JP3352507B2 - 形状測定装置 - Google Patents
形状測定装置Info
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- JP3352507B2 JP3352507B2 JP23773393A JP23773393A JP3352507B2 JP 3352507 B2 JP3352507 B2 JP 3352507B2 JP 23773393 A JP23773393 A JP 23773393A JP 23773393 A JP23773393 A JP 23773393A JP 3352507 B2 JP3352507 B2 JP 3352507B2
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- Japan
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、非球面を含む被検面の
形状を測定する走査型の三次元形状測定装置に関し、特
に、被検面が測定機の通常の測定限度を越える場合で
も、被検面全体の形状を測定することができる測定装置
に関する。
形状を測定する走査型の三次元形状測定装置に関し、特
に、被検面が測定機の通常の測定限度を越える場合で
も、被検面全体の形状を測定することができる測定装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の三次元形状測定装置にあっては、
測定評価できる被検面の大きさは、測定装置の仕様によ
り、図５(a) に示す測定可能角度θ、又は、図５(b) に
示す測定可能レンジＬで制限されていた。そのため、こ
の仕様に当てはまらないような大口径又は大傾斜角（口
径に対して曲率が大きい）の被検面形状は、測定評価で
きなかった。すなわち、傾斜角が大きすぎる場合を例に
とって説明すると、測定点の傾斜は、図６に示すように
横軸に光軸からの距離をとり縦軸に測定点の傾斜角度を
とると、図示のような傾斜角の分布をしており、測定機
の仕様である測定可能傾斜角度θより、被検面の両端に
おける傾斜角Θの方が大きくなって、測定不能となって
いた。
測定評価できる被検面の大きさは、測定装置の仕様によ
り、図５(a) に示す測定可能角度θ、又は、図５(b) に
示す測定可能レンジＬで制限されていた。そのため、こ
の仕様に当てはまらないような大口径又は大傾斜角（口
径に対して曲率が大きい）の被検面形状は、測定評価で
きなかった。すなわち、傾斜角が大きすぎる場合を例に
とって説明すると、測定点の傾斜は、図６に示すように
横軸に光軸からの距離をとり縦軸に測定点の傾斜角度を
とると、図示のような傾斜角の分布をしており、測定機
の仕様である測定可能傾斜角度θより、被検面の両端に
おける傾斜角Θの方が大きくなって、測定不能となって
いた。
【０００３】この問題を解決するものとして、特開昭６
３−２４３７０８号が提案されている。これは、直交座
標によって測定を行う装置に、極座標測定を行う装置を
付加し、直交座標によるデータと極座標によるデータを
重ねることによって大口径や大きな傾きを持つ被検面の
面形状を測定するものである。
３−２４３７０８号が提案されている。これは、直交座
標によって測定を行う装置に、極座標測定を行う装置を
付加し、直交座標によるデータと極座標によるデータを
重ねることによって大口径や大きな傾きを持つ被検面の
面形状を測定するものである。
【０００４】しかし、この装置は、極座標測定を行う測
定機の開発が必要であり、測定機が高価になりすぎ、か
つデータの重ね合わせが複雑になってしまう。
定機の開発が必要であり、測定機が高価になりすぎ、か
つデータの重ね合わせが複雑になってしまう。
【０００５】本発明は、上記の事実に鑑みてなされたも
ので、測定装置の仕様を越える大口径や大傾斜角を有す
る被検面の測定が可能で、しかも、構成が簡単で安価に
でき、操作も容易な測定装置を提供することを目的とし
ている。
ので、測定装置の仕様を越える大口径や大傾斜角を有す
る被検面の測定が可能で、しかも、構成が簡単で安価に
でき、操作も容易な測定装置を提供することを目的とし
ている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の装置は、被検面の位置を変える移動装置を
設けた走査型の形状測定装置において、前記移動装置
は、被検物保持面と被検面の中心近傍における曲率中心
と同心の摺動面とを有する揺動台と、前記摺動面に対し
て摺動自在に密着する凹面を有する基台とを備えている
ことを特徴としている。
めに本発明の装置は、被検面の位置を変える移動装置を
設けた走査型の形状測定装置において、前記移動装置
は、被検物保持面と被検面の中心近傍における曲率中心
と同心の摺動面とを有する揺動台と、前記摺動面に対し
て摺動自在に密着する凹面を有する基台とを備えている
ことを特徴としている。
【０００７】
【０００８】
【０００９】
【００１０】
【作用】被検面を、被検面の中心近傍の曲率中心を中心
として回動し、被検面全体を幾つかに分けて測定し、そ
の複数のデータをつなぎ合わせて被検面全体の形状デー
タを得ることができる。データのつなぎ合わせは、隣接
する測定部分の重なり合う部分の形状データの一致を利
用したり、データの重なり合う部分の粗さ成分の一致を
利用したりすることによってできる。また、一の測定部
分から次の測定部分に移行する際の、移動量及び被検面
の傾き角を測定し、これらの値により各測定部分のつな
ぎ合わせをすることもできる。従来の測定装置に、被検
物を移動又は回転する装置を付加すればよく、極座標測
定をする必要がないので、操作も簡単である。
として回動し、被検面全体を幾つかに分けて測定し、そ
の複数のデータをつなぎ合わせて被検面全体の形状デー
タを得ることができる。データのつなぎ合わせは、隣接
する測定部分の重なり合う部分の形状データの一致を利
用したり、データの重なり合う部分の粗さ成分の一致を
利用したりすることによってできる。また、一の測定部
分から次の測定部分に移行する際の、移動量及び被検面
の傾き角を測定し、これらの値により各測定部分のつな
ぎ合わせをすることもできる。従来の測定装置に、被検
物を移動又は回転する装置を付加すればよく、極座標測
定をする必要がないので、操作も簡単である。
【００１１】
【実施例】本発明の実施例を図面を用いて説明する。図
１は、本発明の要部を示す図で、図示をしない走査型の
三次元形状測定装置の被検物保持部に設けられた移動装
置、すなわち回動装置Ａの図である。同図において、１
は被検物で、大傾斜角を有する非球面レンズで、同じ方
向に突出する被検面１ａと裏面１ａとを有するメニスカ
ス型である。２はレンズホルダで、外形は円筒形で、図
の上端から大径部２ａが穿設され、その奥に小径部２ｂ
が穿設され、両者の中間には段部２ｃが形成されてい
る。大径部２ａの径は、被検物１の外形が挿入できる大
きさで、段部２ｃが被検物の裏面１ｂに当接している。
なお、被検物１の両面１ａ，１ｂの曲率中心は、共にレ
ンズの光軸ａ上にある。
１は、本発明の要部を示す図で、図示をしない走査型の
三次元形状測定装置の被検物保持部に設けられた移動装
置、すなわち回動装置Ａの図である。同図において、１
は被検物で、大傾斜角を有する非球面レンズで、同じ方
向に突出する被検面１ａと裏面１ａとを有するメニスカ
ス型である。２はレンズホルダで、外形は円筒形で、図
の上端から大径部２ａが穿設され、その奥に小径部２ｂ
が穿設され、両者の中間には段部２ｃが形成されてい
る。大径部２ａの径は、被検物１の外形が挿入できる大
きさで、段部２ｃが被検物の裏面１ｂに当接している。
なお、被検物１の両面１ａ，１ｂの曲率中心は、共にレ
ンズの光軸ａ上にある。
【００１２】３は、揺動台で、図の上方の平面３ａ上に
レンズホルダ２を保持し、図の下方の球状乃至シリンド
リカル面状の摺動面３ｂは、基台４に形成された同じ曲
率半径の凹面４ａと相互に摺動自在に密着している。そ
して、揺動台３の摺動面３ｂの曲率中心と、被検物１の
被検面１ａの光軸付近の曲率中心とが点Ｏで一致するよ
うに製造され、位置決めされる。以上の構成により、図
示しないモータ等の動力源によって、被検物１は、たと
えば、実線位置から仮想線位置までのように点Ｏを中心
に回動可能となる。
レンズホルダ２を保持し、図の下方の球状乃至シリンド
リカル面状の摺動面３ｂは、基台４に形成された同じ曲
率半径の凹面４ａと相互に摺動自在に密着している。そ
して、揺動台３の摺動面３ｂの曲率中心と、被検物１の
被検面１ａの光軸付近の曲率中心とが点Ｏで一致するよ
うに製造され、位置決めされる。以上の構成により、図
示しないモータ等の動力源によって、被検物１は、たと
えば、実線位置から仮想線位置までのように点Ｏを中心
に回動可能となる。
【００１３】次に、本発明の形状測定装置を用いた面形
状の測定方法について図を用いて説明する。図１におい
て、揺動台３を時計方向に回動して被検物１を実線の位
置に置く。この位置は、図２(a) に示すように、被検物
１を角αだけ時計方向に回動した状態である。この状態
の被検面１ａを形状測定機で測定すると、被検面１ａの
図の右端から中央を少し越えた太線部分１ａ′の形状を
測定することができる。
状の測定方法について図を用いて説明する。図１におい
て、揺動台３を時計方向に回動して被検物１を実線の位
置に置く。この位置は、図２(a) に示すように、被検物
１を角αだけ時計方向に回動した状態である。この状態
の被検面１ａを形状測定機で測定すると、被検面１ａの
図の右端から中央を少し越えた太線部分１ａ′の形状を
測定することができる。
【００１４】図２(a) における太線部分の測定が終了し
たら、次に、図１において揺動台３を反時計方向に回動
して被検物１を仮想線の位置に配置する。この位置は、
図２(b) に示すように、被検物１を中央の位置から角α
だけ反時計方向に回動した状態である。この状態で、被
検面１ａの左端から中央を少し越えた太線部分１ａ″の
形状を測定することができる。
たら、次に、図１において揺動台３を反時計方向に回動
して被検物１を仮想線の位置に配置する。この位置は、
図２(b) に示すように、被検物１を中央の位置から角α
だけ反時計方向に回動した状態である。この状態で、被
検面１ａの左端から中央を少し越えた太線部分１ａ″の
形状を測定することができる。
【００１５】１ａ′と１ａ″の測定が終わったら、これ
らを重ね合わせることにより、(c)に示すように被検面
１ａの全体の面形状を測定することができる。なお、以
上の測定において、測定部分１ａ′，１ａ″における最
大傾斜角度を、測定装置の測定限度を示すθより小さい
角度にすることは勿論である。
らを重ね合わせることにより、(c)に示すように被検面
１ａの全体の面形状を測定することができる。なお、以
上の測定において、測定部分１ａ′，１ａ″における最
大傾斜角度を、測定装置の測定限度を示すθより小さい
角度にすることは勿論である。
【００１６】ところで、測定部分１ａ′，１ａ″のデー
タのつなぎ方であるが、これらは、お互いに重なり合う
部分があるので、その重なり部分に特殊な形状が現れる
のを利用して行う。図３は、非球面を測定する場合の形
状の変化を利用したものである。
タのつなぎ方であるが、これらは、お互いに重なり合う
部分があるので、その重なり部分に特殊な形状が現れる
のを利用して行う。図３は、非球面を測定する場合の形
状の変化を利用したものである。
【００１７】図４は、測定部分１ａ′，１ａ″のデータ
にある高周波うねり成分、あるいは粗さ成分を一致させ
てつなぎ合わせた例である。
にある高周波うねり成分、あるいは粗さ成分を一致させ
てつなぎ合わせた例である。
【００１８】図１に戻り、実線の位置から点線の位置ま
での被検面の傾き角（回動した角度）ｔと、被検面１ａ
の中心の移動量ｓとを求め、この情報をつなぎ合わせ処
理に用いれば、その値を補正値として１ａ′，１ａ″の
一方のデータを補正し、他方のデータとつなぎ合わせる
ことができる。
での被検面の傾き角（回動した角度）ｔと、被検面１ａ
の中心の移動量ｓとを求め、この情報をつなぎ合わせ処
理に用いれば、その値を補正値として１ａ′，１ａ″の
一方のデータを補正し、他方のデータとつなぎ合わせる
ことができる。
【００１９】
【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
従来、測定できなかった大口径や大傾斜角を持つ被検面
の測定が可能になり、特に、非球面の測定にも適用でき
ることから、各種光学素子の設計の自由度が増し、光学
機器の性能を向上させることができる。また、極座標測
定を行う装置を付加する必要もないので、安価にでき、
測定も容易である。
従来、測定できなかった大口径や大傾斜角を持つ被検面
の測定が可能になり、特に、非球面の測定にも適用でき
ることから、各種光学素子の設計の自由度が増し、光学
機器の性能を向上させることができる。また、極座標測
定を行う装置を付加する必要もないので、安価にでき、
測定も容易である。
【図１】本発明の要部である回動装置の構成を示す図で
ある。
ある。
【図２】(a) から(c) は、本発明の形状測定装置を用い
た測定方法を説明する図である。
た測定方法を説明する図である。
【図３】被検面の形状の特性からデータをつなぎ合わせ
る様子を示す図である。
る様子を示す図である。
【図４】被検面の高周波うねり成分、あるいは粗さ成分
を一致させてデータをつなぎ合わせる様子を示す図であ
る。
を一致させてデータをつなぎ合わせる様子を示す図であ
る。
【図５】従来の形状測定装置において、測定可能レンジ
に限界があることを示す図で、(a) は大傾斜角形状の
例、(b) は大口径形状の例である。
に限界があることを示す図で、(a) は大傾斜角形状の
例、(b) は大口径形状の例である。
【図６】被検面において、光軸から離れるにつれて測定
面の傾斜角が変化する状態を説明する図である。
面の傾斜角が変化する状態を説明する図である。
１ 被検体 １ａ 被検面 １ａ′，１ａ″ 測定部分 Ａ 移動装置，回動装置 Ｏ 被検面の中心近傍における曲率中心
Claims (1)
- 【請求項１】 被検面の位置を変える移動装置を設けた
走査型の形状測定装置において、前記移動装置は、被検
物保持面と被検面の中心近傍における曲率中心と同心の
摺動面とを有する揺動台と、前記摺動面に対して摺動自
在に密着する凹面を有する基台とを備えていることを特
徴とする形状測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23773393A JP3352507B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 形状測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23773393A JP3352507B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 形状測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0791933A JPH0791933A (ja) | 1995-04-07 |
| JP3352507B2 true JP3352507B2 (ja) | 2002-12-03 |
Family
ID=17019677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23773393A Expired - Fee Related JP3352507B2 (ja) | 1993-09-24 | 1993-09-24 | 形状測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3352507B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2422015B (en) | 2005-02-01 | 2007-02-28 | Taylor Hobson Ltd | A metrological instrument |
| JP4904844B2 (ja) * | 2006-02-20 | 2012-03-28 | 株式会社ジェイテック | 超精密形状測定方法 |
| JP5070370B2 (ja) * | 2007-05-23 | 2012-11-14 | 株式会社ジェイテック | 超精密形状測定方法及びその装置 |
| JP6289001B2 (ja) * | 2013-09-24 | 2018-03-07 | キヤノン株式会社 | 形状測定方法、形状測定装置 |
-
1993
- 1993-09-24 JP JP23773393A patent/JP3352507B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0791933A (ja) | 1995-04-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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