JPH09270383A - 基板搬送装置及び基板搬送方法 - Google Patents

基板搬送装置及び基板搬送方法

Info

Publication number
JPH09270383A
JPH09270383A JP10359896A JP10359896A JPH09270383A JP H09270383 A JPH09270383 A JP H09270383A JP 10359896 A JP10359896 A JP 10359896A JP 10359896 A JP10359896 A JP 10359896A JP H09270383 A JPH09270383 A JP H09270383A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
stage
wafer
arm
standby position
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10359896A
Other languages
English (en)
Inventor
Kanefumi Nakahara
兼文 中原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP10359896A priority Critical patent/JPH09270383A/ja
Publication of JPH09270383A publication Critical patent/JPH09270383A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】基板搬送装置及び基板搬送方法において、搬送
手段を挿入し得る余裕が無い場合においても基板を搬送
及び交換し得、また搬送手段が基板ステージの駆動を阻
害することを防止する。 【解決手段】基板待機位置4及び基板ステージ5の位置
を両端とする回転移動手段を設け、駆動手段によつて回
転移動手段の中心位置を軸として水平面内で回転駆動さ
せると共に上下方向へ移動させ、さらに開閉動作して基
板ステージ上の吸着保持手段が配された位置以外のペリ
クル枠外の位置で基板21を下面から吸着保持する一対
の基板保持手段を回転移動手段の両端に設ける。基板保
持手段を閉動作させて基板待機位置4及び基板ステージ
5に配された基板21を保持させ、駆動手段によつて搬
送してそれぞれの基板位置を入れ換える。入れ換え後は
基板保持手段を開動作させて基板を放し、基板ステージ
の駆動を妨げない位置に基板保持手段を退避させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は基板搬送装置及び基
板搬送方法に関し、例えば半導体素子又は液晶表示素子
を製造する際に使用される露光装置のレチクルローダ系
に適用して好適なものである。
【0002】
【従来の技術】従来、レチクル(以下、これを基板と呼
ぶ)又はフオトマスクでなるパターンをフオトレジスト
が塗布されたウエハ又はガラスプレート上に露光する露
光装置においては、例えば一枚のウエハ上の異なる領域
にそれぞれ異なるパターンを露光する場合がある。この
ような場合、露光装置の基板ステージ上に配する基板を
順次交換しながらそれぞれの基板を用いた露光がなされ
る。このような露光装置では、全露光時間を短時間で完
了させるためにレチクルローダ系と呼ばれる搬送系を用
いて各基板の交換を効率的に行つている。
【0003】図3において、1は全体として露光装置内
に設けられた基板搬送装置を示し、基板保管部2から取
り出した基板(図示せず)を異物検査装置3、基板待機
位置4及び基板ステージ5に順次搬送する。基板保管部
2は複数の基板ケース6でなり、各基板ケース6内にそ
れぞれ基板を収めている。各基板ケース6内に収められ
ている基板はアーム7によつて取り出される。アーム7
は、取り出した基板をキヤリア8に受け渡す。キヤリア
8は受け渡される基板の位置決めをした後に、この基板
を上面から真空吸着により保持して基板待機位置4に至
る経路上に設置された異物検査装置3に搬送する。また
基板ケース6の個数を減らすことにより、基板保管部2
の下部に小型の異物検査装置9を設ける場合もある。こ
の場合、各基板は基板ケース6と異物検査装置9との間
の経路をアーム7のみで搬送する。異物検査装置3又は
9は、搬送されてきた基板上にゴミ等の異物が付着して
いないかを検査する。検査により異物の付着が認められ
た基板は、基板ケース6に戻される。また異物の付着が
認められなかつた基板は、キヤリア8に受け渡されて搬
送され、搬送アーム10に受け渡される。搬送アーム1
0は、キヤリア8から渡された基板を基板待機位置4に
搬送する。
【0004】ここで、図4に示すように、搬送対象の基
板の下面にはゴミ転写防止のために枠11(以下、これ
をペリクル枠11と呼ぶ)が設けられており、このペリ
クル枠11内に形成されているパターンを被覆するよう
にペリクル膜と呼ばれる被膜が形成されている。このた
め、搬送アーム10の先端に設けられた基板保持部12
はペリクル枠11に比してやや大きい横幅を有するコの
字形状に形成されており、ペリクル枠11及びペリクル
膜に接触しないようになつている。このような基板保持
部12を有する搬送アーム10は、キヤリア8から渡さ
れた基板の下面に、ペリクル枠11及びペリクル膜に接
触しないように基板保持部12を当接させて支持すると
共に、基板保持部12に複数設けられた吸着部13によ
り基板を真空吸着して保持する。
【0005】搬送アーム10により基板待機位置4に搬
送された基板は、基板ステージ5に先に配されている基
板による露光が完了するまでの所定時間、その位置で待
機状態に置かれる。露光が完了したら、搬送アーム10
は再度動きだして基板を基板ステージ5に搬送する。こ
の際、先の露光のために使用された基板との交換がなさ
れるが、先に使用した基板を基板ケース6に搬送して戻
し、その後新たな基板を基板ケース6から取り出して基
板ステージ5まで搬送する手法では交換が煩雑であり、
交換に要する時間も少なくない。このため、この基板搬
送装置1では搬送アーム10を、基板ステージ5への新
たな基板の搬入用及び先の基板の搬出用として二組設け
ており、それぞれ並行して基板を搬送することにより搬
送時間を短縮するようにしている。まず、基板ステージ
5で先の基板による露光がなされている間に、基板搬入
用のアーム10が基板ケース6から新たな基板を取り出
して基板待機位置4まで搬送しておく。先の基板による
露光が完了したら、基板搬出用のアーム10がこれを基
板ステージ5から取り出す。これに続いて基板搬入用の
アーム10が基板待機位置4で待機状態にあつた新たな
基板を、基板ステージ5に直ちに受け渡す。搬出された
基板は、アーム10からキヤリア8及びアーム7に順次
受け渡されて基板ケース6に戻される。
【0006】基板ステージ5は基板の横幅方向の側辺に
沿つた位置に吸着部14を複数有しており、この吸着部
14でアーム10によつて搬送され受け渡される基板の
下面を吸着保持する。ここで基板保持部12が基板上の
ペリクル枠11に比してやや大きい横幅を有するコの字
形状でなり、ペリクル枠11に接触しないように基板を
吸着保持することは先に述べた通りである。これに加え
て、このような状態で基板を基板ステージ5に受け渡す
ため、基板保持部12は基板ステージ5の吸着部14の
内側より狭い横幅でなつている。すなわち基板保持部1
2は基板ステージ5の吸着部14の内側より狭くかつ基
板上のペリクル枠11より広い横幅でなり、基板ステー
ジ5への基板受け渡しの際には吸着部14と基板上のペ
リクル枠11との間に位置するようになつている(図
4)。こうして基板を受け渡された基板ステージ5は、
検出器15による光学的な検出により基板の位置を読み
取る。読み取られた位置情報に応じて、駆動装置16は
基板ステージ5を水平面内及び上下方向に駆動して基板
位置を補正する。かくして基板搬送装置1は、露光処理
するために用いられる基板を効率的に搬送及び交換する
ことができる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところでかかる構成の
基板搬送装置1においては、搬送対象の基板の下面に基
板ステージ5の吸着部14と基板上のペリクル枠11と
の間に基板保持部12が入るための所定長さでなる余裕
が必要であつた(図4)。基板上の露光領域が十分狭い
場合は、この点について特に問題は無い。ところが半導
体の製造上においては、回路規模に応じてその露光領域
を拡大する必要が生じる場合がある。この際、露光領域
はペリクル枠11が基板ステージ5の吸着部14に接触
しない広さまでならば拡大することが可能である。しか
しこうした場合、吸着部14とぺリクル枠11との間に
基板保持部12が入るための余裕が無くなつてしまい、
アーム10による基板ステージ5への基板の搬送ができ
なくなるという問題がある。
【0008】この問題を回避するために、以下のような
保持方式により基板を保持して搬送する手法が考えられ
る。まず、基板上面から真空吸着等によつて吸着保持す
る手法が考えられるが、この手法では万一基板の保持が
外れた場合、落下により基板に傷を付けてしまうという
問題がある。また基板の側面を両端から挟んで搬送する
という手法が考えられるが、この手法の場合、挟み込む
際及び基板ステージ5に受け渡す際に基板位置のズレを
生じさせてしまい、位置決めされた基板の位置状態を維
持して搬送することが困難であるという問題がある。
【0009】さらに図5に示すように、吸着部14及び
ぺリクル枠11に対応する中央部分を削除した枠形状の
四隅をそれぞれ中心方向に突出させた形状でなる基板保
持部12によつて四隅の部分で基板を保持することによ
り、吸着部14とぺリクル枠11との間に基板保持部1
2が入るための余裕が無い状態でも下面から基板を保持
して搬送する手法が考えられるが、この手法の場合、基
板保持部12が基板ステージ5の駆動を妨げてしまうと
いう問題がある。すなわち、基板ステージ5は基板の位
置を補正するために、アーム10から受け渡された基板
