JP3728745B2 - 計測装置 - Google Patents
計測装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3728745B2 JP3728745B2 JP10374799A JP10374799A JP3728745B2 JP 3728745 B2 JP3728745 B2 JP 3728745B2 JP 10374799 A JP10374799 A JP 10374799A JP 10374799 A JP10374799 A JP 10374799A JP 3728745 B2 JP3728745 B2 JP 3728745B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- resistance
- constant current
- output
- wiring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、被測定物の測定を行う前あるいは後に、計測装置と被測定物との結線状態を診断する診断機能を備えた計測装置に関し、特に診断回路を改善することによって、結線状態の診断を短時間で正確に行うことが可能な計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、プリント基板の高密度実装化にともない、例えばこれに実装するチップ抵抗のように微小サイズの部品が大量に生産されている。このようなチップ抵抗を大量生産する製造ラインでは微小サイズの部品を高速で短時間に検査する必要があるため、測定用リード線とチップ抵抗との間に接触不良が発生しやすく、これに伴なう誤測定が多発していた。
【0003】
その対策として、例えばチップ抵抗の抵抗測定を行う場合、その前あるいは後に、計測装置と被測定物を接続する測定用リード線が被測定物に完全に結線されているか否かの診断(以下、コンタクトチェックという。)を行い、両者の結線状態が正常と判断された時の測定値を有効値として採用している。また、チップ抵抗を大量生産する製造ラインにおいて、このコンタクトチェックに要する時間は、およそ1msec程度である。
【0004】
このような目的に用いる従来のコンタクトチェック機能を備えた計測装置の構成を図3を用いて説明する。同図は従来のコンタクトチェック機能を備えた4線式抵抗計測装置の一例を示す構成図である。
【0005】
同図において、被測定物である被測定抵抗1の一端アは、測定用リード線2a及び3aを介して計測装置100のプラス電流端子2及びプラス電圧端子3に接続され、被測定抵抗1の他の一端イは、測定用リード線5a及び4aを介して計測装置100のマイナス電流端子5及びマイナス電圧端子4に接続されている。また、ここで図中に記された2b〜5bは、各測定用リード線2a〜5aの接触抵抗を含めた配線抵抗である。
【0006】
計測装置100の内部では、第1の診断用定電流源回路10の電流出力端子ウがスイッチ回路6の可動接点bに接続され、電流入力端子エがスイッチ回路7の可動接点bに接続されている。また、前記電流出力端子ウ及び電流入力端子エは第1の差動アンプ13に接続され、この第1の差動アンプ13の出力は第1の診断回路16の入力に接続されている。
【0007】
同様に、第2の診断用定電流源回路12の電流出力端子オがスイッチ回路8の可動接点bに接続され、電流入力端子カがスイッチ回路9の可動接点bに接続されている。また、前記電流出力端子オ及び電流入力端子カは第2の差動アンプ15に接続され、この第2の差動アンプ15の出力は第2の診断回路18の入力に接続されている。
【0008】
更に、測定用定電流源回路11の電流出力端子はスイッチ回路6の可動接点aに接続され、電流入力端子はスイッチ回路9の可動接点aに接続されている。また、スイッチ回路7の可動接点aとスイッチ回路8の可動接点aは差動アンプ14に接続され、この差動アンプ14の出力はA/D変換器17の入力に接続されている。
【0009】
スイッチ回路6の固定接点cはプラス電流端子2に接続され、スイッチ回路7の固定接点cはプラス電圧端子3に接続され、スイッチ回路8の固定接点cはマイナス電圧端子4に接続され、スイッチ回路9の固定接点cはマイナス電流端子5に接続されている。また、これらのスイッチ回路の動作はCPU19から制御される。
【0010】
また、第1の診断回路16及びA/D変換器17と第2の診断回路18の出力は、CPU19に接続されている。
【0011】
上記のような構成の計測装置100の動作について以下に説明する。まず、計測装置100が被測定抵抗1の抵抗測定を行う場合、CPU19から各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点aに接続する制御信号が各スイッチ回路6〜9に出力される。これによって、各スイッチ回路6〜9の固定接点cは可動接点aに接続される。
【0012】
