JP3305020B2 - キャビティダウンタイプの半導体装置の実装構造 - Google Patents

キャビティダウンタイプの半導体装置の実装構造

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、高周波用半導体チップ
を収納した半導体装置を、その半導体チップを収容した
キャビティ開口部を基板に向けて基板に表面実装するキ
ャビティダウンタイプの半導体装置の実装構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体装置は、図5に示したように、セ
ラミック等で形成したパッケージ10のキャビティ12
内に半導体チップ20を収容すると共に、キャビティ1
2開口部をキャップ30で気密に封じている。半導体チ
ップの信号電極22は、ワイヤ40を介してパッケージ
の信号線路50内端に接続している。パッケージ10周
囲に備えた信号線路50外端には、リード60を接続し
て、そのリード60先端をパッケージ10外方に延出し
ている。
【0003】この半導体装置は、図5に示したように、
キャップ30で封じたキャビティ12開口部を基板70
に向けて、基板70に表面実装している。この表面実装
方式をキャビティダウンタイプの実装構造と呼んでい
る。このキャビティダウンタイプの半導体装置の実装構
造においては、図5に示したように、パッケージ10か
ら延出したリード60を、基板70方向にガルウイング
(GULL―WING)状等に折曲して、そのリード6
0先端を基板の信号回路72に接続している。
【0004】このように、キャビティダウン方式を用い
て半導体チップ20を収納した半導体装置を基板70に
表面実装している理由は、高集積化された高周波用半導
体チップ20は高熱を発するため、その半導体チップ2
0が発する熱をキャビティ12底壁を通して、パッケー
ジ10底部に備えた放熱フィン(図示せず)等によりパ
ッケージ10外部に効率良く放散できるようにするため
である。それと共に、パッケージ10の信号線路50と
基板の信号回路72とをリード60を介して距離短く接
続して、リード60を通して信号線路50と信号回路7
2との間を高周波信号を伝送損失を少なく伝えられるよ
うにするためである。
【0005】このキャビティダウンタイプの半導体装置
の実装構造においては、パッケージの信号線路50を、
セラミック等の誘電体からなるパッケージ10に備えた
グランドプレーン(図示せず)により、マイクロストリ
ップ線路又はストリップ線路に形成して、その信号線路
50の特性インピーダンスを半導体チップ20の内部信
号回路の持つ特性インピーダンスの50Ω等にマッチン
グさせている。それと共に、基板の信号回路72を、セ
ラミック等の誘電体からなる基板70に備えたグランド
プレーン(図示せず)により、マイクロストリップ線路
に形成して、その信号回路72の特性インピーダンスを
半導体チップ20の内部信号回路の持つ特性インピーダ
ンスの50Ω等にマッチングさせている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記キ
ャビティダウンタイプの半導体装置の実装構造において
は、パッケージの信号線路50と基板の信号回路72と
の間を接続したリード60の特性インピーダンスを半導
体チップ20の内部信号回路の持つ特性インピーダンス
の50Ω等にマッチングさせていなかった。
【0007】そのため、上記リード60を伝わる高周波
信号の伝送損失や反射損失が大きくて、半導体装置の信
号線路と基板の信号回路との間をリード60を通して高
周波信号を損失少なく効率よく伝えることができなかっ
た。
【0008】本発明は、このような課題を解消した、半
導体装置の信号線路と基板の信号回路との間を接続した
リード等の接続線路を高周波信号を伝送損失、反射損失
少なく伝えることのできるキャビティダウンタイプの半
導体装置の実装構造(以下、半導体装置の実装構造とい
う)を提供しようとするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の半導体装置の実装構造は、パッケー
ジに備えた信号線路に接続したリードを基板方向に折曲
して、そのリード先端を基板の信号回路に接続したキャ
ビティダウンタイプの半導体装置の実装構造において、
前記リードに誘電体ブロックをあてがうと共に、その誘
電体ブロック外側面にグランドプレーンを備えて、前記
リードをマイクロストリップ線路に形成したことを特徴
としている。
【0010】本発明の第2の半導体装置の実装構造は、
パッケージに備えた信号線路とその信号線路を接続する
基板の信号回路との間に誘電体ブロックを介在させて、
その誘電体ブロックに備えたビアで前記信号線路と基板
の信号回路とを接続すると共に、前記誘電体ブロック外
側面にグランドプレーンを備えて、前記ビアをマイクロ
