒体に格納しておくこともまた好ましい。第１及び第２の関係式を光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置側において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）を任意に設定し、図１に示すレーザビームの強度決定においてこれに対応した臨界値を用いることが可能となる。この場合、第１の関係式と第２の関係式とを光記録媒体に別個に格納しておく必要はなく、許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）からこれに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）、すなわち臨界値を算出可能である限り、第１の関係式と第２の関係式とが一つにまとめられた式を光記録媒体に格納しておいても構わない。
【００７８】
さらに、決定された臨界値及び／又は第１及び第２の関係式とともに、またはこれらに代えて、ステップＳ３３において作成されたテーブルＴを当該光記録媒体に格納しておくこともまた好ましい。テーブルＴを光記録媒体に格納しておけば、新たな記録パワーＰｗを用いてステップＳ２１〜ステップＳ３２を追加的に実行し、その結果をテーブルＴに加えることによってその内容をより充実させることが可能となる。また、既にステップＳ２１〜ステップＳ３２において用いられた記録パワーＰｗと同じ記録パワーＰｗを用いてこれを情報記録装置側において再度実行し、その結果をテーブルＴに追加し又は対応する内容を更新すれば、テーブルＴの内容を実際の記録環境により即したものとすることができる。
【００７９】
また、情報記録装置側において所定値ｘの決定を上述した「オーバーライト回数決定プログラム」に基づいて行うためには、これが情報記録装置に格納されている必要があるが、「オーバーライト回数決定プログラム」を当該光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置にオーバーライト回数決定プログラムが格納されていない場合であっても、光記録媒体からこれを読み出すことにより実行することが可能となる。
【００８０】
次に、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の構造について説明する。
【００８１】
図９は、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の構造の一例を示す断面図である。
【００８２】
図９に示すように、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体１０は、基板１１と、基板１１上に設けられた反射層１２と、反射層１２上に設けられた第２の誘電体層１３と、第２の誘電体層１３上に設けられた記録層１４と、記録層１４上に設けられた第１の誘電体層１５と、第１の誘電体層１５上に設けられた光透過層１６によって構成され、光記録媒体１０の中央部分には孔１７が設けられている。このような構造を有する光記録媒体１０に対しては、光透過層１６側からレーザビームを照射することによってデータの記録／再生が行われる。
【００８３】
基板１１は、光記録媒体１０に求められる機械的強度を確保するための基体としての役割を果たし、その表面にはグルーブ１１ａ及びランド１１ｂが設けられている。これらグルーブ１１ａ及び／又はランド１１ｂは、データの記録及び再生を行う場合におけるレーザビームのガイドトラックとしての役割を果たす。基板１１の厚さは約１．１ｍｍに設定され、その材料としては種々の材料を用いることが可能であり、例えば、ガラス、セラミックス、あるいは樹脂を用いることができる。これらのうち、成形の容易性の観点から樹脂が好ましい。このような樹脂としてはポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂、ＡＢＳ樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられる。中でも、加工性などの点からポリカーボネート樹脂が特に好ましい。
【００８４】
反射層１２は、光透過層１６側から入射されるレーザビームを反射し、再び光透過層１６から出射させる役割を果たし、その厚さとしては１０〜３００ｎｍに設定することが好ましく、２０〜２００ｎｍに設定することが特に好ましい。反射層１２の材料はレーザビームを反射可能である限り特に制限されず、例えば、Ｍｇ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｃｒ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｇｅ、Ａｇ、Ｐｔ、Ａｕ等を用いることができる。これらのうち、高い反射率を有することから、Ａｌ、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ又はこれらの合金（ＡｌとＴｉとの合金等）などの金属材料を用いることが好ましい。尚、光記録媒体１０に反射層１２を設けることは必須でないが、これを設ければ、光記録後において多重干渉効果により高い再生信号（Ｃ／Ｎ比）が得られやすくなる。また、反射層１２の腐食防止を目的として、基板１１と反射層１２との間に誘電体からなる防湿層を介在させても構わない。
【００８５】
第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３は、これらの間に設けられる記録層１４を保護する役割を果たし、記録層１４はこれら第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３に挟持されることにより、光記録後、長期間にわたって記録情報の劣化が効果的に防止される。
【００８６】
第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３の構成材料は、透明な誘電体であれば特に限定されず、例えば、酸化物、硫化物、窒化物又はこれらの組み合わせを主成分として用いることができる。より具体的には、基板１１等の熱変形防止、並びに、記録層１４の保護の観点から、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３が、Ａｌ２Ｏ３、ＡｌＮ、ＺｎＯ、ＺｎＳ、ＧｅＮ、ＧｅＣｒＮ、ＣｅＯ、ＳｉＯ、ＳｉＯ２、ＳｉＮ及びＳｉＣからなる群より選択される少なくとも１種の誘電体を主成分とすることが好ましく、ＺｎＳ・ＳｉＯ２からなる誘電体を主成分とすることがより好ましい。第１の誘電体層１５と第２の誘電体層１３は、互いに同じ構成材料で構成されてもよいが、異なる構成材料で構成されてもよい。さらに、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３の少なくとも一方が、複数の誘電体膜からなる多層構造であっても構わない。
【００８７】
なお、「誘電体を主成分とする」とは、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３中において、上記誘電体の含有率が最も大きいことを言う。また、「ＺｎＳ・ＳｉＯ２」とは、ＺｎＳとＳｉＯ２との混合物を意味する。
【００８８】
また、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３の層厚は特に限定されないが、３〜２００ｎｍであることが好ましい。この層厚が３ｎｍ未満であると、上述した効果が得られにくくなる。一方、層厚が２００ｎｍを超えると、成膜時間が長くなり生産性が低下するおそれがあり、さらに、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３のもつ応力によってクラックが発生するおそれがある。
【００８９】
記録層１４は相変化材料によって構成され、結晶状態である場合の反射率とアモルファス状態である場合の反射率とが異なることを利用してデータの記録が行われる。結晶状態である記録層１４をアモルファス状態に変化させるためには、光透過層１６側から照射されるレーザビームを記録パワーＰｗから基底パワーＰｂまでの振幅を有するパルス波形とすることによって記録層１４を融点以上の温度に加熱し、その後、かかるレーザビームのパワーを基底パワーＰｂに設定することによって急冷する。これにより、記録パワーＰｗによって溶融した領域がアモルファス状態に変化し、これが記録マークとなる。一方、アモルファス状態である記録層１４を結晶状態に変化させるためには、光透過層１６側から照射されるレーザビームのパワーを消去パワーＰｅに設定することによって記録層１４を結晶化温度以上の温度に加熱する。これにより、消去パワーＰｅによって結晶化温度以上の温度に加熱された領域は、レーザビームが遠ざかることによって徐冷されることから、当該領域が結晶状態に変化する。
【００９０】
ここで、記録パワーＰｗのレベルは、図１に示すレーザビームの強度決定方法によって決定されるが、一般に記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ及び基底パワーＰｂの関係は、
Ｐｗ＞Ｐｅ≧Ｐｂ
となる。したがって、レーザビームのパワーをこのように変調すれば、記録層１４の未記録領域に記録マークを形成するだけでなく、既に記録マークが形成されている領域にこれと異なる記録マークを直接上書き（ダイレクトオーバーライト）することが可能となる。
【００９１】
記録層１４の具体的な材料としては、特に限定されるものではないがＳｂＴｅを主成分とする材料を用いることが好ましい。記録層１４の厚さとしては、５〜３０ｎｍに設定することが好ましく、５〜２０ｎｍに設定することが特に好ましい。
【００９２】
光透過層１６は、レーザビームの入射面を構成するとともにレーザビームの光路となる層であり、その厚さとしては１０〜３００μｍに設定することが好ましく、５０〜１５０μｍに設定することが特に好ましい。光透過層１６の材料としては特に限定されないが、紫外線硬化性樹脂を用いることが好ましい。また、紫外線硬化性樹脂を硬化させてなる膜のかわりに、光透過性樹脂からなる光透過性シートと各種接着剤や粘着剤を用いて光透過層１６を形成してもよい。
【００９３】
次に、上記光記録媒体１０の製造方法の一例について説明する。
【００９４】
先ずグルーブ１１ａ及びランド１１ｂが形成された基板１１上に反射層１２を形成を形成する。反射層１２の形成には、例えば反射層１２の構成元素を含む化学種を用いた気相成長法を用いることができる。このような気相成長法としては、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法等が挙げられる。
【００９５】
次に、反射層１２上に第２の誘電体層１３を形成する。この第２の誘電体層１３も、第２の誘電体層１３の構成元素を含む化学種を用いた気相成長法を用いて形成することができる。さらに、第２の誘電体層１３上に記録層１４を形成する。記録層１４も、これを構成する相変化材料を含む化学種を用いた気相成長法を用いて形成することができる。さらに、記録層１４上に第１の誘電体層１５を形成する。第１の誘電体層１５も、第１の誘電体層１５の構成元素を含む化学種を用いた気相成長法を用いて形成することができる。
【００９６】
最後に、第１の誘電体層１５上に光透過層１６を形成する。光透過層１６は、例えば、粘度調整されたアクリル系又はエポキシ系の紫外線硬化性樹脂をスピンコート法等により皮膜させ、紫外線を照射して硬化する等の方法により形成することができる。以上により、光記録媒体１０の製造が完了する。
【００９７】
なお、上記光記録媒体１０の製造方法は、上記製造方法に特に限定されるものではなく、公知の光記録媒体の製造に採用される製造技術を用いることができる。また、上述した光記録媒体１０は、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の一例であり、書き換え可能な光記録媒体である限り、これ以外の構造を有する光記録媒体に対して本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法を適用することも可能である。
【００９８】
次に、光記録媒体１０に対して上述したレーザビームの強度決定を行うとともに、実際にユーザデータの記録を行うための情報記録装置について説明する。
【００９９】
図１０は、光記録媒体１０に対してデータの記録を行い、また、これに先立って上述したレーザビームの強度設定（図１）を実行可能な情報記録装置５０の主要部を概略的に示す図である。
【０１００】
情報記録装置５０は、図１０に示すように光記録媒体１０を回転させるためのスピンドルモータ５２と、光記録媒体１０にレーザビームを照射するとともにその反射光を受光するヘッド５３と、スピンドルモータ５２及びヘッド５３の動作を制御するコントローラ５４と、ヘッド５３にレーザ駆動信号を供給するレーザ駆動回路５５と、ヘッド５３にレンズ駆動信号を供給するレンズ駆動回路５６とを備えている。
【０１０１】
さらに、図１０に示すように、コントローラ５４にはフォーカスサーボ追従回路５７、トラッキングサーボ追従回路５８及びレーザコントロール回路５９が含まれている。フォーカスサーボ追従回路５７が活性化すると、回転している光記録媒体１０の記録面にフォーカスがかかった状態となり、トラッキングサーボ追従回路５８が活性化すると、光記録媒体１０の偏芯している信号トラックに対して、レーザビームのスポットが自動追従状態となる。フォーカスサーボ追従回路５７及びトラッキングサーボ追従回路５８には、フォーカスゲインを自動調整するためのオートゲインコントロール機能及びトラッキングゲインを自動調整するためのオートゲインコントロール機能がそれぞれ備えられている。また、レーザコントロール回路５９は、レーザ駆動回路５５により供給されるレーザ駆動信号を生成する回路であり、光記録媒体１０に記録されている記録条件設定情報に基づいて、適切なレーザ駆動信号の生成を行う。
【０１０２】
尚、これらフォーカスサーボ追従回路５７、トラッキングサーボ追従回路５８及びレーザコントロール回路５９については、コントローラ５４内に組み込まれた回路である必要はなく、コントローラ５４と別個の部品であっても構わない。さらに、これらは物理的な回路である必要はなく、コントローラ５４内で実行されるソフトウェアであっても構わない。
【０１０３】
このような構成からなる情報記録装置５０を用いて光記録媒体１０に対するデータの記録を行う場合、実際にユーザデータの記録を行う前に上述したレーザビームの強度設定（図１）が行われる。但し、上述したように、レーザビームの強度設定が光記録媒体の製造段階において行われ、得られた最適な記録パワーＰｗが当該光記録媒体に記録条件設定情報として記録されている場合には、情報記録装置５０側においてこれを実行することは必須でない。
【０１０４】
このように、本実施態様によれば、記録パワーＰｗのレベルとしてクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができることから、次世代型の光記録媒体のようにクロスイレーズが生じやすい光記録媒体に対してデータを記録する場合であっても、クロスイレーズの影響を十分に抑制することが可能となる。具体的には、本実施態様により決定された記録パワーＰｗを用いれば、多数回のクロスイレーズによる影響を受けた場合のジッタの劣化度を、許容範囲内に抑制することが可能となる。