この時、測定用定電流源回路11から既知の定電流I11がプラス電流端子2とマイナス電流端子5を介して被測定抵抗1に供給され、被測定抵抗1の両端で発生する電圧がプラス電圧端子3とマイナス電圧端子4を介して差動アンプ14に入力される。
【0013】
差動アンプ14の出力は、A/D変換器17によってデジタル値に変換されCPU19に入力される。CPU19は、ここで得られたデジタル値D17を前記既知の定電流I11で除算することによって被測定抵抗1の抵抗値を求めることが可能である。
【0014】
次に計測装置100がコンタクトチェックを行う場合は、CPU19から各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点bに接続する制御信号が各スイッチ回路6〜9に出力される。これによって、各スイッチ回路6〜9の固定接点cは可動接点bに接続される。
【0015】
この時、第1の診断用定電流源回路10から定電流I10がプラス電流端子2を介して測定用リード線2aと3aを通過し、プラス電圧端子3を介して第1の診断用定電流源回路10に帰還する。この時、第1の診断用定電流源回路10の両端には、測定リード線2aと3aの配線抵抗2bと3bに対応する電圧V10が発生し、この電圧V10は差動アンプ13に入力され、その出力は第1の診断回路16に入力される。
【0016】
第1の診断回路16に入力される差動アンプ13の出力信号A13は、測定用リード線2aと3aが被測定抵抗1の一端アに完全に結線された状態の時、配線抵抗2bと3bを加算した値に定電流I10を乗算した値となる。そしてこの値は、測定用リード線2aと3aの長さによって異なるが一般的に小さな値である。また、逆に測定用リード線2aと3aが被測定抵抗1の一端アにおいて接触不良をおこし完全に結線された状態でない場合、被測定抵抗1の一端アにおいて接触抵抗が増大するため、出力信号A13は一般的に大きな値となる。第1の診断回路16は、この出力信号A13の値を適切に調整された基準電圧と比較することにより、測定抵抗1の一端アにおける接触不良を検出し、エラー信号D16を発生してCPU19に出力する。
【0017】
CPU19は、前記エラー信号D16が入力されると、前記被測定抵抗1の抵抗値を無効とし、異常が発生したことを測定者に通知する。また、計測装置100が例えばチップ抵抗の製造ラインの検査装置として用いられている場合は、この時点で、被測定抵抗1を不良品として選別する。
【0018】
また、上記と同様のコンタクトチェックは、上記と同様に構成された第2の診断用定電流源回路12と差動アンプ15と第2の診断回路18を用いて、測定リード線4a及び5aについても行われ、ここで接触不良が検出されるとエラー信号D18がCPU19に出力される。
【0019】
ここで、第1の診断回路16の構成図を図4に示す。同図において、差動アンプ13の出力信号A13は、基準電圧21との比較信号を出力するコンパレータ20に接続され、その出力はDフリップフロップ23の入力端子Dに接続される。
【0020】
Dフリップフロップ23は、CPU19から入力される制御信号ENのアップエッジによって入力端子Dに入力された信号をラッチし、その信号を出力端子Qから出力する回路である。このDフリップフロップ23の出力がエラー信号D16としてCPU19に出力される。
【0021】
このような構成の第1の診断回路16において、測定用リード線2a及び3aと被測定抵抗1との間に接触不良が発生した場合の動作を図5に示すタイムチャートを用いて説明する。同図は、このような場合における差動アンプ13の出力A13と、コンパレータ20の出力D20と、フリップフロップ23の制御信号ENと、エラー信号D16の関係を示す図である。
【0022】
図5において、CPU19は、コンタクトチェックを開始する時、(T1に示すタイミングである。)前記各スイッチ回路6〜9に対して制御信号を出力し、各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点bに接続する。
【0023】
この時、差動アンプ13の出力信号A13が、第1の診断回路16に入力される。この時入力される出力信号A13は、前述の理由により基準電圧21より大きい高い値となる。(T2に示すタイミングである。)
【0024】
コンパレータ20は、出力信号A13と基準電圧21を比較し、出力信号A13が基準電圧21より大きいので出力D20をハイ状態とする。(T3に示すタイミングである。)
【0025】
CPU19は、コンタクトチェックを開始して一定時間が経過するとDフリップフロップ23に制御信号ENを出力する。(T4に示すタイミングである。)
【0026】
Dフリップフロップ23は制御信号ENのアップエッジを検出し、(T5に示すタイミングである。)この時入力端子Dに入力されたハイ状態の出力信号D20をラッチし、出力端子Qよりエラー信号D16としてCPU19へ出力する。(T6に示すタイミングである。)
【0027】
