JP3486916B2 - 基板搬送装置及び基板搬送方法 - Google Patents

基板搬送装置及び基板搬送方法

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JP3486916B2
JP3486916B2 JP01442193A JP1442193A JP3486916B2 JP 3486916 B2 JP3486916 B2 JP 3486916B2 JP 01442193 A JP01442193 A JP 01442193A JP 1442193 A JP1442193 A JP 1442193A JP 3486916 B2 JP3486916 B2 JP 3486916B2
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/66Containers specially adapted for masks, mask blanks or pellicles; Preparation thereof

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は基板搬送装置及び方法に
関し、特に半導体製造装置、もしくは液晶用基板製造装
置等に用いられる基板の搬送装置及び方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】従来この種の装置を図7に示す。図に示
す装置による搬送は以下のように行われていた。基板保
管部1は基板Rを収納した基板ケース2を複数個保管す
るものであり、ケースごと基板Rを保管していた。基板
Rは搬送アーム3により基板ケース2から取り出され、
キャリア4に受渡たされる。キャリア4にはプリアライ
メント機構が設けられており、基板Rは搬送目的位置に
対して所定状態となるようにアライメントされる。プリ
アライメント機構は例えば、開閉可能な4つの爪部で構
成し、4つの爪で基板Rを挟み込むことによりプリアラ
イメントを行う。このとき4つの爪部の当接面によって
基板Rの基準位置が定まる。
【0003】アライメントされた後の基板Rはロードア
ーム5に受け渡される。その後、ロードアーム5は基板
Rをレチクルテーブル7まで搬送する。露光が終了した
基板Rは、アンロードアーム6によりレチクルステージ
7からキャリア4に受け渡される。そして、上記と逆の
手順により基板Rは基板保管部1に戻され、基板ケース
2内に収納される。以上の動作により基板Rは基板保管
部1とレチクルテーブル7との間で搬送されていた。こ
のような装置は特開昭62−195143号公報に詳し
く開示されている。
【0004】また、複数のアームの内、幾つかを一時待
機場所として兼用することも行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の如き従来の技術
においては、1ロット中に必要となる他品種の基板Rは
基板ケース2に収納されたまま、基板保管部1に保管さ
れる。基板ケース2内では基板Rの位置が一定に保持
(固定)されておらず、露光を行うにあたって、そのつ
どプリアライメントを行う工程(ここではキャリア4を
介する工程)が必要であった。従って、それだけ搬送経
路が長くなり、基板交換サイクル時間が短縮できないと
いう問題点があった。
【0006】また、搬送アームの一部を一時待機場所と
して兼用する方法において繰り返し交換する基板枚数が
多い場合は、上述の基板保管部1へ基板を返却し、別の
基板を基板保管部1から取り出して、また一時待機場所
搬送する必要があった。このため、短い基板交換サイ
クルで繰り返し交換可能な基板枚数が多くとれないとい
う問題点があった。さらに、交換する基板Rに等しい数
の搬送アームを並設した場合は、搬送アームのスペース
が大きくなり、装置が複雑化する。また基板Rのロード
及びアンロードの際の搬送アームの移動距離が大きくな
り基板搬送のスループットが低下する。これらの理由に
より搬送アームの数を多くできないという問題点があっ
た。そこで本発明は、基板交換のための搬送経路を短く
するとともに、プリアライメント工程を省略することで
交換サイクル時間を短縮することを目的とする。
【0007】また、本発明は短い交換サイクル時間で複
数枚の基板を交換可能にすることを目的とする。また、
