JP3462184B2 - 集積回路装置 - Google Patents

集積回路装置

Info

Publication number
JP3462184B2
JP3462184B2 JP2001078532A JP2001078532A JP3462184B2 JP 3462184 B2 JP3462184 B2 JP 3462184B2 JP 2001078532 A JP2001078532 A JP 2001078532A JP 2001078532 A JP2001078532 A JP 2001078532A JP 3462184 B2 JP3462184 B2 JP 3462184B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
voltage line
transistor
integrated circuit
node
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2001078532A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002171747A (ja
Inventor
ダグラス・ブレイン・バトラー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of JP2002171747A publication Critical patent/JP2002171747A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3462184B2 publication Critical patent/JP3462184B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M3/00Conversion of dc power input into dc power output
    • H02M3/02Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac
    • H02M3/04Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters
    • H02M3/06Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider
    • H02M3/07Conversion of dc power input into dc power output without intermediate conversion into ac by static converters using resistors or capacitors, e.g. potential divider using capacitors charged and discharged alternately by semiconductor devices with control electrode, e.g. charge pumps
    • H02M3/073Charge pumps of the Schenkel-type

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Dc-Dc Converters (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の背景】この発明は一般的には、集積回路(「I
C」)装置の分野に関する。より特定的にはこの発明
は、外部から供給される電源を超過するかまたはより低
いかの、いずれかの電圧レベルを要求するIC装置に関
して特に適用性のある低ノイズのチャージポンプ回路の
ための、ドライバタイミングおよび回路技術に関する。
【0002】IC装置は、典型的には電力電圧供給
(「VCC」)と相対的な回路接地電圧供給(「VS
S」)とのみを必要とするよう設計される。これにより
装置内のIC装置の使用がより容易になる。それでも、
これらの装置のサブ回路が適切な動作のために、これら
のレベルより高いかまたは低い電圧供給レベルを必要と
する場合もある。
【0003】現在のダイナミックランダムアクセスメモ
リ(「DRAM」)装置は、十分に高いレベルまでメモ
リアクセストランジスタゲートまたはロウデコーダ論理
を駆動するためにすべてのVCCレベルがメモリセルに
書込まれるように、VCCより高い電圧供給レベルを要
求することが多い。DRAMはまた、VSSより低い電
圧レベルを要求することも多いが、これは基板をバイア
スさせて周辺回路からの少数キャリア注入を防ぐために
使用される。さらに、電気的消去書込可能型プログラマ
ブル読出専用メモリ装置(「EEPROM」)はメモリ
セルをプログラムするかまたは消去するためにVCCよ
