JP2003067926A - 光ディスク装置 - Google Patents

光ディスク装置

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JP2003067926A
JP2003067926A JP2001258545A JP2001258545A JP2003067926A JP 2003067926 A JP2003067926 A JP 2003067926A JP 2001258545 A JP2001258545 A JP 2001258545A JP 2001258545 A JP2001258545 A JP 2001258545A JP 2003067926 A JP2003067926 A JP 2003067926A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録可能な光ディスク装置において、記録パ
ワーのマージンを確保する。 【解決手段】 光ディスク装置の制御部24は、OPC
により記録パワーの最適化を図る。OPCでテストデー
タを記録する際に、記録条件を意図的に劣化させる。例
えば、光ディスク10を所定量だけチルトさせてテスト
データを記録し、チルトをゼロに戻してテストデータを
再生し、再生信号のジッタやエラーレートを測定する。
ジッタやエラーレートの変化量が大きい場合には記録マ
ージンが小さく、変化量が小さい場合には記録マージン
が大きいとして記録マージンの大きい記録パワーを選択
して最適記録パワーとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置、特
に記録可能な光ディスクにデータを記録する際のパワー
最適化に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、OPC(Optical Power Contr
ol)により光ディスクにデータを記録する際の記録パワ
ーを最適化する技術が知られている。OPCでは、光デ
ィスクの所定エリアPCAに種々のパワーでテストデー
タをテスト記録し、各記録パワーのテストデータを再生
してジッタ最小あるいはエラーレート最小となる記録パ
ワー、あるいはジッタやエラーレートがあるしきい値以
下となる記録パワーを選択して最適パワーを決定してい
る。
【0003】なお、このようにテスト記録で最適記録パ
ワーを決定するのではなく、DVD−RAMなどにおい
ては光ディスクのコントロールデータゾーンに予め最適
記録パワーを記録しておき、まずコントロールデータゾ
ーンに記録されている最適記録パワーデータを読み出し
て当該記録パワーで記録する方法も知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、光ディ
スクのコントロールデータゾーンにあらかじめ記録され
ている最適記録パワーデータを用いる方法では、光ディ
スクと光ディスクドライブ(光ディスク装置)の組み合
わせが変化した場合に必ずしも最適記録パワーでデータ
を記録できるとは限らない問題がある。すなわち、光デ
ィスク装置の光ピックアップその他の光学特性は種々で
あり、ある基準の光ディスク装置を用いて得られた最適
記録パワーが他の光ディスク装置でもそのまま適用でき
るとは限らない。また、光ディスクの経時劣化により記
録特性が変化し、最適記録パワーが変動した場合には十
分対応できない問題がある。
【0005】一方、OPCにより最適記録パワーを決定
する方法では、このような問題を解消することができる
が、決定したその記録パワーで記録マージンが十分とれ
るか否かを知ることができず、安定した記録ができない
おそれがある。もちろん、OPCで最適記録パワーを決
定する際、本来の最適記録パワーよりも高めに記録パワ
ーを設定することで、記録マージンを確保することも考
えられるが、徒に記録パワーを高くすると記録可能回数
が低下し耐久性に問題が生じる。
【0006】本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑
みなされたものであり、その目的は、記録マージンを十
分に確保しつつ最適記録パワーを決定することができ、
これにより耐久性を含む記録品質を向上させることが可
能な光ディスク装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、光ディスクの所定領域に記録パワーを変
化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号
品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装
置であって、前記テスト記録時に記録条件を通常状態か
ら劣化させて記録する手段と、前記記録条件を前記通常
状態に復帰させて前記テスト記録データを再生し、得ら
れた再生信号品質に基づき最適記録パワーを決定する手
段とを有することを特徴とする。
【0008】ここで、前記決定する手段は、前記記録条
件を劣化させた場合の各記録パワー間の再生信号品質の
変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好
適である。
【0009】前記記録条件の劣化は、前記光ディスクの
光ピックアップに対する傾き(チルト)とすることがで
きる。
【0010】前記記録条件の劣化は光ピックアップのフ
ォーカスオフセット値変化とすることができる。
【0011】また、前記再生信号品質としてはジッタ量
を用いることができ、前記決定する手段は、前記記録条
件を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化
量に基づき前記最適記録パワーを決定することが好適で
ある。具体的には、前記決定する手段は、前記記録条件
を劣化させた場合の各記録パワー間のジッタ量の変化量
と所定値とを比較することにより前記最適記録パワーを
決定することができる。
【0012】また、前記再生信号品質としてエラーレー
トを用いることができ、前記決定する手段は、前記記録
条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレート
の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定することが
好適である。具体的には、前記決定する手段は、前記記
録条件を劣化させた場合の各記録パワー間のエラーレー
トの変化量と所定値とを比較することにより前記最適記
録パワーを決定することができる。
【0013】また、本発明は、光ディスクの所定領域に
記録パワーを変化させてテスト記録し、該テスト記録デ
ータの再生信号品質に基づいて最適記録パワーを決定す
る光ディスク装置であって、前記テスト記録時に記録条
件を通常状態から劣化させて記録する手段と、前記記録
条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記録データ
を再生し、得られた再生信号品質の劣化が相対的に少な
い記録パワーを最適記録パワーとして決定する手段とを
有することを特徴とする。
【0014】このように、本発明においては、記録パワ
ーを種々変化させてテストデータを記録する際、従来の
ように通常の状態、すなわち最良と考えられる条件でテ
スト記録するのではなく、あえて記録条件を劣化させて
テストデータを記録する。このとき、記録マージンが小
さい記録パワーでは記録条件劣化に伴い再生信号品質も
劣化するが、逆に記録マージンに余裕のある記録パワー
では再生信号品質の劣化は小さい。したがって、記録条
件を意図的に劣化させて記録したテストデータの再生信
号品質を評価することで、当該記録パワーのマージンを
評価することができ、これにより記録マージンに優れた
記録パワーを決定することができる。
【0015】なお、記録条件を意図的に劣化させるに
は、例えば光ディスクの光ピックアップに対する傾き
(チルト)や光ピックアップのフォーカスオフセットを
最良条件から変化させればよい。
【0016】図1には、チルトを0(傾きなし)から変
化させた場合のテストデータの再生信号品質(ジッタ)
の変化が示されている。すなわち、チルトを0から変化
させてテストデータを記録し、記録後にチルトを0に戻
してテストデータを再生したときのジッタの変化が示さ
れている。図において、横軸はチルト角であり、縦軸は
再生信号のジッタ量である。図において、記録パワーと
してA、B、C(A<B<C)の場合が示されている。
A、B、Cの差は一定値kで等間隔である。すなわち、
B−A=C−B=kである。記録パワーAの場合には、
チルト角が+あるいは−方向に増大して記録条件が劣化
するに従って再生信号のジッタ量が増大し、再生信号品
質が低下する。一方、記録パワーAよりも大きな記録パ
ワーBの場合には、チルト角が増大するとジッタ量も増
大するが、記録パワーAほどにはジッタ量は増大せず、
再生信号品質の劣化は小さい。さらに、記録パワーCの
場合には、チルト角が+あるいは−方向に増大しても、
ジッタ量はほとんど変化せず、再生信号品質の劣化は非
常に少ない。このように、記録パワーAでは記録マージ
ンが少なく、記録パワーBやCでは記録マージンが大き
く、記録マージンの観点からこれらの記録パワーが適し
ていることがわかる。そして、あるチルト角に着目する
と、記録パワーA、B、Cはパワー間隔が等間隔である
ものの、記録パワーA,B間のジッタ変化量は大きく、
記録パワーB、Cでは変化量は小さくジッタ量はほとん
ど同じである。すなわち、記録パワーをCほど増大させ
ずにBのレベルに抑えたとしても、記録マージンを十分
確保できることがわかる。
【0017】一方、図2にはチルト角と再生信号品質の
エラーレートの関係が示されている。
【0018】すなわち、チルトを0から変化させてテス
トデータを記録し、記録後にチルトを0に戻してテスト
データを再生したときのエラーレートの変化が示されて
いる。図において、横軸は図1と同様チルト角であり、
縦軸は再生信号品質のエラーレートである。図1の場合
と同様、記録パワーA、B、Cの場合について示されて
いる。記録パワーAの場合には、チルト角が+あるいは
−に増大するとエラーレートも急激に増大し、再生信号
品質も劣化する。一方、記録パワーBあるいはCの場合
には、チルト角が+あるいは−方向に増大してもエラー
レートは記録パワーAほどには変化しておらず、再生信
号品質の劣化は小さい。エラーレートの点からも、記録
パワーB、Cが記録マージンの点から優れており、か
つ、変化量の大小から記録パワーBにより記録パワーC
と同程度の記録マージンを確保できることがわかる。
【0019】さらに、図3および図4には、チルトでは
なく、光ピックアップのフォーカスオフセットを変化さ
せて記録条件を劣化させた場合の再生信号品質(ジッタ
及びエラーレート)が示されている。すなわち、フォー
カスオフセットを変化させてテストデータを記録し、記
録後にフォーカスオフセットを元に戻して再生したとき
のジッタ及びエラーレート変化が示されている。両図に
おいて、横軸は光ピックアップのフォーカスオフセット
であり、通常状態は、最良オフセットFswに設定され
た状態である。記録パワーAの場合には、フォーカスオ
フセットが最良点から+あるいは−方向に変化するとジ
ッタ量及びエラーレートも急激に増大するが、記録パワ
ーB、Cではジッタ量及びエラーレートの変化はそれほ
ど大きくはない。フォーカスオフセットを変化させた場
合にも、記録パワーB、Cが記録マージンに優れ、さら
に記録パワーBでも記録パワーCとほぼ同程度のマージ
ンが得られることがわかる。
【0020】このように、チルト角をゼロ状態から変化
させ、あるいはフォーカスオフセットを最良点から変化
させることで記録条件を意図的に劣化させ、劣化した記
録条件下においてテストデータを記録し、そのときの再
生信号品質を評価することで、記録マージンの大小を評
価することができ、徒に記録パワーを増大させることな
く記録マージンを確保した最適記録パワーを決定でき
る。
【0021】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明の実施
形態について説明する。
【0022】<第1実施形態>図5には、本実施形態に
かかる光ディスク装置の要部構成ブロック図が示されて
いる。光ディスク10は、スピンドルモータ12により
CAVあるいはCLV制御される。
【0023】光ピックアップ部14は光ディスク10に
対向して設けられ、レーザダイオード(LD)から記録
パワーのレーザ光を射出して光ディスク10にデータを
記録する。データの記録は、光ディスク10の記録膜の
一部を溶融昇華してピットを形成してもよく、結晶状態
を加熱急冷してアモルファス状態に遷移させることで行
ってもよい。
【0024】データ記録時には、記録データがエンコー
ダ18に供給され、エンコーダ18にてエンコードされ
たデータがLD駆動部16に供給される。LD駆動部1
6は、エンコードされたデータに基づき駆動信号を作成
し、光ピックアップ部14のLDに供給する。また、L
D駆動部16には、制御部24からの制御信号が供給さ
れ、この制御信号により駆動電流値、すなわち記録パワ
ーが決定される。
【0025】一方、データ再生時には、光ピックアップ
部14のLDは再生パワー(再生パワー<記録パワー)
のレーザ光を照射し、その反射光を受光して電気信号に
変換し再生RF信号を得る。再生RF信号はRF信号処
理部20に供給される。
【0026】RF信号処理部20は、増幅アンプやイコ
ライザ、二値化部、PLL部などを有し、再生RF信号
を二値化し、さらに同期クロックを生成してデコーダ2
2に供給する。デコーダ22は、供給されたこれらの信
号に基づきデータをデコードし、再生データとして出力
する。
【0027】また、RF信号処理部20からの再生RF
信号は、信号品質評価用に制御部24にも供給される。
なお、データ再生時には、この他にトラッキングエラー
信号やフォーカスエラー信号を生成してフォーカスサー
ボあるいはトラッキングサーボを制御する回路、光ディ
スク10に形成されたウォブル信号を再生してアドレス
復調あるいは回転数制御に用いる回路もあるが、これら
については従来技術と同様であるのでその説明は省略す
る。
【0028】制御部24は、LD駆動部16を駆動して
OPCを実行させるとともに、各テスト記録データの信
号品質を評価し、最適記録パワーを決定する。この際、
従来においては、単に記録パワーを複数段、例えば15
段階に変化させて光ディスク10にテストデータを記録
し、当該テストデータの再生RF信号からジッタ量やエ
ラーレートを算出してこれらが最も小さい記録パワーを
最適記録パワーとして決定していたが、本実施形態にお
いてはスピンドルモータ12あるいは光ピックアップ1
2に制御信号を供給し、テスト記録時の記録条件を劣化
させてテストデータを記録する。記録条件の劣化は、光
ディスク10を光ピックアップ12に対してチルトさせ
ることで実現することができ、これはスピンドルモータ
12あるいは光ピックアップ14のいずれかを駆動すれ
ばよい。
【0029】図6には、制御部24による光ディスク1
0のチルトの様子が示されている。チルトの方向として
は、光ディスク10の半径方向(r方向)にチルトさせ
る場合と、円周方向(θ方向あるいはトラック方向)に
チルトさせる場合がある。半径方向にチルトさせる場
合、図中の軸aを中心として光ディスク10を微小角だ
け回転させればよく、円周方向にチルトさせる場合には
軸bを中心として微小角だけ回転させればよい。回転方
向に応じてチルト角の+あるいは−を任意に決定するこ
とができる。図7及び図8には、半径方向にチルトさせ
た場合の様子が示されている。図7は、光ディスク10
を光ピックアップ14から遠ざける方向にチルトさせた
場合であり、本実施形態においてはこの方向のチルト角
を+方向とする。また、図8には光ディスク10を光ピ
ックアップ14に対して近づける方向にチルトさせた場
合であり、本実施形態においてはこの方向を−方向とす
る。
【0030】図9には、光ディスク10を半径方向にチ
ルトさせてOPCを行う場合の制御部24における処理
フローチャートが示されている。まず、制御部24は、
OPC制御モードに移行する(S101)。そして、テ
ストデータを記録する際に、制御部24はスピンドルモ
ータ12あるいは光ピックアップ14を駆動し、一定量
のチルト角とする(チルトを一定量ずらす:S10
2)。このチルト設定が記録条件の劣化に対応する。
【0031】次に、制御部24は記録パワーを複数段、
例えば15段階に順次変化させてテストデータを記録す
る(S103)。
【0032】複数段の記録パワーでテストデータを記録
した後、制御部24は再びスピンドルモータ12あるい
は光ピックアップ14を駆動し、チルト量を通常状態、
すなわちチルト量=0の状態(傾きなし)に戻す(S1
04)。そして、この標準状態において各記録パワーで
記録したテストデータを再生してその再生RF信号を入
力し、再生RF信号のジッタ量を測定する(S10
5)。ジッタ量は、例えば3T信号のジッタ量を測定す
ることができる。もちろん、他の周波数のジッタ量を測
定してもよい。これにより、記録パワー数と同数のジッ
タ量が得られることになる。
【0033】各記録パワーにおけるジッタ量を測定した
後、制御部24は隣接する記録パワー間のジッタ変化
量、すなわちジッタ差を演算する(S106)。例え
ば、(記録パワー、ジッタ量)が (10mw、20%) (11mw、15%) (12mw、12%) (13mw、11%) (14mw、10%) (15mw、9%) の場合、10mwと11mwのジッタ差は、 J(10mw)−J(11mw)=5% 11mwと12mwのジッタ差は、 J(11mw)−J(12mw)=3% 12mwと13mwのジッタ差は、 J(12mw)−J(13mw)=1% 13mwと14mwのジッタ差は、 J(13mw)−J(14mw)=1% 14mwと15mwのジッタ差は、 J(14mw)−J(15mw)=1% となる。以上のようにして隣接する記録パワー間のジッ
タ変化量(ジッタ差)を演算した後、予め定められ制御
部24のメモリに記憶された目標値J0以上となるジッ
タ差を抽出し、さらにJ0以上となるジッタ差の中で最
も小さいジッタ差を抽出する(S107)。例えば、目
標値J0が2%であった場合、目標値以上となるジッタ
差は、上記の5個のうち、 J(10mw)−J(11mw)=5%、 J(11mw)−J(12mw)=3% の2個であり、この中で最も小さいジッタ差は J(11mw)−J(12mw)=3% である。条件を満たすジッタ差を抽出した後、制御部2
4はこのジッタ差に基づき最適記録パワーを決定する
(S108)。具体的には、抽出されたジッタ差に関係
する記録パワーは11mw、12mwであり、これらの
うち記録パワーの高い方の12mwを記録マージンに優
れた最適記録パワーに決定する。
【0034】図10には、以上述べた処理が模式的に示
されている。図において、横軸はジッタ差番号を示して
おり、Δ1=J(10mw)−J(11mw)、Δ2=
J(11mw)−J(12mw)、・・・であり、縦軸
はジッタ変化量(ジッタ差)である。各記録パワー差に
おけるジッタ差のうち、目標値J0以上となるジッタ差
はΔ1、Δ2に対応するジッタ差であり、このうち最も
小さい、すなわち目標値により近いジッタ差であるΔ2
が抽出されて、このΔ2に関係する記録パワーから最適
記録パワーが決定される。図10から明らかなように、
Δ1やΔ2はジッタ差が大きく、したがって記録パワー
の変動に対して再生信号品質が大きく劣化したことを示
している。一方、Δ3、Δ4、Δ5は記録パワーが変動
してもジッタ差が大きく変動しておらず、再生信号品質
の劣化が小さい。このことは、Δ3、Δ4、Δ5に関す
る記録パワーでは十分な記録マージンが得られ、Δ2は
記録マージンが十分でない記録パワーと十分な記録パワ
ーとの境界に位置していることを示している。そこで、
Δ2のうち記録パワーの高い方を選択することで、記録
マージンに優れた記録パワーのうちで最も記録パワーの
小さいパワーを最適記録パワーに決定することができ
る。
【0035】もちろん、上記の実施形態において目標値
の設定によっては目標値以下となるジッタ差のうち最も
目標値に近いものから最適記録パワーを決定することも
可能である。図10の例で言えば、Δ3に関わる記録パ
ワー13mw、14mwのうち小さい方の13mwを最
適記録パワーとするなどである。
【0036】なお、目標値は予め光ディスクのコントロ
ールデータゾーンに記録しておき、これを読み出して制
御部24のメモリに記憶させればよい。もちろん、ドラ
イブ(光ディスク装置)生産工程において、予めメモリ
に記憶させておくこともできる。
【0037】<第2実施形態>第1実施形態では、隣接
する記録パワー間のジッタ変化量に基づいて記録マージ
ンの大きい、すなわち記録条件が劣化しても安定して記
録できる最適記録パワーを決定したが、他の方法により
ジッタ変化量を評価することもできる。
【0038】本実施形態では、隣接する記録パワー間の
ジッタ変化量ではなく、ある基準のジッタ量からの変化
量を用いて記録マージンの大小を評価する。
【0039】図11には、本実施形態における制御部2
4の処理フローチャートが示されている。図9における
S101〜S105までの処理(これを処理Aとする)
は同一であり、次に、得られたジッタ量のうち最も良い
(つまりジッタが最小)記録パワーを選択する(S20
6)。第1実施形態の例に則すれば、記録パワーPwが
15mwのときにジッタJは9%と最小となるので記録
パワーPw=15mwが選択される。もちろん、記録パ
ワーではなく最小ジッタを選択してもよい。そして、最
も良いジッタと他のジッタとの差を算出する(S20
7)。具体的には 、J(10mw)−J(15mw)=11% J(11mw)−J(15mw)=6% J(12mw)−J(15mw)=3% J(13mw)−J(15mw)=2% J(14mw)−J(15mw)=1% J(15mw)−J(15mw)=0% となる。基準のジッタ量からの変化量を算出した後、予
め制御部24のメモリに記憶された目標値J0(最も良
いジッタ(基準ジッタ量)からの変化量の目標値)が得
られる記録パワーを直線近似などで算出する(S20
8)。上記の場合、J0=4%とすると、この目標値に
近い値は J(11mw)−J(15mw)=6% J(12mw)−J(15mw)=3% であり、これらを直線近似して4%が得られる記録パワ
ーとして11.66mwが得られる。そこで、直線近似
して得られたこの11.66mwを記録マージンの得ら
れる最適記録パワーに決定する(S209)。
【0040】本実施形態によっても、徒に記録パワーを
増大させることなく、記録マージンが十分得られる最適
記録パワーを決定することができる。
【0041】なお、このような直線近似は、第1実施形
態にも同様に適用できることは言うまでもない。
【0042】<第3実施形態>上述した第1、第2実施
形態では再生信号品質としてジッタ量を用いているが、
図2にも示したように、再生信号のエラーレートを用い
て記録マージンの大小評価を行うことも可能である。な
お、エラーレートは、デコーダ22でデコードしたデー
タを図示しないエラー訂正回路で訂正する際の訂正ビッ
ト数から算出することができる。
【0043】図12には、本実施形態における制御部2
4の処理フローチャートが示されている。図9と異なる
点は、ジッタ量の代わりにエラーレートを用いている点
である。具体的には、S301〜S304は図9のS1
01〜S104と同一であり、S305で再生信号のエ
ラーレートを算出し、S306で隣接する記録パワー間
のエラーレート変化量(エラーレート差)を算出する。
そして、S307で目標エラーレート差以上で最小のエ
ラーレート差が得られる2つの記録パワーを抽出し、S
308で2つの記録パワーのうち大きい記録パワーを最
適記録パワーに決定する。
【0044】<第4実施形態>第3実施形態において、
第2実施形態と同様に基準エラーレートとの差を算出す
ることで記録マージンの大小評価を行うこともできる。
参考までに、図13にはこの場合における制御部24の
処理フローチャートを示す。まず、図12における処理
Aと同一の処理を実行し、最小となるエラーレートを選
択する(S406)。その後、最小エラーレートとその
他のエラーレートとの差、すなわちエラーレート変化量
を算出し(S407)、エラーレート差目標値が得られ
る記録パワーを直線近似で算出して(S408)、最適
記録パワーに決定する(S409)。
【0045】<第5実施形態>第1〜第4実施形態で
は、OPCでの記録条件を劣化させるために光ディスク
10を光ピックアップ14に対してチルトさせたが、光
ピックアップ14のフォーカス(FS)オフセットを最
良点から変化させることによっても意図的に記録条件を
劣化させることができる。
【0046】図14には、この場合における制御部24
の処理フローチャートが示されている。図9と異なる点
は、制御部24が光ピックアップ14に対して制御信号
を供給してFSオフセット値を最良点Fswから所定量
ずらし(S502)、この状態でテストデータを記録す
る点である。
【0047】本実施形態によっても、OPCにおいて記
録マージンを十分確保できる最適記録パワーを決定する
ことができる。
【0048】なお、FSオフセットをずらし、第2実施
形態〜第4実施形態に示された方法と同様の方法で最適
記録パワーを決定することもできることは言うまでもな
い。
【0049】以上、最適記録パワーの決定について説明
したが、光ディスク10が書き換え可能な光ディスク1
0である場合、光ピックアップ14から消去パワーのレ
ーザ光(再生パワー<消去パワー<記録パワー)を照射
することでデータを消去することが可能であり、この場
合の消去パワーの最適化も図ることができる。
【0050】例えば、上述した第1〜第5実施形態の方
法で最適記録パワーを決定した後、この最適記録パワー
Pwoに所定の係数ε(ε<1)を乗じることで最適消
去パワーを決定することができる。
【0051】もちろん、第1〜第5実施形態に示された
方法で最適消去パワーを決定することも可能である。例
えば、図9において光ディスク10をチルトさせ、消去
パワーを種々変化させてテストデータをオーバライト
し、オーバライトしたデータのジッタ量を測定する。消
去パワーのマージンが十分ではない場合には、オーバラ
イト時に前回のデータが消え残るためジッタ量が急激に
増大する。そこで、ジッタ変化量から消去パワーのマー
ジンを評価し、マージンの大きい最適消去パワーを決定
することができる。
【0052】なお、本発明の方法により最適消去パワー
を決定し、この最適消去パワーに係数を乗じて最適記録
パワーを求める技術も可能であるが、このようにして最
適記録パワーを求める技術は本発明と均等である。最適
記録パワーは最適消去パワーに依存し、最適消去パワー
は本発明により決定される以上、最適記録パワーは実質
的に本発明により決定されていると言うことができるか
らである。
【0053】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、種々の変
更が可能である。例えば、光ディスク10のランド及び
グルーブのいずれにもデータを記録する場合、ランドと
グルーブそれぞれについて目標値を決定し、上述した実
施形態と同様の処理によりランド記録とグルーブ記録そ
れぞれにおいて最適記録パワー(及び最適消去パワー)
を決定することができる。
【0054】また、本実施形態では記録条件の劣化とし
て、チルトとFSオフセットを例示したが、記録条件を
劣化させる任意の条件が本発明に含まれる。このような
ものとして、例えば回転速度がある。OPC時に回転速
度を本来の回転速度よりも増大させてテスト記録するこ
とで、記録マージンを評価することができる。
【0055】また、本実施形態では、チルトあるいはF
Sオフセットのいずれかを変化させて記録条件を劣化さ
せたが、チルト及びFSオフセットのいずれも変化させ
て記録条件を劣化させることも可能である。
【0056】また、記録条件の劣化としてチルトとFS
オフセットを用い、再生信号品質としてジッタとエラー
レートを用い、全ての組み合わせを実行して最適記録パ
ワー候補を選択し、これらの中から最もパワーの小さい
もの(あるいは大きいもの)を最適記録パワーに決定す
ることも可能である。全ての組み合わせのうち、上述し
た実施形態に示されていない組み合わせを採用できるこ
とも明らかである。例えば、光ディスク10を円周方向
にチルトさせるとともに、再生信号品質としてジッタ及
びエラーレートを採用して最適記録パワーを決定する等
である。チルトあるいはFSオフセットを複数段に変化
させて同様の処理を行っても良い。
【0057】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
徒に記録パワーを増大させて耐久性を劣化させることな
く、記録マージンを確保した最適記録パワーでデータを
記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 記録パワーをパラメータとしたチルトとジッ
タ量の関係を示すグラフ図である。
【図2】 記録パワーをパラメータとしたチルトとエラ
ーレートの関係を示すグラフ図である。
【図3】 記録パワーをパラメータとしたFSオフセッ
トとジッタの関係を示すグラフ図である。
【図4】 記録パワーをパラメータとしたFSオフセッ
トとエラーレートの関係を示すグラフ図である。
【図5】 実施形態に係る光ディスク装置の要部構成ブ
ロック図である。
【図6】 光ディスクのチルト説明図である。
【図7】 半径方向のチルト説明図である。
【図8】 半径方向のチルト説明図である。
【図9】 第1実施形態の処理フローチャートである。
【図10】 第1実施形態の処理説明図であり、隣接記
録パワー間のジッタ変化量を示すグラフ図である。
【図11】 第2実施形態の処理フローチャートであ
る。
【図12】 第3実施形態の処理フローチャートであ
る。
【図13】 第4実施形態の処理フローチャートであ
る。
【図14】 第5実施形態の処理フローチャートであ
る。
【符号の説明】
10 光ディスク、12 スピンドルモータ、14 光
ピックアップ、16LD駆動部、18 エンコーダ、2
0 RF信号処理部、22 デコーダ、24制御部。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ディスクの所定領域に記録パワーを変
    化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号
    品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装
    置であって、 前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて
    記録する手段と、 前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記
    録データを再生し、得られた再生信号品質に基づき最適
    記録パワーを決定する手段と、 を有することを特徴とする光ディスク装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の装置において、 前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の
    各記録パワー間の再生信号品質の変化量に基づき前記最
    適記録パワーを決定することを特徴とする光ディスク装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項1、2のいずれかに記載の装置に
    おいて、 前記記録条件の劣化は、前記光ディスクの光ピックアッ
    プに対する傾きであることを特徴とする光ディスク装
    置。
  4. 【請求項4】 請求項1、2のいずれかに記載の装置に
    おいて、 前記記録条件の劣化は光ピックアップのフォーカスオフ
    セット値変化であることを特徴とする光ディスク装置。
  5. 【請求項5】 請求項2記載の装置において、 前記再生信号品質はジッタ量であり、前記決定する手段
    は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー間の
    ジッタ量の変化量に基づき前記最適記録パワーを決定す
    ることを特徴とする光ディスク装置。
  6. 【請求項6】 請求項2記載の装置において、 前記再生信号品質はエラーレートであり、前記決定する
    手段は、前記記録条件を劣化させた場合の各記録パワー
    間のエラーレートの変化量に基づき前記最適記録パワー
    を決定することを特徴とする光ディスク装置。
  7. 【請求項7】 請求項5記載の装置において、 前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の
    各記録パワー間のジッタ量の変化量と所定値とを比較す
    ることにより前記最適記録パワーを決定することを特徴
    とする光ディスク装置。
  8. 【請求項8】 請求項6記載の装置において、 前記決定する手段は、前記記録条件を劣化させた場合の
    各記録パワー間のエラーレートの変化量と所定値とを比
    較することにより前記最適記録パワーを決定することを
    特徴とする光ディスク装置。
  9. 【請求項9】 光ディスクの所定領域に記録パワーを変
    化させてテスト記録し、該テスト記録データの再生信号
    品質に基づいて最適記録パワーを決定する光ディスク装
    置であって、 前記テスト記録時に記録条件を通常状態から劣化させて
    記録する手段と、 前記記録条件を前記通常状態に復帰させて前記テスト記
    録データを再生し、得られた再生信号品質の劣化が相対
    的に少ない記録パワーを最適記録パワーとして決定する
    手段と、 を有することを特徴とする光ディスク装置。
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