を保持した状態で水平面内及び上下方向に駆動するよう
になつている。また露光装置がステツプ・アンド・スキ
ヤン方式を用いている場合、基板ステージ5は基板を保
持した状態で露光中に水平面内で駆動する。このため、
アーム10の先端に設けられている基板保持部12は、
基板を基板ステージ5に搬送して受け渡した後、基板ス
テージ5の駆動を妨げないように基板ステージ5及びそ
の近傍から退避する必要がある。しかるに、上述した形
状でなる基板保持部12では、基板を基板ステージ5に
受け渡した後、退避することができずに基板ステージ5
の駆動を妨げることになつてしまう。
【0010】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、基板ステージ上の吸着保持手段と基板上のペリクル
枠との間に搬送手段を挿入し得る余裕が無い場合におい
ても基板を搬送及び交換し得、また搬送手段が基板ステ
ージの駆動を阻害することを防止し得る基板搬送装置及
び基板搬送方法を提案しようとするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、基板待機位置(4)及び基板ステ
ージ(5)の位置を両端とする直線上に回転移動手段
(27)を設けると共に、回転移動手段(27)の中心
位置に鉛直方向に設けられた軸を中心軸として回転移動
手段(27)を水平面内で回転駆動させると共に上下方
向へ移動させる駆動手段(28及び29)を設け、さら
に基板(21)の水平面に沿つて開閉動作して基板待機
位置(4)及び基板ステージ(5)に配された基板(2
1)を基板ステージ(5)上の吸着保持手段(14)が
配された位置以外のペリクル枠(11)外の位置でそれ
ぞれ下面から吸着保持する一対の基板保持手段(30)
を回転移動手段(27)の長手方向の両端にそれぞれ設
ける。
【0012】回転移動手段(27)の両端に設けられた
基板保持手段(30)を閉動作させることによつて基板
待機位置(4)及び基板ステージ(5)に配された基板
(21)をペリクル枠(11)外でかつ基板ステージ
(5)上の吸着部(14)に接触しない位置で保持さ
せ、駆動手段(28及び29)によつて回転移動手段
(27)を回転駆動してそれぞれの基板位置を入れ換え
る。入れ換え後は基板保持手段(30)を開動作させて
基板(21)を放し、基板ステージ(5)の駆動を妨げ
ない位置に基板保持手段(27)を退避させる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
【0014】図3との対応部分に同一符号を付して示す
図1において、20は全体として基板搬送装置を示し、
投影露光装置のレチクルローダ系に用いられるものであ
る。基板搬送装置20は、基板保管部2内の基板ケース
6から取り出した基板を異物検査装置3及び基板待機位
置4を順次介して基板ステージ5に搬送して、先の露光
で使用された基板と交換する。また、先の基板は基板ケ
ース6に搬送して収納する。
【0015】基板搬送装置20は、基板保管部2内に複
数設けられている基板ケース6から基板21を多軸アー
ム22によつて取り出す。ここで多軸アーム22は、前
後方向への移動、上下方向への移動及び水平面内での回
転移動が可能な多軸系の駆動部を有する機構でなる。ま
た多軸アーム22は吸着部(図示せず)を有しており、
取り出した基板21を真空吸着して保持しながら、上方
位置に待機している位置決め機構部23に搬送する。位
置決め機構部23は、空圧で作動するピンにより搬送さ
れた基板の側部端面を押圧して位置決めする。この際、
基板21を保持している多軸アーム22は、位置決め機
構部23が基板21の位置決めをしている間だけ基板2
1の真空吸着を一時解除する。多軸アーム22は、位置
決めが完了すると再度基板21を真空吸着して保持しな
がら、異物検査装置3に搬送する。
【0016】異物検査装置3は、基板保管部2に対して
90°の向きに配置されており、多軸アーム22によつ
て搬送された基板21を受け渡される。すなわち、異物
検査装置3には基板21を支持する支持部24が設けら
れており、多軸アーム22は基板21を真空吸着を解除
して支持部24に受け渡す。支持部24は多軸アーム2
2と同様に吸着部(図示せず)を有しており、受け渡さ
れた基板21を真空吸着して保持しながら下方に移動し
て装置内に搬入する。異物検査装置3内には基板21を
保持しながら検査工程内を搬送する検査アーム25が設
けられており、支持部24は基板21を検査アーム25
に受け渡す。検査アーム25は異物検査装置3内で水平
面内で直線移動して基板21を検査工程に搬送して、基
板21上及びペリクル枠11内を被覆しているペリクル
膜上に異物が付着していないかを検査させる。検査が完
了すると、検査アーム25は支持部24に基板21を受
け渡し、支持部24は上方に移動して異物検査装置3外
で待機状態にある多軸アーム22に基板21を受け渡
す。
【0017】多軸アーム22は、支持部24から受け渡
された基板21を真空吸着して保持しながら、基板保管
