JP3462832B2 - 磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置 - Google Patents

磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置

Info

Publication number
JP3462832B2
JP3462832B2 JP2000104359A JP2000104359A JP3462832B2 JP 3462832 B2 JP3462832 B2 JP 3462832B2 JP 2000104359 A JP2000104359 A JP 2000104359A JP 2000104359 A JP2000104359 A JP 2000104359A JP 3462832 B2 JP3462832 B2 JP 3462832B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
magnetoresistive sensor
magnetic flux
layer
ferromagnetic layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000104359A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001291214A (ja
Inventor
克朗 渡辺
良昭 川戸
礼子 荒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2000104359A priority Critical patent/JP3462832B2/ja
Priority to US09/811,482 priority patent/US6636391B2/en
Publication of JP2001291214A publication Critical patent/JP2001291214A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3462832B2 publication Critical patent/JP3462832B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/093Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3109Details
    • G11B5/313Disposition of layers
    • G11B5/3143Disposition of layers including additional layers for improving the electromagnetic transducing properties of the basic structure, e.g. for flux coupling, guiding or shielding
    • G11B5/3146Disposition of layers including additional layers for improving the electromagnetic transducing properties of the basic structure, e.g. for flux coupling, guiding or shielding magnetic layers
    • G11B5/3153Disposition of layers including additional layers for improving the electromagnetic transducing properties of the basic structure, e.g. for flux coupling, guiding or shielding magnetic layers including at least one magnetic thin film coupled by interfacing to the basic magnetic thin film structure
    • G11B5/3156Disposition of layers including additional layers for improving the electromagnetic transducing properties of the basic structure, e.g. for flux coupling, guiding or shielding magnetic layers including at least one magnetic thin film coupled by interfacing to the basic magnetic thin film structure providing interaction by induced or exchange coupling
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3916Arrangements in which the active read-out elements are coupled to the magnetic flux of the track by at least one magnetic thin film flux guide
    • G11B5/3919Arrangements in which the active read-out elements are coupled to the magnetic flux of the track by at least one magnetic thin film flux guide the guide being interposed in the flux path
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/32Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
    • H01F10/324Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
    • H01F10/3268Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the exchange coupling being asymmetric, e.g. by use of additional pinning, by using antiferromagnetic or ferromagnetic coupling interface, i.e. so-called spin-valve [SV] structure, e.g. NiFe/Cu/NiFe/FeMn
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B2005/3996Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects large or giant magnetoresistive effects [GMR], e.g. as generated in spin-valve [SV] devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/012Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気に感応する磁
気抵抗センサ、その磁気抵抗センサを再生素子として用
いて磁気的に記録された情報を再生する磁気ヘッド、及
び磁気記録再生装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気記録再生装置、特に磁気ディスク装
置における記録密度の向上は著しく、磁気ディスク装置
のキー・デバイスである再生ヘッドには高い再生出力が
要求されている。高記録密度において高い再生出力を得
るために、磁気ディスクと磁気ヘッドの間の間隔(ヘッ
ド浮上量)が小さくなっている。現在のヘッド浮上量は
約30nm程度であるが、今後はさらに小さくなり、磁
気ヘッドが磁気ディスクとほとんど接触に近い状態で浮
上している疑似コンタクト状態、あるいは接触している
コンタクト状態になることが考えられる。その場合、磁
