JP3753104B2 - 光ディスク装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に書換可能な光ディスクにデータを記録する際のストラテジ最適化に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等において、光ディスクのテストエリアに記録パワーや記録ストラテジを変化させてテストデータを記録し、その再生信号品質を評価して記録パワーや記録ストラテジを最適化する技術が知られている。
【０００３】
例えば、ある記録ストラテジで記録パワーを複数段に変化させてテストデータを記録し、該テストデータの再生信号のβ値や変調度、γ値等を測定してこれらの値が所望の値となるような記録パワーを選択する。そして、最適化された記録パワーでストラテジを種々変化させてテストデータを記録し、再生信号品質のジッタ値やエラーレートが所望の値となるようなストラテジを選択して最適記録ストラテジとする。
【０００４】
なお、記録ストラテジは、データを複数のパルスで記録する場合の各パルスの時間幅やパルス間の間隔、デューティ比、パルス数を意味し、通常、先頭パルス幅であるＴｔｏｐ、記録開始パルスに引き続くマルチパルスのパルス幅Ｔｍｐ、マルチパルスの最後のパルスが終了してからイレースパワーに立ち上がるまでのラストオフパルスＴｏｆｆのいずれか、あるいは複数を変化させることで記録ストラテジを変化させて最適化している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、書換可能光ディスクにおいては、未記録状態からデータを記録する場合と、既に記録されたデータに新たにデータを上書きするオーバライト記録があり、未記録状態からの記録時とオーバーライト時とでは記録特性が変化するため、記録パワーや記録ストラテジを最適化する際にはこれらを考慮して最適化することが必要となる。特に、記録ストラテジについては、本願出願人は未記録状態からデータを記録する場合のストラテジでオーバライトしても、ジッタやエラーレートにおいて所望の特性が得られないことを見出している。したがって、オーバライトにも耐え得る最適記録ストラテジを設定する必要がある。
【０００６】
ところが、従来においては、テストエリアにテストデータを記録し、その上にオーバライトした時の再生信号品質を測定することでオーバライトできる最適記録ストラテジを設定しており、未記録時とオーバーライト記録時の２回、テストデータを記録する必要が生じ、処理に時間を要する問題がある。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、未記録時とオーバーライト記録時の２回にわたりデータを記録する必要がなく、すなわち未記録状態から１回だけテストデータを記録するのみでオーバライト特性も考慮した最適ストラテジを設定できる光ディスク装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、書換可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、データ未記録領域にデータを記録する際の最適ストラテジに対し、ストラテジを構成するラストオフパルスの間隔を短縮したストラテジでデータを記録し、かつオーバライトする手段を有することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明は、書換可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、データ未記録領域にデータを記録する際の最適ストラテジに対し、ストラテジを構成するラストオフパルスとマルチパルスの間隔をそれぞれ短縮し増大したストラテジでデータを記録し、かつオーバライトする手段を有することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明は、書換可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、前記光ディスクのデータ未記録エリアにストラテジを変化させつつテストデータを記録するテストデータ記録手段と、前記テストデータの再生信号品質を検出する検出手段と、前記再生信号品質が最良となる第１マルチパルス間隔及び第１ラストオフパルス間隔を抽出する抽出手段と、前記第１ラストオフパルス間隔よりも短い第２ラストオフパルス間隔を有するストラテジを設定する設定手段と、設定されたストラテジでデータを記録する記録手段とを有することを特徴とする。
