JP3325615B2 - Ｉｃカード - Google Patents
ＩｃカードInfo
- Publication number
- JP3325615B2 JP3325615B2 JP28677692A JP28677692A JP3325615B2 JP 3325615 B2 JP3325615 B2 JP 3325615B2 JP 28677692 A JP28677692 A JP 28677692A JP 28677692 A JP28677692 A JP 28677692A JP 3325615 B2 JP3325615 B2 JP 3325615B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- test
- parameter
- written
- card
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＩＣカード、特に、メモ
リの自己テスト機能をもったＩＣカードに関する。
リの自己テスト機能をもったＩＣカードに関する。
【０００２】
【従来の技術】磁気カードに代わる新しい情報記録媒体
として、ＩＣカードが脚光を浴びている。このＩＣカー
ドは、磁気カードに比べて大量の情報を記録することが
でき、しかも高度なセキュリティを有する。通常、ＩＣ
カードは、ＣＰＵと、ＲＯＭ，ＲＡＭ，ＥＥＰＲＯＭの
３種類のメモリ素子を内蔵しており、ＲＯＭにはＣＰＵ
が実行すべきプログラムが収容され、ＲＡＭはＣＰＵが
処理を実行する際にワークエリアとして用いられ、ＥＥ
ＰＲＯＭにはユーザーのデータが記録される。ＥＥＰＲ
ＯＭに記録されるユーザーデータは、個々のユーザーに
とって非常に重要なデータであり、メモリ不良によりこ
のデータが失われるような事態は絶対に避けねばならな
い。このため、ＩＣカードには、このＥＥＰＲＯＭをテ
ストする機能が備わっている。すなわち、リーダライタ
から所定のテストコマンドが与えられると、ＣＰＵは、
このテストコマンドに応じたテストをＥＥＰＲＯＭに対
して実行し、その結果をリーダライタへと返す。
として、ＩＣカードが脚光を浴びている。このＩＣカー
ドは、磁気カードに比べて大量の情報を記録することが
でき、しかも高度なセキュリティを有する。通常、ＩＣ
カードは、ＣＰＵと、ＲＯＭ，ＲＡＭ，ＥＥＰＲＯＭの
３種類のメモリ素子を内蔵しており、ＲＯＭにはＣＰＵ
が実行すべきプログラムが収容され、ＲＡＭはＣＰＵが
処理を実行する際にワークエリアとして用いられ、ＥＥ
ＰＲＯＭにはユーザーのデータが記録される。ＥＥＰＲ
ＯＭに記録されるユーザーデータは、個々のユーザーに
とって非常に重要なデータであり、メモリ不良によりこ
のデータが失われるような事態は絶対に避けねばならな
い。このため、ＩＣカードには、このＥＥＰＲＯＭをテ
ストする機能が備わっている。すなわち、リーダライタ
から所定のテストコマンドが与えられると、ＣＰＵは、
このテストコマンドに応じたテストをＥＥＰＲＯＭに対
して実行し、その結果をリーダライタへと返す。
【０００３】このようなＥＥＰＲＯＭに対するテスト
は、一般に、ＩＣカードを製品として出荷する直前に行
われるが、その他、使用中に不良が生じた場合に不良を
解析するためにも行われる。このため、いくつかのテス
トコマンドが用意されている。たとえば、「００−ＷＲ
ＩＴＥ」というテストコマンドは、ＥＥＰＲＯＭにデー
タ「００」を書き込み、これを再び読み出して、正しく
「００」が書き込まれていたか否かをチェックするテス
トを実行するコマンドである。同様に、データ「５５」
を書き込む「５５−ＷＲＩＴＥ」、データ「ＡＡ」を書
き込む「ＡＡ−ＷＲＩＴＥ」などのテストコマンドも用
意されている。また、データ「ＦＦ」を書き込む場合に
は、「ＥＲＡＳＥ」なるテストコマンドが用いられる。
この他、「０１，０２，０３，…」と徐々に増加してゆ
くようなデータを隣接するアドレスに書き込んでゆく
「ＩＮＣＲＥＭＥＮＴ ＷＲＩＴＥ」なるテストコマン
ドや、メモリマップにおいて対角線状のアドレス位置に
データ「ＦＦ」等の任意の値をそれ以外のアドレス位置
にそのデータの補数を書き込んでゆく「ＤＩＡＧＯＮＡ
Ｌ ＷＲＩＴＥ」なるテストコマンドも用いられてい
る。
は、一般に、ＩＣカードを製品として出荷する直前に行
われるが、その他、使用中に不良が生じた場合に不良を
解析するためにも行われる。このため、いくつかのテス
トコマンドが用意されている。たとえば、「００−ＷＲ
ＩＴＥ」というテストコマンドは、ＥＥＰＲＯＭにデー
タ「００」を書き込み、これを再び読み出して、正しく
「００」が書き込まれていたか否かをチェックするテス
トを実行するコマンドである。同様に、データ「５５」
を書き込む「５５−ＷＲＩＴＥ」、データ「ＡＡ」を書
き込む「ＡＡ−ＷＲＩＴＥ」などのテストコマンドも用
意されている。また、データ「ＦＦ」を書き込む場合に
は、「ＥＲＡＳＥ」なるテストコマンドが用いられる。
この他、「０１，０２，０３，…」と徐々に増加してゆ
くようなデータを隣接するアドレスに書き込んでゆく
「ＩＮＣＲＥＭＥＮＴ ＷＲＩＴＥ」なるテストコマン
ドや、メモリマップにおいて対角線状のアドレス位置に
データ「ＦＦ」等の任意の値をそれ以外のアドレス位置
にそのデータの補数を書き込んでゆく「ＤＩＡＧＯＮＡ
Ｌ ＷＲＩＴＥ」なるテストコマンドも用いられてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、ＩＣ
カード内のメモリ不良の詳細な解析を行うためには、種
々の書き込みテストを行う必要があり、そのために種々
のテストコマンドが用意されている。しかしながら、こ
れらの各テストコマンドは、それぞれ別個独立したコマ
ンドとして取り扱われているため、ＩＣカードのＲＯＭ
内には、各テストコマンドごとに別個の処理ルーチンを
設ける必要がある。一般に、ＩＣカード内の各メモリの
容量は制限されているため、できるだけ効率良いプログ
ラムを作成し、プログラム全体の容量を抑制するのが好
ましいが、従来のＩＣカードでは、各テストコマンドに
ついてそれぞれ処理ルーチンを用意してＲＯＭに収容し
ている。このため、ＲＯＭの利用効率が低いという問題
がある。
カード内のメモリ不良の詳細な解析を行うためには、種
々の書き込みテストを行う必要があり、そのために種々
のテストコマンドが用意されている。しかしながら、こ
れらの各テストコマンドは、それぞれ別個独立したコマ
ンドとして取り扱われているため、ＩＣカードのＲＯＭ
内には、各テストコマンドごとに別個の処理ルーチンを
設ける必要がある。一般に、ＩＣカード内の各メモリの
容量は制限されているため、できるだけ効率良いプログ
ラムを作成し、プログラム全体の容量を抑制するのが好
ましいが、従来のＩＣカードでは、各テストコマンドに
ついてそれぞれ処理ルーチンを用意してＲＯＭに収容し
ている。このため、ＲＯＭの利用効率が低いという問題
がある。
【０００５】そこで本発明は、効率良いテストコマンド
をもったＩＣカードを提供することを目的とする。
をもったＩＣカードを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】(1) 本願第１の発明
は、ＣＰＵとメモリとを内蔵し、ＣＰＵがメモリに対す
る書き込みテストを行う機能をもったＩＣカードにおい
て、書き込みテストを行う指示を与えるコマンドコード
と、テスト対象となるメモリ領域の開始アドレスおよび
範囲を指定するためのアドレスパラメータと、テストに
おいて書き込むべきデータの発生条件を指定するための
データパラメータと、によって構成されるテストコマン
ドを受けたときに、アドレスパラメータで指定されたメ
モリ領域に、データパラメータで指定された発生条件に
基づいて発生させたデータを書き込んだ後、この書き込
んだデータを読み出して正しい書き込みが行われていた
か否かをテストする機能を設けたものである。
は、ＣＰＵとメモリとを内蔵し、ＣＰＵがメモリに対す
る書き込みテストを行う機能をもったＩＣカードにおい
て、書き込みテストを行う指示を与えるコマンドコード
と、テスト対象となるメモリ領域の開始アドレスおよび
範囲を指定するためのアドレスパラメータと、テストに
おいて書き込むべきデータの発生条件を指定するための
データパラメータと、によって構成されるテストコマン
ドを受けたときに、アドレスパラメータで指定されたメ
モリ領域に、データパラメータで指定された発生条件に
基づいて発生させたデータを書き込んだ後、この書き込
んだデータを読み出して正しい書き込みが行われていた
か否かをテストする機能を設けたものである。
【０００７】(2) 本願第２の発明は、上述の第１の発
明において、書き込みデータ初期値と、この初期値に対
する増分値と、再び初期値にもどるまでの周期値と、を
書き込むべきデータの発生条件を指定するデータパラメ
ータとして用いるようにしたものである。
明において、書き込みデータ初期値と、この初期値に対
する増分値と、再び初期値にもどるまでの周期値と、を
書き込むべきデータの発生条件を指定するデータパラメ
ータとして用いるようにしたものである。
【０００８】(3) 本願第３の発明は、上述の第１の発
明において、ダイアゴナルテストを行う上での書き込み
データ初期値およびオフセット値を書き込むべきデータ
の発生条件を指定するデータパラメータとして用いるよ
うにしたものである。
明において、ダイアゴナルテストを行う上での書き込み
データ初期値およびオフセット値を書き込むべきデータ
の発生条件を指定するデータパラメータとして用いるよ
うにしたものである。
【０００９】(4) 本願第４の発明は、上述の第１の発
明において、書き込むべきデータの発生条件を指定する
ためのパラメータだけでなく、書き込むべきデータ列そ
のものをデータパラメータとして受け付ける機能を有
し、書き込むべきデータ列そのものをデータパラメータ
として含むテストコマンドが与えられた場合に、当該デ
ータ列を書き込んだ後、この書き込んだデータ列を読み
出して正しい書き込みが行われていたか否かをテストす
る機能を更に設けるようにしたものである。
明において、書き込むべきデータの発生条件を指定する
ためのパラメータだけでなく、書き込むべきデータ列そ
のものをデータパラメータとして受け付ける機能を有
し、書き込むべきデータ列そのものをデータパラメータ
として含むテストコマンドが与えられた場合に、当該デ
ータ列を書き込んだ後、この書き込んだデータ列を読み
出して正しい書き込みが行われていたか否かをテストす
る機能を更に設けるようにしたものである。
【００１０】
【作 用】本願発明に係るＩＣカードでは、コマンドコ
ードと、アドレスパラメータと、データパラメータと、
からなるフォーマットのテストコマンドが用いられる。
このようなフォーマットをもったテストコマンドは、単
一のテストコマンドでありながら、アドレスパラメータ
およびデータパラメータを変えることにより、従来の多
数のテストコマンドと同等の機能を果たすことができ
る。パラメータが異なるだけで、コマンドとしては単一
のものであるため、このコマンドの処理ルーチンは、従
来用いられていた多数のコマンドの処理ルーチンに比べ
て効率が良くなる。
ードと、アドレスパラメータと、データパラメータと、
からなるフォーマットのテストコマンドが用いられる。
このようなフォーマットをもったテストコマンドは、単
一のテストコマンドでありながら、アドレスパラメータ
およびデータパラメータを変えることにより、従来の多
数のテストコマンドと同等の機能を果たすことができ
る。パラメータが異なるだけで、コマンドとしては単一
のものであるため、このコマンドの処理ルーチンは、従
来用いられていた多数のコマンドの処理ルーチンに比べ
て効率が良くなる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて説
明する。図１は、本発明に係るＩＣカードで用いられる
ＥＥＰＲＯＭに対する書き込みテストコマンドのフォー
マットを示す図である。ここで、Ａ，Ｂ１，Ｂ２，Ｃ
１，Ｃ２，Ｄ，…なるデータは、いずれも１バイトのデ
ータである。このテストコマンドは、１バイト目の
「Ａ」なるコマンドコードに、２〜５バイト目の「Ｂ
１，Ｂ２，Ｃ１，Ｃ２」なるアドレスパラメータと、６
バイト目以降の「Ｄ，Ｅ，Ｆ，…」なるデータパラメー
タと、を付加した形式をもつ。コマンドとしては、
「Ａ」なるコマンドコードで表される単一のコマンドで
あるが、これに付属する各パラメータの値を種々に設定
することにより、多種類のテストを実行することができ
る。
明する。図１は、本発明に係るＩＣカードで用いられる
ＥＥＰＲＯＭに対する書き込みテストコマンドのフォー
マットを示す図である。ここで、Ａ，Ｂ１，Ｂ２，Ｃ
１，Ｃ２，Ｄ，…なるデータは、いずれも１バイトのデ
ータである。このテストコマンドは、１バイト目の
「Ａ」なるコマンドコードに、２〜５バイト目の「Ｂ
１，Ｂ２，Ｃ１，Ｃ２」なるアドレスパラメータと、６
バイト目以降の「Ｄ，Ｅ，Ｆ，…」なるデータパラメー
タと、を付加した形式をもつ。コマンドとしては、
「Ａ」なるコマンドコードで表される単一のコマンドで
あるが、これに付属する各パラメータの値を種々に設定
することにより、多種類のテストを実行することができ
る。
【００１２】コマンドコード「Ａ」は、書き込みテスト
を行うコマンドであることを示すいわゆるコマンド名に
当たる部分であり、これに付属するアドレスパラメータ
は、テスト対象となるメモリ領域を特定するためのパラ
メータであり、続くデータパラメータは、テストにおい
て書き込むべきデータを特定するためのパラメータであ
る。
を行うコマンドであることを示すいわゆるコマンド名に
当たる部分であり、これに付属するアドレスパラメータ
は、テスト対象となるメモリ領域を特定するためのパラ
メータであり、続くデータパラメータは、テストにおい
て書き込むべきデータを特定するためのパラメータであ
る。
【００１３】図１に示す実施例では、アドレスパラメー
タは、テスト開始ページを示すパラメータＢ（Ｂ１，Ｂ
２の２バイトからなる）と、テストページ数を示すパラ
メータＣ（Ｃ１，Ｃ２の２バイトからなる）とによって
構成され、ＥＥＰＲＯＭ中のメモリ領域は３２バイトが
１ページと定義されている。したがって、たとえば、Ｂ
＝０００３、Ｃ＝０００５、と設定すれば、０００３ペ
ージから０００７ページに至る５ページ分のメモリ領域
に対して、書き込みテストが行われることになる。
タは、テスト開始ページを示すパラメータＢ（Ｂ１，Ｂ
２の２バイトからなる）と、テストページ数を示すパラ
メータＣ（Ｃ１，Ｃ２の２バイトからなる）とによって
構成され、ＥＥＰＲＯＭ中のメモリ領域は３２バイトが
１ページと定義されている。したがって、たとえば、Ｂ
＝０００３、Ｃ＝０００５、と設定すれば、０００３ペ
ージから０００７ページに至る５ページ分のメモリ領域
に対して、書き込みテストが行われることになる。
【００１４】また、この実施例では、データパラメータ
によって、３とおりのテストを指定することができる。
パラメータＤは、この３とおりのテストの種別を指定す
るパラメータである。すなわち、Ｄ＝０１の場合には、
「規則データ書き込みテスト」が指定され、Ｄ＝０２
の場合には、「ダイアゴナルテスト」が指定され、Ｄ
＝０３の場合には、「任意データ書き込みテスト」が
指定される。「規則データ書き込みテスト」を指定し
た場合には、パラメータＥに書き込みデータ初期値を、
パラメータＦに増分値を、パラメータＧに周期値を、そ
れぞれ指定する。このテストでは、アドレスパラメータ
によって指定されたメモリ領域に対して、初期値Ｅから
増分値Ｆで増加してゆくデータを周期値Ｇで繰り返し書
き込む処理が行われる。また、「ダイアゴナルテス
ト」を指定した場合には、パラメータＥに初期値を、パ
ラメータＨにオフセット値を、それぞれ指定する。この
テストでは、アドレスパラメータによって指定されたメ
モリ領域に対して、メモリマップにおいて対角線状のア
ドレス位置にデータ初期値Ｅを、それ以外のアドレス位
置に初期値Ｅの補数値を、それぞれ書き込む処理が行わ
れる。更に、「任意データ書き込みテスト」を指定し
た場合には、パラメータＩ（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，…，Ｉ
３２）に書き込むべき１ページ分（３２バイト）のデー
タを指定する。このテストでは、アドレスパラメータに
よって指定されたメモリ領域に対して、パラメータＩの
データがそのまま繰り返し書き込まれる。
によって、３とおりのテストを指定することができる。
パラメータＤは、この３とおりのテストの種別を指定す
るパラメータである。すなわち、Ｄ＝０１の場合には、
「規則データ書き込みテスト」が指定され、Ｄ＝０２
の場合には、「ダイアゴナルテスト」が指定され、Ｄ
＝０３の場合には、「任意データ書き込みテスト」が
指定される。「規則データ書き込みテスト」を指定し
た場合には、パラメータＥに書き込みデータ初期値を、
パラメータＦに増分値を、パラメータＧに周期値を、そ
れぞれ指定する。このテストでは、アドレスパラメータ
によって指定されたメモリ領域に対して、初期値Ｅから
増分値Ｆで増加してゆくデータを周期値Ｇで繰り返し書
き込む処理が行われる。また、「ダイアゴナルテス
ト」を指定した場合には、パラメータＥに初期値を、パ
ラメータＨにオフセット値を、それぞれ指定する。この
テストでは、アドレスパラメータによって指定されたメ
モリ領域に対して、メモリマップにおいて対角線状のア
ドレス位置にデータ初期値Ｅを、それ以外のアドレス位
置に初期値Ｅの補数値を、それぞれ書き込む処理が行わ
れる。更に、「任意データ書き込みテスト」を指定し
た場合には、パラメータＩ（Ｉ１，Ｉ２，Ｉ３，…，Ｉ
３２）に書き込むべき１ページ分（３２バイト）のデー
タを指定する。このテストでは、アドレスパラメータに
よって指定されたメモリ領域に対して、パラメータＩの
データがそのまま繰り返し書き込まれる。
【００１５】続いて、上記各テストの詳細を具体例に即
して説明しよう。いま、図２に示すように、ＥＥＰＲＯ
Ｍ内のデータすべてが「ＦＦ」となっている状態を考え
る。図には、００００ページ〜０００５ページまでを、
１ページ分（３２バイト）が１行になるようにして示し
てある。ＥＥＰＲＯＭ内のデータがこのような状態にあ
るときに、種々のパラメータをもったテストコマンドを
与えた場合を考えてみる。図３は、上述の「規則デー
タ書き込みテスト」を指定したテストコマンドを与えた
例である。アドレスパラメータとしては、テスト開始ペ
ージＢ＝０００１、テストページ数Ｃ＝０００３が指定
されているため、０００１ページ〜０００３ページに対
して書き込みが行われる。一方、データパラメータとし
ては、テスト種別Ｄ＝０１（規則データ書き込みテス
ト）、書き込みデータ初期値Ｅ＝００、増分値Ｆ＝０
０、が指定されているため（増分値Ｆ＝００の場合は、
周期値Ｇは指定する必要がない）、図に示すように、指
定された書き込み領域のすべてにデータ「００」が書き
込まれている。結局、このようなパラメータ指定をもっ
たテストコマンドは、従来のＩＣカードにおける「００
−ＷＲＩＴＥ」コマンドと同じ機能をもつことになる。
また、初期値Ｅ＝「５５」を指定すれば、すべてにデー
タ「５５」が書き込まれ、初期値Ｅ＝「ＡＡ」を指定す
れば、すべてにデータ「ＡＡ」が書き込まれることにな
る。これらは、従来のＩＣカードにおける「５５−ＷＲ
ＩＴＥ」コマンドあるいは、「ＡＡ−ＷＲＩＴＥ」コマ
ンドと同じ機能をもつことになる。
して説明しよう。いま、図２に示すように、ＥＥＰＲＯ
Ｍ内のデータすべてが「ＦＦ」となっている状態を考え
る。図には、００００ページ〜０００５ページまでを、
１ページ分（３２バイト）が１行になるようにして示し
てある。ＥＥＰＲＯＭ内のデータがこのような状態にあ
るときに、種々のパラメータをもったテストコマンドを
与えた場合を考えてみる。図３は、上述の「規則デー
タ書き込みテスト」を指定したテストコマンドを与えた
例である。アドレスパラメータとしては、テスト開始ペ
ージＢ＝０００１、テストページ数Ｃ＝０００３が指定
されているため、０００１ページ〜０００３ページに対
して書き込みが行われる。一方、データパラメータとし
ては、テスト種別Ｄ＝０１（規則データ書き込みテス
ト）、書き込みデータ初期値Ｅ＝００、増分値Ｆ＝０
０、が指定されているため（増分値Ｆ＝００の場合は、
周期値Ｇは指定する必要がない）、図に示すように、指
定された書き込み領域のすべてにデータ「００」が書き
込まれている。結局、このようなパラメータ指定をもっ
たテストコマンドは、従来のＩＣカードにおける「００
−ＷＲＩＴＥ」コマンドと同じ機能をもつことになる。
また、初期値Ｅ＝「５５」を指定すれば、すべてにデー
タ「５５」が書き込まれ、初期値Ｅ＝「ＡＡ」を指定す
れば、すべてにデータ「ＡＡ」が書き込まれることにな
る。これらは、従来のＩＣカードにおける「５５−ＷＲ
ＩＴＥ」コマンドあるいは、「ＡＡ−ＷＲＩＴＥ」コマ
ンドと同じ機能をもつことになる。
【００１６】図４は、増分付きの規則データ書き込みテ
ストを指定したテストコマンドを与えた例である。アド
レスパラメータとしては、テスト開始ページＢ＝０００
１、テストページ数Ｃ＝０００４が指定されているた
め、０００１ページ〜０００４ページに対して書き込み
が行われる。一方、データパラメータとしては、テスト
種別Ｄ＝０１（規則データ書き込みテスト）、書き込
みデータ初期値Ｅ＝００、増分値Ｆ＝０１、周期値Ｇ＝
３Ｆが指定されている。この実施例では、利用上の便宜
を図るため、周期値Ｇに１を加えた値が１周期となるよ
うに取り決めているので、上述のパラメータ設定では、
１周期は１６進の演算で、３Ｆ＋０１＝４０となり、１
０進に換算すると６４バイトとなる。すなわち、２ペー
ジが１周期として指定されたことになる。このため、図
に示すように、０００１ページ〜０００２ページが第１
周期、０００３ページ〜０００４ページが第２周期とな
る。そして、各周期内において、初期値「００」から増
分値「０１」ずつ増加させたデータが順次書き込まれて
ゆく。その結果、第１周期となる０００１ページの先頭
から、「００，０１，０２，０３…」というデータが書
き込まれることになる。続く第２周期においても同様の
書き込みが行われるが、周期が改まるごとに初期値が増
分値だけ増分されることになり、第２周期となる０００
３ページの先頭からは、「０１，０２，０３，０４…」
というデータが書き込まれることになる。なお、図にお
いてアンダーラインを付したデータは、各周期の先頭デ
ータである。結局、このようなパラメータ指定をもった
テストコマンドは、従来のＩＣカードにおける「ＩＮＣ
ＲＥＭＥＮＴ ＷＲＩＴＥ」コマンドと同じ機能をもつ
ことになる。
ストを指定したテストコマンドを与えた例である。アド
レスパラメータとしては、テスト開始ページＢ＝０００
１、テストページ数Ｃ＝０００４が指定されているた
め、０００１ページ〜０００４ページに対して書き込み
が行われる。一方、データパラメータとしては、テスト
種別Ｄ＝０１（規則データ書き込みテスト）、書き込
みデータ初期値Ｅ＝００、増分値Ｆ＝０１、周期値Ｇ＝
３Ｆが指定されている。この実施例では、利用上の便宜
を図るため、周期値Ｇに１を加えた値が１周期となるよ
うに取り決めているので、上述のパラメータ設定では、
１周期は１６進の演算で、３Ｆ＋０１＝４０となり、１
０進に換算すると６４バイトとなる。すなわち、２ペー
ジが１周期として指定されたことになる。このため、図
に示すように、０００１ページ〜０００２ページが第１
周期、０００３ページ〜０００４ページが第２周期とな
る。そして、各周期内において、初期値「００」から増
分値「０１」ずつ増加させたデータが順次書き込まれて
ゆく。その結果、第１周期となる０００１ページの先頭
から、「００，０１，０２，０３…」というデータが書
き込まれることになる。続く第２周期においても同様の
書き込みが行われるが、周期が改まるごとに初期値が増
分値だけ増分されることになり、第２周期となる０００
３ページの先頭からは、「０１，０２，０３，０４…」
というデータが書き込まれることになる。なお、図にお
いてアンダーラインを付したデータは、各周期の先頭デ
ータである。結局、このようなパラメータ指定をもった
テストコマンドは、従来のＩＣカードにおける「ＩＮＣ
ＲＥＭＥＮＴ ＷＲＩＴＥ」コマンドと同じ機能をもつ
ことになる。
【００１７】図５は、「ダイアゴナルテスト」を指定
したテストコマンドを与えた例である。アドレスパラメ
ータとしては、テスト開始ページＢ＝００００、テスト
ページ数Ｃ＝０１００が指定されているため、０００１
ページ〜００ＦＦページに対して書き込みが行われる。
一方、データパラメータとしては、テスト種別Ｄ＝０２
（ダイアゴナルテスト）、書き込みデータ初期値Ｅ＝
ＦＦ、オフセットＨ＝００が指定されている。このた
め、図に示すように、メモリマップの対角線となるアド
レス位置に、初期値「ＦＦ」が書き込まれ、その他のア
ドレス位置にはすべて、初期値「ＦＦ」の補数値「０
０」が書き込まれている。オフセットＨの指定により、
最初のページにおける初期値「ＦＦ」の位置を変えるこ
とができる。結局、このようなパラメータ指定をもった
テストコマンドは、従来のＩＣカードにおける「ＤＩＡ
ＧＯＮＡＬ ＷＲＩＴＥ」コマンドと同じ機能をもつこ
とになる。
したテストコマンドを与えた例である。アドレスパラメ
ータとしては、テスト開始ページＢ＝００００、テスト
ページ数Ｃ＝０１００が指定されているため、０００１
ページ〜００ＦＦページに対して書き込みが行われる。
一方、データパラメータとしては、テスト種別Ｄ＝０２
（ダイアゴナルテスト）、書き込みデータ初期値Ｅ＝
ＦＦ、オフセットＨ＝００が指定されている。このた
め、図に示すように、メモリマップの対角線となるアド
レス位置に、初期値「ＦＦ」が書き込まれ、その他のア
ドレス位置にはすべて、初期値「ＦＦ」の補数値「０
０」が書き込まれている。オフセットＨの指定により、
最初のページにおける初期値「ＦＦ」の位置を変えるこ
とができる。結局、このようなパラメータ指定をもった
テストコマンドは、従来のＩＣカードにおける「ＤＩＡ
ＧＯＮＡＬ ＷＲＩＴＥ」コマンドと同じ機能をもつこ
とになる。
【００１８】図６は、「任意データ書き込みテスト」
を指定したテストコマンドを与えた例である。アドレス
パラメータとしては、テスト開始ページＢ＝０００２、
テストページ数Ｃ＝０００３が指定されているため、０
００２ページ〜０００４ページに対して書き込みが行わ
れる。一方、データパラメータとしては、テスト種別Ｄ
＝０３（任意データ書き込みテスト）、書き込みデー
タＩ＝０１，０２，０３，０４，０１，０２，０３，０
４，０１，０２，…（全３２バイト）が指定されてい
る。このため、書き込み領域の各ページには、パラメー
タＩとして羅列されたデータ「０１，０２，０３，０
４，０１，０２，０３，０４，０１，０２，…（全３２
バイト）」がそのまま書き込まれている。
を指定したテストコマンドを与えた例である。アドレス
パラメータとしては、テスト開始ページＢ＝０００２、
テストページ数Ｃ＝０００３が指定されているため、０
００２ページ〜０００４ページに対して書き込みが行わ
れる。一方、データパラメータとしては、テスト種別Ｄ
＝０３（任意データ書き込みテスト）、書き込みデー
タＩ＝０１，０２，０３，０４，０１，０２，０３，０
４，０１，０２，…（全３２バイト）が指定されてい
る。このため、書き込み領域の各ページには、パラメー
タＩとして羅列されたデータ「０１，０２，０３，０
４，０１，０２，０３，０４，０１，０２，…（全３２
バイト）」がそのまま書き込まれている。
【００１９】以上、いくつかの書き込みテストを具体例
に即して説明したが、いずれもテストであるから、書き
込み作業が完了した後に、いま書き込んだデータを順次
読出し、正しく書き込まれていたか否かがチェックさ
れ、その結果がリーダライタへ戻されることになる。こ
のように、図１に示すフォーマットをもったテストコマ
ンドを用いるようにすれば、単一のコマンドであって
も、これに付随させるパラメータを種々変えることによ
り、様々な書き込みテストを実行することが可能にな
る。要するに、従来のＩＣカードで用いられていた複数
の書き込みテストコマンドを、パラメータを用いること
により単一のテストコマンドに統合したことになる。従
来は、複数の書き込みテストコマンドごとに別個の処理
ルーチンを用意しなければならなかったが、このように
単一のテストコマンドに統合することにより処理ルーチ
ンも単一のものに統合することが可能になり、プログラ
ムの効率化が図れるようになる。
に即して説明したが、いずれもテストであるから、書き
込み作業が完了した後に、いま書き込んだデータを順次
読出し、正しく書き込まれていたか否かがチェックさ
れ、その結果がリーダライタへ戻されることになる。こ
のように、図１に示すフォーマットをもったテストコマ
ンドを用いるようにすれば、単一のコマンドであって
も、これに付随させるパラメータを種々変えることによ
り、様々な書き込みテストを実行することが可能にな
る。要するに、従来のＩＣカードで用いられていた複数
の書き込みテストコマンドを、パラメータを用いること
により単一のテストコマンドに統合したことになる。従
来は、複数の書き込みテストコマンドごとに別個の処理
ルーチンを用意しなければならなかったが、このように
単一のテストコマンドに統合することにより処理ルーチ
ンも単一のものに統合することが可能になり、プログラ
ムの効率化が図れるようになる。
【００２０】以上、本発明を図示する実施例に基づいて
説明したが、本発明はこの実施例のみに限定されるもの
ではなく、この他にも種々の態様で実施可能である。特
に、図１に示したテストコマンドのフォーマットは、一
具体例として示しただけのものであり、この他にも種々
のフォーマットを採用することができる。
説明したが、本発明はこの実施例のみに限定されるもの
ではなく、この他にも種々の態様で実施可能である。特
に、図１に示したテストコマンドのフォーマットは、一
具体例として示しただけのものであり、この他にも種々
のフォーマットを採用することができる。
【００２１】
【発明の効果】以上のとおり本発明に係るＩＣカードに
よれば、コマンドコードに、アドレスパラメータと、デ
ータパラメータと、を付随させたフォーマットのテスト
コマンドを用いるようにしたため、パラメータを変える
ことにより多数のテスト機能の実行が可能になり、単一
のコマンドで複数のテストコマンドと同等の機能が実現
でき、プログラムの効率化が図れる。
よれば、コマンドコードに、アドレスパラメータと、デ
ータパラメータと、を付随させたフォーマットのテスト
コマンドを用いるようにしたため、パラメータを変える
ことにより多数のテスト機能の実行が可能になり、単一
のコマンドで複数のテストコマンドと同等の機能が実現
でき、プログラムの効率化が図れる。
【図１】本発明に係るＩＣカードで用いるテストコマン
ドのフォーマットの一例を示す図である。
ドのフォーマットの一例を示す図である。
【図２】本発明に係るＩＣカードにおけるＥＥＰＲＯＭ
のテスト前の状態を示すメモリマップである。
のテスト前の状態を示すメモリマップである。
【図３】本発明によるテストコマンドにより固定データ
の書き込みテストを指定する場合のパラメータ値を示す
表と、このテストによる書き込み後のＥＥＰＲＯＭの状
態を示すメモリマップとを示す図である。
の書き込みテストを指定する場合のパラメータ値を示す
表と、このテストによる書き込み後のＥＥＰＲＯＭの状
態を示すメモリマップとを示す図である。