ストリップ線路に形成したことを特徴としている。
【0011】本発明の第1、第2の半導体装置の実装構
造においては、誘電体ブロックは、パッケージと別個に
形成した誘電体ブロックであっても、パッケージから延
設した誘電体ブロックであっても良い。
【0012】
【作用】上記構成の第1の半導体装置の実装構造におい
ては、リードに誘電体ブロックをあてがうと共に、その
誘電体ブロック外側面にグランドプレーンを備えて、リ
ードをマイクロストリップ線路に形成している。
【0013】そのため、誘電体ブロックに種々の誘電率
εを持つ誘電体ブロックを選択したり、誘電体ブロック
の厚さを厚薄に調整して誘電体ブロック外側面に備えた
グランドプレーンとリードとの間の距離を長短に調節し
たり、リードの幅を広狭に調整したりして、リードの特
性インピーダンスを半導体チップの内部信号回路の持つ
特性インピーダンスの50Ω等にマッチングさせること
ができる。そして、そのリードを高周波信号を伝送損
失、反射損失少なく伝えることができる。
【0014】上記構成の第2の半導体装置の実装構造に
おいては、パッケージに備えた信号線路と基板の信号回
路との間に介在させた誘電体ブロックに備えたビアでパ
ッケージの信号線路と基板の信号回路とを接続してい
る。それと共に、誘電体ブロック外側面にグランドプレ
ーンを備えて、誘電体ブロックに備えたビアをマイクロ
ストリップ線路に形成している。
【0015】そのため、誘電体ブロックに種々の誘電率
εを持つ誘電体ブロックを選択したり、誘電体ブロック
の厚さを厚薄に調整して誘電体ブロック外側面に備えた
グランドプレーンとビアとの間の距離を長短に調節した
り、ビアの径を大小に調整したりして、誘電体ブロック
に備えたビアの特性インピーダンスを半導体チップの内
部信号回路の持つ特性インピーダンスの50Ω等にマッ
チングさせることができる。そして、そのビアを高周波
信号を伝送損失、反射損失少なく伝えることができる。
【0016】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面に従い説明す
る。図1は本発明の第1の半導体装置の実装構造の好適
な実施例を示し、詳しくはその正面断面図を示してい
る。以下に、この半導体装置の実装構造を説明する。
【0017】図の半導体装置の実装構造では、基板70
方向に折曲したリード60に、パッケージ10と別個に
形成した誘電体ブロック100をあてがっている。具体
的には、パッケージ周囲の階段面14に備えた信号線路
50に接続したリード60を基板70方向に直角に折曲
して、そのリード60にセラミック等からなる誘電体ブ
ロック100を隙間なくあてがっている。
【0018】誘電体ブロック100は、帯状に形成して
いて、その両端を基板70表面にねじ止めすることによ
り、誘電体ブロック100をリード60にあてがってい
る。なお、誘電体ブロック100は、接着剤を用いてリ
ード60側面に接合することにより、誘電体ブロック1
00をリード60にあてがうようにしても良い。
【0019】誘電体ブロック100下面と基板70との
間には、基板70表面に沿ってL字状に折曲したリード
60先端を挟持している。
【0020】L字状に折曲したリード60先端は、基板
の信号回路72に接続している。
【0021】誘電体ブロック100外側面には、メタラ
イズ等からなるグランドプレーン110を幅広く備えて
いる。グランドプレーン110は、基板70のグランド
回路(図示せず)に接続していて、接地できるようにし
ている。そして、グランドプレーン110に対向するリ
ード60部分をマイクロストリップ線路に形成してい
て、そのリード60部分の特性インピーダンスを半導体
チップ20の内部信号回路の持つ特性インピーダンスの
50Ω等にマッチングさせている。
【0022】グランドプレーン110下端は、誘電体ブ
ロック100下端から所定距離上方に離隔させている。
そして、グランドプレーン110が誘電体ブロック10
0下面と基板70との間に挟持したリード60先端と短
絡するのを防いでいる。それと共に、グランドプレーン
110下端と誘電体ブロック100下端との間に露出し
た誘電体ブロック100外側面に対向するリード60部
分の特性インピーダンスを、グランドプレーン110と
基板70に備えたグランドプレーン(図示せず)とによ
り、半導体チップ20の内部信号回路の持つ特性インピ
ーダンスの50Ω等にマッチングさせている。
【0023】その他は、前述図5に示した従来の半導体
装置の実装構造と同様であり、その同一部材には同一符
号を付し、その説明を省略する。
【0024】図2は本発明の第1の半導体装置の実装構
造の他の好適な実施例を示し、詳しくはその正面断面図
を示している。以下に、この半導体装置の実装構造を説
明する。
【0025】図の半導体装置の実装構造では、基板70
方向に直角に折曲したリード60にパッケージ10から
延設したセラミック等からなる誘電体ブロック101を
隙間なくあてがっている。
【0026】誘電体ブロック101外側面には、メタラ
イズ等からなるグランドプレーン111を幅広く備えて
いる。グランドプレーン111は、パッケージ10のグ
ランド線路(図示せず)を介して基板のグランド回路
(図示せず)に接続していて、接地できるようにしてい
る。そして、グランドプレーン111に対向するリード
60部分をマイクロストリップ線路に形成していて、そ
のリード60部分の特性インピーダンスを半導体チップ
20の内部信号回路の持つ特性インピーダンスの50Ω
等にマッチングさせている。
【0027】グランドプレーン111下端は、誘電体ブ
ロック101下端から所定距離上方に離隔させている。
そして、グランドプレーン111が誘電体ブロック10
1下面と基板70との間に挟持したリード60先端と短
絡するのを防いでいる。それと共に、グランドプレーン
111下端と誘電体ブロック101下端との間に露出し
た誘電体ブロック101外側面に対向するリード60部
分の特性インピーダンスを、グランドプレーン111と
基板70に備えたグランドプレーン(図示せず)とによ
り、半導体チップ20の内部信号回路の持つ特性インピ
ーダンスの50Ω等にマッチングさせている。
【0028】その他は、前述図1に示した半導体装置の
実装構造と同様であり、その同一部材には同一符号を付
し、その説明を省略する。
【0029】図3は本発明の第2の半導体装置の実装構
造の好適な実施例を示し、詳しくはその正面断面図を示
している。以下に、この半導体装置の実装構造を説明す
る。
【0030】図の半導体装置の実装構造では、パッケー
ジの信号線路50と基板の信号回路72との間に、パッ
ケージ10から延設したセラミック等からなる誘電体ブ
ロック102を隙間なく介在させている。
【0031】誘電体ブロック102には、メタライズ等
の導体ポールからなるビア600を誘電体ブロック10
2を上下に貫通して備えている。そして、そのビア60
0でパッケージの信号線路50と基板の信号回路72と
を接続している。具体的には、ビア600上端を、パッ
ケージの信号線路50に一連に接続している。それと共
に、ビア600下端が露出した誘電体ブロック102下
端面にパッド620をビア600に連ねて備えて、その
パッド620を基板の信号回路72にはんだ付け等によ
り接続している。
【0032】誘電体ブロック102外側面には、メタラ
イズ等からなるグランドプレーン112を幅広く備えて
いる。グランドプレーン112は、パッケージ10のグ
ランド線路(図示せず)を介して基板70のグランド回
路(図示せず)に接続していて、接地できるようにして
いる。そして、グランドプレーン112に対向するビア
600部分をマイクロストリップ線路に形成していて、
そのビア600部分の特性インピーダンスを半導体チッ
プ20の内部信号回路の持つ特性インピーダンスの50
Ω等にマッチングさせている。
【0033】グランドプレーン112下端は、誘電体ブ
ロック102下端から所定距離上方に離隔させている。
そして、グランドプレーン112が誘電体ブロック10
2下端面に備えたパッド620と短絡するのを防いでい
る。それと共に、グランドプレーン112下端と誘電体
ブロック102下端との間に露出した誘電体ブロック1
02外側面に対向するビア600部分の特性インピーダ
ンスを、グランドプレーン112と基板70に備えたグ
ランドプレーン(図示せず)とにより、半導体チップ2
0の内部信号回路の持つ特性インピーダンスの50Ω等
にマッチングさせている。
【0034】その他は、前述図5に示した従来の半導体
装置の実装構造と同様であり、その同一部材には同一符
号を付し、その説明を省略する。
【0035】図4は本発明の第2の半導体装置の実装構
造の他の好適な実施例を示し、詳しくはその正面断面図
を示している。以下に、この半導体装置の実装構造を説
明する。
【0036】図の半導体装置の実装構造では、パッケー
ジ周囲の階段面14に備えた信号線路50と基板の信号
回路72との間に、パッケージ10と別個に形成したセ
ラミック等からなる誘電体ブロック103を隙間なく介
在させている。
【0037】誘電体ブロック103には、メタライズ等
の導体ポールからなるビア601を誘電体ブロック10
3を上下に貫通して備えている。そして、そのビア60
1でパッケージの信号線路50と基板の信号回路72と
を接続している。具体的には、ビア601の上下端が露
出した誘電体ブロック103の上下端面にパッド62
1、622をビア601に連ねてそれぞれ備えている。
そして、それらのビア621、622をパッケージの階
段面14に備えた信号線路50と基板の信号回路72と
にそれぞれはんだ付け等により接続している。
【0038】誘電体ブロック103は、上記のようにし
て、パッケージの信号線路50に接続したパッド621
と基板の信号回路72に接続したパッド622とを介し
て、パッケージの階段面14と基板20とにそれぞれ固
定している。又はそれに加えて、誘電体ブロック103
を帯状に形成して、その両端を基板70にねじ止めして
いる。
【0039】誘電体ブロック103外側面には、メタラ
イズ等からなるグランドプレーン113を幅広く備えて
いる。グランドプレーン113は、基板70のグランド
回路(図示せず)に接続していて、接地できるようにし
ている。そして、グランドプレーン113に対向するビ
ア601部分をマイクロストリップ線路に形成してい
て、そのビア601部分の特性インピーダンスを半導体
チップ20の内部信号回路の持つ特性インピーダンスの
50Ω等にマッチングさせている。
【0040】グランドプレーン113上端とその下端と
は、誘電体ブロック103上端とその下端とから所定距
離その下方とその上方とにそれぞれ離隔させている。そ
して、グランドプレーン113が誘電体ブロック103
上下端面に備えたパッド621、622と短絡するのを
防いでいる。それと共に、グランドプレーン113上端
と誘電体ブロック103上端との間に露出した誘電体ブ
ロック103外側面に対向するビア601部分及びグラ
ンドプレーン113下端と誘電体ブロック103下端と
の間に露出した誘電体ブロック103外側面に対向する
ビア601部分の特性インピーダンスを、グランドプレ
ーン113とパッケージ10に備えたグランドプレーン
(図示せず)及び基板70に備えたグランドプレーン
(図示せず)とにより、半導体チップ20の内部信号回
路の持つ特性インピーダンスの50Ω等にそれぞれマッ
チングさせている。
【0041】その他は、前述図3に示した半導体装置の
実装構造と同様であり、その同一部材には同一符号を付
し、その説明を省略する。
【0042】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の第1、第
2の半導体装置の実装構造によれば、パッケージの信号
線路と基板の信号回路との間を接続したリード又はビア
の特性インピーダンスを半導体装置に収納した半導体チ
ップの内部信号回路の持つ特性インピーダンスの50Ω
等にマッチングさせることができる。そして、それらの
リード又はビアを高周波信号を伝送損失、反射損失少な
く伝えることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の半導体装置の実装構造を示す正
面断面図である。
【図2】本発明の第1の半導体装置の実装構造を示す正
面断面図である。
【図3】本発明の第2の半導体装置の実装構造を示す正
面断面図である。
【図4】本発明の第2の半導体装置の実装構造を示す正
面断面図である。
【図5】従来の半導体装置の実装構造を示す正面断面図
である。
【符号の説明】
10 パッケージ 12 キャビティ 20 半導体チップ 30 キャップ 50 信号線路 60 リード 70 基板 72 信号回路 100、101、102、103 誘電体ブロック 110、111、112、113 グランドプレーン 600、601 ビア 620、621、622 パッド

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージに備えた信号線路に接続した
    リードであって、その先端を、前記信号線路と電気的に
    接続する信号回路を備えた基板方向に折曲して、その
    基板の信号回路に接続したリードに誘電体ブロックを
    固定すると共に、その誘電体ブロック外側面にグラン
    ドプレーンを備えて、前記リードをマイクロストリップ
    線路に形成したことを特徴とするキャビティダウンタイ
    プの半導体装置の実装構造。
  2. 【請求項2】 パッケージに備えた信号線路とその信号
    線路を電気的に接続する基板の信号回路との間に誘電体
    ブロックを介在させて、その誘電体ブロックに備えたビ
    により前記パッケージの信号線路と基板の信号回路と
    電気的に接続すると共に、前記誘電体ブロック外側
    面にグランドプレーンを備えて、前記ビアをマイクロス
    トリップ線路に形成したことを特徴とするキャビティダ
    ウンタイプの半導体装置の実装構造。
  3. 【請求項3】 誘電体ブロックが、パッケージと別個に
    形成した誘電体ブロックである請求項1又は2記載のキ
    ャビティダウンタイプの半導体装置の実装構造。
  4. 【請求項4】 誘電体ブロックが、パッケージから延設
    した誘電体ブロックである請求項1又は2記載のキャビ
    ティダウンタイプの半導体装置の実装構造。
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