り高い電圧供給レベルを要求することが多い。
【0004】この点で、VCCより高い電圧レベルはし
ばしば、チャージポンプ回路によってIC装置自体の上
(すなわち「オンチップ」)で発生される。VCCのレ
ベルより高い電圧を導出するために使用されるチャージ
ポンプ回路は、一般的には次のように動作する。すなわ
ち、キャパシタの第1のノードをVCCに接続する一
方、第2のノードをVSSに接続するステップと、キャ
パシタの第1のノードをVCCから切断しこれをポンピ
ングされたノード(「VCCP」)に接続するステップ
と、キャパシタの第2のノードをVSSから切断しこれ
をVCCに駆動することにより第1のノードをVCCよ
り高く駆動してキャパシタの第1のノードをポンピング
されたノードに結合しそれに電荷を送るステップと、キ
ャパシタの第1のノードをポンピングされたノードから
切断しこれをVCCに再接続するステップと、第2のノ
ードをVCCから切断して再びVSSに結合することに
よりキャパシタの初期状態をリストアするステップとを
繰返す結果、電荷がVCCからVCCPに「ポンピング
される」。
【0005】VCCPが相対的に大量の電流を供給する
ことを必要とするこれらの用途においては、チャージポ
ンプ内のキャパシタおよびトランジスタも大型でなけれ
ばならない。トランジスタのスイッチが「オン」と「オ
フ」とに切換わり、キャパシタのノードを「ハイ」また
は「ロー」に駆動するとき、大量の電流が流れ、また電
流量の変化率(「dI/dt」)も大きい。電圧供給V
CCとVSSとはこの電流を供給し、かつ吸い出すた
め、VCCおよびVSS電圧レベルはチャージポンプ動
作の結果、変動する。この電圧変化は望ましくない「ノ
イズ」を含み、VSSおよびVCC供給上のこのノイズ
によりIC装置がシステム内で適切に機能できなくな
る。ノイズの量は、VCCおよびVSS供給の抵抗およ
びインダクタンスから決定され、IC装置に関しては、
最も制御が困難なノイズ源はdI/dt因子によるもの
であるが、これはダイボンドワイヤが顕著なレベルのイ
ンダクタンスを提供するからである。
【0006】従来のチャージポンプ回路において、ポン
プキャパシタはインバータによって駆動され相対的に大
きな時間対電流の変化(「dI/dt」)をもたらす
が、これはキャパシタのノードが駆動されるとき、およ
び中間のノードを電源に接続するトランジスタが「オ
ン」に切換えられるときに起こる。dI/dtは同様
に、中間のノードをポンピングされたノードに接続する
トランジスタが「オン」に切りかえられるときにも起こ
る。キャパシタのノードと中間のノードとにおけるこれ
らのdI/dt変化は、望ましくなく、ときには受入れ
られないノイズを回路にもたらす。
【0007】
【発明の概要】この発明の技術によると、集積回路装置
のためのドライバ回路のポンプキャパシタは、1つのト
ランジスタによって「ハイ」に、別のものによって「ロ
ー」に駆動される。それらを駆動する装置を正しくサイ
ズ決めすることにより、トランジスタの各々は素早く
「オフ」に、およびゆっくりと「オン」に切換えられる
ことが可能であり、かつ別の代替的な実施例では、トラ
ンジスタの両方が同時に「オフ」となり、「トライステ
ート」動作をもたらしてもよい。中間のノードを電源に
接続するトランジスタが「オン」に切換えられていると
きに両方のトランジスタが「オフ」であるようにタイミ
ングを設定し、それにより大きなdI/dtと電源上の
結果として生じるノイズとを防いでもよい。
【0008】ここに特に開示するのは、第1の端子と第
2の端子とが中間のノードとキャパシタ62のノードと
にそれぞれ結合された容量素子を含む、チャージポンプ
回路を含む集積回路装置である。第1のスイッチング装
置52が提供され、第1のクロック信号に応答して中間
のノードを供給電圧線に選択的に結合し、第2のスイッ
チング装置54が併せて提供され、第2のクロック信号
に応答して中間のノードをポンピングされた電圧線に選
択的に結合する。第1のインバータ66の入力は、第3
のクロック信号を受取るよう結合され、出力は第3のス
イッチング装置58に結合されて第3のクロック信号に
応答してキャパシタのノードを供給電圧線に選択的に結
合し、第2のインバータ72の入力も第3のクロック信
号を受取るよう結合され、出力は第4のスイッチング装
置60に結合され同じ第3のクロック信号に応答してキ
ャパシタのノードを接地電圧線に選択的に結合する。代
替的な「トライステート」実施例では、第2のインバー
タの入力は別の第4のクロック信号を受取るよう結合さ
れて、かつ第3のクロック信号から独立してこれに応答
して、第4のスイッチング装置がキャパシタのノードを
接地電圧線に結合するように動作可能である。
【0009】また特にここに開示するのは、集積回路装
置内のチャージポンプを動作するための方法であって、
この方法は、容量素子の第1の端子を供給電圧線に結合
する一方、容量素子の第2の端子を接地電圧線に結合す
るステップを含む。最初に、第1の端子を供給電圧線か
ら減結合する一方、実質的に同時に第1の端子をポンピ
ングされた電圧線に結合する。2番目に、第2の端子を
接地電圧線から減結合する一方、実質的に同時に第2の
端子を供給電圧線に結合する。3番目に、第1の端子を
ポンピングされた電圧線から減結合する一方、実質的に
同時に第1の端子を供給電圧線に結合する。4番目に、
第2の端子を供給電圧線から減結合する一方、実質的に
同時に第2の端子を接地電圧線に結合する。動作におい
ては、2番目に第2の端子を接地電圧線から減結合する
ステップは、実質的に同時に第2の端子を供給電圧線に
結合する対応のステップよりも相対的により速く起こ
る。また、4番目に第2の端子を供給電圧線から減結合
するステップもまた、実質的に同時に第2の端子を接地
電圧線に結合する対応のステップよりも相対的により速
く起こり得る。
【0010】この発明の前述の特徴および他の特徴と目
的と、それらを達成するための態様とは、以下の好まし
い実施例の説明を添付の図面と併せて参照することによ
りより明らかとなり、発明自体を最良に理解できるであ
ろう。
【0011】
【代表的な実施例の説明】図1を参照して、従来のチャ
ージポンプ回路10を示す。従来のチャージポンプ回路
10は、中間のノード16を供給電圧源(「VCC」)
に結合する第1のNチャネル型トランジスタ12と、中
間のノード16をポンピングされた供給電圧源(「VC
CP」)に結合する第2のNチャネル型トランジスタ1
4とを含む。
【0012】CMOSインバータ18は、直列接続され
たPチャネル型トランジスタ20とNチャネル型トラン
ジスタ22とを含み、VCCと回路接地(「VSS」)
との間に結合される。インバータ18の出力はキャパシ
タのノード24を規定し、これはキャパシタ26の第1
の端子(またはノード)に結合され、該キャパシタ26
の第2の端子は中間のノード16に結合される。線28
上のクロック信号(「CLOCK1」)は、トランジス
タ12のゲートに与えられる一方、線30上の別のクロ
ック信号(「CLOCK2」)はトランジスタ14のゲ
ートに与えられる。線32上の別のクロック信号(「C
LOCK3」)はインバータ18の入力に与えられる。
【0013】示されるチャージポンプ回路10の実施例
では、トランジスタ12、14および22は1000μ
のチャネル幅と0.34μの長さとを有し、トランジス
タ20は同様に、2000μの幅と対応する0.34μ
の長さとを有してもよい。キャパシタ26は、実質的に
300pfの典型的な値を有し得る。
【0014】さらに図2を参照して、この発明の一実施
例に従ったチャージポンプ回路50を示す。チャージポ
ンプ回路50は、中間のノード56をVCCに結合する
第1のNチャネル型トランジスタ52と、中間のノード
16をポンピングされた供給電圧源VCCPに結合する
第2のNチャネル型トランジスタ54とを含む。
【0015】直列接続されたPチャネル型トランジスタ
58とNチャネル型トランジスタ60とは、VCCとV
SSとの間に結合される。キャパシタのノード62はト
ランジスタ58と60との間に規定され、キャパシタ6
4の第1の端子(またはノード)に結合され、該キャパ
シタ64の第2の端子は中間のノード56に結合され
る。
【0016】第1のCMOSインバータ66は、直列接
続されたPチャネル型トランジスタ68とNチャネル型
トランジスタ70とを含み、VCCとVSSとの間に結
合され、その出力はトランジスタ58のゲート端子に結
合される。同様に、第2のCMOSインバータ72も、
直列接続されたPチャネル型トランジスタ74とNチャ
ネル型トランジスタ76とを含み、VCCとVSSとの
間に結合され、その出力はトランジスタ60のゲート端
子に結合される。第1のインバータ66と第2のインバ
ータ72との入力は共通の入力線82に結合され、これ
はCLOCK3入力信号を受取る。線78上のCLOC
K1信号は、トランジスタ52のゲートに与えられる一
方、線80上のCLOCK2信号はトランジスタ54の
ゲートに与えられる。
【0017】さらに図3を参照して、この発明に従った
チャージポンプ回路100の代替的な実施例を示す。図
2のチャージポンプ回路50に関して上で開示したよう
に、チャージポンプ回路100は、中間のノード56を
VCCに結合する第1のNチャネル型トランジスタ52
と、中間のノード16をポンピングされた供給電圧源V
CCPに結合する第2のNチャネル型トランジスタ54
とを含む。
【0018】上と同じく、直列接続されたPチャネル型
トランジスタ58とNチャネル型トランジスタ60と
は、VCCとVSSとの間に結合される。キャパシタの
ノード62はトランジスタ58と60との間に規定さ
れ、かつキャパシタ64の第1の端子(またはノード)
に結合され、該キャパシタ64の第2の端子は中間のノ
ード56に結合される。
【0019】第1のCMOSインバータ66は直列接続
されたPチャネル型トランジスタ68とNチャネル型ト
ランジスタ70とを含み、VCCとVSSとの間に結合
され、その出力はトランジスタ58のゲート端子に結合
される。同様に、第2のCMOSインバータ72も直列
接続されたPチャネル型トランジスタ74とNチャネル
型トランジスタ76とを含み、VCCとVSSとの間に
結合され、その出力はトランジスタ60のゲート端子に
結合される。
【0020】チャージポンプ回路100の実施例に関し
ては、ここでは第1のインバータ66と第2のインバー
タ72との入力は共通の入力線に結合されてCLOCK
3入力信号を受取らない。そうではなく、インバータ6
6の入力は入力線82に結合されてCLOCK3信号を
受取る一方、インバータ72の入力は別個に別の入力線
84に結合されてCLOCK4信号を受取る。しかしな
がら、上と同じく、線78上のCLOCK1信号はトラ
ンジスタ52のゲートに与えられる一方、線80上のC
LOCK2信号はトランジスタ54のゲートに与えられ
る。
【0021】チャージポンプ回路50(図2)とチャー
ジポンプ回路100(図3)との実施例に関しては、ト
ランジスタ52、54および60も1000μのチャネ
ル幅と0.34μの長さとを有し、同じくトランジスタ
58は2000μの幅と対応の0.34μmの長さを有
し得る。キャパシタ64は、実質的に300pfの典型
的な値を有してもよい。トランジスタ70、74は10
μのチャネル幅と0.34μの長さとを有する一方、ト
ランジスタ68は400μの幅を有し、トランジスタ7
6は100μの幅を有し、そのいずれもが0.34μの
チャネル幅を有し得る。見られるように、トランジスタ
68はトランジスタ74よりも大きい一方、トランジス
タ76はトランジスタ70よりも大きい。この相対的な
装置のサイズ決めはチャージポンプ回路50(図2)と
チャージポンプ回路100(図3)との「速いオフ/遅
いオン」動作を容易にし、この動作を以下に詳述する。
【0022】さらに図4を参照して、図1の従来のチャ
ージポンプ回路10へのCLOCK1、CLOCK2お
よびCLOCK3信号入力のタイミング図を示す。動作
においては、さまざまなクロック信号が機能するが、C
LOCK3信号に応答してトランジスタ22の動作によ
ってキャパシタのノード24がVSSに結合される一
方、トランジスタ12はCLOCK1信号に応答して中
間のノード16をVCCに結合する。次いでトランジス
タ12はCLOCK1に応答して「オフ」に切換えられ
る。この時点で、CLOCK3信号に応答して、トラン
ジスタ22をオフに切換えトランジスタ24をオンに切
換えることにより、キャパシタのノード24をVSSか
ら減結合し、キャパシタのノード24をVCCに結合す
る。これは中間のノード16上の電圧をVCCより高く
駆動する。次いでトランジスタ14は、CLOCK2信
号に応答して「オン」に切換えられ、中間のノード16
をVCCPに接続し、電荷はVCCPに送られる。次い
で中間のノード16は、CLOCK2信号に応答してト
ランジスタ14を「オフ」に切換えることにより、VC
CPから切断される。次いでキャパシタのノード24
は、CLOCK3信号に応答してトランジスタ20を
「オフ」に切換え、かつトランジスタ22を「オン」に
切換えることにより、VCCから切断されてVSSに接
続される。次いでトランジスタ12は、CLOCK1信
号に応答してオンに切換えられ、中間のノード16をV
CCに結合することによりキャパシタ26の状態をリス
トアする。上のステップを繰返すことにより、電荷はV
CCのレベルからより高い電圧供給VCCPに「ポンピ
ングされる」。
【0023】さらに図5を参照して、図2のチャージポ
ンプ回路50に対する、CLOCK1、CLOCK2、
およびCLOCK3信号入力の対応のタイミング図を示
す。上述のとおり、さまざまなクロック信号が機能する
が、インバータ72を介し与えられるCLOCK3信号
に応答したトランジスタ60の動作によって、キャパシ
タのノード62をVSSに結合する一方、CLOCK1
信号に応答してトランジスタ52は中間のノード56を
VCCに結合する。次いでトランジスタ52は、CLO
CK1信号に応答して「オフ」に切換えられる。この時
点で、インバータ72およびインバータ66のそれぞれ
を介して結合するCLOCK3信号に応答して、トラン
ジスタ60をオフに切換え、トランジスタ58をオンに
切換えることにより、キャパシタのノード62はVSS
から減結合され、キャパシタのノード62はVCCに結
合される。これは中間のノード56上の電圧をVCCよ
り高く駆動する。次いでトランジスタ54は、CLOC
K2信号に応答して「オン」に切換えられ、中間のノー
ド56をVCCPに結合し、電荷をVCCPに送る。次
いで中間のノード56は、CLOCK2信号に応答して
トランジスタ54を「オフ」に切換えることによりVC
CPから切断される。次いでCLOCK3信号およびイ
ンバータ66とインバータ72とのそれぞれに応答し
て、トランジスタ58を「オフ」に切換え、トランジス
タ60を「オン」に切換えることにより、キャパシタの
ノード62はVCCから切断される。次いでCLOCK
1信号に応答してトランジスタ52は「オン」に切換え
られ中間のノード56をVCCに結合し、それによりキ
ャパシタ64の状態をリストアする。前述のステップを
繰返すことにより、電荷はVCCのレベルからより高い
電圧供給VCCPに「ポンピングされる」。
【0024】さらに図6を参照して、図3のチャージポ
ンプ回路100の代替的な実施例の動作を示す。図6の
時間Aでは、トランジスタ58、60、52および54
はすべて「オフ」状態である。次いでCLOCK2はハ
イになってノード56をVCCPに接続する。ノード6
2は「トライステート」(すなわちVCCまたはVSS
のいずれにも保持されない)なので、ノード56をVC
CPと同じ電位にさせるためにはほとんど電荷を必要と
せず、これによりほとんどノイズが生じない。CLOC
K3はハイになってインバータ66の出力をローにす
る。インバータ66のトランジスタ70は(小さく)サ
イズ決めされ、トランジスタ58のゲートをゆっくりと
ローに引き、ノード62をゆっくりとVCCに引き、こ
れにより電荷はノード56からトランジスタ54を介し
てVCCPに送られるようにする。ノード62のゆっく
りとしたdV/dtは、図9の時間Bに見られるように
低められたdI/dtをもたらす。次いでCLOCK3
はローになり、それによりトランジスタ58のゲートは
ハイになってトランジスタ58を遮断する。このトラン
ジスタは速いが図9にはdI/dtはほとんど見られ
ず、これは図9に見られるように、CLOCK3がロー
になるまでににトランジスタ58に流れる電流がほとん
どないためである。CLOCK2はローになってトラン
ジスタ54を遮断し、CLOCK1はハイになってトラ
ンジスタ78をオンに切換える。上と同様に、トランジ
スタ52がオンに切換えられるとき、ノード62はトラ
イステートであってノード56をVCCに平衡させるた
めにはほとんど電荷を必要としないために、dI/dt
はほとんど見られない。次いでCLOCK4はローにな
ってトランジスタ60のゲートをオンに切換える。トラ
ンジスタ74は(小さく)サイズ決めされトランジスタ
60のゲートをゆっくりと引上げて、図9の時間Cでd
I/dtを下げるようにする。
【0025】さらに図7を参照すると、VCCPが相対
的に大量の電流を提供することを必要とする用途では、
図1の従来のチャージポンプ回路10内のキャパシタ2
6およびトランジスタ12、14、20、22も大きな
サイズでなくてはならない。トランジスタが「オン」お
よび「オフ」に切換わり、キャパシタ26のノードを
「ハイ」または「ロー」に駆動するとき、大量の電流が
流れ、電流の変化率(「dI/dt」)もまた大きい。
電圧供給VCCとVSSとがこの電流を供給し吸い出し
ているために、チャージポンプ動作の結果VCCおよび
VSS電圧レベルは変動する。この電圧の変動は「ノイ
ズ」であって、VSSおよびVCC上のこのノイズによ
りIC装置がシステム内で適切に機能しなくなるおそれ
がある。ノイズの量は、VCCとVSSの抵抗およびイ
ンダクタンスから決定され、IC装置に関しては、最も
制御が難しいノイズ源はdI/dtであるが、これはダ
イボンドワイヤが顕著なレベルのインダクタンスを提供
するからである。
【0026】従来のチャージポンプ回路10では、ポン
プキャパシタはインバータ18によって駆動され、キャ
パシタのノード24が駆動されて中間のノード16を電
源に接続するトランジスタが「オン」に切換えられてい
るとき、相対的に大きな電流対時間の変化をもたらす
(「dI/dt」)。dI/dtは同様に、中間のノー
ド16をVCCPポンピングされたノードに接続するト
ランジスタが「オン」に切換えられるときにも起こる。
これらの電流における急速な変化(dI/dt)は、図
7の電流のスパイクの傾斜で示されるように、望ましく
なくしばしば受入れられないノイズを回路内にもたら
す。
【0027】さらに図8を参照して、図2に示すチャー
ジポンプ回路の「速いオフ/遅いオン」実施例に対する
VCC、VSSおよびVCCPソース上の電流を示すタ
イミング図を示す。この図は、先行の図と比較すると、
2.0、17.0、32.0および47.0ナノ秒にお
けるdI/dtが劇的に減じられるのを明瞭に示す。
【0028】さらに図9を参照して、図3に示すチャー
ジポンプ回路の代替的な「トライステート」実施例に対
するVCC、VSSおよびVCCPソース上の電流を示
す同様のタイミング図を示す。図8の時間Dにおいて存
在した電流のスパイクが、存在しないことに注目された
い。これは図3の「トライステート」修正によるもので
ある。しかしこの図は、比較的小さい電流のスパイクが
0.0、1.0、15.0、16.0、30.0、3
1.0、45.0および46.0ナノ秒において存在す
ることを示す。これらの電流のスパイクは比較的高いd
I/dtを有するが、ごく短時間しか持続しないため
に、確認できるほどのVCCまたはVSSノイズは生成
しない。
【0029】開示された実施例は、単一段型チャージポ
ンプである。これらの発明は、複数の段を含むチャージ
ポンプにも簡単に適用されることを理解されたい。この
発明の原理を、特定の回路素子およびトランジスタ技術
に関して説明したが、以上の説明は例示のために行なっ
たものであって、この発明の範囲を限定するものではな
いことを明確に理解されたい。特に、以上の開示の教示
は、当業者に他の変形を示唆することが認められる。そ
のような変形は、それ自体が公知でありかつここに既に
説明された特徴の代わりにまたはそれに加えて使用され
得る、他の特徴を含む可能性がある。本願では特許請求
の範囲は特定の特徴の組合せについて作成されている
が、ここにおける開示の範囲には、いずれかの請求項に
おいて現在クレームされたものと同じ発明に関わるか否
か、またはこの発明が直面するものと同じ技術的問題の
いずれかまたはすべてを軽減するか否かに関わらず、明
示的もしくは暗示的に開示される新規な特徴または新規
な特徴の組み合わせ、または関連の技術分野の当業者に
は明らかであろうその一般例または変形がさらに包含さ
れることを理解すべきである。出願人は本願またはこれ
より発生する出願すべての審査手続期間において、その
ような特徴および/またはそのような特徴の組合せに対
し、新しい請求項を作成する権利をこれにより留保す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 CMOSインバータを使用し、クロック信号
(「CLOCK3」)によって起動されて第1のキャパ
シタ端子を駆動し、その反対側の第2の端子は直列のト
ランジスタの中間のノードに結合されてそれらのそれぞ
れのゲートに与えられるクロック信号(「CLOCK
1」および「CLOCK2」)によって、中間のノード
をVCCまたはVCCPのいずれかに選択的に結合す
る、従来のチャージポンプ回路の概略図である。
【図2】 入力がCLOCK3信号を受取るよう共通し
て結合された対応の1対のCMOSインバータによって
制御され、キャパシタが一方のトランジスタによって
「ハイ」に駆動され、他方のトランジスタによって「ロ
ー」に駆動され得る、この発明に従った「速いオフ/遅
いオン」チャージポンプ回路の実施例の概略図である。
【図3】 先行の図面に示すCMOSインバータの各々
が、この例ではそれぞれ別々のCLOCK3およびCL
OCK4入力信号を受取る、この発明に従ったチャージ
ポンプ回路の代替的な「トライステート」実施例の概略
図である。
【図4】 図1の従来のチャージポンプ回路へのCLO
CK1、CLOCK2、およびCLOCK3信号入力
の、タイミング図である。
【図5】 この発明の特定の実施例に従った、図2の
「速いオフ/遅いオン」チャージポンプ回路への、CL
OCK1、CLOCK2、およびCLOCK3信号入力
の対応のタイミング図である。
【図6】 この発明の代替的な実施例に従った、図3の
「トライステート」チャージポンプ回路へのCLOCK
1、CLOCK2、CLOCK3、およびCLOCK4
信号入力の、対応の同様のタイミング図である。
【図7】 図1の従来のチャージポンプ回路に対するV
CC、VSSおよびVCCPソース上の電流を示し、図
4に示すようにその動作によって発生される、結果とし
て生じる電流のスパイクを特定的には指す、タイミング
図である。
【図8】 図2に示すチャージポンプ回路の「速いオフ
/遅いオン」実施例に対するVCC、VSSおよびVC
CPソース上の電流を示し、図5に示すようにその動作
によって発生される電流のスパイクの傾斜(dI/d
t)の相対的な減少を特定的には指す、タイミング図で
ある。
【図9】 図3に示すチャージポンプ回路の代替的な
「トライステート」実施例に対するVCC、VSSおよ
びVCCPソース上の電流を示し、また、図1の従来の
チャージポンプ回路と比較して、図6に示すようなその
動作によって発生される電流のスパイクの傾斜(dI/
dt)の相対的な減少を特定的には指す、同様のタイミ
ング図である。
【符号の説明】
50 チャージポンプ回路、52 Nチャネル型トラン
ジスタ、56 ノード、58 Pチャネル型トランジス
タ、64 キャパシタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平11−32476(JP,A) 特開2000−37071(JP,A) 特表 平10−500560(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H02M 3/07 G11C 11/407 G11C 16/06

Claims (14)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 チャージポンプ回路を備える集積回路装
    置であって、 第1の端子および第2の端子がそれぞれ中間のノードお
    よびキャパシタのノードに結合される容量素子と、 第1のクロック信号に応答して前記中間のノードを供給
    電圧線に選択的に結合する第1のスイッチング装置と、 第2のクロック信号に応答して前記中間のノードをポン
    ピングされた電圧線に選択的に結合する第2のスイッチ
    ング装置と、 第1のインバータとを含み、前記第1のインバータの入
    力は第3のクロック信号を受取るよう結合され、出力は
    第3のスイッチング装置に結合されて前記第3のクロッ
    ク信号に応答して前記キャパシタのノードを前記供給電
    圧線に選択的に結合し、さらに 第2のインバータを含み、前記第2のインバータの入力
    は第4のクロック信号を受取るよう結合され、出力は第
    4のスイッチング装置に結合されて前記第4のクロック
    信号に応答して前記キャパシタのノードを接地電圧線に
    選択的に結合する、集積回路装置。
  2. 【請求項2】 前記容量素子は、実質的に300pfの
    容量を有するキャパシタを含む、請求項1に記載の集積
    回路。
  3. 【請求項3】 前記第1のスイッチング装置はNチャネ
    ル型MOSトランジスタを含む、請求項1に記載の集積
    回路。
  4. 【請求項4】 前記第2のスイッチング装置はNチャネ
    ル型MOSトランジスタを含む、請求項1に記載の集積
    回路。
  5. 【請求項5】 前記第3のスイッチング装置はPチャネ
    ル型MOSトランジスタを含む、請求項1に記載の集積
    回路。
  6. 【請求項6】 前記第4のスイッチング装置はNチャネ
    ル型MOSトランジスタを含む、請求項1に記載の集積
    回路。
  7. 【請求項7】 前記第1および第2のインバータは、第
    1および第2のCMOSインバータを含む、請求項1に
    記載の集積回路。
  8. 【請求項8】 前記第1および第2のCMOSインバー
    タは、直列接続されたPチャネル型トランジスタおよび
    Nチャネル型トランジスタの対を含む、請求項7に記載
    の集積回路。
  9. 【請求項9】 前記第1のCMOSインバータの前記P
    チャネル型トランジスタは、前記第2のCMOSインバ
    ータの前記Pチャネル型トランジスタより大きい、請求
    項8に記載の集積回路。
  10. 【請求項10】 前記第2のCMOSインバータの前記
    Nチャネル型トランジスタは、前記第1のCMOSイン
    バータの前記Nチャネル型トランジスタより大きい、請
    求項8に記載の集積回路。
  11. 【請求項11】 前記第3および第4のスイッチング装
    置は、それぞれ前記第3および第4のクロック信号に応
    答して、互いから独立して、状態の間で切換えられ得
    る、請求項1に記載の集積回路。
  12. 【請求項12】 集積回路装置内のチャージポンプを動
    作させるための方法であって、 容量素子の第1の端子を供給電圧線に結合する一方、前
    記容量素子の第2の端子を接地電圧線に結合するステッ
    プと、 最初に、前記第1の端子を前記供給電圧線から減結合す
    るステップと、 2番目に、前記第2の端子を前記基準電圧線から減結合
    し、実質的に同時に前記第2の端子を前記供給電圧線に
    結合するステップと、 3番目に、前記第1の端子をポンピングされた電圧線に
    結合するステップと、 4番目に、前記第1の端子を前記ポンピングされた電圧
    線から減結合するステップと、 5番目に、前記第2の端子を前記供給電圧線から減結合
    し、後に前記第2の端子を前記基準電圧線に結合するス
    テップと、 6番目に、前記第1の端子を前記供給電圧線に結合する
    ステップとを含む、方法。
  13. 【請求項13】 2番目に前記第2の端子を前記基準電
    圧線から減結合する前記ステップは、前記第2の端子を
    前記供給電圧線に結合する前記対応のステップより相対
    的に速く起こる、請求項12に記載の方法。
  14. 【請求項14】 5番目に前記第2の端子を前記供給電
    圧線から減結合する前記ステップは、前記第2の端子を
    前記基準電圧線に結合する前記対応のステップより相対
    的に速く起こる、請求項12に記載の方法。
JP2001078532A 2000-12-04 2001-03-19 集積回路装置 Expired - Lifetime JP3462184B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/730207 2000-12-04
US09/730,207 US6518829B2 (en) 2000-12-04 2000-12-04 Driver timing and circuit technique for a low noise charge pump circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002171747A JP2002171747A (ja) 2002-06-14
JP3462184B2 true JP3462184B2 (ja) 2003-11-05

Family

ID=24934391

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001078532A Expired - Lifetime JP3462184B2 (ja) 2000-12-04 2001-03-19 集積回路装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6518829B2 (ja)
JP (1) JP3462184B2 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6804502B2 (en) 2001-10-10 2004-10-12 Peregrine Semiconductor Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US7719343B2 (en) 2003-09-08 2010-05-18 Peregrine Semiconductor Corporation Low noise charge pump method and apparatus
EP1774620B1 (en) 2004-06-23 2014-10-01 Peregrine Semiconductor Corporation Integrated rf front end
US7910993B2 (en) 2005-07-11 2011-03-22 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFET's using an accumulated charge sink
US7890891B2 (en) 2005-07-11 2011-02-15 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US9653601B2 (en) 2005-07-11 2017-05-16 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US20080076371A1 (en) 2005-07-11 2008-03-27 Alexander Dribinsky Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches
USRE48965E1 (en) 2005-07-11 2022-03-08 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US7403062B2 (en) * 2006-12-19 2008-07-22 Aimtron Technology Corp. Dual edge modulated charge pumping circuit and method
US7960772B2 (en) 2007-04-26 2011-06-14 Peregrine Semiconductor Corporation Tuning capacitance to enhance FET stack voltage withstand
US20090140794A1 (en) * 2007-11-29 2009-06-04 Chi-Hao Wu Constant-current charge pump
EP2385616A2 (en) 2008-07-18 2011-11-09 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
US9660590B2 (en) 2008-07-18 2017-05-23 Peregrine Semiconductor Corporation Low-noise high efficiency bias generation circuits and method
WO2011067902A1 (ja) * 2009-12-03 2011-06-09 パナソニック株式会社 半導体集積回路およびそれを備えた昇圧回路
US9413362B2 (en) 2011-01-18 2016-08-09 Peregrine Semiconductor Corporation Differential charge pump
US8686787B2 (en) 2011-05-11 2014-04-01 Peregrine Semiconductor Corporation High voltage ring pump with inverter stages and voltage boosting stages
US20150236748A1 (en) 2013-03-14 2015-08-20 Peregrine Semiconductor Corporation Devices and Methods for Duplexer Loss Reduction
FR3061580A1 (fr) * 2017-01-03 2018-07-06 Stmicroelectronics (Rousset) Sas Procede et dispositif de gestion de la consommation en courant d'un module integre.
FR3073645A1 (fr) 2017-11-13 2019-05-17 Stmicroelectronics (Rousset) Sas Procede de modification aleatoire du profil de consommation d'un circuit logique, et dispositif associe

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3481051B2 (ja) * 1996-06-19 2003-12-22 富士通株式会社 チャージポンプ回路、および、該チャージポンプ回路を有するpll回路並びに半導体集積回路
US5801578A (en) * 1996-12-16 1998-09-01 Northern Telecom Limited Charge pump circuit with source-sink current steering
US6107862A (en) * 1997-02-28 2000-08-22 Seiko Instruments Inc. Charge pump circuit
JPH114575A (ja) * 1997-06-11 1999-01-06 Nec Corp 昇圧回路
WO1999021278A1 (en) * 1997-10-17 1999-04-29 Photobit Corporation Low-voltage comparator with wide input voltage swing
KR100273278B1 (ko) * 1998-02-11 2001-01-15 김영환 반도체 소자의 펌핑회로
JP3540652B2 (ja) * 1998-04-10 2004-07-07 三洋電機株式会社 チャージポンプ式昇圧回路
US6198340B1 (en) * 1999-02-08 2001-03-06 Etron Technology, Inc. High efficiency CMOS pump circuit

Also Published As

Publication number Publication date
US20020067201A1 (en) 2002-06-06
JP2002171747A (ja) 2002-06-14
US6518829B2 (en) 2003-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3462184B2 (ja) 集積回路装置
JP3320565B2 (ja) 出力回路および動作方法
EP0653760B1 (en) Voltage boosting circuit
JP2815292B2 (ja) 半導体集積回路装置の負電荷チャージポンプ回路
US5514994A (en) Bootstrap circuit
US6208197B1 (en) Internal charge pump voltage limit control
KR19980071694A (ko) 승압 회로 및 반도체 기억 장치
US4906056A (en) High speed booster circuit
JP3293577B2 (ja) チャージポンプ回路、昇圧回路及び半導体記憶装置
JP2895319B2 (ja) 昇圧クランプ回路及びこれを設けた出力バッファ回路
KR950014244B1 (ko) 기판 바이어스 회로
JP3431774B2 (ja) 混合電圧システムのための出力ドライバ
JP2000091900A (ja) ブ―トストラップ型mosドライバ―
US6304120B1 (en) Buffer circuit operating with a small through current and potential detecting circuit using the same
JPS6137709B2 (ja)
KR930003010B1 (ko) Mos 드라이버회로
US6175263B1 (en) Back bias generator having transfer transistor with well bias
JP4842992B2 (ja) 半導体基板用のチャージポンプ
EP0678867A2 (en) Charge pump circuit
JP2000021179A (ja) ブースト回路及びこれを用いた半導体装置
JP2997476B2 (ja) BiCMOSによるドライバ回路
JPH0582145B2 (ja)
US5894241A (en) Bootstrap augmentation circuit and method
KR100605591B1 (ko) 반도체 소자의 승압전압 발생기
JP2746117B2 (ja) 基板バイアス回路

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030318

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20030708

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3462184

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070815

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080815

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090815

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090815

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100815

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110815

Year of fee payment: 8

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110815

Year of fee payment: 8

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110815

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120815

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120815

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130815

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term