【０１０５】
しかも、本実施態様によれば、図３に示す臨界値の決定方法によって、ジッタ劣化度（Ｒ３）とこれに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）との関係を特定していることから、図１に示すレーザビームの強度決定においては、実際に多数回の試し書きを行う必要がないばかりか、ジッタの測定を行う必要もないことから、最適な記録パワーＰｗのレベルを非常に簡単に決定することができる。
【０１０６】
さらに、本実施態様によれば、図７に示す所定値ｘの決定方法によって、臨界値の決定において実行すべきステップＳ２６〜ステップＳ２８からなるループの繰り返し回数を決定しているので、クロスイレーズの影響が飽和した後も上記ループを無駄に多数回繰り返したり、逆に、クロスイレーズの影響が飽和する前にステップＳ２９に進んだりすることがなくなる。これにより、正確且つ短時間で臨界値を決定することが可能となる。
【０１０７】
本発明は、以上の実施態様に限定されることなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
【０１０８】
例えば、上記実施態様においては、記録パワーＰｗを最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）から徐々に高めながら図３に示すステップＳ２１〜ステップＳ３２からなるループ及び図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行しているが、複数の記録パワーＰｗについてこれらループを実行する限り、記録パワーＰｗを最高パワーＰｗ（ｍａｘ）から徐々に弱めながらこれらを実行しても構わないし、記録パワーＰｗをランダムに変更しながらこれらを実行しても構わない。
【０１０９】
さらに、上記実施態様においては、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）として、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差を信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値で規格化した値を用いているが、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差に基づく値である限り、例えば、単に信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差を第１の信号振幅減少率（Ｒ１）として用いても構わない。但し、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）として信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値で規格化した値を用いた場合に、最も適切な記録パワーＰｗの値を得ることが可能となる。同様に、上記実施態様においては、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）として、信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値で規格化した値を用いているが、信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差に基づく値である限り、単に信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を第２の信号振幅減少率（Ｒ２）として用いても構わない。但し、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）として信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値で規格化した値を用いた場合に、最も適切な記録パワーＰｗの値を得ることが可能となる。
【０１１０】
一方、上記実施態様においては、ジッタ劣化度（Ｒ３）として単にジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を用いているが、ジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差に基づく値である限り、これをジッタのＣｒｏｓｓ１やＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値で規格化した値を用いても構わない。すなわち、ジッタ劣化度（Ｒ３）の表現方法としては、許容可能なジッタ劣化度（Ｒ３）の表現方法に合わせればよい。
【０１１１】
また、上記実施態様においては、クロスイレーズ回数ごとのジッタを測定することにより所定値ｘを決定しているが（図７参照）、測定対象とし得る信号特性としてはジッタに限定されず、他の信号特性、例えばエラーレートであっても構わない。
【０１１２】
尚、本発明において、手段とは、必ずしも物理的手段を意味するものではなく、各手段の機能がソフトウエアによって実現される場合も包含する。さらに、一つの手段の機能が二以上の物理的手段により実現されても、二以上の手段の機能が一つの物理的手段により実現されてもよい。
【０１１３】
【実施例】
次に、図７のステップＳ５３に示す所定値ｘの決定方法について、具体例を挙げてより詳しく説明する。
【０１１４】
［サンプル１］
以下に示す手順により、図９に示す光記録媒体１０に防湿層が追加された構成を有する光記録媒体サンプル１を作製した。
【０１１５】
まず、厚さ：１．１ｍｍ、直径：１２０ｍｍのポリカーボネート基板１１をスパッタリング装置にセットし、このポリカーボネート基板１１上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は８０：２０）からなる防湿層（層厚１００ｎｍ）、Ａｇを主成分とする反射層１２（層厚：１００ｎｍ）、ＣｅＯ２からなる第２の誘電体層１３（層厚：１２ｎｍ）、Ｓｂ７５Ｔｅ２５からなる記録層１４（層厚：１２ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。
【０１１６】
次に、記録層１４上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は５０：５０）からなる誘電体層（層厚：３ｎｍ）、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は８０：２０）からなる誘電体層（層厚：３５ｎｍ）、Ａｌ２Ｏ３からなる誘電体層（層厚：３０ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。これらは、３層合わせて第１の誘電体層１５を構成する。
【０１１７】
そして、第１の誘電体層１５上（Ａｌ２Ｏ３からなる誘電体層上）に、アクリル系紫外線硬化性樹脂をスピンコート法によりコーティングし、これに紫外線を照射して光透過層１６（層厚：１００μｍ）を形成した。
【０１１８】
このようにして作製した光記録媒体サンプル１に対し、所定値ｙを「１９」に設定して図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行した。記録には１，７ＲＬＬの変調方式を用い、記録線速度は５．３ｍ／ｓｅｃに設定した。この場合、フォーマット効率を８０％とした場合のデータ転送レートは約３６Ｍｂｐｓである。
【０１１９】
また、用いた記録パワーＰｗは、２．９ｍＷ、３．４ｍＷ、４．３ｍＷ及び５．３ｍＷの４種類とした。測定の結果を図１１に示す。
【０１２０】
図１１に示すように、記録パワーＰｗを２．９ｍＷ、３．４ｍＷまたは４．３ｍＷに設定した場合、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値は１回のクロスイレーズでほぼ飽和したが、記録パワーＰｗを５．３ｍＷに設定した場合には、クロスイレーズ回数が２０回となってもジッタ劣化度（Ｒ４）は飽和せず、また、その値も非常に大きかった（１回のクロスイレーズで６％以上）。つまり、サンプル１では、記録パワーＰｗとして５．３ｍＷは不適切であることがわかる。
【０１２１】
したがって、この場合には所定値ｘを「１」に決定すればよい。
【０１２２】
［サンプル２］
以下に示す手順により、図９に示す光記録媒体１０と同様の構成を有する光記録媒体サンプル２を作製した。
【０１２３】
まず、厚さ：１．１ｍｍ、直径：１２０ｍｍのポリカーボネート基板１１をスパッタリング装置にセットし、このポリカーボネート基板１１上に、Ａｇを主成分とする反射層１２（層厚：１００ｎｍ）、Ａｌ２Ｏ３からなる第２の誘電体層１３（層厚：７ｎｍ）、Ｓｂ７５Ｔｅ２５からなる記録層１４（層厚：１２ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。
【０１２４】
次に、記録層１４上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は５０：５０）からなる誘電体層（層厚：５ｎｍ）、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は８０：２０）からなる誘電体層（層厚：１１０ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。これらは、２層合わせて第１の誘電体層１５を構成する。
【０１２５】
そして、第１の誘電体層１５上（モル比率が８０：２０であるＺｎＳとＳｉＯ２の混合物からなる誘電体層上）に、アクリル系紫外線硬化性樹脂をスピンコート法によりコーティングし、これに紫外線を照射して光透過層１６（層厚：１００μｍ）を形成した。
【０１２６】
このようにして作製した光記録媒体サンプル２に対し、所定値ｙを「１９」に設定して図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行した。記録には１，７ＲＬＬの変調方式を用い、記録線速度は５．３ｍ／ｓｅｃに設定した。この場合、上述の通り、フォーマット効率を８０％とした場合のデータ転送レートは約３６Ｍｂｐｓである。
【０１２７】
また、用いた記録パワーＰｗは、４．０ｍＷ、５．０ｍＷ及び６．０ｍＷの３種類とした。測定の結果を図１２に示す。
【０１２８】
図１２に示すように、記録パワーＰｗを４．０ｍＷまたは５．０ｍＷに設定した場合、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値は約５回のクロスイレーズでほぼ飽和したが、記録パワーＰｗを６．０ｍＷに設定した場合には、クロスイレーズ回数が２０回となってもジッタ劣化度（Ｒ４）は飽和せず、また、その値も非常に大きかった（１回のクロスイレーズで５％以上）。つまり、サンプル２においては、記録パワーＰｗとして６．０ｍＷは不適切であることがわかる。
【０１２９】
したがって、この場合には所定値ｘを「５」に決定すればよい。
【０１３０】
［サンプル３］
記録層１４の材料としてＳｂ８０Ｔｅ２０を用いた以外は、サンプル２と同様の構成を有するサンプル３を作成した。このようなサンプル３に対し、所定値ｙを「１９」に設定して図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行した。記録には１，７ＲＬＬの変調方式を用い、記録線速度は１０．５ｍ／ｓｅｃに設定した。この場合、フォーマット効率を８０％とした場合のデータ転送レートは約７２Ｍｂｐｓである。
【０１３１】
また、用いた記録パワーＰｗは、４．８ｍＷ、５．８ｍＷ及び６．８ｍＷの３種類とした。測定の結果を図１３に示す。
【０１３２】
図１３に示すように、いずれも記録パワーに設定した場合においても、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値は約１０回のクロスイレーズでほぼ飽和した。
【０１３３】
したがって、この場合には所定値ｘを「１０」に決定すればよい。
【０１３４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、レーザビームの強度をクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値に設定することが可能となる。したがって、本発明は、次世代型の光記録媒体のように、クロスイレーズが生じやすい光記録媒体に対する記録を行う場合に特に好適である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の好ましい実施態様にかかるレーザビーム強度決定方法を示すフローチャートである。
【図２】第１トラック、第２トラック及び第３トラックの位置関係を示す略平面図である。
【図３】ステップＳ９で用いる臨界値の決定方法を示すフローチャートである。
【図４】テーブルＴのデータ構造を示す図である。
【図５】第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とこれに対応するジッタ劣化度（Ｒ３）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。
【図６】第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。
【図７】ステップＳ２８で用いる所定値ｘの決定方法を示すフローチャートである。
【図８】クロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を記録パワーＰｗごとに示すグラフの一例である。
【図９】レーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の構造の一例を示す断面図である。
【図１０】情報記録装置５０の主要部を概略的に示す図である。
【図１１】サンプル１におけるクロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を示すグラフである。
【図１２】サンプル２におけるクロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を示すグラフである。
【図１３】サンプル３におけるクロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１０ 光記録媒体
１１ 基板
１１ａ グルーブ
１１ｂ ランド
１２ 反射層
１３ 第２の誘電体層
１４ 記録層
１５ 第１の誘電体層
１６ 光透過層
１７ 孔
５０ 情報記録装置
５２ スピンドルモータ
５３ ヘッド
５４ コントローラ
５５ レーザ駆動回路
５６ レンズ駆動回路
５７ フォーカスサーボ追従回路
５８ トラッキングサーボ追従回路
５９ レーザコントロール回路
Ｔ テーブル
