JP3706939B2 - 複数のメモリ・タイプを受け入れるように適合されたシステム - Google Patents
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Description
本発明は、複数のタイプのメモリ装置又はメモリ・デバイスを受け入れるように適合されたシステム・アーキテクチャと、存在するメモリのタイプを判断する方法とに関する。
発明の背景
ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ装置(DRAM)は、現在製造されている中でも最も製造数量が多く、最も複雑な集積回路である。その高い生産量がなければ、これらの装置又はデバイスの現況技術の製造要件の結果として法外な価格になるであろう。しかし、大量生産に伴う効率により、これらのメモリ装置のビット当たりの価格は低下し続けている。このようなメモリの低コストはパーソナル・コンピュータの成長と発展を促進してきた。パーソナル・コンピュータが進歩するに伴い、より高速かつより高密度で、しかも標準DRAMと同様に低コストなメモリ装置を必要とするようになっている。高速ページ・モードDRAMは現在最も一般的な標準DRAMである。高速ページ・モード動作では、行アドレス・ストローブ(/RAS)を使用して多重化DRAMアドレスの行アドレス部分をラッチする。次に列アドレス・ストローブ(/CAS)の複数の発生又はオカレンスを使用して複数の列アドレスをラッチして選択された行内のデータにアクセスする。/CASの立ち下がりでアドレスがラッチされ、DRAMの出力がイネーブルにされる。/CASが高に遷移すると、DRAM出力が高インピーダンス状態(トライステート)になる。集積回路の製造の進歩に伴い、DRAMの内部回路の動作はこれまで以上に高速化している。この高速回路によって、より高速のページ・モード・サイクル時間が可能になっている。装置が最小の高速ページ・モード・サイクル時間で動作する場合、DRAMの読取りに問題がある。/CASが15ナノ秒という短い時間だけ低であり、/CASから有効出力データまでのデータ・アクセス時間(tCAC)が最高15ナノ秒の場合がある。したがって、最悪の場合、出力データをメモリ装置の外部にラッチする時間がない。仕様が要求するよりも高速で動作する装置の場合、データは数ナノ秒間だけ有効であるに過ぎない場合もある。負荷の大きいマイクロプロセッサ・メモリ・バスで、数ナノ秒間しか有効でない非同期信号をラッチしようとするのはきわめて困難である。35ナノ秒ごとに新しいアドレスを供給する場合でも、システム内でかなりの量の電気雑音を生じさせる大型のアドレス・ドライバを必要とする。メモリ・システムのデータ・スループットを向上させるために、共通バス上に複数の装置を配置することが通例になっている。たとえば、共通アドレスおよびデータ・バスに2つの高速ページ・モードDRAMを接続することができる。一方のDRAMには奇数アドレスのデータを格納し、他方には偶数アドレスを格納する。奇数アドレスの/CAS信号は、偶数アドレスの/CAS信号がオン(低)になるとオフ(高)になる。このインタリーブ・メモリ・システムは、いずれか1つの装置のみの速度の2倍のデータ・アクセスを実現する。第1の/CASが20ナノ秒間低であり、次に20ナノ秒間高であると同時に第2の/CASが低になる場合、20ナノ秒ごとまたは50メガヘルツでデータにアクセスすることができる。/CASからデータ有効までのアクセス時間が15ナノ秒の場合、そのデータは両方の装置が高速ページ・モードで動作している各20ナノ秒の期間の終わりで5ナノ秒間しか有効にならない。サイクル時間が短縮されると、データ有効期間はゼロになる。制御信号をデコードして動作モードを識別するメモリ装置については、欧州特許第0624879号でのメモリ装置の説明を参照のこと。
現在のパーソナル・コンピュータ・システムに組み込むための戦略を提供する、より高速で高密度なランダム・アクセス・メモリ集積回路を求める要求がある。この要求を満たそうとして、標準DRAMアーキテクチャの多くの代替策が提案されている。高速ページ・モード・サイクル時間を増大させずにDRAMの出力でデータが有効である期間を長くする1つの方法は、拡張データ出力(EDO)モードと呼ばれる。EDO DRAMでは、高速ページ・モード動作中、データ線は読取りサイクル間でトライステートにされない。その代わり、データは/CASが高になった後、次の/CAS低パルスが発生してからしばらく後まで、または/RASまたは出力イネーブル(/OE)が高になるまで有効のまま保持される。高速ページ・モードまたはEDO DRAMの出力にいつ有効データが到着するかの決定は、列アドレス入力が有効な時点と、/CASが下がる時点と、/OEの状態と、直前のサイクルで/CASが上がった時点との複雑な関数になることがある。制御線信号(特に/CAS)に関してデータが有効な期間は、様々なDRAM製造者が採用しているようにEDOモードの特定の実施態様によって決まる。
メモリ・アクセス時間を短縮する方法は、追加の回路と追加の制御ピンと非標準装置ピン配列とを必要とする傾向がある。たとえば提案されている業界標準シンクロナスDRAM(SDRAM)はシステム・クロック信号を受信する追加のピンを有する。システム・クロックはメモリ・システム内の各装置に接続されているため、負荷が大きく、すべての装置内の回路を常にトグルしている。SDRAMはクロック・イネーブル・ピンとチップ選択ピンとデータ・マスク・ピンも有する。標準DRAM上にあるのと名前が似ているように思われるその他の信号は、SDRAM上では非常に異なる機能を有する。いくつかの制御ピンの追加によって、装置ピン配列は標準DRAMからの逸脱が必要となり、それによってそれらの新しい装置を使用するための設計作業がさらに複雑化する。SDRAM装置ではかなりの量の追加回路が必要であり、その結果、装置の製造コストが高くなる。
既存のコンピュータ・システムが非標準ピン配列を有する改良型装置を使用するには、既存コンピュータ・システムを大幅に修正しなければならない。さらに、既存のコンピュータ・システムのメモリ・アーキテクチャの設計では、信号線の容量性負荷が大きいため、制御信号とアドレス信号が新しいメモリ装置を高速で動作させるのに必要な周波数で切り替わることができないようになっている。シングル・インライン・メモリ・モジュール(SIMM)は、コンピュータ・システムにおけるメモリのパッケージングの業界標準形式になった一例である。SIMMでは、すべてのアドレス線がすべてのDRAMに接続している。さらに、SIMM上では行アドレス・ストローブ(/RAS)と書込みイネーブル(/WE)が各DRAMに接続されることが多い。これらの線は駆動する装置入力の数の結果として本質的に容量性負荷が大きい。また、SIMM装置は、一般には出力イネーブル(/OE)ピンを接地し、そのため/OEはメモリ装置に拡張機能を与える候補としてあまり魅力がない。
SIMMを使用するコンピュータの数が厖大なため、標準SIMM設計からの提案されている逸脱に対しては大きな抵抗がある。標準からの大幅な逸脱に対する業界の抵抗と、現行システムが新しいメモリ装置に対応することができないために、それらの逸脱はなかなか広く受け入れられない。したがって、大幅に異なるアーキテクチャを持つ装置は、限られた数量しか当初は製造されない。この限定された製造のため、一般には大量生産品に伴う製造上の改善と効率化によって実現することができるコストの低減が妨げられる。
発明の概要
高速データ・アクセスのために且つ既存のメモリ・システムとの互換性を持たせるために、標準DRAMピン配列を備える集積回路メモリ装置を設計する。1つの列アドレスに従って複数の順次アクセスが行われ、/CAS制御信号を基準にして読取りデータが出力される高速バースト動作モードを実現する。バースト動作モードでは、装置の内部でアドレスが増分され、外部アドレス線が高周波数で切り替わる必要がなくなる。バースト・アクセス1回当たり読取り/書込みコマンドが1回発行され、それによって読取り/書込み制御線を高速でトグルさせる必要がなくなる。内部アドレス・カウンタとデータ入出力ラッチをクロック制御するために、1メモリ・チップ当たり1本の制御線(/CAS)だけを動作周波数でトグルさせるだけで済む。各/CASは一般に1バイト幅のみのデータ・バスを制御するため、各/CAS線上の負荷は、他の制御信号線(/RAS、/WE、および/OE)上の負荷よりも一般に少ない。メモリ装置の内部回路は、既存の拡張データ出力(EDO)DRAMとの互換性が高い。この類似性によって、限られた量の追加回路を使用して1個のダイ上に2種類の部品を製造することができる。標準非バースト・モードと高速バースト・モードを切り換えることができるため、この装置を使用して標準装置を置き換えることができ、より複雑な高速メモリ装置に切り換える必要がなくなる。内部アドレス生成によって、高速ページ・モードまたはEDO DRAMで可能なよりも高速なデータ・アクセス時間に対応することができる。このバーストEDO装置の高速動作により、高速データ・スループットを達成するのにインタリーブ・メモリ装置が不要になる。前述の50メガヘルツのインタリーブ・メモリ・システムとは異なり、この装置の出力データは約15ナノ秒間有効であるため、メモリからデータをラッチするのに必要な回路の設計が簡単になる。この装置は既存のメモリ・モジュール・ピン配列と互換性がある。メモリ・モジュールには、シングル・インライン・メモリ・モジュール(SIMM)、マルチチップ・モジュール(MCM)、デュアル・インライン・メモリ・モジュール(DIMM)などが含まれる。この機構の組み合わせによって、最小限の設計変更で格段のシステム・パフォーマンス向上が可能になる。
高速ページ、EDO、またはバーストEDOモードのメモリ装置を受け入れるようにシステムが適合される。これらの装置はシステム製造業者がシステム・ボードにはんだなどで永久的に実装することも、メモリ・モジュールの使用によって交換可能に装着することもできる。密度の向上、パフォーマンスの向上、または消費電力の低減を可能にするように、メモリ・モジュールはユーザまたは技術者が容易にアップグレードすることができる。1種類のメモリが使用不能になった場合や、他の種類のメモリよりも高価な価格で販売されるようになった場合、システム製造者は自社の価格/パフォーマンス比および入手しやすさの必要を最もよく満たすメモリを搭載することができる。システムを高速ページ・モード・メモリ搭載で販売する場合、そのシステムのエンド・ユーザは後でシステムをEDOまたはバーストEDOメモリにアップグレードしてパフォーマンス向上を実現することができる。システムがEDOメモリを備える場合、ユーザはパフォーマンスを大幅に向上させるためにバーストEDOにアップグレードすることができる。あるいは、ユーザがメモリ容量を増やしたいが、高価な高パフォーマンス・メモリの価格を支払いたくない場合、よりパフォーマンスの低いタイプのメモリを使用してメモリ密度をアップグレードすることができる。
このシステムでは、システム内に複数のタイプのメモリを同時に存在させることができる。たとえばメモリの第1のバンクをバーストEDOメモリにし、第2のバンクをEDOメモリにすることができる。バーストEDO形式の第1のバンクには第1のアクセス速度でアクセスし、EDO形式の第2のバンクには第2のアクセス速度でアクセスするようにメモリ・コントローラをプログラムする。最も頻繁にアクセスされるデータは、最高速のアクセス能力を持つバンクに格納する。これによって、ユーザは大きなメモリ容量と、少なくともメモリの一部への高速アクセスとを獲得することができる。
システムは電源投入時またはリセット時に各メモリ・バンク内にあるメモリのタイプを判断し、それに応じてメモリ・アクセス信号のタイミング・パラメータを調整することができる。ユーザはシステムの価格/パフォーマンス比特性をより自由に左右することができる。
【図面の簡単な説明】
本発明の特徴と目的および利点は、請求の範囲、具体的な実施例の詳細な説明、および添付図面を参照すれば最もよくわかるであろう。
第1図は、バーストEDOメモリ装置の電気配線図である。
第2図は、線形アドレス指定形式とインタリーブ・アドレス指定形式の対比を示す表である。
第3図は、第1図のメモリ装置の1つの提案ピン配列を示す図である。
第4図は、第1図の装置にアクセスする方法のタイミング図である。
第5図は、第1図の装置にアクセスする他のタイミング図である。
第6図は、シングル・インライン・メモリ・モジュールの電気配線図である。
第7図は、シングル・インライン・メモリ・モジュールの前面図である。
第8図は、第7図のシングル・インライン・メモリ・モジュールのピン番号と信号名を示す表である。
第9図は、本発明により設計されたシステムを示す概略図である。
第10図は、システム内にどのタイプのメモリがあるかを判断する1つの方法のタイミング図である。
第11図は、システム内にどのタイプのメモリがあるかを判断する他の方法のタイミング図である。
好ましい実施例の詳細な説明
第1図は、本発明により設計された16メガビットの装置又はデバイスを示す概略図である。この装置は、メモリ・アレイ12内での2,097,152バイトの情報のデータ記憶を実現する、8ビットのデータ入出力経路10を有する2メガ×8のバーストEDO DRAMとして構成されている。第1図の装置は、8ビット幅のEDO DRAM用の業界標準ピン配列を有する。アクティブ−低行アドレス・ストローブ(/RAS)信号14を使用して、多重化メモリ・アドレスの第1の部分をアドレス入力A0〜A10 16からラッチ18にラッチする。ラッチされた行アドレス20を行デコーダ22でデコードする。デコードされた行アドレスを使用してメモリ・アレイ12の行を選択する。列アドレス・ストローブ(/CAS)信号24を使用して、メモリ・アドレスの第2の部分をアドレス入力16から列アドレス・カウンタ26にラッチする。ラッチされた列アドレス28を列アドレス・デコーダ30でデコードする。デコードされた列アドレスを使用してメモリ・アレイ12の列を選択する。
バースト読取りサイクル中は、行アドレス・デコーダと列アドレス・デコーダによって選択された行および列アドレスにあるメモリ・アレイ内のデータがメモリ・アレイから読み出され、データ経路32を通して出力ラッチ34に送られる。バーストEDO DRAMから駆動されたデータ10は、所定の/CASサイクル数の遅延(レーテンシィ又は待ち時間)後に/CASと同期して装置の外部にラッチすることができる。2サイクル遅延設計の場合、/CASの最初の立ち下がりを使用してバースト・アクセスの初期アドレスをラッチする。メモリからの最初のバースト・データは、/CASの2番目の立ち下がり後にメモリから駆動され、3番目の/CAS立ち下がりの間中有効になっている。メモリ装置又はメモリ・デバイスがバースト読取りサイクル中にデータの出力を開始した後は、出力ドライバ34は/CASの高期間中、出力イネーブル(/OE)制御線と書込みイネーブル(/WE)制御線の状態に応じてデータ出力をトライステートにすることなくデータ線の駆動を続け、それによってシステムが出力データをラッチする時間が増える。行アドレスおよび列アドレスが選択された後は、/CAS信号の追加の遷移を使用して列アドレス・カウンタ内の列アドレスを所定の順序で進める。/OEが低に維持され、/WEが高のままであるとすれば、バーストEDO DRAMの出力でデータが有効になる時点は/CAS信号のタイミングのみによって決まる。出力データ信号レベルは、標準CMOS、TTL、LVTTL、GTL、またはHSTL出力レベル仕様またはその他の仕様に従って駆動することができる。
全体的なシステム要件への対応が最大限になるように、アドレスは線形に進められるか、またはインタリーブ方式とすることができる。第2図は2、4、および8サイクルのバースト長の線形アドレス指定シーケンスおよびインタリーブ・アドレス指定シーケンスを示す表である。表中の先頭アドレスA1およびA2の「V」は、バースト・シーケンスを通じて変化しないアドレス値を表す。列アドレスは各/CAS遷移または各パルスによって進めるか、または各列アドレスによってアレイから複数のデータ・ワードを読み取る場合には複数の/CASパルスによって進めることができる。/CAS信号の各遷移によってアドレスが進められると、装置待ち時間に続く各遷移後にもこの部分からデータが駆動され、/CAS信号の各エッジで参照される。これによって、各メモリ・サイクルについて最高のスイッチング制御線(/CAS)が1回しか(高から低または低から高に)トグルしないバースト・アクセス・サイクルが可能になる。これは、各サイクルごとに/CASが低になってから高になる必要がある標準DRAMや、各メモリ・サイクルごとに完全なクロック・サイクル(高と低の遷移)を必要とするシンクロナスDRAMとは異なる。既存のEDO DRAM装置との互換性を最大限にするために、/CAS信号の立ち下がりで列アドレスをラッチして進めるように設計された装置を参照しながら本発明について詳述する。
ラッチされたアドレスと増分されたアドレスの両方を、アクセス・サイクル中の最も早い機会にアレイに適用するためには、最初の/CAS立ち下がり後に列アドレスをラッチし、増分することが望ましいであろう。たとえば、1サイクルに2つのデータ・ワードにアクセスするように装置を設計することができる(プリフェッチ・アーキテクチャ)。プリフェッチ・アーキテクチャ装置のメモリ・アレイは、奇数と偶数の半分ずつに分割することができる。次に列アドレスの最下位ビットを使用して奇数側と偶数側との間で選択する間に、他の列アドレス・ビットによってアレイの各半分内の列を選択する。列アドレス1を使用したインタリーブ・アクセス・モードでは、SDRAM仕様で規定されている標準インタリーブ・アドレス指定に従って、列0と列1のデータが読み取られ、列1のデータが出力された後、列0のデータが出力されることになる。線形アクセス・モードでは、列アドレス1が奇数側半分のアレイに適用され、アドレス2に増分され、偶数側半分のアレイにアクセスして2ワード・アクセスが完了する。このタイプの装置・アーキテクチャを実施する1つの方法は、列アドレス・カウンタと偶数側半分のアレイとの間に列アドレス増分回路を設けることである。この増分回路は、バースト・アクセス・サイクル中に初期列アドレスが奇数であってアドレス・モードが線形である場合にのみ列アドレスを増分する。それ以外の場合、増分回路は列アドレスを変更せずに渡す。1サイクルに2データ・アクセスのプリフェッチを使用する設計の場合、列アドレスは/CAS信号の2アクティブ・エッジごとに1回進められることになる。3以上のデータ・ワードにアクセスするプリフェッチ・アーキテクチャも可能である。
本発明に適用可能なその他のメモリ・アーキテクチャには、メモリ・アクセスが順次に行われるが、各アクセスが完了するのに複数のサイクルを必要とするパイプライン・アーキテクチャが含まれる。パイプライン・アーキテクチャでは、メモリの全体的スループットは1サイクル1アクセスに近づくが、パイプラインの長さや/CASからの所望の待ち時間のためにメモリのデータ出力は数サイクルだけオフセットされることがある。
バースト・アクセス・メモリ装置では、列アドレス・カウンタからのそれぞれの新しい列アドレスがデコードされ、それを使用して、アドレス入力16で追加の列アドレスを指定する必要なしにメモリ・アレイ内の追加のデータにアクセスする。このバースト・データ・シーケンスは、バースト長と等しい所定の数のデータ・アクセスが行われるまで各/CAS立ち下がりごとに続く。最後のバースト・アドレスが生成された後で受け取った/CAS立ち下がりによって、アドレス入力16から別の列アドレスがラッチされ、新しいバースト・シーケンスが始まる。読取りデータはラッチされ、最初の/CAS待ち時間の後の/CASの各立ち下がりと共に出力される。
バースト書込みサイクルの場合、データ10が入力データ・ラッチ34にラッチされる。最初の列アドレスがラッチされると、行アドレスと列アドレスによって指定された最初のアドレスに宛てられたデータが/CAS信号によってラッチされる(書込みサイクル・データ待ち時間はゼロである)。その他の書込みサイクル・データ待ち時間値も可能であるが、現在のメモリ・システムの場合はゼロが好ましい。増分された列アドレス位置に記憶する追加の入力データ・ワードが、連続する/CASパルスで/CASによってラッチされる。入力ラッチ34からの入力データはデータ経路32を通ってメモリ・アレイに渡され、行および列アドレス・デコーダによって選択された場所に記憶される。バースト読取りサイクルで前述したように、アドレス線16で追加の列アドレスを供給しなくても所定の数のバースト・アクセス書込みが行われる。所定数のバースト書込みが行われると、その後の/CASパルスによって新しい開始列アドレスがラッチされ、別のバースト読取りまたは書込みアクセスが開始される。
第1図のメモリ装置は、バーストEDO動作モードと標準EDO動作モードとの切換えのオプションを組み込むことができる。その場合、行アドレス・ラッチ時(/RAS立ち下がり、/CAS高)に書込みイネーブル信号/WE36を使用して、その行のメモリ・アクセスがバースト・モード・サイクルとページ・モード・サイクルのどちらであるかを判断する。/RASの立ち下がり時に/WEが低の場合、バースト・アクセス・サイクルが選択される。/RASの立ち下がりで/WEが高の場合、標準拡張データ出力(EDO)ページ・モード・サイクルが選択される。バースト・モード・サイクルとEDOページ・モード・サイクルは両方とも、/RASが低である間、データ読取りサイクル間にデータ出力ドライバ34によってデータ線10を高インピーダンス状態にする必要がないため、メモリ装置動作周波数を高めることができる。DRAM制御回路38は標準DRAM制御機能を実行するほかに、/RASが下がったときに/WEによって選択されたモードに従ってI/O回路34と列アドレス・カウンタ/ラッチ26を制御する。バースト・モードのみのDRAM、またはバースト・アクセス・サイクルと非バースト・アクセス・サイクルを切り換える代替方法を使用して設計された装置では、/RASが下がったときに/WEの状態を使用して、インタリーブ・アドレス指定モードと線形アドレス指定モードなど他の可能なモード間の切換えを行うことができる。
バースト・アクセス・サイクル中に、バースト・サイクルのために初期列アドレスが/CASによってラッチされるときに書込みイネーブル信号を使用して読取りまたは書込みバースト・アクセスを選択する。列アドレス・ラッチ時の/WE低によってバースト書込みアクセスが選択される。列アドレス・ラッチ時の/WE高によって、バースト読取りアクセスが選択される。バースト・アクセスの最中、/WE信号のレベルは読取りの場合は高に維持し、書込みバースト・アクセスの場合は低に維持しなければならない。バースト書込みアクセス中の低から高への遷移によってバースト・アクセスが終了し、それ以上の書込みが行われないようにする。バースト読取りアクセス中の/WE上の高から低への遷移によって、同様にバースト読取りアクセスが終了し、データ出力10を高インピーダンス状態にする。誤った書込みサイクルをトリガする可能性を少なくするため、アクセス・サイクル内の臨界タイミング期間中に/WE信号の遷移を監視することができる。臨界タイミング期間後、/WEの状態によってバースト・アクセスを継続するか、開始するか、または終了するかが決まる。バースト・アクセスが終了すると、バースト長カウンタがリセットされ、DRAMは別のアクセス・コマンドを受け取る状態になる。バースト・アクセス中に/RASと/CASが両方とも高になった場合も、バースト・アクセス・サイクルが終了し、データ・ドライバが高インピーダンス状態になり、バースト長カウンタがリセットされる。隠れたリフレッシュ・サイクルとの両立性をもたせるために/CASがアクティブの間に/RASだけが高になる場合、読取りデータを装置出力で有効に維持することができ、それ以外の場合は/RASだけが高の状態を使用してバースト・アクセスを終了させることができる。バースト・アクセス間の遅延を最小限にして、バースト読取りを終了させてから別のバースト読取りを開始したい場合、または別のバースト書込みを行う前にバースト書込みを終了させたい場合は、最小限の書込みイネーブル・パルス幅だけで済む。バースト読取りの場合、/WEが高から低に遷移して第1のバースト読取りを終了させ、次に、新しいバースト読取りサイクルを指定するために、/CASの次の立ち下がりの前に/WEが高に戻る。バースト書込みの場合、/WEは高に遷移して現行バースト書込みアクセスを終了させ、次に別のバースト書込みアクセスを開始するために/CASの次の立ち下がりの前に低に戻る。
第1図の装置の基本実施態様は、固定バースト長4と固定/CAS待ち時間2とバーストアドレスの固定インタリーブ・シーケンスとを組み込むことができる。この基本実施態様は、標準EDOページ・モードDRAMにわずかの回路を追加するだけで済み、標準EDOページ・モードとバーストEDO DRAMの両方の機能を備えるように大量生産することができる。また、この装置では、多くのSIMMモジュール設計と互換性を持たせるために出力イネーブル・ピン(/OE)を接地することもできる。ディスエーブルにされていない(接地に結合されている)場合、/OEは、/CASが下がる前にイナクティブ(高)であり/CASの立ち上がりを過ぎてイナクティブな場合、読取りサイクル中にデータがこの部分から駆動されないようにする非同期制御信号である。これらのセットアップ条件と保持条件が満たされない場合、読取りデータを読取りサイクルの一部の間、駆動することができる。/OE信号を/CASと同期させることができるが、これは一般に/CASからデータ有効までの遅延時間を増大させ、普通なら不要な追加の/CAS低パルスを加えなければ、/RASが高になる前に読取りデータをディスエーブルにすることができなくなる。好ましい実施例では、読取りサイクル中の任意の時点で/OEが高に遷移した場合、/OE信号がさらに遷移しても出力は/CASの次の立ち下がりまで高インピーダンス状態を保つ。
ライト/CASビフォア/RAS(WCBR)プログラミング・サイクルを受け取ると1つまたは複数のアドレス入力信号16またはデータ信号10の状態をラッチするモード・レジスタ40の使用により、バースト長、/CAS待ち時間、およびアドレス・シーケンスをプログラム可能にすることができる。このような装置では、モード・レジスタからの出力44によってDRAM上の必要な回路が制御される。2、4、8、およびフル・ページのバースト長オプションと、1、2、および3の/CAS待ち時間を指定することができる。装置の動作速度の向上とコンピュータ・アーキテクチャの進歩につれて、他のバースト長オプションおよび待ち時間オプションも使用することができる。第1図の装置は、WCBRサイクル中に最下位アドレス・ビットの状態をラッチすることによるアドレス・シーケンスのプログラム可能性も備える。この特定の実施例のバースト長と/CAS待ち時間は固定している。このDRAMの機能セットのその他の可能な変更には、固定バースト・モードのみの装備、標準高速ページ・モード(非EDO)とバースト・モードとのうちからの選択、および出力イネーブル・ピン(/OE)42を/RASと組み合わせて使用した動作モードの選択が含まれる。また、制御信号と/RASの組み合わせではなくWCBRリフレッシュ・サイクルを使用して動作モードを選択することもできる。さらに複雑なメモリ装置は、高速ページ・モード、EDOページ・モード、スタティック・カラム・モード、および/RASの立ち下がり時の/WEと/OEの様々な組み合わせの使用によるバースト動作などの追加の動作モードを備えることができる。複数のアドレス線またはデータ線を使用するWCBRサイクルの使用により、同様の1組のモードのうちから1つのモードを選択し、所望のモードをコード化することもできる。あるいは、複数の動作モードを持つ装置は、装置の動作モードをプログラムするために使用可能なワイヤ・ボンド位置またはプログラマブル・ヒューズを備えることもできる。
本発明の技法により設計された16ビット幅のバーストEDOモードDRAMの好ましい実施例は、2つの列アドレス・ストローブ入力ピン/CASHおよび/CASLを有する。読取りサイクルのみの場合、一方の/CAS信号だけがトグルするだけでよい。第2の/CASは高のままかまたは他方の/CASと共にトグルする。バースト読取りサイクル中は、一方の/CASがイナクティブのままであっても16データ・ビットすべてが1つの読取りサイクル中にこの部分から駆動される。典型的なシステム応用例では、マイクロプロセッサが各読取りサイクル中にデータ・バス上のすべてのデータ・ビットを読み取るが、書込みサイクル中は特定のバイトだけを書き込むことができる。読取りサイクル中に/CAS制御信号の一方が静的状態を保持することができるようにすることによって、システム内の全体的な電力消費量と雑音が低減される。バースト書込みアクセス・サイクルの場合、各/CAS信号(/CASHおよび/CASL)は8ビット幅のデータの書込みイネーブルとして機能する。2つの/CASはAND機能で組み合わされて1つの内部/CASとなる。これは最初の外部/CASが下がると低になり、最後の外部/CASが高になった後で高に戻る。/CAS信号のうちの最初の/CAS信号が低に遷移すると16のデータ入力がすべてラッチされる。一方の/CAS信号だけが低に遷移した場合、高のままの/CASに付随する8ビットのデータはメモリに記憶されない。
本発明についていくつかの好ましい実施例を参照しながら説明した。高速ページ・モードDRAMとEDO DRAMとしてだけでも、×1、×4、×8、および×16データ幅と、1メガビット、4メガビット、16メガビット、および64メガビットの密度を含む多くの構成で使用可能である。本発明のメモリ装置は多くの異なるメモリ構成をとることができる。集積回路メモリ技術分野の業者は、本明細書を読めば本発明から逸脱しない様々なメモリ措置を設計することができると考えられる。したがって、本明細書に適用可能な様々なメモリ装置構成の詳細な説明は不要であると考えられる。
第3図に、第1図の装置の好ましいピン配列を示す。この新しいバーストEDOメモリ装置のピン配列は標準EDO DRAMのピン配列と同じであることに留意されたい。この共通のピン配列によって、最小限の設計変更だけでこの新しい装置を既存のメモリ設計で使用することができる。また、共通のピン配列は、標準EDO DRAMピン配列に習熟した業者による新しい設計を容易にする。標準EDO DRAMピン配列を保持する本発明の変形には、/CASピンをシステム・クロック信号によって駆動してメモリ装置のデータ・アクセスをシステム・クロックと同期させることが含まれる。この実施態様の場合、/RAS立ち下がり後の最初の/CASアクティブ・エッジを使用して行アドレスをラッチし、後のエッジを使用してバースト・アクセス・サイクルの最初の列アドレスをラッチすることができる。装置内で行アドレスと列アドレスをラッチした後、そのアドレスを内部で増分してシステム・クロックと同期させてバースト・アクセス・サイクルを実現することができる。その他のピン機能には、この部分が/OEピン上でデータ出力ディスエーブル機能を必要としないため、/OEピン上でバースト・アドレス増分信号を駆動することがある。/OEピンを使用する他の代替策は、装置が標準EDOピン配列を維持しながら、バースト・モード・アクセスなどの機能を増強することができるようにする。/OEピンを使用して有効な列開始アドレスがあることを通知したり、バースト・アクセスを終了したりすることができる。これらの実施態様はそれぞれ、最小限の設計変更によって、現行メモリ・システムで使用可能な高速バースト・アクセス・メモリ装置を実現する。
第4図は、第1図の装置のバースト読取りの後にバースト書込みを行うタイミング図である。第4図では、/RAS信号によって行アドレスがラッチされる。この設計の一実施例では/RASが下がったとき/WEは低であり、/WEピンの状態を使用して/RAS時のバースト・アクセス・サイクルを指定する。次に、/WEが高の状態で/CASを低に駆動してバースト読取りアクセスを開始し、列アドレスをラッチする。最初の/CASサイクルではデータ出力信号(DQ)は駆動されない。/CAS信号の2番目の立ち下がりで内部アドレス生成回路が列アドレスを進め、アレイの別のアクセスを開始し、/CASからデータまでのアクセス時間(tCAC)後に装置から最初のデータ出力が駆動される。指定バースト長が4の装置の場合、/CASの5番目の立ち下がりまでさらにバースト・アクセス・サイクルが続き、新しいバースト読取りアクセスのために新しい列アドレスをラッチする。5番目の/CASサイクルで/WEが下がると、バースト・アクセスは終了し、装置はさらなるバースト・アクセスのために初期設定される。/WEが低の/CASの6番目の立ち下がりを使用して新しいバースト・アドレスをラッチし、入力データをラッチし、装置のバースト書込みアクセスを開始する。/RASが上がってバースト・アクセスを終了させるまで、連続した/CAS立ち下がりで追加のデータがラッチされる。
第5図は、バースト書込みアクセスの後にバースト読取りサイクルを行うタイミング図である。第4図のように/RAS信号を使用して行アドレスをラッチする。/CASの最初の立ち下がりが/WEの低と組合わさってバースト書込みアクセスが開始され、最初のデータがラッチされる。連続する/CAS立ち下がりによってさらにデータ値がラッチされ、装置内部でメモリ・アドレスがインタリーブ方式または順次方式で進められる。5番目の/CAS立ち下がりで、新しい列アドレスとそれに伴う書込みデータがラッチされる。6番目の/CASサイクルで/WE信号が高になるまでバースト書込みアクセス・サイクルが続く。/WE信号の遷移によってバースト書込みアクセスが終了する。/CASの7番目の低遷移によって、新しい列アドレスがラッチされ、バースト読取りアクセスが開始する(/WEは高である)。バースト読取りは/RASが上がってバースト・サイクルが終了するまで続く。
第3図および第4図で、バースト読取りサイクルの場合、データ遷移の短い期間を除き、/OEピンが低である限りデータは装置出力で有効なままであることに留意されたい。また、/CASの立ち下がりの前または立ち下がり時に/WEピンが低であるため、書込みサイクル中にデータ入出力線はこの部分から駆動されず、/OEピンは「ドントケア」である。/CAS信号とデータ線だけが比較的高い周波数でトグルし、/CAS以外の制御信号は1/CASサイクル時間以下の間アクティブ状態またはイナクティブ状態になる必要がない。これは、様々な装置機能のために行アドレス・ストローブと、列アドレス・ストローブと、データ・マスクと、読取り/書込み制御信号とが1クリック・サイクル以下の間有効でなければならないことが多いSDRAMとは異なる。典型的なDRAMでは、/CASの立ち下がりの前に、列アドレスがアレイまで伝播してデータ・アクセスを開始することができる。これは、/CASが立ち下がる前に、アレイからデータにアクセスするのに十分な期間の間アドレスが有効になっていた場合、/CAS立ち下がりからの高速データ・アクセスを実現するために行われる。このような設計では、/CASの立ち下がりの前に列アドレスが変化する場合、アドレス遷移検出回路を使用してメモリ・アクセスを再開する。新しい列アドレスに備えて準備するために最後のアドレスの後の各メモリ・サイクルの始めにある程度の期間余裕を持たせなければならないため、この方法は実際にはメモリ・アクセスを行うのに追加の時間が必要である。/CAS立ち下がりの直前に列アドレスが変化すると、アクセス時間が約5ナノ秒増える可能性がある。本発明の一実施例は、/CASが下がってしまうまでは列アドレスがアレイに伝播することができない。これによって、アドレス遷移検出回路が不要になり、/CASを基準にして固定したアレイ・アクセスが可能になる。
第6図は、本発明により設計されたシングル・インライン・メモリ・モジュール(SIMM)の概略図である。このSIMMは、既存のシステムおよびソケットとの物理的互換性を持たせるために標準SIMMモジュール・ピン配列を有する。2メガ×8メモリ装置10、12、14、および16のそれぞれをEDOページ・モードで動作させた場合、EDOページ・モードSIMMとの機能上の互換性が維持される。/CAS信号18、20、22および24のそれぞれが1バイト幅の32ビット・データ・バス26、28、30、および32を制御する。/RAS34信号を使用して各メモリ装置内の行アドレスをラッチし、/WE36と組み合わせて使用してページ・モード・アクセス・サイクルとバースト・モード・アクセス・サイクルとの間の選択を行う。アドレス信号38がSIMM上の各メモリ装置に多重化行および列アドレスを供給する。バースト・モードでは、アクティブ/CAS制御信号だけを装置の動作周波数でトグルするか、または、各/CAS信号を前述のように使用する場合はその半分の周波数でトグルする必要がある。データ線は/CAS線の半分の周波数または同じ周波数で切換え可能である必要があり、その他の制御信号およびアドレス信号は、/CAS線およびデータ線より低い周波数で切り替わる。第6図に示すように、各/CAS信号および各データ線は1つのメモリ装置に接続され、他の制御信号およびアドレス信号より高い周波数で切り換わることができる。各メモリ装置10、12、14および16は本発明により、バースト動作モードが可能であり、第1の行および列アドレスがラッチされた後で/CAS制御線を基準にしたタイミングによって複数のメモリ・アドレス場所からの順次またはインタリーブ・データ・アクセスを行う。
第7図に、本発明により設計された他のSIMMの前面図を示す。このSIMM上の各装置は1メガ×4に構成された4メガビットDRAMである。この構成では、1つの/CASが2つのメモリ装置を制御して1バイト幅のデータ・バスへのアクセスを実現する。図の8個の装置は32ビット幅で4メガバイトのSIMMを形成する。32ビット幅で8メガバイトのSIMMの場合、裏側にさらに8個の装置(図示せず)がある。
第8図に、第7図の装置に従って設計されたメモリ・モジュールの好ましいピン配列を示す。このピン配列は、高速ページ・モードSIMMおよびEDO SIMMのピン配列と互換性がある。ピン66にはEDO動作を示すために存在検出ピンが設けてあり、標準EDO部品タイプに従って、ピン46に/OE入力が設けてある。
第5図、第6図、および第7図のSIMMモジュールの他の実施態様としては、それぞれの/RAS信号が標準SIMMモジュール・ピン配列に従って16ビット幅のデータ・バスを制御する2つの/RAS信号の使用が含まれる。第6図の装置にさらに4個の2M×8EDOバースト・モードDRAMを追加して4M×32ビットのSIMMを実現することもできる。16ビット幅のDRAMも使用することができ、それらのDRAMは典型的には2つの/CAS信号を有し、そのそれぞれが8ビット・データ幅を制御する。パリティ・ビットまたは誤り検出および修正回路を組み込むことにより、他の可能なSIMMモジュール構成が実現される。誤り検出や修正を行う方法は、当業者には周知であり、本出願ではそのような回路の詳細な説明は記載しない。当業者なら本明細書を読めば、本発明の新規なメモリ装置を使用したその他のSIMM設計も設計することができる。本発明についてSIMM設計を参照しながら説明したが、本発明はSIMMには限定されない。本発明は、デュアル・インライン・メモリ・モジュール(DIMM)およびマルチチップ・モジュール(MCM)を含む他のタイプのメモリ・モジュールにも等しく適用可能である。
第9図は、本発明により設計されたデータ処理システムの概略図である。本明細書ではマイクロプロセッサとは、マイクロプロセッサ、ディジタル信号プロセッサ、または算術演算プロセッサとすることができるが、これらには限定されない。第9図では、マイクロプロセッサ112はアドレス線114および制御線116を介してメモリ制御回路118に接続されている。メモリ制御回路は、線122および120でそれぞれアドレス信号と制御信号メモリを124に供給する。さらに、メモリ制御回路とメモリの間に、アドレス信号または制御信号あるいはその両方のためのバッファ回路を設けることもできる。メモリはデータバス126を介してデータの送受信を行う。メモリ・データ・バス126とマイクロプロセッサ・データ・バス128の間の任意選択のデータ・バス・バッファ130によって、データ信号の増幅またはマイクロプロセッサおよびメモリ制御信号との同期化あるいはその両方が可能になる。このバッファは、バッファ、トランシーバ、ラッチ、レジスタ、またはレジスタ・トランシーバとすることができるが、これらには限定されない。高速スタティック・ランダム・アクセス・メモリ(SRAM)キャッシュ回路132も任意選択であり、メモリ回路またはマイクロプロセッサからキャッシュに記憶されているデータへのより高速のアクセスを可能にする。マイクロプロセッサ内にメモリ制御回路118を組み込むことができる。メモリ制御回路は、様々なタイプのメモリにアクセスするために必要なアドレス・ストローブ信号、アドレス信号、および読取り/書込み制御信号を供給する。プロセッサがバースト・モードでメモリにアクセスすることができるため、高速SRAMキャッシュを必要としない比較的高いメモリ帯域幅を備えたコンピュータの設計が可能である。待ち時間のないメモリ・アクセスを実現するのに十分な高速のSRAMは、コンピュータのコストを大幅に増大させることがある。システムが本発明によりバーストEDOメモリを受け入れることができるため、現在製造されているものよりもかなり低いコストで中ないし高パフォーマンスのコンピュータを製造することができる。バースト・アクセス・メモリを高速SRAMキャッシュと組み合わせて使用すれば、キャッシュ・ミスの場合にメイン・メモリの高速バースト・アクセスを行うことによって、さらに高いパフォーマンスのコンピュータ設計が可能になる。
動作中、バーストEDOメモリがある場合、マイクロプロセッサはメモリ制御回路を介してメモリにアドレス信号と制御信号を供給することによってデータを読み取る。初期アドレスと読取りコマンドとアクセス・サイクル・ストローブとに応答して、メモリは初期アドレスにある第1のデータ・ワードへのアクセスを開始する。バースト・アクセスの第2のアクセス期間中に第2のアクセス・サイクル・ストローブがメモリ内のアドレスを進ませ、第2のアドレスからのデータの読取りアクセスを開始する。待ち時間が2の場合、第1のデータは第2のアクセス・サイクル・ストーブ信号が発生した後でメモリから駆動される。典型的には、バースト・アクセスの第3のアクセス・サイクル期間の始めに行われる第3のアクセス・サイクル・ストローブに応答して、第1のデータがマイクロプロセッサにラッチされる。この第3のアクセス・サイクル・ストローブによって、第2のデータ値もメモリから駆動される。第3のアクセス・サイクル・ストローブによって、メモリ内で第3のアドレスも生成され、第3のデータ・アクセスが開始する。第4、第5、および第6のアクセス・サイクル・ストローブに応答して、マイクロプロセッサにデータがラッチされる。このようにして、1つのアドレスと複数のアクセス・サイクル・ストローブとに応答してマイクロプロセッサ内で4個のデータ値が受け取られる。メモリが4ワード・バースト・シーケンスを実行するように設計されており、メモリから追加のデータ値が必要な場合は、マイクロプロセッサは、5番目のアクセス・サイクル・ストローブ信号によってメモリに第2のアドレスを供給することができる。この場合、マイクロプロセッサが第1の4ワード・バーストからデータを受け取っている間に、第2の4ワード・バースト・シーケンスが開始される。データ・バッファ130を使用して、アクセス・サイクル・ストローブ信号に応答してメモリから受け取ったデータを、マイクロプロセッサに接続されているシステム・クロックと同期させることができる。書込みサイクルの場合、一般には待ち時間はない。書込みサイクルのデータは、バースト書込みシーケンスにおける各アクセス・サイクル・ストローブ信号によって供給される。
本発明の好ましい実施例では、第9図のシステムは2つ以上の異なるタイプのメモリと共に動作する。たとえば、システムはバーストEDO、高速ページ・モード、またはEDOメモリ装置と共に動作することができる。システムはたとえば、高速ページ・モード、EDO、またはバーストEDOメモリ装置を有するメモリ・モジュールを受け入れるように適合させることができ、その場合、それらのモジュールは全く同じかほぼ同じピン配列を有する。
このシステムでは、存在するメモリのタイプを検出する方法は以下のステップのいくつかまたは全部を使用する。すなわち、第1のデータ・パターンをメモリのアドレスnに書き込み、アドレスnで読取りコマンドによって/CASを低にトグルし、メモリのデータ出力をサンプリングし、/CASを高にトグルし、メモリのデータ出力をサンプリングする。第1のデータ・サンプルがメモリに書き込まれたデータと一致する場合、高速ページ・モードとEDOの両方のタイプのメモリについてアドレスからデータ有効までと/CASからデータ有効までの時間が一致していれば、メモリは高速ページ・モードまたはEDOである。第2のサンプルがメモリに書き込まれているデータと一致する場合、メモリはEDOである。これは、高速ページ・モードでは/CASが高の間はデータ・バスが駆動されず、バーストEDOメモリでは待ち時間は一致していないはずであるためである。第1のパターンが一致し、第2のパターンが一致しない場合、メモリは高速ページ・モードである。/CAS低または/CAS高で有効データが検出されない場合、メモリはバーストEDOである。バーストEDOメモリの存在を検証し、待ち時間を判断するには、有効データを検出するために列アドレスを変更してもしなくても、/CASを低にトグルしてさらに読取りサイクルを行うことができる。高速ページ・モードとEDOのいずれか一方のみまたはバーストEDOメモリを受け入れるように設計されたシステムは、どのタイプのメモリが存在するかを判断するために、高速読取りサイクル中の適切な時点(高速ページ・モードの場合は/CAS低、EDOの場合は/CAS高)でデータをサンプリングするだけでよい。たとえばEDOまたはバーストEDOメモリのみを受け入れるように設計されたシステムは、高速ページ・モード・データが有効になるはずの/CASが低の間にデータをサンプリングする機能を持っていなくてもよい。第10図に、既知のデータ・パターンDnを、システムに存在する可能性のあるメモリ・タイプのそれぞれと互換性のある形式でメモリに書き込むタイミング図を示す。時点t1で、前述のように/CASが低の間にメモリ出力がサンプリングされる。有効データが読み取られない場合、メモリはバーストEDOである。時点t2で、/CASが高の間にメモリ出力がサンプリングされる。時点t1で有効データが読み取られていた場合、時点t2で有効データが存在するかどうかによって、データが高速ページ・モードかEDOかがわかる。待ち時間2のバーストEDOメモリの場合、時点t3またはt4でサンプリングされたデータはメモリに書き込まれているデータと一致する。特に時点t4では、3種類のメモリのそれぞれがメモリ・データ出力で異なる結果を出力し、メモリ・タイプの判断が可能になる。
バーストEDOと高速ページ・モードまたはEDOとを区別する方法は、以下のステップを使用することができる。第1のデータ・パターンをメモリのアドレスnに書き込み、第2のデータ・パターンをメモリのアドレスn+1に書き込み、第3のデータ・パターンをメモリのアドレスn+2に書き込み、第4のデータ・パターンをメモリのアドレスn+3に書き込み、/CASを5回サイクルして、外部アドレス線上にアドレスnを維持しながらバーストEDOバースト読取り形式のデータを読み取る。このデータは単一個別サイクル、ページ・モード・サイクル、またはバーストEDO形式で書き込むことができる。受け取ったデータが書き込まれたデータと一致するが少なくとも1サイクル(待ち時間)だけオフセットしている場合、メモリはバーストEDOである。メモリがバーストEDOでない場合、単一サイクルまたはページ・モード書き込みが行われた場合は読み取られたデータはアドレスnに書き込まれたデータ・パターンとすべて等しく、メモリはEDOメモリであるか、またはバーストEDO書き込みが行われた場合はデータはアドレスn+3に書き込まれたデータ・パターンと等しく、メモリはEDOメモリであるか、またはデータはデータ・バスの特性に依存し、メモリは高速ページ・モード・メモリである。/CASが高の間にデータをサンプリングし、メモリが高速ページ・モード・メモリの場合、データをサンプリングしたときのデータ・バスは高、低、または不明にフロートする。/CASが低の間にデータをサンプリングした場合、高速ページ・モード・メモリはEDOメモリと同じデータを出力する。
メモリのデータ出力を/CASが高の間にのみサンプリングし、有効データを受け取らない場合、メモリに高速ページ・モード形式でアクセスして高速ページ・モード・メモリの存在を検証しなければならない。
第11図は、本発明の教示によりシステム内にどのタイプのメモリが存在するかを判断する他の方法のタイミング図である。特定の例を示すために、図のデータ値はデータ幅が4ビットのシステムに対応している。実際には、典型的なシステム・データ・バスは8、16、32、64またはその他のデータ幅を有することができる。同様に、このタイミング図について第9図のシステムを参照しながら検討するが、説明する方法は、少なくとも2種類のアクセス・モードのうちの1つまたは複数のモードで動作可能なメモリ装置を使用することができる、本発明の教示に従った多様なシステム構成に等しく有用である。第11図では、2つのデータ値がページ・モード書き込み形式を使用してメモリに書き込まれる。この形式は、高速ページ・モード、EDO、またはバーストEDOメモリ装置にデータを正しく記憶する。メモリがバーストEDOの場合、図の2番目の列アドレス(Cn+1)はメモリ装置または書き込まれる装置によって単に無視される。これは2番目のアドレスは内部的に生成されるためである。互いに容易に区別することができ、駆動されていないバスからも容易に区別することができるように選定した2つのデータ値(0110および1001)を書き込んだ後、バーストEDO形式でメモリを読み取る。DATA FPMという符号が付されてる波形は、高速ページ・モード・メモリが搭載されているシステムのデータ・バスを表す。DATA EDOというラベルが付されている波形はEDOメモリが搭載されているシステムのデータ・バスを表す。DATA BEDOというラベルが付されている波形は、バーストEDOメモリが搭載されているシステムのデータ・バスを表す。縦線t1、t2、t3、t4、およびt5は、システム内に存在する可能性のあるメモリのタイプを区別するためにデータをサンプリングすることができる、いくつかの可能な時点を表す。特に時点t5では、読取り操作に対して各メモリ・タイプが異なる応答を示す。時点t5では/CASが高のため、高速ページ・モード・メモリはデータ・バスを駆動していない。バスが駆動されていない場合、一般には高、低、または高と低の値のパターンとしてディジタルに解釈されるレベルにフロートまたは終了する。いずれの場合も、データは書き込まれているパターンと一致する可能性は低い。狭いデータ・バスを使用するシステムの場合、またはバス特性が不明の場合、様々なデータ・パターンを使用してこの方法を繰り返し、バスが書き込まれたデータと一致するものとして解釈されるような信号レベルを供給しないように保証することが望ましい。広いデータ・バスの場合、駆動されないバスがランダムまたは適切に変化するデータ・ビット・パターンと一致する可能性はきわめて低く、複数のパターンは不要とみなせることがある。たとえば32ビット・データ・バスの可能なパターンは0110 1001 1111 0001 1100 0011 0000 1110となる。時点t5で、読取りアドレスはサイクルごとに変化していないため、EDOメモリは列アドレスCnからデータ・バス上にデータを駆動する。第11図の例の場合、この値は0110である。時点t5で、待ち時間が2のバーストEDOメモリは、バースト読取りアクセス・サイクル中の内部アドレスを自動的に増分するので、列アドレスCn+からデータを供給する。このようにして、時点t5でメモリ・タイプが高速ページ・モード、EDO、またはバーストEDOのいずれであるかを判断することができる。より包括的な方法は、待ち時間が2以外のバーストEDOメモリ装置を可能にするために、2サイクルの書込みサイクルおよび3サイクルの読取りサイクルより多くのサイクルを実行する。たとえば、4サイクルの書込みサイクルの後に5サイクルの読取りサイクルを行い、5番目のサイクルの後の/CAS高でデータをサンプリングする場合、高速ページ・モード・メモリではデータはバスに依存し、EDOメモリでは最初のデータ値と等しく、待ち時間が2、3または4のバーストEDOメモリではそれぞれ4番目、3番目または2番目のデータ値と等しい。
本発明による他の方法は、メモリのタイプに関係なく単一サイクルで非順次アドレスへの書込みを行ってそれらのアドレスにデータを書き込み、次に各メモリ・タイプと互換性のあるタイミングだが、異なるアドレス順序でページ・モード様の形式で読取りを行う。たとえば、単一サイクルを使用して(各サイクル毎に/RASと/CASの両方をトグルさせて)、D1、D2、D3、およびD4をそれぞれアドレス00、10、11、01に書き込み、次に00、11、01、10からページ・モード様の形式で読み取る。バーストEDOメモリは、時間を待ち時間だけオフセットしてD1、D4、D2、D3の順にデータを読み取る。高速ページ・モードおよびEDOメモリは、待ち時間なしでD1、D3、D4、D2の順にデータを読み取る。この場合も、/CASが高になった後で(たとえば/CASの立ち下がりで)データをサンプリングした場合、高速ページ・モード装置からのデータは無効である確率が最も高い。
本発明の実施例によりシステム内のメモリ・タイプを検出又は判断する他の方法は、非順次アドレスに対するページ・モード書込み形式を使用していくつかの記憶場所に書き込み、次にページ・モード形式で順次アドレスから読み取ることである。たとえば、データ書込みサイクルでは最下位アドレス2ビットを00、10、11、01の順にトグルさせる。ページ・モード・メモリの場合、データが有効になった後、/CASが高に遷移することによってデータ・バスがトライステートになる前にサンプリングした場合、データは有効だが順序外れになる。EDOメモリの場合、データが有効になった後、次に/CASが低に遷移する前にサンプリングした場合、データは有効だが順序外れになる。バーストEODメモリの場合、メモリ内でアドレス最下位ビットが読取りサイクルと書込みサイクルで同じ順序で生成されるため、データは順序正しく読み取られる。バーストEDOデータには/CASからの待ち時間がある。わずか2つの記憶場所に書き込まれた後で、第2のアドレスに対する単一読取りサイクルが行われる。この場合、/CASが低の間に有効データがサンプリングされた場合、メモリは高速ページまたはEDOでなければならない。/CASが高に遷移した後で有効データがサンプリングされた場合、メモリはEDOである。有効データが検出されない場合、メモリはバーストEDOである。
SIMMを使用するシステムで存在するメモリのタイプを本発明の教示により判断する簡略化された方法は、EDO存在検出ピンを利用する。EDO存在検出が偽の場合、メモリは高速ページ・モード・メモリである。存在検出が真の場合、メモリはEDOとバーストEDOのどちらであるか、あるいは複数の動作モードを持つメモリ装置であるかだけを検査するだけでよい。
本発明による他の方法は、/CASをトグルして複数のデータ・パターンを供給しながら列アドレスをCnに維持して、バースト・モード形式でデータを書き込むことである。次に、アドレスCn+xでの読取りサイクル(ただしCn+xはバーストEDOメモリ装置に書き込まれているはずのアドレスの範囲内にある)をバーストまたはページ・モード読取りシーケンスの一部として行う。メモリがバーストEDOメモリの場合、アドレスCn+xから読み取られたデータ・パターンは、待ち時間後にCn+xに書き込まれたパターンと一致することになる。高速ページ・モードおよびEDOメモリは、バースト・モード書込みの前にCn+xにあったデータなら何でも供給する。あるいは、/CASの低期間の終わり付近でデータをサンプリングするアドレスCnに対する単一読取りサイクルは、高速ページ・モードまたはEDOメモリの場合に有効データ出力を供給するが、バーストEDOメモリの場合は待ち時間が満たされていないために有効データを出力しない。
システム内にあるメモリ・タイプを判断する上記の各方法では、メモリ自体に複数の動作モードがあることがわかっている場合には、メモリを特定のモードにするステップを行う必要がある。そのメモリは、メモリがどのような動作モードをサポートするかを判断するために、メモリを可能な所望の各動作モードにする適切な手続きを行った後で検査することができる。また、メモリが線形アドレス指定モードと順次アドレス指定モードとの間で切り替わることができる場合、線形アドレス指定モードであるか順次アドレス指定モードであるかを考慮しなければならない。どのようなSRAMでも、上述の方法を行う前にディスエーブルにする必要があるか、また読み取るデータがキャッシュ・データだけにならないように保証するための追加のステップが必要である。また、初期設定されていない記憶場所との偽のデータ一致の可能性を避けるために、この方法を使用するアドレス範囲に既知の背景データ・パターンを書き込むこともできる。
本発明は、各メモリ・バンクがいくつかのタイプのメモリのうちの1つを有することができる複数のメモリ・バンクを有するシステムを教示する。この教示により設計されたシステムでは、上述のように各バンクを個別に検査することができる。システムのメモリ・コントローラは、存在するメモリのタイプに従って各バンクにアクセスするようにプログラムされている。
本発明について好ましい実施例を参照しながら説明したが、当業者には本発明の範囲から逸脱することなく本発明の多くの修正および変形が明らかであろう。
Claims (8)
- 情報を転送するバスを備えるマイクロプロセッサ・システムであって、
前記バスに結合され、第1或いは第2のアクセス・モードで動作可能で、第1の出力モードでの動作のための第1の組のアクセス制御信号と、第2のアクセス・モードでの動作のための第2の組のアクセス制御信号との何れか一方に応答するダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(124)であり、前記第1アクセス・モードが当該ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリをバースト・モードで動作させるように為し、前記第2アクセス・モードが当該ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリを非バースト・モードで動作させるように為すことから成るダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(124)と、
前記バスと前記メモリとに結合され、前記第1の組のアクセス制御信号と前記第2の組のアクセス制御信号を前記メモリに提供することができるプログラム可能なメモリ・コントローラ(118)と、
前記バス、前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ、並びに前記メモリ・コントローラに結合され且つ前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリのアクセス・モードを初期的にはわかっていないマイクロプロセッサ(112)であり、前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリにおける特定のアドレスに対する所定のデータ・パターン(Dn)の記憶に適合しており、その特定のアドレスからのデータ読み取りを為すべくコマンドを発して、所定の期間(t1、t2、t3、或は、t4)に前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリの出力バッファからデータを読み取って、当該メモリが前記第1或は前記第2のアクセス・モードのどちらで動作しているかを判断し、前記読み取ったデータに応答して前記メモリ・コントローラを前記メモリが動作している前記アクセス・モードに従って1組のアクセス制御信号を前記メモリに提供するようにプログラムするマイクロプロセッサ(112)とを備える、改良されたマイクロプロセッサ・システム。 - 前記第1アクセス・モードがバースト拡張データ出力であり、前記第2アクセス・モードが高速ページ・モードである、請求項1に記載のマイクロプロセッサ・システム。
- 前記第1アクセス・モードがバースト拡張データ出力であり、前記第2アクセス・モードが拡張データ出力である、請求項1に記載のマイクロプロセッサ・システム。
- マイクロプロセッサ・システム内に存在するダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ(124)のバースト・アクセス・モード或は非バースト・アクセス・モードを判断する方法であって、
前記マイクロプロセッサから前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリへ列アドレスを付与するステップと、
可能性ある全てのメモリ・タイプと互換性あるフォーマットを用いて、複数のデータ・パターンから成る所定シーケンスを前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリの順次的な複数のアドレスに書き込むステップと、
前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリの順次的な複数のアドレスにおける複数のデータ・パターンを読み取るべくコマンドを発するステップと、
前記列アドレスの付与の開始から測定した所定のサンプル時(t1、t2、t3、t4、或は、t5)に、前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリの出力バッファから複数のデータ・パターンを読み取るステップと、
前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリから読み取った前記複数のデータ・パターンを前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリに書き込まれた前記複数のデータ・パターンから成る所定シーケンスと比較して、前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリのアクセス・モードのタイプが、バースト拡張データ出力モード、拡張データ出力モード、或いは、高速ページ・モードの内のいずれであるのかを判断するステップと、を含む改良された方法。 - 複数のサンプル時に前記メモリからデータを読取り、前記複数の所定のサンプル時に前記メモリから読み取られた前記データを、前記メモリに書き込まれた前記データと比較して、アクセス・モードのタイプを判断する、請求項4に記載の方法。
- 列アドレス・ストローブ信号が高状態の時に、前記メモリから前記データを読み取って、高速ページ・モード・アクセスで動作するメモリと拡張データ出力モードで動作するメモリとを区別する、請求項4に記載の方法。
- 第2の列アドレスを前記マイクロプロセッサから前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリへ付与した後に前記ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリからデータを読み取って、バースト・アクセス・モードで動作するメモリと非バースト・アクセス・モードで動作するメモリを区別するデータを提供する、請求項4に記載の方法。
- 前記メモリに複数のデータ・パターンから成るシーケンスを書き込む前記ステップが、
複数のデータ・パターンから成る第1シーケンスを前記メモリの前記列アドレスに書き込むステップと、
第2の列アドレスを前記メモリに付与するステップと、
複数のデータ・パターンから成る第2のシーケンスを前記メモリの前記第2の列アドレスに書き込むステップとを含む、請求項4に記載の方法。
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---|---|---|---|
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---|---|
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---|---|---|---|
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---|---|
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Families Citing this family (68)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6804760B2 (en) * | 1994-12-23 | 2004-10-12 | Micron Technology, Inc. | Method for determining a type of memory present in a system |
US6525971B2 (en) * | 1995-06-30 | 2003-02-25 | Micron Technology, Inc. | Distributed write data drivers for burst access memories |
US5526320A (en) | 1994-12-23 | 1996-06-11 | Micron Technology Inc. | Burst EDO memory device |
US6034919A (en) * | 1996-12-31 | 2000-03-07 | Compaq Computer Corporation | Method and apparatus for using extended-data output memory devices in a system designed for fast page mode memory devices |
US7088387B1 (en) * | 1997-08-05 | 2006-08-08 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Video recording device responsive to triggering event |
JP4074029B2 (ja) * | 1999-06-28 | 2008-04-09 | 株式会社東芝 | フラッシュメモリ |
KR100495848B1 (ko) * | 2000-03-30 | 2005-06-16 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | 제로-레이턴시-제로 버스 전환 동기 플래시 메모리 |
TW493119B (en) * | 2001-03-28 | 2002-07-01 | Via Tech Inc | Method for automatically identifying the type of memory and motherboard using the same |
US6779096B1 (en) * | 2001-09-29 | 2004-08-17 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for a calibrated variable phase offset timing between synchronous clock subdomains |
NL1019546C2 (nl) * | 2001-12-12 | 2003-06-19 | Double Bw Systems B V | Werkwijze voor het adresseren van een geheugen. |
US7133972B2 (en) | 2002-06-07 | 2006-11-07 | Micron Technology, Inc. | Memory hub with internal cache and/or memory access prediction |
US7117316B2 (en) | 2002-08-05 | 2006-10-03 | Micron Technology, Inc. | Memory hub and access method having internal row caching |
US6820181B2 (en) | 2002-08-29 | 2004-11-16 | Micron Technology, Inc. | Method and system for controlling memory accesses to memory modules having a memory hub architecture |
US7836252B2 (en) | 2002-08-29 | 2010-11-16 | Micron Technology, Inc. | System and method for optimizing interconnections of memory devices in a multichip module |
US7155579B1 (en) * | 2002-12-27 | 2006-12-26 | Unisys Corporation | Memory controller having programmable initialization sequence |
US7245145B2 (en) | 2003-06-11 | 2007-07-17 | Micron Technology, Inc. | Memory module and method having improved signal routing topology |
US7120727B2 (en) | 2003-06-19 | 2006-10-10 | Micron Technology, Inc. | Reconfigurable memory module and method |
US7260685B2 (en) | 2003-06-20 | 2007-08-21 | Micron Technology, Inc. | Memory hub and access method having internal prefetch buffers |
US7159076B2 (en) * | 2003-06-24 | 2007-01-02 | Research In Motion Limited | Cache operation with non-cache memory |
KR100626375B1 (ko) | 2003-07-21 | 2006-09-20 | 삼성전자주식회사 | 고주파로 동작하는 반도체 메모리 장치 및 모듈 |
EP1501100B1 (en) * | 2003-07-22 | 2018-11-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nonvolatile memory device, memory system, and operating methods |
US7389364B2 (en) | 2003-07-22 | 2008-06-17 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for direct memory access in a hub-based memory system |
US7210059B2 (en) | 2003-08-19 | 2007-04-24 | Micron Technology, Inc. | System and method for on-board diagnostics of memory modules |
US7133991B2 (en) * | 2003-08-20 | 2006-11-07 | Micron Technology, Inc. | Method and system for capturing and bypassing memory transactions in a hub-based memory system |
US7136958B2 (en) | 2003-08-28 | 2006-11-14 | Micron Technology, Inc. | Multiple processor system and method including multiple memory hub modules |
US20050050237A1 (en) * | 2003-08-28 | 2005-03-03 | Jeddeloh Joseph M. | Memory module and method having on-board data search capabilities and processor-based system using such memory modules |
US7310752B2 (en) | 2003-09-12 | 2007-12-18 | Micron Technology, Inc. | System and method for on-board timing margin testing of memory modules |
US7194593B2 (en) | 2003-09-18 | 2007-03-20 | Micron Technology, Inc. | Memory hub with integrated non-volatile memory |
US9087603B2 (en) * | 2003-09-30 | 2015-07-21 | Intel Corporation | Method and apparatus for selective DRAM precharge |
US7519762B2 (en) * | 2003-09-30 | 2009-04-14 | Intel Corporation | Method and apparatus for selective DRAM precharge |
US7120743B2 (en) | 2003-10-20 | 2006-10-10 | Micron Technology, Inc. | Arbitration system and method for memory responses in a hub-based memory system |
US7337282B2 (en) * | 2003-11-28 | 2008-02-26 | Infineon Technologies Ag | Memory system and process for controlling a memory component to achieve different kinds of memory characteristics on one and the same memory component |
US7330992B2 (en) | 2003-12-29 | 2008-02-12 | Micron Technology, Inc. | System and method for read synchronization of memory modules |
US7188219B2 (en) | 2004-01-30 | 2007-03-06 | Micron Technology, Inc. | Buffer control system and method for a memory system having outstanding read and write request buffers |
US7788451B2 (en) | 2004-02-05 | 2010-08-31 | Micron Technology, Inc. | Apparatus and method for data bypass for a bi-directional data bus in a hub-based memory sub-system |
US7366864B2 (en) | 2004-03-08 | 2008-04-29 | Micron Technology, Inc. | Memory hub architecture having programmable lane widths |
US7257683B2 (en) | 2004-03-24 | 2007-08-14 | Micron Technology, Inc. | Memory arbitration system and method having an arbitration packet protocol |
US7120723B2 (en) | 2004-03-25 | 2006-10-10 | Micron Technology, Inc. | System and method for memory hub-based expansion bus |
US6980042B2 (en) | 2004-04-05 | 2005-12-27 | Micron Technology, Inc. | Delay line synchronizer apparatus and method |
US7590797B2 (en) | 2004-04-08 | 2009-09-15 | Micron Technology, Inc. | System and method for optimizing interconnections of components in a multichip memory module |
US7363419B2 (en) | 2004-05-28 | 2008-04-22 | Micron Technology, Inc. | Method and system for terminating write commands in a hub-based memory system |
US7310748B2 (en) | 2004-06-04 | 2007-12-18 | Micron Technology, Inc. | Memory hub tester interface and method for use thereof |
US7519788B2 (en) | 2004-06-04 | 2009-04-14 | Micron Technology, Inc. | System and method for an asynchronous data buffer having buffer write and read pointers |
US7392331B2 (en) | 2004-08-31 | 2008-06-24 | Micron Technology, Inc. | System and method for transmitting data packets in a computer system having a memory hub architecture |
US8607328B1 (en) | 2005-03-04 | 2013-12-10 | David Hodges | Methods and systems for automated system support |
US7142470B2 (en) * | 2005-03-22 | 2006-11-28 | Mediatek Inc. | Methods and systems for generating latch clock used in memory reading |
JP4740233B2 (ja) * | 2005-03-23 | 2011-08-03 | パナソニック株式会社 | 不揮発性記憶装置、不揮発性メモリのコントローラ、及び不揮発性記憶システム |
US8332598B2 (en) * | 2005-06-23 | 2012-12-11 | Intel Corporation | Memory micro-tiling request reordering |
US7587521B2 (en) * | 2005-06-23 | 2009-09-08 | Intel Corporation | Mechanism for assembling memory access requests while speculatively returning data |
US7765366B2 (en) * | 2005-06-23 | 2010-07-27 | Intel Corporation | Memory micro-tiling |
US8253751B2 (en) * | 2005-06-30 | 2012-08-28 | Intel Corporation | Memory controller interface for micro-tiled memory access |
US7558941B2 (en) * | 2005-06-30 | 2009-07-07 | Intel Corporation | Automatic detection of micro-tile enabled memory |
US9262326B2 (en) * | 2006-08-14 | 2016-02-16 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus to enable the cooperative signaling of a shared bus interrupt in a multi-rank memory subsystem |
KR100771521B1 (ko) | 2006-10-30 | 2007-10-30 | 삼성전자주식회사 | 멀티 레벨 셀을 포함하는 플래시 메모리 장치 및 그것의데이터 쓰기 방법 |
US8878860B2 (en) * | 2006-12-28 | 2014-11-04 | Intel Corporation | Accessing memory using multi-tiling |
US20080235441A1 (en) * | 2007-03-20 | 2008-09-25 | Itay Sherman | Reducing power dissipation for solid state disks |
US8230145B2 (en) * | 2007-07-31 | 2012-07-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory expansion blade for multiple architectures |
US8347005B2 (en) * | 2007-07-31 | 2013-01-01 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Memory controller with multi-protocol interface |
US8001432B2 (en) * | 2008-11-20 | 2011-08-16 | Lsi Corporation | Uninitialized memory detection using error correction codes and built-in self test |
US20120110400A1 (en) * | 2010-11-01 | 2012-05-03 | Altera Corporation | Method and Apparatus for Performing Memory Interface Calibration |
US9256531B2 (en) | 2012-06-19 | 2016-02-09 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory system and SoC including linear addresss remapping logic |
CN103345602B (zh) | 2013-06-14 | 2015-08-19 | 腾讯科技(深圳)有限公司 | 一种客户端代码完整性检测方法、装置和系统 |
US20160378366A1 (en) * | 2015-06-24 | 2016-12-29 | Intel Corporation | Internal consecutive row access for long burst length |
US10372635B2 (en) | 2016-08-26 | 2019-08-06 | Qualcomm Incorporated | Dynamically determining memory attributes in processor-based systems |
CN109923908B (zh) | 2016-10-19 | 2021-04-06 | 诺基亚技术有限公司 | 修改的多间隙扩展覆盖随机接入信道传输 |
US10497438B2 (en) | 2017-04-14 | 2019-12-03 | Sandisk Technologies Llc | Cross-point memory array addressing |
US11074960B2 (en) * | 2019-06-17 | 2021-07-27 | Micron Technology, Inc. | Interrupt-driven content protection of a memory device |
US11275520B2 (en) | 2020-03-02 | 2022-03-15 | Micron Technology, Inc. | Media type selection using a processor in memory |
Family Cites Families (120)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR960003526B1 (ko) | 1992-10-02 | 1996-03-14 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리장치 |
US4195770A (en) * | 1978-10-24 | 1980-04-01 | Burroughs Corporation | Test generator for random access memories |
US4344156A (en) | 1980-10-10 | 1982-08-10 | Inmos Corporation | High speed data transfer for a semiconductor memory |
US4519028A (en) * | 1981-02-17 | 1985-05-21 | Digital Equipment Corporation | CPU with multi-stage mode register for defining CPU operating environment including charging its communications protocol |
US4510603A (en) * | 1981-05-26 | 1985-04-09 | Burroughs Corporation | Testing system for reliable access times in ROM semiconductor memories |
US4513389A (en) * | 1981-11-12 | 1985-04-23 | Ncr Corporation | ROM security circuit |
US4484308A (en) | 1982-09-23 | 1984-11-20 | Motorola, Inc. | Serial data mode circuit for a memory |
JPS5956284A (ja) | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Hitachi Micro Comput Eng Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS5999505A (ja) * | 1982-11-29 | 1984-06-08 | Mitsubishi Electric Corp | 電子ミシンの制御装置 |
JPS59135695A (ja) | 1983-01-24 | 1984-08-03 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US4603403A (en) | 1983-05-17 | 1986-07-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Data output circuit for dynamic memory device |
US4567579A (en) | 1983-07-08 | 1986-01-28 | Texas Instruments Incorporated | Dynamic memory with high speed nibble mode |
US4594587A (en) * | 1983-08-30 | 1986-06-10 | Zenith Electronics Corporation | Character oriented RAM mapping system and method therefor |
JPS60117492A (ja) | 1983-11-29 | 1985-06-24 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
JPS60136086A (ja) | 1983-12-23 | 1985-07-19 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
US4618947B1 (en) | 1984-07-26 | 1998-01-06 | Texas Instruments Inc | Dynamic memory with improved address counter for serial modes |
US4685089A (en) | 1984-08-29 | 1987-08-04 | Texas Instruments Incorporated | High speed, low-power nibble mode circuitry for dynamic memory |
JPS6162980A (ja) * | 1984-09-05 | 1986-03-31 | Hitachi Ltd | 画像メモリ周辺lsi |
JPH0652632B2 (ja) | 1985-01-23 | 1994-07-06 | 株式会社日立製作所 | ダイナミツク型ram |
US4649522A (en) | 1985-02-11 | 1987-03-10 | At&T Bell Laboratories | Fast column access memory |
JPS6240693A (ja) | 1985-08-16 | 1987-02-21 | Fujitsu Ltd | ニブル・モ−ド機能を有する半導体記憶装置 |
US4857899A (en) * | 1985-12-10 | 1989-08-15 | Ascii Corporation | Image display apparatus |
US4851990A (en) * | 1987-02-09 | 1989-07-25 | Advanced Micro Devices, Inc. | High performance processor interface between a single chip processor and off chip memory means having a dedicated and shared bus structure |
US5325513A (en) * | 1987-02-23 | 1994-06-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for selectively accessing different memory types by storing memory correlation information in preprocessing mode and using the information in processing mode |
US4926314A (en) * | 1987-03-17 | 1990-05-15 | Apple Computer, Inc. | Method and apparatus for determining available memory size |
US5301278A (en) * | 1988-04-29 | 1994-04-05 | International Business Machines Corporation | Flexible dynamic memory controller |
JPH01280923A (ja) | 1988-05-07 | 1989-11-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路装置 |
US4870622A (en) | 1988-06-24 | 1989-09-26 | Advanced Micro Devices, Inc. | DRAM controller cache |
DE3928902C2 (de) | 1988-08-31 | 1996-01-25 | Mitsubishi Electric Corp | Halbleiterspeicher und Verfahren zum Betreiben desselben und Verwendung desselben in einem Video-RAM |
US4993027A (en) * | 1988-09-09 | 1991-02-12 | Pace, Incorporated | Method and apparatus for determining microprocessor kernal faults |
JPH07111837B2 (ja) * | 1988-10-19 | 1995-11-29 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体メモリ |
JP3038781B2 (ja) * | 1989-04-21 | 2000-05-08 | 日本電気株式会社 | メモリアクセス制御回路 |
KR910005602B1 (ko) | 1989-06-15 | 1991-07-31 | 삼성전자 주식회사 | 어드레스 변환 검출에 따른 출력버퍼의 프리챠아지 제어방법 |
US5146582A (en) * | 1989-06-19 | 1992-09-08 | International Business Machines Corp. | Data processing system with means to convert burst operations into memory pipelined operations |
US5261064A (en) | 1989-10-03 | 1993-11-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Burst access memory |
US5175835A (en) * | 1990-01-10 | 1992-12-29 | Unisys Corporation | Multi-mode DRAM controller |
US5237689A (en) * | 1990-05-31 | 1993-08-17 | Hewlett-Packard Company | Configuration of mass storage devices |
US5280594A (en) | 1990-07-25 | 1994-01-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | Architecture for high speed contiguous sequential access memories |
KR100214435B1 (ko) * | 1990-07-25 | 1999-08-02 | 사와무라 시코 | 동기식 버스트 엑세스 메모리 |
US5522064A (en) * | 1990-10-01 | 1996-05-28 | International Business Machines Corporation | Data processing apparatus for dynamically setting timings in a dynamic memory system |
US5126975A (en) | 1990-10-24 | 1992-06-30 | Integrated Device Technology, Inc. | Integrated cache SRAM memory having synchronous write and burst read |
JPH04192047A (ja) * | 1990-11-27 | 1992-07-10 | Toshiba Corp | パーソナルコンピュータ |
DE4114744C1 (ja) | 1991-05-06 | 1992-05-27 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De | |
US5325502A (en) | 1991-05-15 | 1994-06-28 | Micron Technology, Inc. | Pipelined SAM register serial output |
US5253357A (en) * | 1991-06-13 | 1993-10-12 | Hewlett-Packard Company | System for determining pluggable memory characteristics employing a status register to provide information in response to a preset field of an address |
US5587964A (en) * | 1991-06-28 | 1996-12-24 | Digital Equipment Corporation | Page mode and nibble mode DRAM |
JPH0561821A (ja) | 1991-07-30 | 1993-03-12 | Canon Inc | データ転送方法 |
US5630163A (en) | 1991-08-09 | 1997-05-13 | Vadem Corporation | Computer having a single bus supporting multiple bus architectures operating with different bus parameters |
JPH0589663A (ja) * | 1991-09-27 | 1993-04-09 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置およびその出力制御方法 |
US5331471A (en) * | 1991-10-04 | 1994-07-19 | Britax Rainsfords Pty Ltd | Discrete mirror drive assembly |
JP2696026B2 (ja) | 1991-11-21 | 1998-01-14 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US5243699A (en) * | 1991-12-06 | 1993-09-07 | Maspar Computer Corporation | Input/output system for parallel processing arrays |
US5640507A (en) * | 1992-03-02 | 1997-06-17 | Microsoft Corporation | Method and apparatus for identifying read only memory |
JPH07506921A (ja) * | 1992-03-06 | 1995-07-27 | ランバス・インコーポレーテッド | コンピュータ・システムにおける主記憶装置のアクセス時間とキャッシュ・メモリのサイズを最小限にするためのキャッシュへの先取り |
US5594704A (en) * | 1992-04-27 | 1997-01-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Synchronous semiconductor memory device |
US5278801A (en) | 1992-08-31 | 1994-01-11 | Hewlett-Packard Company | Flexible addressing for drams |
US5307320A (en) * | 1992-09-23 | 1994-04-26 | Intel Corporation | High integration DRAM controller |
US5325330A (en) | 1993-02-11 | 1994-06-28 | Micron Semiconductor, Inc. | Memory circuit with foreshortened data output signal |
US5331593A (en) * | 1993-03-03 | 1994-07-19 | Micron Semiconductor, Inc. | Read circuit for accessing dynamic random access memories (DRAMS) |
JP3344494B2 (ja) * | 1993-03-23 | 2002-11-11 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | ページモードを有するシングルクロックメモリ |
US5373227A (en) | 1993-03-26 | 1994-12-13 | Micron Semiconductor, Inc. | Control circuit responsive to its supply voltage level |
US5379261A (en) | 1993-03-26 | 1995-01-03 | United Memories, Inc. | Method and circuit for improved timing and noise margin in a DRAM |
JPH06290582A (ja) * | 1993-04-02 | 1994-10-18 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
US5369622A (en) * | 1993-04-20 | 1994-11-29 | Micron Semiconductor, Inc. | Memory with isolated digit lines |
US5392239A (en) * | 1993-05-06 | 1995-02-21 | S3, Incorporated | Burst-mode DRAM |
US5349566A (en) * | 1993-05-19 | 1994-09-20 | Micron Semiconductor, Inc. | Memory device with pulse circuit for timing data output, and method for outputting data |
JP3346827B2 (ja) * | 1993-05-25 | 2002-11-18 | 三菱電機株式会社 | 同期型半導体記憶装置 |
US5410670A (en) | 1993-06-02 | 1995-04-25 | Microunity Systems Engineering, Inc. | Accessing system that reduces access times due to transmission delays and I/O access circuitry in a burst mode random access memory |
JP3579461B2 (ja) | 1993-10-15 | 2004-10-20 | 株式会社ルネサステクノロジ | データ処理システム及びデータ処理装置 |
US5561814A (en) * | 1993-12-22 | 1996-10-01 | Intel Corporation | Methods and apparatus for determining memory operating characteristics for given memory locations via assigned address ranges |
US5706407A (en) * | 1993-12-28 | 1998-01-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | System for reallocation of memory banks in memory sized order |
US5386385A (en) * | 1994-01-31 | 1995-01-31 | Texas Instruments Inc. | Method and apparatus for preventing invalid operating modes and an application to synchronous memory devices |
KR0122099B1 (ko) | 1994-03-03 | 1997-11-26 | 김광호 | 라이트레이턴시제어기능을 가진 동기식 반도체메모리장치 |
US5721860A (en) * | 1994-05-24 | 1998-02-24 | Intel Corporation | Memory controller for independently supporting synchronous and asynchronous DRAM memories |
US5655148A (en) | 1994-05-27 | 1997-08-05 | Microsoft Corporation | Method for automatically configuring devices including a network adapter without manual intervention and without prior configuration information |
US5452261A (en) | 1994-06-24 | 1995-09-19 | Mosel Vitelic Corporation | Serial address generator for burst memory |
US5457659A (en) | 1994-07-19 | 1995-10-10 | Micron Technology, Inc. | Programmable dynamic random access memory (DRAM) |
US6112284A (en) * | 1994-12-30 | 2000-08-29 | Intel Corporation | Method and apparatus for latching data from a memory resource at a datapath unit |
US5604880A (en) * | 1994-08-11 | 1997-02-18 | Intel Corporation | Computer system with a memory identification scheme |
US5590078A (en) * | 1994-10-07 | 1996-12-31 | Mukesh Chatter | Method of and apparatus for improved dynamic random access memory (DRAM) providing increased data bandwidth and addressing range for current DRAM devices and/or equivalent bandwidth and addressing range for smaller DRAM devices |
US5568651A (en) * | 1994-11-03 | 1996-10-22 | Digital Equipment Corporation | Method for detection of configuration types and addressing modes of a dynamic RAM |
US6505282B1 (en) | 1994-11-30 | 2003-01-07 | Intel Corporation | Method and apparatus for determining memory types of a multi-type memory subsystem where memory of the different types are accessed using column control signals with different timing characteristics |
US5513148A (en) | 1994-12-01 | 1996-04-30 | Micron Technology Inc. | Synchronous NAND DRAM architecture |
US5729503A (en) | 1994-12-23 | 1998-03-17 | Micron Technology, Inc. | Address transition detection on a synchronous design |
US5682354A (en) * | 1995-11-06 | 1997-10-28 | Micron Technology, Inc. | CAS recognition in burst extended data out DRAM |
US5610864A (en) * | 1994-12-23 | 1997-03-11 | Micron Technology, Inc. | Burst EDO memory device with maximized write cycle timing |
US5668773A (en) * | 1994-12-23 | 1997-09-16 | Micron Technology, Inc. | Synchronous burst extended data out DRAM |
US6804760B2 (en) | 1994-12-23 | 2004-10-12 | Micron Technology, Inc. | Method for determining a type of memory present in a system |
WO1996020482A1 (en) | 1994-12-23 | 1996-07-04 | Micron Technology, Inc. | Burst edo memory device |
US5526320A (en) * | 1994-12-23 | 1996-06-11 | Micron Technology Inc. | Burst EDO memory device |
US6525971B2 (en) * | 1995-06-30 | 2003-02-25 | Micron Technology, Inc. | Distributed write data drivers for burst access memories |
JPH08180678A (ja) | 1994-12-27 | 1996-07-12 | Hitachi Ltd | ダイナミック型ram |
US5621678A (en) * | 1995-04-13 | 1997-04-15 | Digital Equipment Corporation | Programmable memory controller for power and noise reduction |
JPH08315567A (ja) | 1995-05-22 | 1996-11-29 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5752269A (en) * | 1995-05-26 | 1998-05-12 | National Semiconductor Corporation | Pipelined microprocessor that pipelines memory requests to an external memory |
JPH0973776A (ja) | 1995-09-07 | 1997-03-18 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置 |
US5701438A (en) * | 1995-09-29 | 1997-12-23 | Intel Corporation | Logical relocation of memory based on memory device type |
US5822581A (en) | 1995-09-29 | 1998-10-13 | Intel Corporation | Method for CMOS configuration information storage and retrieval in flash |
US5654932A (en) | 1995-10-04 | 1997-08-05 | Cirrus Logic, Inc. | Memory devices with selectable access type and methods using the same |
US5729504A (en) | 1995-12-14 | 1998-03-17 | Micron Technology, Inc. | Continuous burst edo memory device |
JP3843145B2 (ja) | 1995-12-25 | 2006-11-08 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型半導体記憶装置 |
US7681005B1 (en) * | 1996-01-11 | 2010-03-16 | Micron Technology, Inc. | Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation |
US5966724A (en) * | 1996-01-11 | 1999-10-12 | Micron Technology, Inc. | Synchronous memory device with dual page and burst mode operations |
US5848018A (en) | 1996-01-19 | 1998-12-08 | Stmicroelectronics, Inc. | Memory-row selector having a test function |
US5864696A (en) | 1996-01-19 | 1999-01-26 | Stmicroelectronics, Inc. | Circuit and method for setting the time duration of a write to a memory cell |
JPH09231770A (ja) | 1996-01-19 | 1997-09-05 | Sgs Thomson Microelectron Inc | メモリセルへの書込を終了させる回路及び方法 |
JPH1011966A (ja) * | 1996-06-27 | 1998-01-16 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型半導体記憶装置および同期型メモリモジュール |
US6449735B1 (en) | 1996-07-01 | 2002-09-10 | Intel Corporation | Method and apparatus for providing improved diagnostic functions in a computer system |
US5854911A (en) * | 1996-07-01 | 1998-12-29 | Sun Microsystems, Inc. | Data buffer prefetch apparatus and method |
US5953278A (en) | 1996-07-11 | 1999-09-14 | Texas Instruments Incorporated | Data sequencing and registering in a four bit pre-fetch SDRAM |
US6003130A (en) | 1996-10-28 | 1999-12-14 | Micron Electronics, Inc. | Apparatus for selecting, detecting and/or reprogramming system bios in a computer system |
KR100245078B1 (ko) * | 1996-11-15 | 2000-02-15 | 김영환 | 고속 버스트 제어 방법 및 장치 |
US5784331A (en) | 1996-12-31 | 1998-07-21 | Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. | Multiple access memory device |
JP3825862B2 (ja) | 1997-02-27 | 2006-09-27 | 株式会社ルネサステクノロジ | 同期型ダイナミック型半導体記憶装置 |
US6172935B1 (en) | 1997-04-25 | 2001-01-09 | Micron Technology, Inc. | Synchronous dynamic random access memory device |
JPH1186541A (ja) | 1997-09-02 | 1999-03-30 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US6069839A (en) | 1998-03-20 | 2000-05-30 | Cypress Semiconductor Corp. | Circuit and method for implementing single-cycle read/write operation(s), and random access memory including the circuit and/or practicing the method |
US6061296A (en) | 1998-08-17 | 2000-05-09 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Multiple data clock activation with programmable delay for use in multiple CAS latency memory devices |
US6130843A (en) | 1998-09-02 | 2000-10-10 | Micron Technology, Inc. | Method and circuit for providing a memory device having hidden row access and row precharge times |
JP3957469B2 (ja) * | 2000-04-11 | 2007-08-15 | Necエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
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