次にCPU19は、前記各スイッチ回路6〜9に対して制御信号を出力し、各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点aに接続し、コンタクトチェックを終了する。(T7に示すタイミングである。)つまり、各スイッチ回路6〜9の固定接点cが可動接点bに接続されている期間T8が計測装置100がコンタクトチェックを実施している期間である。
【0028】
また、前記第1の診断回路16において、測定用リード線2aと3aが被測定抵抗1に正常に結線され接触不良が発生していない場合の動作を図6に示すタイムチャートを用いて説明する。同図に示した信号は、図5と同様である。
【0029】
図6において、CPU19は、コンタクトチェックを開始する時、(T1に示すタイミングである。)前記各スイッチ回路6〜9に対して制御信号を出力し、各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点bに接続する。
【0030】
この時、差動アンプ13の出力信号A13が、第1の診断回路16に入力される。この時入力される出力信号A13は、前述の理由により基準電圧21より小さい値となる。(T2に示すタイミングである。)
【0031】
コンパレータ20は、出力信号A13と基準電圧21を比較し、出力信号A13が基準電圧21より大きいので出力D20をロー状態とする。(T3に示すタイミングである。)
【0032】
CPU19は、コンタクトチェックを開始して一定時間が経過するとDフリップフロップ23に制御信号ENを出力する。(T4に示すタイミングである。)
【0033】
Dフリップフロップ23は制御信号ENのアップエッジを検出し、(T5に示すタイミングである。)この時入力端子Dに入力されたロー状態の出力信号D20をラッチする。この時、Dフリップフロップ23の出力端子Qから出力される信号はロー状態であり、エラー信号D16はCPU19へ出力されない。(T6に示すタイミングである。)
【0034】
次にCPU19は、前記各スイッチ回路6〜9に対して制御信号を出力し、各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点aに接続し、コンタクトチェックを終了する。(T7に示すタイミングである。)
【0035】
このような動作によって、第1の診断回路16は、測定用リード線2a及び3aと被測定抵抗1とのコンタクトチェックを実施し、エラー信号D16はCPU19へ出力する。尚、第2の診断回路18は、第1の診断回路16と同じ構成の回路であり、測定用リード線4a及び5aと被測定抵抗1とのコンタクトチェックを上記と同様の動作によって実施し、エラー信号D18をCPU19へ出力する
【0036】
計測装置100は、上記に説明した構成の回路を用いて被測定抵抗と測定用リード線とのコンタクトチェックを実施し、両者の結線状態が正常と判断された時の測定値を有効値として用いることにより誤測定を防止することが可能となる。
【0037】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら従来の計測装置では、コンタクトチェックの判断が瞬間的に行われるため、接触不良の状態によってはコンタクトチェックの誤判断が発生するという問題点があった。
【0038】
これは、図4に示した第1の診断回路16において、コンタクトチェックの判断を、CPU19から出力される制御信号ENのアップエッジが検出された瞬間のコンパレータ20の出力信号D20の状態で判断しているために発生する問題である。例えば、図7に示すように、測定用リード線と被測定抵抗1との接触不良によって、差動アンプ13の出力A13が激しく変動している場合、正しくは接触不良と判断されるべきところ、制御信号ENのアップエッジがT10のタイミングに来た時、これは正常と判断されてしまう。
【0039】
ここでコンタクトチェックが正常と判断されたことによって、計測装置100は被測定抵抗の抵抗測定を行うが、このような不安定な信号が差動アンプ14を介してA/D変換器17に入力されたとしても、A/D変換器17が積分型であった場合は、入力信号が平均化され、抵抗測定値が正常な範囲に入ってしまう場合がある。
【0040】
計測装置100が例えばチップ抵抗の製造ラインの検査装置として用いられている場合、このような場合は、コンタクトチェックも抵抗測定値も正常であるため、正しくは不良品であるべき被測定抵抗が良品として判断されてしまう。
【0041】
また、例えばチップ抵抗の製造ラインにおいて、測定用リード線が被測定抵抗に完全に接触するための安定時間が充分にとられている場合は、図7に示したような状態となる可能性は極めて小さく、従来の計測装置でも信頼性に問題は無かった。しかし、近年ではチップ抵抗の需要の増大と共に製造ラインのタクトタイムは年々短くなり、測定用リード線が被測定抵抗に完全に接触するための安定時間も限界まで短くする必要性に迫られている。一方、製品の品質と信頼性に対する要求は年々厳しくなっている。このような状況において従来の計測装置では測定の高い信頼性を確保することは困難である。
【0042】
本発明は、上記課題を解決するもので、コンタクトチェックの判断をある一定期間継続して行うことが可能な計測装置を提供することを目的とする。
【0043】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するために請求項1に記載の発明では、被測定物の両端に定電流供給用配線および電圧測定用配線を接続して定電流を供給すると共に前記被測定物の両端に発生する電圧を検出する4線式抵抗測定回路と、
前記被測定物の同一端に接続された前記定電流供給用配線および前記電圧測定用配線に定電流を供給して配線抵抗に対応する電圧を検出し、基準電圧を超えているか否かを診断する診断回路と、
前記被測定物の両端に発生する電圧に基づいて前記被測定物の抵抗値を算出すると共に前記診断回路の診断結果に基づいて前記定電流供給用配線および前記電圧測定用配線の少なくともいずれか一方の接続不良を検出するCPUと、
を備えた計測装置において、
前記診断回路は、前記配線抵抗に対応する電圧と前記基準電圧の比較信号を出力するコンパレータと、
このコンパレータの出力と前記CPUが出力した制御信号のアンド信号を出力するアンド回路と、
を有し、
前記CPUは、前記制御信号を一定時間出力し、前記アンド信号に基づき前記一定時間継続して前記接続不良の検出を行うことを特徴とするものである。
【0044】
これにより、前記コンパレータの出力と前記制御信号のアンド信号を診断回路から出力するエラー信号として出力することが可能となる。また、コンタクトチェックの判断を一定期間継続して行うことが可能となるため、コンタクトチェックの検出感度が向上し、信頼性の高い抵抗測定を行うことが可能となる。
【0045】
請求項2から3記載の発明では、請求項1に記載の計測装置において、コンタクトチェックと通常測定の切換えを安価でシンプルな回路で実現することが可能となる。
【0046】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明を詳しく説明する。図1は本発明に係る計測装置に適用された診断回路の一実施例を示す回路図である。その他の部分は図3に示した従来例と同様であるため、その説明を省略する。
【0047】
図1は、本発明に係る計測装置に適用された第1の診断回路16’の構成を示す回路図である。また、第2の診断回路18は第1の診断回路16’と同一構成の回路であるため、その説明を省略する
【0048】
図1において、差動アンプ13の出力信号A13は、基準電圧21との比較信号を出力するコンパレータ20に接続され、その出力はアンドゲート27の入力端子に接続される。
【0049】
また、アンドゲート27の他の入力端子には、CPU19から入力される制御信号EN’が接続されている。このアンドゲート27の出力がエラー信号D16としてCPU19に出力される。
【0050】
このような構成の第1の診断回路16’において、問題点として説明した図7のように、測定用リード線と被測定抵抗1との接触不良によって、差動アンプ13の出力A13が激しく変動している場合の動作を図2に示すタイムチャートを用いて説明する。同図は、差動アンプ13の出力A13と、コンパレータ20の出力D20と、アンドゲート27に入力された制御信号EN’と、エラー信号D16の関係を示す図である。
【0051】
図2において、CPU19は、コンタクトチェックを開始する時、(T1に示すタイミングである。)前記各スイッチ回路6〜9に対して制御信号を出力し、各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点bに接続する。
【0052】
この時、差動アンプ13の出力信号A13が、第1の診断回路16に入力される。この時入力される出力信号A13は、同図に示すように激しく変動する信号である。
【0053】
コンパレータ20は、出力信号A13と基準電圧21を比較し、同図に示すような不規則なパルス状の出力信号D20を出力する。
【0054】
CPU19は、コンタクトチェックを開始して一定時間が経過するとアンドゲートの入力に接続された制御信号EN’をハイ状態とする。(T3に示すタイミングである。)
【0055】
アンドゲート27は、制御信号EN’とコンパレータ20のアンド信号を出力する。従って、アンドゲート27は制御信号EN’がハイ状態の期間T2において継続してコンパレータ20の出力信号D20をエラー信号D16としてCPU19へ出力する。
【0056】
次にCPU19は、前記各スイッチ回路6〜9に対して制御信号を出力し、各スイッチ回路6〜9の固定接点cを可動接点aに接続し、コンタクトチェックを終了する。(T7に示すタイミングである。)
【0057】
つまり、本発明の計測装置は、コンタクトチェック回路を図1のような構成とすることによって、コンタクトチェックの判断をある一定期間継続して行うことが可能となる。従ってCPU19は、コンタクトチェック回路に入力される信号が測定用リード線の接触不良等によって激しく変動する場合においても確実に接触不良を検知することが可能となる。
【0058】
なお、以上の説明は、本発明の説明および例示を目的として特定の好適な実施例を示したに過ぎない。したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
【0059】
【発明の効果】
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
請求項1に記載の発明では、計測装置において、コンタクトチェックの判断を一定期間継続して行うことが可能となるため、コンタクトチェックの検出感度が向上し、信頼性の高い抵抗測定を行うことが可能となる。従って本発明の計測装置を例えばチップ抵抗の製造ラインの検査装置として用いる場合、短時間で正確に良品と不良品の判別を行うことが可能となる。
【0060】
請求項2から3に記載の発明では、請求項1に記載された発明の計測装置において、コンタクトチェックと通常測定の切換えを安価でシンプルな回路で実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る計測装置の一実施例を示す回路図である。
【図2】本発明に係る計測装置の各部の信号を説明するタイムチャートである。
【図3】従来の計測装置の一例を示す構成図である。
【図4】従来の計測装置の診断回路の一例を示す回路図である。
【図5】従来の計測装置の各部の信号を説明するタイムチャートである。
【図6】従来の計測装置の各部の信号を説明するタイムチャートである。
【図7】従来の計測装置の各部の信号を説明するタイムチャートである。
【符号の説明】
1 被測定抵抗
2 プラス電流端子
3 プラス電圧端子
4 マイナス電圧端子
5 マイナス電流端子
6、7、8、9 スイッチ回路
10、12 診断用定電流源回路
11 測定用定電流源回路
13、14、15 差動アンプ
16 第1の診断回路
17 A/D変換器
18 第1の診断回路
19 CPU
20 コンパレータ
21 基準電圧
23 Dフリップフロップ
27 ANDゲート
Claims (3)
- 被測定物の両端に定電流供給用配線および電圧測定用配線を接続して定電流を供給すると共に前記被測定物の両端に発生する電圧を検出する4線式抵抗測定回路と、
前記被測定物の同一端に接続された前記定電流供給用配線および前記電圧測定用配線に定電流を供給して配線抵抗に対応する電圧を検出し、基準電圧を超えているか否かを診断する診断回路と、
前記被測定物の両端に発生する電圧に基づいて前記被測定物の抵抗値を算出すると共に前記診断回路の診断結果に基づいて前記定電流供給用配線および前記電圧測定用配線の少なくともいずれか一方の接続不良を検出するCPUと、
を備えた計測装置において、
前記診断回路は、前記配線抵抗に対応する電圧と前記基準電圧の比較信号を出力するコンパレータと、
このコンパレータの出力と前記CPUが出力した制御信号のアンド信号を出力するアンド回路と、
を有し、
前記CPUは、前記制御信号を一定時間出力し、前記アンド信号に基づき前記一定時間継続して前記接続不良の検出を行うことを特徴とする計測装置。 - 前記定電流供給用配線および前記電圧測定用配線は、前記被測定物の抵抗測定を行う場合、スイッチ回路により前記4線式抵抗測定回路に接続されることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記定電流供給用配線および前記電圧測定用配線は、前記接続不良の診断を行う場合、前記スイッチ回路により前記診断回路に接続されることを特徴とする請求項2に記載の計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10374799A JP3728745B2 (ja) | 1999-04-12 | 1999-04-12 | 計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10374799A JP3728745B2 (ja) | 1999-04-12 | 1999-04-12 | 計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000292467A JP2000292467A (ja) | 2000-10-20 |
JP3728745B2 true JP3728745B2 (ja) | 2005-12-21 |
Family
ID=14362189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10374799A Expired - Fee Related JP3728745B2 (ja) | 1999-04-12 | 1999-04-12 | 計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3728745B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS647339Y2 (ja) * | 1981-03-31 | 1989-02-27 | ||
JPS61161771U (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-07 | ||
JP3003658U (ja) * | 1994-04-28 | 1994-10-25 | アデックス株式会社 | インピーダンス測定装置 |
-
1999
- 1999-04-12 JP JP10374799A patent/JP3728745B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000292467A (ja) | 2000-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110595524B (zh) | 传感器饱和故障检测 | |
US7471092B2 (en) | Test apparatus and test method | |
US7317324B2 (en) | Semiconductor integrated circuit testing device and method | |
JP2010139442A (ja) | 試験装置および診断方法 | |
JP3728745B2 (ja) | 計測装置 | |
US11156672B2 (en) | Semiconductor device | |
JPH0120700Y2 (ja) | ||
JP2007108041A (ja) | テスト信号発生回路、機能追加回路モジュール、および、半導体デバイスの検査システム | |
JP4924231B2 (ja) | 半導体試験装置 | |
TWI824686B (zh) | 檢測電路 | |
US20020149387A1 (en) | Test circuit and test method | |
JP4876026B2 (ja) | 基板検査装置 | |
JPH04315068A (ja) | プリント回路板の検査装置 | |
JP3148576B2 (ja) | 半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法 | |
JPH0511507Y2 (ja) | ||
JP3168813B2 (ja) | 半導体集積回路試験装置 | |
EP1367403A2 (en) | A method for detecting faults in electronic devices, based on quiescent current measurements | |
JPH01100474A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JPH10300823A (ja) | プローバの点検方法 | |
JPH04355378A (ja) | コンタクトプローブ接触確認法 | |
JPS58123472A (ja) | 半導体特性測定装置 | |
JPH07113850A (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH0737954A (ja) | コンタクト不良検出装置 | |
JP2010107365A (ja) | 基板接続検査装置 | |
JPS6239708B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040413 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040610 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050912 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050925 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091014 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101014 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101014 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111014 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121014 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131014 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |