JP3468430B2 - 位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置 - Google Patents

位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置

Info

Publication number
JP3468430B2
JP3468430B2 JP04037594A JP4037594A JP3468430B2 JP 3468430 B2 JP3468430 B2 JP 3468430B2 JP 04037594 A JP04037594 A JP 04037594A JP 4037594 A JP4037594 A JP 4037594A JP 3468430 B2 JP3468430 B2 JP 3468430B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
processed
position detection
guide
detection guide
storage container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP04037594A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07231031A (ja
Inventor
勤 広木
務 里吉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP04037594A priority Critical patent/JP3468430B2/ja
Priority to TW085200130U priority patent/TW369210U/zh
Priority to US08/389,226 priority patent/US5636960A/en
Priority to KR1019950002816A priority patent/KR100273810B1/ko
Publication of JPH07231031A publication Critical patent/JPH07231031A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3468430B2 publication Critical patent/JP3468430B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67259Position monitoring, e.g. misposition detection or presence detection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/6773Conveying cassettes, containers or carriers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は位置検出案内装置、位置
検出案内方法及び真空処理装置に関し、特に収納カセッ
トに収納された基板などの各種被処理体の位置検出案内
装置、位置検出案内方法及び真空処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、たとえばLCD(液晶表示装
置)用基板などの被処理体の製造工程においては、減圧
雰囲気下でLCD基板等にエッチングやアッシングなど
の処理を施すため各種の処理装置が使用されている。
【0003】このような処理装置においては、複数枚の
被処理体であるLCD用基板をそれぞれ基板収納カセッ
トの各スロットに収納し、この基板収納カセットを真空
排気可能なカセットチャンバ内に納め、さらに気密に開
閉自在なゲートバルブを介してこのカセットチャンバを
ロードロック室と連結させ、上記ロードロック室内の搬
送機構によって上記カセットチャンバ内の基板収納カセ
ットから被処理体であるLCD用基板を必要枚数取り出
して、これを真空処理室内に搬入するようにしていた。
【0004】ところで処理時には、たとえば処理室内に
おいて処理中の被処理体も存在するため、上記のような
基板収納カセットの全てのスロットに基板が収納されて
いるとは限らないので、搬送装置にて基板を出し入れす
る際に、各スロットごとに基板の有無を確認する必要が
ある。そのため従来の処理装置では、収納カセットの周
囲にレーザ光を使用したセンサを1組対向して配置し、
カセットまたはセンサ自体を上下動させることで各スロ
ットごとに被処理体の有無を検出するマッピング動作を
行う必要があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】 しかしながら、上記の
ようなカセット内基板検出(マッピング)は各スロット
ごとに行う必要があるため非常に時間がかかり、スルー
プットを向上させる上での障壁となっていた。またマッ
ピングを行う場合には、カセットまたはセンサ自体を上
下動させるための駆動機構が必要であり、装置の部品点
数が増えイニシャルコストを押し上げる上、駆動機構自
体が被処理体の汚染源となり歩留まりを低下させるとい
う問題が生じていた。さらに対向して配置された発光器
と受光器からなる光学センサを用いる場合には、光軸の
調整が困難であるという問題も生じていた。
【0006】本発明は上記のような従来の位置検出案内
装置の抱える問題点に鑑みてなされたものであり、その
目的とするところは、収納カセット内の基板のスロット
位置検出を各スロットについて同時に行うことが可能で
あるとともに、各スロットへの基板のアライメント動作
をも同時に行うことが可能であり、したがって位置検出
時間を大幅に短縮することが可能な新規かつ改良された
位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置
を提供することである。
【0007】さらに本発明の別の目的は、カセットまた
はセンサの上下動を行うための駆動装置が不要であり、
したがって装置のイニシャルコストを抑えるとともに、
パーティクルの発生を低減することが可能であり、また
センサの光軸調整という煩雑な動作も不要な新規かつ改
良された位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空
処理装置を提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のある観点によれば、被処理体が間隔を空け
て積層配列された被処理体収納容器の外周付近に配置さ
れた複数の位置検出案内装置であって、前記位置検出案
内装置はそれぞれ、前記被処理体に係合して前記被処理
の周縁を案内する案内手段と、前記案内手段に設置さ
れた被処理体検出手段とを備え、前記被処理体検出手段
は、前記収納容器に収納された所定数の前記被処理体に
それぞれ対応する位置に設置された前記所定数の整数倍
検出器から成り、前記位置検出案内装置はそれぞれ、
前記被処理体に相異なる方向から離隔接近可能に構成さ
れていることを特徴とする位置検出案内装置が提供され
る。
【0009】上記課題を解決するために、本発明の別の
観点によれば、被処理体収納容器内に間隔を空けて積層
配列された各被処理体の周縁に係合してその被処理体を
案内する案内手段と、この案内手段に設置され、前記収
納容器に収納された所定数の前記被処理体にそれぞれ対
応する位置に設置された前記所定数の整数倍の検出器と
から成る被処理体検出手段とを備えた複数の位置検出案
内装置を用いた前記被処理体の位置検出案内方法であっ
て、前記収納容器に前記被処理体が収納された状態で、
前記被処理体に相異なる方向から前記複数の位置検出案
内装置が接近する工程を有することを特徴とする位置検
出案内方法が提供される。なお、前記複数の位置検出案
内装置は、前記被処理体収納容器の出入口以外の対向す
る2つの方向から前記被処理体に離隔接近し係合するこ
とが好ましく、本発明は、被処理体がLCD基板などの
略矩形の板状体である場合に適用することが好ましい。
さらに前記案内手段の前記被処理体に係合する係合部が
絶縁性を有する弾性材料、たとえばMCナイロン製また
は該材料により被覆されていることが好ましい。
【0010】また本発明に適用可能な前記検出器として
は、前記案内手段の適当な位置に取り付けられた光学セ
ンサ、あるいは前記案内手段の前記被処理体の接触部に
取り付けられ、前記被処理体との接触時に切り替わるマ
イクロスイッチを用いることが好ましい。
【0011】
【作用】本発明によれば、収納カセット内に収容された
LCD基板などの被処理体のアライメントを行うととも
に各スロットの被処理体を同時に検出することが可能な
ので、アライメントおよびマッピング動作に要する時間
を大幅に節約することが可能となり、スループットの向
上を図ることができる。また従来の装置ではアライメン
ト用位置決め装置を駆動する駆動機構と、スロット内の
基板を検出するために収納カセットまたはセンサを駆動
するための駆動機構とが必要であったが、本発明では、
アライメントと同時に基板検出を行うことが可能なの
で、収納カセットまたはセンサを駆動するための駆動機
構を省略することが可能となり、イニシャルコストを低
減できるとともに、パーティクルの発生源を減少するこ
とが可能となる。
【0012】本発明に基づく位置検出案内装置は特にL
CD基板などの略矩形をした板状の被処理体のアライメ
ントおよび位置検出をするのに好適であり、相異なる方
向、たとえば対向する方向あるいは三方から被処理体に
離隔接近する複数の位置検出案内装置を用いることによ
り、より正確にアライメントをとることが可能となり、
また各位置検出案内装置における案内手段にセンサを個
別に取り付ければ位置検出の精度を増すことが可能とな
る。さらにまた案内手段の被処理体に係合する部分を、
絶縁性を有する弾性材料、たとえばMCナイロンから構
成しまたは該部材によりコーティングすることにより被
処理体を傷つけることなくアライメントおよび位置検出
を行うことができる。
【0013】さらに本発明に基づく位置検出案内装置
取り付ける検出器は、光学センサでもマイクロスイッチ
でもよく、たとえ光学センサを用いた場合であっても、
反射型のセンサを用いることにより従来の光学センサの
ように光軸を調整するような煩雑な作業を省略すること
が可能であり、被処理体との接触により切り替わるマイ
クロスイッチを用いればさらに簡単で確実な構造で装置
を構成することが可能となる。
【0014】
【実施例】以下に添付図面を参照しながら本発明に基づ
いて構成された位置検出案内装置をLCD基板のプラズ
マ処理(エッチング処理アッシング処理)用の真空処
理装置1に適用した一実施例について詳細に説明する。
【0015】上記真空処理装置1の概略的な斜視図を示
す図1およびその概略的な平面図を示す図2から明らか
なように、上記真空処理装置1には、第1ロードロック
室2の側面に、3つのプロセスチャンバ1a、1b、1
cが、それぞれ開閉自在なゲートバルブ3a、3b、3
cを介して設けられている。これらのプロセスチャンバ
1a、1bはそれぞれ所定の減圧雰囲気下で同一のエッ
チング処理を行い、また残りのプロセスチャンバ1cは
前記エッチング処理終了後の基板に対して所定の減圧雰
囲気下でアッシング処理を実施するように各々構成され
ている。
【0016】また上記第1ロードロック室2の残りの側
面には、開閉自在なゲートバルブ4を介して第2ロード
ロック室5が隣接して連結され、この第2ロードロック
室5における大気側のゲートバルブ6前面側には、載置
台7a、7bを上下二段に有する大気系搬送アーム7を
支持した支持台8が配置されている。
【0017】上記支持台8の両側には、LCD基板のよ
うな被処理体を複数枚収納可能なカセット9を支持する
支持体となるカセットインデクサ10と、同様のカセッ
ト11を支持する支持体となるカセットインデクサ12
とが上記支持台8を挟んでそれぞれ対向して配置されて
いる。上記カセット9は、図3に示すように、略矩形の
LCD基板の形状に対応した筐体構造を有し、この筐体
の内壁面には複数枚の基板を所定間隔を空けて積層配列
することができるようなスロット9a〜9nが形成され
ている。このように構成された2つのカセット9、11
を、図1及び図2に示すように、対向して配置させるこ
とにより、1のカセットを未処理基板収納用とし、残り
のカセットを処理済み基板収納用として使用することが
でき、カセット交換の回数を低減することができる。ま
た上記のようにカセットを2つとせずにカセットを1つ
とした場合であっても、上記大気系搬送アーム7は載置
台7a、7bを上下二段に有しているから、一度に2枚
の処理済み基板を未処理基板を取りだしたカセットに戻
すことができるので、大気搬送系における搬送の作業効
率を高めることができる。
【0018】カセットインデクサ10、12の外周には
駆動機構13が設けられ、この駆動機構13には、第1
基板位置検出案内装置14と第2の基板位置検出案内
装置14’がカセット9、11に収納された基板の積層
表面に略平行に並進運動するように、すなわち相対向す
る方向(矢印方向)に運動するように取り付けられてい
る。本発明によれば、この第1および第2の基板位置検
出案内装置14、14’によりカセットの各スロットに
LCD基板が収納されているかどうかが検出され、また
LCD基板が収納されている場合には、収納されたLC
D基板のアライメントをとることが可能である。
【0019】図3に示すように、第1および第2の基板
位置検出案内装置14、14’は、略コの字断面を有し
縦方向に延伸する部材15からなり、コの字の2つの先
端にはカセット9の各スロット9a〜9nにそれぞれ収
納されたLCD基板に係合した場合に、それらのLCD
基板に損傷を与えないように、絶縁性を有する弾性材
料、たとえばMCナイロン樹脂からなる係合16が取
り付けられている。また係合16の外側面には、図4
に拡大して示すように、上記カセット9の各スロット9
a〜9nに対応する位置に張り出し部17a〜17b上
に固定された被処理体検出手段18a〜18bが設けら
れている。
【0020】これらの張り出し部17a〜17bおよび
被処理体検出手段18a〜18bは係合部16が基板に
係合した場合であっても、LCD基板に接触しない位置
に、図示の例では各LCD基板の下方に位置するように
設置されている。各被処理体検出手段18a〜18b
は、上方に向けて、すなわち各被処理体検出手段の検出
対象であるLCD基板に向けて取り付けられた発光素子
19と受光素子20からなる光学センサであり、LCD
基板が各スロット9a〜9nに収納されている場合に
は、発光素子19から発光された光が反射するので、そ
の反射光を受光素子20により補足し、その信号により
基板の有無を検出するものであり、従来の光学センサの
ように離れた位置に対向して設置されていないので煩雑
な光軸調整が不要な構成となっている。
【0021】また本発明に基づく他の実施例によれば、
図5に示すように、カセット9の各スロット9a〜9n
に収容された各基板に係合する係合部16の対応部位に
マイクロスイッチ21a〜21nを設置する構成を採用
することも可能である。このマイクロスイッチ21a〜
21nは各基板との接触によりスイッチング動作が生じ
るもので、かかる構成により、カセット9の各スロット
9a〜9nにそれぞれ基板が収納されているか否かが、
基板のアライメントととると同時に判断することができ
るものである。
【0022】一方上記大気系搬送アーム7は、上記カセ
ット9又は11と第2ロードロック室5との間でLCD
用基板を搬送するように構成されており、スペーサ7c
を挟んで上記各載置台7a、7bを上下に有し、一度に
2枚のLCD用基板Pを搬送することが可能となってい
る。また上記各載置台7a、7bの上面(載置面)側に
は、パーティクル発生の少ないPEEK材からなる吸着
パッド7dが4カ所に設けられており、搬送対象である
LCD用基板はこれら4カ所の吸着パッド7dによって
真空吸着され、強固に保持される。従ってLCD用基板
の高速搬送が可能であり、また大気系搬送アーム7起動
時、停止時において慣性によってLCD用基板が位置ズ
レすることもない。なお、この大気系搬送アーム7は、
上記支持台8上で回転自在かつ載置台7a、7bの長手
方向にスライド自在となるように構成され、またさらに
LCD用基板のピックアップやダウンを可能とする範囲
で上下動自在となるように構成されている。
【0023】上記支持台8の上面は、図1からも明らか
なように第2ロードロック室5の上面よりも低い位置に
あり、大気系搬送アーム7等のメンテナンスの際に作業
しやすくなっている。
【0024】上記の如く構成されている大気系搬送アー
ム7によって、被処理体であるLCD用基板Pがまず搬
入される上記第2ロードロック室5内には、図2に示し
たように、複数のLCD基板を保持するべく対向して配
置されたバッファ22によって構成されるバッファ機構
が設けられている。これら各バッファ22は左右対称形
であり、それぞれ対向するバッファ側に突出した載置部
を上下に有し、これら各載置部上に、LCD用基板の裏
面側端縁が載置されるように構成されている。また上記
第2ロードロック室5内には各バッファ22に載置され
たLCD用基板の位置合わせを行うためのポジショナー
31、32が、上記LCD用基板の対角線の延長線上に
て相互に対向するように設けられている。
【0025】上記第2ロードロック室5内で所定位置に
バッファされたLCD用基板は、図2に示される第1ロ
ードロック室2内に設けられた真空系の搬送アーム41
によって取り出され、当該搬送アーム41に併設された
バッファ機構51によって一旦そこでバッファされた
後、それぞれ所定のプロセスチャンバ1a、1b内に振
り分けられて搬送するように構成されている。
【0026】以上のように、本実施例にかかる真空処理
装置1は構成されている。次に、上記真空処理装置1の
処理動作について簡単に説明する。
【0027】まず未処理のLCD用基板を収納したカセ
ット9が、その出入口(オープン側)を既述の支持台8
側に向けてカセットインデクサ10のテーブル上の所定
位置にセットされると、本発明に基づいて構成された第
1および第2の基板位置検出案内装置14、14’が対
向側から接近し、カセット9内の各スロット9a〜9n
にそれぞれ収納されているLCD用基板のアライメント
とると同時に、全スロット9a〜9nにLCD用基板
が収納されているかどうかが検出される。このように本
実施例によれば、カセット9に収容されたLCD用基板
のアライメントとると同時に全スロットについてLC
D用基板の位置検出(マッピング)を行うことが可能な
ので、従来の装置に比較して、大幅に時間を節約するこ
とが可能であり、したがってスループットを向上させる
ことができる。また駆動装置もアライメント用のものだ
けで足りるので、イニシャルコストの低減とともにパー
ティクルの発生を抑えることができる。
【0028】ついで、この検出信号に基づいて、大気系
搬送アーム7が駆動され、LCD用基板が収納されてい
るスロットから処理対象となる2枚の基板が取り出され
る。その後大気系搬送アーム7は後退して90゜回転し
てからスライドして前進し、開放されたゲートバルブ6
から、これらLCD用基板を第2ロードロック室5内の
バッファ22に載置する。この後大気系搬送アーム7が
後退して退避し、ゲートバルブ6が閉じられて、上記第
2ロードロック室2内は所定の減圧雰囲気、例えば10
-1Torr程度まで真空引きされる。
【0029】そして上記第2ロードロック室2内におい
て、LCD用基板の位置合わせの確認がなされると、ゲ
ートバルブ4が開放された後、これらLCD用基板は搬
送アーム41によって第1ロードロック室2内に搬入さ
れ、バッファ機構51の載置部に載置される。その後ゲ
ートバルブ4が閉じられて第1ロードロック室2内は、
例えば10-3Torr程度まで減圧され、当該LCD用
基板はプロセスチャンバ1a内に搬送され、そこでエッ
チング処理がなされる。
【0030】その間、第2ロードロック室5内に残って
いたLCD用基板も、上記と同様な手順で第1ロードロ
ック室2内に搬入され、その後プロセスチャンバ1b内
に搬送されて、そこでエッチング処理がなされる。
【0031】そして第2ロードロック室5内にあったL
CD用基板が叙上のようなプロセスに付されている間、
カセットインデクサ10に載置されたカセット9から2
枚の未処理のLCD用基板が、大気系搬送アーム7によ
って取り出されて、第2ロードロック室5内に搬入さ
れ、位置合わせ並びにその検出が行われて第2ロードロ
ック室5内のバッファ22にて待機される。
【0032】一方最初にプロセスチャンバ1a内に搬入
されてエッチング処理が完了したLCD用基板は、一旦
搬送アーム41によって取り出され、バッファ機構51
の最下部の載置部に保持される。そしてその代わりに次
の未処理基板である上記LCD用基板が上記プロセスチ
ャンバ1a内に搬入されてエッチング処理に付される。
このようにエッチング処理済みのLCD用基板をバッフ
ァ機構51の最下部に保持させることにより、未処理の
上記LCD用基板の汚染が防止される。
【0033】その後上記エッチング処理済みのLCD用
基板は、次の処理工程であるアッシング処理を施すた
め、プロセスチャンバ1c内に搬入される。そして残り
の未処理基板であるLCD用基板が第1ロードロック室
2内に搬入され、バッファ機構51の最上部の載置部上
に載置され、空になった第2ロードロック室5内には次
の処理基板であるLCD用基板が搬入されてくる。
【0034】次にプロセスチャンバ1bにてエッチング
処理されたLCD用基板は、バッファ機構51における
最下部の載置部にて保持され、代わりに次の未処理基板
である上記LCD用基板が上記プロセスチャンバ1b内
に搬入されてエッチング処理に付される。同様にプロセ
スチャンバ1cにおいてアッシング処理が完了したLC
D用基板は、バッファ機構51の載置部に保持され、そ
の代わりに上記エッチング処理されたLCD用基板がこ
のプロセスチャンバ1c内に搬送されてアッシング処理
に付される。その後アッシング処理が完了したLCD用
基板は、バッファ機構51の別の載置部に保持される。
【0035】このようにして第2ロードロック室5内の
バッファには、最初の搬入時と全く同一位置関係にて処
理済みのLCD用基板が保持され、これら処理済みのL
CD用基板は、大気系搬送アーム7によって第2ロード
ロック室5から搬出され、大気中にあるカセット11内
に収納される。そして上記のようにして処理済みのLC
D用基板が全てのスロットに収納された後、カセット1
1は搬出され、別の空のカセットがカセットインデクサ
12上に載置され、次のLCD用基板の収納に備えて待
機する。
【0036】以上のように本発明を適用可能な真空処理
装置1は動作する。次に、上記のような真空処理装置1
の効果について説明する。
【0037】上述のように、本発明によれば、第1およ
び第2の基板位置検出案内装置14、14’によりカセ
ット9の各スロット9a〜9nに収納されたLCD基板
のアライメントをとると同時に、全スロットについてL
CD基板の位置検出(マッピング)を実行することがで
きるので、従来時間を要していたアライメントおよび
ッピング用の時間を短縮することが可能となり、スルー
プットを向上することが可能となった。また従来必須で
あったカセットまたはセンサ昇降用の駆動装置が不要と
なり、アライメント用駆動装置のみでマッピング動作を
行うことができるので、イニシャルコストを削減するこ
とができるとともに、パーティクルの発生を抑えること
が可能となる。また使用されるセンサについても従来の
ように光軸調整が不要となるので、作業工程を減らすこ
とができる。
【0038】なお上記実施例においては、図6に示すよ
うに、カセット9の対向面から2つの基板位置検出案内
装置14、14’を離隔接近させる構造を採用したが、
本発明はかかる構成に限定されず、図7に示すように、
カセット9の相異なる三方向から3つの基板位置検出案
内装置25、25’、25”を離隔接近させる構成、あ
るいは図8に示すように、カセット9の相異なる四方向
から4つの基板位置検出案内装置26、26’、2
6”、26’’’を離隔接近させる構成を採用し、アラ
イメントの精度を高めるように構成することが可能であ
る。またセンサについては、カセット9に収納可能な基
板と同数またはその整数倍のセンサが所定位置に設置さ
れていればよく、たとえばいずれかの基板位置検出案内
装置に取り付けたり、あるいは複数の基板位置検出案内
装置に取り付けたり、さらには1つの基板位置検出案内
装置に複数組のセンサを取り付けることによりマッピン
グ精度を向上させることも可能である。
【0039】また上記実施例においては、本発明に基づ
いて構成された位置検出案内装置を真空処理装置に適用
した例について説明したが、本発明はかかる実施例に限
定されず、被処理体を複数枚カセットに収容して処理を
行うプラズマエッチング装置、プラズマCVD装置、熱
CVD装置、アッシング装置、洗浄装置などの各種処理
装置および各種検査装置に適用することが可能である。
また被処理体についても、LCD基板に限定されず、複
数枚カセットに収容されるガラス基板、半導体ウェハな
どさまざまな板状部材のアライメントおよびマッピング
のために使用することが可能である。さらに本発明は搬
入搬出用のカセットに限定されず、複数枚の被処理体を
所定間隔を空けて積層配列する各種容器、たとえば縦型
炉のウェハボートのアライメントおよびマッピングのた
めにも使用することができる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
カセットの各スロットに収納された被処理体に対して離
隔接近可能に構成された位置検出案内装置により被処理
体のアライメントをとると同時に、全スロットについて
被処理体の位置検出(マッピング)を実行することがで
きるので、従来時間を要していたアライメントおよび
ッピング用の時間を短縮することが可能となり、スルー
プットを向上することが可能である。また従来必須であ
ったカセットまたはセンサ昇降用の駆動装置が不要とな
り、アライメント用駆動装置のみでマッピング動作を行
うことができるので、イニシャルコストを削減すること
ができるとともに、パーティクルの発生を抑えることが
可能となる。また使用されるセンサについても従来のよ
うに光軸調整が不要となるので、煩雑な作業工程を減ら
すことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかる真空処理装置の概略を
示す斜視図である。
【図2】本発明の実施例にかかる真空処理装置の概略を
示す平面図である。
【図3】本発明の実施例にかかる位置検出案内装置の概
略を示す斜視図である。
【図4】本発明の実施例にかかる位置検出案内装置にお
けるセンサの設置状態の概略を示す斜視図である。
【図5】本発明の他の実施例にかかる位置検出案内装置
におけるセンサの設置状態の概略を示す斜視図である。
【図6】カセットと位置検出案内装置との概略的な関係
を示す平面図である。
【図7】カセットと位置検出案内装置との概略的な関係
を示す平面図である。
【図8】カセットと位置検出案内装置との概略的な関係
を示す平面図である。
【符号の説明】
1 真空処理装置 1a、1b、1c プロセスチャンバ 2 第1ロードロック室 5 第2ロードロック室 7 大気系搬送アーム 8 支持台 9、11 カセット 9a〜9n スロット 10、12 カセットインデクサ 14、14’ 基板位置検出案内装置 15 コの字状部材 16 係合部 18 センサ 19 発光素子 20 受光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−248837(JP,A) 特開 平5−90389(JP,A) 実開 平5−10358(JP,U) 実開 昭61−153345(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/68 B65G 1/00 - 1/20

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理体が間隔を空けて積層配列された
    被処理体収納容器の外周付近に配置された複数の位置検
    出案内装置であって、 前記位置検出案内装置はそれぞれ、前記被処理体の周縁
    に係合して前記被処理体を案内する案内手段と、前記案
    内手段に設置された被処理体検出手段とを備え、 前記被処理体検出手段は、前記収納容器に収納された
    定数の前記被処理体にそれぞれ対応する位置に設置され
    前記所定数の整数倍の検出器から成り、 前記位置検出案内装置はそれぞれ、前記被処理体に相異
    なる方向から離隔接近可能に構成されていることを特徴
    とする、位置検出案内装置。
  2. 【請求項2】 前記複数の位置検出案内装置は、前記収
    納容器の出入口以外の対向する2つの方向から前記被処
    理体に離隔接近し係合することを特徴とする請求項1に
    記載の位置検出案内装置。
  3. 【請求項3】 前記被処理体が略矩形の板状体であるこ
    とを特徴とする請求項1または2に記載の位置検出案内
    装置。
  4. 【請求項4】 前記検出器の数は、前記収納容器で収納
    可能な基板の数と同数又はその整数倍にしたことを特徴
    とする請求項1〜3のいずれかに記載の位置検出案内装
    置。
  5. 【請求項5】 被処理体収納容器内に間隔を空けて積層
    配列された各被処理体の周縁に係合してその被処理体を
    案内する案内手段と、 この案内手段に設置され、前記収納容器に収納された
    定数の前記被処理体にそれぞれ対応する位置に設置され
    前記所定数の整数倍の検出器とから成る被処理体検出
    手段と、 を備えた複数の位置検出案内装置を用いた前記被処理体
    の位置検出案内方法であって、 前記収納容器に前記被処理体が収納された状態で、前記
    被処理体に相異なる方向から前記複数の位置検出案内装
    置が接近する工程を有することを特徴とする位置検出案
    内方法。
  6. 【請求項6】 前記複数の位置検出案内装置は、前記収
    納容器の出入口以外の対向する2つの方向から前記被処
    理体に離隔接近し係合することを特徴とする請求項5に
    記載の位置検出案内方法。
  7. 【請求項7】 前記被処理体が略矩形の板状体であるこ
    とを特徴とする請求項5または6に記載の位置検出案内
    方法。
  8. 【請求項8】 前記検出器の数は、前記収納容器で収納
    可能な基板の数と同数又はその整数倍にしたことを特徴
    とする請求項5〜7のいずれかに記載の位置検出案内方
    法。
  9. 【請求項9】 被処理体が間隔を空けて積層配列された
    被処理体収納容器と、この収納容器の外周付近に配置さ
    れた複数の位置検出案内装置とを備えた真空処理装置で
    あって、 前記各位置検出案内装置は、前記被処理体の周縁に係合
    して前記被処理体を案内する案内手段と、前記案内手段
    に設置された被処理体検出手段とを備え、 前記被処理体検出手段は、前記収納容器に収納された
    定数の前記被処理体にそれぞれ対応する位置に設置され
    前記所定数の整数倍の検出器から成り、 前記各位置検出案内装置は、前記被処理体に相異なる方
    向から離隔接近可能に構成されていることを特徴とす
    る、真空処理装置。
JP04037594A 1992-07-29 1994-02-15 位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置 Expired - Fee Related JP3468430B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04037594A JP3468430B2 (ja) 1994-02-15 1994-02-15 位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置
TW085200130U TW369210U (en) 1994-02-15 1995-02-11 An apparatus for detecting and aligning a substrate
US08/389,226 US5636960A (en) 1992-07-29 1995-02-15 Apparatus for detecting and aligning a substrate
KR1019950002816A KR100273810B1 (ko) 1994-02-15 1995-02-15 기판 위치검출 및 안내장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04037594A JP3468430B2 (ja) 1994-02-15 1994-02-15 位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07231031A JPH07231031A (ja) 1995-08-29
JP3468430B2 true JP3468430B2 (ja) 2003-11-17

Family

ID=12578908

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04037594A Expired - Fee Related JP3468430B2 (ja) 1992-07-29 1994-02-15 位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP3468430B2 (ja)
KR (1) KR100273810B1 (ja)
TW (1) TW369210U (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6053983A (en) * 1997-05-08 2000-04-25 Tokyo Electron, Ltd. Wafer for carrying semiconductor wafers and method detecting wafers on carrier
TW442891B (en) 1998-11-17 2001-06-23 Tokyo Electron Ltd Vacuum processing system
JP4832682B2 (ja) * 2001-09-18 2011-12-07 東京エレクトロン株式会社 無人搬送車
KR100738661B1 (ko) * 2004-12-21 2007-07-11 주식회사 대우일렉트로닉스 씨알티 잔상 제거 회로
JP4642610B2 (ja) * 2005-09-05 2011-03-02 東京エレクトロン株式会社 基板位置合わせ装置および基板収容ユニット
JP5501688B2 (ja) * 2009-07-30 2014-05-28 東京エレクトロン株式会社 基板位置合わせ機構、それを用いた真空予備室および基板処理システム
US9255896B2 (en) 2013-06-18 2016-02-09 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Glass panel stocking system and stocking method
CN103287852B (zh) * 2013-06-18 2015-06-03 深圳市华星光电技术有限公司 玻璃面板堆垛系统及堆垛方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW369210U (en) 1999-09-01
JPH07231031A (ja) 1995-08-29
KR100273810B1 (ko) 2000-12-15
KR950034563A (ko) 1995-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5636960A (en) Apparatus for detecting and aligning a substrate
US5558482A (en) Multi-chamber system
KR101554768B1 (ko) 열처리 장치 및 이것에 기판을 반송하는 기판 반송 방법
US9514974B2 (en) Process apparatus with on-the-fly substrate centering
JP4542893B2 (ja) バッファを備えた基板ローディング及びアンローディングステーション
US6702865B1 (en) Alignment processing mechanism and semiconductor processing device using it
JP3468430B2 (ja) 位置検出案内装置、位置検出案内方法及び真空処理装置
JPH08288368A (ja) 基板の整列装置および方法
JPH06247507A (ja) 搬送アーム
JP2003218018A (ja) 処理装置
JP3335983B2 (ja) Lcd用ガラス基板の位置合わせ機構及び真空処理装置
JP3065843B2 (ja) 被処理体の検出装置
JP2862956B2 (ja) 基板搬送装置
JP3165947B2 (ja) 真空室のドア装置
JP2002305233A (ja) ウェハ搬送用アーム
JPH05294405A (ja) 基板検出装置
JPH05129417A (ja) 板状体の処理装置
JPH06345261A (ja) 自動搬送装置の搬送用ハンド
KR100256215B1 (ko) 멀티챔버 시스템
JP2001093958A (ja) 基板移送装置
JP3174452B2 (ja) 基板検出方法
JPH04293250A (ja) 基板搬送装置
JP2515325Y2 (ja) 基板の搬出・搬入装置
JP3029409B2 (ja) 基板処理装置
KR100497440B1 (ko) 기판부상장치용 위치정렬기구

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030821

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120905

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees