JP3466443B2 - 多層回路基板 - Google Patents

多層回路基板

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はエリアアレイ状に配
列された接続電極を有する半導体チップあるいはエリア
アレイ状に外部接続端子が配列された半導体装置等の電
子部品を搭載するための多層回路基板に関する。
【0002】
【従来の技術】最近の半導体装置ではロジックデバイス
の高機能化、高密度化が進み、入出力数が増大して実装
密度がさらに高まっている。このため半導体チップの電
極形成面でエリアアレイ状に電極を配列し、電極形成ス
ペースの不足を補う製品が提供されるようになってき
た。図11は通常のフリップチップ接続により半導体チ
ップ4を回路基板5に搭載した例である。この半導体チ
ップ4は周縁部に電極6を配列したもので、一つの平面
内ですべての電極6と回路パターン7とを接続してい
る。
【0003】図12は半導体チップを搭載する回路基板
に設けたランド8とランド8から引き出した回路パター
ン7の配置例である。この例ではランド8を2列に配列
し、ランド8の中間から1本ずつ回路パターン7を引き
出すことにより、一平面ですべてのランド8から回路パ
ターン7を引き出すことができる。しかしながら、電極
形成面に縦横に多数列で電極を配列したような場合に
は、ランド間隔やランド数にもよるが一つの平面内です
べてのランドから外側に配線を引き出すことができなく
なる。
【0004】このような問題を解決する方法として、半
導体チップを搭載する回路基板を多層に形成し、積層す
る各回路基板の回路パターンを適当に配置することによ
って半導体チップのすべての電極と回路パターンとを電
気的に接続する方法がある。図13は多層回路基板にエ
リアアレイ状に電極6を配列した半導体チップ4を搭載
した例である。このような多層回路基板を用いれば回路
パターンを短絡させることなく、エリアアレイ状に配列
された電極6を有する半導体チップ4であってもすべて
の電極6と回路パターン7、7aとを電気的に接続して
搭載することができる。同図で7aは内層の回路パター
ン、5a〜5dは第1層〜第4層の回路基板、9は外部
接続端子である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、電極を
エリアアレイ状に配列した半導体チップを回路基板に搭
載する場合、電極数がそれほど多くない場合は2層程度
の多層回路基板ですむのであるが、30×30ピン、4
0×40ピンといったきわめて多くの電極を配列した半
導体チップを搭載するような場合には、6〜10層とい
った層数が必要になってくる。
【0006】高密度に回路パターンが形成された回路基
板を積層して多層回路基板を構成する場合は、ビルドア
ップ法等の高密度配線方法が利用される。しかし、多層
回路基板の製造では製品の歩留り、信頼性、製造コスト
の点で大きな問題がある。すなわち、回路基板を多層に
形成する場合は、1層ごとに回路パターンと層間の回路
パターンを電気的に接続するためのビアを形成して順次
積み上げていくようにするから、その製造プロセスには
高精度が要求され、現在の製造プロセスにおいても必ず
しも信頼性が高くはない。そして、多層に形成する場合
はすべての層で不良がないことが要求されるため、技術
的な困難さが増大するという問題点がある。
【0007】したがって、多層回路基板を歩留りよく製
造する方法として、配線層の層数を減らすことがきわめ
て有効になる。本発明は実装面側に40×40ピンとい
った多ピンでエリアアレイ状に電極を配置した半導体チ
ップ、あるいは実装面側にエリアアレイ状に電極を配置
した半導体装置等の電子部品を搭載する多層回路基板に
関するものであり、これらの半導体チップあるいは半導
体装置等を搭載する多層回路基板として、回路基板の積
層数を減らし、これによって多層回路基板の製造歩留り
を向上させ、信頼性の高い製品として提供できるように
することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するため次の構成を備える。すなわち、電子部品が実装
される面側にエリアアレイ状に多数個配列されたランド
および/またはビアと、一端が前記ランドおよび/また
はビアに接続され、他端が前記ランドおよび/またはビ
アがエリアアレイ状に配列された領域内から、連続して
配置された3つのランドおよび/またはビアから中間の
1つのランドおよび/またはビアを取り除くことによ
り、両端のランドおよび/またはビアの間に4本以上の
回路パターンを通過させる条件下で引き出された回路パ
ターンとを有する複数の回路基板を積層して成る多層回
路基板であって、前記電子部品が実装される面側の第1
層目の回路基板に形成された回路パターンが、エリアア
レイ状に配列されたランドの最も外側に位置するすべて
のランドと、その内側の第2列目および第3列目のラン
ドから交互に一つずつ選択されたランドに各々接続され
て配置され、第2層目の回路基板に形成された回路パタ
ーンが、第1層目で回路パターンが接続されない第2列
目のランドに電気的に接続するすべてのビアと、第1層
目での第4列目および第5列目のすべてのランドに電気
的に接続するビアに各々接続されて配置され、第3層目
の回路基板に形成された回路パターンが、第1層目で回
路パターンが接続されない第3列目のランドに電気的に
接続するすべてのビアと、第1層目での第6列目および
第7列目のすべてのランドに電気的に接続するビアに各
々接続されて配置され、第4層目の回路基板に形成され
た回路パターンが、第1層目での第8列目および第9列
目のランドに電気的に接続するすべてのビアに各々接続
されて配置されていることを特徴とする。また、前記第
1層〜第3層の回路基板に設けられた回路パターンと同
配置で回路パターンが設けられた回路基板を前記第1層
〜第3層と同一順で繰り返して多層に積層し、さらに前
記第4層目の回路パターンと同配置で回路パターンが設
けられた回路基板を積層して成ることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る多層回路基板
の実施形態について、添付図面とともに詳細に説明す
る。本発明に係る多層回路基板は、多層回路基板を構成
する各回路基板での回路パターンの配置を工夫すること
によって、エリアアレイ状に多数個の電極が配列された
電子部品を搭載する多層回路基板の層数を減らし、多層
回路基板の製作を容易にしようとするものであり、以下
では、具体的に各層に設ける回路パターンの配置につい
て説明する。
【0010】なお、電子部品とは半導体チップあるいは
半導体チップを搭載した半導体装置を意味するものであ
り、いずれもエリアアレイ状に電極あるいは外部接続端
子を配列したものを対象とする。回路パターンは、これ
らの電極あるいは外部接続端子に一端が接続され、他端
がこれらの電極あるいは外部接続端子が配列された領域
から外側に引き出されるものである。
【0011】本発明に係る多層回路基板は4層を単位と
して回路パターンの引き出し状態が元の状態に戻るよう
になる。したがって、以下では回路パターンの引き出し
方法が一巡する4層部分の構成を示すが、5層以上の多
層回路基板として構成する場合も同様に適用できるもの
である。図1〜4は第1層〜第4層の各層での回路パタ
ーンの配置を示し、図5〜8は各層の回路パターンの断
面図を示す。
【0012】図1は多層回路基板の第1層目の回路基板
に形成する回路パターン10の配置(引き出し方法)を
示す。本実施形態の多層回路基板は電極等の接続部が格
子状に配列された電子部品を搭載するものであり、第1
層にはこれら接続部の配置ピッチに合わせて格子状にラ
ンド12が配列されている。図10に示すように、搭載
する半導体チップ等の搭載物の実装面には所定の行数お
よび列数で電極等の接続部が配列されている。多層回路
基板の第1層には、これら接続部の配置と同一配置でラ
ンド12が形成される。図1はこのようなランド12の
配列領域のうちの一部を示す。
【0013】図1で14は第1層のランド12と第2層
もしくは第3、4層の回路パターン10とを電気的に接
続するビアの配置位置を示す。多層回路基板に形成され
るビアには、製法によってランド12と同位置に形成す
る場合と、図示例のようにランド12の位置から横に偏
位した位置に形成する場合がある。なお、第1層ですで
に回路パターン10が接続しているランド12について
はビア14を形成する必要がないから、このようなラン
ド12についてはビア14の配置位置を示していない。
【0014】図1に示す第1層での回路パターン10の
配置として特徴的な構成は、エリアアレイ状に配列され
たランドの最外周のランド12a(1列目のランド)に
ついてはすべて回路パターン10を接続し、その内側の
第2列目のランド12bと、さらにその内側の第3列目
のランド12cについては、交互に回路パターン10を
引き出すことにある。第2列目と第3列目のランド12
b、12cからの回路パターン10の引き出しは、従来
方法と同様に隣接するランド間を通過して引き出すもの
である。
【0015】このように、第2列目のランド12bと第
3列目のランド12cから交互に回路パターン10を引
き出すことにより、第2列目のランド12bと第3列目
のランド12cが配列された列には一つおきにランド1
2b、12cが残ることになる。残ったランド12b、
12cについてはビア14を介して次層との間で電気的
に接続する。なお、ランド12bに接続するビア14b
については他のビア14の配置とは逆にランド12bに
対し外側に偏位させて配置する。これは、第2層目以降
で回路パターン10を配置する際に、余裕をもって回路
パターン10が配置できるようにするためである。
【0016】図5は多層回路基板を断面方向から見た第
1層の回路パターン10の配置を示す。第1層では最も
外側のランド12と、その内側の第2列目、第3列目の
ランド12に回路パターン12が接続されることを示
す。
【0017】図2は多層回路基板の第2層目の回路基板
に形成する回路パターン10の配置を示す。第2層目で
は第1層目で回路パターン10を引き出した以外のラン
ドについて回路パターン10を引き出す。第2層目以降
については、ビア14を介して第1層のランド12と電
気的に接続するから、第2層目以降の各層ではビア14
と回路パターン10とが接続されるようになる。したが
って、ビア14と回路パターン10とを接続した状態の
図で示している。
【0018】第2層では、第1層で回路パターン10が
接続されていないランド12b、12cと電気的に接続
するビア14b、14cと、第1層の残りのランド12
と電気的に接続するビア14が形成されている。第2層
での回路パターン10の配置として特徴的な構成は、第
2列目のランド12bに接続するランド14bから回路
パターン10を引き出す一方、第3列目のランド12c
に接続するランド14cと回路パターン10とを接続さ
せず、さらに内側の第4列目と第5列目のランドに接続
するビア14d、14eに回路パターン10を接続する
ことにある。
【0019】第2列目のランド12bに対応するビア1
4bは、第2層では最も外側に位置するから、これらの
ビア14bに回路パターン10を接続することについて
はなんら制約がない。上記のように、第2層目では第4
列目と第5列目のビア14d、14eと回路パターン1
0とを接続するが、図示したように、第4列目のビア1
4dと第5列目のビア14eについては、すべてのビア
14が回路パターン10に接続される点が特徴である。
図6は第2層目で、ビア14d、14eを介して回路パ
ターン10がランドと電気的に接続されること、ビア1
4bを介して第1層で取り残されたランドと回路パター
ン10とが電気的に接続されることを示す。
【0020】このように、第4列目と第5列目のすべて
のビア14d、14eが回路パターン10と接続できる
のは、第1層目の回路パターン10を配置する際に、第
2列目と第3列目のランド12b、12cと交互に回路
パターン10を残すようにしたことによる。すなわち、
交互にランド12b、12cを残すということは、第2
層目には、第2列目と第3列目でランド12b、12c
を取り除いたことによる空きスペースが交互にできてい
るということである。
【0021】多層回路基板を構成する回路基板での回路
パターン10を設計する場合、決められたスペース内に
何本の回路パターン10を通過させることができるか
は、多層回路基板の層数を有効に減らすことができるか
否か判断する基準となる。本実施形態では、第1層目で
第2列目と第3列目のランド12b、12cを交互に選
択したことにより、回路パターン10を通過させる空き
スペースを確保し、これによって回路パターン10の効
率的な配置を可能にしたものである。
【0022】ランド間に回路パターンを引き回す設計を
する場合は、製品によって回路パターンの線幅、回路パ
ターンの離間間隔、ランド径、ランドピッチ等があらか
じめ決められており、これらの条件に従って設計され
る。回路パターンの配置で単純な形式として、ランド間
に1本のみ回路パターンを通過させる条件の場合がある
が、この場合、特定のランドを取り除いてそれが有効か
否かは、そのランドを取り除いたことによって本来配置
できる回路パターンの数よりも本数を増やせるか否かに
かかる。そして、特定のランドを取り除いて回路パター
ンをより多く通すことができる場合には、ランドを適宜
取り除く設計をすることにより、多層回路基板の層数を
減らすことが可能である。
【0023】図9は回路パターン10を配置する場合の
簡単な例を示す。図9(a) は中間にランド12がある場
合で、回路パターン10が3本引けているのに対し、図
9(b) は中間のランド12を取り除くことによって、回
路パターン10が4本引けるようになることを示す。こ
のように、ランド12を取り除くことによって回路パタ
ーン10が本来の本数よりも多く配置できる場合には、
ランド12を取り除く設計は多層回路基板の層数を減ら
すことに有効になる。
【0024】本実施形態の多層回路基板では、3つ並ん
でいるランド12のうち中間の1つのランド12を取り
除くことによって、3つのランド12の中間に回路パタ
ーン10を4本引くことができて、図2に示すように、
第4列目と第5列目のすべてのビア14d、14eに回
路パターン10を接続することを可能としている。
【0025】なお、一般に、ランドがn個均等間隔で並
ぶ配置で、両端のランドを除いて中間の(n−2)個の
ランドがないとした場合、両端のランドを除いて両端の
ランド間に通す(配置する)ことができる配線の数をm
とすると、mは次式で与えられる。 m={(ランドピッチ)×(n−1) −(ランド径)−
(パターン間スペース)}÷(パターン幅+スペース) ここで、ランドピッチとはランドの中心間距離、ランド
径とはランドの直径、パターン間スペースとは隣接する
回路パターン間であけなければならない最小間隔であ
る。
【0026】ここで、隣接するランド間には1本の回路
パターンしか通すことができないという条件になってい
る場合で考えると、両端のランドではさまれた中間に配
置できる回路パターンの数lは l=(n−1)+(n−2)=2n−3 である。これは、n個のランドの間には回路パターンを
通過させるチャネルが(n−1)個あることと、両端の
ランドを除いた中間に(n−2)個のランドが含まれ、
これらのランドから1本ずつ回路パターンを引き出すこ
とによる。
【0027】したがって、前記mとlとを比較し、m=
lの場合にはn個のランドのうち、中間のすべてのラン
ドを取り除く設計をしたとしても、回路パターンを増加
させる効果が得られず、一方、m>lの場合には、中間
のランドを取り除く設計をすることにより、回路パター
ンを増やす効果が得られることになる。したがって、多
層回路基板の層数をできるだけ少なくするには、整数n
をパラメータとしてm>lとなる最小のnの値を選び、
そのnの値にしたがって回路パターンを配列するように
デザインすればよい。本実施形態の場合は、n=3の場
合にあたっている。
【0028】図3は第3層目の回路基板での回路パター
ン10の配置を示す。第3層目では第1層で残した第3
列目のランド12cと電気的に接続するビア14cと、
第6列目および第7列目のビア14f、14gとに回路
パターン10を接続する。ビア14cは最も外側に位置
するから、これらのビア14cに回路パターン10を接
続する際の制約はない。また、第6列目と第7列目のビ
ア14f、14gについては、第2層目と同様にすべて
のビア14f、14gに回路パターン10を接続するこ
とができる。すなわち、上述した第2層目での回路パタ
ーン10の配置の工夫により、ビア14f、14gの外
側に位置するビア14b、14d、14eが回路パター
ン10の引き出しに制約とならないようになっている。
【0029】図7では、第3層目で第6列目と第7列目
のビア14f、14gと回路パターン10とを接続し、
かつ第1層目で残したランド12cにビア14cを介し
て電気的に接続して、回路パターン10が接続すること
を示す。
【0030】図4は第4層目の回路基板での回路パター
ン10の配置を示す。第4層目では内周の第8列目と第
9列目のビア14h、14iのみが残るだけである。し
たがって、通常の配置方法ですべてのビア14h、14
iに回路パターン10を接続することができる。図8は
ビア14h、14iが回路パターン10に接続し、ビア
14h、14iを介して第1層のランド12と回路パタ
ーン10とが電気的に接続されることを示している。
【0031】以上説明したように、4層構造をもって最
も外側のランド12が一線にならぶ状態、いわば元の状
態と同じ状態になる。この状態は、エリアアレイ状に配
列されたランド12に対して、新たに回路パターン10
を引き出す状態と同じであり、さらに内側にランド12
が配列されている場合には、上記実施形態と同様にして
さらに内側のランド12に対して回路パターン10を配
置していく。たとえば、第4層目については図1に示し
た第1層目とまったく同一の配置で回路パターン10を
配置し、第5層目については図2に示した第2層目での
回路パターン10とまったく同一の配置として設計して
いくといった方法を続ければよい。
【0032】本発明に係る多層回路基板は、このよう
に、上述した回路パターン10の配置方法を4層ごと繰
り返して、最終的に多層形成して成るものである。ただ
し、エリアアレイ状に配列されているランドの数がある
程度以下の場合には、4層までですべてのランドに回路
パターンを接続することができる。すなわち、図1〜4
に示す説明でわかるように、ランド数が9列の場合に
は、4層ですべてのランドに回路パターンを接続するこ
とができる。図10に示すように、外側が30×30ピ
ンで内側の12×12ピンの配列部分を除いたロの字形
の領域に電極(ランド)を配列した製品の場合には、上
記の4層構造ですべてのランドに回路パターンを接続す
ることができる。
【0033】このように本発明に係る多層回路基板はラ
ンド数が9列以下といったある程度以下の搭載物につい
ては特に有効に利用することができる。また、本発明に
係る多層回路基板では、回路パターン10を引き出す際
に、ある程度外側から順次回路パターン10を引き出す
ように配列されるから、引き出し順が大きく変わらない
という利点がある。
【0034】また、比較的単純な回路パターン10の配
置方法によって層数を減らすことができ、これによって
多層回路基板の製作を容易にし、歩留りを向上させ、製
造コストを引き下げることができるとともに、短納期で
信頼性の高い多層回路基板として提供することが可能に
なる。
【0035】
【発明の効果】本発明に係る多層回路基板は、上述した
ように、ランドまたはビアを配列した領域内から効率的
に回路パターンを引き出すことを可能とする。これによ
って、多層回路基板の層数を減らすことを可能とし、多
層回路基板の製造歩留りを向上させ、信頼性の高い多層
回路基板として短納期で提供することができる等の著効
を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る多層回路基板の一実施形態での第
1層の回路パターンの配置を示す説明図である。
【図2】一実施形態での第2層の回路パターンの配置を
示す説明図である。
【図3】一実施形態での第3層の回路パターンの配置を
示す説明図である。
【図4】一実施形態での第4層の回路パターンの配置を
示す説明図である。
【図5】一実施形態での第1層の回路パターンの配置を
示す断面図である。
【図6】一実施形態での第2層の回路パターンの配置を
示す断面図である。
【図7】一実施形態での第3層の回路パターンの配置を
示す断面図である。
【図8】一実施形態での第4層の回路パターンの配置を
示す断面図である。
【図9】ランドを取り除いた場合での回路パターンの配
置例を示す説明図である。
【図10】半導体チップ等の電子部品での接続部の配列
例を示す説明図である。
【図11】フリップチップ接続により半導体チップを搭
載する方法を示す説明図である。
【図12】ランドに回路パターンを接続した従来例を示
す説明図である。
【図13】多層回路基板に半導体チップを搭載した状態
の断面図である。
【符号の説明】
4 半導体チップ 5a、5b、5c、5d 回路基板 6 電極 7 回路パターン 10 回路パターン 12、12a、12b、12c ランド 14、14b〜14i ビア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田窪 知章 神奈川県横浜市磯子区新磯子町33番地 株式会社東芝 生産技術研究所内 (56)参考文献 特開 平8−330474(JP,A) 特開 平10−303562(JP,A) 特開 平11−135676(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 H01L 23/12 H05K 3/40 H05K 3/46

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子部品が実装される面側にエリアアレ
    イ状に多数個配列されたランドおよび/またはビアと、 一端が前記ランドおよび/またはビアに接続され、他端
    が前記ランドおよび/またはビアがエリアアレイ状に配
    列された領域内から、連続して配置された3つのランド
    および/またはビアから中間の1つのランドおよび/ま
    たはビアを取り除くことにより、両端のランドおよび/
    またはビアの間に4本以上の回路パターンを通過させる
    条件下で引き出された回路パターンとを有する複数の回
    路基板を積層して成る多層回路基板であって、 前記電子部品が実装される面側の第1層目の回路基板に
    形成された回路パターンが、エリアアレイ状に配列され
    たランドの最も外側に位置するすべてのランドと、その
    内側の第2列目および第3列目のランドから交互に一つ
    ずつ選択されたランドに各々接続されて配置され、 第2層目の回路基板に形成された回路パターンが、第1
    層目で回路パターンが接続されない第2列目のランドに
    電気的に接続するすべてのビアと、第1層目での第4列
    目および第5列目のすべてのランドに電気的に接続する
    ビアに各々接続されて配置され、 第3層目の回路基板に形成された回路パターンが、第1
    層目で回路パターンが接続されない第3列目のランドに
    電気的に接続するすべてのビアと、第1層目での第6列
    目および第7列目のすべてのランドに電気的に接続する
    ビアに各々接続されて配置され、 第4層目の回路基板に形成された回路パターンが、第1
    層目での第8列目および第9列目のランドに電気的に接
    続するすべてのビアに各々接続されて配置されているこ
    とを特徴とする多層回路基板。
  2. 【請求項2】 前記第1層〜第3層の回路基板に設けら
    れた回路パターンと同配置で回路パターンが設けられた
    回路基板を前記第1層〜第3層と同一順で繰り返して多
    層に積層し、さらに前記第4層目の回路パターンと同配
    置で回路パターンが設けられた回路基板を積層して成る
    ことを特徴とする請求項1記載の多層回路基板。
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000174153A (ja) 1998-12-01 2000-06-23 Shinko Electric Ind Co Ltd 多層配線基板
DE60039569D1 (de) * 1999-11-02 2008-09-04 Canon Kk Gedruckte Leiterplatte
US6538213B1 (en) * 2000-02-18 2003-03-25 International Business Machines Corporation High density design for organic chip carriers
JP3407025B2 (ja) 2000-06-08 2003-05-19 Necエレクトロニクス株式会社 半導体装置及びその製造方法
US7281326B1 (en) 2000-06-19 2007-10-16 Nortel Network Limited Technique for routing conductive traces between a plurality of electronic components of a multilayer signal routing device
US20040212103A1 (en) * 2000-06-19 2004-10-28 Herman Kwong Techniques for pin arrangements in circuit chips
US7069646B2 (en) * 2000-06-19 2006-07-04 Nortel Networks Limited Techniques for reducing the number of layers in a multilayer signal routing device
US7725860B1 (en) 2000-06-19 2010-05-25 Herman Kwong Contact mapping using channel routing
US7259336B2 (en) 2000-06-19 2007-08-21 Nortel Networks Limited Technique for improving power and ground flooding
US7107673B2 (en) * 2000-06-19 2006-09-19 Nortel Networks Limited Technique for accommodating electronic components on a multiplayer signal routing device
US6459039B1 (en) * 2000-06-19 2002-10-01 International Business Machines Corporation Method and apparatus to manufacture an electronic package with direct wiring pattern
US6388890B1 (en) * 2000-06-19 2002-05-14 Nortel Networks Limited Technique for reducing the number of layers in a multilayer circuit board
US6762366B1 (en) * 2001-04-27 2004-07-13 Lsi Logic Corporation Ball assignment for ball grid array package
US6384341B1 (en) * 2001-04-30 2002-05-07 Tyco Electronics Corporation Differential connector footprint for a multi-layer circuit board
US6664483B2 (en) * 2001-05-15 2003-12-16 Intel Corporation Electronic package with high density interconnect and associated methods
US7061116B2 (en) * 2001-09-26 2006-06-13 Intel Corporation Arrangement of vias in a substrate to support a ball grid array
US20030102159A1 (en) * 2001-12-04 2003-06-05 Loo Mike C. Optimum power and ground bump pad and bump patterns for flip chip packaging
EP1472730A4 (en) * 2002-01-16 2010-04-14 Mann Alfred E Found Scient Res HOUSING FOR ELECTRONIC CIRCUITS WITH REDUCED SIZE
US6814463B2 (en) 2002-02-14 2004-11-09 Tektite Industries, Inc. LED flashlight and printed circuit board therefor
US7227254B2 (en) * 2002-04-02 2007-06-05 Agilent Technologies, Inc. Integrated circuit package
JP4559163B2 (ja) * 2004-08-31 2010-10-06 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置用パッケージ基板およびその製造方法と半導体装置
DE102004047753B4 (de) 2004-09-30 2009-01-02 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale Verbesserte Chip-Kontaktierungsanordnung für Chip-Träger für Flip-Chip-Anwendungen
JP4860994B2 (ja) * 2005-12-06 2012-01-25 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US7838778B1 (en) 2006-04-26 2010-11-23 Marvell Israel (M.I.S.L.) Ltd. Circuit board layout
US8053349B2 (en) * 2007-11-01 2011-11-08 Texas Instruments Incorporated BGA package with traces for plating pads under the chip
JP2009135147A (ja) * 2007-11-28 2009-06-18 Shinko Electric Ind Co Ltd 配線基板及び電子素子の接続構造及び電子装置
CN102097333B (zh) * 2010-11-01 2012-10-17 华为终端有限公司 电路板设计方法、电路板及电子设备
US9466578B2 (en) * 2013-12-20 2016-10-11 Qualcomm Incorporated Substrate comprising improved via pad placement in bump area
CN105513498B (zh) * 2016-02-04 2018-12-25 京东方科技集团股份有限公司 一种覆晶薄膜及显示装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4202007A (en) * 1978-06-23 1980-05-06 International Business Machines Corporation Multi-layer dielectric planar structure having an internal conductor pattern characterized with opposite terminations disposed at a common edge surface of the layers
US4782193A (en) * 1987-09-25 1988-11-01 Ibm Corp. Polygonal wiring for improved package performance
US4887148A (en) * 1988-07-15 1989-12-12 Advanced Micro Devices, Inc. Pin grid array package structure
US5467252A (en) * 1993-10-18 1995-11-14 Motorola, Inc. Method for plating using nested plating buses and semiconductor device having the same
US5650660A (en) * 1995-12-20 1997-07-22 Intel Corp Circuit pattern for a ball grid array integrated circuit package
JP3050807B2 (ja) * 1996-06-19 2000-06-12 イビデン株式会社 多層プリント配線板
US5812379A (en) * 1996-08-13 1998-09-22 Intel Corporation Small diameter ball grid array pad size for improved motherboard routing
JP2000100851A (ja) * 1998-09-25 2000-04-07 Sony Corp 半導体部品及びその製造方法、半導体部品の実装構造及びその実装方法

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