JP2003208716A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 データ記録可能な光ディスク装置において、
記録ストラテジの最適化を図る。 【解決手段】 コントローラ３０は光ディスク１０のＰ
ＣＡにテストデータを記録し、テストデータの再生信号
の立上ジッタと立下ジッタを算出する。立上ジッタが立
下ジッタよりも所定値以上大きい場合には、３Ｔパルス
の照射エネルギが過剰であると判定して３Ｔパルスのパ
ルス幅を小さくする。また、立下ジッタが立上ジッタよ
りも所定値以上大なる場合には、３Ｔパルスの照射エネ
ルギが不足していると判定し、３Ｔパルスのパルス幅を
増大させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置、特
にデータ記録可能な光ディスク装置における記録ストラ
テジ最適化に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ、ＤＶ
Ｄ−ＲＷ等のデータ記録可能な光ディスク装置におい
て、光ディスクの所定エリア（ＰＣＡエリア）に記録パ
ワーを種々変化させてテストデータを記録し、該テスト
データの再生信号品質に基づき記録パワーを最適化する
ＯＰＣ（Optimum Power Control）技術が用いられてい
る。再生信号品質としては、β値や変調度ｍ、あるいは
変調度ｍの特性から求められるパラメータγが用いられ
る。

【０００３】しかしながら、再生信号品質として例えば
β値を用いた場合、光ディスク装置毎のピックアップの
ばらつきやβ値測定回路のばらつきが存在するため、目
標β値が得られる記録パワーを検出したとしてもその記
録パワーがその光ディスク装置にとって必ずしも最適記
録パワーであるとは限らず、より高品質の記録を可能と
するためには記録パワーだけでなく記録ストラテジ（記
録パルス発光波形規則）も変更すべき場合も少なくな
い。γ値や変調度ｍを用いた場合も同様である。このた
め従来より、記録ストラテジも最適化する技術が提案さ
れている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところが、記録ストラ
テジのパラメータとしてはトップパルスのパルス幅やト
ップパルスに続くマルチパルスのパルス幅など複数存在
し、これらのパラメータの全ての組み合わせを試して記
録条件を最適化することは困難である。

【０００５】特に、複数のパラメータを任意に変更して
その都度再生信号品質を測定し、得られた再生信号品質
が最良となる組み合わせを選択する処理では、処理に時
間を要するだけでなく限られたＰＣＡエリアにおいて最
適化できない問題が生ずる。したがって、記録ストラテ
ジを変更する場合でも、記録ストラテジの変更方向を正
しく認識し、あるいは限られた範囲内でのみパラメータ
を変更して短時間に最適化できる技術が望まれている。

【０００６】本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑
みなされていたものであり、その目的は、記録ストラテ
ジを容易かつ迅速に最適化することができ、これにより
記録品質を向上させることができる光ディスク装置を提
供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、データ記録可能な光ディスク装置であっ
て、光ディスクにテストデータを記録する記録手段と、
前記テストデータを再生して得られる再生信号の少なく
ともピットジッタあるいはランドジッタのいずれかを検
出する検出手段と、検出したジッタの大きさに基づき記
録ストラテジの変更方向を決定して変更するストラテジ
設定手段とを有することを特徴とする。

【０００８】ここで、前記検出手段は、前記ピットジッ
タ及びランドジッタを検出し、前記ストラテジ設定手段
は、前記ピットジッタとランドジッタの大小関係に基づ
き前記記録ストラテジの変更方向を決定することが好適
である。

【０００９】また、前記ストラテジ設定手段は、前記ピ
ットジッタの方がランドジッタよりも所定値以上大きい
場合には、ピット長がしきい値以下の短記録パルスの照
射エネルギを小さくするように前記記録ストラテジを変
更することが好適である。

【００１０】また、前記ストラテジ設定手段は、前記ラ
ンドジッタの方がピットジッタよりも所定値以上大きい
場合には、ピット長がしきい値以下の短記録パルスの照
射エネルギを大きくするように前記記録ストラテジを変
更することが好適である。

【００１１】また、前記検出手段は、前記ピットジッタ
を検出し、前記ストラテジ設定手段は、前記ピットジッ
タが所定値以上の場合には、ピット長がしきい値以下の
短記録パルスの照射エネルギを小さくするように前記記
録ストラテジを変更することも好適である。

【００１２】また、前記検出手段は、前記ランドジッタ
を検出し、前記ストラテジ設定手段は、前記ランドジッ
タが所定値以上の場合には、ピット長がしきい値以下の
短記録パルスの照射エネルギを大きくするように前記記
録ストラテジを変更することも好適である。

【００１３】本装置において、前記ストラテジ設定手段
は、前記短記録パルスのパルス幅を増減することにより
前記照射エネルギを変化させることができる。

【００１４】また、本装置において、前記ストラテジ設
定手段は、前記短記録パルスのパワーを増減することに
より前記照射エネルギを変化させることもできる。

【００１５】また、本装置において、前記短記録パルス
は３Ｔあるいは４Ｔの少なくともいずれかとすることが
できる。

【００１６】本発明は、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ
−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等、データ記録可能な光ディス
ク装置（ドライブ）に広く適用することができる。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
形態について説明する。

【００１８】図１には、本実施形態に係る光ディスク装
置の構成ブロック図が示されている。ＣＤ−Ｒ／ＲＷや
ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ等の記録可能な光ディスク１０は、図
示しないスピンドルモータにより回転駆動される。

【００１９】ピックアップ（ＰＵ）１２は、光ディスク
１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光
を照射するレーザダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダ
イオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２
により駆動され、データを再生する際には再生パワーの
レーザ光を照射し、記録する際には記録パワー（記録パ
ワー＞再生パワー）のレーザ光を照射する。また、ピッ
クアップ１２は、光ディスク１０から反射したレーザ光
を電気信号に変換するフォトディテクタを有し、再生信
号をサーボ検出部１４及びＲＦ検出部２０に出力する。

【００２０】サーボ検出部１４は、ピックアップ１２か
らの信号に基づきトラッキングエラー信号及びフォーカ
スエラー信号を生成してそれぞれトラッキング制御部１
６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキング
制御部１６は、トラッキングエラー信号に基づきピック
アップ１２を光ディスク１０のトラック方向に駆動して
オントラック状態とする。また、フォーカス制御部１８
はフォーカスエラー信号に基づきピックアップ１２をフ
ォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態とする。例
えば４分割フォトディテクタの場合、半径方向に分割さ
れたディテクタの差分からトラッキングエラー信号が生
成され、４分割フォトディテクタの対角和の差分からフ
ォーカスエラー信号が生成される。もちろん、他の方式
も可能である。

【００２１】ＲＦ検出部２０は、ピックアップ１２から
の信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、β値測定回路
２８及びイコライザ（ＥＱ）２２に出力する。β値測定
回路２８は、再生ＲＦ信号のβ値、より詳しくはテスト
データの再生ＲＦ信号のβ値を算出してコントローラ３
０に出力する。ちなみに、β値は、

【数１】β値＝（｜Ａ１｜−｜Ａ２｜）／（｜Ａ１｜＋
｜Ａ２｜） で定義される。Ａ１はＡＣ結合されたＲＦ信号のピーク
値、Ａ２はボトム値である。

【００２２】イコライザ２２は、再生ＲＦ信号の所定周
波数、具体的には３Ｔ信号の振幅をブーストして二値化
器２４に出力する。二値化器２４は、ブーストされたＲ
Ｆ信号を二値化し、デコーダ２６及びジッタ測定回路２
７に出力する。デコーダ２６は、入力した二値化信号を
復調してコントローラ３０に出力する。復調は、図示し
ないＰＬＬ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽
出することで実行される。

【００２３】また、ジッタ測定回路２７は、二値化信号
のジッタ値、より詳しくはテストデータの再生二値化信
号のジッタを算出してコントローラ３０に出力する。通
常、ジッタは二値化信号の立上タイミング及び立下タイ
ミングと同期クロック信号との位相ずれの和で表される
が、本実施形態におけるジッタ測定回路２７は、立上タ
イミングと図示しないＰＬＬ回路で生成された同期クロ
ック信号との位相ずれ（立上ジッタあるいはピットジッ
タ）、立下タイミングと同期クロック信号との位相ずれ
（立下ジッタあるいはランドジッタ）をそれぞれ算出し
てコントローラ３０に出力する。

【００２４】コントローラ３０は、サーボ検出部１４や
ＲＦ検出部２０、ＬＤＤ３２等の各部の動作を制御する
とともに、デコーダ２６からの復調データをパーソナル
コンピュータ等の上位装置に出力する。

【００２５】また、コントローラ３０は、データ記録時
には上位装置からの記録データに基づきＬＤＤ３２を駆
動し、設定された記録ストラテジでデータを記録する。
記録ストラテジは、例えばＤＶＤ−Ｒの場合、３Ｔ〜１
４Ｔ（Ｔはトラック方向長さの基準周期）のデータのう
ち３Ｔは単一パルスで記録し、４Ｔ以上はマルチパルス
でデータを記録するときの先頭パルス（トップパルス）
のパルス幅やパルス振幅、後続パルスのパルス幅やパル
ス振幅で規定される。コントローラ３０は、データ記録
に先立って光ディスク１０のＰＣＡエリアを用いて記録
パワーを最適化するとともに、記録ストラテジも最適化
する。実際のデータ記録時には、コントローラ３０はＰ
ＣＡエリアで最適化されたパワー及び記録ストラテジで
ＬＤＤ３２を駆動する。

【００２６】図２には、ジッタ測定回路２７で測定され
る立上ジッタ及び立下ジッタが示されている。図２
（ａ）はテストデータの再生ＲＦ信号を二値化して得ら
れる二値化信号である。二値化信号は、ＬＤから記録パ
ワーのレーザ光を照射して光ディスク１０にピットを形
成する「マーク」とＬＤから記録パワーのレーザ光が照
射されずにピットが形成されずランドとなる「スペー
ス」に分けられる。図２（ｂ）はＰＬＬ回路で生成され
る同期クロック信号である。立上ジッタ、言い換えれば
ピットの開始ジッタ（ピットジッタ）は、再生二値化信
号の立上タイミングと同期クロック信号との位相ずれで
あり、立下ジッタ、言い換えればランドの開始ジッタ
（ランドジッタ）は再生二値化信号の立下タイミングと
同期クロック信号との位相ずれである。コントローラ３
０は、立上ジッタと立下ジッタの大小関係に応じて記録
ストラテジの変更方向を決定する。

【００２７】図３には、記録ストラテジの一例が示され
ている。ＤＶＤ−Ｒの場合、記録パルスとしては３Ｔ〜
１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔはトラック方向長さの基準周期）
が存在し、既述したように最もピット長の短い３Ｔパル
スは単一のパルスで記録され、４Ｔ以上のパルスはマル
チパルスで記録される。トップパルスのパルス幅Ｔｔｏ
ｐは例えば１．５５Ｔ、マルチパルスのパルス幅Ｔｍｐ
は例えば０．６５Ｔとされる。コントローラ３０は、こ
のストラテジを基本ストラテジとし、基本ストラテジの
３Ｔパルスの照射エネルギを増減して最適化を図る。

【００２８】図４には、本実施形態の基本フローチャー
トが示されている。まず、図３に示された基本ストラテ
ジで光ディスク１０のＰＣＡエリアにテストデータを記
録する（Ｓ１０１）。このときの記録パワーは公知のＯ
ＰＣにより最適化された記録パワーでもよいが、固定の
記録パワーを用いることもできる。次に、テストデータ
を再生し、その再生二値化信号から立上ジッタＪｒと立
下ジッタＪｄを測定する（Ｓ１０２）。立上ジッタＪｒ
と立下ジッタＪｄを測定した後、両ジッタ値を大小比較
する（Ｓ１０３）。そして、Ｊｒ＞Ｊｄである場合、す
なわち立上ジッタＪｒの方が立下ジッタＪｄよりも大き
い場合、短記録パルス（具体的には３Ｔ）の照射エネル
ギを小さくするように変更する（Ｓ１０４）。一方、Ｓ
１０３にて立下ジッタＪｄの方が立上ジッタＪｒより大
きいと判定された場合には、逆に短記録パルスの照射エ
ネルギを大きくするように記録ストラテジを変更する
（Ｓ１０５）。なお、立上ジッタＪｒと立下ジッタＪｄ
との相違が所定値以上ある場合にのみＳ１０４あるいは
Ｓ１０５の処理に移行し、立上ジッタＪｒと立下ジッタ
Ｊｄとの差が所定の範囲内にあって実質的に同等である
場合には、短記録パルスの照射エネルギを現在のままに
維持してもよい。

