JP3465338B2 - 露光方法 - Google Patents

露光方法

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JP3465338B2
JP3465338B2 JP03094094A JP3094094A JP3465338B2 JP 3465338 B2 JP3465338 B2 JP 3465338B2 JP 03094094 A JP03094094 A JP 03094094A JP 3094094 A JP3094094 A JP 3094094A JP 3465338 B2 JP3465338 B2 JP 3465338B2
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剛 楢木
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は露光方法に関し、例えば
液晶表示装置を製造するための感光基板に大面積のパタ
ーンを露光する露光装置の露光方法に適用し得る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の露光装置では、露光対象
となる感光基板の大型化に対処するため、感光基板の露
光領域を複数の単位領域に分割して各単位領域に応じた
露光を繰り返し、これにより感光基板のほぼ全面に亘つ
て最終的に所望するパターンの画面を合成するものがあ
る。
【0003】例えば図6に示すように、感光基板1上の
矩形の露光領域が接続部2〜5によつて縦横方向にそれ
ぞれ2分されて、矩形の露光領域1A〜1Dが設定され
た場合を考える。この場合には所望する全体のパターン
のうちまず露光領域1Aに対応したレチクル上の分割パ
ターンが露光領域1Aに露光される。この後、レチクル
を交換して露光領域1B〜1Dにそれぞれ露光すると所
望する全体のパターンの画面が合成される。
【0004】ところで露光領域1A〜1Dには、感光基
板1の平面度の誤差及び現像プロセスや熱等を原因とす
る平面度の狂いが存在する。また感光基板1の底部に塵
が付着すれば露光領域1A〜1Dは投影レンズの光軸に
対して傾斜する。
【0005】ここで図7に示すように、感光基板1が露
光領域1Aと1Bとの方向に傾斜しているとき、例えば
投影レンズの焦点を露光領域1A〜1Dの中心6A〜6
Dにそれぞれ合わせると、露光領域1A〜1Dに対応し
て高さが異なる分割パターンの像面7A〜7Dがそれぞ
れ得られる。この分割パターンの像面7A〜7Dを同一
高さにつなぎ、この分割パターンの像面7A〜7Dを基
準にして露光領域1A〜1Dの高さを見たときには、図
8に示すように、接続部2及び4において段差が明らか
に発生する。
【0006】このような段差が発生すると、接続部2の
露光領域1A側と露光領域1B側とで焦点位置のずれが
大きくなる。同様に接続部4の露光領域1C側と露光領
域1D側とで焦点位置のずれが大きくなる。これにより
接続部2及び4ではパターンの線幅差が大きくなり、分
割パターンの線幅は連続的に変化しなくなる。
【0007】このような場合、特にアクテイブマトリク
ス型の液晶デバイスでは、薄膜トランジスタの動作特性
が影響を受け、露光領域1A〜1Dの接続部におけるコ
ントラストに差が生じる。このコントラストの差は僅か
であつても人間の視覚特性から知覚され易い。このため
接続部でコントラストが断続的に変化するとデバイスの
表示品質が低下する。
【0008】これを避けるため感光基板1の露光前に
は、まず露光領域1A〜1Dの中心6A〜6Dの高さ又
は露光領域1A〜1D内の複数の測定点の高さがそれぞ
れ測定される。図7に示すように、これらの高さに基づ
いて平面度の狂いやテーパ分、傾斜による露光領域1A
〜1Dの高さの違いが平均化する仮想的な中心の面8が
感光基板1に設定される。
【0009】この後、感光基板1は、この仮想的な中心
の面8が投影レンズの光軸に対して直角になるように傾
斜を調整される。さらに投影レンズの焦点を露光領域1
A〜1Dの中心6A〜6Dにそれぞれ合わせて合成露光
すると、それぞれの接続部2〜5では分割パターンの線
幅はほぼ連続的に変化すると考えられる(線幅差が小さ
くなる)。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、実際上、露
光領域1A〜1Dの平面度の狂い、傾斜による高さの違
いは感光基板1毎に異なり、またその位置、大きさ及び
形状も一様ではない。このため図9に示すように、仮想
的な中心の面8の高さと露光領域1A〜1Dの中心6A
〜6Dで得た像面7A〜7Dの高さとはほとんどの場合
一致しないことになる。
【0011】これにより互いに隣接する露光領域1A〜
1Dの像面7A〜7Dの間に焦点位置の誤差9が発生す
る。従つて接続部2〜5における分割パターンの線幅
は、露光された露光領域1A〜1D毎に異なり、連続的
に変化しない(線幅差が大きくなる)という問題があつ
た。
【0012】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、感光基板上の異なつた領域に露光する露光パターン
の一部が重複または接続する部分において線幅差を小さ
くして露光パターンの線幅が連続的に変化する露光方法
を提案しようとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、複数に分割されている露光パタ−
ンを順次照明し、投影光学系24を介して、感光基板1
上の異なった領域1A〜1Dに露光パタ−ンの一部が重
複または接続するように露光して、感光基板1上に所望
のパタ−ンを形成する露光方法において、感光基板1上
の重複または接続する部分34と投影光学系24との焦
合わせを行った後に、重複または接続する部分34、
2〜5に関連した複数の露光パタ−ンを異なった領域1
A〜1Dに順次露光している。また、複数に分割されて
いる露光パタ−ンは異なるレチクルにそれぞれ形成され
ていてもよく、感光基板1上に形成される所望のパタ−
ンは薄膜トランジスタであってもよい。
【0014】
【作用】感光基板1上の異なった領域1A〜1Dに露光
する露光パタ−ンの一部が重複または接続する部分34
と投影光学系24との焦点合わせをした後に、露光パタ
−ンの一部が重複または接続する部分34、2〜5に関
連した複数の露光パタ−ンを異なった領域1A〜1Dに
順次露光しているので、露光パタ−ンの一部が重複また
は接続する部分34、2〜5において分割パタ−ンの線
幅が連続的に変化する。
【0015】
【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。
【0016】図1において、10は全体として液晶表示
装置を製造する露光装置を示す。露光光源としての超高
圧水銀ランプ11から射出された照明光は楕円鏡12で
集光され、シヤツタ13及び反射鏡14を介して波長選
択フイルタ15に入射する。波長選択フイルタ15で露
光に必要な波長のみを透過された照明光は、フライアイ
インテグレータ16で均一な光量分布を有する光束に変
換されてレチクルブラインド17を照明する。
【0017】フライアイインテグレータ16から射出し
た光束の一部は、ハーフミラー18で反射され積算露光
量計19に入射する。この積算露光量計19の情報に基
づいて制御装置20はシヤツタ13の開閉時間を制御し
て露光量を制御する。
【0018】レチクルブラインド17の開口部Sを通過
した照明光は、反射鏡21で反射されコンデンサレンズ
22でパターン投影用のレチクル23上に結像される。
レチクルブラインド17の開口部Sが任意の大きさと位
置とに設定されると、これに対応するレチクル23上の
任意の照射領域が光束によつて照明される。
【0019】レチクル23上の照射領域に存在するパタ
ーンの像は、投影レンズ24により感光基板1上に結像
される。これによりレチクル23上のパターンの像は感
光基板1の特定領域に露光される。感光基板1はステー
ジ25上のレベリング装置26上に載置されており、レ
ベリング装置26によつて露光領域1A〜1Dの傾斜を
調整される。因みに、感光基板1は、縦及び横の寸法が
それぞれ 300〔mm〕及び 400〔mm〕のガラスプレートで
なる。
【0020】ステージ25は、投影レンズ24の光軸の
方向すなわちZ軸方向と直角な面内で互いに直交するX
軸及びY軸方向へ移動可能な一対のブロツクが重ね合わ
せられてなる。このステージ25の位置は、ステージ2
5上の移動鏡27でレーザ光28を反射させて位置をモ
ニタするレーザ干渉計システム(図示せず)によつて検
出される。これにより感光基板1はX軸及びY軸方向の
位置を調整される。
【0021】投影レンズ24の下部周辺には、レベリン
グ装置26の2つの傾斜調整用送光系29が対向して配
されていると共に、2つの傾斜調整用受光系30が2つ
の送光系29と互いに直角な位置に配されている。また
投影レンズ24の下部周辺には、自動焦点合わせ機構
(図示せず)の焦点合わせ用送光系31及び受光系32
が対向して配されている。
【0022】図2に示すように、レベリング装置26の
2つの送光系29はそれぞれ出射口でレーザ光LA1を
2分割して出射する。一方の2分割されたレーザ光LA
1は、送光系29から見て露光領域1A〜1D全体の手
前側の2つの隅、ここでは33A及び33Cに照射され
る。同様に他方の2分割されたレーザ光LA1は、33
B及び33Dに照射される。
【0023】レベリング装置26は、4つの隅33A〜
33Dでそれぞれ反射されたレーザ光LA1が2つの受
光系30に対して均等に入射するように、感光基板1の
傾斜を調整する。これにより仮想的な中心の面8は投影
レンズ24の光軸すなわちZ軸に対して直角に調整され
る。
【0024】次に、自動焦点合わせ機構(図示せず)は
ステージ25をX軸及びY軸方向に駆動して、図3に示
すように、露光領域1A〜1Dの接続部2〜5が共通に
接する共通接続点34を投影レンズ24の光軸上に移動
させる。
【0025】続いて、自動焦点合わせ機構は、送光系3
1よりレーザ光LA2を共通接続点34に向かつて射出
させると共に、ステージ25をZ軸方向に駆動する。こ
のようにして共通接続点34で反射されたレーザ光LA
2が受光系32に入射すると、投影レンズ24の焦点が
共通接続点34に合つたことになる。
【0026】このようにして焦点が合つたとき、自動焦
点合わせ機構は、ステージ25のZ軸方向の位置を固定
して焦点位置を保持する。この後、露光領域1A〜1D
は焦点位置が保持されたまま投影レンズ24に対して順
次位置決めされ、露光領域1A〜1Dにそれぞれ対応す
る分割パターンを順次露光される。
【0027】以上の構成において、共通接続点34に焦
点を合わせ分割パターンを所望の露光領域1A〜1Dの
接続部2〜5で重複させずに合成露光する場合、図4に
示すように、露光領域1A〜1Dに対応した分割パター
ンの像面7A〜7Dは共通接続点34をそれぞれ通る。
この分割パターンの像面7A〜7Dの高さは、露光領域
1A〜1Dにおいては共通接続点34に焦点位置が保持
されていることによつて同一となり、隣接する露光領域
1A〜1Dの間には従来のような焦点位置の誤差9は存
在しない。すなわち露光領域1A〜1Dは同一の高さの
像面を共有することになる。
【0028】これにより露光領域1A〜1Dに合成露光
された4つの分割パターンは、分割されなかつた1体の
パターンとして露光領域1A〜1Dに露光されたものと
同一と見ることができることになる。従つて、接続部2
〜5自体は当然滑らかにつながつていることをも考慮す
れば、分割パターンの線幅は接続部2〜5においても連
続的に変化することになる。
【0029】以上の構成によれば、感光基板1上の露光
領域1A〜1Dに露光する分割パターンの一部が合成さ
れる共通接続点34と投影レンズ24との焦点を調節し
た後に、焦点位置を保持して露光領域1A〜1Dにそれ
ぞれ対応する分割パターンを露光領域1A〜1Dにそれ
ぞれ露光することによつて、接続部2〜5においては分
割パターンの線幅が連続的に変化することになる。
【0030】また分割パターンの線幅が接続部2〜5に
おいて連続的に変化することにより、露光領域1A〜1
Dに形成される薄膜トランジスタの動作特性に影響を与
えない。これにより接続部2〜5におけるコントラスト
に差が生じることを防止できる。
【0031】さらに接続部2〜5で重複させなくても分
割パターンの線幅が接続部2〜5において連続的に変化
することにより、レチクル23上の照射領域に形成され
るパターンの面積をぎりぎりまで小さくできる。従つて
レチクル23に従来に比して多くのパターンを形成する
等、レチクル23の面積を有効に利用したり、逆にレチ
クル23の面積を小さくできる。
【0032】さらに露光領域1A〜1Dのそれぞれに焦
点を合わせることに代えて共通接続点34にのみ焦点を
合わせるようにしたことにより、焦点を合わせる時間を
従来に比して一段と少なくできる。
【0033】なお上述の実施例においては、感光基板1
上の露光領域が縦横方向にそれぞれ2分されて露光領域
1A〜1Dが設定され、レベリング装置26によつて露
光領域1A〜1D全体の傾斜を調整し、分割パターンを
それぞれ露光して所望する全体のパターンの画面を合成
する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、4
つ以外の露光領域にそれぞれ分割パターンを露光して所
望する全体のパターンの画面を合成したり、露光領域全
体の傾斜を調整しないで露光する場合にも適用できる。
この場合にもそれぞれの露光領域は同一の高さの像面を
共有することになり、上述と同様の効果を得ることがで
きる。
【0034】例えば図5に示すように、感光基板40上
の矩形の露光領域が接続部41によつて横方向に2分さ
れて、2つの矩形の露光領域40A及び40Bが設定さ
れた場合には、接続部41の中央の点41A又は接続部
41のうち平均的な高さの位置等、接続部41の任意の
位置に投影レンズの焦点を合わせて露光するようにして
も良い。また感光基板上の矩形の露光領域が接続部によ
つて縦及び横方向にそれぞれ2分及び3分されて、6つ
の露光領域が設定された場合には、接続部のうち接続部
の高さの平均となる位置等に投影レンズの焦点を合わせ
て露光するようにしても良い。
【0035】また上述の実施例においては、分割パター
ンを露光領域1A〜1Dの接続部2〜5で重複させずに
合成露光する場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、分割パターンを接続部2〜5で重複させて合成露
光する場合にも適用できる。
【0036】さらに上述の実施例においては、液晶表示
装置を製造するための感光基板1に露光する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、例えばプラズマデ
イスプレイを製造するための感光基板や半導体基板に露
光する場合等、任意の露光対象に露光する場合に広く適
用できる。
【0037】さらに上述の実施例においては、ステツプ
アンドリピート方式の投影露光で分割パターンを合成し
て希望する合成パターンを得る場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、ミラープロジエクシヨン方式の
投影露光等、他の露光方式で分割パターンを合成して希
望する合成パターンを得る場合にも広く適用できる。
【0038】なお感光基板1上で合成すべき複数の分割
パターンは、同一レチクル上に形成されていても、異な
るレチクル上にそれぞれ形成されていてもどちらでもか
まわない。また分割パターンとしては1種類とし、この
分割パターンを繰り返し露光することによつて最終的に
希望する合成パターンを形成するようにしても良い。
【0039】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、感光基板
上の異なった領域に露光する露光パタ−ンの一部が重複
または接続する部分と投影光学系との焦点合わせをした
後に、露光パタ−ンの一部が重複または接続する部分に
関連した複数の露光パタ−ンを異なった領域に順次露光
することによって、露光パタ−ンの一部が重複または接
続する部分において分割パタ−ンの線幅が連続的変化す
る露光方法を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による露光方法の一実施例による露光方
法で感光基板を露光する露光装置を示す略線図である。
【図2】レーザ光の送光系及び受光系を使用した感光基
板のレベリング及び自動焦点合わせの状態を示す斜視図
である。
【図3】投影レンズの焦点が合わせられる露光領域の共
通接続点の位置を示す感光基板の平面図である。
【図4】投影レンズの光軸に対して傾斜を調整した露光
領域の表面の形状と共通接続点を通るそれぞれの分割パ
ターンの像面とを示す略線図である。
【図5】他の実施例による2つの露光領域を設定された
感光基板を示す平面図である。
【図6】従来の露光方法により露光される感光基板を示
す平面図である。
【図7】投影レンズの光軸に対して傾斜を調整する前に
おける露光領域の傾斜及び表面の形状と分割パターンの
像面とを示す略線図である。
【図8】露光領域の中心に焦点を合わせて得た分割パタ
ーンの像面を基準にしたときの露光領域の傾斜及び表面
の形状を示す略線図である。
【図9】投影レンズの光軸に対して傾斜を調整した露光
領域の表面の形状と露光領域の中心を通るそれぞれの分
割パターンの像面とを示す略線図である。
【符号の説明】
1、40、42……感光基板、1A〜1D、40A〜4
0D……露光領域、2〜5、41……接続部、6A〜6
D……露光領域の中心、7A〜7D……分割パターンの
像面、8……仮想的な中心の面、9……焦点位置の誤
差、10……露光装置、11……超高圧水銀ランプ、1
3……シヤツタ、14、21……反射鏡、16……フラ
イアイインテグレータ、17……レチクルブラインド、
22……コンデンサレンズ、23……レチクル、24…
…投影レンズ、25……ステージ、26……レベリング
装置、29……傾斜調整用送光系、30……傾斜調整用
受光系、31……焦点合わせ用送光系、32……焦点合
わせ用受光系、33A〜33D……露光領域の隅、34
……共通接続点、41A……接続部の中央点。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−190415(JP,A) 特開 平5−62878(JP,A) 特開 昭63−312636(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G03F 9/00 H01L 21/027

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数に分割されている露光パタ−ンを順
    次照明し、投影光学系を介して、感光基板上の異なった
    領域に前記露光パタ−ンの一部が重複または接続するよ
    うに露光して、前記感光基板上に所望のパタ−ンを形成
    する露光方法において、 前記感光基板上の重複または接続する部分と前記投影光
    学系との焦点合わせを行った後に、前記重複または接続
    する部分に関連した前記複数の露光パタ−ンを前記異な
    った領域に順次露光することを特徴とする露光方法。
  2. 【請求項2】 前記複数に分割されている露光パタ−ン
    は、異なるレチクルにそれぞれ形成されていることを特
    徴とする請求項1記載の露光方法。
  3. 【請求項3】 前記感光基板上に形成される所望のパタ
    −ンは、薄膜トランジスタであることを特徴とする請求
    項1または請求項2記載の露光方法。
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