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザビーム強度決定方法に関し、特に、書き換え型光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法に関する。また、本発明は、レーザビームの強度決定を行うために用いる臨界値の生成方法及び臨界値を生成する前段階で用いるオーバーライト回数決定プログラムに関し、特に、書き換え型光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定を行うために用いる臨界値の生成方法及びその前段階で用いるオーバーライト回数決定プログラムに関する。さらに、本発明は光記録媒体に関し、特に、書き換え型の光記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、デジタルデータを記録するための記録媒体として、ＣＤやＤＶＤに代表される光記録媒体が広く利用されており、そのデータ記録方式としては、記録すべきデータをトラックに沿った記録マークの長さに変調するという方式が広く用いられている。例えば、ユーザによるデータの書き換えが可能な光記録媒体の一種であるＤＶＤ−ＲＷにおいては、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔは１クロック周期）に対応する長さの記録マークが用いられ、これによってデータの記録が行われる。
【０００３】
このような記録マークの形成においては、強度変調されたレーザービームが光記録媒体のトラックに沿って照射され、これによって光記録媒体内の相変化材料からなる記録層に所定の長さを持ったアモルファス領域が形成され、これが記録マークとして用いられる。記録層のうちアモルファス状態でない部分は結晶状態となっており、ブランク領域として用いられる。
【０００４】
記録層に記録マークを形成する場合、記録層に照射するレーザビームのパワーを十分に高いレベル（記録パワーＰｗ）に設定することによって記録層を融点を超える温度に加熱し、その後、レーザビームのパワーを十分に低いレベル（基底パワーＰｂ）に変化させることによって記録層を急冷する。これにより、相変化材料が結晶状態からアモルファス状態に変化し、記録マークが形成される。一方、既に形成された記録マークを消去する場合、記録層に照射するレーザビームのパワーを記録パワーＰｗ以下、基底パワーＰｂ以上のレベル（消去パワーＰｅ）に設定することによって記録層を結晶化温度以上に加熱し、徐冷する。これにより、相変化材料がアモルファス状態から結晶状態に変化し、記録マークが消去される。したがって、レーザビームのパワーを記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、基底パワーＰｂからなる複数のレベルに強度変調することによって、記録層の未記録領域に記録マークを形成するだけでなく、既に記録マークが形成されている領域にこれと異なる記録マークを直接上書き（ダイレクトオーバーライト）することが可能となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、書き換え型の光記録媒体、特に記録層が相変化材料からなる光記録媒体においては、隣のトラックに対して書き込みが行われた場合、当該トラックに既に書き込まれているデータのキャリアレベルの低下、いわゆるクロスイレーズが生じる場合がある。
【０００６】
近年、データの記録密度が高められ、且つ、非常に高いデータ転送レートを実現可能な次世代型の光記録媒体が提案されている。このような次世代型の光記録媒体においては、高データ転送レートを実現するため記録線速度が従来の光記録媒体に比べて非常に高く設定されるが、一般に、記録線速度が高くなるほど記録マークの形成に必要な記録パワーＰｗも高くなることから、次世代型の光記録媒体においては、従来の光記録媒体に比べてクロスイレーズが非常に生じやすい。また、クロスイレーズは、トラックピッチＴＰとビームスポット径Ｄとの比（ＴＰ／Ｄ）が小さいほど生じやすくなるが、次世代型の光記録媒体においては、従来の光記録媒体に比べてトラックピッチＴＰとビームスポット径Ｄとの比（ＴＰ／Ｄ）が小さい点も、クロスイレーズが生じやすくなる大きな理由となっている。
【０００７】
このため、次世代型の光記録媒体に対するデータの書き込みにおいては、クロスイレーズによる影響を十分に考慮して記録パワーＰｗを設定する必要がある。
【０００８】
したがって、本発明の目的は、クロスイレーズによる影響が十分に考慮されたレーザビーム強度決定方法を提供することである。
【０００９】
また、本発明の他の目的は、クロスイレーズによる影響を十分に考慮してレーザビームの強度決定を行うために用いる臨界値の生成方法及びかかる臨界値の生成の前段階で用いられるオーバーライト回数決定プログラムを提供することである。
【００１０】
また、本発明のさらに他の目的は、クロスイレーズによる影響を十分に考慮してレーザビームの強度決定を行うために用いる情報が格納された光記録媒体を提供することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明のかかる目的は、書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法であって、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定するステップと、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化と前記特定された回数である第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化との関係から、前記第２の信号特性の所定の変化量または変化率に対応した、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化量または変化率を臨界値として特定するステップと、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化量または変化率を測定し、得られた値と前記臨界値とを比較するステップとを備えるレーザビーム強度決定方法によって達成される。
【００１２】
本発明によれば、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化を測定することによって、実際に第２の信号特性を測定することなく、第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化の程度を知ることができるので、レーザビームの強度として、クロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができる。したがって、本発明によれば、次世代型の光記録媒体のようにクロスイレーズが生じやすい光記録媒体に対してデータを記録する場合であっても、クロスイレーズの影響を十分に抑制することが可能となる。しかも、本発明によれば、実際に第２の信号特性を測定する必要がないので、レーザビーム強度決定に必要な試し書きの回数を減らすことができるとともに、測定する信号特性の種類を削減することが可能となる。さらに、本発明によれば、第２の回数としてクロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を用いているので、正確且つ短時間で臨界値を決定することが可能となる。
【００１３】
また、前記第１の回数が１回であることが好ましい。これによれば、少ない回数の試し書きによって、多くの回数の試し書きを行った場合の信号特性の変化をシミュレーションすることが可能となる。
【００１４】
さらに、前記第１の信号特性が信号振幅であり、前記第２の信号特性がジッタ若しくはエラーレートであることが好ましい。これによれば、実際にジッタやエラーレートを測定することなく、信号振幅を測定することによってジッタやエラーレートの変化をシミュレーションすることが可能となる。また、前記クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定するステップは、クロスイレーズの影響によりジッタ若しくはエラーレートが実質的に飽和する回数を特定するものであることが好ましい。
【００１５】
本発明の前記目的はまた、書き換え型光記録媒体の隣接する少なくとも２本のトラックにテスト信号を記録する第１のステップと、前記２本のトラックに記録されたテスト信号を再生する第２のステップと、少なくとも、一方のトラックより得られた再生信号の第１の信号特性に関する検出値と他方のトラックより得られた再生信号の前記第１の信号特性に関する検出値に基づき、これらの差に関する値を生成する第３のステップと、前記差に関する値と臨界値とを比較する第４のステップとを備え、前記臨界値が、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化と所定回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化との関係から、複数回のクロスイレーズによる影響を受ける前後において許容し得る前記第２の信号特性の変化量または変化率に基づいて定められたものであり、さらに、前記所定回数が、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数であることを特徴とするレーザビーム強度決定方法によって達成される。
【００１６】
本発明においても、少なくとも２本のトラックにテスト信号を記録し、記録されたテスト信号の第１の信号特性を測定するだけで、実際に第２の信号特性を測定することなく、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和した場合の第２の信号特性の変化の程度を知ることができる。したがって、レーザビームの強度として、クロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができる。
【００１７】
この場合、前記第１の信号特性が信号振幅であり、前記第２の信号特性がジッタ若しくはエラーレートであることが好ましい。
【００１８】
本発明の前記目的はまた、書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法であって、クロスイレーズによる影響を受けた回数と所定の信号特性との関係を特定する第１のステップと、前記関係をもとに、クロスイレーズによる前記所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を特定する第２のステップと、前記飽和する回数を示す情報を光記録媒体に記録する第３のステップとを備えるレーザビーム強度決定方法によって達成される。
【００１９】
本発明によれば、クロスイレーズによる影響が飽和する回数が光記録媒体に記録されるので、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）において、レーザビームの強度としてクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を簡単に得ることが可能となる。
【００２０】
本発明の前記目的はまた、書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定に用いられる臨界値の生成方法であって、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定する第１のステップと、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化を測定する第２のステップと、前記特定された回数である第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化を測定する第３のステップと、前記第２及び第３のステップによる測定の結果に基づき、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化と前記第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第２の信号特性の変化との関係を特定する第４のステップと、前記第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後において許容し得る前記第２の信号特性の変化量または変化率に対応する、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化量または変化率を前記臨界値として特定する第５のステップとを備える臨界値の生成方法によって達成される。
【００２１】
本発明の前記目的はまた、コンピュータ制御により、クロスイレーズによる影響を受けた回数と所定の信号特性との関係を特定する第１のステップと、前記関係をもとに、クロスイレーズによる前記所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を特定する第２のステップと、前記飽和する回数を示す情報を光記録媒体に記録する第３のステップとを実行させるためのオーバーライト回数決定プログラムによって達成される。
【００２２】
本発明の前記目的はまた、書き換え型の光記録媒体であって、クロスイレーズによる所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を示す情報が格納されていることを特徴とする光記録媒体によって達成される。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施態様について詳細に説明する。
【００２４】
図１は、本実施態様にかかるレーザビーム強度決定方法を示すフローチャートである。以下に詳述するとおり、本実施態様にかかるレーザビーム強度決定方法は、実際にユーザデータの記録を行う前に、情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないし、光記録媒体の製造過程において、メーカ側において実行しても構わないが、レーザビームの強度として実際の記録環境に即した値を得るためには、実際にユーザデータの記録を行う情報記録装置側において実行することが好ましい。尚、情報記録装置において最適なレーザビームの強度を決定する方法は、一般にＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ばれている。
【００２５】
本実施態様の方法によるレーザビーム強度決定においては、まず、対象となる光記録媒体のパワーキャリブレーションエリアに対し、記録パワーＰｗを所定の強度に設定して、連続する３トラックにテスト信号の記録を行う（ステップＳ１）。ここで、パワーキャリブレーションエリアとは、レーザビームの強度決定を行うための上記テスト信号等を記録する領域をいい、ユーザデータを格納すべき領域とは別に光記録媒体の例えば内周部分に割り当てられている。
【００２６】
また、記録パワーＰｗの強度としては、使用する情報記録装置が任意に決定しても良いし、光記録媒体内に格納された情報に基づいて決定しても良い。さらに、テスト信号の内容は特に限定されず、単一信号であっても混合信号であっても構わない。但し、テスト信号の記録に用いるパルス列パターン（記録ストラテジ）としては、実際にユーザデータを記録する場合に使用するパルス列パターンと同じパルス列パターンを用いる必要があり、記録線速度についても、実際にユーザデータを記録する場合の記録線速度と同じ記録線速度に設定する必要がある。
【００２７】
以下、ステップＳ１においてテスト信号が記録された３本のトラックを、図２に示すように、記録が行われた順に第１トラック、第２トラック、第３トラックと呼ぶ。この場合、第１トラックについては、第２トラックに対するデータの記録によってクロスイレーズが生じている可能性があり、また、第２トラックについては、第３トラックに対するデータの記録によってクロスイレーズが生じている可能性がある。一方、第３トラックについては、最後に記録されたトラックであることから、クロスイレーズが生じている可能性はない。
【００２８】
次に、第２トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ２）、得られる再生信号に基づいてレーザビームの強度決定に必要な信号特性を測定する（ステップＳ３）。ここで、レーザビームの強度決定に必要な信号特性としては、アシンメトリやβ値等を挙げることができる。尚、ステップＳ２においては、第２トラックに記録されたテスト信号を再生していることから、得られる信号特性は、両側からのクロストークの影響が考慮されたものとなる。
【００２９】
次に、ステップＳ３において測定された所定の信号特性が基準値を満たしているか否かを判断する（ステップＳ４）。この場合、ステップＳ３において測定された信号特性が複数（例えば、アシンメトリとβ値）である場合には、基準値はこれら複数の信号特性ごとに設定され、その全てが基準値を満たしているか否かが判断される。
【００３０】
その結果、基準値を満たしていないと判断された場合には、ステップＳ１において設定した記録パワーＰｗのレベルが不適切であることが原因と考えられるので、これを変更して再度連続する３トラック（第１、第２及び第３トラック）にテスト信号の記録を行う（ステップＳ５）。この場合、テスト信号の記録を行う３本のトラックとしては、未記録のトラックを用いることが好ましい。
【００３１】
一方、ステップＳ４において基準値を満たしていると判断された場合には、第２トラック及び第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ６）、得られる再生信号の振幅を測定する（ステップＳ７）。ここで、再生信号の振幅とは、記録マークが形成された領域における反射率とブランク領域における反射率との差を意味し、テスト信号が混合信号である場合には最長マークの振幅を測定することが好ましい。尚、ステップＳ３において第２トラックに記録されたテスト信号の振幅が既に測定されている場合には、ステップＳ６においては、第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行う必要はない。この場合、上述の通り、第２トラックに記録されたテスト信号はクロスイレーズの影響を受けている可能性がある一方、第３トラックに記録されたテスト信号はクロスイレーズの影響を受けていないことから、通常は、第２トラックより得られる再生信号の振幅（Ｄ２）は第３トラックより得られる再生信号の振幅（Ｄ３）よりも小さくなるはずである。
【００３２】
次に、第２トラックより得られた再生信号の振幅（Ｄ２）と第３トラックより得られた再生信号の振幅（Ｄ３）に基づいて、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）を算出する（ステップＳ８）。この場合、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）としては、振幅（Ｄ２）と振幅（Ｄ３）との差を振幅（Ｄ３）で規格化した値、すなわち、
（Ｄ３−Ｄ２）／Ｄ３
とすることが好ましい。
【００３３】
次に、ステップＳ８において算出された第１の信号振幅減少率（Ｒ１）が臨界値以下であるか否かを判断する（ステップＳ９）。ステップＳ９で用いる臨界値は、後述する方法により決定される。
【００３４】
その結果、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）が臨界値を越えている場合には、クロスイレーズの影響が大きいことが分かるので、記録パワーＰｗを低くして再度連続する３トラック（第１、第２及び第３トラック）にテスト信号の記録を行う（ステップＳ１０）。この場合も、テスト信号の記録を行う３本のトラックとしては、未記録のトラックを用いることが好ましい。一方、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）が臨界値以下である場合には、クロスイレーズの影響が十分に小さいことが分かるので、当該記録パワーＰｗを最適パワーとして決定する（ステップＳ１１）。
【００３５】
以上のような方法を用いることにより、記録パワーＰｗをクロスイレーズによる影響が十分に考慮されたレベルに設定することが可能となる。尚、図１に示すレーザビーム強度決定方法は、「レーザビーム強度決定プログラム」をコンピュータが実行することによって実施可能である。
【００３６】
次に、ステップＳ９で用いる臨界値の決定方法について説明する。
【００３７】
図３は、ステップＳ９で用いる臨界値の決定方法を示すフローチャートである。以下に詳述するとおり、かかる臨界値の決定については、可能であれば実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、光記録媒体の製造過程においてメーカ側が実行することが好ましい。
【００３８】
臨界値の決定においては、まず、変数ｉを０にリセットし（ステップＳ２１）、次に、対象となる光記録媒体のパワーキャリブレーションエリアに対し、記録パワーＰｗを予め定められた最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）に設定して（ステップＳ２２）、連続する３トラックにテスト信号の記録を行う（ステップＳ２３）。テスト信号の内容は特に限定されず、単一信号であっても混合信号であっても構わないが、テスト信号の記録に用いるパルス列パターン（記録ストラテジ）としては、実際にユーザデータを記録する場合に使用するパルス列パターンと同じパルス列パターンを用いる必要があり、記録線速度についても、実際にユーザデータを記録する場合の記録線速度と同じ記録線速度に設定する必要がある。また、図２に示したとおり、ステップＳ２３においてテスト信号が記録された３本のトラックを、記録した順に第１トラック、第２トラック、第３トラックと呼ぶ。
【００３９】
次に、第２トラック及び第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ２４）、得られる再生信号に基づいてジッタ及び信号振幅を測定する（ステップＳ２５）。この場合、第３トラックに記録されたテスト信号のジッタ及び信号振幅は、クロスイレーズによる影響を受けていない場合の値（Ｓｉｎｇｌｅ）であり、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタ及び信号振幅は、クロスイレーズの影響を片側から１回受けた状態における値（Ｃｒｏｓｓ１）である。したがって、Ｃｒｏｓｓ１の値はＳｉｎｇｌｅの値よりも悪化していることが一般的である。尚、ステップＳ２４におけるジッタの測定は、第２トラックについてのみ行えば足り、第３トラックについてはこれを行わなくても構わない。
【００４０】
次に、変数ｉをインクリメントした後（ステップＳ２６）、上記第１トラック及び第３トラックに対してダイレクトオーバーライトを行う（ステップＳ２７）。記録条件としては、ステップＳ２３における記録条件と同様の条件に設定する必要がある。これにより、第２トラックに記録されたテスト信号は、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ１回及び２回受けた状態となる。
【００４１】
次に、変数ｉが所定値ｘに一致しているか否かを判断し（ステップＳ２８）、その結果、変数ｉが所定値ｘに一致していなければ（１〜ｘ−１であれば）、ステップＳ２６に戻って変数ｉのインクリメントを行った後（ステップＳ２６）、再び第１トラック及び第３トラックに対するダイレクトオーバーライトを行う（ステップＳ２７）。ステップＳ２８で用いる所定値ｘとは、クロスイレーズの影響が実質的に飽和する回数であり、後述する方法により決定される。
【００４２】
一方、ステップＳ２８において変数ｉが所定値ｘに一致していれば、第２トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ２９）、得られる再生信号に基づいてジッタ及び信号振幅を測定する（ステップＳ３０）。ステップＳ２８において変数ｉが所定値ｘに一致していると言うことは、ステップＳ２６〜ステップＳ２８からなるループをｘ回繰り返したことを意味するため、この場合、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタ及び信号振幅は、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれｘ回及びｘ＋１回受けた状態における値（Ｃｒｏｓｓ（ｘ＋１））となっている。したがって、Ｃｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値は上記Ｃｒｏｓｓ１の値よりもさらに悪化していることが一般的である。
【００４３】
以上より、現在設定されている記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値を得ることができる。
【００４４】
そして、現在設定されている記録パワーＰｗに予め定められたパワー（α）を付加して新たに設定された記録パワーＰｗとし（ステップＳ３１）、その結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えたか否かを判断する（ステップＳ３２）。
【００４５】
その結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えていない場合には、ステップＳ２１に戻って、再びステップＳ２１〜ステップＳ３２からなるループを実行する。これにより、新たに設定された記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値を得ることができる。
【００４６】
一方、ステップＳ３２において、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えている場合には、ステップＳ２１〜ステップＳ３２からなるループを終了する。これにより、各記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値が全て得られたことになる。
【００４７】
次に、このようにして得られた各記録パワーＰｗに対応するジッタ及び信号振幅のＳｉｎｇｌｅ、Ｃｒｏｓｓ１及びＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値を用いて、図４に示すテーブルＴを作成する（ステップＳ３３）。図４に示すように、テーブルＴには、各記録パワーＰｗごとの第１の信号振幅減少率（Ｒ１）、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）及びジッタ劣化度（Ｒ３）が示されている。
【００４８】
ここで、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とは、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差を信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値で規格化した値、すなわち、
（信号振幅Ｓｉｎｇｌｅ−信号振幅Ｃｒｏｓｓ１）／信号振幅Ｓｉｎｇｌｅ
で示される値であり、これが各記録パワーＰｗごとに算出される。このうち、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値は上述した振幅Ｄ３に対応し、信号振幅Ｃｒｏｓｓ１の値は上述した振幅Ｄ２に対応している。また、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とは、信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値で規格化した値、すなわち、
（信号振幅Ｃｒｏｓｓ１−信号振幅Ｃｒｏｓｓ（ｘ＋１））／信号振幅Ｃｒｏｓｓ１
で示される値であり、これが各記録パワーＰｗごとに算出される。さらに、ジッタ劣化度（Ｒ３）とは、ジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差、すなわち、
ジッタＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）−ジッタＣｒｏｓｓ１
で示される値であり、これが各記録パワーＰｗごとに算出される。
【００４９】
このようにしてテーブルＴが作成されると、次に、テーブルＴを参照することによって、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とジッタ劣化度（Ｒ３）との関係式（第１の関係式）を導く（ステップＳ３４）。具体的には、テーブルＴに含まれる第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とこれに対応するジッタ劣化度（Ｒ３）との関係を仮想的なグラフ上にプロットし、これに基づいて近似式を作成すればよい。図５は、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とこれに対応するジッタ劣化度（Ｒ３）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。図５に示すように、かかるグラフにおいては、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とジッタ劣化度（Ｒ３）との関係は、概ね１次関数で表すことができる。
【００５０】
次に、テーブルＴを参照することによって、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）と第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係式（第２の関係式）を導く（ステップＳ３５）。具体的には、テーブルＴに含まれる第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係を仮想的なグラフ上にプロットし、これに基づいて近似式を作成すればよい。図６は、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。図６に示すように、かかるグラフにおいては、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）と第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係は、概ね２次関数で表すことができる。
【００５１】
そして、ステップＳ３４において作成した第１の関係式を用いて、実使用状態において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）からこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）を算出し、さらに、ステップＳ３５において作成した第２の関係式を用いて、上記算出された第２の信号振幅減少率（Ｒ２）からこれに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）を算出し、これを臨界値として決定する（ステップＳ３６）。例えば、実使用状態において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）が「ａ」である場合、図５に示すように、これに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）は「ｂ」となり、さらに、図６に示すように、これに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）は「ｃ」となるので、最終的に臨界値として「ｃ」を得ることができる。
【００５２】
以上により、ステップＳ９で用いる臨界値として、実使用状態において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）に対応した第１の信号振幅減少率（Ｒ１）を得ることが可能となる。ここで、ジッタ劣化度（Ｒ３）とは、上述の通り、ジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差で示される値、すなわち、クロスイレーズの影響を片側から１回受けた状態におけるジッタと、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ９回及び１０回受けた状態におけるジッタとの差であることから、得られる臨界値は、多数回のクロスイレーズによるジッタの劣化が許容量を越える場合に得られるであろう第１の信号振幅減少率（Ｒ１）に一致する。
【００５３】
したがって、上述した方法により得られた臨界値を上記ステップＳ９において用いれば、図１に示すレーザビームの強度決定において、実際に多数回のオーバーライトを行ったりジッタを測定したりすることなく、多数回のクロスイレーズによるジッタの劣化を考慮した最適記録パワーＰｗの決定を行うことが可能となる。尚、図３に示す臨界値の決定方法は、「臨界値決定プログラム」をコンピュータが実行することによって実施可能である。
【００５４】
次に、ステップＳ２８で用いる所定値ｘの決定方法について説明する。
【００５５】
図７は、ステップＳ２８で用いる所定値ｘの決定方法を示すフローチャートである。以下に詳述するとおり、かかる所定値ｘの決定については、可能であれば実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、上記臨界値の決定方法と同様、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、光記録媒体の製造過程においてメーカ側が実行することが好ましい。
【００５６】
所定値ｘの決定においては、まず、変数ｊを０にリセットし（ステップＳ４１）、次に、対象となる光記録媒体のパワーキャリブレーションエリアに対し、記録パワーＰｗを予め定められた最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）に設定して（ステップＳ４２）、連続する３トラックにテスト信号の記録を行う（ステップＳ４３）。ステップＳ４２において用いる最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）としては、ステップＳ２２において用いる最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）と同じであっても異なっていても構わないが、所定値ｘの決定に際しては、臨界値の決定ほど広範囲に亘る測定を行う必要はないので、ステップＳ２２において用いる最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）よりも高いレベルに設定することが好ましい。
【００５７】
また、ステップＳ４３において記録するテスト信号の内容は特に限定されず、単一信号であっても混合信号であっても構わないが、テスト信号の記録に用いるパルス列パターン（記録ストラテジ）としては、実際にユーザデータを記録する場合に使用するパルス列パターンと同じパルス列パターンを用いる必要があり、記録線速度についても、実際にユーザデータを記録する場合の記録線速度と同じ記録線速度に設定する必要がある。また、図２に示したとおり、ステップＳ４３においてテスト信号が記録された３本のトラックを、記録した順に第１トラック、第２トラック、第３トラックと呼ぶ。
【００５８】
次に、第２トラック及び第３トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ４４）、得られる再生信号に基づいてジッタを測定する（ステップＳ４５）。この場合、第３トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズによる影響を受けていない場合の値（ジッタＳｉｎｇｌｅ）であり、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズの影響を片側から１回受けた状態における値（ジッタＣｒｏｓｓ１）である。このため、上述の通り、Ｃｒｏｓｓ１の値（ジッタＣｒｏｓｓ１）はＳｉｎｇｌｅの値（ジッタＳｉｎｇｌｅ）よりも悪化していることが一般的である。
【００５９】
次に、変数ｊをインクリメントした後（ステップＳ４６）、上記第１トラック及び第３トラックに対してダイレクトオーバーライトを行う（ステップＳ４７）。記録条件としては、ステップＳ４３における記録条件と同様の条件に設定する必要がある。これにより、第２トラックに記録されたテスト信号は、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ１回及び２回受けた状態となる。
【００６０】
次に、第２トラックに記録されたテスト信号の再生を行い（ステップＳ４８）、得られる再生信号に基づいてジッタを測定する（ステップＳ４９）。この場合、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれ１回及び２回受けた状態における値（ジッタＣｒｏｓｓ２）である。このため、クロスイレーズの影響が既に飽和していない限り、Ｃｒｏｓｓ２の値（ジッタＣｒｏｓｓ２）はＣｒｏｓｓ１の値（ジッタＣｒｏｓｓ１）よりも悪化しているはずである。
【００６１】
次に、変数ｊが所定値ｙに一致しているか否かを判断し（ステップＳ５０）、その結果、変数ｊが所定値ｙに一致していなければ（１〜ｙ−１であれば）、ステップＳ４６に戻って変数ｊのインクリメントを行った後（ステップＳ４６）、再び第１トラック及び第３トラックに対するダイレクトオーバーライト（ステップＳ４７）、第２トラックに記録されたテスト信号の再生（ステップＳ４８）及びジッタの測定（ステップＳ４９）を行う。ここで、ステップＳ５０で用いる所定値ｙとは、記録パワーＰｗが最適強度またはこれに近い強度である場合に、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を十分に越える回数に設定され、通常、最適な記録パワーを用いた場合にはクロスイレーズによる影響が１０回以内に飽和することを考慮すれば、所定値ｙの具体的な回数としては１０回〜２０回程度に設定することが好ましい。
【００６２】
一方、ステップＳ５０において変数ｊが所定値ｙに一致していれば、現在設定されている記録パワーＰｗに予め定められたパワー（α）を付加して新たに設定された記録パワーＰｗとし（ステップＳ５１）、その結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えたか否かを判断する（ステップＳ５２）。ステップＳ５１において付加されるパワー（α）としては、ステップＳ３１において付加されるパワー（α）と同じであっても異なっていても構わないが、所定値ｘの決定に際しては、臨界値の決定ほど厳密な測定を行う必要はないので、ステップＳ３１において付加されるパワー（α）よりも大きな値に設定することが好ましい。また、ステップＳ５２において用いる最高パワーＰｗ（ｍａｘ）としては、ステップＳ３２において用いる最高パワーＰｗ（ｍａｘ）と同じであっても異なっていても構わないが、上述の通り、所定値ｘの決定に際しては臨界値の決定ほど広範囲に亘る測定を行う必要はないので、ステップＳ３２において用いる最高パワーＰｗ（ｍａｘ）よりも低いレベルに設定することが好ましい。
【００６３】
尚、ステップＳ５０において変数ｊが所定値ｙに一致していると言うことは、ステップＳ４６〜ステップＳ５０からなるループをｙ回繰り返したことを意味するため、この場合、第２トラックに記録されたテスト信号のジッタは、クロスイレーズの影響を両側からそれぞれｙ回及びｙ＋１回受けた状態における値（Ｃｒｏｓｓ（ｙ＋１））となっている。上述の通り、所定値ｙは記録パワーＰｗが最適強度またはこれに近い強度である場合に、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を十分に越える回数に設定されていることから、ステップＳ５０において変数ｊが所定値ｙに一致した場合、記録パワーＰｗが最適強度またはこれに近い強度である限り、クロスイレーズによる影響は十分に飽和しているはずである。これにより、現在の記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を得ることができる。
【００６４】
そして、ステップＳ５２における判断の結果、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えていない場合には、ステップＳ４１に戻って、再びステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行する。これにより、新たに設定された記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を得ることができる。
【００６５】
一方、ステップＳ５２において、新たに設定された記録パワーＰｗが予め設定された最高パワーＰｗ（ｍａｘ）を越えている場合には、ステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを終了する。これにより、各記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値が全て得られたことになる。
【００６６】
次に、このようにして得られた各記録パワーＰｗに対応するジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を解析し、その結果に基づいて所定値ｘを決定する（ステップＳ５３）。具体的には、次のようにジッタＳｉｎｇｌｅ及びジッタＣｒｏｓｓ１〜ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）の値を解析し、所定値ｘを決定する。
【００６７】
図８は、クロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を記録パワーＰｗごとに示すグラフの一例である。ここで、ジッタ劣化度（Ｒ３）とは、ジッタのＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１〜Ｃｒｏｓｓ（ｙ＋１）のそれぞれの値との差、すなわち、
ジッタＣｒｏｓｓ１−ジッタＳｉｎｇｌｅ から、
ジッタＣｒｏｓｓ（ｙ＋１）−ジッタＳｉｎｇｌｅ
で示される各値を指す。
【００６８】
図８に示すように、各記録パワーともクロスイレーズ回数が増えるにしたがって、ジッタ劣化度（Ｒ４）も増大するが、記録パワーが所定の範囲内である場合（図８ではＰｗ１〜Ｐｗ３）には、所定の回数を越えるとジッタ劣化度（Ｒ４）はそれ以上増大しなくなる。すなわち、クロスイレーズの影響は実質的に飽和する。したがって、かかる所定の回数を「所定値ｘ」として決定すればよい。
【００６９】
一方、記録パワーが上記所定の範囲外である場合（図８ではＰｗ４）には、上記所定の回数を超えてもジッタ劣化度（Ｒ４）の増大は続き、場合によっては最大数（ｙ＋１回）に達してもクロスイレーズの影響が飽和しない。また、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値自体も、記録パワーが上記所定の範囲内である場合と比べて非常に大きい。このような傾向を示すのは、記録パワーＰｗが最適値から大きく外れていることが原因である。したがって、最大数（ｙ＋１回）に達してもクロスイレーズの影響が飽和しない場合、または、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値が非常に大きい場合には、所定値ｘの決定に際してこれを考慮する必要はない。尚、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値が非常に大きい場合とは、特に限定されるものではないが、数回のクロスイレーズによるジッタの劣化度（Ｒ４）が４％を越えるような場合が該当する。
【００７０】
以上により、ステップＳ２８で用いる所定値ｘとして、クロスイレーズの影響が実質的に飽和する回数を得ることが可能となる。
【００７１】
したがって、上述した方法により得られた所定値ｘを上記ステップＳ２８において用いれば、図３に示す臨界値の決定におけるステップＳ２６〜ステップＳ２８からなるループを、ちょうどクロスイレーズの影響が実質的に飽和するまで繰り返せばステップＳ２９に進めるので、クロスイレーズの影響が飽和した後も上記ループを無駄に多数回繰り返したり、逆に、クロスイレーズの影響が飽和する前にステップＳ２９に進んだりすることがなくなる。尚、図７に示す所定値ｘの決定方法は、「オーバーライト回数決定プログラム」をコンピュータが実行することによって実施可能である。
【００７２】
次に、レーザビームの強度決定方法（図１参照）、臨界値の決定方法（図３参照）及び所定値ｘの決定方法（図７参照）を実際に実行するタイミングについて説明する。
【００７３】
まず、図７に示す所定値ｘの決定方法については、図３に示す臨界値の決定方法を実行する前であれば、光記録媒体の製造段階において実行してもよく、実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、上述の通り、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、光記録媒体の製造段階において、メーカ側が実行することが好ましい。
【００７４】
また、図３に示す臨界値の決定方法については、図１に示すレーザビームの強度決定方法を実行する前であれば、光記録媒体の製造段階において実行してもよく、実際にユーザデータの記録を行う前に情報記録装置（ドライブ）側において実行しても構わないが、上述の通り、ジッタの測定を行う必要があること、並びに、多数回に亘ってテストデータの記録を行う必要があることから、図７に示す所定値ｘの決定と同様、光記録媒体の製造段階において、メーカ側が実行することが好ましい。一方、図１に示すレーザビームの強度決定方法については、臨界値の決定を行った後、実際にユーザデータの記録を行う前であれば、情報記録装置側において実行しても構わないし、光記録媒体の製造過程において、メーカ側において実行しても構わないが、レーザビームの強度として実際の記録環境に即した値を得るためには、実際にユーザデータの記録を行う情報記録装置側において実行することが好ましい。
【００７５】
ここで、所定値ｘの決定（図７）と臨界値の決定（図３）とを異なるタイミングに行う場合、例えば、所定値ｘの決定を光記録媒体の製造段階において行い、臨界値の決定を情報記録装置において行う場合には、決定された所定値ｘを当該光記録媒体に格納しておくことが好ましい。このように、所定値ｘを光記録媒体に格納しておけば、実際にユーザデータの記録を行う前に、光記録媒体に記録された所定値ｘを参照することにより情報記録装置側において図３に示す臨界値の決定を実行することが可能となる。この場合、図３に示す臨界値の決定を上述した「臨界値決定プログラム」に基づいて行うためには、これが情報記録装置に格納されている必要がある。しかしながら、「臨界値決定プログラム」を当該光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置に臨界値決定プログラムが格納されていない場合であっても、光記録媒体からこれを読み出すことにより実行することが可能となる。
【００７６】
さらに、臨界値の決定とレーザビームの強度決定とを異なるタイミングに行う場合、例えば、臨界値の決定を光記録媒体の製造段階において行い、レーザビームの強度決定を情報記録装置において行う場合には、決定された臨界値を当該光記録媒体に格納しておくことが好ましい。このように、臨界値を光記録媒体に格納しておけば、実際にユーザデータの記録を行う前に、光記録媒体に記録された臨界値を参照することにより情報記録装置側において図１に示すレーザビームの強度決定を容易に実行することが可能となる。この場合、図１に示すレーザビームの強度決定を上述した「レーザビーム強度決定プログラム」に基づいて行うためには、これが情報記録装置に格納されている必要がある。しかしながら、「レーザビーム強度決定プログラム」を当該光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置にレーザビーム強度決定プログラムが格納されていない場合であっても、光記録媒体からこれを読み出すことにより実行することが可能となる。
【００７７】
また、決定された臨界値とともに、または決定された臨界値に代えて、ステップＳ３４において作成された第１の関係式及びステップＳ３５において作成された第２の関係式を当該光記録媒体に格納しておくこともまた好ましい。第１及び第２の関係式を光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置側において許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）を任意に設定し、図１に示すレーザビームの強度決定においてこれに対応した臨界値を用いることが可能となる。この場合、第１の関係式と第２の関係式とを光記録媒体に別個に格納しておく必要はなく、許容できるジッタ劣化度（Ｒ３）からこれに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）、すなわち臨界値を算出可能である限り、第１の関係式と第２の関係式とが一つにまとめられた式を光記録媒体に格納しておいても構わない。
【００７８】
さらに、決定された臨界値及び／又は第１及び第２の関係式とともに、またはこれらに代えて、ステップＳ３３において作成されたテーブルＴを当該光記録媒体に格納しておくこともまた好ましい。テーブルＴを光記録媒体に格納しておけば、新たな記録パワーＰｗを用いてステップＳ２１〜ステップＳ３２を追加的に実行し、その結果をテーブルＴに加えることによってその内容をより充実させることが可能となる。また、既にステップＳ２１〜ステップＳ３２において用いられた記録パワーＰｗと同じ記録パワーＰｗを用いてこれを情報記録装置側において再度実行し、その結果をテーブルＴに追加し又は対応する内容を更新すれば、テーブルＴの内容を実際の記録環境により即したものとすることができる。
【００７９】
また、情報記録装置側において所定値ｘの決定を上述した「オーバーライト回数決定プログラム」に基づいて行うためには、これが情報記録装置に格納されている必要があるが、「オーバーライト回数決定プログラム」を当該光記録媒体に格納しておけば、情報記録装置にオーバーライト回数決定プログラムが格納されていない場合であっても、光記録媒体からこれを読み出すことにより実行することが可能となる。
【００８０】
次に、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の構造について説明する。
【００８１】
図９は、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の構造の一例を示す断面図である。
【００８２】
図９に示すように、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体１０は、基板１１と、基板１１上に設けられた反射層１２と、反射層１２上に設けられた第２の誘電体層１３と、第２の誘電体層１３上に設けられた記録層１４と、記録層１４上に設けられた第１の誘電体層１５と、第１の誘電体層１５上に設けられた光透過層１６によって構成され、光記録媒体１０の中央部分には孔１７が設けられている。このような構造を有する光記録媒体１０に対しては、光透過層１６側からレーザビームを照射することによってデータの記録／再生が行われる。
【００８３】
基板１１は、光記録媒体１０に求められる機械的強度を確保するための基体としての役割を果たし、その表面にはグルーブ１１ａ及びランド１１ｂが設けられている。これらグルーブ１１ａ及び／又はランド１１ｂは、データの記録及び再生を行う場合におけるレーザビームのガイドトラックとしての役割を果たす。基板１１の厚さは約１．１ｍｍに設定され、その材料としては種々の材料を用いることが可能であり、例えば、ガラス、セラミックス、あるいは樹脂を用いることができる。これらのうち、成形の容易性の観点から樹脂が好ましい。このような樹脂としてはポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂、ＡＢＳ樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられる。中でも、加工性などの点からポリカーボネート樹脂が特に好ましい。
【００８４】
反射層１２は、光透過層１６側から入射されるレーザビームを反射し、再び光透過層１６から出射させる役割を果たし、その厚さとしては１０〜３００ｎｍに設定することが好ましく、２０〜２００ｎｍに設定することが特に好ましい。反射層１２の材料はレーザビームを反射可能である限り特に制限されず、例えば、Ｍｇ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｃｒ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｚｎ、Ｇｅ、Ａｇ、Ｐｔ、Ａｕ等を用いることができる。これらのうち、高い反射率を有することから、Ａｌ、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ又はこれらの合金（ＡｌとＴｉとの合金等）などの金属材料を用いることが好ましい。尚、光記録媒体１０に反射層１２を設けることは必須でないが、これを設ければ、光記録後において多重干渉効果により高い再生信号（Ｃ／Ｎ比）が得られやすくなる。また、反射層１２の腐食防止を目的として、基板１１と反射層１２との間に誘電体からなる防湿層を介在させても構わない。
【００８５】
第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３は、これらの間に設けられる記録層１４を保護する役割を果たし、記録層１４はこれら第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３に挟持されることにより、光記録後、長期間にわたって記録情報の劣化が効果的に防止される。
【００８６】
第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３の構成材料は、透明な誘電体であれば特に限定されず、例えば、酸化物、硫化物、窒化物又はこれらの組み合わせを主成分として用いることができる。より具体的には、基板１１等の熱変形防止、並びに、記録層１４の保護の観点から、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３が、Ａｌ２Ｏ３、ＡｌＮ、ＺｎＯ、ＺｎＳ、ＧｅＮ、ＧｅＣｒＮ、ＣｅＯ、ＳｉＯ、ＳｉＯ２、ＳｉＮ及びＳｉＣからなる群より選択される少なくとも１種の誘電体を主成分とすることが好ましく、ＺｎＳ・ＳｉＯ２からなる誘電体を主成分とすることがより好ましい。第１の誘電体層１５と第２の誘電体層１３は、互いに同じ構成材料で構成されてもよいが、異なる構成材料で構成されてもよい。さらに、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３の少なくとも一方が、複数の誘電体膜からなる多層構造であっても構わない。
【００８７】
なお、「誘電体を主成分とする」とは、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３中において、上記誘電体の含有率が最も大きいことを言う。また、「ＺｎＳ・ＳｉＯ２」とは、ＺｎＳとＳｉＯ２との混合物を意味する。
【００８８】
また、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３の層厚は特に限定されないが、３〜２００ｎｍであることが好ましい。この層厚が３ｎｍ未満であると、上述した効果が得られにくくなる。一方、層厚が２００ｎｍを超えると、成膜時間が長くなり生産性が低下するおそれがあり、さらに、第１の誘電体層１５及び第２の誘電体層１３のもつ応力によってクラックが発生するおそれがある。
【００８９】
記録層１４は相変化材料によって構成され、結晶状態である場合の反射率とアモルファス状態である場合の反射率とが異なることを利用してデータの記録が行われる。結晶状態である記録層１４をアモルファス状態に変化させるためには、光透過層１６側から照射されるレーザビームを記録パワーＰｗから基底パワーＰｂまでの振幅を有するパルス波形とすることによって記録層１４を融点以上の温度に加熱し、その後、かかるレーザビームのパワーを基底パワーＰｂに設定することによって急冷する。これにより、記録パワーＰｗによって溶融した領域がアモルファス状態に変化し、これが記録マークとなる。一方、アモルファス状態である記録層１４を結晶状態に変化させるためには、光透過層１６側から照射されるレーザビームのパワーを消去パワーＰｅに設定することによって記録層１４を結晶化温度以上の温度に加熱する。これにより、消去パワーＰｅによって結晶化温度以上の温度に加熱された領域は、レーザビームが遠ざかることによって徐冷されることから、当該領域が結晶状態に変化する。
【００９０】
ここで、記録パワーＰｗのレベルは、図１に示すレーザビームの強度決定方法によって決定されるが、一般に記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ及び基底パワーＰｂの関係は、
Ｐｗ＞Ｐｅ≧Ｐｂ
となる。したがって、レーザビームのパワーをこのように変調すれば、記録層１４の未記録領域に記録マークを形成するだけでなく、既に記録マークが形成されている領域にこれと異なる記録マークを直接上書き（ダイレクトオーバーライト）することが可能となる。
【００９１】
記録層１４の具体的な材料としては、特に限定されるものではないがＳｂＴｅを主成分とする材料を用いることが好ましい。記録層１４の厚さとしては、５〜３０ｎｍに設定することが好ましく、５〜２０ｎｍに設定することが特に好ましい。
【００９２】
光透過層１６は、レーザビームの入射面を構成するとともにレーザビームの光路となる層であり、その厚さとしては１０〜３００μｍに設定することが好ましく、５０〜１５０μｍに設定することが特に好ましい。光透過層１６の材料としては特に限定されないが、紫外線硬化性樹脂を用いることが好ましい。また、紫外線硬化性樹脂を硬化させてなる膜のかわりに、光透過性樹脂からなる光透過性シートと各種接着剤や粘着剤を用いて光透過層１６を形成してもよい。
【００９３】
次に、上記光記録媒体１０の製造方法の一例について説明する。
【００９４】
先ずグルーブ１１ａ及びランド１１ｂが形成された基板１１上に反射層１２を形成を形成する。反射層１２の形成には、例えば反射層１２の構成元素を含む化学種を用いた気相成長法を用いることができる。このような気相成長法としては、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法等が挙げられる。
【００９５】
次に、反射層１２上に第２の誘電体層１３を形成する。この第２の誘電体層１３も、第２の誘電体層１３の構成元素を含む化学種を用いた気相成長法を用いて形成することができる。さらに、第２の誘電体層１３上に記録層１４を形成する。記録層１４も、これを構成する相変化材料を含む化学種を用いた気相成長法を用いて形成することができる。さらに、記録層１４上に第１の誘電体層１５を形成する。第１の誘電体層１５も、第１の誘電体層１５の構成元素を含む化学種を用いた気相成長法を用いて形成することができる。
【００９６】
最後に、第１の誘電体層１５上に光透過層１６を形成する。光透過層１６は、例えば、粘度調整されたアクリル系又はエポキシ系の紫外線硬化性樹脂をスピンコート法等により皮膜させ、紫外線を照射して硬化する等の方法により形成することができる。以上により、光記録媒体１０の製造が完了する。
【００９７】
なお、上記光記録媒体１０の製造方法は、上記製造方法に特に限定されるものではなく、公知の光記録媒体の製造に採用される製造技術を用いることができる。また、上述した光記録媒体１０は、本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の一例であり、書き換え可能な光記録媒体である限り、これ以外の構造を有する光記録媒体に対して本実施態様にかかるレーザビームの強度決定方法を適用することも可能である。
【００９８】
次に、光記録媒体１０に対して上述したレーザビームの強度決定を行うとともに、実際にユーザデータの記録を行うための情報記録装置について説明する。
【００９９】
図１０は、光記録媒体１０に対してデータの記録を行い、また、これに先立って上述したレーザビームの強度設定（図１）を実行可能な情報記録装置５０の主要部を概略的に示す図である。
【０１００】
情報記録装置５０は、図１０に示すように光記録媒体１０を回転させるためのスピンドルモータ５２と、光記録媒体１０にレーザビームを照射するとともにその反射光を受光するヘッド５３と、スピンドルモータ５２及びヘッド５３の動作を制御するコントローラ５４と、ヘッド５３にレーザ駆動信号を供給するレーザ駆動回路５５と、ヘッド５３にレンズ駆動信号を供給するレンズ駆動回路５６とを備えている。
【０１０１】
さらに、図１０に示すように、コントローラ５４にはフォーカスサーボ追従回路５７、トラッキングサーボ追従回路５８及びレーザコントロール回路５９が含まれている。フォーカスサーボ追従回路５７が活性化すると、回転している光記録媒体１０の記録面にフォーカスがかかった状態となり、トラッキングサーボ追従回路５８が活性化すると、光記録媒体１０の偏芯している信号トラックに対して、レーザビームのスポットが自動追従状態となる。フォーカスサーボ追従回路５７及びトラッキングサーボ追従回路５８には、フォーカスゲインを自動調整するためのオートゲインコントロール機能及びトラッキングゲインを自動調整するためのオートゲインコントロール機能がそれぞれ備えられている。また、レーザコントロール回路５９は、レーザ駆動回路５５により供給されるレーザ駆動信号を生成する回路であり、光記録媒体１０に記録されている記録条件設定情報に基づいて、適切なレーザ駆動信号の生成を行う。
【０１０２】
尚、これらフォーカスサーボ追従回路５７、トラッキングサーボ追従回路５８及びレーザコントロール回路５９については、コントローラ５４内に組み込まれた回路である必要はなく、コントローラ５４と別個の部品であっても構わない。さらに、これらは物理的な回路である必要はなく、コントローラ５４内で実行されるソフトウェアであっても構わない。
【０１０３】
このような構成からなる情報記録装置５０を用いて光記録媒体１０に対するデータの記録を行う場合、実際にユーザデータの記録を行う前に上述したレーザビームの強度設定（図１）が行われる。但し、上述したように、レーザビームの強度設定が光記録媒体の製造段階において行われ、得られた最適な記録パワーＰｗが当該光記録媒体に記録条件設定情報として記録されている場合には、情報記録装置５０側においてこれを実行することは必須でない。
【０１０４】
このように、本実施態様によれば、記録パワーＰｗのレベルとしてクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値を得ることができることから、次世代型の光記録媒体のようにクロスイレーズが生じやすい光記録媒体に対してデータを記録する場合であっても、クロスイレーズの影響を十分に抑制することが可能となる。具体的には、本実施態様により決定された記録パワーＰｗを用いれば、多数回のクロスイレーズによる影響を受けた場合のジッタの劣化度を、許容範囲内に抑制することが可能となる。
【０１０５】
しかも、本実施態様によれば、図３に示す臨界値の決定方法によって、ジッタ劣化度（Ｒ３）とこれに対応する第１の信号振幅減少率（Ｒ１）との関係を特定していることから、図１に示すレーザビームの強度決定においては、実際に多数回の試し書きを行う必要がないばかりか、ジッタの測定を行う必要もないことから、最適な記録パワーＰｗのレベルを非常に簡単に決定することができる。
【０１０６】
さらに、本実施態様によれば、図７に示す所定値ｘの決定方法によって、臨界値の決定において実行すべきステップＳ２６〜ステップＳ２８からなるループの繰り返し回数を決定しているので、クロスイレーズの影響が飽和した後も上記ループを無駄に多数回繰り返したり、逆に、クロスイレーズの影響が飽和する前にステップＳ２９に進んだりすることがなくなる。これにより、正確且つ短時間で臨界値を決定することが可能となる。
【０１０７】
本発明は、以上の実施態様に限定されることなく、特許請求の範囲に記載された発明の範囲内で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
【０１０８】
例えば、上記実施態様においては、記録パワーＰｗを最低パワーＰｗ（ｍｉｎ）から徐々に高めながら図３に示すステップＳ２１〜ステップＳ３２からなるループ及び図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行しているが、複数の記録パワーＰｗについてこれらループを実行する限り、記録パワーＰｗを最高パワーＰｗ（ｍａｘ）から徐々に弱めながらこれらを実行しても構わないし、記録パワーＰｗをランダムに変更しながらこれらを実行しても構わない。
【０１０９】
さらに、上記実施態様においては、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）として、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差を信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値で規格化した値を用いているが、信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差に基づく値である限り、例えば、単に信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値とＣｒｏｓｓ１の値との差を第１の信号振幅減少率（Ｒ１）として用いても構わない。但し、第１の信号振幅減少率（Ｒ１）として信号振幅のＳｉｎｇｌｅの値で規格化した値を用いた場合に、最も適切な記録パワーＰｗの値を得ることが可能となる。同様に、上記実施態様においては、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）として、信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値で規格化した値を用いているが、信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差に基づく値である限り、単に信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を第２の信号振幅減少率（Ｒ２）として用いても構わない。但し、第２の信号振幅減少率（Ｒ２）として信号振幅のＣｒｏｓｓ１の値で規格化した値を用いた場合に、最も適切な記録パワーＰｗの値を得ることが可能となる。
【０１１０】
一方、上記実施態様においては、ジッタ劣化度（Ｒ３）として単にジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差を用いているが、ジッタのＣｒｏｓｓ１の値とＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値との差に基づく値である限り、これをジッタのＣｒｏｓｓ１やＣｒｏｓｓ（ｘ＋１）の値で規格化した値を用いても構わない。すなわち、ジッタ劣化度（Ｒ３）の表現方法としては、許容可能なジッタ劣化度（Ｒ３）の表現方法に合わせればよい。
【０１１１】
また、上記実施態様においては、クロスイレーズ回数ごとのジッタを測定することにより所定値ｘを決定しているが（図７参照）、測定対象とし得る信号特性としてはジッタに限定されず、他の信号特性、例えばエラーレートであっても構わない。
【０１１２】
尚、本発明において、手段とは、必ずしも物理的手段を意味するものではなく、各手段の機能がソフトウエアによって実現される場合も包含する。さらに、一つの手段の機能が二以上の物理的手段により実現されても、二以上の手段の機能が一つの物理的手段により実現されてもよい。
【０１１３】
【実施例】
次に、図７のステップＳ５３に示す所定値ｘの決定方法について、具体例を挙げてより詳しく説明する。
【０１１４】
［サンプル１］
以下に示す手順により、図９に示す光記録媒体１０に防湿層が追加された構成を有する光記録媒体サンプル１を作製した。
【０１１５】
まず、厚さ：１．１ｍｍ、直径：１２０ｍｍのポリカーボネート基板１１をスパッタリング装置にセットし、このポリカーボネート基板１１上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は８０：２０）からなる防湿層（層厚１００ｎｍ）、Ａｇを主成分とする反射層１２（層厚：１００ｎｍ）、ＣｅＯ２からなる第２の誘電体層１３（層厚：１２ｎｍ）、Ｓｂ７５Ｔｅ２５からなる記録層１４（層厚：１２ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。
【０１１６】
次に、記録層１４上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は５０：５０）からなる誘電体層（層厚：３ｎｍ）、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は８０：２０）からなる誘電体層（層厚：３５ｎｍ）、Ａｌ２Ｏ３からなる誘電体層（層厚：３０ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。これらは、３層合わせて第１の誘電体層１５を構成する。
【０１１７】
そして、第１の誘電体層１５上（Ａｌ２Ｏ３からなる誘電体層上）に、アクリル系紫外線硬化性樹脂をスピンコート法によりコーティングし、これに紫外線を照射して光透過層１６（層厚：１００μｍ）を形成した。
【０１１８】
このようにして作製した光記録媒体サンプル１に対し、所定値ｙを「１９」に設定して図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行した。記録には１，７ＲＬＬの変調方式を用い、記録線速度は５．３ｍ／ｓｅｃに設定した。この場合、フォーマット効率を８０％とした場合のデータ転送レートは約３６Ｍｂｐｓである。
【０１１９】
また、用いた記録パワーＰｗは、２．９ｍＷ、３．４ｍＷ、４．３ｍＷ及び５．３ｍＷの４種類とした。測定の結果を図１１に示す。
【０１２０】
図１１に示すように、記録パワーＰｗを２．９ｍＷ、３．４ｍＷまたは４．３ｍＷに設定した場合、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値は１回のクロスイレーズでほぼ飽和したが、記録パワーＰｗを５．３ｍＷに設定した場合には、クロスイレーズ回数が２０回となってもジッタ劣化度（Ｒ４）は飽和せず、また、その値も非常に大きかった（１回のクロスイレーズで６％以上）。つまり、サンプル１では、記録パワーＰｗとして５．３ｍＷは不適切であることがわかる。
【０１２１】
したがって、この場合には所定値ｘを「１」に決定すればよい。
【０１２２】
［サンプル２］
以下に示す手順により、図９に示す光記録媒体１０と同様の構成を有する光記録媒体サンプル２を作製した。
【０１２３】
まず、厚さ：１．１ｍｍ、直径：１２０ｍｍのポリカーボネート基板１１をスパッタリング装置にセットし、このポリカーボネート基板１１上に、Ａｇを主成分とする反射層１２（層厚：１００ｎｍ）、Ａｌ２Ｏ３からなる第２の誘電体層１３（層厚：７ｎｍ）、Ｓｂ７５Ｔｅ２５からなる記録層１４（層厚：１２ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。
【０１２４】
次に、記録層１４上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は５０：５０）からなる誘電体層（層厚：５ｎｍ）、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物（ＺｎＳとＳｉＯ２のモル比率は８０：２０）からなる誘電体層（層厚：１１０ｎｍ）を順次スパッタ法により形成した。これらは、２層合わせて第１の誘電体層１５を構成する。
【０１２５】
そして、第１の誘電体層１５上（モル比率が８０：２０であるＺｎＳとＳｉＯ２の混合物からなる誘電体層上）に、アクリル系紫外線硬化性樹脂をスピンコート法によりコーティングし、これに紫外線を照射して光透過層１６（層厚：１００μｍ）を形成した。
【０１２６】
このようにして作製した光記録媒体サンプル２に対し、所定値ｙを「１９」に設定して図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行した。記録には１，７ＲＬＬの変調方式を用い、記録線速度は５．３ｍ／ｓｅｃに設定した。この場合、上述の通り、フォーマット効率を８０％とした場合のデータ転送レートは約３６Ｍｂｐｓである。
【０１２７】
また、用いた記録パワーＰｗは、４．０ｍＷ、５．０ｍＷ及び６．０ｍＷの３種類とした。測定の結果を図１２に示す。
【０１２８】
図１２に示すように、記録パワーＰｗを４．０ｍＷまたは５．０ｍＷに設定した場合、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値は約５回のクロスイレーズでほぼ飽和したが、記録パワーＰｗを６．０ｍＷに設定した場合には、クロスイレーズ回数が２０回となってもジッタ劣化度（Ｒ４）は飽和せず、また、その値も非常に大きかった（１回のクロスイレーズで５％以上）。つまり、サンプル２においては、記録パワーＰｗとして６．０ｍＷは不適切であることがわかる。
【０１２９】
したがって、この場合には所定値ｘを「５」に決定すればよい。
【０１３０】
［サンプル３］
記録層１４の材料としてＳｂ８０Ｔｅ２０を用いた以外は、サンプル２と同様の構成を有するサンプル３を作成した。このようなサンプル３に対し、所定値ｙを「１９」に設定して図７に示すステップＳ４１〜ステップＳ５２からなるループを実行した。記録には１，７ＲＬＬの変調方式を用い、記録線速度は１０．５ｍ／ｓｅｃに設定した。この場合、フォーマット効率を８０％とした場合のデータ転送レートは約７２Ｍｂｐｓである。
【０１３１】
また、用いた記録パワーＰｗは、４．８ｍＷ、５．８ｍＷ及び６．８ｍＷの３種類とした。測定の結果を図１３に示す。
【０１３２】
図１３に示すように、いずれも記録パワーに設定した場合においても、ジッタ劣化度（Ｒ４）の値は約１０回のクロスイレーズでほぼ飽和した。
【０１３３】
したがって、この場合には所定値ｘを「１０」に決定すればよい。
【０１３４】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、レーザビームの強度をクロスイレーズによる影響が十分に考慮された値に設定することが可能となる。したがって、本発明は、次世代型の光記録媒体のように、クロスイレーズが生じやすい光記録媒体に対する記録を行う場合に特に好適である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の好ましい実施態様にかかるレーザビーム強度決定方法を示すフローチャートである。
【図２】第１トラック、第２トラック及び第３トラックの位置関係を示す略平面図である。
【図３】ステップＳ９で用いる臨界値の決定方法を示すフローチャートである。
【図４】テーブルＴのデータ構造を示す図である。
【図５】第２の信号振幅減少率（Ｒ２）とこれに対応するジッタ劣化度（Ｒ３）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。
【図６】第１の信号振幅減少率（Ｒ１）とこれに対応する第２の信号振幅減少率（Ｒ２）との関係を示す仮想的なグラフの一例を示す図である。
【図７】ステップＳ２８で用いる所定値ｘの決定方法を示すフローチャートである。
【図８】クロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を記録パワーＰｗごとに示すグラフの一例である。
【図９】レーザビームの強度決定方法の適用対象となる光記録媒体の構造の一例を示す断面図である。
【図１０】情報記録装置５０の主要部を概略的に示す図である。
【図１１】サンプル１におけるクロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を示すグラフである。
【図１２】サンプル２におけるクロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を示すグラフである。
【図１３】サンプル３におけるクロスイレーズ回数とジッタ劣化度（Ｒ４）との関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１０ 光記録媒体
１１ 基板
１１ａ グルーブ
１１ｂ ランド
１２ 反射層
１３ 第２の誘電体層
１４ 記録層
１５ 第１の誘電体層
１６ 光透過層
１７ 孔
５０ 情報記録装置
５２ スピンドルモータ
５３ ヘッド
５４ コントローラ
５５ レーザ駆動回路
５６ レンズ駆動回路
５７ フォーカスサーボ追従回路
５８ トラッキングサーボ追従回路
５９ レーザコントロール回路
Ｔ テーブル
Claims (11)
- 書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法であって、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定するステップと、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化と前記特定された回数である第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化との関係から、前記第２の信号特性の所定の変化量または変化率に対応した、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化量または変化率を臨界値として特定するステップと、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化量または変化率を測定し、得られた値と前記臨界値とを比較するステップとを備えるレーザビーム強度決定方法。
- 前記第１の回数は１回であることを特徴とする請求項１に記載のレーザビーム強度決定方法。
- 前記第１の信号特性が信号振幅であることを特徴とする請求項１または２に記載のレーザビーム強度決定方法。
- 前記クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定するステップは、クロスイレーズの影響によりジッタ若しくはエラーレートが実質的に飽和する回数を特定するものであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のレーザビーム強度決定方法。
- 前記第２の信号特性がジッタ若しくはエラーレートであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のレーザビーム強度決定方法。
- 書き換え型光記録媒体の隣接する少なくとも２本のトラックにテスト信号を記録する第１のステップと、前記２本のトラックに記録されたテスト信号を再生する第２のステップと、少なくとも、一方のトラックより得られた再生信号の第１の信号特性に関する検出値と他方のトラックより得られた再生信号の前記第１の信号特性に関する検出値に基づき、これらの差に関する値を生成する第３のステップと、前記差に関する値と臨界値とを比較する第４のステップとを備え、前記臨界値が、１回のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化と所定回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化との関係から、複数回のクロスイレーズによる影響を受ける前後において許容し得る前記第２の信号特性の変化量または変化率に基づいて定められたものであり、さらに、前記所定回数が、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数であることを特徴とするレーザビーム強度決定方法。
- 前記第１の信号特性が信号振幅であり、前記第２の信号特性がジッタ若しくはエラーレートであることを特徴とする請求項６に記載のレーザビーム強度決定方法。
- 書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定方法であって、クロスイレーズによる影響を受けた回数と所定の信号特性との関係を特定する第１のステップと、前記関係をもとに、クロスイレーズによる前記所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を特定する第２のステップと、前記飽和する回数を示す情報を光記録媒体に記録する第３のステップとを備えるレーザビーム強度決定方法。
- 書き換え型の光記録媒体に照射するレーザビームの強度決定に用いられる臨界値の生成方法であって、クロスイレーズによる影響が実質的に飽和する回数を特定する第１のステップと、第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第１の信号特性の変化を測定する第２のステップと、前記特定された回数である第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における第２の信号特性の変化を測定する第３のステップと、前記第２及び第３のステップによる測定の結果に基づき、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化と前記第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第２の信号特性の変化との関係を特定する第４のステップと、前記第２の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後において許容し得る前記第２の信号特性の変化量または変化率に対応する、前記第１の回数のクロスイレーズによる影響を受ける前後における前記第１の信号特性の変化量または変化率を前記臨界値として特定する第５のステップとを備える臨界値の生成方法。
- コンピュータ制御により、クロスイレーズによる影響を受けた回数と所定の信号特性との関係を特定する第１のステップと、前記関係をもとに、クロスイレーズによる前記所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を特定する第２のステップと、前記飽和する回数を示す情報を光記録媒体に記録する第３のステップとを実行させるためのオーバーライト回数決定プログラム。
- 書き換え型の光記録媒体であって、クロスイレーズによる所定の信号特性の変化が実質的に飽和する回数を示す情報が格納されていることを特徴とする光記録媒体。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002187617A JP2004030820A (ja) | 2002-06-27 | 2002-06-27 | レーザビーム強度決定方法、これに用いる臨界値の生成方法、オーバーライト回数決定プログラム及び光記録媒体 |
| AU2003282899A AU2003282899A1 (en) | 2002-06-27 | 2003-06-27 | Optical recording medium |
| PCT/JP2003/008204 WO2004015695A1 (ja) | 2002-06-27 | 2003-06-27 | 光記録媒体 |
| US10/519,693 US7142492B2 (en) | 2002-06-27 | 2003-06-27 | Optical recording medium |
| TW092117725A TWI260617B (en) | 2002-06-27 | 2003-06-27 | Optical recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002187617A JP2004030820A (ja) | 2002-06-27 | 2002-06-27 | レーザビーム強度決定方法、これに用いる臨界値の生成方法、オーバーライト回数決定プログラム及び光記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004030820A true JP2004030820A (ja) | 2004-01-29 |
Family
ID=31182596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002187617A Withdrawn JP2004030820A (ja) | 2002-06-27 | 2002-06-27 | レーザビーム強度決定方法、これに用いる臨界値の生成方法、オーバーライト回数決定プログラム及び光記録媒体 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7142492B2 (ja) |
| JP (1) | JP2004030820A (ja) |
| AU (1) | AU2003282899A1 (ja) |
| TW (1) | TWI260617B (ja) |
| WO (1) | WO2004015695A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4474372B2 (ja) * | 2006-02-14 | 2010-06-02 | 株式会社日立製作所 | 光学的情報記録方法および光学的情報記録装置 |
| CN101390160A (zh) * | 2006-02-20 | 2009-03-18 | 株式会社理光 | 用于确定最佳激光束功率的方法和光记录媒体 |
| US20130000715A1 (en) * | 2011-03-28 | 2013-01-03 | Solexel, Inc. | Active backplane for thin silicon solar cells |
| US9099103B1 (en) * | 2014-10-21 | 2015-08-04 | Western Digital Technologies, Inc. | Heat assisted magnetic recording withinterlaced high-power heated and low-power heated tracks |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3176145B2 (ja) | 1992-09-08 | 2001-06-11 | パイオニア株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
| JP3246271B2 (ja) | 1994-05-31 | 2002-01-15 | ソニー株式会社 | データ記録装置 |
| JP3510015B2 (ja) * | 1995-09-11 | 2004-03-22 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク記録再生装置 |
| JP3787415B2 (ja) | 1996-06-04 | 2006-06-21 | キヤノン株式会社 | テスト記録方法及び該方法を用いた光学的情報記録再生装置 |
| JP3579214B2 (ja) | 1997-06-24 | 2004-10-20 | 富士通株式会社 | 光学的記憶装置 |
| JP3836313B2 (ja) | 1999-11-15 | 2006-10-25 | シャープ株式会社 | 光記録方法及び光記録装置 |
| JP4017837B2 (ja) * | 2001-05-22 | 2007-12-05 | 株式会社日立製作所 | 情報記録方法及び光ディスク装置 |
| JP4114330B2 (ja) * | 2001-06-11 | 2008-07-09 | 株式会社日立製作所 | 光ディスク装置およびそれを用いた情報記憶装置 |
| JP3807269B2 (ja) * | 2001-08-28 | 2006-08-09 | ティアック株式会社 | 光ディスク装置 |
| US20030147321A1 (en) * | 2001-10-30 | 2003-08-07 | Nec Corporation | Recording power adjusting method and optical information record apparatus using the same |
-
2002
- 2002-06-27 JP JP2002187617A patent/JP2004030820A/ja not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-06-27 AU AU2003282899A patent/AU2003282899A1/en not_active Abandoned
- 2003-06-27 TW TW092117725A patent/TWI260617B/zh not_active IP Right Cessation
- 2003-06-27 WO PCT/JP2003/008204 patent/WO2004015695A1/ja active Application Filing
- 2003-06-27 US US10/519,693 patent/US7142492B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU2003282899A1 (en) | 2004-02-25 |
| WO2004015695A1 (ja) | 2004-02-19 |
| TWI260617B (en) | 2006-08-21 |
| TW200402706A (en) | 2004-02-16 |
| US7142492B2 (en) | 2006-11-28 |
| US20060013089A1 (en) | 2006-01-19 |
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