本発明は位置ずれのない基板搬送を行うことを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】 本発明の基板搬送装
置においては、マスクを保管するマスク保管部(1)と
マスクステージ(7)とを備え、前記マスク保管部
(1)と前記マスクステージ(7)との間でマスク
(R)を搬送し、マスクステージ(7)上に保持された
マスク(R)のパターンを基板(W)上に露光する露光
方法において、前記マスクステージ(7)までの距離が
少なくとも前記マスク保管部(1)より遠くない位置
に、前記マスク保管部(1)とは別に設けられ、複数の
マスク(R)を積層方向に並べて保持可能であり、前記
マスク保管部(1)から取り出されたマスク(R)を保
持する棚(8)と、前記露光に使用されたマスク
(R 1 )を前記棚(8)へ搬送し、前記露光に使用され
た後に前記棚へ搬送されたマスク(R 1 )を、再び前記
マスクステージ(7)へ搬送する搬送装置(31〜3
6)とを備え、前記再びマスクステージ(7)へ搬送さ
れたマスク(R 1 )を用いて露光を実行すると共に、前
記棚(8)と前記マスクステージ(7)との間でのマス
ク搬送の際に、前記マスクをプリアライメントするプリ
アライメント装置(4)を設けた。
【0009】また、本発明の基板搬送方法においては、
マスク(R)を保管するマスク保管部(1)とマスクス
テージ(7)との間でマスク(R)を搬送し、マスクス
テージ(7)上に保持されたマスク(R)のパターンを
基板(W)上に露光する露光方法において、前記露光に
使用されたマスク(R 1 )を、前記マスクステージ
(7)までの距離が少なくとも前記マスク保管部(1)
より遠くない位置に前記マスク保管部(1)とは別に設
けられた棚(8)へ搬送し、前記棚で複数のマスク
(R)を積層方向に並べて保持するとともに、前記露光
に使用された後に前記棚(8)へ搬送されたマスク(R
1 )を、再び前記マスクステージ(7)へ搬送して露光
を実行するとともに、前記棚(8)と前記マスクステー
ジ(7)との間でのマスク搬送の際に、前記マスク(R
1 )をプリアライメントする。
【0010】
【0011】
【作用】 本発明によれば、露光に複数回使用されるマ
スクを、マスク保管部より遠くない位置にマスク保管部
とは別に設けられた棚で保持するため、搬送時間を短縮
することができる。また、前記基板ステージまでの距離
が少なくとも前記基板保管部より遠くない位置に、前記
基板保管部とは別に設けられ、複数の基板を保持可能で
あり、前記基板保管部から取り出された基板を保持する
棚によって、基板保管部から取り出した基板を積層方向
に並べて複数保持可能である。また、本発明によれば、
棚と基板ステージとの間での基板搬送の際に、プリアラ
イメント装置が基板をプリアライメントするので、棚と
基板ステージとの間で基板の搬送を繰り返すことによっ
て誤差が累積されるとしても、この誤差を取り除くこと
が可能である。
【0012】また、保管部内に部分空調機能を持たせれ
ば、ゴミのないクリーンな保管を実現することが可能と
なる。
【0013】
【実施例】図1を参照して本発明の一実施例における基
板搬送装置を説明する。図1は基板搬送装置の概略を示
す斜視図であり、図5と同様の部材には同様の符号を付
してある。本実施例における基板搬送装置は、基板保管
部1と搬送アーム3とキャリア4とロードアーム5,ア
ンロードアーム6と一時保管棚8とレチクルステージ7
とで構成される。
【0014】基板保管部1はレチクルRを収納した基板
ケース2を複数個保管する。搬送アーム3はスライダー
35を介してY方向に移動可能である。また搬送アーム
3はスライダー34を介してZ方向にも移動可能であ
る。そして搬送アーム3は基板保管部1内の基板ケース
2からレチクルRのみを取り出し、レチクルRを受渡し
位置CA1まで搬送する。受渡し位置CA1は搬送アー
ム3からキャリア4へレチクルRを受渡す位置である。
搬送アーム3には真空吸着孔が設けられており、不図示
の真空ポンプのON、OFFによりレチクルRを保持、
解除する。キャリア4はスライダー36を介してX方向
に移動可能である。そしてキャリア4はその下部に吸着
孔を有しており、不図示の真空ポンプのON、OFFに
よりレチクルRを保持、解除する。また、キャリア4は
4つの基準辺を有するプリアライメント機構を有してお