【００１１】
ここで、前記設定手段では、最良の前記再生信号品質よりも所定量だけ劣化させた再生信号品質が得られる最短の間隔を前記第２ラストオフパルス間隔とすることが好適である。
【００１２】
また、前記設定手段では、前記第１ラストオフパルス間隔から所定量だけ減じた間隔を前記第２ラストオフパルス間隔とすることが好適である。
【００１３】
また、前記設定手段は、前記第１ラストオフパルス間隔よりも短い第２ラストオフパルス間隔を有し、かつ、前記第１マルチパルス間隔よりも長い第２マルチパルス間隔を有するストラテジを設定することが好適である。
【００１４】
また、前記設定手段では、最良の前記再生信号品質よりも所定量だけ劣化させた再生信号品質が得られる最長の間隔を前記第２マルチパルス間隔とすることが好適である。
【００１５】
また、前記設定手段では、前記第１マルチパルス間隔に所定量だけ加えた間隔を前記第２マルチパルス間隔とすることが好適である。
【００１６】
前記再生信号品質は、ジッタあるいはエラーレートとすることができる。
【００１７】
このように、本発明では、テストデータを実際にオーバライトして最適な記録ストラテジを選択するのではなく、未記録状態からテストデータを記録して得られるストラテジを基準とし、このストラテジの所定パラメータ、具体的にはラストオフパルスを短縮することで、オーバライトにも対応したストラテジを設定する。本発明によれば、テストデータをオーバライトすることなくオーバライトも考慮したストラテジ設定が可能となる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１９】
＜第１実施形態＞
図１には、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図が示されている。光ピックアップ（ＰＵ）１２は光ディスク１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）及びフォトディテクタを含んで構成される。レーザダイオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２により駆動され、データを再生する際には再生パワーのレーザ光を照射し、記録する際にはイレースパワー及びピークパワーのレーザ光を照射する。光ディスク１０としては、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書換可能な光ディスクが用いられる。光ピックアップ１２のフォトディテクタは、差動プッシュプル法を用いる公知の構成と同様にメインビーム用及び２個のサブビーム用にそれぞれ設けられており、反射光量に応じた検出信号をサーボ検出部１４及びＲＦ検出部２０に出力する。
【００２０】
サーボ検出部１４は、光ピックアップ１２からの信号に基づきトラッキングエラー信号ＴＥ及びフォーカスエラー信号ＦＥを生成してそれぞれトラッキング制御部１６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキングエラー信号ＴＥは差動プッシュプル法により生成され、具体的にはメインビームのプッシュプル信号とサブビームのプッシュプル信号との差分により生成される。フォーカスエラー信号ＦＥは非点収差法により生成される。
【００２１】
トラッキング制御部１６は、トラッキングエラー信号ＴＥに基づき光ピックアップ１２を光ディスク１０のトラック幅方向に駆動してオントラック状態に維持する。また、フォーカス制御部１８はフォーカスエラー信号ＦＥに基づき光ピックアップ１２をフォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態に維持する。
【００２２】
ＲＦ検出部２０は、光ピックアップ１２からの信号、具体的にはメインビームの反射光を受光するフォトディテクタからの和信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、信号処理部２２及びデコーダ２６に出力する。信号処理部２２は、ＯＰＣ（Optical Power control）実行時にテストデータの再生信号からジッタを検出してコントローラ３０に出力する。なお、ＯＰＣとは、データ記録可能な光ディスクにデータを記録する際に、その所定エリアＰＣＡに対して記録パワーを複数段に変化させてテストデータを記録し、該テストデータを再生したときの品質を検出して最適記録パワーを選択する処理である。本実施形態では、ＯＰＣ実行時に併せて記録ストラテジの最適化処理も実行する。