【００２９】立上ジッタＪｒと立下ジッタＪｄの値に基
づきストラテジの変更方向を決定できる理由は以下の通
りであると考えられる。すなわち、立上ジッタＪｒはピ
ットの記録開始のばらつき度合いを示しており、これは
前記録パルスの熱が完全に逃げていない状態において次
のピットを形成しようとするために熱干渉を起こして記
録オーバ状態となったことを示しており、このような前
記録パルスの熱による影響は３Ｔパルスのように短い記
録パルスほどその影響が大きい。そこで、立上ジッタＪ
ｒが大きい場合には、３Ｔパルスのエネルギを小さくす
ることで隣接ピットへの影響を抑制して記録オーバ状態
を防止できる。一方、立下ジッタはランドの開始位置の
ばらつき度合いを示しており、特に３Ｔパルスにおいて
エネルギが少ないためにピット形成の後のランド開始位
置にばらつきが生じたものである。したがって、立下ジ
ッタが大きい場合には、３Ｔパルスのエネルギを大きく
することで、記録不足状態を解消できる。

【００３０】このように、本実施形態では、立上ジッタ
Ｊｒが大なる場合には３Ｔパルスの照射エネルギを小さ
くするように変更し、立下ジッタＪｄが大なる場合には
３Ｔパルスの照射エネルギを大きくするように変更する
が、照射エネルギを増減させる方法としては種々可能で
ある。

【００３１】図５には、３Ｔパルスの照射エネルギを増
減変更する方法が示されている。（ａ）は３Ｔ記録デー
タ波形であり、（ｂ）〜（ｆ）はこの記録データに対す
る記録パルス波形である。（ｂ）は図３に示された基本
ストラテジであり、パルス幅が１．５５Ｔ、パルス振
幅、すなわち記録パワーがＰｏである。（ｃ）は立下ジ
ッタＪｄが大なるため３Ｔパルスの照射エネルギを大き
くする場合の一例であり、記録パルスのパルス幅を１．
５５Ｔから１．６０Ｔに増大させる。（ｄ）は立上ジッ
タＪｒが大なる場合に照射エネルギを小さくする場合の
一例であり、記録パルスのパルス幅を１．５５Ｔから
１．５０Ｔに減少させる。（ｅ）は立上ジッタＪｒが大
なる場合に照射エネルギを小さくするための他の例であ
り、記録パルスのパワーをＰｏからＰｏ−ΔＰと小さく
する。（ｆ）は立下ジッタＪｄが大なる場合に照射エネ
ルギを大きくするための他の例であり、記録パルスのパ
ワーをＰｏからＰｏ＋ΔＰと増大させる。記録パルスの
パルス幅或いはパワーのいずれか、或いはパルス幅とパ
ワーをともに増減することで３Ｔパルスの照射エネルギ
を増減させてストラテジが変更される。

【００３２】図６及び図７には、本実施形態の詳細フロ
ーチャートが示されている。コントローラ３０は、光デ
ィスク１０のコントロールデータゾーンに予め記録され
ているデータを読み取り（Ｓ２０１）、基本ストラテジ
を取得する（Ｓ２０２）。コントローラ３０のメモリに
予め光ディスク１０のメーカ毎の基本ストラテジを記録
しておき、コントロールデータゾーンから光ディスク１
０のメーカを取得し、対応する基本ストラテジをメモリ
から読み出すこともできる。

【００３３】基本ストラテジを取得した後、さらに光デ
ィスク１０に予め記録されたデータ、或いはメーカ毎に
メモリに記憶された値を読み出すことでβ値の目標値β
ｏ及びジッタパラメータＳｐを設定する（Ｓ２０３）。
目標βｏは記録パワーを最適化するために用いるβ値で
あり、Ｓｐは立上ジッタＪｒと立下ジッタＪｄの差分値
を評価する、すなわち両ジッタに所定値以上の相違が存
在するか否かを評価するためのパラメータである。

【００３４】基本パラメータを設定した後、光ディスク
１０のＰＣＡエリアの所定数フレーム、例えば１０フレ
ーム分に記録パワーを１０段階に変化させてテストデー
タを記録し（Ｓ２０４）、テストデータを再生してその
β値をβ値測定回路２８で測定する（Ｓ２０５）。得ら
れた１０個のβ値はコントローラ３０に供給され、コン
トローラ３０はこれらのβ値から目標値βｏが得られる
記録パワーＰｏを直線近似等により算出する（Ｓ２０
６）。

【００３５】基本ストラテジの下で記録パワーを最適化
した後（本実施形態では記録ストラテジも最適化するた
め、記録パワーの最適化を厳密に行う必要はない）、光
ディスク１０のＰＣＡエリアの次の１フレームに基本ス
トラテジ及び最適記録パワーＰｏでさらにテストデータ
を記録する（Ｓ２０７）。そして、該テストデータを再
生し、再生二値化信号の立上ジッタＪｒと立下ジッタＪ
ｄをジッタ測定回路２７でそれぞれ測定する（Ｓ２０
８）。得られた立上ジッタＪｒと立下ジッタＪｄはコン
トローラ３０に供給される。コントローラ３０は、供給
されたジッタ値に基づき、差分値Ｋ＝Ｊｒ−Ｊｄを算出
する（Ｓ２０９）。

【００３６】差分値Ｋを算出した後、図７に示されるよ
うに、コントローラ３０は算出した差分値Ｋの絶対値｜
Ｋ｜とジッタパラメータＳｐとを大小比較し、｜Ｋ｜が
ジッタパラメータＳｐより小さい場合、すなわち立上ジ
ッタＪｒと立下ジッタＪｄに所定値以上の相違がなく実
質的に等しい場合には、現在の基本ストラテジがほぼ適
当な基本ストラテジであると判定し、基本ストラテジを
中心としてアップ側及びダウン側にストラテジをそれぞ
れ２段階に変更して各々２フレーム分だけテストデータ
を記録する（Ｓ２１１）。なお、アップ側とは３Ｔの照
射エネルギを増大させる側を意味し、ダウン側とは３Ｔ
の照射エネルギを減少させる側を意味する。具体的に
は、基本ストラテジを中心に３Ｔトップパルスのパルス
幅を１．６０Ｔ、１．６５Ｔに変更することで照射エネ
ルギを増大させ、３Ｔトップパルスのパルス幅を１．５
０Ｔ、１．４５Ｔに変更することで照射エネルギを減少
させる。なお、パルス幅の増減は、パルスの終了タイミ
ングを固定しパルスの開始タイミングをずらすことで行
われる。また、３Ｔ以外のトップパルス及びマルチパル
スのパルス幅は一定とする。結局、以下のようなストラ
テジで合計５フレーム分のテストデータが記録されるこ
とになる。

【００３７】 （１）３Ｔトップパルス １．５５Ｔ（基本） （２）３Ｔトップパルス １．６０Ｔ（アップ側） （３）３Ｔトップパルス １．６５Ｔ（アップ側） （４）３Ｔトップパルス １．５０Ｔ（ダウン側） （５）３Ｔトップパルス １．４５Ｔ（ダウン側） なお、３Ｔ以外のトップパルス及びマルチパルスのパル
ス幅はそれぞれ１．５５Ｔ、０．６５Ｔと固定である。
立上ジッタＪｒと立下ジッタＪｄが実質的に同一の場合
でもアップ側及びダウン側にストラテジを変更するの
は、基本ストラテジの近傍にさらに最適なストラテジが
存在する可能性があることを考慮したものである。図４
でも説明したように、ストラテジを変更することなく現
在のストラテジで実際のデータを記録してもよい。

【００３８】一方、｜Ｋ｜がジッタパラメータＳｐ以上
である場合、コントローラ３０はさらに差分値Ｋが正又
は負のいずれであるか、すなわち立上ジッタＪｒと立下
ジッタＪｄのいずれが大きいかを判定する（Ｓ２１
２）。そして、差分値Ｋが正なる場合、すなわち立上ジ
ッタＪｒの方が立下ジッタＪｄよりも所定値Ｓｐ以上大
きい場合には、照射エネルギが過剰であると判定してス
トラテジをダウン側に５フレーム分変更してテストデー
タを記録する（Ｓ２１３）。具体的には、以下のような
ストラテジでテストデータを記録する。

【００３９】 （１）３Ｔトップパルス １．５０Ｔ（ダウン側） （２）３Ｔトップパルス １．４５Ｔ（ダウン側） （３）３Ｔトップパルス １．４０Ｔ（ダウン側） （４）３Ｔトップパルス １．３５Ｔ（ダウン側） （５）３Ｔトップパルス １．３０Ｔ（ダウン側） ３Ｔ以外のトップパルスは１．５５Ｔと固定である。ま
た、差分値Ｋが負、すなわち立下ジッタＪｄの方が立上
ジッタＪｒより所定値Ｓｐ以上大きい場合には、照射エ
ネルギが不足していると判定し、ストラテジをアップ側
に５フレーム分変更してテストデータを記録する（Ｓ２
１４）。具体的には、以下のようなストラテジでテスト
データを記録する。

【００４０】 （１）３Ｔトップパルス １．６０Ｔ（アップ側） （２）３Ｔトップパルス １．６５Ｔ（アップ側） （３）３Ｔトップパルス １，７０Ｔ（アップ側） （４）３Ｔトップパルス １．７５Ｔ（アップ側） （５）３Ｔトップパルス １．８０Ｔ（アップ側） ３Ｔ以外のトップパルスは１．５５Ｔと固定である。Ｓ
２１１、Ｓ２１３、Ｓ２１４で５フレーム分テストデー
タを記録した後、これらのテストデータを再生し、その
再生二値化信号のジッタ（立上ジッタと立下ジッタの
和）が最小となるストラテジを選択し、データ記録時の
ストラテジとする（Ｓ２１５）。

【００４１】本実施形態では、しらみつぶし的にストラ
テジを変更するのではなく、ストラテジの変更方向を決
定し、その方向にストラテジを変更して最適化するた
め、短時間にかつ確実にストラテジを最適化することが
可能である。

【００４２】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更
が可能である。

【００４３】例えば、本実施形態では、立上ジッタＪｒ
がピットジッタ、立下ジッタＪｄがランドジッタに相当
するとして説明しているが、立上ジッタＪｒがランドジ
ッタ、立下ジッタＪｄがピットジッタに相当する場合に
はストラテジの変更方向が互いに逆となることは云うま
でもない。本発明の本質は、ピットジッタが大なる場合
に照射エネルギを小さくし、ランドジッタが大なる場合
には照射エネルギを大きくするようにストラテジを変更
することにある。

【００４４】また、本実施形態においては立上ジッタＪ
ｒと立下ジッタＪｄの差分値Ｋを用いてストラテジの変
更方向を決定しているが、立上ジッタＪｒのみを検出
し、この立上ジッタＪｒを所定値と比較してストラテジ
を変更することも可能である。具体的には、立上ジッタ
Ｊｒが所定値以上である場合には、現在のストラテジを
ダウン側に変更して新たなストラテジとし、所定値より
小さい場合には現在のストラテジを維持あるいはアップ
側に変更する等である。また、立下ジッタＪｄのみを検
出し、立下ジッタＪｄが所定値以上である場合には、現
在のストラテジをアップ側に変更して新たなストラテジ
とし、所定値より小さい場合には現在のストラテジを維
持あるいはダウン側に変更する等である。

【００４５】また、本実施形態においてはβ値を用いて
記録パワーを最適化しているが、ジッタが最小となる記
録パワーを選択することで記録パワーを最適化すること
も可能である。この場合、図１におけるβ値測定回路２
８が不要となり構成が簡略化される。

【００４６】また、記録パワーを最適化するための再生
信号品質として、β値の他にγ値や変調度ｍを用いても
よい。

【００４７】また、本実施形態においては、差分値Ｋに
基づきアップ側或いはダウン側に所定数フレームだけス
トラテジを変化させてテストデータを記録しているが、
差分値Ｋに基づき直ちに最適ストラテジを設定すること
も可能である。具体的には、図６のＳ２０９にて差分値
Ｋを算出した後、コントローラ３０は３Ｔのパルス幅
を、

【数２】Ｔｔｏｐ＝（θ−αＫ）Ｔ により決定してもよい。ここで、θＴは基本ストラテジ
における３Ｔパルス幅であり、αは係数（α＞０）であ
る。Ｋが正の場合、基本ストラテジよりも３Ｔパルスの
パルス幅が減少し、Ｋが負の場合には３Ｔパルスのパル
ス幅が増大する。また、Ｋの値が大きい程ストラテジの
変更幅も増大することが理解されよう。上式を用いるこ
とで、コントローラ３０はさらに迅速に最適なストラテ
ジを決定することができる。

【００４８】さらに、本実施形態では最短のパルスであ
る３Ｔパルスのパルス幅を増減することでストラテジを
変更しているが、パルス長がしきい値以下の短いパル
ス、例えば４Ｔ以下のパルス幅を増減することでストラ
テジを変更してもよく、３Ｔパルスと４Ｔパルスのいず
れか、あるいは両パルスのパルス幅を変更することも可
能である。３Ｔパルスと４Ｔパルスのパルス幅を共に変
更する場合、変更幅は同一とすることもでき、４Ｔパル
スの変更幅を３Ｔパルスの変更幅より小さくしてもよ
い。後者の場合、４Ｔパルスのトップパルスのパルス幅
は、例えば

