JP3733824B2 - シリカ系被膜形成用塗布液の製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子の製造において使用される平坦化膜や層間絶縁膜などとして有用な比誘電率の低いシリカ系被膜形成用塗布液を効率よく製造する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、半導体素子の製造において使用される平坦化膜や層間絶縁膜には、通常シリカ系被膜が用いられている。そして、このような用途に用いられるシリカ系被膜を形成させる方法としては、塗布法などが知られている。塗布法に用いられるSOG材料として、比較的比誘電率の低いジメチルアルコキシシランの加水分解縮合物やメチルシルセスキオキサンのようなメチルポリシロキサンや水素シルセスキオキサンが提案されているが、このような材料では、まだ比誘電率が高く、十分に満足しうるものとはいえない。低比誘電率の材料としては、アンモニアの存在下にアルコキシシランを縮合して得られる微粒子とアルコキシシランの塩基性部分加水分解物との混合物からなる組成物(特開平5−263045、同5−315319)やポリアルコキシシランの塩基性加水分解物をアンモニアの存在下縮合することにより得られた塗布液(特開平11−340219、同11−340220)が提案されているが、これらの方法で得られる材料はいずれも塗膜均一性が充分ではなかった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、半導体素子の製造において使用される平坦化膜や層間絶縁膜などとして有用な比誘電率が低く、塗膜均一性に優れたシリカ系被膜形成用塗布液を効率よく製造する方法を提供することを目的としてなされたものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】
本発明は、テトラアルコキシシラン5〜75重量%およびアルキルトリアルコキシシラン25〜95重量%の割合(テトラアルコキシシランおよびアルキルトリアルコキシシランの合計100重量%)とからなるポリアルコキシシラン化合物を低級アルコールに溶解して、SiO2換算濃度1〜5重量%の溶液を調製し、次いでこれを塩基性触媒の存在下加水分解縮合させたのち、プロピレングリコールモノプロピルエーテルにより置換し、SiO2換算濃度5〜25重量%に調整することを特徴とするシリカ系被膜形成用塗布液の製造方法を提供するものである。
【0005】
【発明の実施の形態】
本発明において用いられるポリアルコキシシラン化合物とは、ケイ素原子に結合したアルコキシル基を少なくとも2個有するシラン化合物のことである。本発明では、ポリアルコキシシラン化合物としてテトラアルコキシシランおよびアルキルトリアルコキシシランの2種を使用することが必要である。本発明においてテトラアルコキシシランとしてはテトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブトキシシラン、好ましくはテトラメトキシシラン、テトラエトキシシランなどのテトラ低級アルコキシシランを挙げることができ、アルキルトリアルコキシシランとしては、モノメチルトリメトキシシラン、モノメチルトリエトキシシラン、モノエチルトリメトキシシラン、モノエチルトリエトキシシラン、モノメチルジメトキシモノエトキシシラン、モノエチルジメトキシモノエトキシシラン、好ましくはモノメチルトリメトキシシラン、モノメチルトリエトキシシランなどのモノ低級アルキルトリ低級アルコキシシランを挙げることができる。完全加水分解縮合物に換算した場合、テトラアルコキシシラン5〜75重量%、好ましくは10〜70重量%、特に好ましくは15〜70重量%およびアルキルトリアルコキシシラン25〜95重量%、好ましくは30〜90重量%、特に好ましくは30〜85重量%の割合で使用する。なお、テトラアルコキシシランおよびアルキルトリアルコキシシランの合計は100重量%とする。また、本発明において完全加水分解縮合物とは、テトラアルコキシシランおよびアルカルトリアルコキシシランのアルコキシ基が100%加水分解してOH基となり、完全に縮合したものを示す。さらに本発明においてテトラアルコキシシランが有するアルコキシル基の炭素数がアルキルトリアルコキシシランが有するアルコキシル基の炭素数より大であることが好ましい。
【0006】
本発明のシリカ系被膜形成用塗布液は、前記ポリアルコキシシラン化合物の塩基性加水分解縮合生成物を、SiO2換算濃度5〜25重量%の割合で含有する有機溶剤溶液からなるものであって、以下に示す方法により、効率よく製造することができる。まず、テトラアルコキシシランとアルキルモノアルコキシシランとからなるポリアルコキシシラン化合物を低級アルコールに溶解して、SiO2換算濃度1〜5重量%の溶液を調製する。また、この際用いられる低級アルコールとしては、ポリアルコキシシラン化合物、水および塩基性触媒を共に溶解することができ、しかも加水分解反応及びそれに続く脱水縮合反応に支障のないものであればよく、特に制限はない。このようなものとしては、例えばメタノール、エタノール、プロパノールなどが挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上を混合して用いてもよい。
【0007】
次に、該ポリアルコキシシラン化合物を、塩基性触媒の存在下に加水分解縮合させる。本発明で使用することのできる塩基性触媒としては、アンモニア(アンモニア水溶液を含む)、有機アミン、アルカリ性無機化合物が挙げられるが、本発明においてはアンモニアおよび有機アミンが好ましい。本発明において有機アミンとしては、アルキルアミン、アルカノールアミン、アリールアミンなどを挙げることができる。本発明で使用することのできるアルキルアミンとしては、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、ヘキシルアミン、オクチルアミン、N,N−ジメチルアミン、N,N−ジエチルアミン、N,N−ジプロピルアミン、N,N−ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミンなどの炭素数1〜4のアルキル基を有する化合物、メトキシメチルアミン、メトキシエチルアミン、メトキシプロピルアミン、メトキシブチルアミン、エトキシメチルアミン、エトキシエチルアミン、エトキシプロピルアミン、エトキシブチルアミン、プロポキシメチルアミン、プロポキシエチルアミン、プロポキシプロピルアミン、プロポキシブチルアミン、ブトキシメチルアミン、ブトキシエチルアミン、ブトキシプロピルアミン、ブトキシブチルアミンなどのアルコキシ基を有する化合物などを挙げることができる。アルカノールアミンとしては、メタノールアミン、エタノールアミン、プロパノールアミン、ブタノールアミン、N−メチルメタノールアミン、N−エチルメタノールアミン、N−プロピルメタノールアミン、N−ブチルメタノールアミン、N−メチルエタノールアミン、N−エチルエタノールアミン、N−プロピルエタノールアミン、N−ブチルエタノールアミン、N−メチルプロパノールアミン、N−エチルプロパノールアミン、N−プロピルプロパノールアミン、N−ブチルプロパノールアミン、N−メチルブタノールアミン、N−エチルブタノールアミン、N−プロピルブタノールアミン、N−ブチルブタノールアミン、N,N−ジメチルメタノールアミン、N,N−ジエチルメタノールアミン、N,N−ジプロピルメタノールアミン、N,N−ジブチルメタノールアミン、N,N−ジメチルエタノールアミン、N,N−ジエチルエタノールアミン、N,N−ジプロピルエタノールアミン、N,N−ジブチルエタノールアミン、N,N−ジメチルプロパノールアミン、N,N−ジエチルプロパノールアミン、N,N−ジプロピルプロパノールアミン、N,N−ジブチルプロパノールアミン、N,N−ジメチルブタノールアミン、N,N−ジエチルブタノールアミン、N,N−ジプロピルブタノールアミン、N,N−ジブチルブタノールアミン、N−メチルジメタノールアミン、N−エチルジメタノールアミン、N−プロピルジメタノールアミン、N−ブチルジメタノールアミン、N−メチルジエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン、N−プロピルジエタノールアミン、N−ブチルジエタノールアミン、N−メチルジプロパノールアミン、N−エチルジプロパノールアミン、N−プロピルジプロパノールアミン、N−ブチルジプロパノールアミン、N−メチルジブタノールアミン、N−エチルジブタノールアミン、N−プロピルジブタノールアミン、N−ブチルジブタノールアミン、N−(アミノメチル)メタノールアミン、N−(アミノメチル)エタノールアミン、N−(アミノメチル)プロパノールアミン、N−(アミノメチル)ブタノールアミン、N−(アミノエチル)メタノールアミン、N−(アミノエチル)エタノールアミン、N−(アミノエチル)プロパノールアミン、N−(アミノエチル)ブタノールアミン、N−(アミノプロピル)メタノールアミン、N−(アミノプロピル)エタノールアミン、N−(アミノプロピル)プロパノールアミン、N−(アミノプロピル)ブタノールアミン、N−(アミノブチル)メタノールアミン、N−(アミノブチル)エタノールアミン、N−(アミノブチル)プロパノールアミン、N−(アミノブチル)ブタノールアミンなどを挙げることができる。またアリールアミンとしてはアニリン、N−メチルアニリンなどを挙げることができる。
【0008】
さらに有機アミンとしてテトラメチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラメチルエチレンジアミン、テトラエチルエチレンジアミン、テトラプロピルエチレンジアミン、テトラブチルエチレンジアミン、メチルアミノメチルアミン、メチルアミノエチルアミン、メチルアミノプロピルアミン、メチルアミノブチルアミン、エチルアミノメチルアミン、エチルアミノエチルアミン、エチルアミノプロピルアミン、エチルアミノブチルアミン、プロピルアミノメチルアミン、プロピルアミノエチルアミン、プロピルアミノプロピルアミン、プロピルアミノブチルアミン、ブチルアミノメチルアミン、ブチルアミノエチルアミン、ブチルアミノプロピルアミン、ブチルアミノブチルアミン、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、モルホリン、メチルモルホリン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセンなど挙げることができる。