り、この4辺を基準に直交する2方向からレチクルRを
挟み込んでプリアライメントする。キャリア4はレチク
ルRをプリアライメントすると共に、レチクルRを位置
CA1から位置CA2まで搬送する。
【0015】ロードアーム5はスライダー31を介して
Y方向に移動可能であり、アンロードアーム6はスライ
ダー32を介してY方向に移動可能である。またロード
アーム5とアンロードアーム6はスライダー33を介し
てZ方向にも移動可能である。そしてロードアーム5と
アンロードアーム6とはY方向については個別に移動可
能であり、Z方向については一体に移動する構成となっ
ている。ロードアーム5とアンロードアーム6とには搬
送アーム3と同様に吸着孔が設けられており、真空ポン
プ(不図示)のON、OFFによりレチクルRの吸着保
持、解除が可能となっている。
【0016】レチクルステージ7はレチクルRを露光の
ために搭載するステージであり、影光学系PLの上に
設けられている。レチクルRはレチクルステージ上に搬
送され、位置決めされる。位置検出用光学系39により
レチクルRに設けられたアライメントマークを検出して
レチクルRの位置を計測する。位置検出光学系39から
のレチクルRの位置情報は主制御系100に送られる。
そして主制御系100はモータ37を制御し、投影光学
系PLの光軸AXとレチクルRの中心が一致するように
レチクルステージ7をモータ37を介して位置決めす
る。ここで主制御系100はレチクルステージ7の位置
を例えばモータ37の回転量等により計測可能である。
また図1の装置には、レチクルRに設けられたバーコー
ドBCを読み取るバーコードリーダ30が設けられてお
り、このバーコード情報は主制御系100に送られる。
バーコードBCにはレチクルRの識別情報(名称)が記
録されている。図1の装置には複数のレチクルRを選択
する順番が予め登録されており、バーコードBCの情報
と登録されたレチクル情報とから選択すべきレチクルR
が正しく搬送されたかどうか確認できる。また、レチク
ルRの識別情報から同じレチクルRの搬送回数を計測可
能である。また、バーコードBCにはレチクルRのパタ
ーン情報や露光条件等が記録されており、この情報は2
次元移動可能なウェハステージ38上に載置されたウェ
ハW上にレチクルRのパターンを投影光学系PLを介し
て結像する際の露光条件設定にも使用される。
【0017】ロードアーム5、アンロードアーム6はキ
ャリア4、レチクルステージ7、一時保管棚8との間で
レチクルRを移動するが、レチクルRを使用すべきロッ
トが終了するまではレチクルRはアンロードアーム6に
より一時保管棚6に搬送される。一時保管棚8は位置C
A2からレチクルステージ7との間に位置している。従
って、レチクルRを基板保管部1からレチクルステージ
7に搬送することと比べて搬送時間は少なくなる。
【0018】ここで、主制御系100は搬送アーム3、
キャリア4、ロードアーム5、アンロードアーム6の駆
動及びレチクルステージ7やウェハステージ38の駆動
を制御するとともに、前述のバーコードリーダ30から
の情報やレチクルRの搬送順番、真空のON、OFF制
御、露光条件等を集中管理する等装置全体を統括的に制
御する。
【0019】次に、一時保管棚8の構造について図2、
図3を参照して説明する。図2(B)は一時保管棚8の
正面図、図2(A)はA位置における一時保管棚8の断
面を上面方向(矢印方向)から見た図である。図2にお
いて、一時保管棚8は複数(本実施例では8個)のコの
字型基板吸着部材9を有しており、相互に平行度を保っ
たまま保管棚9の後方部分10に固定されている。基板
保持部材9は一時保管棚8内で、レチクルRを吸着保持
するためのものである。
【0020】図3に示すように、基板吸着部材9には座
面11、12、13が基板吸着部材から微小量だけ突出
して設けられている。この座面11、12、13がレチ
クルRとの接触面となる。座面11には真空吸着保持用
の空気孔があり、座面11の空気孔を真空に引くことに
より、レチクルRの位置を固定する。空気孔は配管継手
14に接続しており、配管継手14は基板保持部材9の
枚数(保管棚8の基板収納可能枚数)の基板を独立して
吸着可能な空気制御ユニット17(図2)と接続するこ
とにより、各基板を所定の位置に保持することができ
る。また、各基板保持部材9には仕切り板15が設けら
れている。仕切り板15はアームの誤動作によりアーム
が他のレチクルRに接触し、レチクルRが損傷するのを
防止している。
【0021】さて図2に戻って、この一時保管棚8の側
面にはクリーンフィルター16が設けられている。クリ
ーンフィルター16は一時保管棚8の内部に矢印のよう
にエアーを供給することができる。これにより、保管中
の基板周囲環境のクリーン度をさらにを上げることがで
きる。次に本発明の一実施例による基板交換動作につい
て図1、図4、図5を参照して説明する。図4は図1の
装置を部分的に示す図であり、図5は基板交換動作の一
例を示すフローチャートである。本実施例では、複数の
レチクルの夫々を使って、ステップアンドリピート動作
で1つのウェハ上に各レチクルパターンを転写するもの
とする。
【0022】ここで、本実施例では1ロットで8種類の
レチクル(R1 〜R8 )を使用するものとする。 〔ステップ100〕図1、図4において、レチクルR1
は基板保管部1から搬送アーム3により取り出される。
搬送アーム3は位置CA1までレチクルR1 を搬送す
る。搬送アーム3は位置CA1でキャリア4へレチクル
1 を受渡す。受渡しはキャリア4の真空をON、搬送
アーム3の真空をOFFすることにより行われる。
【0023】次にキャリア4はレチクルR1 を位置CA
2まで搬送するとともに、レチクルR1 をプリアライメ
ントする。ロードアーム5は位置P1でキャリア4から
レチクルR1 を受け取る。受渡しはロードアーム5の真
空をON、キャリア4の真空をOFFすることにより行
われる。ロードアーム5はレチクルR1 を受渡し可能な
位置までZ方向に移動する。そしてロードアーム5はY
方向に沿ってレチクルステージ7まで移動し、レチクル
1 をレチクルステージ7に受渡す。主制御系100が
レチクルステージ7の真空をON、ロードアーム5の真
空をOFFすることによって、レチクルR1 がロードア
ーム5からはレチクルステージ7に受渡しされる。受渡
し後は、ロードアーム5は露光を妨げない位置まで退避
する。露光が終了した後、ロードアーム5とアンロード
アーム6とは一体にZ方向に移動する。アンロードアー
ム6がレチクルR1 を受取可能な位置までZ方向に上昇
するとアンロードアーム6はY方向に移動してレチクル
1 を受け取る。そして、アンロードアーム6はレチク
ルR1 を一時保管棚8に受渡し可能な位置までZ方向に
ロードアーム5と一体に移動する。アンロードアーム6
はY方向に移動して基板保持部材9の間に進入し、レチ
クルR1 を一時保管棚8の所定の位置まで移動する。レ
チクルR1 は基板保持部材9に前述の真空のON、OF
F動作によって受渡しされる。本実施例のように真空の
ON、OFFを使ったレチクルRの受渡し動作では、レ
チクルRの受渡し誤差は、装置が要求する精度に対して
小さいため無視できる。従って、搬送されたレチクルR
はレチクルステージ7上でアライメントされた位置(キ
ャリア4によるプリアライメントが装置が要求するアラ
イメント精度を満たしている場合はプリアライメントさ
れた位置)を維持しながら一時保管棚8に吸着保持され
る。 〔ステップ101〕1ロットで必要なレチクルRの枚数
を一時保管棚8へ搬送したかどうかが主制御系100に
より判断される。ここで、1ロット必要数(8枚)に達
していない場合は、次に使用するレチクルR2 を前述と
同様の動作により搬送アーム3、キャリア4を介してロ
ードアーム5に受け渡し、ロードアーム5はレチクルR
2 をレチクルステージ7へ移動する。アンロードアーム
6はステップ100と同様の動作により、レチクルR2
を一時保管棚8内に移動する。ここで、レチクルR2
レチクルR1 が保持されている基板保持部材9以外の任
意の基板保持部材9に移動される。同様にしてレチクル
3 〜R8 が一時保管棚8に収納される。
【0024】1ロット必要数に達した場合は次のステッ
プ102に進む。 〔ステップ102〕一時保管棚8には必要な数のレチク
ルRが全て収納されているので、レチクルRは一時保管
棚8とレチクルステージ7との間のみの移動となる(図
4参照)。一例としてレチクルR1 を搬送する場合につ
いて説明する。レチクルR8 が露光に使用されている間
に、ロードアーム5はレチクルR1 を受渡し可能な位置
までアンロードアーム6と一体にZ方向に移動し、一時
保管棚8のレチクルR1 を取り出す。そしてロードアー
ム5はアンロードアーム6とは一体にZ方向に移動し、
その後Y方向に移動してレチクルR1 をレチクルステー
ジ7近傍まで移動する。そしてレチクルR8 を使った露
光が終了するとアンロードアーム6はY方向に移動し、
その後Z方向に移動してレチクルR8 をレチクルステー
ジ7からアンロードする。次にロードアーム5はY方向
に移動し、レチクルR1 をレチクルステージ7に受渡
す。そしてレチクルR1 が露光に使用されている間に、
アンロードアーム6は前述のステップ100と同様の動
作よりレチクルR8 をレチクルステージ7から一時保管
棚8へ戻す。そしてロードアーム5はレチクルR2 をレ
チクルステージ7近傍に待機させる。レチクルR1 の露
光が終了すると、レチクルR1 のときと同様にレチクル
2 がレチクルステージ7に受け渡される。同様にして
レチクルR2 〜レチクルR8 が一時保管棚8とレチクル
ステージ7との間を往復する。 〔ステップ103〕次に、レチクルR1 〜レチクルR8
を使って処理すべきウェハが全て処理された(ロットが
終了した)かどうかが判断される。まだ、ロットが終了
していない場合は、ステップ102に戻り、ロットが終
了していれば、ステップ104へ進む。 〔ステップ104〕ステップ100と逆の動作により、
露光終了後のレチクルRを基板保管部1に戻す。 〔ステップ105〕通常ウェハは、複数種のレチクルを
用いて複数回(例えばm回)重合わせ露光を行う。従っ
て、露光がm回終了したかどうか判断され、m回に達し
ていない場合はステップ100に戻り、2回目の露光用
のレチクルを基板保管部1から搬送する。露光がn回に
達した場合はここで基板の搬送動作は終了する。
【0025】以上のステップにより基板交換動作が終了
する。尚、以上のステップでは1枚のウェハに対してレ
チクルR1 〜レチクルR8 を順番に処理することとした
が、8枚のレチクルの処理が終わった時にレチクルステ
ージ7上に載置されているレチクルをウェハ交換後も続
けて露光に使用するようにしてもよい。つまりレチクル
1 〜レチクルR8 を処理した後、ウェハ交換後もう一
度レチクルR8 を使って露光を行い、レチクルR8 、レ
チクルR1 、レチクルR2 ─レチクルR7 の順番で露光
を行うようにする。そして次のウェハはレチクルR7
レチクルR8 、レチクルR1 ─レチクルR6 の順番で露
光を行うようにしてもよい。
【0026】また、ステップ102ではレチクルR1〜
R8がすべて一時保管棚8に収納されたものとして動作
説明したが、基板保管部1から直接搬送されたレチクル
が露光されている間、一時保管棚8のレチクルを搬送す
る場合(例えば、基板保管部1から直接搬送されたレチ
クルR8 が露光されている間、一時保管棚8のレチクル
R1を搬送する場合)でも同様な搬送動作を行ってもよ
い。
【0027】ここで、一時保管棚8には各々の基板を吸
着する機構11(図3)が設けられているので、レチク
ルステージ7でアライメントされた位置を維持したま
ま、レチクルRを保管することができる。また前述のよ
うに、ロードアーム5とアンロードアーム6、レチクル
ステージ7、一時保管棚8では基板を吸着保持している
ため、レチクルステージ7で1度アライメントされた基
板は、繰り返し基板を搬送しても、位置ずれは生じな
い。
【0028】しかしながら、ロードアーム5の搬送軸と
なるスライダー31とアンロードアーム6の搬送軸とな
るスライダー32とは異なるため(ロードアーム5とア
ンロードアーム6が独立した搬送軸を有するため)、夫
々のアームによるレチクルRの搬送位置がロードとアン
ロードとで微小量の誤差をもつことが考えられる。例え
ば、レチクルステージ7上ではレチクルRの中心が投影
光学系PLの光軸AXに一致していても、アンロードア
ーム6が微小量だけ搬送誤差を有している場合がある。
すると、レチクルステージ7から一時保管棚8へレチク
ルRを搬送する際、搬送したレチクルRの中心位置が光
軸AXの位置から微小量ずれてしまう。
【0029】具体的には、レチクルステージ7から一時
保管棚8までアンロードアーム6でアンロードしたレチ
クルRをロードアーム5で一時保管棚8からレチクルス
テージ7へ搬送するときを考える。各ポジションでの受
渡時及び搬送時は前述のようにレチクルRは吸着保持さ
れている。このためレチクルRの位置はずれない。しか
しながらアンロードアーム6とロードアーム5との間で
一定方向に搬送位置が微小にずれていると、レチクルス
テージ7上でのレチクルRの中心位置は、光軸AXの位
置から搬送誤差分だけずれてしまう。このような状態で
レチクルRの交換を繰り返すと、レチクルRの誤差が累
積される。これらの誤差を取り除くには前述のキャリア
4を使ってプリアライメントを行えばよい。この時に
は、レチクルステージ7から一時保管棚8にレチクルR
を戻すときにキャリア4によりプリアライメントを行う
ようにしてもよいし、所定回数搬送毎にプリアライメン
トを行うようにしてもよい。
【0030】しかしながら、プリアライメント頻度が高
くなり、搬送時間が増加する。また、前述の如くレチク
ルステージ7ではレチクルRがレチクルステージ7に搬
送される毎にアライメントが行われている。このためレ
チクルステージ7上でのレチクル中心と光軸AXとのフ
ァインなアライメントを行う際のレチクルステージ7の
移動量が多くなり、アライメントに時間がかかってしま
う。さらにずれ量が大きくなるとアライメントができな
くなってしまう。
【0031】そこで、搬送時のずれ量を考慮してレチク
ル搬送を行う場合について説明する。この方法は簡単に
説明すると、次回の搬送時に搬送時のずれ量(オフセッ
ト量)をレチクルステージ7上にフィードバックして、
予めオフセット分だけレチクルステージ7を移動させて
おくものである。そして予め移動したレチクルステージ
7上にロードアーム5がレチクルRを受け渡す。この
時、レチクルステージ7の中心とレチクルRの中心はず
れ量なく重なるため、ロードアーム5が退避した後、レ
チクルRを吸着保持したまま、レチクルステージ7は基
準位置(レチクルRの中心と光軸AXが一致する位置)
へ向かってオフセット分だけ移動する。前回の露光時に
ファインなアライメントが実行されているので、この状
態では理想的にはレチクルRの中心と光軸AXとはほぼ
一致しており、レチクルアライメントの時間は短いもの
となる。
【0032】以下にキャリア4を使ったプリアライメン
トを行わずに搬送ずれに対応する方法の一例について図
6を参照して説明する。図6はプリアライメントを使わ
ずに搬送ずれに対応するための方法を示すフローチャー
トである。尚、レチクルステージ7は初期状態において
前述の基準位置に位置しているものとする。また図6に
おいて前述のバーコードリーダ30によりレチクルを確
認して、レチクルステージの搬送回数を計測する。 〔ステップ200〕レチクルRがキャリア4で搬送さ
れ、キャリア4はレチクルRのプリアライメントを行
う。 〔ステップ201〕プリアライメントが行われると主制
御系100内のレチクル搬送回数カウンタが零にリセッ
ト(n=0:ここでnは搬送回数を示す)される。 〔ステップ202〕レチクルRがレチクルステージ7に
搬送される前にバーコードリーダ30によりレチクルR
の搬送回数がカウントされる。 〔ステップ203〕搬送回数nが3回以上である場合は
ステップ205に進み、3回より少ない場合はステップ
204に進む。 〔ステップ204〕ロードアーム5はレチクルRをレチ
クルステージ7にセットし、ステップ208に進む。 〔ステップ208〕位置検出用光学系39はレチクルR
の中心と光軸AXとのずれ(Δx、Δy)を計測する。
ここでは便宜上X方向のずれ量Δxnのみについて説明
する。
【0033】主制御系100は位置ずれ量Δxnを記憶
する。 〔ステップ209〕主制御系100はレチクルステージ
7をΔxnだけ移動し、レチクルRの中心と光軸AXと
を一致させる。主制御系100はこの時のレチクルステ
ージ7の位置を基準位置として記憶する。 〔ステップ210〕主制御系100の統括制御の下、露
光が実行され、露光終了後はアンロードアーム6はレチ
クルRをレチクルステージ7から搬出する。 〔ステップ211〕処理すべきウェハロットが終了した
か判断される。終了したと判断された場合はレチクルR
は基板保管部1に搬送される。ロットが終了していない
と判断された場合はステップ212に進む。 〔ステップ212〕レチクルRの搬送回数が2回の場合
はステップ213に進み、2回でない場合はステップ2
14に進む。 〔ステップ213〕主制御系100はレチクルRが3回
目にレチクルステージ7に搬送される際のオフセット量
ΔM3をステップ209でのレチクルステージ7の移動
量Δxn(Δx2)として記憶する。そしてステップ2
02に戻り、カウンタを1つアップ(インクリメント)
する。 〔ステップ214〕ステップ214でレチクルRの搬送
回数が3回以上である場合はステップ215に進み、そ
れ以外の場合はステップ202に戻る。 〔ステップ215〕ステップ215で主制御系100は
n+1回目に(n回目の搬送の次に)レチクルRが搬送
される場合のオフセット量ΔMn+1 を計算する。オフセ
ット量ΔMn+1 はいままでのオフセット量(ΔM3、Δ
M4、─ΔMn)の総和とn回目の搬送においてオフセ
ットが与えられたレチクルステージの位置と基準位置と
のオフセット量An(ステップ207でのレチクルステ
ージ移動量ΔMnとステップ209でのステージ移動量
Δxnとの和)との和を平均したものから求められる。
つまり、今回(n回目)でのオフセット量Anを含んだ
オフセット量の総和を平均化したものから求められる。
これを式で表すと、 ΔMn+1 =〔ΔMn×(n−2)+An〕÷(n−1)
となる。
【0034】(ここでAn=ΔMn+Δxn) このオフセット量ΔMn+1 は主制御系100に記憶さ
れ、ステップ202に戻る。以上の動作によりプリアラ
イメントを行わずに搬送系の誤差による位置ずれのない
基板搬送を実現できる。ここで、オフセット量の平均化
は過去数回分のみのオフセット量の総和の平均としても
よい。尚、ステップ200からステップ215ではX方
向のずれ量のみについて説明したが、Y方向のずれ量に
ついても同様にして求め、同様にY方向に関するオフセ
ット量だけレチクルステージ7を予め移動させておけば
よい。
【0035】また、ロードアーム5をX、Y方向にも移
動可能として、ロードアーム5をオフセット量(X方向
のオフセット量、Y方向のオフセット量)だけ移動して
レチクルRをレチクルステージ7へ搬送するようにして
もよい。また、前回のオフセット量をそのまま次のオフ
セット量としてもよい。このとき、オフセット量が経時
変化する場合があるため、ステップ209で求めたずれ
量Δxnをオフセット量に加算して新たなオフセット量
としてもよい、つまり前回のオフセット量をステップ2
09で求めたずれ量Δxnで逐次更新するようにしても
よい。また、ステップ201での搬送回数を一時保管棚
8からの搬送回数としてもよい。
【0036】さらに、以上のオフセット量はレチクル毎
に個別管理するものであるが、必要とする各レチクル
(R1 〜R8 )を区別することなく、搬送されるレチク
ルの順番に前記ステップ202〜ステップ215の動作
を行ってもよい。また、上述の動作では基板保管部1か
ら搬送されたレチクルRを使って、まず露光を行った後
に、レチクルRを一時保管棚8に収納することとした。
しかしながら、まず、レチクルRを必要枚数だけ搬送ア
ーム3、キャリア4、ロードアーム5(あるいはアンロ
ードアーム6)を介して一時保管棚8に収納してから、
上述のステップ103からの動作を行ってもよい。
【0037】また、一時保管棚8にアライメント機構を
設ければ、保管棚8内に基板を常に位置ずれのない状態
で保管することができる。アライメント機構は、例え
ば、一時保管棚8の外壁に開口部を設け、端辺を基準に
2方向から挟み込むような構成とし、このアライメント
機構により一時保管棚8内でアライメントするようにす
ればよい。
【0038】さらに、以上ではロードアーム5とアンロ
ードアーム6とはZ方向に一体に移動することとした
が、個別に移動可能としてもよい。個別移動可能とする
ことで、例えば上述のステップ100で、アンロードア
ームが一時保管棚8にレチクルを収納している間に、ロ
ードアームはレチクルステージ7にレチクルを搬送する
ことができ、スループットが向上する。また、このよう
にロードアーム5とアンロードアーム6とをZ方向に個
別に移動可能とすることでアームのZ方向の移動量を少
なくすることができる。
【0039】
【発明の効果】 以上、本発明によれば、露光に複数回
使用されるマスクを、マスク保管部より遠くない位置に
マスク保管部とは別に設けられた棚で保持するため、搬
送時間を短縮することができる。また、前記基板ステー
ジまでの距離が少なくとも前記基板保管部より遠くない
位置に、前記基板保管部とは別に設けられ、複数の基板
を保持可能であり、前記基板保管部から取り出された基
板を保持する棚によって、基板保管部から取り出した基
板を積層方向に並べて複数保持可能である。また、本発
明によれば、棚と基板ステージとの間での基板搬送の際
に、プリアライメント装置が基板をプリアライメントす
るので、棚と基板ステージとの間で基板の搬送を繰り返
すことによって誤差が累積されるとしても、この誤差を
取り除くことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による基板搬送装置の概略構
成図、
【図2】本発明の一実施例による一時保管棚の概略を示
す図、
【図3】本発明の一実施例による一時保管棚の吸着保持
部材を示す図、
【図4】本発明の一実施例による一時保管棚とレチクル
ステージとの搬送を示す図、
【図5】本発明の一実施例による搬送動作を示すフロー
チャート、
【図6】本発明の一実施例による搬送誤差を考慮した搬
送動作を示すフローチート、
【図7】従来の搬送装置を示す図である。
【符号の説明】
1…基板保管部 2…基板ケース 3…搬送アーム 4…キャリア 5…ロードアーム 6…アンロードアーム 7…レチクルステージ 8…一時保管棚 39…位置検出用光学系 100…主制御系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 H01L 21/027

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】マスクを保管するマスク保管部とマスク
    テージとを備え、前記マスク保管部と前記マスクステー
    ジとの間でマスクを搬送し、マスクステージ上に保持さ
    れたマスクのパターンを基板上に露光する露光装置にお
    いて、 前記マスクステージまでの距離が少なくとも前記マスク
    保管部より遠くない位置に、前記マスク保管部とは別に
    設けられ、複数のマスクを積層方向に並べて保持可能で
    あり、前記マスク保管部から取り出されたマスクを保持
    する棚と、前記露光に使用されたマスクを前記棚へ搬送し、前記露
    光に使用された後に前記棚へ搬送されたマスクを、再び
    前記マスクステージへ搬送する搬送装置とを備え、 前記再びマスクステージへ搬送されたマスクを用いて露
    光を実行すると共に、 前記棚と前記マスクステージとの間でのマスク搬送の際
    に、前記マスクをプリアライメントするプリアライメン
    ト装置を有することを特徴とする露光装置
  2. 【請求項2】請求項1の露光装置において、前記棚は、
    前記複数のマスクを複数のマスクをそれぞれ独立して吸
    着する吸着手段を有することを特徴とする露光装置
  3. 【請求項3】請求項1又は2いずれかの露光装置におい
    て、マスク搬送中に、搬送中のマスクに関する情報を検
    出する情報検出手段を有することを特徴とする露光装
  4. 【請求項4】請求項1乃至3いずれかに記載の露光装置
    において、前記棚の内部にエアーを供給するエアー供給
    手段を有することを特徴とする露光装置
  5. 【請求項5】マスクを保管するマスク保管部とマスク
    テージとの間でマスクを搬送し、マスクステージ上に保
    持されたマスクのパターンを基板上に露光する露光方法
    において、前記露光に使用されたマスクを、 前記マスクステージま
    での距離が少なくとも前記マスク保管部より遠くない位
    置に前記マスク保管部とは別に設けられた棚へ搬送し、
    前記棚で複数のマスクを積層方向に並べて保持するとと
    もに、前記露光に使用された後に前記棚へ搬送されたマスク
    を、再び前記マスクステージへ搬送して露光を実行する
    とともに、 前記棚と前記マスクステージとの間でのマスク搬送の際
    に、前記マスクをプリアライメントすることを特徴とす
    露光方法
  6. 【請求項6】請求項に記載の露光方法において、前記
    棚で、前記複数のマスクをそれぞれ独立して吸着するこ
    とにより、前記マスクを保持することを特徴とする露光
    方法
  7. 【請求項7】請求項5又は6に記載の露光方法におい
    て、前記複数のマスクを保持する前記棚の内部にエアー
    を供給することを特徴とする露光方法。
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