【図４】本発明によるテストコマンドによりインクリメ
ントデータの書き込みテストを指定する場合のパラメー
タ値を示す表と、このテストによる書き込み後のＥＥＰ
ＲＯＭの状態を示すメモリマップとを示す図である。
ントデータの書き込みテストを指定する場合のパラメー
タ値を示す表と、このテストによる書き込み後のＥＥＰ
ＲＯＭの状態を示すメモリマップとを示す図である。
【図５】本発明によるテストコマンドによりダイアゴナ
ルテストを指定する場合のパラメータ値を示す表と、こ
のテストによる書き込み後のＥＥＰＲＯＭの状態を示す
メモリマップとを示す図である。
ルテストを指定する場合のパラメータ値を示す表と、こ
のテストによる書き込み後のＥＥＰＲＯＭの状態を示す
メモリマップとを示す図である。
【図６】本発明によるテストコマンドにより任意データ
書き込みテストを指定する場合のパラメータ値を示す表
と、このテストによる書き込み後のＥＥＰＲＯＭの状態
を示すメモリマップとを示す図である。
書き込みテストを指定する場合のパラメータ値を示す表
と、このテストによる書き込み後のＥＥＰＲＯＭの状態
を示すメモリマップとを示す図である。
Ａ…コマンドコード Ｂ，Ｃ…アドレスパラメータ Ｄ〜Ｉ…データパラメータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−3082（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06K 19/07 G06F 12/16
Claims (4)
- 【請求項１】 ＣＰＵとメモリとを内蔵し、前記ＣＰＵ
が前記メモリに対する書き込みテストを行う機能をもっ
たＩＣカードであって、 書き込みテストを行う指示を与えるコマンドコードと、
テスト対象となるメモリ領域の開始アドレスおよび範囲
を指定するためのアドレスパラメータと、テストにおい
て書き込むべきデータの発生条件を指定するためのデー
タパラメータと、によって構成されるテストコマンドを
受けたときに、前記アドレスパラメータで指定されたメ
モリ領域に、前記データパラメータで指定された発生条
件に基づいて発生させたデータを書き込んだ後、この書
き込んだデータを読み出して正しい書き込みが行われて
いたか否かをテストする機能を有することを特徴とする
ＩＣカード。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＩＣカードにおいて、
データパラメータが、書き込みデータ初期値と、この初
期値に対する増分値と、再び初期値にもどるまでの周期
値と、を書き込むべきデータの発生条件として含むこと
を特徴とするＩＣカード。 - 【請求項３】 請求項１に記載のＩＣカードにおいて、
データパラメータが、ダイアゴナルテストを行う上での
書き込みデータ初期値およびオフセット値を書き込むべ
きデータの発生条件として含むことを特徴とするＩＣカ
ード。 - 【請求項４】 請求項１に記載のＩＣカードにおいて、
書き込むべきデータの発生条件を指定するためのパラメ
ータだけでなく、書き込むべきデータ列そのものをデー
タパラメータとして受け付ける機能を有し、書き込むべ
きデータ列そのものをデータパラメータとして含むテス
トコマンドが与えられた場合に、当該データ列を書き込
んだ後、この書き込んだデータ列を読み出して正しい書
き込みが行われていたか否かをテストする機能を更に有
することを特徴とするＩＣカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28677692A JP3325615B2 (ja) | 1992-10-01 | 1992-10-01 | Ｉｃカード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28677692A JP3325615B2 (ja) | 1992-10-01 | 1992-10-01 | Ｉｃカード |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06119508A JPH06119508A (ja) | 1994-04-28 |
| JP3325615B2 true JP3325615B2 (ja) | 2002-09-17 |
Family
ID=17708906
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28677692A Expired - Lifetime JP3325615B2 (ja) | 1992-10-01 | 1992-10-01 | Ｉｃカード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3325615B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5101378B2 (ja) | 2008-04-16 | 2012-12-19 | ソニー株式会社 | リーダライタ、通信処理装置、通信処理方法、データ管理システム及び通信システム |
| US8769354B2 (en) | 2012-06-28 | 2014-07-01 | Ememory Technology Inc. | Memory architecture and associated serial direct access circuit |
-
1992
- 1992-10-01 JP JP28677692A patent/JP3325615B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06119508A (ja) | 1994-04-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH08138019A (ja) | メモリカ−ドとその記録、再生および消去方法 | |
| US5655121A (en) | Method and apparatus for encoding data to be self-describing by storing tag records describing said data terminated by a self-referential record | |
| JP3154892B2 (ja) | Ｉｃメモリカードおよびそのｉｃメモリカードの検査方法 | |
| CN114333962A (zh) | 闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 | |
| US20230282299A1 (en) | Chip test method, apparatus, and device, and storage medium | |
| US7188279B2 (en) | Method, program, and storage medium for acquiring logs | |
| CN112579382A (zh) | 一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质 | |
| JP3325615B2 (ja) | Ｉｃカード | |
| CN106021047A (zh) | 一种对硬盘测试数据进行处理的方法及装置 | |
| US6845478B2 (en) | Method and apparatus for collecting and displaying bit-fail-map information | |
| JPH0435780B2 (ja) | ||
| US6990610B2 (en) | Combining commands to form a test command | |
| US6915470B2 (en) | Data log acquisition circuit and data log acquisition method | |
| JPH08129629A (ja) | メモリチェック機能をもった情報記録媒体 | |
| JPH06259609A (ja) | Ｉｃカード発行工程の管理方法 | |
| JP2864288B2 (ja) | Ｉｃカードにおけるエラーチェック方法 | |
| JPS60200346A (ja) | プログラム用テストデ−タ作成方法 | |
| JPH06119506A (ja) | Ｉｃカード | |
| JP3309792B2 (ja) | スタックポインタトレース装置、スタックポインタトレース方法及び記録媒体 | |
| JP3234011B2 (ja) | Ｉｃカード | |
| JP2910548B2 (ja) | データチェック装置 | |
| JPH08147421A (ja) | 情報記憶媒体の発行処理データ作成装置及び作成方法 | |
| JP3317336B2 (ja) | 命令組み合わせ試験方式および記録媒体 | |
| JPH0516635B2 (ja) | ||
| JP2677043B2 (ja) | プログラム開発支援装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080705 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090705 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090705 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100705 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100705 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110705 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120705 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120705 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130705 Year of fee payment: 11 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130705 Year of fee payment: 11 |