【００２３】
コントローラ３０は、信号処理部２２で算出されたジッタに基づき最適記録パワー（ピークパワー）を決定してレーザダイオード駆動回路３２を制御する。なお、イレースパワーはピークパワーに対して所定の比率となるように決定する。また、コントローラ３０は、算出されたジッタに基づき記録ストラテジも設定する。記録ストラテジはオーバライトも考慮したストラテジであり、しかも、実際にオーバライトを行うことなく設定する。本実施形態において、記録ストラテジは先頭パルス幅Ｔｔｏｐ、マルチパルス幅Ｔｍｐ、及びラストパルスからイレースパワーまでの幅Ｔｏｆｆからなるものとし、これらのうちＴｔｏｐを固定してＴｏｆｆ、さらにはＴｍｐを最適化する。この前提は、光ディスク１０への最初の記録時とオーバライト時とでＴｔｏｐを変化させても記録品質はほぼ同一であるとの知見に基づくものである。もちろん、後述するようにＴｔｏｐも調整できる。記録ストラテジは、ジッタではなくエラーレートに基づき設定することもできる。この場合、デコーダ２６後段のエラー訂正回路（不図示）からエラーレートを入力し、このエラーレートを用いて設定する。
【００２４】
デコーダ２６は、イコライザや二値化器を備え、再生ＲＦ信号の所定周波数、具体的には３Ｔ信号の振幅をブーストして二値化し、二値化信号を復調してコントローラ３０に出力する。復調は、図示しないＰＬＬ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽出することにより実行される。コントローラ３０はデコーダ２６からの復調データをパーソナルコンピュータ等の上位装置に出力する。
【００２５】
図２には、記録ストラテジが示されている。図２（ａ）は記録データであり、スペース期間とマーク期間から構成される。マーク期間においてレーザダイオードからピークパワーレーザ光が照射され、光ディスク１０にマークを形成する。相変化型光ディスクの場合、ピークパワーを照射して記録膜温度を融点以上に加熱し急冷することで結晶状態からアモルファス状態に遷移させる。マーク（アモルファス状態）を形成するために、複数のパルス列（パルストレーン）が用いられる。すなわち、先頭のパルス及びこの先頭パルスに引き続く後続パルス列によりマークを記録する。マークの期間、具体的にはＤＶＤ−ＲＡＭでは３Ｔ〜１４Ｔのマークはパルストレーンのパルス数を調整することで形成される。マークの形状は、先頭パルスのパルス幅Ｔｔｏｐ、後続パルス（マルチパルス）のパルス幅Ｔｍｐ及び最終パルスからイレースパワーに復帰するまでのラストオフパルス幅Ｔｏｆｆを調整することで変化する。図２（ｂ）には、図２（ａ）に示されたデータを記録するための記録ストラテジが示されている。再生パワーにイレースパワーを重畳し、さらにピークパワーを重畳することでパルストレーンが形成される。記録ストラテジのパラメータ（Ｔｔｏｐ，Ｔｍｐ，Ｔｏｆｆ）は記録品質が最良となるように調整される。すなわち、これら３つのパラメータを種々変化させて光ディスク１０のテストエリアにテストデータを記録し、その再生信号品質のジッタ（あるいはエラーレート）が最小となる記録ストラテジを選択する。
【００２６】
ここで、上述したように、未記録状態からデータを記録する際の最適ストラテジと、既記録データに新たにデータを上書きするオーバライト時の最適ストラテジとでは異なり、未記録状態からデータを記録する時の最適ストラテジでオーバライトしたのでは既記録データの影響により再生信号のジッタやエラーレートが劣化する。その一方、実際にオーバライトしてストラテジの最適化を図るのでは実際にデータを記録するまでの処理時間が増大し、ユーザにとって好ましくない。そこで、本実施形態においては、図２（ｃ）に示されるように、未記録状態からデータを記録する際の最適ストラテジ（図２（ｂ））に対してパラメータを変化させる。具体的には、３つのパラメータのうち、ラストオフパルスＴｏｆｆを短縮させてＴ’ｏｆｆとする。そして、ラストオフパルスＴｏｆｆを短縮したＴ’ｏｆｆで記録ストラテジを構成し、この記録ストラテジで未記録状態からデータを記録するとともにオーバライトも行う。すなわち、光ディスク１０に対し最初のデータ記録であるか、２回目以降の記録であるかを問わず、図２（ｃ）に示された記録ストラテジで一律にデータを記録する。
