JP3396399B2 - 電子デバイス製造装置 - Google Patents

電子デバイス製造装置

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JP3396399B2 JP17077197A JP17077197A JP3396399B2 JP 3396399 B2 JP3396399 B2 JP 3396399B2 JP 17077197 A JP17077197 A JP 17077197A JP 17077197 A JP17077197 A JP 17077197A JP 3396399 B2 JP3396399 B2 JP 3396399B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子デバイス製造
装置に関し、より詳しくは電子産業における水素化アモ
ルファスシリコン(以下a−Si:Hと略記)等の半導
体薄膜や絶縁膜の製造に用いられるプラズマ励起化学気
相成長装置(以下プラズマCVD装置と記す)或いは半
導体素子や液晶素子等を加工するために用いられるプラ
ズマエッチング装置として好適な電子デバイス製造装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】今日、この種の電子デバイス製造装置
は、金属膜、半導体膜、誘電体膜或いは結晶ウエハー等
を対象として電子デバイスの製造装置として広く用いら
れるようになって来ている。
【0003】ここで、この種の電子デバイス製造装置に
おいては、現在その多くが、ラジオ波(周波数13.5
6MHz,RF或いは高周波HFと呼ばれる)か、或い
はマイクロ波(周波数2.45GHz,MW波)をプラ
ズマを生成する高周波電源の励起周波数としている。
【0004】一方、最近のプラズマ科学における精力的
な研究から、プラズマを生成するために用いられる高周
波電源の励起周波数として、上記二者の中間の周波数領
域(例えば、100MHz程度、高高周波VHF帯と呼
ばれる、或いは数百MHz程度、超高周波UHF帯と呼
ばれる)が、理論的にも実験的にも電子デバイスの製造
に適した特長を有することが明らかにされつつある。
【0005】例えば、「J.Vac.Sci.Tech
nol.A10 1992 1080A.A.Howli
ng et.al」には、励起周波数としてVHF帯を使
用したときのSiH4プラズマの周波数依存性が記載さ
れている。また、「Plasma Sources S
ci.Tecnol.2 1993 p40−45T.
Kitamura他」と「Plasma Source
s Sci.Technol.2 1993 p26−
29 S.oda」には、励起周波数としてVHF帯を
用いた際の効果が記載されている。
【0006】また、特開平6−77144号公報には、
高周波領域の使用範囲等が記載されており、特開平6−
5522号公報には、カソード電極の表面に関する構造
改造による高周波電力の適用が記載されている。更に、
特開平7−273038号公報には、反応室内に反応ガ
スを導入するためのガス導入配管として、その途中に絶
縁管を有するものが示され、この絶縁管の形成される位
置及びその内径に関する技術が開示されている。
【0007】図13は従来の電子デバイス製造装置を示
す。反応室(チャンバー)5内には、カソード電極2と
アノード電極4とが対向配置され、アノード電極4の電
極面に基板6が載置されている。また、図中7は反応室
5の背壁に設けられたヒータである。
【0008】反応室5内には、ガス導入配管1を通して
反応ガスが導入される。即ち、ガス導入配管1の終端部
はカソード電極2に連通されており、カソード電極2に
形成されガス噴出孔を通して反応ガス8が反応室5内に
吹き出す構成になっている。このガス導入配管1の途中
には、絶縁管10が設けられている。また、ガス導入配
管1の終端部寄りの部分には高周波電源3a及びマッチ
ング回路3bからなる高周波電力発生手段3が接続され
ている。
【0009】ここで、高周波電源3aの励起周波数とし
て、上記二者の中間の周波数領域を用いることによる利
点を、今少し具体的に説明すると、以下の特長を有する
ことに起因している。
【0010】(1)プラズマ密度は周波数の2乗に比例
して増加する。
【0011】(2)このような高いプラズマ密度が比較
的低いプラズマポテンシャルによって実現される。
【0012】上記(1)、(2)の特長について今少し
具体的に説明すると、(1)の特長は膜堆積の速度が周
波数の2乗に比例して増加することを意味し、またエッ
チング装置に適用する場合はエッチング速度が周波数の
2乗に比例して増加することを意味する。このため、製
造効率を向上できる利点がある。
【0013】また、(2)の特長は、このような高速成
膜、高速エッチング条件下でありながら、プラズマ中の
イオン種による膜或いは基板への損傷、即ち、いわゆる
プラズマダメージを低く抑えることが可能になる。
【0014】ところが、これまでのこのような理論的、
実験的研究では、使用しているプラズマ励起周波数がR
F帯でしか扱われていないときには、図14に示すよう
に、反応室(プラズマCVDチャンバー部)のカソード
電極とアノード電極間のインピーダンスの大きさ|Z|
が10から20Ω程度であるのに対し、ガス導入部での
配管部のインピーダンスの大きさ|Z|が300Ω程度
と非常に大きい値になっている。この結果、ガス導入部
には高周波電力がほとんどかからないため、反応室での
放電は可能である。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで、a−Si:
H系薄膜を用いた太陽電池や液晶表示素子等のいわゆる
ジャイアントマイクロエレクトロニクスと呼ばれるよう
な電子産業分野では、基板そのものの寸法が、例えば4
0cm〜60cmと長尺であり、かつこのような基板を
複数枚一度に処理できる反応室が、装置の高スループッ
ト化のためには不可欠となって来ている。また、半導体
製造装置でも高スループットを実現するためには多数の
基板を一度に処理することが非常に重要である。
【0016】従って、このような理由により、必然的に
1つの反応室の寸法は1m程度を一辺とするような長尺
なものにならざるを得なくなり、より具体的にはカソー
ド電極及びアノード電極の電極面の寸法を大きくするこ
とが重要であり、この寸法がいわゆるVHF帯励起周波
数の波長と同じオーダーとなってくる。
【0017】この結果、装置の高スループット化を実現
するためには、プラズマ励起周波数を製造装置寸法(反
応空間)に対応したVHF帯励起周波数(場合によって
は、UHF帯励起周波数)にする必要があるが、そのよ
うな場合には以下に示す点に留意する必要がある。
【0018】5(1)製造装置寸法(反応空間)が使用
しているプラズマ励起周波数の波長と同程度である場合
に、プラズマを所望の空間、即ちカソード電極とアノー
ド電極との間に形成される空間に、VHF帯の励起周波
数を持つ高周波電源によって生成し、大面積にわたって
利用するものとすると、主として電極(カソード電極及
びアノード電極)の大型化(大面積化)に伴う浮遊容量
の増大により、電極間、つまり反応室のインピーダンス
が増大する。
【0019】特に、特開平7−273038号公報に開
示された電子デバイス製造装置のように、ガス導入配管
1の一部に絶縁管10を用いる場合は、VHF帯での高
周波電力を供給すると、絶縁管10が電気的に容量成分
を持つため、この容量成分が共振現象を引き起こし、ガ
ス導入配管1におけるインピーダンスの大きさ|Z|が
カソード電極2とアノード電極4間、即ち反応室5内の
インピーダンスの大きさ|Z|よりも小さくなる事態を
招来するおそれがある。
【0020】このような事態を招くと、ガス導入配管1
中の絶縁管10の部分で高周波電力が吸収され、この部
分が異常に加熱される現象を生じるため、反応室5内に
投入されるべき電力が減少して、カソード電極2とアノ
ード電極4間での放電の実現が不可能になる。
【0021】また、このような現象が発生すると、絶縁
管10が溶融し、破壊されるため、安全性が損なわれ
る。
【0022】(2)製造装置寸法(反応空間)が使用し
ているプラズマ励起電源周波数の波長と同程度である場
合に、プラズマを所望の空間に、即ちカソード電極と対
をなすアノード電極との間の空間に、VHF帯の励起周
波数を持つ高周波電源によって生成したプラズマを大面
積にわたって利用するために、反応空間内に材料ガスを
導入するためのガス導入配管が、配管部内において材料
ガスの電離、プラズマ化を起こさせない構造となってい
ることが重要である。
【0023】その理由は、成膜室或いはドライエッチン
グ用等のプロセス用の材料ガスが反応室に入る前に分解
すると、目的の成膜やエッチングができなくなり、反応
空間にもプラズマを生成させることができなくなるから
である。例えば、反応空間内でSi膜を形成する際に導
入されるSiH4ガス等が途中で分解すると、反応活性
を失ったSiが微紛となって反応室内へ舞い込み、膜質
の低下や膜のパーティクル汚染等が生じることになる。
【0024】加えて、ガス導入配管において、上記のよ
うな高周波電力の吸収が発生すると、これにより、材料
ガスの電離、プラズマ化を引き起こしてしまう。
【0025】このような留意点について、上記の先行技
術、即ち、特開平6−77144号公報、特開平6−5
522号公報及び特開平7−273038号公報に記載
されたものでは、いずれも妥当な配慮がなされていなか
ったため、VHF帯或いはUHF帯の励起周波数により
生成したプラズマを反応空間に大面積にわたって利用で
き、ジャイアントマイクロエレクトロニクスと呼ばれる
ような電子産業分野や、半導体製造分野において、高ス
ループット化を図ることができる電子デバイス製造装置
の実現が切に要請されているのが現状である。
【0026】本発明はこのような現状に鑑みてなされた
ものであり、VHF帯或いはUHF帯の励起周波数によ
り生成したプラズマを反応空間に大面積にわたって利用
でき、半導体薄膜や絶縁膜の製造に用いられるプラズマ
CVD装置或いは半導体素子や液晶素子等を加工するた
めに用いられるプラズマエッチング装置として用いた場
合に、装置の高スループット化を図ることができる電子
デバイス製造装置を提供することを目的とする。
【0027】
【課題を解決するための手段】本発明の電子デバイス製
造装置は、カソード電極とアノード電極が対向配置され
た反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導入配管よ
り該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導体等を堆
積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導体素子等
を加工するためのエッチングガス等の反応ガスを該反応
室に導入し、該カソード電極に直列接続された高周波電
力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解するための
励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはUHF帯と
なるように、該カソード電極に高周波を印加する電子デ
バイス製造装置において、該ガス導入配管に、該ガス導
入配管のインピーダンスが該反応室のインピダーンスよ
りも大きくなるように該ガス導入配管のインピーダンス
を調整するためのインピーダンス調整手段が設けられて
おり、そのことにより上記目的が達成される。
【0028】好ましくは、前記インピーダンス調整手段
が、前記ガス導入配管の途中に設けられた長さ調整可能
になった絶縁管で構成され、該絶縁管の長さを調整する
ことにより調節可能なコンダクタンスCをインピーダン
ス調整用容量C1として用いる構成とする。
【0029】また、好ましくは、前記インピーダンス調
整用容量C1の大きさが、下記(1)式の条件を満たす
ように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)L−1/(2π ・f)C1| …(1) 但し、 π:円周率 f:励起高周波の周波数 LF:カソード電極と直流的に同電位にある部位と電気
的に直列接続された位置に存在する誘導成分の大きさ CF:カソード電極と直流的に同電位にある部位と接地
電位にある部位との間に存在する容量成分の大きさ L:ガス導入配管内の部位において、絶縁管と電気的に
直列接続された位置に存在する誘導成分の大きさ 設定する構成とする。
【0030】また、好ましくは、前記ガス導入配管が途
中に絶縁管を有するガス導入配管であり、該絶縁管に直
列的に連結された配管部に長さ調整可能になった部分が
形成され、該長さ調整可能になった配管部が、インピー
ダンス調整用インダクタンスL1として機能し、前記イ
ンピーダンス調整手段となる構成とする。
【0031】また、好ましくは、前記インピーダンス調
整用インダクタンスL1の大きさが、下記(2)式の条
件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)L1−1/(2 π ・f)C| …(2) 但し、 C:絶縁管と接地電位にある部位との間に存在する容量
成分の大きさ 設定する構成とする。
【0032】また、好ましくは、前記ガス導入配管が途
中に絶縁管を有するガス導入配管であり、該絶縁管に直
列的に連結された配管部に並列にインピーダンス調整用
インダクタンスL2を接続し、該インピーダンス調整用
インダクタンスL2が前記インピーダンス調整手段とな
る構成とする。
【0033】また、好ましくは、前記インピーダンス調
整用インダクタンスL2の大きさが、下記(3)式の条
件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)(l/(l/L +1/L2))−1/(2π・f)C| …(3) 設定する構成とする。
【0034】また、好ましくは、前記ガス導入配管が途
中に絶縁管を有するガス導入配管であり、前記インピー
ダンス調整手段が、該絶縁管の内表面に形成された凹凸
の溝である構成とする。
【0035】また、好ましくは、前記ガス導入配管が途
中に絶縁管を有するガス導入配管であり、該絶縁管に並
列にインピーダンス調整用インダクタンスL3を接続
し、該インピーダンス調整用インダクタンスL3が前記
インピーダンス調整手段となる構成とする。
【0036】また、好ましくは、前記インピーダンス調
整用インダクタンスL3の大きさが、下記(4)式の条
件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|1/{(2π・f)C−l( 2π・f)L3}| …(4) 設定する構成とする。
【0037】また、好ましくは、前記ガス導入配管が途
中に絶縁管を有しないガス導入配管であり、該ガス導入
配管の途中にインピーダンス調整用インダクタンスL4
として機能するコイル状配管部が形成され、該コイル状
配管部が前記インピーダンス調整手段となる構成とす
る。
【0038】また、好ましくは、前記インピーダンス調
整用インダクタンスL4の大きさが、下記(5)式の条
件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)(L+L4)| …(5) 但し、 L:ガス導入配管内おいて、カソード電極と直流的に同
電位にある部位と接地電位にある部位との間でインダク
タンスL4と直列接続された位置に存在するコイル状配
管部以外の誘導成分の大きさ 設定する構成とする。
【0039】以下に本発明の作用を説明する。
【0040】本発明では、上記のように、ガス導入配管
に設けたインピーダンス調整手段により、ガス導入配管
のインピーダンス(インピーダンスの大きさ|Z|)が
反応室のインピーダンスよりも大きくなるように設定す
る構成をとるので、励起周波数がRF帯よりも高い周波
数帯域であるVHF帯やUHF帯であっても、本来プラ
ズマを生成すべき空間、即ちカソード電極とアノード電
極間に高周波電力発生電源からの高周波電力を導入した
としても、その反応空間内でプラズマを生成させること
が可能である。
【0041】このため、本発明の電子デバイス製造装置
によれば、高品質、且つ大面積の膜を高効率で製造で
き、或いは、高品質な加工特性を大面積にわたって享受
できるエッチング装置を実現できる。
【0042】即ち、本発明によれば、半導体薄膜や絶縁
膜の製造に用いられるプラズマCVD装置或いは半導体
素子や液晶素子等を加工するために用いられるプラズマ
エッチング装置の分野において、高スループット化を図
ることができる電子デバイス製造装置を実現することが
できる。
【0043】このようなインピーダンス調整手段は、上
記した種々の手段によって具体的に達成することが可能
である。
【0044】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を図面
に基づき具体的に説明する。
【0045】(実施形態1)図1及び図2は本発明電子
デバイス製造装置の実施形態1を示す。本実施形態1
は、本発明をプラズマCVD装置に適用した例を示す。
【0046】このプラズマCVD装置は、側面視上下に
長い矩形状をなす反応室(チャンバー)5と、室外に配
設され、反応室5内に反応ガスを導入するガス導入配管
1と、ガス導入配管1に接続された高周波電力発生手段
3とで構成されている。以下に各部の構成を今少し具体
的に説明する。
【0047】反応室5内には、インターナル型の700
mm角のカソード電極2と750mm角のアノード電極
5とが水平方向に適当な間隔(ここでは、2.5cm)
を隔てて対向配置されている。カソード電極2は反応室
5の室壁に電気的に接続されており、その電位はグラン
ドレベルである。アノード電極4のカソード電極2との
対向面には、基板6が載置されている。また、反応室5
の図上右側壁(後壁)にはヒータ7が配設されている。
加えて、反応室5の前壁の上端部及び下端部には排気口
5a、5aが設けられている。
【0048】ガス導入配管1の終端部はカソード電極2
に接続され、始端側は図示しないガスBOXに接続され
ている。加えて、このガス導入配管1の途中には絶縁管
14が設けられている。この絶縁管14は、誘電率3.
0のテフロン製チューブからなる蛇腹管であり、図上左
右方向に相当する長さを調整できるようになっている。
なお、ガス導入配管1のその他の部分の材質はステンレ
スである。
【0049】また、カソード電極2の電極面には多数の
貫通孔(図示せず)が形成されており、これらの貫通孔
を通してガス導入配管1内を流通する反応ガス8がカソ
ード電極2とアノード電極4間の反応空間に導入される
ようになっている。
【0050】高周波電力発生手段3は高周波電源3aと
マッチング回路3bで構成されており、マッチング回路
3bはガス導入配管1に直列接続されている。本実施形
態1のプラズマCVD装置において、プラズマ生成のた
めの励起周波数fは、f=54.24MHzの高高周波
に設定されている。なお、マッチング回路3bは入力イ
ンピーダンスを調整するためのものである。
【0051】上記構成のプラズマCVD装置において、
反応室5内のインピーダンスの大きさ|Z1|は、|Z1
|=|(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|で表さ
れ、ガス導入配管1におけるインピーダンスの大きさ|
2|は、|Z2|=|(2π・f)L−1/(2π ・
f)C1|で表される。
【0052】但し、 π:円周率 f:励起高周波の周波数 LF:カソード電極と直流的に同電位にある部位と電気
的に直列接続された位置に存在する誘導成分の大きさ CF:カソード電極と直流的に同電位にある部位と接地
電位にある部位との間に存在する容量成分の大きさ L:ガス導入配管内の部位において、絶縁管と電気的に
直列接続された位置に存在する誘導成分の大きさ であり、図1中に表記してある。
【0053】さて、本実施形態1のプラズマCVD装置
においては、上記した従来技術の課題を解決するため
に、ガス導入配管1にインピーダンス調整手段を設け、
これにより、ガス導入配管1におけるインピーダンスの
大きさ|Z2|が反応室5内のインピーダンスの大きさ
|Z1|よりも大きくなるようにしている。即ち、|Z1
|<|Z2|となるようにしてある。よって、下記
(1)式の条件を満足するように、インピーダンス調整
手段である絶縁管14の長さを調整し、即ち、そのこと
により絶縁管14のコンダクタンスC1を変化させてイ
ンピーダンス調整容量C1としている。
【0054】 |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)L−1/(2π ・f)C1| …(1) 次に、具体的な数値例について説明する。プラズマ生成
のための励起周波数fは上記のように、f=54.24
MHzの高高周波であり、作業者が絶縁管14の長さを
調整することにより、コンダクタンスC=C1の大きさ
を従来の30pF(図14参照)から10pFに変化さ
せた。ここで、コンダクタンスC1の変化と等価的なガ
ス導入配管1におけるインダクタンス成分Lを0.2μ
Hとすると、上記(1)式において、図2中に示す
F、LF、C1の値を代入すると、反応室5内のインピ
ーダンスの大きさ|Z1|=|(2π・f)LF−1/
(2π・f)CF|=40Ωとなり、ガス導入配管1に
おけるインピーダンスの大きさ|Z2|=|(2π・
f)L−1/(2π ・f)C1|=250Ωとなり、
図2に示すように、RF帯以上の高高周波80MHz程
度の領域まで反応室5内でプラズマを生成できることを
確認できた。
【0055】このように、本実施形態1のプラズマCV
D装置によれば、ガス導入配管1におけるインピーダン
スの大きさが反応室5内のインピーダンスの大きさより
も大きくなるように容易に調整できるので、VHF帯或
いはUHF帯の励起周波数により生成したプラズマを反
応空間に大面積にわたって利用でき、高スルプット化が
図れる電子デバイス製造装置を実現できる。
【0056】(実施形態2)図3〜図5は本発明電子デ
バイス製造装置の実施形態2を示す。本実施形態2も本
発明をプラズマCVD装置に適用した例を示している
が、本実施形態2のプラズマCVD装置は、ガス導入配
管1の途中に長さが可変になったコイル状配管部11を
設けた点が実施形態1のプラズマCVD装置とは異なっ
ている。
【0057】なお、その他の構成については、実施形態
1と同様であるので、対応する部分に同一の符号を付し
て具体的な説明は省略し、以下に異なる部分についての
み説明する。
【0058】図3において、このガス導入配管1の途中
にも、図13に示す従来例同様の長さ固定式の絶縁管1
0が設けられており、そのコンダクタンスC1は30p
Fである。そして、本実施形態2では、螺旋状をなし、
その長さが可変になったコイル状配管部11をガス導入
配管1の絶縁管10と直列に連結した構造になってい
る。
【0059】ここで、図13に示す従来装置では、反応
室5並びにガス導入配管1のインピーダンスの大きさ|
Z|の周波数依存性を示している図14からわかるよう
に、従来のRF帯(10MHz近辺)領域での反応室5
内のインピーダンスの大きさは、ガス導入配管1でのイ
ンピーダンスに比べて、非常に小さな値を持つ。このた
め、高周波電源3aよりVHF帯領域での高周波を導入
させた場合には、ガス導入配管1に高周波電力発生手段
3からの電力が供給されてしまい、反応室5内でプラズ
マを発生させることができない。
【0060】これに対して、本実施形態2のプラズマC
VD装置では、ガス導入配管1におけるインピーダンス
調整手段として、上記のコイル状配管部11を設け、そ
の長さを調整することにより、インダクタンスL1の大
きさを調整し、これにより、ガス導入配管1におけるイ
ンピーダンスの大きさが反応室5内のインピーダンスよ
りも大きくなる構成を採用している。
【0061】より具体的には、反応室5内のインピーダ
ンスの大きさ|Z1|は、実施形態1同様に|Z1|=|
(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|で表され、ガ
ス導入配管1におけるインピーダンスの大きさ|Z2
は、|Z2|=|(2π・f)L1−1/(2π・f)C
|で表されるので、本実施形態2では、下記(2)式の
条件を満足するように、インダクタンスL1の大きさを
調整している。
【0062】但し、 C:絶縁管と接地電位にある部位との間に存在する容量
成分の大きさであり、図3中に表記してある。
【0063】次に、具体的な数値例について説明する。
本実施形態2では、可変することのできるインダクタン
スの大きさL1を0.02μH(図4参照)或いは0.
005μH(図5参照)とすることにより、ガス導入配
管1におけるインピーダンスが反応室5内のインピーダ
ンスよりも大きくなるように設定している。
【0064】即ち、上記(2)式において、f=54.
24MHzを代入し、且つ図4或いは図5中に示す
F、LF等を代入すると、反応室5内のインピーダンス
が40Ω程度となるのに対し、インダクタンスL1
0.02μHの場合のガス導入配管1のインピーダンス
は100Ωとなり、インダクタンスL1=0.005μ
Hの場合のガス導入配管1のインピーダンスは105Ω
となる。
【0065】よって、いずれの場合もガス導入配管1に
おけるインピーダンスが反応室5内のインピーダンスの
大きさよりも大きくなっており、本実施形態2において
も、上記実施形態1同様の効果を奏することがわかる。
【0066】(実施形態3)図6及び図7は本発明の実
施形態3を示す。本実施形態3も本発明をプラズマCV
D装置に適用した例を示しているが、本実施形態3で
は、図6に示すように、並列コイル12へのスイッチ等
13をON/OFFすることによって、ガス導入配管1
でのインダクタンスL2を変化させることにより、ガス
導入配管1におけるインピーダンスを調整する構成を採
用している。即ち、実施形態2とは、インダクタンス調
整手段の構成が異なっている。
【0067】より具体的には、本実施形態3において
は、反応室5内のインピーダンスの大きさ|Z1|は、
実施形態1同様に|Z1|=|(2π・f)LF−1/
(2π・f)CF|で表され、ガス導入配管1における
インピーダンスの大きさ|Z2|は、|Z2|=|(2π
・f)(l/(l/L +1/L2))−1/(2π・
f)C|で表されるので、本実施形態3では、下記
(3)式の条件を満足するように、インダクタンスL2
の大きさを調整している。
【0068】 |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)(l/(l/L +1/L2))−1/(2π・f)C| …(3) 次に、具体的な数値例について説明する。本実施形態3
でも、インダクタンスL2を0.02μHまで変化させ
ており、式(3)中にf=81.36MHz、図7中に
示すCF、LF等を代入すると、反応室5内のインピーダ
ンスは70Ωとなるのに対し、ガス導入配管1のインピ
ーダンスは190Ωとなり、上記実施形態1及び実施形
態2同様の効果を奏することができる。
【0069】(実施形態4)図8及び図9は本発明電子
デバイス製造装置の実施形態4を示す。本実施形態4も
本発明をプラズマCVD装置に適用した例を示している
が、本実施形態4のプラズマCVD装置は、図8に示す
ように、ガス導入配管1の途中に絶縁管10を備え、且
つこの絶縁管10と並列接続となる位置にインダクタン
ス成分となるコイル19を接続し、このコイル19をガ
ス導入配管1におけるインピーダンス調整手段として用
いる構成をとる。
【0070】なお、その他の構成については、上記各実
施形態と同様であるので、対応する部分に同一の符号を
付し、具体的な説明については省略する。
【0071】ここで、コイル19のインダクタンスL3
の大きさは0.13μHである。また、絶縁管10のコ
ンダクタンスの大きさCは上記同様に30pFである。
加えて、ガス導入配管1における等価なインダクタンス
成分LFは0.2μHである。
【0072】本実施形態4でも、ガス導入配管1におけ
るインピーダンスの大きさが反応室5内のインピーダン
スよりも大きくなる構成を採用している。
【0073】より具体的には、反応室5内のインピーダ
ンスの大きさ|Z1|は、上記同様に|Z1|=|(2π
・f)LF−1/(2π・f)CF|で表され、ガス導入
配管1におけるインピーダンスの大きさ|Z2|は、|
2|=|1/{(2π・f)C−l(2π・f)L3
|で表されるので、本実施形態4では、下記(4)式の
条件を満足するように、インピーダンス調整用インダク
タンスL3の大きさを調整している。
【0074】 |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|1/{(2π・f)C−l( 2π・f)L3}| …(4) 次に、具体的な数値例について説明する。上記(4)式
中にf=81.36MHz、図9中に示すCF、LF等を
代入すると、図9に示すように、、ガス導入配管1にお
けるインピーダンスの値が4kΩ辺りとなるのに対し、
反応室5内のインピーダンスは70Ω程度の小さい値に
なる。
【0075】よって、本実施形態4によっても、上記各
実施形態同様の効果を奏することができる。
【0076】(実施形態5)図10及び図11は本発明
電子デバイス製造装置の実施形態5を示す。本実施形態
5も本発明をプラズマCVD装置に適用した例を示して
いるが、本実施形態5では、上記の各実施形態とは異な
り、ガス導入配管1の途中に絶縁管10(又は絶縁管1
4)を備えておらず、ガス導入配管1の途中にコイル状
配管11’からなるインピーダンス調整手段を備えた構
成を採用している。
【0077】なお、その他の構成については、上記各実
施形態と同様であるので、対応する部分に同一の符号を
付し、具体的な説明については省略する。
【0078】ここで、コイル状配管11’はインダクタ
ンス成分の大きさL4が1.0μHのステンレス製の1
/4インチのコイル状配管(コイル部分180mm)で
あり、コイル部分以外のガス導入配管部1のインダクタ
ンス成分の大きさLが0.2μHからなる構造になって
いる。
【0079】本実施形態5でも、ガス導入配管1におけ
るインピーダンスの大きさが反応室5内のインピーダン
スよりも大きくなる構成を採用している。
【0080】より具体的には、反応室5内のインピーダ
ンスの大きさ|Z1|は、上記同様に|Z1|=|(2π
・f)LF−1/(2π・f)CF|で表され、コイル状
配管11’を有するガス導入配管1のインピーダンスの
大きさ|Z2|は、|Z2|=|(2π・f)(L+
4)|で表されるので、本実施形態5では、下記
(5)式の条件を満足するように、インピーダンス調整
用インダクタンスL4の大きさを調整している。
【0081】 |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)(L+L4)| …(5) 次に、具体的な数値例について説明する。図11は励起
周波数81.36MHzでの、反応室5及びガス導入配
管1でのインピーダンスの値を示している。同図に示す
ように、ガス導入配管1でのインピーダンスの値が数百
Ωであるのに対し、反応室5内のインピーダンスの値は
80Ω程度と小さくなっている。
【0082】よって、本実施形態5によっても、上記各
実施形態同様の効果を奏することができる。
【0083】(実施形態6)図12は本発明電子デバイ
ス製造装置の実施形態6を示す。本実施形態6も本発明
をプラズマCVD装置に適用した例を示しているが、本
実施形態6では、ガス導入配管1におけるインピーダン
ス調整手段として、内表面に凹凸溝を有する絶縁管9を
用い、これにより、絶縁管9における局所的な静電容量
を大きくする構成を採用している。この結果、この部分
での共振周波数が小さくなるので、高周波電力発生手段
3より供給される電力が少なくなる。よって、その分、
反応室5の反応空間でのプラズマ生成のための電力を増
加できるので、反応室5においてプラズマを確実に生成
できる。
【0084】ここで、本実施形態6において、絶縁管9
としては、以下の仕様のものを用いた。
【0085】外形の長さ15cm、直径5cmの円筒型
の絶縁管9において、その内表面に、比誘電率3.0の
テフロンからなる誘電体又は比誘電率8.5のアルミナ
からなる誘電体等を深さ5mmから10mm、ピッチ1
2mm程度で形成することにより、内表面に凹凸を有す
る絶縁管9を構成した。
【0086】なお、上記各実施形態と対応する部分には
同一の符号を付し、具体的な説明については省略する。
【0087】(その他の実施形態)インピーダンス調整
手段としては、上記のもの以外に、ガス導入配管内を流
通する反応ガスの圧力を調整する圧力調整手段や流量調
整手段を用いることも可能である。
【0088】また、上記の各実施形態では、本発明をプ
ラズマCVD装置に適用する場合について説明したが、
本発明は、反応ガスとしてCF4やNF3等のエッチング
ガスを用いるエッチング装置についても同様に適用でき
ることは勿論である。
【0089】
【発明の効果】以上の本発明電子デバイス製造装置は、
ガス導入配管に設けたインピーダンス調整手段により、
ガス導入配管のインピーダンスが反応室のインピダーン
スよりも大きくなるように設定する構成をとるので、励
起周波数がRF帯よりも高い周波数帯域であるVHF帯
やUHF帯であっても、本来プラズマを生成すべき空
間、即ちカソード電極とアノード電極間に高周波電力発
生電源からの高周波電力を導入したとしても、その反応
空間内でプラズマを生成させることが可能である。
【0090】このため、本発明の電子デバイス製造装置
によれば、高品質、且つ大面積の膜を高効率で製造で
き、或いは、高品質な加工特性を大面積にわたって享受
できるエッチング装置を実現できる。
【0091】即ち、本発明によれば、半導体薄膜や絶縁
膜の製造に用いられるプラズマCVD装置或いは半導体
素子や液晶素子等を加工するために用いられるプラズマ
エッチング装置の分野において、高スループット化を図
ることができる電子デバイス製造装置を実現することが
できる。
【0092】このようなインピーダンス調整手段は、請
求項2〜請求項12記載の構成によって、具体的に達成
することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1を示す、プラズマCVD装
置の構成図。
【図2】本発明の実施形態1を示す、プラズマCVD装
置における反応室及びガス導入配管のインピーダンスの
大きさ|Z|の周波数依存性を示すグラフ。
【図3】本発明の実施形態2を示す、プラズマCVD装
置の構成図。
【図4】本発明の実施形態2を示す、プラズマCVD装
置における反応室及びガス導入配管のインピーダンスの
大きさ|Z|の周波数依存性を示すグラフ。
【図5】本発明の実施形態2を示す、プラズマCVD装
置における反応室及びガス導入配管のインピーダンスの
大きさ|Z|の周波数依存性を示すグラフ。
【図6】本発明の実施形態3を示す、プラズマCVD装
置の構成図。
【図7】本発明の実施形態3を示す、プラズマCVD装
置における反応室及びガス導入配管のインピーダンスの
大きさ|Z|の周波数依存性を示すグラフ。
【図8】本発明の実施形態4を示す、プラズマCVD装
置の構成図。
【図9】本発明の実施形態4を示す、プラズマCVD装
置における反応室及びガス導入配管のインピーダンスの
大きさ|Z|の周波数依存性を示すグラフ。
【図10】本発明の実施形態5を示す、プラズマCVD
装置の構成図。
【図11】本発明の実施形態5を示す、プラズマCVD
装置における反応室及びガス導入配管のインピーダンス
の大きさ|Z|の周波数依存性を示すグラフ。
【図12】本発明の実施形態6を示す、プラズマCVD
装置の構成図。
【図13】プラズマCVD装置の従来例を示す構成図。
【図14】従来一般のプラズマCVD装置における反応
室及びガス導入配管のインピーダンスの大きさ|Z|の
周波数依存性を示すグラフ。
【符号の説明】 1 ガス導入配管 2 カソード電極 3 高周波電力発生手段 3a 高周波電源 3b マッチング回路 4 アノード電極 5 反応室 6 基板 7 ヒーター 8 反応ガス 9 絶縁管 10 絶縁管 11 コイル状配管部 12 コイル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H05H 1/46 H01L 21/302 101B (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/205 C23C 16/50 C23F 4/00 H01L 21/3065 H01L 21/31 H05H 1/46

Claims (11)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 カソード電極とアノード電極とが対向配
    置された反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導入
    配管より該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導体
    等を堆積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導体
    素子等を加工するためのエッチングガス等の反応ガスを
    該反応室に導入し、該カソード電極に直列接続された高
    周波電力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解する
    ための励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはUH
    F帯となるように、該カソード電極に高周波を印加する
    電子デバイス製造装置において、 該ガス導入配管に、該ガス導入配管のインピーダンスが
    該反応室のインピダーンスよりも大きくなるように該ガ
    ス導入配管のインピーダンスを調整するためのインピー
    ダンス調整手段が設けられ 前記インピーダンス調整手段が、前記ガス導入配管の途
    中に設けられた長さ調整可能になった絶縁管で構成さ
    れ、該絶縁管の長さを調整することにより調節可能なコ
    ンダクタンスCをインピーダンス調整用容量C 1 とす
    る、 電子デバイス製造装置。
  2. 【請求項2】 前記インピーダンス調整用容量C1の大
    きさが、下記(1)式の条件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π
    ・f)L−1/(2π・f)C1| …(1) 但し、 π:円周率 f:励起高周波の周波数 LF:カソード電極と直流的に同電位にある部位と電気
    的に直列接続された位置に存在する誘導成分の大きさ CF:カソード電極と直流的に同電位にある部位と接地
    電位にある部位との間に存在する容量成分の大きさ L:ガス導入配管内の部位において、絶縁管と電気的に
    直列接続された位置に存在する誘導成分の大きさ 設定した請求項記載の電子デバイス製造装置。
  3. 【請求項3】 カソード電極とアノード電極とが対向配
    置された反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導入
    配管より該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導体
    等を堆積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導体
    素子等を加工するためのエッチングガス等の反応ガスを
    該反応室に導入し、該カソード電極に直列接続された高
    周波電力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解する
    ための励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはUH
    F帯となるように、該カソード電極に高周波を印加する
    電子デバイス製造装置において、 該ガス導入配管に、該ガス導入配管のインピーダンスが
    該反応室のインピダーンスよりも大きくなるように該ガ
    ス導入配管のインピーダンスを調整するためのインピー
    ダンス調整手段が設けられ、 前記ガス導入配管が途中に絶縁管を有するガス導入配管
    であり、該絶縁管に直列的に連結された配管部に長さ調
    整可能になった部分が形成され、該長さ調整可能になっ
    た配管部が、インピーダンス調整用インダクタンスL1
    として機能し、前記インピーダンス調整手段を構成す
    電子デバイス製造装置。
  4. 【請求項4】 前記インピーダンス調整用インダクタン
    スL1の大きさが、下記(2)式の条件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π
    ・f)L1−1/(2π ・f)C| …(2) 但し、 C:絶縁管と接地電位にある部位との間に存在する容量
    成分の大きさ 設定した請求項記載の電子デバイス製造装置。
  5. 【請求項5】 カソード電極とアノード電極とが対向配
    置された反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導入
    配管より該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導体
    等を堆積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導体
    素子等を加工するためのエッチングガス等の反応ガスを
    該反応室に導入し、該カソード電極に直列接続された高
    周波電力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解する
    ための励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはUH
    F帯となるように、該カソード電極に高周波を印加する
    電子デバイス製造装置において、 該ガス導入配管に、該ガス導入配管のインピーダンスが
    該反応室のインピダー ンスよりも大きくなるように該ガ
    ス導入配管のインピーダンスを調整するためのインピー
    ダンス調整手段が設けられ、 前記ガス導入配管が途中に絶縁管を有するガス導入配管
    であり、該絶縁管に直列的に連結された配管部に並列に
    インピーダンス調整用インダクタンスL2を接続し、該
    インピーダンス調整用インダクタンスL2が前記インピ
    ーダンス調整手段を構成する電子デバイス製造装置。
  6. 【請求項6】 前記インピーダンス調整用インダクタン
    スL2の大きさが、下記(3)式の条件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π
    ・f)(l/(l/L+1/L2))−1/(2π・
    f)C| …(3) 設定した請求項記載の電子デバイス製造装置。
  7. 【請求項7】 カソード電極とアノード電極とが対向配
    置された反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導入
    配管より該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導体
    等を堆積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導体
    素子等を加工するためのエッチングガス等の反応ガスを
    該反応室に導入し、該カソード電極に直列接続された高
    周波電力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解する
    ための励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはUH
    F帯となるように、該カソード電極に高周波を印加する
    電子デバイス製造装置において、 該ガス導入配管に、該ガス導入配管のインピーダンスが
    該反応室のインピダーンスよりも大きくなるように該ガ
    ス導入配管のインピーダンスを調整するためのインピー
    ダンス調整手段が設けられ、 前記ガス導入配管が途中に絶縁管を有するガス導入配管
    であり、前記インピーダンス調整手段が、該絶縁管の内
    表面に形成された凹凸の溝で構成されている電子デバ
    イス製造装置。
  8. 【請求項8】 カソード電極とアノード電極とが対向配
    置された反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導入
    配管より該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導体
    等を堆積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導体
    素子等を加工するためのエッチングガス等の反応ガスを
    該反応室に導入し、該カソード電極に直列接続された高
    周波電力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解する
    ための 励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはUH
    F帯となるように、該カソード電極に高周波を印加する
    電子デバイス製造装置において、 該ガス導入配管に、該ガス導入配管のインピーダンスが
    該反応室のインピダーンスよりも大きくなるように該ガ
    ス導入配管のインピーダンスを調整するためのインピー
    ダンス調整手段が設けられ、 前記ガス導入配管が途中に絶縁管を有するガス導入配管
    であり、該絶縁管に並列にインピーダンス調整用インダ
    クタンスL3を接続し、該インピーダンス調整用インダ
    クタンスL3が前記インピーダンス調整手段を構成す
    電子デバイス製造装置。
  9. 【請求項9】 前記インピーダンス調整用インダクタン
    スL3の大きさが、下記(4)式の条件を満たすように |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|1/
    {(2π・f)C−l(2π・f)L3}| …(4) 設定した請求項記載の電子デバイス製造装置。
  10. 【請求項10】 カソード電極とアノード電極とが対向
    配置された反応室にガス導入配管が接続され、該ガス導
    入配管より該カソード電極の電極面を通して、薄膜半導
    体等を堆積させるための原料ガスや希釈ガス或いは半導
    体素子等を加工するためのエッチングガス等の反応ガス
    を該反応室に導入し、該カソード電極に直列接続された
    高周波電力発生手段より、該反応ガスをプラズマ分解す
    るための励起周波数がRF帯より高いVHF帯或いはU
    HF帯となるように、該カソード電極に高周波を印加す
    る電子デバイス製造装置において、 該ガス導入配管に、該ガス導入配管のインピーダンスが
    該反応室のインピダーンスよりも大きくなるように該ガ
    ス導入配管のインピーダンスを調整するためのインピー
    ダンス調整手段が設けられ、 前記ガス導入配管が途中に絶縁管を有しないガス導入配
    管であり、該ガス導入配管の途中にインピーダンス調整
    用インダクタンスL4として機能するコイル状配管部が
    形成され、該コイル状配管部が前記インピーダンス調整
    手段を構成する電子デバイス製造装置。
  11. 【請求項11】 前記インピーダンス調整用インダクタ
    ンスL4の大きさが、下記(5)式の条件を満たすよう
    に |(2π・f)LF−1/(2π・f)CF|<|(2π・f)(L+L4)| …(5) 但し、 L:ガス導入配管内おいて、カソード電極と直流的に同
    電位にある部位と接地電位にある部位との間でインダク
    タンスL4と直列接続された位置に存在するコイル状配
    管部以外の誘導成分の大きさ 設定した請求項10記載の電子デバイス製造装置。
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