【数３】Ｔｔｏｐ＝（θ−２／３・αＫ）Ｔ とすればよい。

【００４９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば記
録ストラテジを容易かつ迅速に最適化することができ、
これにより記録品質を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 実施形態の構成ブロック図である。

【図２】 ジッタ算出説明図である。

【図３】 ストラテジ説明図である。

【図４】 実施形態の基本フローチャートである。

【図５】 ストラテジ変化説明図である。

【図６】 実施形態の詳細フローチャート（その１）で
ある。

【図７】 実施形態の詳細フローチャート（その２）で
ある。

【符号の説明】

１０ 光ディスク装置、１２ ピックアップ（ＰＵ）、
１４ サーボ検出部、１６ トラッキング制御部、１８
フォーカス制御部、２０ ＲＦ検出部、２２イコライ
ザ（ＥＱ）、２４ 二値化器、２６ デコーダ、２７
ジッタ測定回路、２８ β値測定回路、３０ コントロ
ーラ。

フロントページの続き Ｆターム(参考） 5D044 BC04 CC04 GK12 5D090 AA01 BB04 CC01 CC05 CC16 CC18 EE01 HH01 JJ12 KK05 LL09 5D119 AA13 AA23 BA01 BB03 DA01 DA09 EC09 HA19 HA46 HA47 HA60 5D789 AA13 AA23 BA01 BB03 DA01 DA09 EC09 HA19 HA46 HA47 HA60

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データ記録可能な光ディスク装置であっ
   て、 光ディスクにテストデータを記録する記録手段と、 前記テストデータを再生して得られる再生信号の少なく
   ともピットジッタあるいはランドジッタのいずれかを検
   出する検出手段と、 検出したジッタの大きさに基づき記録ストラテジの変更
   方向を決定して変更するストラテジ設定手段と、 を有することを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の装置において、 前記検出手段は、前記ピットジッタ及びランドジッタを
   検出し、 前記ストラテジ設定手段は、前記ピットジッタとランド
   ジッタの大小関係に基づき前記記録ストラテジの変更方
   向を決定することを特徴とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載の装置において、 前記ストラテジ設定手段は、前記ピットジッタの方がラ
   ンドジッタよりも所定値以上大きい場合には、ピット長
   がしきい値以下の短記録パルスの照射エネルギを小さく
   するように前記記録ストラテジを変更することを特徴と
   する光ディスク装置。
4. 【請求項４】 請求項２記載の装置において、 前記ストラテジ設定手段は、前記ランドジッタの方がピ
   ットジッタよりも所定値以上大きい場合には、ピット長
   がしきい値以下の短記録パルスの照射エネルギを大きく
   するように前記記録ストラテジを変更することを特徴と
   する光ディスク装置。
5. 【請求項５】 請求項１記載の装置において、 前記検出手段は、前記ピットジッタを検出し、 前記ストラテジ設定手段は、前記ピットジッタが所定値
   以上の場合には、ピット長がしきい値以下の短記録パル
   スの照射エネルギを小さくするように前記記録ストラテ
   ジを変更することを特徴とする光ディスク装置。
6. 【請求項６】 請求項１記載の装置において、 前記検出手段は、前記ランドジッタを検出し、 前記ストラテジ設定手段は、前記ランドジッタが所定値
   以上の場合には、ピット長がしきい値以下の短記録パル
   スの照射エネルギを大きくするように前記記録ストラテ
   ジを変更することを特徴とする光ディスク装置。
7. 【請求項７】 請求項３〜６のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記ストラテジ設定手段は、前記短記録パルスのパルス
   幅を増減することにより前記照射エネルギを変化させる
   ことを特徴とする光ディスク装置。
8. 【請求項８】 請求項３〜６のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記ストラテジ設定手段は、前記短記録パルスのパワー
   を増減することにより前記照射エネルギを変化させるこ
   とを特徴とする光ディスク装置。
9. 【請求項９】 請求項３〜８のいずれかに記載の装置に
   おいて、 前記短記録パルスは３Ｔあるいは４Ｔの少なくともいず
   れかであることを特徴とする光ディスク装置。