部2に対向する向きで配置されている基板待機位置4に
搬送する。基板待機位置4の四方の角部には基板21を
支持するためのピン26がそれぞれ設けられており、多
軸アーム22は真空吸着を解除した状態でピン26上に
基板21を載せて基板待機位置4に基板21を受け渡
す。
【0018】基板待機位置4及び基板ステージ5の上方
には、背面が対向してなる基板交換用アーム27がそれ
ぞれ設けられている。また基板待機位置4及び基板ステ
ージ5の中間位置には、基板交換用アーム27を水平面
内で回転駆動させる回転駆動部28と、基板交換用アー
ム27を上下方向に駆動させる上下駆動部29が設けら
れている。基板交換用アーム27は、基板待機位置4で
待機状態にある基板21及び基板ステージ5に配置され
ている基板21をそれぞれ保持する。基板交換用アーム
27は、基板21をそれぞれ保持した状態で回転駆動部
28による回転移動及び上下駆動部29による上下移動
により基板21を搬送して、それぞれの基板位置を入れ
換える。このようにして、基板交換用アーム27は先に
基板ステージ5に配置されている基板21と、基板待機
位置4で待機状態にある基板21とを交換するようにな
されている。なお、先に基板ステージ5に配置されてお
り、新たな基板と交換された基板21は、多軸アーム2
2によつて基板待機位置4から回収されて基板保管部2
の基板ケース6に戻される。
【0019】ここで図2に示すように、基板交換用アー
ム27の先端は、それぞれ水平面内で開閉可能な構造で
なると共に真空吸着して基板21を保持し得るようにな
つている。すなわち基板交換用アーム27において、基
板保持部30は左右一対でなり、それぞれ長さが異なる
L字形状でなる。また基板保持部30には吸着部31が
それぞれ設けられており、基板保持部30内に形成され
ている空気穴(図示せず)を介して、基板ステージ5上
に設けられている吸着部14(図4)とは異なる位置で
基板21を保持し得るようになつている。
【0020】さらに基板保持部30はガイドレール形状
でなるキヤリア32に嵌合されており、左右の基板保持
部30を繋ぐバネ33及び空気圧で作動するシリンダ3
4によつて開閉動作する。この際、基板保持部30の開
閉時の位置はストツパ35及び36で位置決めされてい
る。具体的には、開状態の場合、基板21の幅よりやや
広い位置で位置決めされ、また閉状態の場合、基板保持
部30のL字形状でなる先端が基板21のペリクル枠の
外側でかつ基板ステージ5の吸着部14(図4)に接触
しない位置で位置決めされている。このような構造によ
り基板交換用アーム27は、基板待機位置4に搬送され
てきた基板21及び基板ステージ5に配置されている基
板21を開状態にある基板保持部30を閉じて保持しな
がら、互いの位置を入れ換えて基板待機位置4及び基板
ステージ5にそれぞれ受け渡す。
【0021】また、基板ステージ5は、ステツプ・アン
ド・スキヤン方式で基板21による露光を実行している
ため、露光中に基板21を保持した状態で水平面内で駆
動するようになつている。このため基板交換用アーム2
7は、基板ステージ5に基板21を受け渡した後、基板
保持部30を開いて基板21を放し、基板ステージ5の
駆動を妨げない位置に退避するようになつている。
【0022】以上の構成において、基板交換用アーム2
7は待機時、基板待機位置4及び基板ステージ5の上方
に退避している。基板交換用アーム27は、基板待機位
置4に新たな基板21が搬送されてきた場合、基板保持
部30を開状態にして上下駆動部29により下方に移動
し、基板待機位置4及び基板ステージ5に配置された基
板21の下まで下がる。基板交換用アーム27は、基板
21の下の位置まで下がつたら基板保持部30を閉じた
状態で上下駆動部29により上方に移動する。基板交換
用アーム27は、こうして基板ステージ5に配置されて
いる基板21及びピン26に載せられている基板21を
持ち上げて真空吸着することにより保持する。この際、
基板保持部30の開閉時の位置はストツパ35及び36
により、開状態の場合、基板21の幅よりやや広い位置
で位置決めされ、また閉状態の場合、基板保持部30の
L字形状でなる先端が基板21のペリクル枠11の外側
でかつ基板ステージ5の吸着部14(図4)に接触しな
い位置で位置決めされている。
【0023】基板交換用アーム27は、こうして基板2
1を保持した状態で回転駆動部28による180°の回
転移動により、基板待機位置4に配された基板21及び
基板ステージ5上に配置されていた基板21の位置を互
いに入れ換える。基板交換用アーム27は、この後、真
空吸着を解除して下方に移動して基板21をそれぞれ基
板待機位置4のピン26及び基板ステージ5上に載せ
る。また、基板交換用アーム27は基板21を基板待機
位置4及び基板ステージ5に受け渡した後、基板保持部
30を開いて上方に移動して再び待機状態に戻る。
【0024】基板交換用アーム27は、このように開閉
動作する基板保持部30によつて基板待機位置4及び基
板ステージ5に配された基板21をペリクル枠11及び
基板ステージ5上の吸着部14に接触しない位置で保持
する。このため、露光領域が広いためにペリクル枠11
と基板ステージ5との間に基板保持部30を挿入する余
裕が無い場合でも、基板21を保持して搬送することが
できる。また基板交換用アーム27は基板ステージ5に
基板21を搬送した後、基板保持部30を開動作させて
基板21を放し、上方に移動する。これにより、ステツ
プ・アンド・スキヤン方式によつて基板ステージ5が基
板21を保持した状態で水平面内で駆動する場合でも、
基板ステージ5が駆動する妨げにならない位置に退避す
ることができる。さらに、基板交換用アーム27は、基
板保持部30に設けられた吸着部31によつて基板21
を真空吸着して保持するようにしているため、基板21
を安全にかつ位置ズレを生じさせずに搬送することがで
きる。
【0025】また、多軸アーム22は前後移動により基
板ケース6から取り出した基板21を真空吸着して保持
した後、水平面内で90°回転して上方に移動する。上
方に配置されている位置決め機構部23により基板21
の位置決めが完了したら、下方に移動する。多軸アーム
22はこの後、そのまま前方に移動して支持部24に進
入する。真空吸着を解除して下方に移動し、基板21を
支持部24に受け渡した後は後方に後退して待機する。
検査完了後、支持部24から基板21を受け取つた多軸
アーム22は、基板21を真空吸着した状態で再び90
°回転して基板待機位置4に基板21を搬送する。多軸
アーム22は、ピン26の上方に進入して真空吸着を解
除した後、下方に移動して基板21をピン26上に載せ
る。こうしてピン26に基板21を載せることにより基
板待機位置4に基板21を受け渡した多軸アーム22
は、そのまま後退する。
【0026】さらに多軸アーム22は、基板交換用アー
ム27によつて基板ステージ5から基板待機位置4に搬
送された基板21を、前方に移動して基板待機位置4に
進入した後、上方に移動してピン26から受け取る。多
軸アーム22は受け取つた基板21を真空吸着して保持
した後、180°回転して基板保管部2に向き直り、そ
のまま前方に進入して基板ケース6に基板21を収め
る。基板21を収めた後は真空吸着を解除して後退す
る。
【0027】多軸アーム22は、このように上下方向へ
の移動、前後方向への移動及び水平面内での回転移動を
可能にする多軸駆動系により構成されている。このた
め、基板保管部2、異物検査装置3及び基板待機位置4
間を全て多軸アーム21によつて基板21を搬送するこ
とにより、基板21の受け渡し回数を少なくすることが
でき、かくするにつき、基板21の搬送時間を短縮する
ことができる。
【0028】ちなみに、基板搬送装置20は、異物検査
装置3を基板保管部2と異なる位置に配置しているた
め、小型の異物検査装置9(図3)を基板保管部2の下
部に設けた場合のように基板ケース6を減らすことな
く、従来に比して多くの基板ケース6を基板保管部2に
収納することができる。
【0029】以上の構成によれば、基板待機位置4及び
基板ステージ5の位置を両端とする直線上に基板交換用
アーム27を設けると共に、基板交換用アーム27の中
心位置に鉛直方向に設けられた軸を中心軸として基板交
換用アーム27を水平面内で回転駆動させ又上下方向へ
移動させる回転駆動部28及び上下移動部29を設け、
さらに基板21の水平面に沿つて開閉動作する一対の基
板保持部30を基板交換用アーム27の長手方向の両端
にそれぞれ設ける。
【0030】このような基板保持部30を閉動作させる
ことによつて基板待機位置4及び基板ステージ5に配さ
れた基板21をペリクル枠11及び基板ステージ5の吸
着部14に接触しない位置で保持させ、回転駆動部28
及び上下移動部29によつて基板交換用アーム27を回
転駆動してそれぞれの基板位置を入れ換え、また入れ換
え後は基板保持部30を開動作させて基板21を放し、
基板ステージ5の駆動を妨げない位置に基板交換用アー
ム27を退避させる。これにより、基板ステージ5と基
板21上のペリクル枠11との間に基板保持部30を挿
入し得る余裕が無い場合においても、基板21を保持し
て搬送及び交換し得ると共に基板ステージ5を駆動させ
る際の妨げとなることを防止し得る。
【0031】また多軸アーム22は、上下方向への移
動、前後方向への移動及び水平面内での回転移動を可能
にする多軸駆動系により構成されているため、基板保管
部2、異物検査装置3及び基板待機位置4間を全て多軸
アーム22で基板21を搬送することにより、基板21
の受け渡し回数を少なくすることができる。
【0032】かくして、基板ステージ5上の吸着部14
と基板上21のペリクル枠11との間に基板保持部30
を挿入し得る余裕が無い場合においても基板21を搬送
及び交換し得、また基板交換用アーム27が基板ステー
ジ5の駆動を阻害することを防止でき、さらに基板21
の搬送時間を短縮し得る基板搬送装置20及び基板搬送
方法を実現することができる。
【0033】なお上述の実施例においては、多軸アーム
22によつて基板保管部2から取り出した基板21を支
持部24及び検査アーム25を順次介して異物検査装置
3に受け渡す場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、支持部24を省略して多軸アーム22から検査ア
ーム25に直接基板21を受け渡すようにしてもよい。
また異物検査装置3の仕様に適合する直進性、再現性、
剛性及び制御性を備えているならば、多軸アーム22か
ら直接異物検査装置3内に基板21を搬入させるように
して、支持部24及び検査アーム25を省略してもよ
い。
【0034】また上述の実施例においては、基板交換用
アーム27の先端に設けられた基板保持部30をバネ3
3及びシリンダ34によつて開閉駆動させる場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、例えばモータ及び
ギアの組み合わせによつて駆動させるようにしてもよ
い。
【0035】また上述の実施例においては、基板21を
3点で吸着保持する(図2)場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、要はペリクル枠やステージ5に干
渉しない位置であれば、例えば前後方向に開閉するよう
な基板保持部を設けても良い。
【0036】さらに上述の実施例においては、基板待機
位置4及び基板ステージ5を両端として回転駆動する基
板交換用アーム27の先端にそれぞれ基板保持部30を
設けた場合について述べたが、本発明はこれに限らず、
従来のような直線移動により基板待機位置4を経て基板
ステージ5に基板21を搬送する基板ロード用アーム1
0(図3)に開閉動作する基板保持部30を設けてもよ
い。
【0037】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、基板待機
位置及び基板ステージの位置を両端とする直線上に回転
移動手段を設けると共に、回転移動手段の中心位置に鉛
直方向に設けられた軸を中心軸として回転移動手段を水
平面内で回転駆動させると共に上下方向へ移動させる駆
動手段を設け、さらに基板の水平面に沿つて開閉動作し
て基板待機位置及び基板ステージに配された基板を基板
ステージ上の吸着保持手段が配された位置以外のペリク
ル枠外の位置でそれぞれ下面から吸着保持する一対の基
板保持手段を回転移動手段の長手方向の両端にそれぞれ
設けて、回転移動手段の両端に設けられた基板保持手段
を閉動作させることによつて基板待機位置及び基板ステ
ージに配された基板をペリクル枠外でかつ基板ステージ
上の吸着保持手段に接触しない位置で保持させ、駆動手
段によつて回転移動手段を回転駆動してそれぞれの基板
位置を入れ換え、また入れ換え後は基板保持手段を開動
作させて基板を放し、基板ステージの駆動を妨げない位
置に基板保持手段を退避させる。これにより、基板ステ
ージ上の吸着保持手段と基板上のペリクル枠との間に搬
送手段を挿入し得る余裕が無い場合においても基板を搬
送及び交換し得、また搬送手段が基板ステージの駆動を
阻害することを防止し得る基板搬送装置及び基板搬送方
法を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による基板搬送装置の構成を
示す斜視図である。
【図2】基板交換用アームの構造を示す平面図である。
【図3】従来の基板搬送装置の構成を示す斜視図であ
る。
【図4】従来の基板ロード用アーム、基板及び基板ステ
ージの位置関係を示す平面図である。
【図5】露光範囲が広い場合の基板ロード用アーム、基
板及び基板ステージの位置関係を示す平面図である。
【符号の説明】
1、20……基板搬送装置、2……基板保管部、3、9
……異物検査装置、4……基板待機位置、5……基板ス
テージ、6……基板ケース、7、10……アーム、8…
…キヤリア、11……ぺリクル枠、12……基板保持
部、13、14……吸着部、15……検出器、16……
駆動装置、21……基板、22……多軸アーム、23…
…位置決め機構部、24……支持部、25……検査アー
ム、26……ピン、27……基板交換用アーム、28…
…回転駆動部、29……上下駆動部、30……基板保持
部、31……吸着部、32……キヤリア、33……バ
ネ、34……シリンダ、35、36……ストツパ。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】搬送対象の基板を基板待機位置から基板ス
    テージに搬送する基板搬送装置において、 前記基板待機位置及び前記基板ステージの位置を両端と
    する直線上に設けられた回転移動手段と、 前記回転移動手段の中心位置に鉛直方向に設けられた軸
    を中心軸として前記回転移動手段を水平面内で回転駆動
    すると共に、上下方向へ移動させる駆動手段と、 前記回転移動手段の長手方向の両端にそれぞれ設けら
    れ、前記基板の水平面に沿つて開閉動作して前記基板待
    機位置及び前記基板ステージに配された前記基板を前記
    基板ステージ上の吸着保持手段が配された位置以外の前
    記基板上のペリクル枠外の位置でそれぞれ下面から吸着
    保持する一対の基板保持手段とを具えることを特徴とす
    る基板搬送装置。
  2. 【請求項2】前記基板を収納して保管する基板保管部と
    は異なる平面上の位置に配され、前記基板上の異物の有
    無を検査する異物検査手段と、 鉛直方向への上下移動及び前記鉛直方向に直交する水平
    方向への前後移動及び水平面内での回転を行い得る多軸
    駆動系を有する搬送手段とを具え、 前記搬送手段によつて、前記基板保管部から取り出した
    前記基板を前記異物検査手段に搬送すると共に前記異物
    検査手段による検査が完了した前記基板を前記基板待機
    位置に搬送することを特徴とする請求項1に記載の基板
    搬送装置。
  3. 【請求項3】前記搬送手段は、 前記基板の下面に当接する位置に吸着部を有し、該吸着
    部により前記基板を真空吸着して保持することを特徴と
    する請求項2に記載の基板搬送装置。
  4. 【請求項4】搬送対象の基板を基板待機位置から基板ス
    テージに搬送する基板搬送方法において、 前記基板待機位置及び前記基板ステージの位置に配され
    た前記基板を、前記基板ステージ上の吸着保持手段が配
    された位置以外の前記基板上のペリクル枠外の位置でそ
    れぞれ下面から吸着保持し、 前記基板待機位置及び前記基板ステージ間の中心を回転
    軸として水平面内で回転移動させることにより、前記基
    板待機位置に配された前記基板を前記基板ステージに搬
    送すると共に前記基板ステージに配された前記基板を前
    記基板待機位置に搬送することを特徴とする基板搬送方
    法。
JP10359896A 1996-03-29 1996-03-29 基板搬送装置及び基板搬送方法 Pending JPH09270383A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10359896A JPH09270383A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 基板搬送装置及び基板搬送方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10359896A JPH09270383A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 基板搬送装置及び基板搬送方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09270383A true JPH09270383A (ja) 1997-10-14

Family

ID=14358211

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10359896A Pending JPH09270383A (ja) 1996-03-29 1996-03-29 基板搬送装置及び基板搬送方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09270383A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6247579B1 (en) 1999-01-18 2001-06-19 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd Substrate transfer apparatus and method of substrate transfer
WO2002021589A1 (fr) * 2000-09-06 2002-03-14 Olympus Optical Co., Ltd. Dispositif de transport de substrat
US7295287B2 (en) 2003-10-31 2007-11-13 Canon Kabushiki Kaisha Substrate holder and exposure apparatus having the same
WO2012130108A1 (zh) * 2011-04-01 2012-10-04 清华大学 光刻机硅片台双台交换系统
JP2015115592A (ja) * 2013-12-16 2015-06-22 株式会社ディスコ 加工装置
JP2017059852A (ja) * 2010-02-17 2017-03-23 株式会社ニコン 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、及び露光方法
JP2019211791A (ja) * 2009-05-15 2019-12-12 株式会社ニコン 移動体装置、露光装置、デバイス製造方法及びフラットパネルディスプレイの製造方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6247579B1 (en) 1999-01-18 2001-06-19 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd Substrate transfer apparatus and method of substrate transfer
WO2002021589A1 (fr) * 2000-09-06 2002-03-14 Olympus Optical Co., Ltd. Dispositif de transport de substrat
US6675666B2 (en) 2000-09-06 2004-01-13 Olympus Optical Co., Ltd. Substrate transportation apparatus
US7295287B2 (en) 2003-10-31 2007-11-13 Canon Kabushiki Kaisha Substrate holder and exposure apparatus having the same
US7834982B2 (en) 2003-10-31 2010-11-16 Canon Kabushiki Kaisha Substrate holder and exposure apparatus having the same
JP2019211791A (ja) * 2009-05-15 2019-12-12 株式会社ニコン 移動体装置、露光装置、デバイス製造方法及びフラットパネルディスプレイの製造方法
JP2017059852A (ja) * 2010-02-17 2017-03-23 株式会社ニコン 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、デバイス製造方法、及び露光方法
WO2012130108A1 (zh) * 2011-04-01 2012-10-04 清华大学 光刻机硅片台双台交换系统
US9547245B2 (en) 2011-04-01 2017-01-17 Tsinghua University Dual wafer stage switching system for a lithography machine
JP2015115592A (ja) * 2013-12-16 2015-06-22 株式会社ディスコ 加工装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4924258A (en) Mask holder and a mask conveying and holding mechanism using the same
KR101059307B1 (ko) 도포 현상 장치 및 도포 현상 방법
JP4180787B2 (ja) 基板処理装置および基板処理方法
KR101699983B1 (ko) 마스크 케이스, 반송 장치, 노광 장치, 마스크 반송 방법 및 디바이스 제조 방법
KR19980070196A (ko) 기판처리장치
US20060098977A1 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
TW201330150A (zh) 基板處理系統、基板運送方法、程式及電腦記憶媒體
KR101384440B1 (ko) 물체의 반출입 방법 및 반출입 장치, 노광 방법 및 노광장치와 디바이스 제조 방법
JP3734095B2 (ja) 基板処理装置
JP3442686B2 (ja) 基板処理装置
US20020074635A1 (en) Exposure apparatus, holder container, device manufacturing method, and device manufacturing unit
JPH08288355A (ja) 基板搬送装置
JPH09270383A (ja) 基板搬送装置及び基板搬送方法
JP3801849B2 (ja) 基板処理装置及びその方法
JP3493725B2 (ja) 露光装置
JP2535821B2 (ja) 基板の▲高▼速変換装置及び方法
JPH11165864A (ja) 基板搬送装置及び基板処理装置
JP2003218018A (ja) 処理装置
JP2004228474A (ja) 原版搬送装置
JPH09260461A (ja) 半導体製造装置
JPH09266166A (ja) 露光装置
JP2945837B2 (ja) 板状体の搬送機構および搬送方法
JP2005175413A (ja) 搬送システム及び搬送方法
JPH11214484A (ja) 基板検出装置
JPH10239855A (ja) 基板搬送装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040713

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040831

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050125