JP3426540B2 - 試料交換機を有する分析システム - Google Patents
試料交換機を有する分析システムInfo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、Ｘ線分析装置、発
光分光分析装置または光電子分光分析装置のような分析
装置と、この分析装置で分析される複数の試料を保持す
る試料テーブルおよびこの試料テーブルから試料を取り
出して分析装置へ搬送する搬送手段を備えた試料交換機
とを有する分析システムに関するものである。
光分光分析装置または光電子分光分析装置のような分析
装置と、この分析装置で分析される複数の試料を保持す
る試料テーブルおよびこの試料テーブルから試料を取り
出して分析装置へ搬送する搬送手段を備えた試料交換機
とを有する分析システムに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】この種の試料交換機を有するＸ線分析シ
ステムでは、試料テーブル上に縦横に複数個並べて保持
された試料を、搬送手段が自動的に取り出してＸ線分析
装置の投入口へ搬送し、Ｘ線分析装置で試料の分析が終
了すると、再び、搬送手段がその試料を試料テーブル上
の元の位置、または任意の指定位置に戻すという動作を
連続して行うようにされている。このような動作の制御
は、各試料の試料テーブル上での保持位置、それらの試
料の分析順序等の試料に関するＩＤデータが入力された
パーソナルコンピュータで行われる。
ステムでは、試料テーブル上に縦横に複数個並べて保持
された試料を、搬送手段が自動的に取り出してＸ線分析
装置の投入口へ搬送し、Ｘ線分析装置で試料の分析が終
了すると、再び、搬送手段がその試料を試料テーブル上
の元の位置、または任意の指定位置に戻すという動作を
連続して行うようにされている。このような動作の制御
は、各試料の試料テーブル上での保持位置、それらの試
料の分析順序等の試料に関するＩＤデータが入力された
パーソナルコンピュータで行われる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前記試料テーブルとし
て、各試料の保持位置が固定された固定テーブル式のも
のがあるが、この形式のテーブルでは、テーブルの奥の
位置については、椅子に座った姿勢で試料の装着、取外
しなどの扱いが容易でなく、立ち上がった姿勢で作業を
行わなければならない。また、試料テーブルに保持させ
た試料についてパーソナルタイプのコンピュータにＩＤ
データを入力するとき、入力ミスが生じないようにコン
ピュータを試料テーブルの近傍に置いて、試料を別の試
料置場から取り出して試料テーブルに１つ保持させるご
とに、その試料に関する保持位置などの各種のＩＤデー
タをコンピュータに入力する必要があり、コンピュータ
の設置位置が制約されてしまう。
て、各試料の保持位置が固定された固定テーブル式のも
のがあるが、この形式のテーブルでは、テーブルの奥の
位置については、椅子に座った姿勢で試料の装着、取外
しなどの扱いが容易でなく、立ち上がった姿勢で作業を
行わなければならない。また、試料テーブルに保持させ
た試料についてパーソナルタイプのコンピュータにＩＤ
データを入力するとき、入力ミスが生じないようにコン
ピュータを試料テーブルの近傍に置いて、試料を別の試
料置場から取り出して試料テーブルに１つ保持させるご
とに、その試料に関する保持位置などの各種のＩＤデー
タをコンピュータに入力する必要があり、コンピュータ
の設置位置が制約されてしまう。
【０００４】本発明は、前記従来の問題に鑑みてなされ
たもので、試料の扱いが容易な試料交換機を有する分析
システムを提供することを目的とする。
たもので、試料の扱いが容易な試料交換機を有する分析
システムを提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１のＸ線分析システムは、試料を分析するＸ
線分析装置と、複数の前記試料を縦方向と横方向に並べ
て保持する試料テーブルおよび縦方向と横方向に移動し
て、この試料テーブルから試料を取り出し, 分析装置へ
搬送する搬送手段を備えた試料交換機とを有する分析シ
ステムであって、前記試料テーブルは、基台と、前記試
料を保持し前記基台に対して基台の前方へ引き出し可能
に支持された縦方向に細長いトレーとを備えている。こ
こで、前記試料には、試料単体と、試料ホルダに保持さ
れた試料の両方が含まれる。
に、請求項１のＸ線分析システムは、試料を分析するＸ
線分析装置と、複数の前記試料を縦方向と横方向に並べ
て保持する試料テーブルおよび縦方向と横方向に移動し
て、この試料テーブルから試料を取り出し, 分析装置へ
搬送する搬送手段を備えた試料交換機とを有する分析シ
ステムであって、前記試料テーブルは、基台と、前記試
料を保持し前記基台に対して基台の前方へ引き出し可能
に支持された縦方向に細長いトレーとを備えている。こ
こで、前記試料には、試料単体と、試料ホルダに保持さ
れた試料の両方が含まれる。
【０００６】この分析システムによれば、扱いの容易で
ない試料テーブルの奥に位置する試料でも、トレーを基
台から前方へ引き出すことにより、立ち上がることなく
例えば椅子に座ったままで、試料を容易に扱うことがで
きる。また、分析装置の制御装置であるコンピュータが
試料テーブルから離れて設置されていても、基台から切
り離してトレーをコンピュータの前まで運んで、トレー
上の試料に関するＩＤデータをコンピュータに入力する
ことができるので、コンピュータの設置位置が試料テー
ブル近傍に制約されない。
ない試料テーブルの奥に位置する試料でも、トレーを基
台から前方へ引き出すことにより、立ち上がることなく
例えば椅子に座ったままで、試料を容易に扱うことがで
きる。また、分析装置の制御装置であるコンピュータが
試料テーブルから離れて設置されていても、基台から切
り離してトレーをコンピュータの前まで運んで、トレー
上の試料に関するＩＤデータをコンピュータに入力する
ことができるので、コンピュータの設置位置が試料テー
ブル近傍に制約されない。
【０００７】また、このＸ線分析システムでは、前記試
料テーブルが、さらに、前記トレーの引き出しの際にト
レーの下面に係合されてトレーと共に前方へ引き出され
てトレーを基台に支持する移動受け具を備えている。こ
の分析システムによれば、トレーを基台から引き出して
も、移動受け具でトレーを支持できるので、引き出し状
態となったトレーを安定良く基台に支持できる。
料テーブルが、さらに、前記トレーの引き出しの際にト
レーの下面に係合されてトレーと共に前方へ引き出され
てトレーを基台に支持する移動受け具を備えている。こ
の分析システムによれば、トレーを基台から引き出して
も、移動受け具でトレーを支持できるので、引き出し状
態となったトレーを安定良く基台に支持できる。
【０００８】請求項２のＸ線分析システムは、請求項１
の構成において、前記トレーが複数配置され、複数のト
レーに対して１つの前記移動受け具が配置されている。
この分析システムによれば、１つの移動受け具を複数の
トレーの支持に兼用できるので、構成が簡単になる。ま
た、移動受け具に、割当てられたトレーの数より少ない
数のトレーを支持させたとき、移動受け具の上に余剰面
が生じるから、その余剰面を試料の仮置きや手置きなど
に利用することで、トレーに対して試料の交換を容易に
行うことができる。
の構成において、前記トレーが複数配置され、複数のト
レーに対して１つの前記移動受け具が配置されている。
この分析システムによれば、１つの移動受け具を複数の
トレーの支持に兼用できるので、構成が簡単になる。ま
た、移動受け具に、割当てられたトレーの数より少ない
数のトレーを支持させたとき、移動受け具の上に余剰面
が生じるから、その余剰面を試料の仮置きや手置きなど
に利用することで、トレーに対して試料の交換を容易に
行うことができる。
【０００９】請求項３のＸ線分析システムは、請求項１
または２のいずれかの構成において、基台における収納
位置にある前記トレーの前部に対応した位置に、引き出
されたトレーの後部下面の突出部に当接してトレーの位
置決めを行う位置決め部材が設けられ、トレーの前部と
位置決め部材とに、互いに係合してトレーを収納位置に
保持する係合部と第１の被係合部が設けられている。こ
のＸ線分析システムによれば、基台からトレーを引き出
した状態で、トレーの後部下面の突出部が基台の位置決
め部材に当接してトレーの位置決めが行われるので、ト
レーの引き出し時に基台からトレーが外れてしまうこと
がない。また、トレーの前部の係合部を、基台の位置決
め部材の被係合部に係合させることにより、トレーを収
納位置に安定良く保持することができる。
または２のいずれかの構成において、基台における収納
位置にある前記トレーの前部に対応した位置に、引き出
されたトレーの後部下面の突出部に当接してトレーの位
置決めを行う位置決め部材が設けられ、トレーの前部と
位置決め部材とに、互いに係合してトレーを収納位置に
保持する係合部と第１の被係合部が設けられている。こ
のＸ線分析システムによれば、基台からトレーを引き出
した状態で、トレーの後部下面の突出部が基台の位置決
め部材に当接してトレーの位置決めが行われるので、ト
レーの引き出し時に基台からトレーが外れてしまうこと
がない。また、トレーの前部の係合部を、基台の位置決
め部材の被係合部に係合させることにより、トレーを収
納位置に安定良く保持することができる。
【００１０】請求項４のＸ線分析システムは、請求項１
の構成において、基台における収納位置にあるトレーの
前部に対応した位置に、引き出されたトレーの後部下面
の突出部に当接してトレーの位置決めを行う位置決め部
材が設けられ、トレーの前部と位置決め部材とに、互い
に係合してトレーを収納位置に保持する係合部と第１の
被係合部が設けられ、前記移動受け具の前部に、前記ト
レーの係合部に対して、前記位置決め部材の第１の被係
合部と選択的に係合される第２の被係合部が設けられて
いる。このＸ線分析システムによれば、移動受け具の前
部の第２の被係合部にトレーの係合部を係合させた状態
で、トレーを基台から引き出すことにより、移動受け具
がトレーと一体となって引き出されるので、トレーが移
動受け具で支持された状態のままトレーを引き出すこと
ができ、トレーの引き出しを安定良く行うことができ
る。
の構成において、基台における収納位置にあるトレーの
前部に対応した位置に、引き出されたトレーの後部下面
の突出部に当接してトレーの位置決めを行う位置決め部
材が設けられ、トレーの前部と位置決め部材とに、互い
に係合してトレーを収納位置に保持する係合部と第１の
被係合部が設けられ、前記移動受け具の前部に、前記ト
レーの係合部に対して、前記位置決め部材の第１の被係
合部と選択的に係合される第２の被係合部が設けられて
いる。このＸ線分析システムによれば、移動受け具の前
部の第２の被係合部にトレーの係合部を係合させた状態
で、トレーを基台から引き出すことにより、移動受け具
がトレーと一体となって引き出されるので、トレーが移
動受け具で支持された状態のままトレーを引き出すこと
ができ、トレーの引き出しを安定良く行うことができ
る。
【００１１】また、請求項５のＸ線分析システムは、請
求項１から４のいずれかの構成において、基台における
収納位置にある前記トレーの前部に対応した位置に、引
き出されたトレーの後部下面の突出部に当接してトレー
の位置決めを行う位置決め部材が設けられ、前記トレー
後部の突出部を、基台のトレー載置面上を走行するロー
ラで構成している。このＸ線分析システムによれば、基
台からトレーを引き出した状態で、トレーの後部下面の
突出部が基台の位置決め部材に当接してトレーの位置決
めが行われるので、トレーの引き出し時に基台からトレ
ーが外れてしまうことがない。また、トレー後部の突出
部がローラからなるので、トレーの引き出し時に、トレ
ーの前部を手で持ち、後部のローラを基台のトレー載置
面上で走行させることにより、トレーの引き出しを円滑
に行うことができる。
求項１から４のいずれかの構成において、基台における
収納位置にある前記トレーの前部に対応した位置に、引
き出されたトレーの後部下面の突出部に当接してトレー
の位置決めを行う位置決め部材が設けられ、前記トレー
後部の突出部を、基台のトレー載置面上を走行するロー
ラで構成している。このＸ線分析システムによれば、基
台からトレーを引き出した状態で、トレーの後部下面の
突出部が基台の位置決め部材に当接してトレーの位置決
めが行われるので、トレーの引き出し時に基台からトレ
ーが外れてしまうことがない。また、トレー後部の突出
部がローラからなるので、トレーの引き出し時に、トレ
ーの前部を手で持ち、後部のローラを基台のトレー載置
面上で走行させることにより、トレーの引き出しを円滑
に行うことができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施形態
について図面を参照しながら詳述する。図１は、蛍光Ｘ
線分析装置または回折Ｘ線分析装置のようなＸ線分析装
置５１、本発明の実施形態の試料交換機１、および試料
置場５２を備えたＸ線分析システムの全体を示す正面図
である。同図において、Ｘ線分析装置５１の左寄りの上
部には、制御装置であるコンピュータ５３が載置され、
右側寄りの上部には、Ｘ線分析装置５１内への試料の出
し入れを行う試料投入口５４が設けられている。試料置
場５２には、試料を保持した多数の試料ホルダ２２が置
かれている。試料交換機１は試料テーブル２の上に設置
されている。試料ホルダ２２は、試料置場５２から試料
テーブル２上に移され、ここから、交換機１により試料
投入口５４へ運ばれ、Ｘ線分析装置５１内に設置された
搬送装置により、Ｘ線分析装置５１内の所定位置に搬送
される。この所定位置で試料ホルダ２２に保持された試
料が、Ｘ線照射を受けて分析される。分析後の試料ホル
ダは、上記と逆の経路を辿って試料置場５２に戻され
る。なお、上記のように搬送される試料は、試料ホルダ
２２に保持されて搬送される場合に限らず、試料単体と
して搬送される場合も含まれる。
について図面を参照しながら詳述する。図１は、蛍光Ｘ
線分析装置または回折Ｘ線分析装置のようなＸ線分析装
置５１、本発明の実施形態の試料交換機１、および試料
置場５２を備えたＸ線分析システムの全体を示す正面図
である。同図において、Ｘ線分析装置５１の左寄りの上
部には、制御装置であるコンピュータ５３が載置され、
右側寄りの上部には、Ｘ線分析装置５１内への試料の出
し入れを行う試料投入口５４が設けられている。試料置
場５２には、試料を保持した多数の試料ホルダ２２が置
かれている。試料交換機１は試料テーブル２の上に設置
されている。試料ホルダ２２は、試料置場５２から試料
テーブル２上に移され、ここから、交換機１により試料
投入口５４へ運ばれ、Ｘ線分析装置５１内に設置された
搬送装置により、Ｘ線分析装置５１内の所定位置に搬送
される。この所定位置で試料ホルダ２２に保持された試
料が、Ｘ線照射を受けて分析される。分析後の試料ホル
ダは、上記と逆の経路を辿って試料置場５２に戻され
る。なお、上記のように搬送される試料は、試料ホルダ
２２に保持されて搬送される場合に限らず、試料単体と
して搬送される場合も含まれる。
【００１３】図２は前記試料交換機１の斜視図を示して
いる。この試料交換機１は、Ｘ線分析装置で分析される
複数の試料Ｓを保持する試料テーブル２と、この試料テ
ーブル２から試料Ｓを取り出してＸ線分析装置の試料投
入口５４（図３）まで搬送する搬送手段３とを備える。
いる。この試料交換機１は、Ｘ線分析装置で分析される
複数の試料Ｓを保持する試料テーブル２と、この試料テ
ーブル２から試料Ｓを取り出してＸ線分析装置の試料投
入口５４（図３）まで搬送する搬送手段３とを備える。
【００１４】搬送手段３は、試料テーブル２上の奥部
に、試料テーブル２の横方向Ｘに向けて配置された横レ
ール４に沿って移動自在に設けられた横移動台５と、こ
の横移動台５に固定され、試料テーブル２の縦方向（前
後方向）Ｙに向けて配置された縦レール６に沿って移動
自在に設けられた縦移動台７と、この縦移動台７に昇降
自在に設けられた昇降台８と、この昇降台８に支持さ
れ、試料テーブル２上やＸ線分析装置における試料投入
口５４（図３）で試料Ｓを把持し、また試料Ｓの把持を
解除するチャック９とを備える。
に、試料テーブル２の横方向Ｘに向けて配置された横レ
ール４に沿って移動自在に設けられた横移動台５と、こ
の横移動台５に固定され、試料テーブル２の縦方向（前
後方向）Ｙに向けて配置された縦レール６に沿って移動
自在に設けられた縦移動台７と、この縦移動台７に昇降
自在に設けられた昇降台８と、この昇降台８に支持さ
れ、試料テーブル２上やＸ線分析装置における試料投入
口５４（図３）で試料Ｓを把持し、また試料Ｓの把持を
解除するチャック９とを備える。
【００１５】前記横レール４内には、長手方向に沿って
ボールねじ１０が設けられ、このボールねじ１０に螺合
するボールナット１１に前記横移動台５が連結され、横
レール４の一端部に設けられたサーボモータ１２でボー
ルねじ１０を回転駆動することにより、横移動台５が横
方向Ｘに移動される。
ボールねじ１０が設けられ、このボールねじ１０に螺合
するボールナット１１に前記横移動台５が連結され、横
レール４の一端部に設けられたサーボモータ１２でボー
ルねじ１０を回転駆動することにより、横移動台５が横
方向Ｘに移動される。
【００１６】前記縦レール６内には、長手方向に沿って
ボールねじ１３が設けられ、このボールねじ１３に螺合
するボールナット１４に前記縦移動台７が連結され、縦
レール６の一端部に設けられたサーボモータ１５でボー
ルねじ１３を回転駆動することにより、縦移動台７が縦
方向Ｙに移動される。前記昇降台８は、前記縦移動台７
に設けられた図示しない昇降機構により昇降駆動され
る。
ボールねじ１３が設けられ、このボールねじ１３に螺合
するボールナット１４に前記縦移動台７が連結され、縦
レール６の一端部に設けられたサーボモータ１５でボー
ルねじ１３を回転駆動することにより、縦移動台７が縦
方向Ｙに移動される。前記昇降台８は、前記縦移動台７
に設けられた図示しない昇降機構により昇降駆動され
る。
【００１７】前記試料テーブル２は、基台２１と、この
基台２１の平坦なトレー載置面２１ａ上に、基台２１の
前方Ｆへ引き出し可能に支持され、試料Ｓの単体、また
は試料Ｓが保持される試料ホルダ２２を装填する複数の
装填台２３を前後方向Ｙに一列に並べて保持するトレー
２４と、前記トレー２４の引き出しの際にトレー２４の
下面に係合されてトレー２４と共に引き出されて、トレ
ー２４を基台２１に支持する複数の移動受け具２５とを
備える。
基台２１の平坦なトレー載置面２１ａ上に、基台２１の
前方Ｆへ引き出し可能に支持され、試料Ｓの単体、また
は試料Ｓが保持される試料ホルダ２２を装填する複数の
装填台２３を前後方向Ｙに一列に並べて保持するトレー
２４と、前記トレー２４の引き出しの際にトレー２４の
下面に係合されてトレー２４と共に引き出されて、トレ
ー２４を基台２１に支持する複数の移動受け具２５とを
備える。
【００１８】前記トレー２４は試料テーブル２の引き出
し方向Ｆに長い部材であり、横方向Ｘに並んで複数、こ
こでは６個が配置されている。トレー２４の前後には、
容易に持ち運びできるように把手３５がそれぞれ設けら
れている。また、前記移動受け具２５は２つ配置され、
横方向Ｘに隣接する３個分のトレー２４に対して１つの
移動受け具２５が対応するようにされている。このよう
に、移動受け具２５の数が少ないので、それだけ構造が
簡単になる。
し方向Ｆに長い部材であり、横方向Ｘに並んで複数、こ
こでは６個が配置されている。トレー２４の前後には、
容易に持ち運びできるように把手３５がそれぞれ設けら
れている。また、前記移動受け具２５は２つ配置され、
横方向Ｘに隣接する３個分のトレー２４に対して１つの
移動受け具２５が対応するようにされている。このよう
に、移動受け具２５の数が少ないので、それだけ構造が
簡単になる。
【００１９】前記基台２１のトレー載置面２１ａの奥部
には、収納位置にあるトレー２４の後端を受け止める位
置決め部材２６が横方向Ｘに向けて延設されている。ま
た、基台２１のトレー載置面２１ａには、横方向Ｘに向
けて並置される各トレー２４の両側部に相当する位置
に、トレー２４の引出しおよび収納位置への復帰をガイ
ドするガイドレール２７が縦方向Ｙに向けてそれぞれ延
設されている。さらに、前記トレー載置面２１ａにおけ
る前記各ガイドレール２７の前端位置には、トレー２４
を引出し位置から元の収納位置に戻すとき、対応する左
右のガイドレール２７の間にトレー２４が円滑に進入す
るようにトレー２４をガイドするガイドローラ３６がそ
れぞれ設けられている。
には、収納位置にあるトレー２４の後端を受け止める位
置決め部材２６が横方向Ｘに向けて延設されている。ま
た、基台２１のトレー載置面２１ａには、横方向Ｘに向
けて並置される各トレー２４の両側部に相当する位置
に、トレー２４の引出しおよび収納位置への復帰をガイ
ドするガイドレール２７が縦方向Ｙに向けてそれぞれ延
設されている。さらに、前記トレー載置面２１ａにおけ
る前記各ガイドレール２７の前端位置には、トレー２４
を引出し位置から元の収納位置に戻すとき、対応する左
右のガイドレール２７の間にトレー２４が円滑に進入す
るようにトレー２４をガイドするガイドローラ３６がそ
れぞれ設けられている。
【００２０】前記トレー２４の後部下面には下方に向け
て突出する突出部として、図７に示すように、基台２１
のトレー載置面２１ａ上を走行する左右１対のローラ２
８が設けられている。このローラ２８が図８のガイドレ
ール２７の内側に沿って走行することにより、トレー２
４の引出しおよび収納位置への復帰がガイドされる。さ
らに、トレー２４の後部下面には、係合溝３０ａを有す
る係合部材３０が固定されており、この係合溝３０ａ
に、基台２１のトレー載置面２１ａにおける各トレー２
４の収納位置の後部にそれぞれ突設されている係合ピン
２９が係合可能となっている。前記ローラ２８は、この
係合部材３０の下面に軸支されている。
て突出する突出部として、図７に示すように、基台２１
のトレー載置面２１ａ上を走行する左右１対のローラ２
８が設けられている。このローラ２８が図８のガイドレ
ール２７の内側に沿って走行することにより、トレー２
４の引出しおよび収納位置への復帰がガイドされる。さ
らに、トレー２４の後部下面には、係合溝３０ａを有す
る係合部材３０が固定されており、この係合溝３０ａ
に、基台２１のトレー載置面２１ａにおける各トレー２
４の収納位置の後部にそれぞれ突設されている係合ピン
２９が係合可能となっている。前記ローラ２８は、この
係合部材３０の下面に軸支されている。
【００２１】また、図２に示す基台２１のトレー載置面
２１ａには、収納位置にあるトレー２４の前部に対応し
た位置で、引き出されたトレー２４の後部下面の突出部
である前記ローラ２８に当接してトレー２４の引出し位
置を位置決めする位置決め部材３１が、横方向Ｘに向け
て延設されている。また、前記トレー２４の前部下面に
は、図５に示すように、左右に分けて１対の係合部３２
Ａ，３２Ｂが突設されている。そのうち、一方の係合部
３２Ｂは、トレー２４の下面に固定したナット３３に螺
合する雄ねじからなり、基台２１のトレー載置面２１ａ
上でトレー２４が安定のよい水平姿勢となって支持され
るように突出高さの調整が可能である。
２１ａには、収納位置にあるトレー２４の前部に対応し
た位置で、引き出されたトレー２４の後部下面の突出部
である前記ローラ２８に当接してトレー２４の引出し位
置を位置決めする位置決め部材３１が、横方向Ｘに向け
て延設されている。また、前記トレー２４の前部下面に
は、図５に示すように、左右に分けて１対の係合部３２
Ａ，３２Ｂが突設されている。そのうち、一方の係合部
３２Ｂは、トレー２４の下面に固定したナット３３に螺
合する雄ねじからなり、基台２１のトレー載置面２１ａ
上でトレー２４が安定のよい水平姿勢となって支持され
るように突出高さの調整が可能である。
【００２２】図６に示すように、基台２１の前部に設け
られた前記位置決め部材３１には、各トレー２４の前記
１対の係合部３２Ａ，３２Ｂが係合する孔からなる各１
対の第１の被係合部３４が、各トレー２４にそれぞれ対
応させて設けられている。
られた前記位置決め部材３１には、各トレー２４の前記
１対の係合部３２Ａ，３２Ｂが係合する孔からなる各１
対の第１の被係合部３４が、各トレー２４にそれぞれ対
応させて設けられている。
【００２３】基台２１の脚２１ｂ（図１）の上部に連結
された上部構造体は、図５に示すように、トレー載置面
２１ａを構成する上面材４１と下面材４２が、スペーサ
４３を介して連結して構成されており、これら上下面材
４１，４２の間のスペースに、前記移動受け具２５が引
き出し自在に配置されている。この移動受け具２５の両
側部は、移動受け具２５の引出し方向（縦方向Ｙ）に延
びるガイドレール４４が固定され、他方、下面材４２に
は、各ガイドレール４４に対してそれらの内側から対向
するように縦方向Ｙに延びた左右一対のガイドレール４
５が、支持部材４８を介して支持されている。前記両ガ
イドレール４４，４５の間には、縦方向Ｙに摺動自在な
摺動部材４６が配置され、前記両ガイドレール４４，４
５の上部下面と前記摺動部材４６の上面との間、および
両ガイドレール４４，４５の下部上面と摺動部材４６の
下面との間に、それぞれ複数のボール４７が介在させて
あり、これにより移動受け具２５が基台２１に対して引
出し自在となっている。
された上部構造体は、図５に示すように、トレー載置面
２１ａを構成する上面材４１と下面材４２が、スペーサ
４３を介して連結して構成されており、これら上下面材
４１，４２の間のスペースに、前記移動受け具２５が引
き出し自在に配置されている。この移動受け具２５の両
側部は、移動受け具２５の引出し方向（縦方向Ｙ）に延
びるガイドレール４４が固定され、他方、下面材４２に
は、各ガイドレール４４に対してそれらの内側から対向
するように縦方向Ｙに延びた左右一対のガイドレール４
５が、支持部材４８を介して支持されている。前記両ガ
イドレール４４，４５の間には、縦方向Ｙに摺動自在な
摺動部材４６が配置され、前記両ガイドレール４４，４
５の上部下面と前記摺動部材４６の上面との間、および
両ガイドレール４４，４５の下部上面と摺動部材４６の
下面との間に、それぞれ複数のボール４７が介在させて
あり、これにより移動受け具２５が基台２１に対して引
出し自在となっている。
【００２４】さらに、図２に示すように、前記移動受け
具２５の前部には、対応する前記各トレー２４の１対の
係合部３２Ａ，３２Ｂに対して、前記基台２１における
位置決め部材３１の第１の被係合部３４と選択的に係合
される孔からなる各１対の第２の被係合部４９が設けら
れている。
具２５の前部には、対応する前記各トレー２４の１対の
係合部３２Ａ，３２Ｂに対して、前記基台２１における
位置決め部材３１の第１の被係合部３４と選択的に係合
される孔からなる各１対の第２の被係合部４９が設けら
れている。
【００２５】次に、この試料交換機１の動作について説
明する。試料テーブル２上に保持されている試料Ｓを交
換する場合、その試料Ｓが保持されているトレー２４の
前端を持ち上げる。これにより、収納位置において図４
（Ａ）のように位置決め部材３１の第１の被係合部３４
に係合していたトレー２４の前部の１対の係合部３２
Ａ，３２Ｂが被係合部３４から抜け出し係合解除され
る。次に、前記トレー２４の前部の１対の係合部３２
Ａ．３２Ｂを、図４（Ｂ）のように対応する移動受け具
２５の前部の第２の被係合部４９に係合させてから、ト
レー２４を前方Ｆに引き出す。これに伴い、図２に示す
ように、トレー２４と一体となって移動受け具２５が引
き出される。その結果、引出し状態でも、トレー２４は
移動受け具２５に載置された状態となるので、基台２１
から片持ち状態に引き出されるトレー２４を、安定良く
基台２４に支持させることができる。
明する。試料テーブル２上に保持されている試料Ｓを交
換する場合、その試料Ｓが保持されているトレー２４の
前端を持ち上げる。これにより、収納位置において図４
（Ａ）のように位置決め部材３１の第１の被係合部３４
に係合していたトレー２４の前部の１対の係合部３２
Ａ，３２Ｂが被係合部３４から抜け出し係合解除され
る。次に、前記トレー２４の前部の１対の係合部３２
Ａ．３２Ｂを、図４（Ｂ）のように対応する移動受け具
２５の前部の第２の被係合部４９に係合させてから、ト
レー２４を前方Ｆに引き出す。これに伴い、図２に示す
ように、トレー２４と一体となって移動受け具２５が引
き出される。その結果、引出し状態でも、トレー２４は
移動受け具２５に載置された状態となるので、基台２１
から片持ち状態に引き出されるトレー２４を、安定良く
基台２４に支持させることができる。
【００２６】このとき、トレー２４は隣接する２つまた
は３つを１つの移動受け具２５に係合させてから、前方
Ｆに引き出すこともできる。移動受け具２５に１つまた
は２つのトレー２４を支持させた場合、移動受け具２５
の上面に余剰面２５ａが生じる。したがって、この余剰
面に、トレー２４から取り出した分析済の試料Ｓの単体
もしくは試料Ｓを持つ試料ホルダ２２、または新しい試
料Ｓもしくはこの試料Ｓを持つ新たな試料ホルダ２２を
仮置きしたり、手を置いて楽な姿勢をとったりすること
ができ、試料Ｓの交換作業が容易になる。
は３つを１つの移動受け具２５に係合させてから、前方
Ｆに引き出すこともできる。移動受け具２５に１つまた
は２つのトレー２４を支持させた場合、移動受け具２５
の上面に余剰面２５ａが生じる。したがって、この余剰
面に、トレー２４から取り出した分析済の試料Ｓの単体
もしくは試料Ｓを持つ試料ホルダ２２、または新しい試
料Ｓもしくはこの試料Ｓを持つ新たな試料ホルダ２２を
仮置きしたり、手を置いて楽な姿勢をとったりすること
ができ、試料Ｓの交換作業が容易になる。
【００２７】前記引出し状態で、トレー２４の後部下面
の突出部であるローラ２８が基台２１の位置決め部材３
１に当接してトレー２４が位置規制されるので、トレー
２４が基台２１から外れてしまうのを防止できる。この
ように基台２１からトレー２４を引き出した状態では、
収納位置において試料テーブル２の前部にある試料Ｓは
勿論のこと、奥部にある試料Ｓでも、例えば椅子に座っ
たままで、容易に交換ができる。なお、新たな試料Ｓの
単体、または新たな試料Ｓをセットした別の試料ホルダ
２２は、図１の試料置き場５２に設置されており、試料
交換の際は、試料置き場５２にある別の試料Ｓ、または
別の試料Ｓをセットした試料ホルダ２２を、図２のトレ
ー２４上のホルダ装填台２３に装填し直すことによって
試料交換が行われる。
の突出部であるローラ２８が基台２１の位置決め部材３
１に当接してトレー２４が位置規制されるので、トレー
２４が基台２１から外れてしまうのを防止できる。この
ように基台２１からトレー２４を引き出した状態では、
収納位置において試料テーブル２の前部にある試料Ｓは
勿論のこと、奥部にある試料Ｓでも、例えば椅子に座っ
たままで、容易に交換ができる。なお、新たな試料Ｓの
単体、または新たな試料Ｓをセットした別の試料ホルダ
２２は、図１の試料置き場５２に設置されており、試料
交換の際は、試料置き場５２にある別の試料Ｓ、または
別の試料Ｓをセットした試料ホルダ２２を、図２のトレ
ー２４上のホルダ装填台２３に装填し直すことによって
試料交換が行われる。
【００２８】また、図１に示したように、試料テーブル
２から離れた試料置き場５２に近い位置にＸ線分析装置
５１の制御手段であるコンピュータ５３がある場合に
は、引き出したトレー２４を、その把手３５（図２）を
握って試料置場５２まで運んで、前記交換作業を行う。
その際、試料置き場５２で試料を１つ交換するたびに、
その試料に関するＩＤデータを近くのコンピュータに入
力するというＩＤ設定作業を行うことができるので、入
力ミスの発生を防止できる。このＩＤデータは、試料の
種類、大きさなどを示すものであり、このＩＤデータに
基づいて、コンピュータ５３が試料に適したＸ線分析装
置５１の運転条件を設定し、自動的に分析を行わせる。
２から離れた試料置き場５２に近い位置にＸ線分析装置
５１の制御手段であるコンピュータ５３がある場合に
は、引き出したトレー２４を、その把手３５（図２）を
握って試料置場５２まで運んで、前記交換作業を行う。
その際、試料置き場５２で試料を１つ交換するたびに、
その試料に関するＩＤデータを近くのコンピュータに入
力するというＩＤ設定作業を行うことができるので、入
力ミスの発生を防止できる。このＩＤデータは、試料の
種類、大きさなどを示すものであり、このＩＤデータに
基づいて、コンピュータ５３が試料に適したＸ線分析装
置５１の運転条件を設定し、自動的に分析を行わせる。
【００２９】引き出したトレー２４を元の収納位置に戻
す場合は、トレー２４の前部の係合部３２Ａ，３２Ｂを
移動受け具２５の前部の第２の被係合部４９に係合させ
た状態で、トレー２４を基台２１のトレー載置面２１ａ
上に押した後に、トレー２４の前部の係合部３２Ａ，３
２Ｂを位置決め部材３１の被係合部３４に係合させれば
よい。この押戻し動作に伴い、トレー２４と一体に移動
受け具２５も元の位置まで押し戻されるので、移動受け
具２５に載せられたまま、安定良くトレー２４の押戻し
が行われる。
す場合は、トレー２４の前部の係合部３２Ａ，３２Ｂを
移動受け具２５の前部の第２の被係合部４９に係合させ
た状態で、トレー２４を基台２１のトレー載置面２１ａ
上に押した後に、トレー２４の前部の係合部３２Ａ，３
２Ｂを位置決め部材３１の被係合部３４に係合させれば
よい。この押戻し動作に伴い、トレー２４と一体に移動
受け具２５も元の位置まで押し戻されるので、移動受け
具２５に載せられたまま、安定良くトレー２４の押戻し
が行われる。
【００３０】なお、この押戻し動作において、トレー２
４の後部がガイド３６にガイドされて、対応する左右１
対のガイドレール２７の間にトレー２４が進入するの
で、トレー２４の押戻し動作を円滑に行うことができ
る。また、この押戻し動作や、先の引出し動作におい
て、トレー２４の後部はローラ２８を介してトレー載置
面２１ａを走行できるので、この点でも押戻し動作や引
出し動作を円滑に行うことができる。
４の後部がガイド３６にガイドされて、対応する左右１
対のガイドレール２７の間にトレー２４が進入するの
で、トレー２４の押戻し動作を円滑に行うことができ
る。また、この押戻し動作や、先の引出し動作におい
て、トレー２４の後部はローラ２８を介してトレー載置
面２１ａを走行できるので、この点でも押戻し動作や引
出し動作を円滑に行うことができる。
【００３１】また、この試料交換機１では、１つのトレ
ー２４に複数のホルダ装填台２３が１列に並べて載置さ
れているので、試料Ｓの保管をトレー単位で行うことが
できる。
ー２４に複数のホルダ装填台２３が１列に並べて載置さ
れているので、試料Ｓの保管をトレー単位で行うことが
できる。
【００３２】なお、前記実施形態では、Ｘ線分析装置５
１の試料交換機１の場合について説明したが、本発明
は、発光分光分析装置や光電子分析装置など、他の分析
装置の試料交換機にも適用できる。
１の試料交換機１の場合について説明したが、本発明
は、発光分光分析装置や光電子分析装置など、他の分析
装置の試料交換機にも適用できる。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
扱いの容易でない試料テーブルの奥に位置する試料で
も、トレーを基台から前方へ引き出すことにより、立ち
上がることなく、例えば椅子に座ったままで、試料を容
易に扱うことができる。また、基台から切り離してトレ
ーをＸ線分析装置の制御装置であるコンピュータの前ま
で運び、トレーへ試料を装填しながら、試料に関する１
Ｄデータをコンピュータへ入力することができるので、
コンピュータの設置位置が試料テーブルの近傍に制約さ
れない。
扱いの容易でない試料テーブルの奥に位置する試料で
も、トレーを基台から前方へ引き出すことにより、立ち
上がることなく、例えば椅子に座ったままで、試料を容
易に扱うことができる。また、基台から切り離してトレ
ーをＸ線分析装置の制御装置であるコンピュータの前ま
で運び、トレーへ試料を装填しながら、試料に関する１
Ｄデータをコンピュータへ入力することができるので、
コンピュータの設置位置が試料テーブルの近傍に制約さ
れない。
【図１】本発明の試料交換機とＸ線分析装置を備えたＸ
線分析システムの全体を示す斜視図である。
線分析システムの全体を示す斜視図である。
【図２】本発明の一実施形態のＸ線分析装置の試料交換
機を示す斜視図である。
機を示す斜視図である。
【図３】同試料交換機の平面図である。
【図４】（Ａ）は同試料交換機におけるトレーの収納状
態を示す縦断面図、（Ｂ）はトレーを移動受け具に係合
させた状態を示す縦断面図である。
態を示す縦断面図、（Ｂ）はトレーを移動受け具に係合
させた状態を示す縦断面図である。
【図５】同試料交換機の正面側から見た横断面図であ
る。
る。
【図６】同試料交換機におけるトレーの収納状態を示す
一部破断した横断面図である。
一部破断した横断面図である。
【図７】同試料交換機におけるトレーの後部を示す斜視
図である。
図である。
【図８】同トレーの後部の係合部材を示す底面図であ
る。
る。
１…試料交換機、２…試料テーブル、３…搬送手段、２
１…基台、２２…試料ホルダ、２４…トレー、２５…移
動受け具、２８…ローラ（突出部）、３１…位置決め部
材、３２Ａ，３２Ｂ…係合部、３４…第１の被係合部、
４９…第２の被係合部、５１…Ｘ線分析装置、Ｓ…試料
１…基台、２２…試料ホルダ、２４…トレー、２５…移
動受け具、２８…ローラ（突出部）、３１…位置決め部
材、３２Ａ，３２Ｂ…係合部、３４…第１の被係合部、
４９…第２の被係合部、５１…Ｘ線分析装置、Ｓ…試料
─────────────────────────────────────────────────────
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(56)参考文献 特開 平９−304241（ＪＰ，Ａ)
特開 平５−180732（ＪＰ，Ａ)
特開 昭64−59043（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−94729（ＪＰ，Ａ)
特開2000−105208（ＪＰ，Ａ)
特開 昭60−111160（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−172250（ＪＰ，Ａ)
特開 平９−33535（ＪＰ，Ａ)
特開 平９−325098（ＪＰ，Ａ)
実開 平７−18266（ＪＰ，Ｕ)
特公 平２−29988（ＪＰ，Ｂ２)
実公 平１−28459（ＪＰ，Ｙ２)
米国特許4738824（ＵＳ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01N 1/00 - 1/44
G01N 23/00 - 23/227
G01N 35/00 - 35/10
Claims (5)
- 【請求項１】試料を分析するＸ線分析装置と、複数の前
記試料を縦方向と横方向に並べて保持する試料テーブル
および縦方向と横方向に移動して、前記試料を前記試料
テーブルから取り出し、前記分析装置へ搬送する搬送手
段を備えた試料交換機とを有する分析システムであっ
て、 前記試料テーブルは、基台と、前記試料を保持する縦方
向に細長いトレーと、前記トレーの引き出しの際にトレ
ーの下面に係合されてトレーと共に前方へ引き出されて
トレーを基台に支持する移動受け具とを備えているＸ線
分析システム。 - 【請求項２】請求項１において、前記トレーは複数配置
され、複数のトレーに対して1つの前記移動受け具が配
置されているＸ線分析システム。 - 【請求項３】請求項１または２のいずれかにおいて、前
記基台における収納位置にある前記トレーの前部に対応
した位置に、引き出されたトレーの後部下面の突出部に
当接してトレーの位置決めを行う位置決め部材が設けら
れ、 トレーの前部と位置決め部材とに、互いに係合してトレ
ーを収納位置に保持する係合部と第１の被係合部が設け
られているＸ線分析システム。 - 【請求項４】請求項１において、基台における収納位置
にある前記トレーの前部に対応した位置に、引き出され
たトレーの後部下面の突出部に当接してトレーの位置決
めを行う位置決め部材が設けられ、 トレーの前部と位置決め部材とに、互いに係合してトレ
ーを収納位置に保持する係合部と第１の被係合部が設け
られ、前記移動受け具の前部に、前記トレーの係合部に
対して、前記位置決め部材の第１の被係合部と選択的に
係合される第２の被係合部が設けられているＸ線分析シ
ステム。 - 【請求項５】請求項１から４のいずれかにおいて、前記
基台における収納位置にある前記トレーの前部に対応し
た位置に、引き出されたトレーの後部下面の突出部に当
接してトレーの位置決めを行う位置決め部材が設けら
れ、 前記トレー後部の突出部は、基台のトレー載置面上を走
行するローラであるＸ線分析システム。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19699799A JP3426540B2 (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 試料交換機を有する分析システム |
| US09/611,531 US6457862B1 (en) | 1999-07-12 | 2000-07-06 | Analyzer system having sample exchanger |
| EP00114140A EP1073092A3 (en) | 1999-07-12 | 2000-07-11 | Analyser system having sample exchanger |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19699799A JP3426540B2 (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 試料交換機を有する分析システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001021457A JP2001021457A (ja) | 2001-01-26 |
| JP3426540B2 true JP3426540B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=16367119
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19699799A Expired - Fee Related JP3426540B2 (ja) | 1999-07-12 | 1999-07-12 | 試料交換機を有する分析システム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6457862B1 (ja) |
| EP (1) | EP1073092A3 (ja) |
| JP (1) | JP3426540B2 (ja) |
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| AU2003222026A1 (en) * | 2002-03-21 | 2003-10-08 | Bruker Axs, Inc. | Transmission mode x-ray diffraction screening system |
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| US7876875B2 (en) * | 2008-04-09 | 2011-01-25 | United Technologies Corp. | Computed tomography systems and related methods involving multi-target inspection |
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| JP5770144B2 (ja) * | 2011-09-30 | 2015-08-26 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 試料分析方法、及び試料分析システム |
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| KR102238943B1 (ko) * | 2020-11-05 | 2021-04-12 | (주)네오시스코리아 | 방사능 검사 장치 |
| WO2024202197A1 (ja) * | 2023-03-30 | 2024-10-03 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線分析装置、およびｘ線分析装置の制御方法 |
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