JP3505597B2 - 炭化珪素単結晶 - Google Patents
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Description
関し、詳しくは炭化珪素種結晶上に二酸化珪素超微粒子
および炭素超微粒子を供給して二酸化珪素を炭素により
還元することにより製造される炭化珪素単結晶に関す
る。
パワーデバイスなどの半導体デバイス用の材料として有
用であり、その製造方法として種々の方法が用いられて
いる。炭化珪素は、常圧での液相が存在せず、シリコン
単結晶の引き上げ法のような液相からの結晶化が困難で
あり、従来はSi2C、SiC2、Siなどの気相からの
結晶化である昇華法による製造が一般的であった。昇華
法には、無水珪酸と炭素源を高温加熱し、発生した蒸気
内の反応により炭化珪素単結晶を製造するアチソン法
や、黒鉛坩堝内で炭化珪素粉末を昇華させ、黒鉛坩堝内
で炭化珪素単結晶を再結晶化するレーリー法、改良レー
リー法等があるが、アチソン法は、得られる単結晶の大
きさが小さい上、半導体デバイス用としては純度が低
く、レーリー法や改良レーリー法は、炭化珪素の化学量
論的組成のガスが存在しないことから、反応が複雑にな
るという問題がある。また、気相からの結晶成長は、原
子や分子が種結晶表面に供給されて結晶が1層毎に成長
するため、いずれの方法も単結晶の成長速度が1mm/
時間程度と、シリコン単結晶のような引き上げ法による
成長速度の100mm/時間程度に比べて著しく遅く、
収率も悪いという問題点がある。さらに、従来の方法で
は、マイクロパイプなどの数ミクロン径の中空欠陥が発
生しやすく、また、β型結晶体が得られにくい。
D法もあるが、得られる結晶体は薄膜となり、デバイス
などの基板として使用する単結晶としては使用しにく
い。
速度が速くコスト的に有利であり、純度が高く大口径
で、さらにマイクロパイプの発生が低減された単結晶が
得られる炭化珪素単結晶を得ることを目的とする。
晶上に炭化珪素単結晶を成長させてなる炭化珪素単結晶
であって、不活性ガス雰囲気中に加熱状態で保持された
炭化珪素種結晶表面に向けて、二酸化珪素超微粒子およ
び炭素超微粒子を供給して付着させ、炭化珪素種結晶表
面において二酸化珪素を炭素により還元することによ
り、炭化珪素単結晶を炭化珪素種結晶上に成長させてな
ることを特徴とする炭化珪素単結晶である。
た炭化珪素種結晶表面に付着し、種結晶表面において二
酸化珪素超微粒子が溶融しながら炭素超微粒子と融合し
て還元反応することにより炭化珪素結晶微粒子が生成
し、生成した炭化珪素結晶微粒子は、超微粒子の融解流
動現象によって種結晶表面に融合して単結晶としてエピ
タキシャルに成長する。本発明の炭化珪素単結晶は、種
結晶表面に直接固体の二酸化珪素と炭素を供給し、種結
晶表面において反応させて得られるため、単結晶の成長
速度が速く、また、マイクロパイプが発生しにくい。
粒子の種類、粒径、粒子形状等の構成は特に限定され
ず、例えば種類としてはフュームドシリカなどが挙げら
れる。
径、粒子形状等の構成は特に限定されず、例えば種類と
してはチャンネルブラックやファーネスブラックなどの
カーボンブラックなどが挙げられる。
子の供給量の比率は適宜選択できる。上記二酸化珪素超
微粒子、炭素超微粒子のいずれも2種以上のものを混合
して使用してもよい。また、上記二酸化珪素超微粒子、
炭素超微粒子は、必要に応じ、本発明の作用を阻害しな
い範囲で、前処理を施したり、他の成分を微量添加して
もよい。
子の種結晶表面への供給は、種結晶表面に上記超微粒子
が効率よく付着するために、上記超微粒子に適度な速度
が与えられることが好ましい。上記超微粒子の種結晶表
面への供給方法は特に限定されず、例えば所望の流速を
有するキャリアガスと混合して種結晶表面に向けて供給
する方法が挙げられる。この際、使用するキャリアガス
は、単結晶成長の雰囲気を不活性雰囲気とするためのア
ルゴンガス、窒素ガスなどの不活性ガスを使用する。な
お、上記二酸化珪素超微粒子、炭素超微粒子は、種結晶
表面へ混合された状態で供給されるのであれば、別個に
供給しても混合した状態で供給してもよい。混合した状
態で供給する場合、予め原料の段階で混合しても、キャ
リアガス中へ別個に供給し混合するようにしてもよい。
ングを行う場合には、上記超微粒子やキャリアガスにド
ーパントとなる成分を混合してもよい
サイズ、形状は、目的とする炭化珪素単結晶の構成、大
きさ、形状などによって選択すればよく、例えばアチソ
ン法や改良レーリー法等によって得られた単結晶に必要
に応じ処理を施したものが挙げられる。
素超微粒子および炭素超微粒子が溶融しながら反応して
炭化珪素結晶が生成し、融解流動現象によって種結晶表
面に融合してする温度であれば特に限定されず、好まし
くは1600〜2300℃とするのがよい。
する炭化珪素単結晶の製造装置の構成(サイズ、加熱方
法、原料供給方法、雰囲気調整方法など)は特に限定さ
れず、目的とする炭化珪素単結晶の大きさや形状、原料
の種類などに応じて選択する。
定されず、目的とする炭化珪素単結晶の大きさや形状、
原料の種類や供給方法、キャリアガスの種類等に応じて
選択する。
ある図1に示すような製造装置を用いて炭化珪素単結晶
の製造を行った。図1の製造装置は、耐熱容器1として
直径50mm、高さ100mmのカーボン密閉坩堝を、
誘導加熱炉の高周波誘導加熱コイル2内に設置したもの
であり、カーボン密閉坩堝の内部上部に炭化珪素種結晶
を保持するための炭化珪素種結晶保持棒3が取り付けら
れ、内部下面には直径10mmの貫通孔が設けられて、
カーボン密閉坩堝外部から原料の超微粒子を供給するた
めの原料供給管5(外径8mmのカーボン管)が貫通挿
入されている。炭化珪素種結晶保持棒3は、図示しない
駆動機構により炭化珪素種結晶保持棒3の中心軸を回転
軸として回転可能であり、また、カーボン密閉坩堝の上
面に図示しない放射温度計が設置されていて、坩堝上面
の温度を測定し、それに応じて高周波誘導加熱コイル2
の出力を制御することにより、坩堝内の温度を調製す
る。
よび圧力調整弁により、圧力制御が可能であって、カー
ボン密閉坩堝内部の反応雰囲気の圧力調製を行うことが
できる。原料供給管5は、誘導加熱炉外の二酸化珪素超
微粒子貯蔵槽6と炭素超微粒子貯蔵槽6’、さらに流量
調節が可能なキャリアガス供給源(図示せず)にそれぞ
れ連結しており、キャリアガスAと共に二酸化珪素超微
粒子と炭素超微粒子をカーボン密閉坩堝内部に供給する
ことができる。キャリアガスと共に供給することによ
り、二酸化珪素超微粒子と炭素超微粒子に適度な速度を
与え、坩堝内部で固定された炭化珪素種結晶に向かって
移動し、炭化珪素種結晶表面に付着させることができ
る。二酸化珪素超微粒子と炭素超微粒子の供給量は、供
給量調節弁7、7’により調製される。
次のように行われる。カーボン密閉坩堝(耐熱容器1)
内部上部に炭化珪素種結晶保持棒3に保持して、下記に
示す構成の炭化珪素種結晶4を固定し、カーボン密閉坩
堝を誘導加熱炉内に設置して、誘導加熱炉内を減圧状態
とし、アルゴンガスによりガス置換を行う。次いで高周
波誘導加熱コイル2によりカーボン密閉坩堝を加熱し、
炭化珪素種結晶表面が1600〜2300℃となるよう
にする。
超微粒子と炭素超微粒子をキャリアガス(アルゴンガ
ス)とともに、下記製造の条件で坩堝内に供給した。な
お、この時、二酸化珪素超微粒子と炭素超微粒子に加え
て図示しない供給装置により炭化防止のためのシリコン
粉末を若干量添加した。また、種結晶は上記超微粒子の
供給時には炭化珪素種結晶保持棒3ごと水平面内で回転
させた。その結果炭化珪素種結晶表面上に厚さ250μ
mを超える炭化珪素種結晶の成長が見られた。
/g) 炭素(C)超微粒子 :カーボンブラック−MA600(三菱化学(株)製) (1次平均粒径=18nm、窒素吸着法による比表面積
=140m2/g)シリコン(Si)粉末 (電子級純度、平均粒径=1μm) なお、上記、は電気炉を用い、大気中で200℃、
3時間の乾燥を行った。
分間 炭化珪素種結晶の構成 :アチソン法により作成し
た炭化珪素単結晶のC面を下記の結晶軸方向に5度傾け
て研磨したもの
速度が速いためコスト的に有利であり、純度が高く大口
径で、さらにマイクロパイプの発生が低減されている。
また、従来では得ることの難しかったβ型結晶体を得る
ことも可能になる。
製造装置の一例の概要を示す図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 炭化珪素種結晶上に炭化珪素単結晶を成
長させる炭化珪素単結晶の製造方法であって、 不活性ガス雰囲気中に1600〜2300℃の加熱状態
で保持されている炭化珪素種結晶表面に向けて、二酸化
珪素超微粒子および炭素超微粒子をキャリアガスを用い
て供給して付着させ、炭化珪素種結晶表面において二酸
化珪素を炭素により還元させ、炭化珪素単結晶を炭化珪
素種結晶上に成長させることを特徴とする炭化珪素単結
晶の製造方法。 - 【請求項2】 炭化珪素種結晶上に炭化珪素単結晶を成
長させる炭化珪素単結晶の製造装置であって、 不活性ガス雰囲気中に1600〜2300℃の加熱状態
で炭化珪素種単結晶を保持する保持部と、二酸化珪素を
炭素により還元することにより炭化珪素単結晶を炭化珪
素種結晶上に成長させるため、該保持部にて保持されて
いる炭化珪素種結晶表面に向けて、ニ酸化珪素超微粒子
および炭素超微粒子をキャリアガスを用いて供給して付
着させる供給部とを有していることを特徴とする炭化珪
素単結晶の製造装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007148486A1 (ja) * | 2006-06-23 | 2007-12-27 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | 単結晶SiC及びその製造方法並びに単結晶SiCの製造装置 |
WO2008018321A1 (fr) * | 2006-08-10 | 2008-02-14 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | MONOCRISTAL SiC, PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE CELUI-CI ET APPAREIL DE PRODUCTION DE MONOCRISTAL SiC |
JP2008115045A (ja) * | 2006-11-06 | 2008-05-22 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 単結晶SiC及びその製造方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008037715A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 単結晶SiC、その製造方法及び単結晶SiCの製造装置 |
JP2008037720A (ja) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 単結晶SiC製造用原料、その製造方法、この原料を用いた単結晶SiCの製造方法、及び、その製造方法により得られる単結晶SiC |
KR100769695B1 (ko) * | 2006-08-10 | 2007-10-23 | 한양대학교 산학협력단 | 단결정 탄화규소 나노선, 이의 제조방법 및 이를 포함하는필터 |
JP2008037729A (ja) * | 2006-08-10 | 2008-02-21 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 単結晶炭化珪素及びその製造方法 |
JP2008050174A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 単結晶SiC及びその製造方法 |
JP5488947B2 (ja) * | 2007-09-10 | 2014-05-14 | 有限会社Cpd技術研究所 | 超微粒子原料を用いる窒化アルミニウム単結晶の育成法 |
JPWO2013073534A1 (ja) * | 2011-11-17 | 2015-04-02 | イビデン株式会社 | 炭化珪素単結晶の製造方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05208900A (ja) * | 1992-01-28 | 1993-08-20 | Nisshin Steel Co Ltd | 炭化ケイ素単結晶の成長装置 |
US5709745A (en) * | 1993-01-25 | 1998-01-20 | Ohio Aerospace Institute | Compound semi-conductors and controlled doping thereof |
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2000
- 2000-02-23 JP JP2000045571A patent/JP3505597B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-02-20 US US09/789,285 patent/US6458207B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-02-22 EP EP01301590A patent/EP1132505B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-02-22 DE DE60142201T patent/DE60142201D1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
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