JP3757239B2 - 真空室用ロックおよび真空室ならびに回路 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は, 真空室用ロックに係わり、ロックは, 外側密封部及び内側密封部から構成される通路を有し, 外側密封部は, 真空室内の真空によって生じた差圧の影響のもとで閉位置を保持することができ, 前述の差圧によって生じた力に対して開けることができ、内側密封部は, 開位置を保持することができ、前述のあらかじめ張力を加えた内側密封部を閉じる閉止部を構成する。
【0002】
【従来の技術】
かかるロックの手段によって真空室の内側空間及びその周囲との間に製品を移送することが真空を保持されている中で可能である。 真空室の内部では, 種々の操作が製品の上に行われる。より特定な一つとして、CDディスク又はDVDディスクなどの回路基板上に金属膜を付着させる方法による金属層の適用が考慮される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
既知のロックにおける内側密封部は、機械的方法の中で閉位置に保持される。したがって、押し棒を真空壁の壁を通して外部から操作しなければならない。このような操作方法には問題があり, 真空方法の操作に不都合な影響を及ぼす。要求される真空が密封を保持するために本当に得られるような正しい方法で内側密封部を平行な面で交換するのが容易ではないことは明白である。更なる問題には, 真空室の壁に関して押し棒の密封を常に保持することができないことである。
【0004】
本発明の目的は, 前述の不都合を有しない上述の種類のロックを提供することにある。 前述の目的は, 電磁気の構成による閉止方法によって達成することができる。
【0005】
電磁気による内部密閉方法は, 真空室の壁を通して機械的移動を必要とせずに操作することができる。それゆえ, 密封の問題は, 解消される。更に, 内側密封部に必要な平行動作は, 例えば極片を伴う電磁気の共同操作によって得られる。この目的のために、電磁気は, 前述の通路の周りに延長することができ、極片は, 対応する方法で内側密封部を超えて延長することができる。特に, 通路並びに外側及び内側密封部は、円筒状にすることができる。
【0006】
電磁気と極片との間の共同操作を改善するために, 極片は, 少なくとも1つの円環状隆起又は溝を有する電磁石に表面を向け, 通路を囲む部分は, 少なくとも対応する位置に溝又は隆起をそれぞれ有し, 当該隆起は, 内側密封部によって通路が閉止した場合に前述の溝に挿入される。当該隆起及び溝は, 内側密封部及び当該通路の正確な相互位置決めが必要である。
【0007】
極片の代わりに第2の電磁気又は永久磁石を提供することができる。
外側密封部は円環状O リングから構成され, O −リングは、真空の影響のもとで押し付けられて保持される。内側密封部は円環状O −リングを有し, 活性化した電磁気の影響のもとで押し付けられ保持される。
【0008】
本発明は, 更に付着装置などの真空室に係わり, 先行の請求の一つに従う少なくとも一つのロックから構成され、当該ロックは外側密封部及び外側密封部から構成される通路を有し, 外側密封部は真空室内の真空によって生じた差圧の影響のもとで閉止位置を保持することができ, 前述の差圧によって生じた力に対して開くことができる。内側密封部は、あらかじめ張力を加えられて開位置に保持することができ前述の既生張力に対して内側密封部を閉止するロック装置から構成され, 真空室は台から構成され、当該台は通路に沿って移動することができ, 前述の内側密封部を支える。当該閉止部は, 電磁気及び極片、第2電磁気又は永久磁石から構成される。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記目的は、請求項1の発明によれば、大気側に位置し、ディスクが出し入れされる開口用通路を有する外側密封部と、真空側に位置し、外側密封部に対して離間接近すると共に回転する内側密封部と、上記通路を開放・密閉する蓋と、両密封部の間隙における前記通路の周囲に設けられるシール手段とを有し、該シール手段の駆動力が、大気と真空との差圧および電磁石の磁力により得られることを特徴とする真空室用ロックにより達成される。
【0010】
また、上記目的は、請求項2の発明によれば、上記電磁石が外側密封部に設けられることを特徴とする、請求項1に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0011】
また、上記目的は、請求項3の発明によれば、上記電磁石が環状であることを特徴とする、請求項2に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0012】
また、上記目的は、請求項4の発明によれば、上記電磁石の磁力により吸引される極片が該電磁石に対向して設けられることを特徴とする、請求項1または2に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0013】
また、上記目的は、請求項5の発明によれば、上記極片が内側密封部に設けられることを特徴とする、請求項4に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0014】
また、上記目的は、請求項6の発明によれば、上記極片が上記電磁石の存在の範囲を超えて外側密封部に対向して存在していることを特徴とする、請求項3または5に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0015】
また、上記目的は、請求項7の発明によれば、上記通路と同様に上記外側密封部および内側密封部が円柱状であることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の真空室用ロックにより達成される。
【0016】
また、上記目的は、請求項8の発明によれば、上記内側密封部に環状の隆起または溝が設けられると共に、この隆起または溝に対応する環状の溝または隆起が外側密封部に設けられ、シール状態において隆起と溝とが嵌合することを特徴とする、請求項6または7に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0017】
また、上記目的は、請求項9の発明によれば、上記内側密封部に設けられた環状の隆起または溝が上記極片に存在することを特徴とする、請求項8に記載の真空室用ロックにより達成される。
【0018】
また、上記目的は、請求項10の発明によれば、上記外側密封部に設けられた環状の電磁石に対向して、環状の第2の電磁石または永久磁石が上記内側密封部に設けられることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の真空室用ロックにより達成される。
【0019】
また、上記目的は、請求項11の発明によれば、両密封部の間隙における前記通路の周囲の内側密封部に、大気と真空との差圧により外側密封部に押しつけられる環状のOリングが設けられることを特徴とする、請求項8〜10のいずれかに記載の真空室用ロックにより達成される。
【0020】
また、上記目的は、請求項12の発明によれば、上記Oリングが上記電磁石の磁力により吸引されるものであることを特徴とする、請求項8〜11のいずれかに記載の真空室用ロックにより達成される。
【0021】
また、上記目的は、請求項13の発明によれば、シール状態において両密封部の間隙を確保するのに必要な厚さを上記Oリングが有することを特徴とする、請求項11または12のいずれかに記載の真空室用ロックにより達成される。
【0022】
また、上記目的は、請求項14の発明によれば、上記内側密封部に薄隔膜が設けられることを特徴とする、請求項8〜12のいずれかに記載の真空室用ロックにより達成される。
【0023】
また、上記目的は、請求項15の発明によれば、ディスクの処理を行う装置と、真空室用ロックを有する真空室であって、大気側に位置し、ディスクが出し入れされる開口用通路を有する外側密封部と、真空側に位置し、外側密封部に対して離間接近すると共に回転する内側密封部と、上記通路を開放・密閉する蓋と、両密封部の間隙における前記通路の周囲に設けられるシール手段とを有し、該シール手段の駆動力が、大気と真空との差圧および電磁石の磁力により得られることを特徴とする真空室により達成される。
【0024】
また、上記目的は、請求項16の発明によれば、上記真空室は、円柱状周囲壁および当該円柱状周囲壁の両端に2個の壁を有し、その一つに円柱状通路が外側真空蓋を伴う鼓胴状ハウジングから構成され、ハウジング内は台が共軸回転可能な方式で取り付けられることを特徴とする、請求項15に記載の真空室により達成される。
【0025】
また、上記目的は、請求項17の発明によれば、上記回路は、ロックの中又は請求項15又は16の一つに述べた真空室の中で残留磁気の影響を避ける回路で, その回路の中でDC電圧源の直列回路、スイッチ、それに平行する蓄電器を伴う電磁石の巻線及び減衰エレメントを有することを特徴とする、請求項8〜14に記載の回路により達成される。
【0026】
また、上記目的は、請求項18の発明によれば、上記蓄電器と平行に接続された計測分岐の中に特徴付けられた, 最初に言及した蓄電器に平行な配分蓄電器に連続したAC電圧源から構成される当該計測分岐, 同様に前述の最初に言及した蓄電器に平行なAC電圧計測装置を有することを特徴とする、請求項17に記載の回路により達成される
【0027】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の好適な一実施の形態を説明する。
前述の真空室は, 鼓胴状ハウジング, 円筒状周囲壁, 同じく当該円筒状周囲壁の両端に2個の壁を有しその一つに円筒状通路が外側真空蓋を伴い形成され, 円形周囲を伴うハウジングの中に台が共軸回転可能な方式で取付けられた鼓胴状ハウジングから構成される。
【0028】
図1において、上面図は一般に23に示す付着装置の如き真空装置を提供し,同様に, 負荷及び除負荷装置を提供する。最後に言及した装置は, それぞれディスク16を把握することができ当該付着装置と図示されていないその他との間の当該ディスクを移動させることができる掴み部25から構成される。提供する実施態様において, 一組の掴み装置25は、本発明に従う一組のロックの上に位置し, 付着装置の中にディスクを装着又はそこからディスクを取り外すよう準備される。ディスクの装着後, ディスクは, これらが付着器具29の下方に来るまで付着装置23の中で180°移動させる。 ディスクの操作が終わると, これらは再び180°移動させ, 一組の掴み装置25によって取り除かれる。
【0029】
ディスク16の装着及び除去は, 真空室6の上部壁13の中に存在する一組のロックを通して行われる。生産率に関して、ディスクを変更したときですら真空室内の真空を保持することが望ましい。この目的のためにロックが存在する。
図2に示すロックは, 真空室6の一部, 上部壁13の一部だけを形成し, 同様に, 回転台12は断面図に図示される。回転台12は円形円周端14及び真空室6の中に回転し得るよう取付けたその中心21( 図1参照) から構成される。
真空室6は、上部壁13の中で構成され通路は真空蓋2によって閉止される。この真空蓋2は、O リング9, 通路を囲む上部壁13の部分と共に操作する。真空蓋2は, 操作部( 図示されず) によって開又は閉位置において持ち込まれる。
【0030】
真空室6の内部空間15の中で真空は真空部22( 図1参照) によって保持され, 台12は回転が可能なように装着される。この台12は内側密封ディスク3を運送し, その上にCD又はDVD用のプラスチックブランクなどの回路基板が取付けられる。
【0031】
密封ディスク3は, その周りに円環状極片が5が装着される芯18から構成される。当該極片5は、芯18の下に達する抵抗部17から構成される。芯18は更にO リング10を備え, 以下に述べる方法で真空室6の壁13と共同操作することができる。
【0032】
図2に図示の状態では, 真空蓋2は閉止され操作されるべき基板は内側密封ディスク3の上, 特に芯18の上に存在する。室6へのディスク16の挿入又は除去の間, 密封蓋2は通路1を開けるために取り外さなければならない。真空室6内の真空を保持できるためには、内側密封ディスク3を上方へ移動させOリング10を上方壁13に押し付けてシールする。この目的のために, 上方壁13は壁内の溝19の中に円環状電磁石4を有する。 当該電磁石4は被覆電線20によって電流が供給される。
【0033】
活性化した位置において、電磁石4は極片5に引張り作用を働かせ, 上方に動きOリング10が上部壁13に対して押し付け芯18と共に保持するようにする。
その後, 回路基板16は取り外すことができ、又は新しい回路基板を芯18の上に置くことができる。
これらの操作が行われた後, 密封蓋2は取り外されその後は電磁石4の活性化は停止される。 その後は内側密封ディスク3は芯18及び台12と共同操作する薄隔膜11の影響ものもとに開位置に戻る。それゆえロックを動かすのに必要な電磁石は残留磁気が問題となるおそれのある磁化材料から製作した芯と共に共同操作する。この残留磁気は強力であるためにロックの正常な操作が妨げられる恐れがある。 この問題に対して二つの解法が提案される。
【0034】
第1の解法に従ってゴムOリング10は、閉止位置においてOリングが反対側の金属部に押し付けられ上下壁間に若干の空気の隙間が保持されるような厚いものを選択する。 これは, 磁力回路が電磁石自体から離れ, 芯を形成する部品もまた空気の隙間があるように構成されることを意味する。当該空気の隙間の影響は, 芯を通る磁束が制限され最大引付け力は0リングの“ばね”力よりも小さくなることである。この制限の故に残留磁気の形成も強く制限され結果として残る少量は問題とはならない。
【0035】
第2の解法に従って蓄電器を電磁石の巻線と平行に置く。 図3を参照してその中に電磁石4の巻線は44で示される。 活性化したこの巻線44の回路は直流電圧源40、回路制限抵抗器42及びスイッチ46から構成される。第2の解法に従って残留磁気の帯磁を避けるために、蓄電器48は巻線44と平行に置かれる。 この蓄電器48の影響はその中のスイッチ46が閉じている場合は無視することができる。この巻線44の真のインピーダンスがむしろ小さいと仮定した場合は、蓄電器48に蓄積される電荷もまた小さく無視することができる。スイッチ46が開けられた場合第1に巻線44はその回路を保持しようと試み蓄電器48に負荷を始める。 蓄電器48はDC電源40の極性と反対の方向に電荷される。負荷過程が停止すると直ぐに蓄電器48は巻線44を通って解放し他方向の電流が巻線44を通って流れ残留磁気を打ち消す電界を生じさせる。実際に巻線44及び蓄電器48は巻線44及び蓄電器48のインピーダンス値によって決定される値の固有周波数をもつ平行LC−回路を形成する。この場合このような回路への電力供給は中断され、回路は減衰AC振動を生じ始め、多数の波形の後零に減少する。この現象のために、残留磁気は芯の中又は電磁回路のその他帯磁の可能性がある部分に生じない。
【0036】
図3に示す電気回路の小さい延長は可動ロック部の位置を検出する可能性を提供する。この回路延長は蓄電器50、AC電圧気52及びAC電圧測定器54から構成される。蓄電器50は一方でDCブロックとして機能するのでDC回路40, 42,44,46は事実上影響を受けない。 蓄電器48と共に蓄電器50はAC電圧分配器を形成し, 電源52によって供給されるAC電圧部はLC回路44/48上に印される。
【0037】
スイッチ46が閉じているかぎり、DC電流は巻線44を通って流れ、電磁石は活性化し扉は閉位置に保持される。 この場合、電磁石の磁束は磁化されうる材料だけを通して走り(空気隙間が小さい場合を除く。)巻線44の自己誘導はむしろ高くなる。AC電圧計54は相応じて高い値を示す。
【0038】
スイッチ46が開いている場合には、巻線44を通して電流は流れることはなく、電磁石は離反しロックを閉位置へ持って来る。 この位置では電磁束回路の中にやや大きい空気の隙間があり巻線44のインピーダンスはやや低い。AC電圧計54は相応じてやや低い電圧値を示す。
もし、いかなる理由(例えば残留磁気)にしろスイッチ46が開いているにも拘らずロックは閉位置にある場合は、計器54はやや低い値を示し取付け操作者に対して何か悪い取付けのため開くべきロックが閉じたままになっている兆候を生じる。 閉止すべきロックが開くこの逆の場合も発生する。事実上, このロックは操作者によってこの方法で看視することができる。
【0039】
エネルギーの損失を避けるために抵抗器42は巻線に置換えることができる。その場合には減衰エレメント(ダイオード, バリスター又は抵抗器)はスイッチ46が開くと直ぐに発生するピーク電圧を減衰させる巻線に対して平行に置くべきである。
【0040】
【発明の効果】
上記のように、本発明によれば要求される真空が密封を保持するために本当に得られるような正しい方法で内側密封部を平行な面で交換することが可能であり、また真空室の壁に関して押し棒の密封を常に保持することができる効果がある。
なおまた、本発明によれば、電磁気の構成による閉止方法が可能なロック装置が可能となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に従うロックを伴う付着装置の上面図を示す。
【図2】本発明によるロックの図1内のA−A線断面図を示す。
【図3】残留磁気を防止する電気回路を示す。
【符号の説明】
1 通路
2 外側密封部
3 内側密封部
4 電磁石
5 閉止部
6 真空室用ロック
Claims (18)
- 大気側に位置し、ディスクが出し入れされる開口用通路を有する外側密封部と、真空側に位置し、外側密封部に対して離間接近すると共に回転する内側密封部と、上記通路を開放・密閉する蓋と、両密封部の間隙における前記通路の周囲に設けられるシール手段とを有し、該シール手段の駆動力が、大気と真空との差圧および電磁石の磁力により得られることを特徴とする真空室用ロック。
- 上記電磁石が外側密封部に設けられることを特徴とする、請求項1に記載の真空室用ロック。
- 上記電磁石が環状であることを特徴とする、請求項2に記載の真空室用ロック。
- 上記電磁石の磁力により吸引される極片が該電磁石に対向して設けられることを特徴とする、請求項1または2に記載の真空室用ロック。
- 上記極片が内側密封部に設けられることを特徴とする、請求項4に記載の真空室用ロック。
- 上記極片が上記電磁石の存在の範囲を超えて外側密封部に対向して存在していることを特徴とする、請求項3または5に記載の真空室用ロック。
- 上記通路と同様に上記外側密封部および内側密封部が円柱状であることを特徴とする、請求項1〜6のいずれかに記載の真空室用ロック。
- 上記内側密封部に環状の隆起または溝が設けられると共に、この隆起または溝に対応する環状の溝または隆起が外側密封部に設けられ、シール状態において隆起と溝とが嵌合することを特徴とする、請求項6または7に記載の真空室用ロック。
- 上記内側密封部に設けられた環状の隆起または溝が上記極片に存在することを特徴とする、請求項8に記載の真空室用ロック。
- 上記外側密封部に設けられた環状の電磁石に対向して、環状の第2の電磁石または永久磁石が上記内側密封部に設けられることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の真空室用ロック。
- 両密封部の間隙における前記通路の周囲の内側密封部に、大気と真空との差圧により外側密封部に押しつけられる環状のOリングが設けられることを特徴とする、請求項8〜10のいずれかに記載の真空室用ロック。
- 上記Oリングが上記電磁石の磁力により吸引されるものであることを特徴とする、請求項8〜11のいずれかに記載の真空室用ロック。
- シール状態において両密封部の間隙を確保するのに必要な厚さを上記Oリングが有することを特徴とする、請求項11または12のいずれかに記載の真空室用ロック。
- 上記内側密封部に薄隔膜が設けられることを特徴とする、請求項8〜12のいずれかに記載の真空室用ロック。
- ディスクの処理を行う装置と、真空室用ロックを有する真空室であって、真空室用ロックは、大気側に位置し、ディスクが出し入れされる開口用通路を有する外側密封部と、真空側に位置し、外側密封部に対して離間接近すると共に回転する内側密封部と、上記通路を開放・密閉する蓋と、両密封部の間隙における前記通路の周囲に設けられるシール手段とを有し、該シール手段の駆動力が、大気と真空との差圧および電磁石の磁力により得られることを特徴とする真空室。
- 上記真空室は、円柱状周囲壁および当該円柱状周囲壁の両端に2個の壁を有し、その一つに円柱状通路が外側真空蓋を伴う鼓胴状ハウジングから構成され、ハウジング内は台が共軸回転可能な方式で取り付けられることを特徴とする、請求項15に記載の真空室。
- 上記回路は、ロックの中又は請求項15または16の一つに述べた真空室の中で残留磁気の影響を避ける回路で、その回路の中でDC電圧源の直列回路、スイッチ、それに平行する蓄電器を伴う電磁石の巻線及び減衰エレメントを有することを特徴とする、請求項8〜14のいずれかに記載の回路。
- 上記蓄電器と平行に接続された計測分岐の中に特徴付けられた、最初に言及した蓄電器に平行な配分蓄電器に連続したAC電圧源から構成される当該計測分岐、同様に前述の最初に言及した蓄電器に平行なAC電圧計測装置を有することを特徴とする、請求項17に記載の回路。
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Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57207313A (en) * | 1981-06-16 | 1982-12-20 | Toshiba Corp | Method of demagnetizing induction electric equipment |
US4676884A (en) * | 1986-07-23 | 1987-06-30 | The Boc Group, Inc. | Wafer processing machine with evacuated wafer transporting and storage system |
US4842683A (en) * | 1986-12-19 | 1989-06-27 | Applied Materials, Inc. | Magnetic field-enhanced plasma etch reactor |
EP0448782B1 (de) | 1990-03-26 | 1993-06-16 | Leybold Aktiengesellschaft | Vorrichtung zum Ein- und Ausschleusen eines Werkstücks in eine Vakuumkammer |
US5451131A (en) * | 1992-06-19 | 1995-09-19 | International Business Machines Corporation | Dockable interface airlock between process enclosure and interprocess transfer container |
JPH07292740A (ja) | 1994-04-25 | 1995-11-07 | Tokai Rika Co Ltd | 弁駆動装置及び衛生器具の自動洗浄装置 |
JP3873100B2 (ja) * | 1994-04-25 | 2007-01-24 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 真空装置でのディスクの保持方法及び保持装置 |
US5871588A (en) * | 1995-07-10 | 1999-02-16 | Cvc, Inc. | Programmable ultraclean electromagnetic substrate rotation apparatus and method for microelectronics manufacturing equipment |
DE19605598C1 (de) * | 1996-02-15 | 1996-10-31 | Singulus Technologies Gmbh | Vorrichtung zum Greifen und Halten von Substraten |
JP3076775B2 (ja) * | 1997-07-31 | 2000-08-14 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 真空処理装置 |
DE19742923A1 (de) | 1997-09-29 | 1999-04-01 | Leybold Systems Gmbh | Vorrichtung zum Beschichten eines im wesentlichen flachen, scheibenförmigen Substrats |
DE19814834A1 (de) * | 1998-04-02 | 1999-10-07 | Leybold Systems Gmbh | Vorrichtung zum Greifen und Halten eines flachen Substrats |
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