【0009】
これらの塩基性触媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。本発明においてアルカリ性化合物としては、アルキルアミンを用いるとシリカ系膜の基板への密着性の点からより好ましい。本発明において、アルカリ性化合物の使用量はテトラアルコキシシランおよびアルキルモノアルコキシシランの合計1モルに対して0.00001モル以上であるが、特に好ましくは0.01モル以上、特に好ましくは0.1モル以上である。
【0010】
加水分解縮合反応は、低級アルコール中において、前記シラン化合物を水及び上記塩基性触媒と接触させることにより行われる。この際の水の量は、用いるシラン化合物中のアルコキシル基の数に応じて変わるが、通常シラン化合物1モルに対し、2.0〜20モル、好ましくは4.0〜10モルの範囲で選ばれる。この加水分解縮合反応は、室温下で行ったのち、1日ないし2週間程度室温で熟成させるのが好ましい。
【0011】
このようにして、加水分解及び脱水縮合反応させたのち、プロピレングリコールモノプロ ピルエーテルにより溶剤置換して、SiO 2 換算濃度の高い、すなわちSiO 2 換算濃度5〜25重量%の本発明のシリカ系被膜形成用塗布液を調製する。
【0017】
このようにして調製された本発明のシリカ系被膜形成用塗布液を用い、シリカ系被膜を形成させるには、以下に示す方法を用いることができる。まず、本発明のシリカ系被膜形成用塗布液を基板上に塗布、乾燥して塗膜を形成する。この際用いる基板としては特に制限はなく、形成されるシリカ系被膜の用途に応じて適宜選択される。例えば層間絶縁膜とする場合は、シリコンウエーハ上にアルミニウムなどの金属配線層を有するものを、中間膜の場合は多層レジスト法における下層レジストを、平坦化膜とする場合はシリコンウエーハ上に金属配線層とその上にCVD法などによる層間絶縁膜を有するもの又はシリコンウエーハ上に多結晶シリコン層からなる配線層が設けられたものをそれぞれ用いることができる。
【0018】
このような基板上に、該塗布液を塗布する方法としては、例えばスプレー法、スピンコート法、ディップコート法、ロールコート法など、任意の方法を用いることができるが、半導体素子製造には、通常スピンコート法が用いられる。
【0019】
このようにして、比誘電率2.5以下程度の比誘電率の低いシリカ系被膜が形成される。この被膜の厚さは、該シリカ系被膜の用途などに応じて適宜選択されるが、一般的には0.2〜1.0μm程度である。
【0020】
【実施例】
次に、本発明を実施例により、さらに詳細に説明するが、本発明は、これらの例によってなんら限定されるものではない。
【0021】
慣性半径下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)(屈折率,粘度,光散乱測定)法により測定した。
試料溶液:シラン化合物の加水分解縮合物を、固形分濃度が0.25%となるように、10mMのLiBrを含むメタノールで希釈し、GPC(屈折率,粘度,光散乱測定)用試料溶液とした。
装置:東ソー(株)製、GPCシステム モデル GPC−8020東ソー(株)製、カラム Alpha5000/3000ビスコテック社製、粘度検出器および光散乱検出器モデル T−60 デュアルメーターキャリア溶液:10mMのLiBrを含むメタノールキャリア送液速度:1ml/minカラム温度:40℃比誘電率得られた膜に対して蒸着法によりアルミニウム電極パターンを形成させ比誘電率測定用サンプルを作成した。該サンプルを周波数100kHzの周波数で、横河・ヒューレットパッカード(株)製、HP16451B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメータを用いてCV法により当該塗膜の比誘電率を測定した。
弾性率(ヤング率)
得られた膜を、ナノインデンターXP(ナノインスツルメント社製)を用いて、連続剛性測定法により測定した。
【0022】
実施例1
40%メチルアミン水溶液27g、超純水228gおよびエタノール570gの混合溶液中に、メチルトリメトキシシラン13.6g(完全加水分解縮合物換算6.7g)とテトラエトキシシラン20.9g(完全加水分解縮合物6g)を加えて、60℃で2時間反応させたのち、プロピレングリコールモノプロピルエーテル200gを加え、その後、減圧下で全溶液量116gとなるまで濃縮し、その後、酢酸の10%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液10gを添加し、固形分含有量10%の組成物溶液を得た。得られた組成物溶液中の加水分解縮合物の慣性は12nmであった。
実施例2
実施例1においてメチルトリメトキシシランの使用量を22gに、テトラエトキシシランの使用量を9gとした以外は実施例1と同様にして固形分含有量10%の組成物溶液を得た。得られた組成物溶液中の加水分解縮合物の慣性は12nmであった。
実施例3
実施例1においてメチルトリメトキシシランの使用量を10gに、テトラエトキシシランの使用量を28gとした以外は実施例1と同様にして固形分含有量10%の組成物溶液を得た。得られた組成物溶液中の加水分解縮合物の慣性は12nmであった。
膜の形成上記実施例1〜3で得られた組成物を、孔径0.02μmのフィルターで濾過した後、フィルターには残留物がなく、濾過が可能であった。濾過した8インチシリコンウエハ上にスピンコート法により塗布し、大気中80℃で5分間、次いで窒素下200℃で5分間加熱したのち、さらに真空下で340℃、360℃、380℃の順でそれぞれ30分間ずつ加熱し、さらに真空下425℃で1時間加熱し、無色透明のシリカ系膜を形成した。得られたシリカ系膜について前述の評価を行った。結果を表1に示す。
【0023】
比較例1
実施例1においてメチルトリメトキシシランの使用量を14gとし、テトラエトキシシランの代わりにトリメトキシシラン15.7gを使用した以外は実施例1と同様にして固形分含有量10%の組成物溶液を得たところ、粒子が生成し溶液は白濁していた。
比較例2
実施例1においてメチルトリメトキシシランを使用せず、テトラエトキシシランの使用量を48gとした以外は実施例1と同様にして固形分含有量10%の組成物溶液を得たところ、粒子が生成し溶液は白濁していた。
比較例3
実施例1においてテトラエトキシシランを使用せず、メチルトリメトキシシランの使用量を25gとした以外は実施例1と同様にして固形分含有量10%の組成物溶液を得たところ、粒子が生成し溶液は白濁していた。
【0024】
膜の形成比較例1〜3で得られた組成物を、孔径0.02μmのフィルターで濾過しようとしたところ、フィルターが目詰まりし濾過不可能であった。
【0025】
【表1】
【発明の効果】
本発明によれば、半導体素子の製造において使用される平坦化膜や層間絶縁膜などとして有用な比誘電率の低い、特に比誘電率2.5以下程度のシリカ系被膜形成用塗布液が効率よく得られる。
Claims (2)
- テトラアルコキシシラン5〜75重量%およびアルキルトリアルコキシシラン25〜95重量%の割合(テトラアルコキシシランおよびアルキルトリアルコキシシランの合計100重量%)とからなるポリアルコキシシラン化合物を低級アルコールに溶解して、SiO2換算濃度1〜5重量%の溶液を調製し、次いでこれを塩基性触媒の存在下加水分解縮合させたのち、プロピレングリコールモノプロピルエーテルにより置換し、SiO2換算濃度5〜25重量%に調整することを特徴とするシリカ系被膜形成用塗布液の製造方法。
- 塩基性触媒がアンモニア水又は有機アミンである請求項1記載のシリカ系被膜形成用塗布液の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000051137A JP3733824B2 (ja) | 1999-08-12 | 2000-02-28 | シリカ系被膜形成用塗布液の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11-228498 | 1999-08-12 | ||
JP22849899 | 1999-08-12 | ||
JP2000051137A JP3733824B2 (ja) | 1999-08-12 | 2000-02-28 | シリカ系被膜形成用塗布液の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001115029A JP2001115029A (ja) | 2001-04-24 |
JP3733824B2 true JP3733824B2 (ja) | 2006-01-11 |
Family
ID=26528288
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000051137A Expired - Lifetime JP3733824B2 (ja) | 1999-08-12 | 2000-02-28 | シリカ系被膜形成用塗布液の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3733824B2 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6872456B2 (en) * | 2001-07-26 | 2005-03-29 | Dow Corning Corporation | Siloxane resins |
JP3859540B2 (ja) | 2002-05-14 | 2006-12-20 | 松下電器産業株式会社 | 低誘電率絶縁膜形成用材料 |
JP3884699B2 (ja) | 2002-11-13 | 2007-02-21 | 信越化学工業株式会社 | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜とその製造方法、層間絶縁膜及び半導体装置 |
JP4170735B2 (ja) | 2002-11-13 | 2008-10-22 | 信越化学工業株式会社 | ゼオライトゾルとその製造方法、多孔質膜形成用組成物、多孔質膜とその製造方法、層間絶縁膜及び半導体装置 |
JP2004161876A (ja) | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜とその製造方法、層間絶縁膜及び半導体装置 |
JP4170734B2 (ja) | 2002-11-13 | 2008-10-22 | 信越化学工業株式会社 | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜とその製造方法、層間絶縁膜及び半導体装置 |
JP2004161875A (ja) | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜とその製造方法、層間絶縁間膜及び半導体装置 |
JP4139710B2 (ja) | 2003-03-10 | 2008-08-27 | 信越化学工業株式会社 | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜の製造方法、多孔質膜、層間絶縁膜、及び半導体装置 |
JP2004269693A (ja) | 2003-03-10 | 2004-09-30 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 多孔質膜形成用組成物及びその製造方法、多孔質膜の製造方法、多孔質膜、層間絶縁膜、及び半導体装置 |
JP2004292641A (ja) | 2003-03-27 | 2004-10-21 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜の製造方法、多孔質膜、層間絶縁膜、及び半導体装置 |
JP2004307694A (ja) | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜の製造方法、多孔質膜、層間絶縁膜及び半導体装置。 |
JP2004307692A (ja) | 2003-04-09 | 2004-11-04 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 多孔質膜形成用組成物、多孔質膜の製造方法、多孔質膜、層間絶縁膜及び半導体装置 |
KR100826208B1 (ko) * | 2004-10-29 | 2008-04-30 | 주식회사 엘지화학 | 유기실록산 중합체의 제조방법, 및 이를 이용한 절연막의제조방법 |
JP5090858B2 (ja) * | 2007-11-05 | 2012-12-05 | 日本ペイント株式会社 | 塩基性ポリシラノール含有無機有機複合コーティング組成物 |
-
2000
- 2000-02-28 JP JP2000051137A patent/JP3733824B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001115029A (ja) | 2001-04-24 |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040826 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091028 Year of fee payment: 4 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101028 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101028 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111028 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121028 Year of fee payment: 7 |
|
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121028 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121028 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131028 Year of fee payment: 8 |
|
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R250 | Receipt of annual fees |
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