【００２７】
図３には、図２（ｂ）に示された記録ストラテジでデータを記録する場合と、図２（ｃ）でデータを記録する場合のマークの形成過程が模式的に示されている。図３（ａ）は図２（ｂ）と同一の記録ストラテジであり、データ未記録状態からテストデータを記録してそのジッタあるいはエラーレートが最小となるようにパラメータを調整したものである。図３（ａ）に示された記録ストラテジでデータ未記録状態から記録すると、図３（ｂ）に示されるようにマーク（アモルファス状態）１００が形成される。
【００２８】
一方、図３（ｃ）に示されるようなマーク１０２が既に形成されている領域に図３（ａ）に示されるような記録ストラテジでオーバライトすると、図３（ｄ）に示されるように本来のマーク１００の他に既記録マーク１０２が残存してマーク１０２の一部がマーク１０４として付加され、結局、本来形成されるべきマーク１００よりも長いマークが記録されてしまう。これは、ラストオフパルスＴｏｆｆの間は再生パワーであるため既記録マーク１０２をイレースすることができず、オーバライト後もそのまま残ってしまうからである。本来形成されるべきマーク１００よりも長いマーク（過剰記録）が行われると、ジッタあるいはエラーレートが劣化する。
【００２９】
図３（ｅ）には図２（ｃ）と同一の記録ストラテジ、すなわち図３（ａ）の記録ストラテジに対してラストオフパルスＴｏｆｆを短縮化したＴ’ｏｆｆを有する記録ストラテジが示されている。図３（ｆ）は図３（ｅ）の記録ストラテジで未記録状態からデータを記録した時のマーク１００である。ラストオフパルスＴｏｆｆを適当量だけ短縮しても形成されるマーク１００は図３（ｂ）の場合とほとんど変化しない。一方、図３（ｇ）に示される既記録マーク１０２が存在する時に図３（ｅ）で示される記録ストラテジでオーバライトすると、ラストオフパルスＴｏｆｆよりも短縮化したラストオフパルスＴ’ｏｆｆを有するため、既記録マーク１０２のほとんどをイレースパワーで消去でき、結局、図３（ｈ）に示されるように、図３（ｆ）のマーク１００とほぼ同一のマーク１００が形成される。
【００３０】
ラストオフパルスを短くすることで既記録マークがラストオフパルス幅に存在していても既記録データを消去する確率が増大し、これによりオーバライト時のジッタやエラーレートの劣化を抑制することができる。
【００３１】
図４には、本実施形態の基本処理フローチャートが示されている。まず、光ディスク１０の未記録エリア（テストエリアあるいはＰＣＡエリア）に記録ストラテジを変化させてテストデータを記録する（Ｓ１０１）。この処理は、データ未記録状態からデータを記録する際の最適ストラテジ、すなわち本実施形態においてラストオフパルスを調整するための基本となるストラテジ（図２（ｂ）参照）を決定するための処理である。記録ストラテジの他に、記録パワーを最適化すべくピークパワーを種々変化させてテストデータを記録してもよい。イレースパワーは、最適化されたピークパワーに一定の比率（１より小さい定数）を乗じることで設定される。
【００３２】
次に、テストデータのジッタを測定する（Ｓ１０２）。ジッタではなく、エラーレートを測定してもよい。そして、ジッタが最小となるストラテジ、すなわち再生信号品質が最良となるストラテジを選択する（Ｓ１０３）。ストラテジの最適化は、３つのパラメータ（Ｔｔｏｐ，Ｔｍｐ，Ｔｏｆｆ）を調整することで実行されるが、３つのパラメータのいずれか、あるいは２つのみを変化させて最適化してもよい。例えば、Ｔｔｏｐを固定化し、Ｔｍｐ及びＴｏｆｆをＳ１０１で変化させてテストデータを記録し、Ｓ１０３でＴｍｐ及びＴｏｆｆを最適化する等である。
【００３３】
ジッタ最小となるストラテジを選択し、図２（ｂ）に示されるような記録ストラテジを設定した後、選択したストラテジのラストオフパルスＴｏｆｆを短縮化してＴ’ｏｆｆとしたストラテジを決定する（Ｓ１０４）。ＴｏｆｆからＴ’ｏｆｆを得る方法は複数ある。例えば、Ｔｏｆｆから所定量Δｔだけ減じてＴ’ｏｆｆを算出してもよく、あるいはＴｏｆｆに１より小さい所定の係数を乗じてＴ’ｏｆｆを算出してもよい。さらに、他のアルゴリズムを用いてＴｏｆｆより短いＴ’ｏｆｆを算出してもよい。このようなアルゴリズムは、Ｔｏｆｆを短縮して得られるＴ’ｏｆｆでデータを記録した際のジッタあるいはエラーレートが許容値を満たすものであることを保証できることが望ましい。最適ストラテジを設定した後、この最適ストラテジでデータを記録する（Ｓ１０５）。データ記録にはオーバライト記録も含まれる。未記録状態からデータを記録した時の記録品質はＳ１０３で保証されており、Ｓ１０４にてラストオフパルスＴｏｆｆを適当量だけ短縮することでオーバライト時の記録品質も保証される（過剰に短縮するとＳ１０３で最適化した意義がなくなり、最初の記録時における品質が劣化する）。
【００３４】
図５には、本実施形態の詳細処理フローチャートが示されている。まず、光ディスク１０のコントロールデータゾーン等からディスク情報（ディスクの種類やメーカ）を取得する（Ｓ２０１）。ディスク情報を取得した後、ディスクに応じた初期ストラテジを設定する（Ｓ２０２）。すなわち、記録ストラテジの３つのパラメータ（Ｔｔｏｐ，Ｔｍｐ，Ｔｏｆｆ）を初期値に設定する。初期ストラテジを設定するのは、光ディスク１０に対して最適な記録パワーを設定するためである。
【００３５】
次に、光ディスクのテストエリアに記録パワーを複数段、例えば８．０ｍＷ〜１５．０ｍＷまで０．５ｍＷ毎に変化させてテストデータを記録し（Ｓ２０３）、再生信号のβ値や変調度、γ値、ＲＦ振幅等に基づき最適な記録パワーを選択する（Ｓ２０４）。ジッタやエラーレートに基づき最適記録パワーを選択してもよい。
【００３６】
記録パワーを最適化した後、コントローラ３０は最適記録パワーにて初期ストラテジのパラメータを変化させてテストデータを記録する。本処理では、ストラテジのうち、Ｔｔｏｐを固定し、Ｔｍｐ及びＴｏｆｆを変化させる。具体的には、まず、最適記録パワーにてマルチパルス幅Ｔｍｐを複数段に変化させてテストエリアにテストデータを記録する（Ｓ２０５）。このテストデータ記録は、未記録状態からの記録である。Ｔｍｐは、例えば０．３５Ｔ〜０．７０Ｔまで０．０５Ｔ毎に変化させる。
【００３７】
マルチパルス幅Ｔｍｐを変化させてテストデータを記録した後、そのジッタを信号処理部２２で測定し（Ｓ２０６）、コントローラ３０に供給する。コントローラ３０は、ジッタの最小値Ｊｍｉｎ１及びその時のマルチパルス幅Ｔｍｐｍｉｎを抽出する（Ｓ２０７）。
【００３８】
次に、コントローラ３０は最適記録パワー及びＳ２０７で抽出したＴｍｐｍｉｎにてストラテジのうちラストオフパルスＴｏｆｆを種々変化させてテストエリアにテストデータを記録する（Ｓ２０８）。このＳ２０８も、Ｓ２０５と同様に未記録状態からの記録である。ラストオフパルスＴｏｆｆは、例えば０．５Ｔ〜１．２Ｔまで０．１Ｔ毎に変化させる。テストデータを記録した後、当該テストデータを再生してそのジッタを信号処理回路２２で測定する（Ｓ２０９）。得られたジッタはコントローラ３０に供給される。コントローラ３０は、図６に示されるように、ラストオフパルスＴｏｆｆを変化させた時のジッタのうち、その最小値Ｊｍｉｎ２を抽出する（Ｓ２１０）。ジッタ最小値Ｊｍｉｎ２が得られるラストオフパルス幅は図２（ｂ）におけるラストオフパルス幅である。
【００３９】
本実施形態においては、このラストオフパルス幅よりも短縮化したラストオフパルス幅を生成する。そこで、コントローラ３０は、Ｓ２１０にて得られたジッタ最小値Ｊｍｉｎ２に対し、Ｊ０＝Ｋ・Ｊｍｉｎ２なるジッタＪ０を算出する（Ｓ２１１）。ここで、Ｋ＞１である。この式は、ジッタ最小値Ｊｍｉｎ２よりも適当量だけ劣化させたジッタＪ０を設定することを意味しており、その劣化量を係数Ｋで調整することを示す。ジッタＪ０を設定した後、ジッタがＪ０以下となるラストオフパルスのうち、最短のラストオフパルスＴｏｆｆｏを選択する（Ｓ２１２）。このＴｏｆｆｏは、ラストオフパルスＴｏｆｆよりも短く、かつジッタＪ０が得られるラストオフパルス幅である。
【００４０】
以上のようにしてＴｍｐの最適値Ｔｍｐｍｉｎ及びラストオフパルスＴｏｆｆの最適値Ｔｏｆｆｏを設定した後、記録ストラテジをこれらの値に設定して光ディスク１０のデータエリアにデータを記録する（Ｓ２１３）。
【００４１】
図７には、Ｓ２１１及びＳ２１２の処理が示されている。図において、横軸はラストオフパルスＴｏｆｆであり、縦軸はテストデータを再生して得られるジッタである。ジッタはある値Ｔｏｆｆｍｉｎ近傍で最小となる。ジッタの最小値Ｊｍｉｎ２に対し、ジッタを劣化させてＪ０を設定し、このジッタＪ０が得られるラストオフパルスＴｏｆｆのうち、最短となるラストオフパルスをＴｏｆｆｏとする。Ｊ０は再生信号品質として許容し得るジッタであり、Ｋは例えば１．１等に設定する。ジッタが最小となるラストオフパルスＴｏｆｆを短縮したＴｏｆｆｏを算出する処理として、Ｊｍｉｎ２が得られるラストオフパルスＴｏｆｆｍｉｎから直接的に算出する、すなわちＴｏｆｆｍｉｎを所定量だけ減じて算出することも可能である。
【００４２】
図８には、この場合の処理フローチャートが示されている。ジッタ最小値Ｊｍｉｎ２及びその時のＴｏｆｆｍｉｎを抽出した後（Ｓ２１０）、Ｔｏｆｆｍｉｎを所定量ΔＴだけ減じた値Ｔｏｆｆｏ＝Ｔｏｆｆｍｉｎ−ΔＴを算出する（Ｓ２１１）。ΔＴは、例えば０．０５Ｔに設定する。そして、記録ストラテジを（Ｔｔｏｐ，Ｔｍｐｍｉｎ，Ｔｏｆｆｏ）としてデータを記録する（Ｓ２１２）。
【００４３】
＜第２実施形態＞
上述した実施形態では、ラストオフパルスＴｏｆｆを短縮することでオーバライトにも対応できる記録ストラテジを設定したが、ラストオフパルスに加え、さらにマルチパルス幅Ｔｍｐを補正することも可能である。本願出願人は、データ未記録状態からデータを記録した時にジッタが最良となる記録ストラテジのマルチパルス幅Ｔｍｐに対し、これを適当量だけ増大させることでオーバライト特性が向上することを見出している。
【００４４】
図１０には、本実施形態の基本処理フローチャートが示されている。まず、光ディスク１０の未記録エリア（テストエリアあるいはＰＣＡエリア）に記録ストラテジを種々変化させてテストデータを記録する（Ｓ３０１）。そして、テストデータのジッタを信号処理部２２で測定し（Ｓ３０２）、コントローラ３０でジッタが最小となるストラテジを選択する（Ｓ３０３）。選択したストラテジに対し、そのマルチパルス幅Ｔｍｐを増大させ、かつ、ラストオフパルスＴｏｆｆｍｉｎを短縮して最適な記録ストラテジを設定する（Ｓ３０４）。以上のようにして記録ストラテジを設定した後、データ記録を行う（Ｓ３０５）。
【００４５】
本実施形態の詳細処理は図５及び図６に示された処理とほぼ同一であるが、図１１に示すようにＳ２０７の処理の後に、ジッタ最小値Ｊｍｉｎ１に対しＪ０＝Ｍ・Ｊｍｉｎ１を算出することでジッタを適当量だけ劣化させる処理を付加する（Ｓ４０１）。ここでＭ＞１である。そして、ジッタがＪ０以下となるマルチパルス幅Ｔｍｐのうち、最長となるマルチパルス幅Ｔｍｐｏを選択する処理を付加する（Ｓ４０２）。以後はＳ２０８の処理に移行し、記録ストラテジのマルチパルス幅をＳ４０２で設定したＴｍｐｏとし、ラストオフパルスＴｏｆｆを変化させてテストデータを記録し、Ｔｏｆｆｍｉｎさらにはこれを短縮化したＴｏｆｆｏを算出する。
【００４６】
図１２には、Ｓ４０１及びＳ４０２の処理が模式的に示されている。図において、横軸はマルチパルス幅Ｔｍｐであり、縦軸はジッタである。ジッタはある値Ｔｍｐｍｉｎで最小値Ｊｍｉｎ１となる。このＪｍｉｎ１を所定量だけ劣化させてＪ０とし、このＪ０が得られるマルチパルス幅のうち最長の値Ｔｍｐｏを選択する。ＴｍｐｏはＴｍｐｍｉｎよりも長く、かつデータ未記録状態からデータを記録する際にジッタＪ０が保証されるマルチパルス幅である。
【００４７】
本実施形態においても、Ｔｍｐｏを算出する際に、ジッタ最小値Ｊｍｉｎ１が得られるマルチパルス幅Ｔｍｐｍｉｎに所定量ΔＴだけ印加して算出してもよい。すなわち、Ｔｍｐｏ＝Ｔｍｐｍｉｎ＋ΔＴである。
【００４８】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更が可能である。
【００４９】
例えば、本実施形態においては光ディスク１０に対する最初のデータ記録であるか、あるいはオーバライトであるかを区別することなく一律に最適記録ストラテジでデータを記録しているが、何らかの方法で最初の記録とオーバライト記録とを区別できる場合には、最初の記録時には図２（ｂ）あるいは図９（ｂ）のストラテジでデータを記録し、オーバライト時には図２（ｃ）あるいは図９（ｃ）のストラテジでオーバライトすることもできる。いずれにせよ、オーバライト特性を考慮した最適記録ストラテジを設定するに際し、テストデータを実際にオーバライトすることなく最適ストラテジを設定できるため、光ディスク１０を装着してから実際にデータを記録するまでの時間を短縮化できる。
【００５０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば光ディスクにデータを記録する際の記録ストラテジを短時間で最適化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 光ディスク装置の全体構成ブロック図である。
【図２】 実施形態の記録ストラテジ説明図である。
【図３】 記録ストラテジ及び形成されるマークの説明図である。
【図４】 実施形態の基本的な処理フローチャートである。
【図５】 実施形態の詳細処理フローチャート（その１）である。
【図６】 実施形態の詳細処理フローチャート（その２）である。
【図７】 ラストオフパルスとジッタとの関係とを示すグラフ図である。
【図８】 実施形態の他の処理フローチャートである。
【図９】 他の実施形態における記録ストラテジ説明図である。
【図１０】 他の実施形態の基本的な処理フローチャートである。
【図１１】 他の実施形態の処理フローチャートである。
【図１２】 マルチパルス幅とジッタとの関係とを示すグラフ図である。
【符号の説明】
１０ 光ディスク、１２ 光ピックアップ、１４ サーボ検出部、１６ トラッキング制御部、１８ フォーカス制御部、２２ 信号処理部、２６ デコーダ、３０ コントローラ、３２ レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）。

Claims (10)

1. 書換可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、
   データ未記録領域にデータを記録する際の最適ストラテジに対し、ストラテジを構成するラストオフパルスの間隔を短縮したストラテジでデータを記録し、かつオーバライトする手段
   を有することを特徴とする光ディスク装置。
2. 書換可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、
   データ未記録領域にデータを記録する際の最適ストラテジに対し、ストラテジを構成するラストオフパルスとマルチパルスの間隔をそれぞれ短縮し増大したストラテジでデータを記録し、かつオーバライトする手段
   を有することを特徴とする光ディスク装置。
3. 書換可能な光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、
   前記光ディスクのデータ未記録エリアにストラテジを変化させつつテストデータを記録するテストデータ記録手段と、
   前記テストデータの再生信号品質を検出する検出手段と、
   前記再生信号品質が最良となる第１マルチパルス間隔及び第１ラストオフパルス間隔を抽出する抽出手段と、
   前記第１ラストオフパルス間隔よりも短い第２ラストオフパルス間隔を有するストラテジを設定する設定手段と、
   設定されたストラテジでデータを記録する記録手段と、
   を有することを特徴とする光ディスク装置。
4. 請求項３記載の装置において、
   前記設定手段では、最良の前記再生信号品質よりも所定量だけ劣化させた再生信号品質が得られる最短の間隔を前記第２ラストオフパルス間隔とすることを特徴とする光ディスク装置。
5. 請求項３記載の装置において、
   前記設定手段では、前記第１ラストオフパルス間隔から所定量だけ減じた間隔を前記第２ラストオフパルス間隔とすることを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項３記載の装置において、
   前記設定手段は、前記第１ラストオフパルス間隔よりも短い第２ラストオフパルス間隔を有し、かつ、前記第１マルチパルス間隔よりも長い第２マルチパルス間隔を有するストラテジを設定する
   ことを特徴とする光ディスク装置。
7. 請求項６記載の装置において、
   前記設定手段では、最良の前記再生信号品質よりも所定量だけ劣化させた再生信号品質が得られる最長の間隔を前記第２マルチパルス間隔とすることを特徴とする光ディスク装置。
8. 請求項６記載の装置において、
   前記設定手段では、前記第１マルチパルス間隔に所定量だけ加えた間隔を前記第２マルチパルス間隔とすることを特徴とする光ディスク装置。
9. 請求項３〜８のいずれかに記載の装置において、
   前記再生信号品質は、ジッタであることを特徴とする光ディスク装置。
10. 請求項３〜８のいずれかに記載の装置において、
    前記再生信号品質は、エラーレートであることを特徴とする光ディスク装置。

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