気ヘッドの媒体対向面に再生素子であるGMR効果膜が
露出していると、摩耗によるGMR効果膜の損傷が起こ
ることが考えられる。これを回避する方法として、例え
ば特開平10−334418号公報には、媒体対向面か
ら素子高さ方向に伸びた磁束ガイドを設けた磁気ヘッド
が開示されている。この磁気ヘッドにおいては、外部磁
界に応じてその磁化方向が変化するGMR効果膜の強磁
性層(自由層)が磁束ガイドの一部分上に直接積層され
て、自由層の磁化が磁束ガイドの磁化と磁気的に強磁性
的に結合している。
【0003】また、磁気抵抗センサ膜においても高出力
化の検討が行われている。近年では、再生ヘッドとして
磁気抵抗効果を利用した磁気抵抗効果型(MR)ヘッド
が用いられている。数Gb/in2程度の記録密度にお
いては、異方性磁気抵抗効果(AMR効果)を利用した
MRヘッド(AMRヘッド)が用いられたが、それ以上
の記録密度においてはAMR効果では感度不足になるた
め、巨大磁気抵抗効果(GMR効果)を利用したMRヘ
ッド(GMRヘッド)が用いられている。
【0004】しかしながら、今後さらに記録密度を向上
させるためには、現在以上にさらに大きな再生出力が必
要となる。そのため、GMR効果膜に代わる新しい磁気
抵抗効果膜の研究開発が盛んに行われているが、その有
力な候補の一つとして、2層の強磁性層の間にトンネル
障壁層が挟まれた強磁性トンネル磁気抵抗効果(TMR
効果)膜が注目されている。TMR効果膜については、
例えば、1995年発刊のジャーナル・オブ・マグネテ
ィズム・アンド・マグネティック・マテリアルズ、第1
39巻、L231〜L234頁に、2層のFe層の間に
Al酸化膜を挟んだ構成において、室温で約18%の抵
抗変化率が得られたと報告されている。また、特開平3
−154217号公報には、TMR効果膜を磁気抵抗セ
ンサ膜として用いたMRヘッドが開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】特開平10−3344
18号公報は、外部磁界に応じてその磁化方向が変化す
るGMR効果膜の強磁性層(自由層)を磁束ガイド膜の
一部分上に直接積層することにより、自由層の磁化が磁
束ガイドの磁化と磁気的に結合しているGMR効果ヘッ
ドを開示しているが、この場合の磁気的な結合は強磁性
的な結合である。この構造においては、媒体からの磁界
に応じて磁束ガイドの磁化が回転し、それによって、磁
束ガイドの磁化と強磁性的に結合した自由層の磁化も回
転して、外部磁界によって磁化方向が変化しないGMR
効果膜の強磁性層(固定層)の磁化との相対的な角度が
変わり抵抗変化を生ずるものである。しかし、抵抗変化
を生ずる源となる磁束ガイドと自由層が強磁性的に結合
している部分においては、実効的な磁化量が大きいため
に、磁束ガイドにおいて自由層が存在しない部分に比べ
て磁化が回転しにくくなり、その結果として感度が低下
し、再生出力を向上させることが困難であるという問題
がある。
【0006】ところで、TMR効果膜をMRヘッドに適
用するためには、解決すべき問題がある。AMR効果及
びGMR効果を利用したMRヘッドの磁気抵抗センサ膜
の構成は、それぞれ例えば、横バイアス印加層/非磁性
導電層/AMR強磁性層、自由層/非磁性導電層/固定
層/反強磁性層であり、一般的には全ての層が金属膜で
構成されている。一方、TMR効果膜においては、基本
的な構成は自由層/トンネル障壁層/固定層であり、こ
のうちトンネル障壁層は厚さが数nm以下の金属酸化膜
である。TMR効果は、このトンネル障壁層を介した強
磁性層の間の電子のトンネル効果により生じるものであ
るため、ヘッド作製プロセスにおいてトンネル障壁層が
短絡しないように作製する必要があり、自由層のバルク
ハウゼンノイズを抑制するための縦バイアス印加層の配
置や作製プロセスなどに、従来のMRヘッドとは異なる
TMRヘッド特有の技術が要求される。
【0007】前述のジャーナル・オブ・マグネティズム
・アンド・マグネティック・マテリアルズ、第139
巻、L231〜L234頁及び特開平3−154217
号公報には、安定なヘッド動作に必要不可欠な縦バイア
ス印加層に関する記述はない。
【0008】また、現在MRヘッドに用いられているA
MR効果膜やGMR効果膜は、これらの膜の膜面内方向
にセンス電流を流して磁界を検出するのに対して、TM
R効果膜の場合は、膜面に対して垂直方向にセンス電流
を流して検出を行うため、素子サイズが小さくなるに従
って、TMR効果素子の抵抗は増大し、これによりノイ
ズが増加するという問題がある。
【0009】さらに、従来のMRヘッドのように磁気抵
抗センサ膜を媒体対向面に露出した構造にすると、媒体
対向面のラップ加工時に、トンネル障壁層の上下の2層
の強磁性層が短絡する恐れがあり、極めて精緻な加工技
術が必要となるという問題もある。
【0010】これらの問題は、特開平10−33441
8号公報に開示されている構造をTMR効果膜に適用す
ると、素子サイズを大きくすることができるので素子抵
抗を小さくすることができ、さらに、媒体対向面には障
壁層が露出しないので短絡の心配はないので、解決でき
ると考えられるが、前述のように感度が低下するという
問題がある。
【0011】本発明の目的は、GMR効果膜及びTMR
効果膜などの磁気抵抗センサ膜を媒体対向面に露出させ
ずに磁束ガイドを用いる構造において、感度の向上を図
り、かつ、磁束ガイド及び磁気抵抗センサ膜の自由層の
両方に縦バイアス磁界を印加することにより、高い感度
と高い安定性を有する磁気抵抗センサを提供することに
ある。本発明の他の目的は、高い感度と高い安定性を有
する磁気抵抗センサを再生素子として用いた高感度磁気
ヘッド及びその磁気ヘッドを搭載した高記録密度の磁気
記録再生装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では次のような磁気抵抗センサの構造を採用
する。まず、高い感度を得るために、磁気抵抗センサ膜
に磁気記録媒体からの漏洩磁束を導くための磁束ガイド
と、磁気抵抗センサ膜を構成する複数の磁性層のうちで
印加される磁界の大きさに応じて磁化の方向が回転する
第1の強磁性層(自由層または自由層が積層構造の場合
は中間層と接している層)とを、非磁性中間層を介して
反強磁性的に結合させる構造を採用した。また、高い安
定性を実現するために、磁束ガイドにバルクハウゼンノ
イズを抑制するための縦バイアス印加層を設ける構造を
採用した。磁束ガイドと磁気抵抗センサ膜の第1の強磁
性層が反強磁性的に結合していると、磁束ガイドに印加
された縦バイアス磁界を、非磁性中間層を介して、その
まま磁気抵抗センサの第1の強磁性層に印加することが
できる。
【0013】すなわち、本発明による磁気抵抗センサ
は、印加される磁界の大きさに応じて磁化の方向が回転
する強磁性層を備える磁気抵抗センサ膜と、磁気抵抗セ
ンサ膜に信号検出電流を流すための一対の電極と、磁気
抵抗センサ膜に磁気記録媒体からの漏洩磁束を導くため
の磁束ガイドとを備える磁気抵抗センサにおいて、磁気
抵抗センサ膜の印加される磁界の大きさに応じて磁化の
方向が回転する強磁性層は、磁束ガイドと反強磁性的に
結合していることを特徴とする。
【0014】磁気抵抗センサ膜は媒体対向面に露出する
ことなく素子内部に配置されており、磁束ガイドは端面
が媒体対向面に露出し素子高さ方向に磁気抵抗センサ膜
の位置を越えて延在している。
【0015】本発明による磁気抵抗センサは、また、印
加される磁界の大きさに応じて磁化の方向が回転する強
磁性層を備える磁気抵抗センサ膜と、磁気抵抗センサ膜
に信号検出電流を流すための一対の電極と、磁気抵抗セ
ンサ膜に磁気記録媒体からの漏洩磁束を導くための磁束
ガイドとを備える磁気抵抗センサにおいて、磁気抵抗セ
ンサ膜の印加される磁界の大きさに応じて磁化の方向が
回転する強磁性層は、Ru,Cr,Rh,Irあるいは
それらの合金からなる非磁性中間層を介して、磁束ガイ
ドと反強磁性的に結合していることを特徴とする。
【0016】磁束ガイド部は1枚の磁性膜で構成するこ
とができる。また、磁束ガイドは、第1の磁束ガイド部
と第2の磁束ガイド部とから構成することもできる。そ
の場合、第1及び第2の磁束ガイド部は、媒体対向面か
ら素子高さ方向に連続させ、磁気抵抗センサ膜よりも素
子高さ方向に媒体対向面から離れた位置において磁気的
に接続する。
【0017】磁束ガイドにバルクハウゼンノイズを抑制
するための縦バイアス印加層を設けることが好ましい。
磁束ガイドにバルクハウゼンノイズを抑制するための縦
バイアス印加層を設けることにより、磁束ガイドと磁気
的に反強磁性的に結合している強磁性層にも縦バイアス
磁界が実効的に印加される。
【0018】縦バイアス印加層は、印加される磁界の大
きさに応じて磁化の方向が回転する強磁性層が非磁性中
間層を介して磁束ガイドと接している領域を含むもしく
は略同一の領域において磁束ガイドと積層して設けるこ
とができる。また、縦バイアス印加層は、磁束ガイドの
トラック幅方向の両端に設けることができる。磁束ガイ
ドが前記第1の磁束ガイド部と第2の磁束ガイド部とか
らなっている場合には、第1の磁束ガイド部と第2の磁
束ガイド部の間に設けてもよい。
【0019】磁気抵抗センサ膜は、トンネル障壁層を介
して積層された第1の強磁性層と第2の強磁性層とを備
え、第1の強磁性層は印加される磁界に応じて磁化の方
向が回転し、第1の強磁性層の磁化の方向と前記第2の
強磁性層の磁化の方向の相対的な角度が変わることによ
って電気抵抗が変化するタイプの磁気抵抗センサ膜とす
ることができる。第1の強磁性層は印加される磁界に応
じてその磁化の方向が回転し、印加される磁界がゼロの
ときに第1の強磁性層の磁化の方向が第2の強磁性層の
磁化の方向とある角度をなし、第1の強磁性層の磁化の
方向と第2の強磁性層の磁化の方向の相対的な角度が変
わることによって電気抵抗が変化する。
【0020】磁気抵抗センサ膜は、少なくとも2層の強
磁性層が非磁性導電層を介して少なくとも一回以上積層
されており、非磁性導電層を介して隣接する強磁性層の
磁化の方向の相対的な角度が変わることによって電気抵
抗が変化するタイプの磁気抵抗センサ膜としてもよい。
【0021】また、磁気抵抗センサ膜は、非磁性導電層
を介して第1の強磁性層と第2の強磁性層が積層されて
おり、第1の強磁性層は印加される磁界に応じて磁化の
方向が回転し、第2の強磁性層の磁化の方向は略素子高
さ方向に拘束されており、印加される磁界がゼロのとき
に第1の強磁性層の磁化の方向が第2の強磁性層の磁化
の方向とある角度をなし、第1の強磁性層の磁化の方向
と第2の強磁性層の磁化の方向の相対的な角度が変わる
ことによって電気抵抗が変化するタイプの磁気抵抗セン
サ膜とすることもできる。
【0022】本発明による磁気ヘッドは、印加される磁
界の大きさに応じて磁化の方向が回転する強磁性層を有
する磁気抵抗センサ膜と、前記磁気抵抗センサ膜に信号
検出電流を流すための一対の電極と、前記磁気抵抗セン
サ膜の印加される磁界の大きさに応じて磁化の方向が回
転する強磁性層と反強磁性的に結合していて前記磁気抵
抗センサ膜に磁気記録媒体からの漏洩磁束を導くための
磁束ガイドとを備える再生ヘッドを含むことを特徴とす
る。
【0023】本発明による磁気ヘッドは、また、トンネ
ル障壁層を介して積層された第1の強磁性層と第2の強
磁性層とを備え、第1の強磁性層は印加される磁界に応
じて磁化の方向が回転する磁気抵抗センサ膜と、磁気抵
抗センサ膜に信号検出電流を流すための一対の電極と、
Ru,Cr,Rh,Irあるいはそれらの合金からなる
非磁性中間層を介して磁気抵抗センサ膜の第1の強磁性
層と反強磁性的に結合し磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒
体からの漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える再
生ヘッドを含むことを特徴とする。
【0024】本発明による磁気ヘッドは、また、非磁性
導電層を介して積層された第1の強磁性層と第2の強磁
性層とを備え、第1の強磁性層は印加される磁界に応じ
て磁化の方向が回転し、第1の強磁性層の磁化の方向と
第2の強磁性層の磁化の方向の相対的な角度が変わるこ
とによって電気抵抗が変化する磁気抵抗センサ膜と、磁
気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すための一対の電極
と、Ru,Cr,Rh,Irあるいはそれらの合金から
なる非磁性中間層を介して磁気抵抗センサ膜の第1の強
磁性層と反強磁性的に結合し磁気抵抗センサ膜に磁気記
録媒体からの漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備え
る再生ヘッドを含むことを特徴とする。
【0025】磁束ガイドにバルクハウゼンノイズを抑制
するための縦バイアス印加層を設けるのが好ましい。前
記磁気ヘッドは、また記録ヘッドとして誘導型薄膜記録
ヘッドを備えるのが好ましい。
【0026】本発明による磁気記録再生装置は、磁気記
録媒体と、記録部と再生部とを備える磁気ヘッドと、磁
気ヘッドを磁気記録媒体に対して相対運動させる駆動手
段と、記録再生信号処理手段とを含む磁気記憶装置にお
いて、磁気ヘッドの再生部は、印加される磁界の大きさ
に応じて磁化の方向が回転する強磁性層を含む磁気抵抗
センサ膜と、磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すた
めの一対の電極と、磁気抵抗センサ膜の印加される磁界
の大きさに応じて磁化の方向が回転する強磁性層と反強
磁性的に結合し磁気記録媒体からの漏洩磁束を前記磁気
抵抗センサ膜に導くための磁束ガイドとを備えることを
特徴とする。
【0027】本発明による磁気抵抗センサは、また、第
1の強磁性層、非磁性層、第2の強磁性層及び反強磁性
層が順に形成された磁気抵抗センサ膜と、磁気抵抗セン
サ膜に信号検出電流を流すための一対の電極と、磁気抵
抗センサ膜に磁気記録媒体からの漏洩磁束を導くための
磁束ガイドとを備える磁気抵抗センサにおいて、第1の
強磁性層と磁束ガイドは、Ru,Cr,Rh,Irある
いはそれらの合金からなる非磁性中間層を介して形成さ
れていることを特徴とする。非磁性層はトンネル障壁層
とすることができる。
【0028】本発明による磁気ヘッドは、また、第1の
強磁性層、非磁性層、第2の強磁性層及び反強磁性層が
順に形成された磁気抵抗センサ膜と、磁気抵抗センサ膜
に信号検出電流を流すための一対の電極と、磁気抵抗セ
ンサ膜に磁気記録媒体からの漏洩磁束を導くための磁束
ガイドと、当該磁束ガイドと前記第1の強磁性層との間
に形成されたRu,Cr,Rh,Irあるいはそれらの
合金からなる非磁性中間層とを備えることを特徴とす
る。非磁性層はトンネル障壁層とすることができる。
【0029】
【発明の実施の形態】まず、磁束ガイドと第1の磁性層
が強磁性的に結合している場合と反強磁性的に結合して
いる場合の違いをモデル計算によって検討した。計算の
モデルは、図1の上段に模式図を示してあるように、簡
単のために磁気シールドがない場合に、媒体対向面1か
ら磁束ガイド10に媒体からの磁束が侵入し、磁束ガイ
ド10と非磁性中間層21を介して(A)強磁性結合、
(B)反強磁性結合している磁気抵抗センサ膜の第1の
強磁性層22の磁化を回転させるというものである。2
層の強磁性層としてCoFeを用い、膜厚は磁束ガイド
10を5.6nm、第1の強磁性層22を3.3nmと
した。非磁性中間層21は、強磁性結合の場合Ru:
1.4nm、反強磁性結合の場合Ru:0.8nmとし
た。ただし、具体的な膜材料、膜厚によらず、2層の強
磁性層が強磁性結合と反強磁性結合していれば同じ結果
が得られ、図1に示した計算結果が得られる条件は上記
具体例の場合に限定されるものではない。
【0030】図1の中段と下段は、それぞれ、侵入した
磁束が作用する強磁性体の実効的な磁化量と、第1の強
磁性層22の磁化の回転角を定性的に表したものであ
る。ここで、実効的な磁化量は、第1の強磁性層22が
ない部分では磁束ガイド10の飽和磁束密度Bsと膜厚
tの積Bs・tであるが、第1の強磁性層22が結合し
ている部分では、(A)強磁性結合している場合には、
磁束ガイド10のBs・tと第1の強磁性層22のそれ
との和になり、(B)反強磁性結合している場合には、
これらの差になる。
【0031】従って、(B)反強磁性結合している場合
には、(A)強磁性結合している場合に比べて、第1の
強磁性層22が結合している部分の実効的磁化量が小さ
くなるため、侵入してきた磁束によって回転する磁化の
角度が大きくなる。このことは、固定層を設けてGMR
効果或いはTMR効果として観測した場合には、固定層
の磁化との相対的な角度が大きくなるため、大きな出力
が得られることを示している。
【0032】次に、本発明の実施の形態について、図面
を用いて説明する。 [実施の形態1]図2に、本発明の一実施の形態である
磁気抵抗センサの断面模式図を示す。図において、1は
媒体対向面、100は素子高さ方向、101はトラック
幅方向である。
【0033】基板上(不図示)に、例えばNi81Fe19
膜からなる上部シールド層11、下部シールド層12の
間に、例えば膜厚10nmのNi81Fe19膜からなる磁
束ガイド10を配置した。磁束ガイド10は、媒体対向
面1から素子高さ方向100に伸びており、媒体対向面
から離れた位置で、例えば膜厚0.8nmのRuからな
る非磁性中間層21を介して、GMR効果磁気抵抗セン
サ膜の自由層である第1の強磁性層22と反強磁性的に
結合している。さらに、第1の強磁性層22は、非磁性
導電層231を介して、反強磁性層25との交換結合に
よりその磁化の方向が拘束されている第2の強磁性層2
4と積層されている。これらの第1の強磁性層22、非
磁性導電層231、第2の強磁性層24、反強磁性層2
5とによりGMR効果磁気抵抗センサ膜が構成されてい
る。
【0034】なお、図中には、反強磁性層25の下に下
地層26を設けてあるが、第2の強磁性層24と反強磁
性層25との間の交換結合が安定なヘッド動作を行うの
に十分であるならば、特に下地層26を設ける必要はな
い。また、磁束ガイド10及びGMR効果磁気抵抗セン
サ膜と、上部シールド層11、下部シールド層12の間
には、例えば酸化アルミニウムと酸化シリコンの混合膜
などの絶縁膜が形成されている。
【0035】第1の強磁性層22及び第2の強磁性層2
4には、Ni−Fe,Co,Co−Fe,Ni−Fe−
Co及びこれらの積層膜を用いることができるが、非磁
性導電層231との界面には、Co含有量が多い材料を
用いることが望ましい。非磁性導電層231には、A
g,Au,Cu及びこれらの合金を、また、反強磁性層
25には、Ir−Mn,Mn−Pt,Mn−Pd−P
t,Ni−Mnを用いることができる。
【0036】非磁性中間層21の材料としては、Ru以
外にもCr,Rh,Ir及びそれらの合金を用いること
ができ、これらの材料において反強磁性結合が生じる膜
厚は材料により異なるが、概ね0.4nmから5nmの
範囲である。これらの材料を中間層に用いると、その上
下の2層の強磁性層の間の結合は、中間層膜厚に対して
強磁性結合→反強磁性結合→強磁性結合→反強磁性結合
→・・・ と振動することが知られている。その原因に
ついては、明確ではないが、Ruderman-Kittel-Kasuya-Y
oshida相互作用(RKKY相互作用)であるとも言われ
ている。
【0037】GMR効果磁気抵抗センサ膜と磁束ガイド
10のトラック幅方向101の両端に、Cr下地膜上に
CoCrPt膜を形成した縦バイアス印加層(図8,9
参照)と、さらにその上にTaWを介してTaからなる
電極を設け、安定に動作するGMR効果磁気抵抗センサ
が得られる。
【0038】このように磁束ガイド10のトラック幅方
向に電極を設けると、センス電流が磁束ガイド膜にも分
流して出力が低下するので、磁束ガイド10に磁性体と
酸化物の不連続多層膜、例えばCo90Fe10:1.5n
mと酸化シリコン:1.0nmの多層膜を用いてもよ
い。この磁性体と酸化物の不連続多層膜は、スパッタリ
ング法で、磁性体ターゲットと酸化物ターゲットを準備
し、基板に交互に成膜することで得られる。薄膜では、
膜厚が厚いと連続膜になるが、薄いと島状構造と呼ばれ
る不連続膜になるため、これを利用して不連続多層膜を
作成することができる。
【0039】なお、自由層である第1の強磁性層22、
固定層である第2の強磁性層24の磁化の方向は、再生
素子の成膜工程が完了した後(上部シールド層11を形
成した後)に次のような熱処理を施して制御した。ま
ず、反強磁性層25と第2の強磁性層24との間に交換
結合が生じる温度T1(T1は反強磁性材料により異な
る)以上の温度から、素子高さ方向に例えば最大15k
Oeの磁界を印加しながら磁界中冷却した後、T1以下
の温度まで昇温し、トラック幅方向に例えば1kOeの
磁界を印加しながら冷却する。これにより、第1の強磁
性層22の磁化の方向を略トラック幅方向に、第2の強
磁性層24の磁化の方向を略素子高さ方向に向けること
ができる。
【0040】以上のような磁気抵抗センサの上に、記録
ギャップを介して積層された一対の磁気コアからなる記
録素子を作製すると、磁気記録再生装置に用いる磁気ヘ
ッドが得られる。作製した磁気ヘッドについて、再生特
性の評価を行った。比較のため、磁気抵抗センサ膜が媒
体対向面1に露出している比較例1の磁気ヘッド(磁束
ガイド10がない構造)、及び磁束ガイド10と第1の
強磁性層22とが強磁性的に結合している比較例2の磁
気ヘッド(非磁性中間層21の膜厚をRu:1.4nm
にして、磁束ガイド10と第1の強磁性層22とを強磁
性結合させた以外は、実施の形態1の磁気ヘッドと同様
のヘッド)も作製し、同様の評価を行った。なお、磁束
ガイド10のBs・tは10nm・T、第1の強磁性層
22のBs・tは6nm・Tとした。
【0041】表1に、本発明の磁気ヘッド、比較例1の
磁気ヘッド、比較例2の磁気ヘッドそれぞれ30個につ
いてヘッド出力を測定した結果を示す。再生特性の評価
は、保磁力Hcが4000Oe、磁化量Mr・tが0.
4T・nmの特性を有するCoCrPt系磁気記録媒体
に、約6.7Gb/in2(0.010Gb/mm2)の
記録密度で記録したパターンを、作成したヘッドを用い
て、磁気的浮上量18nmで再生波形の測定を行った。
ここで、Mrは媒体材料の残留磁化、tは膜厚であり、
磁気的浮上量とは媒体のCoCrPt層表面と再生ヘッ
ドの媒体対向面の磁気抵抗センサ膜先端との間隔のこと
である。
【0042】
【表1】
【0043】測定した磁気ヘッドの再生出力の平均値を
比較すると、本発明の磁気ヘッドは、磁気抵抗センサ膜
が媒体対向面に露出している磁気ヘッドとほぼ同等の出
力が得られ、磁束ガイド10と第1の強磁性層22が強
磁性的に結合している比較用の磁気ヘッドは、本発明の
磁気ヘッドの約30%の出力しか得られなかった。ま
た、再生出力のばらつきについて、本発明の磁気ヘッド
と磁気抵抗センサ膜が媒体対向面に露出している比較用
の磁気ヘッドとを比較すると、前者は±4.8%である
のに対し、後者は±10.6%とばらつきが大きい。後
者においてばらつきが大きくなるのは、磁気抵抗センサ
膜が媒体対向面に露出していると、媒体対向面の加工の
ばらつきにより素子高さがばらつき、それにより(1)
素子抵抗が変化してしまうこと、(2)自由層に作用す
る3つの磁界(固定層からの静磁界、固定層と自由層の
層間結合磁界、センス電流が作る磁界)のバランスが崩
れて、適正なバイアス状態ではなくなること、が原因で
ある。一方、本発明の磁気ヘッドでは、媒体対向面の加
工がばらついても、磁束ガイド10の磁気抵抗センサ膜
よりも媒体対向面側の長さが変わるが、磁気抵抗センサ
膜の素子高さは変化しないので、素子抵抗やバイアス状
態はほとんど変化することがない。従って、本発明によ
り、磁気抵抗センサ膜が媒体対向面に露出している磁気
ヘッドと同等の再生出力で、かつ特性ばらつきの小さい
磁気ヘッドを作製することができる。
【0044】[実施の形態2]実施の形態1において
は、磁束ガイドが磁束ガイド10のみで構成されている
が、図3に示すように、第1の磁束ガイド部110と第
2の磁束ガイド部111の2つの部分で磁束ガイドを構
成してもよい。GMR効果磁気抵抗センサ膜の第1の強
磁性層(自由層)22とは、第1の磁束ガイド部110
の一部で非磁性中間層21を介して反強磁性的に結合し
ている。第1の磁束ガイド部110と第2の磁束ガイド
部111は、GMR効果磁気抵抗センサ膜が配置されて
いる位置よりも、より素子高さ方向に奥まった位置で接
しており、これらの磁束ガイド部110,111は磁気
回路を形成しており、媒体から侵入した磁界が磁気回路
に沿って通り抜ける。
【0045】このような構成にすると、実施の形態1の
磁気抵抗センサによって再生した波形を微分したような
波形が得られるので、垂直記録の再生に好適である。図
17に、記録密度が低い孤立波を実施の形態1の磁気抵
抗センサによって再生した時の再生波形と図3に構造を
示した本実施の形態の磁気抵抗センサによって再生した
時の再生波形を示す。垂直記録された媒体を、図2のよ
うに1枚の磁束ガイド10を有する磁気ヘッドで再生す
ると、図17(b)のように正負にピークがある再生波
形(双峰性波形)が得られる。現在の磁気ディスク装置
の信号処理系はピークが一つしか現れない単峰性波形を
処理するように設計されているので、この再生信号を処
理するには別途微分回路を設ける必要がある。しかし、
図3のように2枚の磁束ガイド部110,111を有す
る磁気ヘッドで再生すると、図17(a)のような単峰
性波形が得られるので、新たに信号処理系を設計/作製
する必要がないため、垂直記録に好適である。
【0046】また、図4のように、第1の磁束ガイド部
110と第2の磁束ガイド部111が形成する磁気回路
の内部にGMR効果磁気抵抗センサ膜を配置してもよ
い。図3に示した上部シールド層11とGMR効果磁気
抵抗センサ膜の間に第1の磁束ガイド部110と第2の
磁束ガイド部111を形成する構造は、図4に示した第
1の磁束ガイド部110と第2の磁束ガイド部111が
形成する磁気回路の内部にGMR効果磁気抵抗センサ膜
を配置する構造に比べると作製が容易ではあるが、上部
シールド層11と下部シールド層12の間の間隔を狭く
することができないため、高記録密度用ヘッドを作製す
るのは難しくなる。一方、図4に示した構造は、作製は
困難であるが、磁束ガイドの中にGMR効果磁気抵抗セ
ンサ膜が配置されている分だけ、(GMR効果磁気抵抗
センサ膜+磁束ガイド)の厚さを薄くできるので、上部
シールド層11と下部シールド層12の間の間隔を狭く
することができるという利点がある。
【0047】ここで、GMR効果磁気抵抗センサの場合
には膜面内にセンス電流を流すので、これと接している
第1及び第2の磁束ガイド部110,111にもセンス
電流が分流し出力が低下する。そのため、これらを電気
抵抗の高い軟磁性膜、例えば、前述のような磁性体と酸
化物の不連続多層膜で形成することが望ましい。
【0048】[実施の形態3]図5は、本発明の他の実
施の形態である磁気抵抗センサの基本的な構成を表す図
である。本実施の形態では、磁気抵抗センサ膜としてT
MR効果膜を用いている。実施の形態1と同様に、上部
シールド層11、下部シールド層12の間に、磁束ガイ
ド10が配置されており、磁束ガイド10は、媒体対向
面1から素子高さ方向100の、TMR効果磁気抵抗セ
ンサ膜が設けられている位置よりも奥まで設ける。TM
R磁気抵抗センサ膜の自由層である第1の強磁性層22
の磁化は、非磁性中間層21を介して磁束ガイド10の
磁化と反強磁性的に結合している。さらに、第1の強磁
性層22は、トンネル障壁層232を介して、反強磁性
層25との交換結合によりその磁化の方向が拘束されて
いる第2の強磁性層24と積層されている。TMR効果
磁気抵抗センサ膜は、これらの第1の強磁性層22、ト
ンネル障壁層232、第2の強磁性層24、反強磁性層
25とにより構成されている。
【0049】反強磁性層25の下には、下地層26を設
けてあるが、第2の強磁性層24と反強磁性層25との
間の交換結合が安定なヘッド動作を行うのに十分である
ならば、下地層26は特に設ける必要がない。但し、下
地層26には、TMR効果磁気抵抗センサ膜の膜厚方向
にセンス電流を流すために、下部電極32が接続されて
いる。従って、下地層26は電極の一部としての役割も
有し、さらに下地層26と下部電極32の合計の厚さで
上部シールド層11と下部シールド層12との間隔を調
整する役割もある。さらに、下部電極32は下部シール
ド層12に接続し、下部シールド層12を下部電極の一
部として用いている。一方、上部電極31は、磁束ガイ
ド10の一部に接続されている。
【0050】第1の強磁性層22及び第2の強磁性層2
4には、実施の形態1と同様に、Ni−Fe,Co,C
o−Fe,Ni−Fe−Co及びこれらの積層膜を用い
ることができるが、トンネル障壁層232との界面には
スピン分極率の大きい材料を用いることが望ましい。反
強磁性層25には、Ir−Mn,Mn−Pt,Mn−P
d−Pt,Ni−Mnを用いることができる。また、非
磁性中間層21の材料としては、Ru,Cr,Rh,I
r及びそれらの合金を用いることができ、その膜厚は概
ね0.4nmから5nmの範囲である。トンネル障壁層
232には、Al,Si,Ti,V,Cr,Zr,N
b,Hf,Taのグループから選ばれる金属の酸化物及
びそれらの混合物を用いることができ、厚さは0.5n
mから3.0nmである。
【0051】なお、磁束ガイド10、TMR効果磁気抵
抗センサ膜や上部電極31と、上部シールド層11、下
部シールド層12、下部電極32の間には、例えば酸化
アルミニウムと酸化シリコンの混合膜などの絶縁膜が形
成されている。下部シールド層12は必ずしも電極を兼
用する必要はなく、また、上部電極31を上部シールド
層11に接続して上部シールド層12を電極の一部とし
て用いることもできる。
【0052】上述の構造では、TMR効果磁気抵抗セン
サ膜と下部シールド層12との間に下部電極32が配置
されているが、図6に示すように、下部シールド層12
上のTMR効果磁気抵抗センサ膜の近傍に下部電極32
を配置してもよく、さらには特に下部電極を設けず、下
部シールド層12を電極と兼用してもよい。
【0053】TMR効果磁気抵抗センサ膜を用いる磁気
抵抗センサを、図5,6に示すように、TMR効果磁気
抵抗センサ膜の自由層である第1の強磁性層22の磁化
を非磁性中間層21を介して磁束ガイド10の磁化と反
強磁性的に結合させ、TMR効果磁気抵抗センサ膜をセ
ンサ内部に配置した構造を採用することにより、TMR
効果磁気抵抗センサ膜が媒体対向面に露出させた磁気抵
抗センサに比べて、次のようなメリットがある。すなわ
ち、TMR効果磁気抵抗センサ膜の場合には、トンネル
障壁層232の上下に位置する第1の強磁性層22及び
第2の強磁性層24が媒体対向面1のラップ加工の際に
短絡してしまうと出力が出なくなるが、図5あるいは図
6に示す構造では、ラップ加工の際には磁束ガイド10
が削られ、TMR効果磁気抵抗センサ膜は全く削られる
ことがないので、加工に伴う不良をかなり減らすことが
できる。
【0054】次に、図7〜図9を用いて縦バイアス磁界
を印加するための構造について説明する。これらは、図
5あるいは図6が基本になっており、それに縦バイアス
磁界を印加するための構造を設けたものである。なお、
図において、非磁性中間層21までは俯瞰図で、それよ
りも上側については部分断面図になっている。
【0055】磁束ガイドを設けた磁気抵抗センサにおい
ては、磁気抵抗センサ膜の自由層のバルクハウゼンノイ
ズを抑制することは当然であるが、その他にも、磁束ガ
イド膜で発生したノイズを自由層がそのまま信号として
拾ってしまうので、磁束ガイドにも縦バイアス磁界を印
加する必要がある。本発明においては、自由層である第
1の磁性層22と磁束ガイド10が反強磁性的に結合し
ているため、いずれか一方に縦バイアス磁界を印加する
ための構造を設けることにより、両方に縦バイアス磁界
が印加されることになる。
【0056】図7は、磁束ガイド10上に縦バイアス印
加層33を積層した構造であり、図8及び図9は、縦バ
イアス印加層33を磁束ガイド10の両端及び両脇に設
けた構造である。いずれの構造においても、磁束ガイド
10と第1の強磁性層22の両方のバルクハウゼンノイ
ズを抑制することができる。
【0057】縦バイアス印加層33としては、永久磁石
材料を用いることができる。代表的には、Cr下地上に
CoCrPt膜を形成したものとすることができる。そ
の他、CoCrTa,CoPt,CoCrPtTaや、
これらにZrO2,Al23,Ta25などを添加した
材料を用いてもよい。縦バイアス印加層33の膜厚は、
自由層の膜厚、永久磁石材料の残留磁束密度の値などに
応じて8〜120nmの範囲とすることができるが、典
型的には30〜40nmである。磁気特性は代表的に
は、保磁力Hc:2000Oe、残留磁束密度Br:
0.8T、角型比Br/Bs:0.85であるが、これ
に限定されるものではない。磁化の方向は、トラック幅
方向である。
【0058】なお、ここでは磁気抵抗センサ膜としてT
MR効果膜を用いた磁気抵抗センサの磁束ガイドに縦バ
イアス印加層33を設けた場合について説明したが、図
2に示したGMR効果磁気抵抗センサ膜を用いた磁気抵
抗センサの磁束ガイドにも図7〜図9と全く同様にして
縦バイアス印加層を設けることができ、それによって磁
束ガイド10とGMR効果磁気抵抗センサ膜の第1の自
由層22の両方のバルクハウゼンノイズを抑制すること
ができる。
【0059】[実施の形態4]実施の形態3では、磁束
ガイドは1枚の磁束ガイド10で構成されているが、図
10に示すように、第1の磁束ガイド部110と第2の
磁束ガイド部111の2つの部分で磁束ガイドを構成し
てもよい。TMR効果磁気抵抗センサ膜の第1の強磁性
層22とは、第1の磁束ガイド部110の一部で非磁性
中間層21を介して反強磁性的に結合している。第1の
磁束ガイド部110と第2の磁束ガイド部111は、T
MR効果磁気抵抗センサ膜が配置されている位置より
も、より素子高さ方向に奥まった位置で接しており、こ
れらの磁束ガイド部110,111は磁気回路を形成し
ており、媒体から侵入した磁界が磁気回路に沿って通り
抜ける。このような構成は垂直記録の再生に好適であ
る。なお、上部電極31及び下部電極32の配置は、T
MR効果磁気抵抗センサ膜の膜厚方向にセンス電流が供
給できれば、必ずしも本図の限りではない。
【0060】第1の磁束ガイド部110と第2の磁束ガ
イド部111の2つの部分から構成される磁束ガイドに
縦バイアス印加層を設けた構造を図11〜図13に示
す。図11では、第1の磁束ガイド部110と第2の磁
束ガイド部111に挟まれた部分に縦バイアス印加層を
設けてあり、これにより、2つの磁束ガイド部とTMR
効果磁気抵抗センサ膜の自由層である第1の強磁性層2
2のバルクハウゼンノイズを抑制することが可能であ
る。図12では、2つの磁束ガイド部110と111で
挟まれた部分に非磁性ギャップ層35を設け、2つの磁
束ガイド部110と111と非磁性ギャップ層35の両
脇に一対の縦バイアス印加層33を配置したものであ
る。また、図13は、2つの磁束ガイド部110と11
1のそれぞれの両脇に縦バイアス印加層330と331
を各一対配置したものである。いずれの構造において
も、第1の磁束ガイド部110と第2の磁束ガイド部1
11と第1の自由層22のバルクハウゼンノイズを抑制
することができる。
【0061】図11の構造のメリットは、磁束ガイド1
10と縦バイアス印加層33と磁束ガイド111を成膜
した後に、一度でパターン形成できることである。ただ
し、磁束ガイド110を構成する材料が一般的には面心
立方(FCC)構造であるため、その上に永久磁石膜
(縦バイアス印加層)を形成したときに大きな保磁力が
得られにくいというデメリットがある。この難点を解消
するのが図12あるいは図13に示した構造である。図
13の構造は、図12の構造に比べるとプロセスが複雑
になる欠点はあるが、図12の構造では縦バイアス印加
層33の膜厚が厚くなり必要以上に大きな縦バイアス磁
界が発生する恐れがあるので、そのような場合には図1
3のように2つの磁束ガイド110と111にそれぞれ
別個に縦バイアス印加層330,331を設ければよ
い。
【0062】また、図14に示すように、第1の磁束ガ
イド部110と第2の磁束ガイド部111が形成する磁
気回路の内部にTMR効果磁気抵抗センサ膜を配置する
こともできる。但し、この場合には、上部電極31から
第2の磁束ガイド部111を通って下部電極32にセン
ス電流が短絡しないように、第2の磁束ガイド部を電気
抵抗の高い軟磁性膜、例えば、磁性体と酸化物の不連続
多層膜で形成する必要がある。この構造における縦バイ
アス印加層については、図13のように、2つの磁束ガ
イド部それぞれに縦バイアス印加層を配置するのが好ま
しい。また、図14に示す構造を採用すると、図3と図
4の関係のように、上部シールド層11と下部シールド
層12の間隔を狭くすることができる。
【0063】なお、本実施の形態では磁気抵抗センサ膜
としてTMR効果膜を用いた磁気抵抗センサの磁束ガイ
ドに縦バイアス印加層を設けた場合について説明した
が、図3あるいは図4に示したGMR効果磁気抵抗セン
サ膜を用いた磁気抵抗センサの磁束ガイドにも図11〜
図13と全く同様にして縦バイアス印加層を設けること
ができ、それによって磁束ガイド10とGMR効果磁気
抵抗センサ膜の第1の強磁性層22の両方のバルクハウ
ゼンノイズを抑制することができる。
【0064】[実施の形態5]図15は、本発明による
磁気ヘッドの構造を示す部分断面斜視図である。図15
に示すように、上記実施の形態に示した磁気抵抗センサ
膜を用いた磁気抵抗センサを再生素子2として用い、そ
の上に、下部磁極14及び上部磁極13の一対の磁気コ
アと、その磁気コアと鎖交するコイル16からなる記録
素子3を設けると、より高い記録密度に対応した磁気ヘ
ッドを提供することができる。
【0065】また、このような磁気ヘッドを用いると、
高い記録密度を有する磁気記録再生装置を提供すること
ができる。図16は、その一実施の形態の概略図であ
る。磁気記録再生装置は、情報を磁気的に記録する磁気
記録媒体201と、これを回転させるモーター202
と、磁気記録媒体201への情報の書き込みと読み出し
を行う磁気ヘッド203と、これを支えるサスペンショ
ン204と、磁気ヘッドの位置決めを行うアクチュエー
ター205と、情報(記録再生信号)を処理するリード
/ライト回路206などを有している。磁気ヘッド20
3として、図15に示す磁気ヘッドを用いると、高記録
密度の磁気記録再生装置を実現することができる。
【0066】また、上記磁気記録再生装置を複数台組み
合わせることで、ディスクアレイ装置を組むことができ
る。この場合、複数の磁気記録再生装置を同時に扱うた
め、情報の処理能力を速くでき、また装置の信頼性を高
めることができる。
【0067】以上の実施の形態では、磁気抵抗センサ膜
の上に磁束ガイドを設けているが、磁束ガイド上に非磁
性中間層を介して自由層である第1の強磁性層、非磁性
導電層あるいはトンネル障壁層、第2の強磁性層、反強
磁性層を積層する構造にしても、本発明の効果は変わる
ものではない。また、記録素子を形成した後にその上に
再生素子を設けても同様である。
【0068】
【発明の効果】本発明によれば、GMR効果膜及びTM
R効果膜などの磁気抵抗センサ膜を媒体対向面に露出さ
せずに磁束ガイドを用いる構造において、磁束ガイドと
自由層を反強磁性的に結合させることにより感度の向上
を図り、かつ、磁束ガイド膜及び磁気抵抗センサ膜の自
由層の両方に縦バイアス磁界を印加することにより高い
安定性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術と本発明の違いを示すモデル計算の結
果を示す図。
【図2】本発明による磁気抵抗センサの一例の断面模式
図。
【図3】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図4】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図5】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図6】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図7】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図8】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図9】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面模
式図。
【図10】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面
模式図。
【図11】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面
模式図。
【図12】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面
模式図。
【図13】本発明による磁気抵抗センサの他の例の断面
模式図。
【図14】本発明の実施の形態4の磁気抵抗センサにお
ける他の断面構造を示す図。
【図15】本発明の磁気ヘッドの構造を示す俯瞰及び部
分断面図。
【図16】本発明の磁気記録再生装置の概略図。
【図17】孤立波の再生波形の説明図。
【符号の説明】
1:媒体対向面、2:再生素子、3:記録素子、10:
磁束ガイド膜、110:第1の磁束ガイド部、111:
第2の磁束ガイド部、11:上部シールド層、12:下
部シールド層、13:上部磁極、14:下部磁極、1
5:磁気抵抗センサ膜、16:コイル、21:非磁性中
間層、22:第1の強磁性層、231:非磁性導電層、
232:トンネル障壁層、24:第2の強磁性層、2
5:反強磁性層、26:下地層、31:上部電極、3
2:下部電極、33:縦バイアス印加層、330:第1
の縦バイアス印加層、331:第2の縦バイアス印加
層、35:非磁性ギャップ層、100:素子高さ方向、
101:トラック幅方向
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−167118(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 5/39 G01R 33/09 H01F 10/14 H01F 10/16 H01L 43/08

Claims (14)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 印加される磁界の大きさに応じて磁化の
    方向が回転する強磁性層を備える磁気抵抗センサ膜と、
    前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すための一対
    の電極と、前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体からの
    漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える磁気抵抗セ
    ンサにおいて、 前記磁気抵抗センサ膜の印加される磁界の大きさに応じ
    て磁化の方向が回転する強磁性層は、前記磁束ガイドと
    反強磁性的に結合していることを特徴とする磁気抵抗セ
    ンサ。
  2. 【請求項2】 印加される磁界の大きさに応じて磁化の
    方向が回転する強磁性層を備える磁気抵抗センサ膜と、
    前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すための一対
    の電極と、前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体からの
    漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える磁気抵抗セ
    ンサにおいて、 前記磁気抵抗センサ膜の印加される磁界の大きさに応じ
    て磁化の方向が回転する強磁性層は、Ru,Cr,R
    h,Irあるいはそれらの合金からなる非磁性中間層を
    介して、前記磁束ガイドと反強磁性的に結合しているこ
    とを特徴とする磁気抵抗センサ。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の磁気抵抗センサに
    おいて、前記磁束ガイドは第1の磁束ガイド部と第2の
    磁束ガイド部とからなり、前記第1及び第2の磁束ガイ
    ド部は、前記媒体対向面から素子高さ方向に連続してお
    り、前記磁気抵抗センサ膜よりも素子高さ方向に前記媒
    体対向面から離れた位置において磁気的に接続している
    ことを特徴とする磁気抵抗センサ。
  4. 【請求項4】 請求項1,2又は3記載の磁気抵抗セン
    サにおいて、前記磁束ガイドにバルクハウゼンノイズを
    抑制するための縦バイアス印加層が設けられていること
    を特徴とする磁気抵抗センサ。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1項記載の磁気
    抵抗センサにおいて、前記磁気抵抗センサ膜は、トンネ
    ル障壁層を介して積層された第1の強磁性層と第2の強
    磁性層とを備え、前記第1の強磁性層は印加される磁界
    に応じて磁化の方向が回転し、前記第1の強磁性層の磁
    化の方向と前記第2の強磁性層の磁化の方向の相対的な
    角度が変わることによって電気抵抗が変化することを特
    徴とする磁気抵抗センサ。
  6. 【請求項6】 印加される磁界の大きさに応じて磁化の
    方向が回転する強磁性層を有する磁気抵抗センサ膜と、
    前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すための一対
    の電極と、前記磁気抵抗センサ膜の印加される磁界の大
    きさに応じて磁化の方向が回転する強磁性層と反強磁性
    的に結合していて前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体
    からの漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える再生
    ヘッドを含むことを特徴とする磁気ヘッド。
  7. 【請求項7】 トンネル障壁層を介して積層された第1
    の強磁性層と第2の強磁性層とを備え、前記第1の強磁
    性層は印加される磁界に応じて磁化の方向が回転する磁
    気抵抗センサ膜と、前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電
    流を流すための一対の電極と、Ru,Cr,Rh,Ir
    あるいはそれらの合金からなる非磁性中間層を介して前
    記磁気抵抗センサ膜の前記第1の強磁性層と反強磁性的
    に結合し前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体からの漏
    洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える再生ヘッドを
    含むことを特徴とする磁気ヘッド。
  8. 【請求項8】 非磁性導電層を介して積層された第1の
    強磁性層と第2の強磁性層とを備え、前記第1の強磁性
    層は印加される磁界に応じて磁化の方向が回転し、前記
    第1の強磁性層の磁化の方向と第2の強磁性層の磁化の
    方向の相対的な角度が変わることによって電気抵抗が変
    化する磁気抵抗センサ膜と、前記磁気抵抗センサ膜に信
    号検出電流を流すための一対の電極と、Ru,Cr,R
    h,Irあるいはそれらの合金からなる非磁性中間層を
    介して前記磁気抵抗センサ膜の前記第1の強磁性層と反
    強磁性的に結合し前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体
    からの漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える再生
    ヘッドを含むことを特徴とする磁気ヘッド。
  9. 【請求項9】 請求項6,7又は8記載の磁気ヘッドに
    おいて、前記磁束ガイドにバルクハウゼンノイズを抑制
    するための縦バイアス印加層が設けられていることを特
    徴とする磁気ヘッド。
  10. 【請求項10】 磁気記録媒体と、記録部と再生部とを
    備える磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒
    体に対して相対運動させる駆動手段と、記録再生信号処
    理手段とを含む磁気記憶装置において、 前記磁気ヘッドの再生部は、印加される磁界の大きさに
    応じて磁化の方向が回転する強磁性層を含む磁気抵抗セ
    ンサ膜と、前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流す
    ための一対の電極と、前記磁気抵抗センサ膜の印加され
    る磁界の大きさに応じて磁化の方向が回転する強磁性層
    と反強磁性的に結合し前記磁気記録媒体からの漏洩磁束
    を前記磁気抵抗センサ膜に導くための磁束ガイドとを備
    えることを特徴とする磁気記録再生装置。
  11. 【請求項11】 第1の強磁性層、非磁性層、第2の強
    磁性層及び反強磁性層が順に形成された磁気抵抗センサ
    膜と、前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すため
    の一対の電極と、前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体
    からの漏洩磁束を導くための磁束ガイドとを備える磁気
    抵抗センサにおいて、 前記第1の強磁性層と前記磁束ガイドは、Ru,Cr,
    Rh,Irあるいはそれらの合金からなる非磁性中間層
    を介して反強磁性的に結合していることを特徴とする磁
    気抵抗センサ。
  12. 【請求項12】 請求項11記載の磁気抵抗センサにお
    いて、前記非磁性層はトンネル障壁層であることを特徴
    とする磁気抵抗センサ。
  13. 【請求項13】 第1の強磁性層、非磁性層、第2の強
    磁性層及び反強磁性層が順に形成された磁気抵抗センサ
    膜と、前記磁気抵抗センサ膜に信号検出電流を流すため
    の一対の電極と、前記磁気抵抗センサ膜に磁気記録媒体
    からの漏洩磁束を導くための磁束ガイドと、当該磁束ガ
    イドと前記第1の強磁性層との間に形成されたRu,C
    r,Rh,Irあるいはそれらの合金からなる非磁性中
    間層とを備え、前記磁束ガイドと前記第1の強磁性層と
    は前記非磁性中間層を介して反強磁性的に結合してい
    ことを特徴とする磁気ヘッド。
  14. 【請求項14】 請求項13記載の磁気ヘッドにおい
    て、前記非磁性層はトンネル障壁層であることを特徴と
    する磁気ヘッド。
JP2000104359A 2000-04-06 2000-04-06 磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置 Expired - Fee Related JP3462832B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000104359A JP3462832B2 (ja) 2000-04-06 2000-04-06 磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
US09/811,482 US6636391B2 (en) 2000-04-06 2001-03-20 Magnetoresistive sensor, magnetic head and magnetic disk apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000104359A JP3462832B2 (ja) 2000-04-06 2000-04-06 磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001291214A JP2001291214A (ja) 2001-10-19
JP3462832B2 true JP3462832B2 (ja) 2003-11-05

Family

ID=18617913

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000104359A Expired - Fee Related JP3462832B2 (ja) 2000-04-06 2000-04-06 磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6636391B2 (ja)
JP (1) JP3462832B2 (ja)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3618654B2 (ja) * 2000-09-11 2005-02-09 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP2002092829A (ja) * 2000-09-21 2002-03-29 Fujitsu Ltd 磁気抵抗センサ及び磁気抵抗ヘッド
US20020044391A1 (en) * 2000-11-15 2002-04-18 Masayoshi Hiramoto Magneto-resistive element magnetic head, and magnetic recording and reproduction apparatus
JP2002260204A (ja) * 2001-02-27 2002-09-13 Fujitsu Ltd 磁気ヘッド
US6946834B2 (en) * 2001-06-01 2005-09-20 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of orienting an axis of magnetization of a first magnetic element with respect to a second magnetic element, semimanufacture for obtaining a sensor, sensor for measuring a magnetic field
US6724587B2 (en) * 2001-06-11 2004-04-20 International Business Machines Corporation Low temperature yoke type tunnel valve sensor
US7057864B2 (en) * 2001-07-10 2006-06-06 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Method and apparatus for achieving physical connection between the flux guide and the free layer and that insulates the flux guide from the shields
US6757144B2 (en) * 2002-01-18 2004-06-29 International Business Machines Corporation Flux guide read head with in stack biased current perpendicular to the planes (CPP) sensor
US6888705B2 (en) * 2002-01-18 2005-05-03 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. High linear density tunnel junction flux guide read head with in-stack longitudinal bias stack (LBS)
JP2003242612A (ja) * 2002-02-12 2003-08-29 Fujitsu Ltd フラックスガイド型素子、及び、それを有するヘッド並びにドライブ
JP2003324225A (ja) * 2002-04-26 2003-11-14 Nec Corp 積層フェリ型磁性薄膜並びにそれを使用した磁気抵抗効果素子及び強磁性トンネル素子
JP3973495B2 (ja) 2002-06-19 2007-09-12 アルプス電気株式会社 磁気ヘッド及びその製造方法
US6985339B2 (en) * 2002-06-20 2006-01-10 Seagate Technology Llc Disc drive having electromagnetic biased shieldless CPP reader
US7170721B2 (en) * 2002-06-25 2007-01-30 Quantum Corporation Method of producing flux guides in magnetic recording heads
JP2004031545A (ja) 2002-06-25 2004-01-29 Alps Electric Co Ltd 磁気検出素子及びその製造方法
JP4146202B2 (ja) * 2002-09-24 2008-09-10 株式会社東芝 スピントンネルトランジスタ、磁気再生ヘッド、磁気情報再生システム、及び磁気記憶装置
JP4029772B2 (ja) * 2003-05-16 2008-01-09 株式会社日立製作所 磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気記録再生装置
US7183893B2 (en) * 2004-02-04 2007-02-27 Seagate Technology Llc TMR sensor with oxidized alloy barrier layer and method for forming the same
JP2005346742A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Toshiba Corp 磁気再生ヘッドおよび磁気ディスク装置
US7477490B2 (en) * 2004-06-30 2009-01-13 Seagate Technology Llc Single sensor element that is naturally differentiated
US7290325B2 (en) * 2004-08-13 2007-11-06 Quantum Corporation Methods of manufacturing magnetic heads with reference and monitoring devices
US7751154B2 (en) 2005-05-19 2010-07-06 Quantum Corporation Magnetic recording heads with bearing surface protections and methods of manufacture
US7333305B2 (en) * 2005-07-22 2008-02-19 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Magnetoresistive sensor with in-stack bias layer pinned at the back edge of the sensor stripe
JP4786331B2 (ja) 2005-12-21 2011-10-05 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法
JP4514721B2 (ja) 2006-02-09 2010-07-28 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド、磁気記録再生装置及び磁気記憶装置
US7616411B2 (en) * 2006-03-28 2009-11-10 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Current perpendicular to plane (CPP) magnetoresistive sensor having a flux guide structure and synthetic free layer
JP2007299880A (ja) 2006-04-28 2007-11-15 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子,および磁気抵抗効果素子の製造方法
JP4490950B2 (ja) * 2006-07-07 2010-06-30 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、及び磁気抵抗効果素子
JP4550777B2 (ja) 2006-07-07 2010-09-22 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置及び磁気メモリ
KR20080085569A (ko) * 2007-03-20 2008-09-24 삼성전자주식회사 터널링 자기저항 소자 및 그를 포함하는 자기 헤드
JP4388093B2 (ja) 2007-03-27 2009-12-24 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記録再生装置
JP2008252008A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子、およびその製造方法
JP2008311373A (ja) * 2007-06-13 2008-12-25 Toshiba Corp 磁性多層膜通電素子
US7872564B2 (en) * 2007-11-16 2011-01-18 Infineon Technologies Ag Integrated lateral short circuit for a beneficial modification of current distribution structure for xMR magnetoresistive sensors
JP5361201B2 (ja) * 2008-01-30 2013-12-04 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法
JP5150284B2 (ja) 2008-01-30 2013-02-20 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子およびその製造方法
JP5039006B2 (ja) * 2008-09-26 2012-10-03 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録再生装置
JP5039007B2 (ja) 2008-09-26 2012-10-03 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリ及び磁気記録再生装置
JP2010080839A (ja) 2008-09-29 2010-04-08 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子の製造方法、磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドアセンブリおよび磁気記録再生装置
US8873203B2 (en) 2012-12-21 2014-10-28 HGST Netherlands B.V. Magnetic head having a soft magnetic layer formed behind a tunneling magnetoresistance (TMR) sensor in an element height direction
US9778324B2 (en) 2015-04-17 2017-10-03 Apple Inc. Yoke configuration to reduce high offset in X-, Y-, and Z-magnetic sensors
US9786302B1 (en) * 2016-04-08 2017-10-10 Western Digital Technologies, Inc. Flux-guided tunneling magnetoresistive (TMR) sensor for magnetic tape with reduced likelihood of electrical shorting
ES2698153B2 (es) 2017-07-31 2019-06-07 Univ Madrid Carlos Iii Procedimiento para la producción de partículas de corcho magnéticas, partículas así obtenidas y usos de las mismas
US10559412B2 (en) * 2017-12-07 2020-02-11 Tdk Corporation Magnetoresistance effect device
US10777345B2 (en) * 2018-02-21 2020-09-15 Allegro Microsystems, Llc Spin valve with bias alignment
TWI678820B (zh) * 2018-08-02 2019-12-01 世界先進積體電路股份有限公司 磁阻裝置及其形成方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4898547A (en) * 1985-07-30 1990-02-06 Paradyne Corp. Hybrid interface adapter
JP2834231B2 (ja) 1989-11-13 1998-12-09 株式会社日立製作所 磁気ヘッドおよび磁気記憶装置
JP3565925B2 (ja) 1994-12-13 2004-09-15 富士通株式会社 磁気抵抗効果ヘッド
JP3154217B2 (ja) 1993-12-01 2001-04-09 沖電気工業株式会社 移動物標追尾装置
JPH10334418A (ja) 1997-06-03 1998-12-18 Mitsubishi Electric Corp 磁気ヘッドおよびその製法ならびに該磁気ヘッドを用いた磁気記録装置
US5898547A (en) * 1997-10-24 1999-04-27 International Business Machines Corporation Magnetic tunnel junction magnetoresistive read head with sensing layer as flux guide
JP3836294B2 (ja) * 2000-03-27 2006-10-25 株式会社日立グローバルストレージテクノロジーズ 磁気ヘッド、及びこれを用いた磁気記録再生装置
US6624988B2 (en) * 2001-03-20 2003-09-23 International Business Machines Corporation Tunnel junction sensor with antiparallel (AP) coupled flux guide

Also Published As

Publication number Publication date
JP2001291214A (ja) 2001-10-19
US20010040777A1 (en) 2001-11-15
US6636391B2 (en) 2003-10-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3462832B2 (ja) 磁気抵抗センサ並びにこれを用いた磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP3657916B2 (ja) 磁気抵抗効果ヘッドおよび垂直磁気記録再生装置
US7061732B2 (en) Magnetoresistive head and perpendicular magnetic recording-reproducing apparatus
JP3291208B2 (ja) 磁気抵抗効果型センサおよびその製造方法とそのセンサを備えた磁気ヘッド
US6906898B2 (en) Differential detection read sensor, thin film head for perpendicular magnetic recording and perpendicular magnetic recording apparatus
JP3657875B2 (ja) トンネル磁気抵抗効果素子
EP0790600A2 (en) Magnetoresistive effect head
JP2004178656A (ja) 磁気記録ヘッド及び磁気記録再生装置
JP2003069109A (ja) 磁気抵抗効果型磁気センサ、磁気抵抗効果型磁気ヘッド、磁気再生装置と、磁気抵抗効果型磁気センサおよび磁気抵抗効果型磁気ヘッドの製造方法
KR19980087043A (ko) 자기 저항 효과 소자 및 이를 이용한 자기 저항 효과 센서, 자기 저항 검출 시스템 및 자기 기억 시스템
JP3708033B2 (ja) Cpp磁気抵抗効果型再生ヘッド、cpp巨大磁気抵抗効果型再生ヘッドおよびバイアス磁界印加方法
JP3836294B2 (ja) 磁気ヘッド、及びこれを用いた磁気記録再生装置
JPH1055514A (ja) 磁気抵抗効果素子及びその製造方法
JP2001308413A (ja) 磁気抵抗効果薄膜、磁気抵抗効果素子及び磁気抵抗効果型磁気ヘッド
JP3817399B2 (ja) 磁気抵抗センサー
US6452762B1 (en) Magneto-resistive element and production method thereof, magneto-resistive head, and magnetic recording/reproducing apparatus
US6552882B1 (en) Information reproduction head apparatus and information recording/reproduction system
JP3575672B2 (ja) 磁気抵抗効果膜及び磁気抵抗効果素子
JP2001056908A (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気抵抗効果ヘッド及び磁気抵抗検出システム並びに磁気記憶システム
JP2009009681A (ja) Cpp構造の磁気抵抗効果素子および磁気ディスク装置
JP3593077B2 (ja) 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド及び磁気記録再生装置
JP3261698B2 (ja) 磁気ヘッドおよび磁気抵抗効果素子
JP2002305338A (ja) 垂直通電型磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置
JP3823028B2 (ja) 磁気ヘッド
JP2001338410A (ja) 磁気ディスク装置

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080815

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080815

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090815

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100815

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100815

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110815

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120815

Year of fee payment: 9

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120815

Year of fee payment: 9

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees