JP3455548B2 - テストエレメントの貯蔵装置 - Google Patents

テストエレメントの貯蔵装置

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は試料液中の被検体の検出のために使用される
テストエレメントの貯蔵の分野にある。このようなテス
トエレメントは特に尿分析の分野及び血糖決定の分野で
使用される。またテストエレメントは環境分析で大規模
に使用される。重要性が増大しつつあるその他の分野
は、免疫学的検定、例えば血液又は尿中の麻薬、HCG及
びHIVの検出に関するものである。
被検体の検出又は試料液の分析を行うために、テスト
エレメントと試料を接触させる。その場合例えば表面を
テストエレメントでこすることができる。しかしテスト
エレメントの通常の応用分野は試料液の分析であり、そ
のために試料液がテストエレメントに注入されるか（特
に血液、血清、髄液の決定）又はテストエレメントが試
料液に浸漬される（特に尿）。
試薬の分解を回避するために、大部分のテストエレメ
ントは湿気を防止しなければならない。このことは被検
体と試料の反応によって変色が起こるいわゆる光学的テ
ストストリップ及び試料が引き起こすテストエレメント
の化学変化を電気化学的に評価するいわゆるセンサエレ
メントにも同じく当てはまる。また信頼できる分析結果
を保証するために、通常、テストエレメントを機械的影
響や汚れから保護することが必要である。先行技術では
幾つかのテストエレメント貯蔵法が知られている。第１
の方法ではテストエレメントが容器、例えば管の中に遊
置され、栓等で容器を閉じることができる。また水蒸気
に対して密なフィルムの中にテストエレメントを個別に
封入することが知られている。ところが上記の貯蔵法で
はテストエレメントを貯蔵容器又は密封フィルムから機
械的に取り出すことが困難である。テストエレメントの
機械的取り出しに関連して、先行技術では例えば米国特
許第5102624号明細書、米国特許第5154889号明細書、米
国特許第3918910号明細書、米国特許第4911344号明細書
及び米国特許第4142863号明細書に記載された一連のマ
ガジンが知られている。この種のマガジンでは積み重ね
られたテストエレメントが使用される。これらの米国特
許明細書に記載されたテストエレメントは特にマガジン
での使用のために適応させてある。即ちテストエレメン
トは均一な厚さを有し、引っ掛かったり挟まったりする
ことなく相互に移動することができる。ところが市販さ
れる大部分のテストエレメントは均一な高低輪郭を持た
ないので、先行技術のマガジンに直ちに使用することは
できない。米国特許第3918910号明細書にはベース上に
複数個の検出ゾーンを設けたテストエレメントの貯蔵に
適したマガジンが記載される。製造に基づき検出ゾーン
はベースの上に突出しており、こうしてテストエレメン
トの変動する高さ構造をもたらす。米国特許第3918910
号明細書の図５、６、７、９及び22にこのようなテスト
エレメントの貯蔵に適したマガジンが示されている。こ
のマガジンではテストエレメントが積み重ねられている
から、上下に順次続くテストエレメントの上側と下側が
夫々相接するようになる。テストエレメントの堆積物
は、押出すか又は引き出すことによってテストエレメン
トの取り出しが行われる区域の方向へばね部材によって
押圧される。実験的研究が示したところでは、このよう
なマガジンは極めて故障が起こりやすい。取り出し装置
によってテストエレメントを確実に把持することができ
ないか又は誤って同時に２個のテストエレメントがマガ
ジンから一緒に送り出されるといった故障がしばしば起
こる。
また無秩序な多量のテストストリップから個々のスト
リップを取り出すことができるテストストリップの分離
装置が先行技術で知られている。例えば欧州特許第0255
675号明細書にこのような装置が記載されている。個々
のテストエレメントの位置修正も記載する米国特許第52
98425号明細書に別の分離装置が開示されている。経験
によればこの種の装置は極めて故障しやすい。特にテス
トエレメントにたわみがある場合がそうである。
本発明の課題は、不均一な高低輪郭を有する市販の広
く普及したテストエレメントで確実に動作するマガジン
を提供することであった。また本発明の課題は、機械的
取り出しが可能であり、テストエレメントの高い充填密
度が得られるマガジンを提供することであった。
本発明のもう一つの課題は、マガジンと取り出し装置
の共同動作によりテストエレメントの自動化された供給
を可能にするシステムを提案することであった。特にテ
ストエレメントの分離のための先行技術の公知の装置の
故障発生を減少することが本発明の課題であった。
本発明の課題は、少なくとも１対の相対する案内溝を
有し、テストエレメントが直接並列され、隣接するテス
トエレメントの端縁が相接するようにテストエレメント
がこの案内溝に差し込まれるテストエレメント貯蔵マガ
ジンによって解決される。
また本発明は少なくとも２個の相対する案内溝を有
し、テストエレメントが１つの平面で直接並列し、隣接
するテストエレメントの端縁が相接するようにこの案内
溝にテストエレメントが差し込まれたマガジンと、テス
トエレメントが構成する段に一端が作用し、テストエレ
メントを溝に沿って段の反対側の端部の方向へ移動させ
るスライドとを備えたテストエレメント供給システムを
包含する。
本発明の範囲内で判明したところでは、米国特許第39
18910号明細書によるマガジンで起こる問題は主として
テストエレメントの傾倒に原因するのである。米国特許
第3918910号明細書の図５（本願の図６を参照）を参照
すれば、このことはテストエレメントがプレート（61）
に対して傾斜し又はプレート（61）自体が傾いているこ
とを意味する。複数の検出ゾーンを有する市販のテスト
エレメントでよくあることだが、個々のテストエレメン
トの種々のテストゾーンが異なる高さを有する場合に特
にこの問題が観察された。またテストエレメントの柔軟
な性質がテストエレメントのたわみ又はねじれさえ許す
ので、機械式装置によるこのようなテストエレメントの
確実な捕捉が難しいことが判明した。そこで本発明はテ
ストエレメントが案内溝で案内され、隣接するテストエ
レメントの端縁が直接相接するように配列されたマガジ
ンを提案する。本発明は、テストエレメントがその製造
に基づき正確に確定された、テストストリップの全長に
わたって不変の幅を有することを利用する。本発明が定
めるようにテストエレメントの両端が溝で案内され、テ
ストエレメントが先行技術のように重なり合うのではな
く横並びに配列されるならば、通常テストエレメント又
は少なくともテストエレメントの両端を明確に位置決め
することができる。従って本発明によってマガジンから
のテストエレメントの確実な機械的取り出しを実現する
ことができる。特に本発明のマガジンは柔軟な及び／又
は高低輪郭が不均一なテストエレメントの貯蔵のために
適している。また本願の範囲内で、本発明マガジンから
のテストエレメントの取り出しを行うことができるシス
テムが記載される。
本願の図1A及び1Bに市販のテストエレメントが示され
ている。図1Aはテストエレメントの平面図を示す。テス
トエレメント（１）はベース（２）を有し、その上に複
数のテストゾーン（３）が設けられている。図示の長方
形のテストエレメントは以下で幅と称する短い側面と、
以下で長さと称する長い側面を有する。図1Bにテストエ
レメントの側面図が示されている。テストゾーン（３）
の様々な高さとテストエレメントのたわみがはっきり分
かる。テストエレメントのたわみはベース（２）の性質
とテストゾーン（３）の取付け方に原因する。テストエ
レメントの特に有利な製造法ではテストゾーンをベース
上に設け、次に細かいネットで覆う。この方法は例えば
米国特許第3802842号明細書に記載されている。ネット
に特有の収縮する傾向によって、テストエレメントのた
わみが起こる。またベース材料によってたわみが引き起
こされることもある。ベース材料としてプラスチックフ
ィルムを使用することが好ましい。テストエレメントの
製造の際にプラスチックフィルムは細い条片に切断され
る。従って製造に原因するフィルムの湾曲がテストエレ
メントの湾曲をもたらすこともあり得る。
本発明に係るテストエレメント貯蔵マガジンは少なく
とも１対の相対する案内溝を有し、貯蔵されるテストエ
レメントがこの案内溝に差し込まれる。案内溝はテスト
エレメントの２つの相対する両端を夫々案内する。複数
個のテストエレメントを逐次案内溝に差し込めば、テス
トエレメントが並列され、隣接するテストエレメントの
ベースの縦辺が互いに接触する。相対する案内溝の間隔
はテストエレメントの長さに応じて選定する。溝底（溝
の最も遠く隔たる区域）の間隔は、まっすぐ伸びたテス
トエレメントの長さに相当することが好ましい。溝の深
さと溝の間隔は、溝によって案内されるテストエレメン
ト部分の長さを決定する。溝の最も深い部位の間隔がテ
ストエレメントの長さに相当するならば、テストエレメ
ントの案内される長さは溝の深さに等しい。しかし溝が
それ以上に隔たっていれば、テストエレメントは縦方向
に遊びを有し、案内される長さは溝の深さからこの遊び
を差し引いたものに相当する。マガジンの完全な機能の
ために、テストエレメントの縦方向の僅かな遊びが好都
合であることが判明した。この遊びはテストエレメント
の長さの0.5ないし20％であることが好ましい。テスト
エレメントの0.3cmの長さを案内すれば、通常十分であ
ることが判明した。溝によって案内されるテストエレメ
ント部分は0.4ないし1.0cmの長さがあることが好まし
い。本発明によれば２つの溝が夫々テストストリップの
半分を収容する深さを有し、さらに溝が互いに連絡され
て連続するスロットが生じるような実施形態も包まれる
ことになる。本発明の範囲内でこのようなスロットは１
対の溝の特殊な実施態様を意味する。テストエレメント
の案内のためのこのようなスロットは、テストエレメン
トの全長が案内されるので、テストエレメントの湾曲を
抑制するために使用することができるから好都合であ
る。しかし溝が2cm未満の深さを有するマガジン構造が
製造技術的に有利である。
溝の長さは、収容することができるテストエレメント
の数を決定する。溝の長さにほとんど制限はない。しか
し５ないし15cmの溝長さが、取扱い容易なコンパクトな
マガジンをもたらすので好都合である。テストエレメン
トを受けるために（溝でなく）スロットを使用する場合
は、その長さはおおむね造型技術的に制限される。例え
ば10cmを超える大きなスロット長さのための成形型を提
供することは困難だからである。しかし溝を使用すれば
この困難は解消し、溝長さにほとんど制限はない。いず
れの場合も、即ち溝及びスロットのいずれを使用する場
合もテストエレメントの引っ掛かりや脱落を回避するた
めに、溝又はスロットの端部がおおむね平行であること
を保証しなければならない。
本発明に基づきマガジンが重なり合って配列された案
内溝の対を有するならば好都合である。こうして重なり
合って配列された段をなしてテストエレメントを貯蔵す
ることが可能であり、それがマガジンの収容能力を高め
るからである。マガジンが８ないし15段のテストエレメ
ントを有するならば、取扱い上好都合であることが判明
した。300個のテストエレメントの貯蔵のために、例え
ば12段のマガジンを使用し、各段に25個のテストエレメ
ントがあることが好ましい。
マガジンがテストエレメントを整列して供給すること
に加えて、テストエレメントを湿気や機械的作用から保
護する機能を果たすことができることは、冒頭ですでに
述べた。従ってマガジンは外界に対して内室を密閉する
隔壁を有することができる。テストエレメントの取り出
しのために、マガジンは単数個又は複数個の開口部がな
ければならない。この開口部は機械的閉鎖体、例えばち
ょうつがい付き蓋又は接着した密封フィルムで閉鎖する
ことができる。また全マガジンを、たとえ閉鎖されてい
ても、輸送のために水蒸気に密な包装に封入することが
好ましい。
マガジンの好適な実施形態では案内溝がマガジンの側
壁に一体化されいる。またこの側壁はあらかじめ製造工
程の間にその他の壁部、特に上側及び下側の壁体と連結
することができる。このような配列を一体に製造するこ
とが好ましい。特にこのために射出成形法が適してい
る。しかしマガジンの隔壁を個別に成形する（好ましく
は射出成形法で）のが造型技術的に有利である。マガジ
ンの１つの側部の溝は１つの半型で成形されるから、個
々の溝には互いに僅かな許容差しかない。マガジン部材
を個別に成形する場合は、同じ型を使用することができ
るように、側壁即ち上側及び下側、前側及び後側が夫々
同じであることが好ましい。
しかし射出成形法で隔壁を個別に成形し、これが膜ヒ
ンジで互いに連結されるようにすることが好ましい。こ
のような構成物（折りたたみ箱）は成形の後、個々の壁
体を互いにロックすることによって１つのマガジンにな
る。
別の実施形態ではｎ＋１個の射出成形品をつないでカ
セットを作る。ここにｎはストリップの段数である。す
べての部材は同じものである（繰返し部品）。それは射
出成形工程でスライドなしで離型することができる扁平
な枠である。この枠を平らに重ねてつなげば（クリップ
結合、超音波溶接又は接着により）、各々２個が１段の
ストリップのための相対する溝を形成する。枠が２個の
空欠部を有するならば好都合である。その場合枠の夫々
小さい方の空欠部で上下に開放した箱が形成され、ここ
に乾燥剤入りの袋を置くことができる。例えば紙の帯封
でこの袋の脱落を防止することができる。
この実施形態では継目の許容差が影響するので、溝幅
とストリップの段のピッチは僅かに不正確である。
すでに前に述べたように、テストエレメントの取り出
しのためにマガジンが開口部を有することが必要であ
る。その場合単数個又は複数個の開口部をマガジンの側
壁に組み込めば有利であることが判明した。溝の中にあ
って開口部に隣接するテストエレメントをその縦軸に沿
って移動することによりマガジンから取り出すことがで
きるように、このような開口部は溝の高さにある。この
ために開口部は長方形横断面を有し、長方形横断面の高
さがテストエレメントの最大高さより10ないし50％大き
く、幅がテストエレメントの幅より10ないし50％大きい
ことが好ましい。１つのマガジンに複数組の溝対を使用
するときは、各溝対がこのような取り出し口を有するこ
とが好ましい。また各溝対が反対側の側壁に別の開口部
を有し、テストエレメントを押し出すためにスライドが
この開口部を通ってマガジンに進入することができれば
好都合である。市販されるマガジンで上記の開口部を密
封フィルムにより少なくとも部分的に閉鎖することがで
きる。この密封フィルムは使用の前に引きはがすことが
できる。しかし密封フィルムがスライド又は脱出するテ
ストエレメントによって突き破られるならば好都合であ
る。
マガジンの別の特に簡単な実施形態では、溝の端部を
越えて（溝の縦方向に）テストエレメントを移動するこ
とによってテストエレメントの取り出しが行われる。即
ちテストエレメントの縦軸を横切って移動が行われる。
この実施形態では溝対の各溝は片側が開放しているか
ら、溝の端部を越えてテストエレメントを押し出すこと
が可能である。このようにしてマガジンは、マガジンの
側壁を横切り、溝対ごとに１個のテストエレメント出口
がある端面を有する。この出口は長方形横断面を有し、
長方形横断面の幅がテストエレメントの最大高さより10
ないし30％大きく、長さがテストストリップの長さより
0.5ないし20％大きいことが好ましい。この実施形態の
特に簡単に製造される変型では、マガジンに端壁がな
く、端面はマガジンの輸送のために密封フィルムで閉じ
られているだけである。密封フィルムは湿気の侵入を阻
止して端壁を閉鎖するために利用することができる。し
かし防湿が別の方法で実現されるならば（例えば包装に
より）、随意に密封フィルムを廃止することができる。
溝の端部がある端面区域にフィルムを接着して包めば特
に効果的であることが判明した。こうして一方ではテス
トエレメントの脱落が阻止され、他方ではテストエレメ
ントによってフィルムを突き破ることができる。この実
施形態の特別の利点は、取り出しが行われる段の区域で
だけ夫々フィルムが開放されればよいことにある。テス
トエレメントのその他の（まだ完全な）段は引き続きフ
ィルムによって保護されるから、マガジンが傾いてもテ
ストエレメントが脱落することはない。
マガジンからテストエレメントを順次取り出すには、
テストエレメントを取り出し位置へ搬送するか又はマガ
ジンから直接排出することができることが必要である。
最も簡単な場合には溝が直立し、溝の中でテストエレメ
ントが重力により下へ搬送されるようにマガジンが構成
される。この場合はマガジンの下端に取り出し位置があ
り又は下端でマガジンが開放されているから、テストエ
レメントはマガジンから直接脱出することができる。後
者の場合はテストエレメントの無秩序な脱落を阻止し、
順次の取り出しを可能にするシャッターがある。
マガジンが内部に単数個又は複数個のばね部材を具備
し、このばね部材が溝対の中にあるテストエレメント群
を一括して取り出し位置の方向へ搬送することが好まし
い。このようなばね部材は例えば各溝の取り出し位置の
反対側に配設されたコイルばねである。またばね部材
は、マガジンが完全に充填されていなくてもテストエレ
メントの配列を安定させる。こうして、テストエレメン
トが斜めになり又は別様に無秩序になって、マガジンの
信頼性が著しく低下することが回避される。
マガジンの特に好適な実施形態では、マガジンは上側
又は下側に少なくとも１個の空欠部を有し、この空欠部
を通ってスライドをマガジンに導入することができる。
このようなスライドでテストエレメントの搬送を外部か
ら行うことが可能である。スライドは利用者が手操作で
移動させることができるように、マガジンの外側に固定
することができる。しかしスライドはテストエレメント
を扱う分析装置に属することが好ましい。この場合はス
ライドが分析装置に属する駆動装置により制御されるか
ら、テストエレメントの取り出しを分析装置によって制
御することができる。こうして分析装置が必要とすると
きにだけ、テストエレメントが保護マガジンから取り出
されるようにすることができる。
マガジンと、テストエレメントの取り出しのために利
用されるスライドとを含むユニットがテストエレメント
供給システムを構成する。このシステムも本発明の主題
である。少なくとも２個の相対する案内溝を有し、テス
トエレメントが１つの平面で直接並列され、隣接するテ
ストエレメントの端縁が相接するように、テストエレメ
ントをこの案内溝に差し込んだマガジンがこのシステム
に属する。またテストエレメントが形成する平面の一端
に作用し、テストエレメントをその縦軸を横切ってこの
平面の反対側の端部の方向へ移動させるスライドがこの
システムに属する。前述のように、上記のスライドはマ
ガジン壁部の空欠部を経てマガジンに進入することが好
ましい。このために必要な空欠部は、マガジンへの湿気
の侵入を最小にするためになるべく小さくする。空欠部
はマガジンの上側又は下側で溝と平行に延びたスロット
であることが好ましい。スロットは相対する縦辺にゴム
リップを有することができる。ゴムリップは休止状態で
互いに接し、こうして湿気の侵入をほとんど阻止する。
取り出しのためにスライドがゴムリップの間に通され、
スロットに沿って移動させられる。ゴムリップの弾性的
性質に基づきスライドの通過区域にだけゴムリップを通
って小さな漏れが生じ、スロットの大部分は湿気に対し
て十分に密閉されている。
テストエレメントの取り出しのために、スライドはお
おむねテストエレメントの幅に相当する行程を追加しつ
つ移動させられるから、テストエレメントが逐次取り出
し位置に運ばれ又はマガジンから直接排出される。スラ
イドのための駆動装置は例えばねじ付き棒の上のナット
である。ねじ付き棒はステップモータで回転することが
でき、一方、ステップモータは制御装置によって制御さ
れる。すでに前に述べたように、取り出し時期を適当に
制御することができるように、この制御装置を分析装置
の制御装置と連結すれば好都合である。上記のナットに
例えば金属ピンの形のスライドを直接固定することがで
きる。ねじ付き棒の回転はテストエレメントの移動のた
めに使用されるピンの直接的前進を生じさせる。
複数組の溝対を有するマガジンを使用する場合は、マ
ガジンへのスライドの進入深さを制御することができれ
ば好都合である。有利な方法においては、スライドがま
ずテストエレメントの第１の段（平面）の高さに達する
深さまでマガジンに進入し、この平面にあるテストエレ
メント群を搬送し、個々のテストエレメントを順次取り
出し位置に到達させる。この段が全部放出された後スラ
イドは後退し、スライドが第２段のテストエレメントの
高さに達するまで進入深さを増加して取り出し操作を繰
り返す。テストエレメントのその以後の段も同様に放出
される。
マガジンからテストエレメントを順次取り出すには、
マガジン内の取り出し位置へのテストエレメントの移動
と、この位置からのテストエレメントの取り出しとを互
いに同調させて行うことが重要である。取り出し位置か
らのテストエレメントの取り出しは、第２のスライドで
行うことができる。第２のスライドは取り出し位置にあ
る夫々のテストエレメントをその縦軸に沿って移動さ
せ、こうしてマガジンから排出する。またグリッパをマ
ガジンの中に導入し、テストエレメントを取り出し位置
から引き出すことによって、取り出しを行うこともでき
る。また２つの取り出し操作の組合せも可能である。そ
の場合テストエレメントは取扱い装置によってよく捕捉
することができるように、まずスライドによりその縦軸
に沿って少し移動させられる。
テストエレメントの取り出しサイクルは次の段階を含
む。
−マガジンの取り出し位置からのテストエレメントの取
り出し（押出し、引き出し又は２つの操作の組合せによ
って行うことができる）。
−新しいテストエレメントが取り出し位置へ送られるよ
うに、同一平面にあるテストエレメント群の移動。
また本発明の範囲内で本発明に基づくマガジンと、テ
ストストリップの段の移動のためのスライドと、少なく
とも１個の溝を有し、ここにテストエレメントを差し込
み、ロールの回転によって搬送することができるロール
とを備えたシステムが記載される。マガジンの中にある
テストエレメントが湿気によって破壊されないように、
マガジン及びロールの区域が湿気に対して密に閉鎖され
たケースの中にあることが好ましい。スライドとローラ
の動作を調整することによって、テストエレメントをケ
ースから順次搬出することができる。
次の図に基づいて本発明を詳述する。
図1Aはテストエレメントの平面図、 図1Bはテストエレメントの側面図、 図２はテストエレメントの１つの平面に沿ったマガジ
ンの断面図、 図３は図２の切断線Ａ′に沿ったマガジンの断面図、 図４は図２の線Ｂ′に沿ったマガジンの断面図、 図５は図４の区域Ｘの部分拡大図、 図６は先行技術（米国特許第3918910号）、 図７は差し込んでつないだ枠からなるマガジン、 図８はテストエレメント供給システム、 図９はテストエレメントを納めるための溝を有するロ
ール、 図10はロールからテストエレメントを取り出すための
システム、 図11は補充装置を備えたテストエレメント供給システ
ムを示す。
図１はテストエレメントの平面図を示す。またベース
（２）とテストゾーン（３）が認められる。図1Bに別の
テストエレメントの側面図が示されている。特に図1Bは
テストゾーン（３）の種々異なる高さとベース（２）の
たわみを示す。
図２にテストエレメント（１）の１つの段（平面）に
沿ったマガジンを示す。マガジンの中にテストエレメン
トが同方向に横並びに配列されている。側壁（10a）及
び（10b）にテストエレメントを受けるための溝があ
る。マガジンは背面にマガジンに進入した湿気を吸収す
るための乾燥剤室（11）を有する。乾燥剤として先行技
術で知られている物質、例えばシリカゲル又はモレキュ
ラーシーブを使用することができる。湿気の侵入を防止
するために、乾燥剤室（11）は開口が残らないようにマ
ガジンの背面を閉じる。
図２にすでに半分放出されたテストエレメントの段が
示されている。放出のためにテストエレメントは、矢印
（13）が示唆するように、マガジンの背面から前面（1
2）の方向へ移動させられる。前面に最も近いテストエ
レメント（１′）は取り出し位置にある。取り出しのた
めにテストエレメント（１′）は排出スライド（14）に
よってマガジンから矢印（15）が示す方向へ突き出され
る。このためにマガジンは右側面（10b）に開口部を有
する。排出スライド（14）はこの開口部を貫いてマガジ
ンに侵入することができる。またマガジンは左側面（10
a）に、テストエレメント（１′）がマガジンから脱出
する開口部を有する。
また図２にスロット（16a）及び（16b）が示されてい
る。ただしこれらのスロットはマガジンの上面にあり、
テストエレメントの平面にはない。テストエレメント群
を矢印（13）の方向へ移動させるスライドがスロット
（16a）及び（16b）を通って進入することができる。
図３は図２のマガジンの（Ａ−Ａ′）線に沿った断面
図を示す。テストエレメントを取り出し位置の方向へ前
進させるスライド（17）が図３に示されている。また図
３で溝の長さ（Ｌ）が明らかである。
図４は図２の切断線（Ｂ−Ｂ′）に沿ったマガジンの
図を示す。テストエレメントを案内する溝対（18a、18
b）が図４で明らかである。１組の溝対に夫々２個の相
対する溝が属する。図４に示すマガジンは12組のこのよ
うな溝対を有するから、12個の平面又は段にテストエレ
メントを貯蔵することができる。
図５は図４の区域（Ｘ）の部分拡大図（５倍）を示
す。ここで使用される溝の構造がこの図で正確に分か
る。図示の溝はテストエレメントが挿入される深さ
（Ｔ）を有する。各溝が狭い部分と広い部分を有するこ
とが図５で明らかである。ベース上のテストゾーンがテ
ストエレメントの一端に近接している場合にこれが好都
合である。この場合はテストゾーンで覆われていない最
も外側のテストエレメント端部が溝の狭い区域によって
案内され、さらにテストゾーンがある隣接区域が溝の広
い区域によって案内されるように、２つの厚さ区域を有
する溝を使用することが好ましい。
図５に示す溝の間隔は約2mmである。テストエレメン
トのたわみにかかわらずテストエレメントが隣接の平面
に引っ掛かる恐れはなく、このように小さな間隔を実現
することができる。このために、ある段のテストエレメ
ントの上面が一段高い段のテストエレメントの下面に隣
接するように、これらの平面のテストエレメントを同方
向に配列することが好ましい。テストエレメントのたわ
みは通常バッチごとに同じ方向に現れるから、テストエ
レメントの各段は同じ湾曲方向を有し、段の間に十分な
間隔が保たれる。
図７は個々の枠（20）を差し込んで又はクリップで止
めてつないだマガジンの分解図を示す。図示の例の枠は
側縁（21）が段差部（22）より高くなっている。縁端
（21）及び段差部（22）の区域で枠の下面はおおむね平
坦であり、２個以上の枠を積み重ねると溝が生じる。溝
は段差部（22）とその上にある次の枠の底面によって形
成される。枠は溝がある前部と長方形の空欠部（23）を
有する。マガジンを差し込んでつなぐと、この空欠部
（23）が空洞を生じ、乾燥剤又は乾燥剤容器でこの空洞
を満たすことができる。また枠（20）はスロット（24）
（図示の例では２個）を有し、テストエレメントの移動
のためのスライドがこのスロットに進入することができ
る。
図８にテストエレメント供給システムが示されてい
る。図8Aないし8Eはテストエレメントの取り出しのとき
に通過する諸段階を示す。図8Aに示されたシステムは、
縁を接して並ぶテストエレメントの複数個の段が配列さ
れたマガジン（30）を有する。このマガジンは図３に示
したものにおおむね相当する。特にマガジンの溝は乾燥
剤（60）の反対側が開放しているから、テストエレメン
トの１つの段を移動することによってテストエレメント
を順次マガジンから送り出すことができる。マガジンは
下側に単数個又は複数個のスロットを有し、スライド
（31）がこのスロットを通ってマガジンに進入すること
ができる。一方、スライドは移動可能なキャリッジ（3
3）と軸（32）により回転可能に連結されている。テス
トエレメントの取り出しのために、マガジン（30）はテ
ストエレメントの１つの段がスライドの前端（31a）の
高さに来るような高さへ移動される。次にキャリッジを
移動させることにより、スライドはテストエレメントの
この段の方向へ移動させられる。図8Aに示すように、ス
ライドはテストエレメントの段に作用し、段全体を移動
させる。こうしてテストエレメントがマガジンの開放端
に向かって横方向へ移動させられる。テストエレメント
を受けるための少なくとも１個の溝を有し、回転可能に
支承されたロールがマガジンの開口部に対設されてい
る。ロールはおおむね同じ形状寸法の２個の溝を有する
ことが好ましい。テストエレメントの取り出しのため
に、少なくとも一方の溝（41）がスライドによって移動
させられたテストストリップの段の高さにあるように、
ロール（40）を回転することが好ましい。スライドの移
動によってその段の、スライドから最も離れたテストエ
レメントが溝（41）の中に差し込まれる。図8Bは上記の
テストエレメントがすでに溝の中にある状態を示す。キ
ャリッジ（33）の移動によってテストエレメントが溝
（41）の末端まで押しやられ、キャリッジ（33）がさら
に移動すると、縁を接して整列されたテストエレメント
の段はどこまでも圧縮することはできないから、スライ
ド（31）が軸（32）の周りに回転する。スライドをばね
（34）で休止位置に保持し、軸の周りの回転による休止
位置からの脱出をセンサ（35）で検出することが好まし
い。このセンサは例えば光バリヤであり、スライドの後
端（31b）の没入によってその光路が遮断される。この
遮断が制御装置によって検出され、ロール（40）の方向
へのキャリッジ（33）の移動が停止される。従ってこの
装置によってテストエレメントをマガジンから溝へ確実
かつ完全に差し込むことができ、テストエレメントの幅
を知る必要はない。こうしてこの装置は製造技術的に事
実上不可避なテストエレメント幅の変動にほとんど左右
されない。図8Bに示す位置から出発してキャリッジは逆
方向へ移動され、それによってテストエレメントの段か
ら圧縮力が取り除かれ、スライドは軸（32）の周りの回
転に関して休止位置に戻される。そこでロールにあるテ
ストエレメントをロールの回転により搬出することがで
きる。マガジン及びテストエレメントを受けるためのロ
ール部分は防湿ケース（50）の中にあることが好まし
い。こうしてマガジンの中にあるテストエレメントが湿
気で傷まないようにすることができる。さらにマガジン
に付属する乾燥剤（60）によってこれを保証することが
好ましい。テストエレメントを受けるための溝はケース
（50）の中にも外にもあることが可能であるから、ロー
ルの区域を湿気の侵入にたいして密封する対策を講じな
ければならない。例えばロールに密接して、ロールが回
転するときに湿気を封止するゴムリップ等でこれを行う
ことができる。ところがテストエレメントが装填された
溝はこのようなゴムリップの下を通って回転しなければ
ならないから、湿気の侵入を回避するには図８に示す構
造の方が好適であることが判明した。ケース（50）はロ
ール（40）のこの区域をなるべく密接して取り囲むよう
に、ロールの外周面に対設された保護部材（50a、50b）
を有する。保護部材（50a、50b）とロール（40）の間
に、ロールの軽快な回転を可能にし、ロールの外形輪郭
を越えて突出するテストエレメントでも無破壊で搬送す
ることができることを保証するギャップがある。保護部
材とロールの間のギャップは若干の量の湿気が侵入する
ことができる湿気沿面漏れ区間をなす。しかしこの量は
僅かであるから、テストエレメントの急速な分解を引き
起こすことはない。
溝の中にあるテストエレメントが、ロールの回転によ
って保護部材（50a）とロールの間のギャップを通って
どのように搬送されるかが図8Dで明らかである。テスト
エレメントがロールの外形輪郭から僅かに突出している
ことが図8C及び8Dで分かる。これは溝の深さが予想され
る最小のテストエレメント幅より小さい好適な実施態様
に相当する。これによって各テストエレメントが少なく
ともロールの外形輪郭から僅かに突出し、こうして後続
のテストエレメントがすでに溝の中にあるテストエレメ
ントと一緒に溝に入り込まないことが保証される。ロー
ルの回転が引っ掛かり等によりシステムの停止を招くこ
とになるから、このような事態は回避しなければならな
い。また図8Cでは保護部材（50a）とロールの間のギャ
ップが保護部材（50b）とロールの間のギャップより大
きいことが分かる。溝からのテストエレメントの脱落を
阻止するために、テストエレメントは上側ギャップを通
って搬送される。従って保護部材（50b）とロールの間
のギャップは、製造許容差が許す程度に小さくすること
ができる。
マガジンからテストエレメントを取り出すために、通
常ロールの180度回転が行われる。ロールによってテス
トエレメントが図8Eに示す位置へ送られ、この位置から
グリップアーム等によってテストエレメントを受け取る
ことができる。
図９にロール（40）の斜視図を示す。ロールにはロー
ル外周面に凹設され、ロールの軸と平行に延びる溝（4
1）がある。溝の中にテストエレメント（１）がある。
テストエレメントの取り出しのために、ロールはロール
の軸線に対しておおむね垂直に延びる単数個又は複数個
のスロット（42）を有することが好ましい。スロット
（42）はロールの表面からロールの軸線の方向へ伸張す
る。スロットの形状は“D"形であることが好ましい。ス
ロットは溝の区域に設けられ、溝の背後をくりぬき、テ
ストエレメントの取り出しのために利用できる空間がテ
ストエレメントの背後のスロット区域で到達可能にな
る。
図９に示したロールと取り出しのためのレーキ（10
0）の横断面図を図10に示す。レーキ（100）は例えばフ
ックの形を有し、テストエレメント（１）の取り出しの
ためにスロット（42）を通ってテストエレメントの背後
へ導かれる。レーキの牽引運動によってテストエレメン
トを溝（41）から台座（101）の上へ引き出すことがで
きる。ここからテストエレメントに分析の実施のための
その後のプロセス段階を行うことができる。
図11AないしＦにマガジン補充装置を有するテストエ
レメント供給システムを示す。図11によるシステムはス
ライド（31）及びロール（40）の機能に関して、図８に
示したシステムにおおむね相当する。しかし図８による
システムに加えて、図11に示したシステムにより補助機
能が可能である。引き出し（70）が引き出され、マガジ
ン（30）が充填されてシステムに差し込まれることが図
11Aで明らかである。テストエレメントをマガジンから
取り出すために、マガジンはロール（40）に隣接する取
り出し位置へ移動される（図８と同様）。このために図
11Aに示すシステムは上下に移動可能な昇降台（80）を
有する。マガジンを引き出しから昇降台に差し込むこと
ができ、そのために別個の装置を設けることができる。
しかしマガジンの移動のためにスライド（31）を使用す
ることが好ましい。このためにスライド（31）が引き出
し（70）の中にあるマガジン（30）に下側から係合する
ように、キャリッジ（33）が左へ移動させられる。次に
キャリッジ（33）がロール（40）の方向へ移動させら
れ、スライド（31）の前端（31a）がマガジンの端縁に
作用し、図11Bに示すようにマガジンを昇降台に引き込
む。マガジンを受けるために、昇降台（80）は底面（8
1）を有し、これによってマガジンの脱落が防止され
る。底面（81）は空欠部を有し、その中でスライド（3
1）を移動させることができる。マガジンが昇降台（8
0）に完全に差し込まれると、図８について述べた手順
と同様にテストエレメントの取り出しを行うことができ
る。また図11Cに示すように、こうして空になった引き
出しに新しいマガジン（30′）を充填することができ
る。
マガジンの個々の段からテストエレメントを取り出す
ために、昇降台（80）にあるマガジンを昇降台とともに
スライド（31）及びロール（40）に対して上下に移動さ
せることができる。取り出しは夫々スライドの前端とロ
ールの溝との間にある段から行われる。
昇降台（80）にあるマガジンが放出された後、新しい
マガジンと簡単に交換することができる。このために昇
降台（80）は、マガジン（30）の下縁がマガジン（3
0′）の上縁の上にある高さに移動する（図11Dを参
照）。次に昇降台に属する機構が作動され、マガジン
（30）を昇降台からマガジン（30′）の上へ移動させ
る。このために昇降台はモータ（83）によって駆動され
る循環ベルト（82）を有することが好ましい。ベルトに
排出突子（84）が固定されており、ベルトの運動ととも
にマガジン（30）を希望どおりに移動する。マガジン
（30）は例えばマガジン（30′）の上に載ることがで
き、マガジン（30′）が図11Bのようにその下から引き
出されると、引き出しの中に落下する。しかし図11によ
るシステムは図11Fに例示した保持装置を有することが
好ましい。マガジン（30）を昇降台から外へ移動すると
き、マガジンはまず保持装置に差し込まれる。図11Fに
２個の対設されたローラ（90）が示されており、これら
のローラの間にマガジン（30）が押しやられる。マガジ
ン（30）を差し込むときにローラとマガジンの間に密接
な接触が生じるように、ローラ（90）はゴム張り（91）
等を有することが好ましい。その結果マガジンの差込み
の際にローラが回転し、マガジンは無秩序に降下するこ
とができない。マガジンが引き出し（70）の中に降下す
るためにローラ（90）が互いに引き離されて、マガジン
を釈放する。図11Fではマガジンが釈放されるローラ位
置がすでに示されている。空になったマガジンの引き出
しの中への、引っ掛かりが起こらない整然たる降下が上
述の機構によって可能である。
そこで引き出しの中にある空になったマガジンは、利
用者が取り出し、場合によっては新しいマガジンと取り
替えることができる。こうしてこのシステムによって、
利用者の動作がまれにしか必要でない連続操作が可能で
ある。
参照符号一覧 （１） テストエレメント （２） ベース （３） テストゾーン （10a） 左側面 （10b） 右側面 （11） 乾燥剤室 （12） 前面 （13） 供給方向の矢印 （14） 排出スライド （15） 排出方向の矢印 （16a、1b6） スロット （17） スライド （18a、18b） 溝対 （20） 個々の枠 （21） 縁端 （22） 段差部 （23） 長方形の空欠部 （24） スロット （30） マガジン （31） スライド （31a） スライドの前端 （31b） スライドの後端 （32） 軸 （33） キャリッジ （34） ばね （40） センサ （40） ロール （41） 溝 （42） スロット （50） ケース （60） 乾燥剤 （70） 引き出し （80） 昇降台 （81） 昇降台の底部 （82） ベルト （83） モータ （84） 排出突子 （90） ローラ （91） ゴム張り （100） レーキ （101） 台座
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リスト，ハンス ドイツ連邦共和国 ディー―64754 ヘ ッセネック，シークフリードシュトラー セ 27 (72)発明者 ハイト，フリードリッヒ ドイツ連邦共和国 ディー―67122 ア ルトリップ，グルーンヴァルトシュトラ ーセ 10 (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 35/04 G01N 35/02

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】長方形のベースの上に並列して固定された
    単数個又は複数個のテストゾーンを有するテストエレメ
    ントの貯蔵のためのマガジンであって、マガジンは少な
    くとも１対の相対する案内溝を有し、上記の案内溝に、
    テストエレメントが直接並列され、かつ、隣接するベー
    スの端縁が相接するようにして差し込まれるようにされ
    ているマガジン。
  2. 【請求項２】２組以上の相対する案内溝の対を有し、こ
    れらの対が上下に重ねて配列されている請求項１に記載
    のマガジン。
  3. 【請求項３】案内溝がマガジンの側壁に一体化されてお
    り、案内溝の対ごとに側壁に配設された１個の開口部を
    有するとともに、マガジンが側壁に対しておおむね垂直
    に延びる端面を有し、溝の中で移動させられるテストエ
    レメントが開口部を通ってマガジンから脱出することが
    できるような配置で、溝対ごとに１個の開口部が端面に
    あるか又は端面が開放している請求項２に記載のマガジ
    ン。
  4. 【請求項４】マガジンの前面が少なくとも部分的に密封
    フィルムで閉鎖されている請求項１に記載のマガジン。
  5. 【請求項５】−テストエレメントが１つの平面で直接並
    列して１つの段をなし、隣接するテストエレメントの端
    縁が相接するように、テストエレメントが差し込まれた
    少なくとも２個の相対する案内溝を有するマガジンと、 −テストエレメントが形成する段の一方の端部に作用
    し、該端部の反対側に位置する段の端部の方向にテスト
    エレメントを溝に沿って移動させるスライドと を包含するテストエレメント供給システム。
  6. 【請求項６】テストエレメントを受けるための少なくと
    も１個の溝があり、軸の周りに回転し得るように支承さ
    れたロールを有する請求項５に記載のテストエレメント
    供給システム。
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